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SMI BeGaze分析软件使用说明

SMI BeGaze分析软件使用说明
SMI BeGaze分析软件使用说明

SMI BeGaze分析软件简介

1.一般操作流程

如果是第一次使用本分析软件,步骤如下:

1.1 创建一个新数据库。

1.2 使用实验向导创建一个新的实验。

1.3 完成实验向导配置后,弹出图片与数据对应对话框。

1.4 选择一种分析方式。

1.5选择眼动数据,使其为呈现状态。

1.6这一步可以选择:删除、创建或编辑兴趣区;导出数据;打印或导出分析图

表。

2.实验向导设置步骤

通过实验向导可以导入需要分析的眼动原始数据,要创建一个新的实验可以点击工具栏上的图标或选择“Experiment”菜单下的“New”选项。点击后弹出实验向导对话

框,用户根据向导填入信息,并可以点击,和

图标向前、向后和结束向导。具体步骤如下:

2.1 General Information标签

此标签下设定实验名称和描述。

Name:实验命名。

Description:实验描述。

2.2 Import Data Files标签

此标签下设定导入的数据。

Browse:浏览并导入数据。

Data File:数据存放路径。

Subject:被试名称。

Trial:试验名称。

Date:试验日期。

Status:数据状态,如果为“OK”表示为有效数据,并且试验前方标为。如果数据不满足以下三个中的任一条件,则为无效数据。1)所有的文件必须为相同取样率下的记录结果;2)所有试验数据必须基于相同的校准平面;3)所有的数据必须为单眼或双眼数据,不能掺杂。以上诸条件的判定都是以第一个试验数据为基准。

2.3 Import Stimulus Images标签

此标签下设定导入的图片。

Size:导入图片大小。

Browse:浏览并导入图片。

Image File:图片名称。

Aoi Files:兴趣区名称。

Status:数据状态,如果为“OK”表示为有效数据,并且试验前方标为。如果数据不满足以下两个中的任一条件,则为无效数据。1)所有图片格式为bmp,jpeg,jpg,png;

2)所有图片大小必须基于相同的校准平面,这一条件的判定以第一个试验数据为基准。

2.4 Define Geometry of Experiment标签

此标签下设定刺激平面的物理参数。

Size H and V:刺激平面的水平和垂直大小。

Monitor-Head Distance:受试头和刺激平面距离大小。

2.5 Data Block Separators and User Events标签

公司里只有老版的BEGAZE手册,所以下面这个窗口跟学校机子上新版的不太一样。

此标签下设定数据分段和用户事件处理方式。

None:数据不分段。

Set number:根据插入的数字标志分段。

Image message:根据图片信息分段。

Trigger message:根据触发信号分段。

新版的在Auxiliary Events框中应还有none 和all events 选项,这一栏应选none。

2.6 Saccade and Fixation Detection标签

此标签下选择数据分析内置算法。

Fixation Detection:基于注视点的分析算法。

Saccade Detection:基于眼跳的分析算法。

Details:算法详细设定。

此步结束后,点击“finish”关闭实验向导,进入正式分析阶段。

3.数据分析步骤

3.1 Scanpath分析

点击图标后,选定“Scanpath”分析。

窗口中分为Event Tree,Graph Area,Event Properties和View Control四个部分。

Event Tree:眼动事件列表。

Graph Area:眼动轨迹图。

Event Properties:眼动事件属性,为对应Event Tree中数据的详细分析结果。

View Control:轨迹图浏览控制。可以播放、暂停和录制轨迹图。

3.2 Linegraph分析

点击图标后,选定“Linegraph”分析。

窗口中分为Event Tree,Graph Area,Event Properties,Statistics,Data Table和Miniview 六个部分。

Event Tree:眼动事件列表。

Graph Area:眼动数据线形图。

Event Properties:眼动事件属性,为对应Event Tree中数据的详细分析结果。

Statistics:数据统计按钮。

Data Table:数据表格。为对应“Graph Area”的详细数据。

Miniview:迷你窗口,显示轨迹点坐标线。

3.3 AOI Sequence分析

点击图标后,选定“AOI Sequence”分析。

分析窗口中将以图表方式显示兴趣区结果(横轴坐标为时间,纵轴为兴趣区的名称),并可以将图表结果保存为外部图片。

3.4 Attention Map分析

点击图标后,选定“Attention Map”分析。

分析窗口中将以图片方式显示注视密度分析结果,并可以将结果保存为外部图片。共有两种结果呈现方式,一种为热点图(左图);另一种为焦点图(右图)。

3.5 Binning Chart分析

点击图标后,选定“Binning Chart”分析。

分析窗口中将以柱形图方式显示兴趣区分析结果,并可以将结果保存为外部图片。另外,鼠标放置处呈现详细结果,包括兴趣区姓名、对应兴趣区图片名称、兴趣区注视时间百分比和兴趣区等级。

3.6 AOI Editor编辑

点击图标后,选定“AOI Editor”编辑。

可以通过“AOI Editor”编辑兴趣区。可以导入、导出、新建和删除兴趣区,另外可以编辑椭圆,矩形和不规则多边形兴趣区,创建好兴趣区后,其详细信息将在列表中显示。

能谱仪技术指标

能谱仪技术指标 1、技术指标: 1)*可靠性:可以配合各主流品牌的场发射扫描电镜使用,且在北京的地质行业有配合先 例,提供用户名单和联系方式; 2)探测器:硅漂移晶体,超薄窗口,完全独立真空;晶体有效面积不小于60 mm2,探头 整体有效采集面积不小于50mm2;适合低电压或小束流分析; 3)*探测器制冷和定位:采用三级帕尔贴制冷,最低工作温度可达零下80摄氏度;探头采 用马达控制的自动伸缩设计,可以在软件里实现控制,确保针对不同尺寸样品的定位精度; 4)元素分析范围Be4—U92; 5)免维护性:探头不包含冗余的前置放大电路板,随时可以断电,无需重新校正; 6)分辨率MnKa优于127eV,CKa优于56eV,F Ka优于64eV(20000CPS);在不同计数 率下谱峰稳定,分辨率衰减小于1eV; 7)输出最大计数率:大于500,000CPS谱峰无畸变,可处理最大计数率优于750,000CP S; 8)软件:64位能谱应用软件,操作简便界面清楚,直接读出电镜参数和仪器状态,结果 输出方便,适合于不同层次的用户尽快掌握; 9)谱定性分析:具备点、线、面扫描分析功能,高帽法扣除背景避免人为误差; 10)*谱定量分析:可对抛光表面或粗糙表面进行点、线和面的分析;具有虚拟标样法(间接 标样法)以及有标样法(直接标样法);可以方便的得到归一化和非归一化定量结果; 11)*谱峰稳定性:具备零峰设计,相对峰位稳定,无需铝铜双峰校准,保证数据重现性; 12)图像输出:支持BMP,TIFF, JPEG等流行的图像格式,对视场上任选区域进行能谱分析 和线、面扫描,可得到元素的线分布、常规面分布、快速面分布和定量面分布等,所支持电镜数字图像最大清晰度优于8192*8192,全息X射线成分图最大清晰度(live Spectrum Mapping)优于4096*4096. 13)*高级应用软件:针对地质领域,可以提供多视场自动叠加的数据拼接功能,实现大范 围面扫描和特征元素富集区域的自动分析; 14)图形处理器配置不低于:知名品牌,Intel Core i7-2600 处理器,8G以上内存,1TB硬 盘,DVD/RW 刻录光驱,24”平板液晶显示器,专用实验台等; 2、培训 要求卖方在用户现场进行技术培训,一年以后免费提供深入的技术培训课程,终生提供免费的应用咨询以及技术帮助 3、售后服务 3.1 安装:要求卖方到用户现场进行免费安装、调试、试运行。 3.2保修期1年 *3.3 国内有生产厂家独资建立的全套技术中心和演示实验室,探头返修或其它部件更换所无需返回原厂,节省时间和费用; *5.4 国内地质矿物行业近三年内有5台以上相同配置的销售业绩,需提供用户名单和联系方式

能谱仪操作规则

S-4800扫描电镜附件Horiba X射线能谱仪操作规程 一、启动能谱计算机及EMAX软件 确认EMAX液氮灌中有充足的液氮;打开地上接线板上的红色开关;打开能谱计算机;打开EMAX软件;预热三十分钟后才能开始能谱操作。 二、启动S-4800及PC-SEM软件 同S-4800扫描电镜操作。 三、加载样品 同S-4800扫描电镜操作。 四、插入能谱探头 慢慢摇入能谱探头,用力不要过大。 五、S-4800参数设定 (1)加速电压:一般设为元素激发能量的2-3倍,常用范围15-20kv,原子序数越大电压越高; (2)工作距离:WD=15mm; (3)Probe current:High; (4)Focus mode:HR; (5)聚光镜C1电流:选大一些,数字越小,电流越大。 六、调整、观察样品 同S-4800扫描电镜操作:调节电子光学系统(合轴,消像散),观察样品,记录图像。 七、EMAX软件中参数设定 电镜控制:<菜单>—<选项>—<电镜控制>:放大倍数、加速电压、工作距离都要与S-4800的设定一致。当SEM的参数变化时,要随时调整电镜控制。 八、能谱操作 (1)选择所需要的功能: Analyzer——对SEM所扫描的整幅图像进行定性和定量分析; Point & ID——对SEM图像中指定的感兴趣区域进行定性和定量分析; Mapping——元素分布图。 (2)Analyzer分析操作: (a)项目:输入项目名称,也可以输入注释及文件检索时所需的关键字。 (b)样品:输入样品名称及相关信息,表面是否经过喷镀等,如表面喷镀物质,需选则喷镀元素名称并设定镀层厚度,程序在定量分析时扣除该元素。 (c)电镜设置:调节电镜电子束的电流,选择处理时间(5或6),来调节死时间(20-30%),以相对较好的条件进行分析。 (d)采集谱图。 (e)定性分析:确定元素。 (f)定量分析设定:设定分析条件。

数据处理与能谱分析

数据处理与能谱分析 随着计算机技术的发展,利用计算机处理实验数据也越来越常见,随之如来就产生了许多的软件如:Matlab 、Excel、CAD等等,但一般这些软件在处理物质放射性衰变时都比较繁琐,因此在处理放射性物质衰变时的数据时,就必须自己依照其规律制作数据处理软件来探究该物质的各种性质,从而来确定该物质的类型以及其运用。 我们要使用C++平台和C语言来制作软件及编写对应的响应函数,在进行实验时我们把我们利用专业仪器测得的数据按照要求记录并保存在一个TXT文件中,使用C语言来编写程序对文件里的数据进行读写和操作;例如:调用文件打开函数(fopen)和关闭函数(fclose)语句来对文件进行打开和关闭处理,调用读写语句对文件内的数据进行察看和编写fscanf(fp,”%d %d”,&I,&t)、fprintf(fp,”%d %d”,I,t)。 制作EXE软件来对数据进行图谱显示: 在相应的操作界面放置相应的显示框图和对应的按钮,如下图

然后给框图和按钮赋地址,并添加相应的变量和相应函数。最后组建编译运行。软件运行后先点击数据读写按钮在点击原始图谱按钮最后点击五点平滑按钮就得到了该物质数据图谱。如下图所示: 注:横坐标为道址、纵坐标为计数率 添加相应的数据输出框和按钮如:峰值、道值、面积。最后再添加相应的响应函数,再编译运行。得到如下图所示的图谱:

至此我们利用C语言对数据处理和能谱分析已经结束,最后我们在根据图谱的形状、峰值、道值以及各个部分的面积来确定物质衰变的 性质和物质本身的性质,最终来确定放射性物质的用途。

附件:部分响应函数 数据读写程序: void CShiyanDlg::OnReadfile() { // TODO: Add your control notification handler code here FILE *fp; int datanum=0; int i; int data1,data2; if((fp=fopen("090623.txt","r"))==NULL) { printf("Cannot open the file.\n"); exit(0); } while(!feof(fp)) { fscanf(fp,"%d %d",&data1,&data2); data[datanum++]=data2; fscanf(fp,"\n"); } for(i=0;i<2048;i++) { if( i<2||i>2045) data_ph[i]=data[i]; else data_ph[i]=(data[i-2]+4*data[i-1]+6*data[i]+4*data[i+1]+data[i+2])*1.0/16.0; printf("%d %f\n",i+1,data_ph[i]); } fclose(fp); if((fp=fopen("out.txt","w"))==NULL) { printf("file open error.\n"); exit(0); } for(i=0;i<2048;i++) { fprintf(fp,"%d %f\n",i+1,data_ph[i]); } fclose(fp); } 原始图谱响应函数: void CShiyanDlg::OnYuantu() { // TODO: Add your control notification handler code here double xViewport,yViewport;

多道γ能谱分析软件中寻峰算法比较总结

自动寻峰由于谱结构的复杂和统计涨落的影响,从谱中正确地找到全部存在的峰是比较困难的。 尤其是找到位于很高本底上的弱峰,分辨出相互靠得很近的重峰更为困难。谱分析对寻峰方法的基本要求如下: (1) 比较高的重峰分辨能力。能确定相互距离很近的峰的峰位。 (2) 能识别弱峰,特别是位于高本底上的弱峰。 (3) 假峰出现的几率要小。 (4) 不仅能计算出峰位的整数道址,还能计算出峰位的精确值,某些情况下要求峰位的误差小于0.2 道。 很多作者对寻峰方法进行了研究,提出了很多有效的寻峰方法。 目的: 判断有没有峰存在 确定峰位(高斯分布的数学期望) ,以便把峰位对应的道址,转换成能量确定峰边界——为计算峰面积服务(峰边界道的确定,直接影响峰面积的计算) 分为两个步骤:谱变换和峰判定 要求:支持手动/自动寻峰,参数输入,同时计算并显示峰半高宽、精确峰位、峰宽等信息,能够区分康普顿边沿和假峰 感兴区内寻峰 人工设置感兴趣大小,然后在感兴区内采用简单方法寻峰重点研究:对感兴区内的弱峰寻峰、重峰的分解对于一个单峰区,当峰形在峰位两侧比较对称时,可以由峰的FWHM 计算峰区的左、 右边界道址。峰区的宽度取为3FWHM ,FWHM 的值可以根据峰位m p 由测量系统的FWHM 刻度公式计算。由于峰形对称,左、右边界道和峰位的距离都是 1.5FWHNM mi L INT(m p 1.5FWHM 0.5) m R INT(m p1.5FWHM 0.5)

式中m p是峰位,INT的含义是取整数。 对于存在有低能尾部的峰,其峰形函数描述(参见图)。 y m HEXP[ (m m p)2/2 2] , m> mp_ j y m HEXP[J(2m 2m p J)/2 2] , m< mp_ J 式中H为峰高,mp为峰位,是高斯函数的标准偏差,J为接点的道址和峰位之间的距离。在峰位的左侧,有一个接点,其道址为mp-J。在接点的右侧,峰函数是高斯函数。在接点的左侧,峰函数用指数曲线来描述。这时峰区的左、右边界道址为 m L INT(m p1.12FWHM 2/ J 0.5J 0.5) m R INT(m p 1.5FWHM 0.5) 全谱自动寻峰 基于核素库法:能量刻度完成后,根据核素库中的能量计算对应的道址,在各个道址附近(左右10道附近)采用简单的寻峰方法(导数法) 方法: 根据仪器选择开发 IF函数法/简单比较法(适于寻找强单峰,速度快)

多道γ能谱分析软件中寻峰算法比较总结

自动寻峰 由于谱结构的复杂和统计涨落的影响,从谱中正确地找到全部存在的峰是比较困难的。尤其是找到位于很高本底上的弱峰,分辨出相互靠得很近的重峰更为困难。 谱分析对寻峰方法的基本要求如下: (1) 比较高的重峰分辨能力。能确定相互距离很近的峰的峰位。 (2) 能识别弱峰,特别是位于高本底上的弱峰。 (3) 假峰出现的几率要小。 (4) 不仅能计算出峰位的整数道址,还能计算出峰位的精确值,某些情况下要求峰位的误差小于0.2道。 很多作者对寻峰方法进行了研究,提出了很多有效的寻峰方法。 目的: 判断有没有峰存在 确定峰位(高斯分布的数学期望),以便把峰位对应的道址,转换成能量 确定峰边界——为计算峰面积服务(峰边界道的确定,直接影响峰面积的计算) 分为两个步骤:谱变换和峰判定 要求:支持手动/自动寻峰,参数输入,同时计算并显示峰半高宽、精确峰位、峰宽等信息,能够区分康普顿边沿和假峰 感兴区内寻峰 人工设置感兴趣大小,然后在感兴区内采用简单方法寻峰 重点研究:对感兴区内的弱峰寻峰、重峰的分解 对于一个单峰区,当峰形在峰位两侧比较对称时,可以由峰的FWHM计算峰区的左、右边界道址。峰区的宽度取为3FWHM,FWHM的值可以根据峰位m p由测量系统的FWHM刻度公式

计算。由于峰形对称,左、右边界道和峰位的距离都是1.5FWHNM 。 )5.0FWHM 5.1(INT p L +-=m m ) 5.0FWHM 5.1(INT p R ++=m m 式中m p 是峰位,INT 的含义是取整数。 对于存在有低能尾部的峰,其峰形函数描述(参见图)。 ] 2/)([H 22p m σ--=m m EXP y ,m ≥mp -J ] 2/)22([HEXP 2p m σ+-=J m m J y ,m ≤mp -J 式中H 为峰高,mp 为峰位,σ是高斯函数的标准偏差,J 为接点的道址和峰位之间的距离。在峰位的左侧,有一个接点,其道址为mp -J 。在接点的右侧,峰函数是高斯函数。在接点的左侧,峰函数用指数曲线来描述。这时峰区的左、右边界道址为 ) 5.05.0/FWHM 12.1(INT 2p L +--=J J m m ) 5.0FWHM 5.1(INT p R ++=m m 带有低能尾部的峰函数的图形 全谱自动寻峰 基于核素库法:能量刻度完成后,根据核素库中的能量计算对应的道址,在各个道址附近(左右10道附近)采用简单的寻峰方法(导数法) 方法: 根据仪器选择开发 IF 函数法/简单比较法(适于寻找强单峰,速度快)

能谱仪_技术参数

牛津仪器Inca X-act能谱仪详细配置及功能 1.专利的分析型SDD硅漂移探测器 ?SuperATW窗口,10mm2有效面积; ?在MnKα处的分辨率: 优于127eV ?稳定性: 1,000cps—100,000cps 谱峰漂移<1eV,分辨率变化<1eV ? 48小时内谱峰漂移<1eV (Mn Ka) ?峰背比20,000: 1 (Fe 55, Mn Ka) ?分析元素范围:Be4-Pu94 2.INCA 系统 --系统计算机 ?HP DC8000 --系统桌 显微分析处理器(分立式设计) --Inca X-strea mⅡ显微分析处理器 ?探测器高压偏压电源。 ?6个程序可选时间常数和4个能量范围(10, 20, 40, 80KeV)的数字信号处理器 ?计算机控制的数字脉冲处理器,输出最大计数率350,000CPS, 可处理最大计数率850,000CPS, ?活时间校正。三个鉴别器覆盖全范围的反脉冲堆积,直至下限铍。 ?数字零点稳定器。 ?探测器控制系统。 --Inca Mics显微分析处理器 ?带有存储器和辅助电路的高速微控制器,用以收集和处理X射线信号。 ?IEEE1394 数据接口,用以高速传输数据到系统计算机。 ?二个RS232串口或一个RS232串口和一个LASERBUS口。 ?线性电源 ?符合美国和欧洲电磁规定,并执行CE标记。 ?SUPERSCAN – 先进的超级数字扫描系统。 ?包括Kalman噪声限制程序,在快速扫描和限制图像噪声之间兼顾和控制。 ?同步图像收集和数据传输到PC(零等待)。 ?电镜图像接口电缆。 INCA软件导航器 ?真正的32位软件 ?独一无二的导航器界面, 非常友好,全中文操作界面, 引导用户从启动分析项目到打印实验报告的全部显微分析过程。 ?用户可容易地在导航器之间切换,直接面对工作流程和IMS,以便直接看到自动分析过程的进展。

能谱分析EDX-操作规范

能谱分析EDX 1.开始菜单------------,出现RTEM control界面。 2.确定物镜光阑已经退出。 3.调节放大倍数,使Mag.在SA倍以上(LA低倍下易探到Cu网,CPS值剧增);调节样品位 置,使其不要在铜网边缘。 4.在RTEM Control界面中点IN,此时EDX探头将会伸入。 5.注意RTEM control下拉界面的Actual CPS值,调节到2000-3000。 调节方法: (1)spot size增大,CPS减小(spot size一般>3) (2)如果CPS值太小,调节Holder的角度(Search---stage右拉---Set Alpha 10o) (3)如果还不行,调节聚光镜光阑(一般不用)。 6.在主程序中选择EDX菜单,点击view,进行谱峰浏览。 7.判断EDX各项指数正常,谱图中需要的元素能够出现谱峰。 8.一切正常,则可点击Acquire开始做能谱分析。再次点击Acquire停止分析。 <注意事项> 1.counts/s值最好大于800。 2.Dead time的数值不能为红色,若为红色, 表明光太强,需要将光斑发散,或者将spot size变小。 3.Dead time一般到20-30%最好 4.如果转动了Holder的角度,记住完成EDX后,把角度恢复。 EDX软件分析 1.点击软件右下方的图标,进入能谱分析界面TIA。 2.在View中调出元素周期表选择需要分析的元素。 3.点击Quantify进行定量分析。 4.数据保存 ①点击谱图,选择File-Save As 保存原始数据为emi格式 ②右击谱图,选择Export 输出格式为tif或bmp的图片。 ③点击数据分析结果,选择File-Save As 保存数据分析 结果为txt格式。 软件右侧工具栏中最右侧第二个图标(实心的两个峰)peak定峰。 第5个图标(实心两个峰%)定量分析。

数字化多道伽马能谱仪

数字化多道伽马能谱仪 技术要求 一、设备名称:数字化多道伽马能谱仪,数量:1套 二、交货期:合同生效后1个月内 交货地点:北京1套 三、主要用途: 应用领域:放射性矿产勘查、地质找矿、工程地质及水文地质研究、评估、放射性地质调查;辐射环境评价及核应急中放射性监测;建材、装饰材料、岩矿、岩芯样品中放射性元素含量的定量分析。 使用专业方向:野外地质勘察、室内样品分析; 解决的问题:大幅提高地质勘查工作的管理水平,提高勘查密度,每天可勘查测试数百个勘查点,现场决策,一般测试时间为50to200s;可现场检测U、Th、K等放射性元素含量及辐射总量。 四、技术指标: 1、仪器配置: 1.1主机; 1.2主机充电器; 1.3智能手机 1.4伽马能谱仪控制分析软件 1.5 智能手机充电器; 1.6 数据线; 1.7 防震手提箱; 2、主要技术参数: 2.1探测器:φ75×75㎜3 NaI(Tl)+PMT; 2.2测量范围:30~3000 keV全谱+总道; 2.3脉冲处理器:数字化多道分析器(可选1024/512/256道模式); 2.4系统分辨率:FWHM≤8.0%@662keV; 2.5非线性:积分≤0.05%;微分<0.1%; 2.6极限敏度(最低检出限): U:0.2ppm (或226Ra:0.2Bq/kg); Th:0.5ppm (或232Th:0.2Bq/kg); K:0.2% (或40K:0.5Bq/kg); 2.6系统稳定性:谱漂<0.1%/八小时;

2.7无放射源:仪器自动稳谱,无需放射源稳谱,避免放射性污染 2.8功耗:≤1.9W(电池连续供电≥15h); 2.9体积:φ10×50㎝3 3.0量:3.5 kg; 3.1 使用环境:-10~+50℃(≤95%RH)。 五、配置要求: 1.1主机; 1.2主机充电器; 1.3智能手机 1.4伽马能谱仪控制分析软件 1.5 智能手机充电器; 1.6 数据线; 1.7 U盘(附仪器资料); 1.8 说明书; 1.9 防震手提箱; 六、服务要求 1、拟提供售后服务的项目; 1.1 整机保修,免费保修年限:1年; 1.2 软件终身免费维护、升级。 3、售后服务响应及到达现场的时间; 卖方承诺在买方电话报修后,3小时内给出电话服务支持或技术响应,48小时内免费上门维修。维修人员须由合同签署公司提供或选派,维修人员必须有此类设备丰富的维修经验,并具备从业资格。 4、维修技术人员及设备方面的保证措施及收费标准; 售后服务由卖方负责,并通过公司及技术服务中心在保修期内执行免费保修。 新机器的开机调试及人员培训由卖方负责,其中培训目标为:使用户指定受训人员能独立操作此仪器。 卖方提供免费的技术咨询、技术培训以及软件升级服务。 用户拥有该软件的使用及升级的权利。

扫描电镜和能谱仪

扫描电镜和能谱仪 一、实验目的 1.了解能谱仪的原理、结构。 2.运用扫描电子显微镜/能谱仪进行样品微观形貌观察及微区成分的分析。 3.掌握扫描电镜及能谱仪的样品制备方法。 二、实验原理 能谱仪(EDS)是利用X光量子有不同的能量,由Si(li)探测器接收后给出电脉冲讯号,经放大器放大整形后送入多道脉冲分析器,然后在显像管上把脉冲数-脉冲高度曲线显示出来,这就是X光量子的能谱曲线。 1.简介 特征X射线分析法是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析,特别适用于分析试样中微小区域的化学成分。其原理是用电子探针照射在试样表面待测的微小区域上,来激发试样中各元素的不同波长(或能量)的特征X射线(或荧光X射线)。然后根据射线的波长或能量进行元素定性分析,根据射线强度进行元素的定量分析。 2.了解EX-250能谱仪的原理及构造 X 射线的产生是由于入射电子于样品发生非弹性碰撞的结果,当高能电子与原子作用时, 它可能使原子内层电子被激发,原子处于激发状态,内层出现空位,此时,可能有外层电子向内层跃迁,外层和内层电子的能量差就以光子的形式释放出来,它就是元素的特征X射线。 1)分析原理高能电子束与样品原子相互作用,可引起一个内层电子的发射,使原子处于高能激发态。在原子随后的去激过程中,即外层的电子发生跃迁时,会发射出某个能量的特征X-射线或俄歇电子,使原子降低能量。若以辐射特征X-射线的形式释放能量,则 λ=hc/E λ=hc/E K -E L2 式中,λ-特征X射线的波长;E -特征X射线的能量;h —普朗克常数;c —光子。元素的特征 X 射线能量和波长各有其特征值。莫塞莱定律确定了特征 X-射线波长与元素的原子序数Z之间的关系: λ= P(Z ?σ)-2 式中,P —对特定始、终态的跃迁过程P为常数;σ—核屏蔽系数,K系谱线时σ=1。2)能谱仪构造

Bruker能谱仪

Bruker能谱仪 日常维护: Quantax系列电制冷能谱仪为免维护系统,开机30秒即可正常工作。 开关机程序及注意事项: ★开启电脑工作站,正常运行后,登陆Windows XP系统; ★登陆桌面的Esprit软件,如Esprit 1.8,Esprit 1.9,然后输入User: edx;Password: edx ★建议实验室温度不要超过35°C;不用时能谱仪处理器仍然保持开启状态,电脑、显示器和打印机关掉。 ★仪器主机房间在满足电镜的前提下,能谱仪的脉冲处理器的物理放置位置尽量远离大功率仪器和机械振动等干扰源。 \ 2.4 谱图采集的简易步骤与方法 步骤例子/提示 1:准备分析用的样品调试好SEM 2:调节电子显微镜进入EDS分析状态加速电压、放大倍数、工作距离 3:进入ESPRIT软件User:edx;Password:edx 4:重置或检查系统设定图像捕捉:单一、连续、平均叠加 分析方法:Automatic P/B-ZAF Interactive P/B ZAF 采集时间:自动,精确或手动 谱图坐标:cps/eV,keV 自动分析:采集完成后 5:检查设备状态、设置以及电镜参数QUANTAX系统屏幕上的参数必须和电 镜设置的参数一致;使用自动的谱仪设 置;所有可用设备的状态指示器必须是 绿色。 6:选择Objects、Point功能区域。谱图功能区域也可用于简单的采集谱图 任务。 7:开始谱图预览并检查谱图通过已知的元素谱图特征线检查能量校 准的情况。 8:调节电镜束流以得到需要的计数 率,并调节图像亮度、对比度,重新 聚焦图像等。 谱图分析计数率: 计数率:5…50kcps 面分布:计数率指示器为绿色或红色

CIT-3000F 便携式γ能谱仪软件设计说明及流程图

1.项目情况简介 CIT-3000F 便携式γ能谱仪软件是四川新先达测控技术有限公司专门为便携式伽玛能谱仪定制的配套的嵌入式软件。该软件集γ能谱数据采集和数据处理分析于一体,用户可以完成γ能谱的原始数据采集,数据的高级处理、显示以及建立数据分析模型并自动分析计算放射性核素含量与相应比活度。 同时,仪器分析参数、数据计算模型及用户数据均以文件方式存储于SD卡。 图1 数据采集部分结构框图 图2 CIT-3000F主控系统框图 2.开发环境 硬件平台:Windows平台计算机,C8051F060 单片机,C8051F500 单片机软件平台:Keil uVision Keil C51是美国Keil Software公司出品的51系列兼容单片机C语言软件开发系统,与汇编相比,C语言在功能上、结构性、可读性、可维护性上有

明显的优势,因而易学易用。Keil提供了包括C编译器、宏汇编、连接器、库管理和一个功能强大的仿真调试器等在内的完整开发方案,通过一个集成开发环境(uVision)将这些部分组合在一起。运行Keil软件需要WIN98、NT、WIN2000、WINXP等操作系统。Keil C51生成的目标代码效率非常之高,多数语句生成的汇编代码很紧凑,容易理解。在开发大型软件时更能体现高级语言的优势;与汇编相比,C语言在功能上、结构性、可读性、可维护性上有明显的优势,因而易学易用。用过汇编语言后再使用C来开发,体会更加深刻。Keil C51软件提供丰富的库函数和功能强大的集成开发调试工具,全Windows界面。 3.软件架构 CIT-3000F便携式伽玛能谱仪嵌入式软件是以C8051F500嵌入式处理器为处理器硬件平台,基于Keil C51编程实现的软件,软件主要功能包括:数据采集通讯模块,数据处理模块,数据模型模块,参数设置模块,数据显示模块、数据存储模块以及数据分析模块等。 软件架构如图1所示。 图3 CIT-3000F便携式伽玛能谱仪软件架构图 4.软件功能实现 CIT-3000F便携式伽玛能谱仪嵌入式软件的功能主要分为数据采集、数据处理、数据显示、模型建立、参数分析等功能模块。数据处理模块包括谱线

能谱仪技术参数

能谱仪技术参数 (带*部分是必须满足的条件) 1主要参数: 1.1*该能谱仪与JEM-2100F场发射透射电镜配套使用; 1.2*探测器:电制冷探测器,窗口有效面积≧30mm2; 1.3*能量分辨率:在100,000CPS条件下Mn Ka保证优于129eV; 1.4 *元素分析范围优于Be4~Am95; 1.5 谱峰稳定性:1,000cps到100,000cps,Mn Ka峰谱峰漂移小于1eV,48小时内峰位漂移小于1.5eV; 1.6 具备零峰修正功能,快速稳定谱峰,开机后无需重新修正峰位,10min内可达到稳定状态; 1.7 *能谱仪处理单元与计算机采用分立式设计,单探测器输出最大计数率600,000CPS,可处理最大计数率优于1,500,000CPS; 1.8*可进行谱定性和定量分析。要求配备完善而精准的原子数据库,包含所有的分析线系(K, L, M 和N线系),具备较为准确的定量方法; 1.9可将电镜图像传输到能谱仪的显示器上,支持最大像素4096*4096,并以该图为中心做微区分析; 1.10*所有校准数据均保存于信号处理器中,重装或者升级电脑可由用户自己完成,无需工程师上门重新校准系统;数据需能够复查,便于进行重新提取和分析; 1.11通过处理器自动扣除和峰(非软件扣除),自动选择最佳处理时间 1.12 *具有STEM模式点、线、面分析功能,且配备高分辨电镜专用的漂移矫正功能。 1.13计算机配置:22寸显示器,处理器intel 4核/内存8GB/硬盘1TB/1G独立显卡/win7 pro系统。 1.14 *实验报告:多种输出格式, 单键可生成Word文档, 及HTML格式。 2保修、培训及交货 2.1. 免费保修期:至少1年。保修期内,任何由制造商选材和制造不当引起的质量问题,厂家负责免费维修。保修期自验收签字之日起计算。保修期满前1个月内卖方应负责一次免费全面检查,并写出正式报告,如发现潜在问题,应负责排除。 2.2. 维修响应时间:卖方应在24小时内对用户的服务要求做出响应,一般问题在48小时内解决,重大问题或其它无法立刻解决的问题应在一周内解决或提出明确的解决方案,

philips EDAX GENESIS能谱仪技术参数说明

EDAX GENESIS能谱仪技术参数说明 1.PVSEM/SUTW探头:锂漂移硅Si(Li) CDU型或标准STD型SEM Sapphire? 蓝 宝石X射线探头。带超薄窗口,能够探测低至铍(包括)的所有元素。有效探测晶体面积为10mm2。晶体被自动保护以抵御探头变暖。探测器多次热循环不会影响其性能。配置包括前置放大器、放大器、电缆和2.5 或10升杜瓦瓶。探头分辨率小于132eV。 2.PV8200/01Acquisition Electronic Kit 带有32位数字信号处理器(DSP)的能谱信 号接收与处理系统,包括信号采集板、高压源以及直流电源板。独立运行式多道分析器、9个可用软件选择的时间常数(0.4微秒--102.4微秒)、4个通道宽度可选用(2.5、5、10、20 ev/ch)、由于输入计数率导致峰漂移的修正以及三级快速鉴别器等。最大输入计数率可达500,000cps、输出计数率可达100,000cps。 3.PV8604/11 英特尔奔腾IV 2.0 GHz 处理器:40 GB硬盘,256 MB内存,CD-RW 读写式光驱,3.5” 1.44 MB软驱,以太网卡,图形加速卡,键盘和鼠标,Windows XP操作系统,MS Windows Office专业版。 4.PV8350/00GENESIS SEM Quant ZAF software定性与定量分析软件,用于扫描电 镜块状样品定性定量能谱分析,使用EDAX增强的ZAF修正算法,包括: (1)可让用户选择的屏幕色彩 (2)谱线的收集和显示 (3)谱线自动连续变幅 (4)鼠标拖动谱线变幅 (5)自动或手动能量定标和分辨率计 算 (6)KLM线标记和峰的标注(含逃逸峰 和吸收边) (7)自动和手动峰鉴别 (8)在峰标定中的可见峰剥离 (9)可进行重叠图形显示 (10)用户自定义谱峰通道和感兴趣 ROI区 (11)全数字化的速率计功能 (12)具有归一化、加、减和乘功能的谱 线比较 (13)谱线的平滑 (14)逃逸峰扣除 (15)峰的生成(16)手动和自动选取背底点并按 Kramers方法建立背底模型(17)E DAX独特的可见的重叠峰剥离 技术 (18)具有用户定义报告格式的完全无 标样定量计算(误差水平接近有标样定量计算的水平) (19)对轻元素进行定量计算时专设轻 元素调整因子 (20)定量计算具有纯元素标样法、混合 物标样法或部分标样法 (21)改进后的ZAF修正算法, 含有 SEC因子修正功能,配以更完善的元素周期表 (22)具备全自动EDX分析功能-自动 按顺序分析的JOB方式 5.PV8005/10电子束控制单元:数字化的慢速扫描发生器单元。它提供对电子显微 镜电子束的数字化控制,以便获取最多4个有顺序的视频信号和最多15个X射线信号。它将每个得到的信号数字化为16位的结果。需要专门的电镜接口。

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