材料分析 题库 含答案

材料分析试题库

选择题：

一、

1. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B ）

A.Kα；

B. Kβ；

C. Kγ；

D. Lα。

2. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ C ）

A．Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。

3. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（ A ）

A.短波限λ0；

B. 激发限λk；

C. 吸收限；

D. 特征X射线

4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D ）

A.光电子；

B. 二次荧光；

C. 俄歇电子；

D. （A+C）

二、

1.最常用的X射线衍射方法是（ B ）。

A. 劳厄法；

B. 粉末法；

C. 周转晶体法；

D. 德拜法。

2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D ）

A、劳埃法

B、周转晶体法

C、平面底片照相法

D、 A和B

3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（ B）

A、(364)

B、(234)

C、(213)

D、(468)

4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B ）

A、相互平行

B、相互垂直

C、成一定角度范围

D、无必然联系

5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（ C ）。

A. 垂直；

B. 平行；

C. 不一定。

6.在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（ B ）。

A. 6；

B. 4；

C. 2

D. 1；。

7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（ B ）

A.X射线透射学；

B.X射线衍射学；

C.X射线光谱学；

D.其它

三、

1、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（ A ）

A、不存在系统消光

B、h+k为奇数

C、h+k+l为奇数

D、h、k、l为异性数

2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为（ D ）

A、2

B、3

C、4

D、6

3、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（ A ）

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ B ）

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（ C ）

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ）

A、112

B、113

C、101

D、111

7、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ）

A、200

B、220

C、112

D、111

8、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（E ）

A、温度升高引起晶胞膨胀

B、使衍射线强度减小

C、产生热漫散射

D、改变布拉格角

E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小

9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ）

A、结构因子

B、角因子

C、多重性因子

D、吸收因子

四、

1、衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多

少度角?（B）

A. 30度；

B. 60度；

C. 90度。

2、不利于提高德拜相机的分辨率的是（ D ）。

A. 采用大的相机半径；

B. 采用X射线较长的波长；

C. 选用大的衍射角；

D.选用

面间距较大的衍射面。

3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ C ）

A、正装法

B、反装法

C、偏装法

D、以上均可

4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ B ）

A、1﹕1

B、2﹕1

C、1﹕2

D、没有确定比例

5、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（ C ）

A、相机半径越大，分辨率越高

B、θ角越大，分辨率越高

C、X射线波长越小，分辨率越高

D、晶面间距越大，分辨率越低

6、粉末照相法所用的试样形状为（ C ）

A、块状

B、分散

C、圆柱形

D、任意形状

7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（ A ）

A、正装法

B、反装法

C、偏装法

D、任意安装都可

8、以气体电离为基础制造的计数器是（ D）

A、正比计数器

B、盖革计数器

C、闪烁计数器

D、A和B

9、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（ C ）

A、正比计数器

B、盖革计数器

C、闪烁计数器

D、锂漂移硅检测器

五、

1、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ C ）。

A. 外标法；

B. 内标法；

C. 直接比较法；

D. K值法。

2、X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ C ）进行核对。

A. 哈氏无机数值索引；

B. 芬克无机数值索引；

C.戴维无机字母索引；

D. A或B。

3、PDF卡片中，数据最可靠的用（B ）表示

A、i

B、★

C、○

D、C

4、PDF卡片中，数据可靠程度最低的用（C ）表示

A、i

B、★

C、○

D、C

5、将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（A ）

A、外标法

B、内标法

C、直接比较法

D、K值法

6、在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（B ）

A、外标法

B、内标法

C、直接比较法

D、K值法

九、

1、透射电子显微镜中可以消除的像差是（B ）。

A．球差；B. 像散；C. 色差。

2、由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为（A ）

A、球差

B、像散

C、色差

D、背散

3、由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（B ）

A、球差

B、像散

C、色差

D、背散

4、由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（C ）

A、球差

B、像散

C、色差

D、背散

5、制造出世界上第一台透射电子显微镜的是（B ）

A、德布罗意

B、鲁斯卡

C、德拜

D、布拉格

十、

1、透射电镜中电子枪的作用是（A ）

A、电子源

B、会聚电子束

C、形成第一副高分辨率电子显微图像

D、进一步放大物镜像

2、透射电镜中聚光镜的作用是（B ）

A、电子源

B、会聚电子束

C、形成第一副高分辨率电子显微图像

D、进一步放大物镜像

3、透射电镜中物镜的作用是（C ）

A、电子源

B、会聚电子束

C、形成第一副高分辨率电子显微图像

D、进一步放大物镜像

4、透射电镜中电中间镜的作用是（D ）

A、电子源

B、会聚电子束

C、形成第一副高分辨率电子显微图像

D、进一步放大物镜像

5、能提高透射电镜成像衬度的光阑是（B ）

A、第二聚光镜光阑

B、物镜光阑

C、选区光阑

D、索拉光阑

6、物镜光阑安放在（C ）

A、物镜的物平面

B、物镜的像平面

C、物镜的背焦面

D、物镜的前焦面

7、选区光阑在TEM镜筒中的位置是（ B ）

A、物镜的物平面

B、物镜的像平面

C、物镜的背焦面

D、物镜的前焦面

8、电子衍射成像时是将（A ）

A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合

B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合

C、关闭中间镜

D、关闭物镜

9、透射电镜成形貌像时是将（B ）

A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合

B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合

C、关闭中间镜

D、关闭物镜

10、为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个（B ）

A、第二聚光镜光阑

B、物镜光阑

C、选区光阑

D、索拉光阑

11、若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（C ）。

A. 1000；

B. 10000；

C. 40000；

D.600000。

十二、

1、单晶体电子衍射花样是（A ）。

A. 规则的平行四边形斑点；

B. 同心圆环；

C. 晕环；

D.不规则斑点。

2、薄片状晶体的倒易点形状是（C ）。

A. 尺寸很小的倒易点；

B. 尺寸很大的球；

C. 有一定长度的倒易杆；

D. 倒易圆盘。

3、当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（A ）。

A. 球面外；

B. 球面上；

C. 球面内；

D. B+C。

4、能帮助消除180o不唯一性的复杂衍射花样是（A ）。

A. 高阶劳厄斑；

B. 超结构斑点；

C. 二次衍射斑；

D. 孪晶斑点。

5、菊池线可以帮助（D ）。

A. 估计样品的厚度；

B. 确定180o不唯一性；

C. 鉴别有序固溶体；

D. 精确测定晶体取向。

6、如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D ）。

A. 六方结构；

B. 立方结构；

C. 四方结构；

D. A或B。

7、有一倒易矢量为

*

+

*

+

*

=

*c

b

a

g2

2，与它对应的正空间晶面是（C ）。

A. （210）；

B. （220）；

C. （221）；

D. （110）；。

十三、

1、将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C ）。

A. 明场像；

B. 暗场像；

C. 中心暗场像；

D.弱束暗场像。

2、当t=5s/2时，衍射强度为（D ）。

A.Ig=0；

B. Ig<0；

C. Ig>0；

D. Ig=Imax。

3、已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时，位错不可见，那么它的布氏矢量是（B ）。

A. b=（0 -1 0）；

B. b=（1 -1 0）；

C. b=（0 -1 1）；

D. b=（0 1 0）。

4、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（C ）。

A. 质厚衬度；

B. 衍衬衬度；

C. 应变场衬度；

D. 相位衬度。

5、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（B ）。

A. 小于真实粒子大小；

B. 是应变场大小；

C. 与真实粒子一样大小；

D. 远远大于真实粒子。

6、中心暗场像的成像操作方法是（C ）。

A．以物镜光栏套住透射斑；B．以物镜光栏套住衍射斑；C．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。

十四、

1、仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B ）。

A. 背散射电子；

B. 二次电子；

C. 吸收电子；

D.透射电子。

2、在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（B ）。

A.和电子束垂直的表面；

B. 和电子束成30o的表面；

C. 和电子束成45o的表面；

D. 和电子束成60o的表面。

3、可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（D ）。

A. 背散射电子；

B. 吸收电子；

C. 特征X射线；

D. 俄歇电子。

十五、

1、扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（B ）。

A. 波谱仪；

B. 能谱仪；

C. 俄歇电子谱仪；

D. 特征电子能量损失谱。

2、波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（A ）。

A. 快速高效；

B. 精度高；

C. 没有机械传动部件；

D. 价格便宜。

3、要分析基体中碳含量，一般应选用（A）电子探针仪，

A. 波谱仪型B、能谱仪型

填空：

一、

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续 X射线和标识 X射线。

2. 当X射线管电压低于临界电压仅产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。

3. 特征X射线的产生过程中，若K层产生空位，由L层和M层电子向K层跃迁产生的K系特征辐射按顺序称Kα射线和Kβ射线。

4. X射线的本质既具有波动性也具有粒子性，具有波粒二象性。

5. 短波长的X射线称硬X射线，常用于金属部件的无损探伤；长波长的X射线称软X射线，常用于医学透视上。

6.连续谱短波限只与管电压有关。

7.特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构。

二、

1.本质上说，X射线的衍射是由大量原子参与的一种散射现象。

2.布拉格方程在实验上的两种用途是结构分析和X射线光谱学。

3.粉末法中晶体为多晶体，λ不变化，θ变化。

4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法。

5.平面底片照相方法适用于研究晶粒大小、择优取向以及点阵常数精确测定方面。

三、

1、原子序数Z越小，非相干散射越强。

2、结构因子与晶胞的形状和大小无关。

3、热振动给X射线的衍射带来许多影响有：温度升高引起晶胞膨胀、衍射线强度减小、产生向各个方向散射的非相干散射。

4、衍射强度公式不适用于存在织构组织。

5、结构因子=0时，没有衍射我们称系统消光或结构消光。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现弱衍射。

6、影响衍射强度的因素除结构因子外还有角因子，多重性因子，吸收因子，温度因子。

四、

1.在Δθ一定的情况下，θ→90度，Δsinθ→0 ；所以精确测定点阵常数应选

择高角度衍射线。

2.德拜照相法中的底片安装方法有: 正装法, 反装法和偏装法三种。

3.在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜-谢乐法、聚焦照相法和针孔法。

4.德拜相机有两种，直径分别是 57.3mm 和 114.6mm。测量θ角时，底片上每毫米对应

2o和 1o。

5.衍射仪的核心是测角仪圆，它由辐射源、试样台和探测器共同组成。

6.可以用作X射线探测器的有正比计数器、盖革计数器和闪烁计数器等。

7.影响衍射仪实验结果的参数有狭缝光阑、时间常数和扫面速度等。

五、

1、X射线物相分析包括定性分析和定量分析，而定性分析更常用更广泛。

2、X射线物相定量分析方法有外标法、内标法、直接比较法等。

3、定量分析的基本任务是确定混合物中各相的相对含量。

4、内标法仅限于粉末试样。

九、

1、电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。

2、透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和球面像差两因素影响。

3、透射电子显微镜中用磁场来使电子聚焦成像的装置是电磁透镜。

4、像差分为两类，即几何像差和色差。

十、

1、TEM中的透镜有两种，分别是静电透镜和电磁透镜。

2、TEM中的三个可动光栏分别是聚光镜光栏位于第二聚光镜焦点上，物镜光栏位于物镜的背焦面上，选区光栏位于物镜的像平面上。

3、TEM成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。

4、透射电镜主要由电子光学系统, 电源与控制系统和真空系统三部分组成。

5、透射电镜的电子光学系统分为三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统。

十一、

1、限制复型样品的分辨率的主要因素是复型材料的粒子尺寸大小。

2、今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。

3、质厚衬度是建立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜小孔径角成像基础上的成像原理，是解释非晶态样品电子显微图像衬度的理论依据。

4、粉末样品制备方法有胶粉混合法和支持膜分散粉末法。

5、透射电镜的复型技术主要有一级复型、二级复型和萃取复型三种方法。

十二、

1、电子衍射和X射线衍射的不同之处在于入射波长不同、试样尺寸形状不同，以及样品对电子和X射线的散射能力不同。

2、电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。

3、偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度，它反映的是θ角偏离布拉格方程的程度。

4、单晶体衍射花样标定中最重要的一步是确定晶体结构。

5、二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在本该消光的位置产生衍射花样，但体心立方和面心立方结构的花样中不会产生多余衍射。

6、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的法线；倒易矢量的长度等于对应晶面间距的倒数。

7、只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该晶面满足布拉格条件，能产生衍射。十三、

1、运动学理论的两个基本假设是双光束近似和柱体近似。

2、对于理想晶体，当样品厚度或偏离矢量连续改变时衬度像中会出现等厚消光条纹或等倾消光条纹。

3、对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起的位移矢量导致衍射波振幅增加了一个附加位相角，但是若附加的位相角α=2π的整数倍时，缺陷也不产生衬度。

4、一般情况下，孪晶与层错的衬度像都是平行直线，但孪晶的平行线间距不等，而层错的平行线是等间距的。

5、实际的位错线在位错线像的一侧，其宽度也大大小于位错线像的宽度，这是因为位错线像的宽度是应变场宽度。

十四、

1、电子束与固体样品相互作用可以产生

背散射电子、二次电子、透射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子等物理信号。

2、扫描电子显微镜的放大倍数是阴极射线电子束在荧光屏上的扫描宽度与电子枪电子束在样品表面的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是亮衬度，而裂纹、凹坑则是暗衬度。

3、分辨率最高的物理信号是俄歇电子或二次电子为 5 nm，分辨率最低的物理信号是特征X射线为 100 nm以上。

4、扫描电镜的分辨率是指二次电子信号成像时的分辨率

5、扫描电子显微镜可以替代金相显微镜进行材料金相观察，也可以对断口进行分析观察。

6、扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。

7、扫描电子显微镜是电子光学系统，信号收集处理、图像显示和记录系统，真空系统三个基本部分组成。

8、电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈和样品室。

十五、

1、电子探针的功能主要是进行微区成分分析。

2、电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定特征波长的谱仪叫做波谱仪。用来测定X射线特征能量的谱仪叫做能量分散谱仪。

3、电子探针仪的分析方法有定性分析和定量分析。其中定性分析包括定点分析、线分析、面分析。

4、电子探针包括能谱仪和波谱仪两种仪器。

判断题：

一、

1. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。（√）

2. 经滤波后的X射线是相对的单色光。（√）

3. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（√）

4. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（×）

二、

1.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（×）

2.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n。（√）

3.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（√）

三、

1、衍射方向在X射线波长一定的情况下取决与晶面间距（√）

2、在一个晶面族中，等同晶面越多，参加衍射的概率就越大（√）

3、X射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息，峰越宽说明晶粒越大（×）

4、原子的热振动可使X射线衍射强度增大（×）

5、温度一定时，衍射角越大，温度因子越小，衍射强度随之减小（√）

6、布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度（√）

7、衍射角一定时，温度越高，温度因子越小，衍射强度随之减小（√）

8、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射（×）

四、

1、大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短嚗光时间。（× ）

2、在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试

样三者还必须位于同一聚焦圆。（√）

3、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。（× ）

4、衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。（√）

5、要精确测量点阵常数。必须首先尽量减少系统误差，其次选高角度θ角，最后还要用直

线外推法或柯亨法进行数据处理。（√）

6、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好（× ）

7、德拜相机的底片安装方式中，正装法多用于点阵常数的确定（×）

8、根据不消光晶面的N值比值可以确定晶体结构（√）

9、为了提高德拜相机的分辨率，在条件允许的情况下，应尽量采用波长较长的x-ray源

（√）

10、在分析大晶胞的试样时，应尽可能选用波长较长的x-ray源，以便抵偿由于晶胞过大对

分辨率的不良影响（√）

11、选择小的接受光阑狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度（√）

五、

1、X射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是因为没有两种物相的衍射花样是完全相同

的。（√）

2、理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉

我们这些物相的含量有多少。（√）

3、各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增强（√）

4、内标法仅限于粉末试样（√）

5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引（√）

6、PDF索引中晶面间距数值下脚标的x表示该线条的衍射强度待定（×）

7、PDF卡片的右上角标有★说明数据可靠性高（√）

8、多相物质的衍射花样相互独立，互不干扰（×）

9、物相定性分析时的试样制备，必须将择优取向减至最小（√）

九、

1、TEM的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。（√）

2、孔径半角α是影响分辨率的重要因素，TEM中的α角越小越好。（×）

3、TEM中主要是电磁透镜，由于电磁透镜不存在凹透镜，所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或消除像差，故TEM中的像差都是不可消除的。（×）

4、TEM的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加；随放大倍数的提高而减小。（×）

5、电磁透镜的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加（√）

6、光学显微镜的分辨率取决与照明光源的波长，波长越短，分辨率越高（√）

7、波长越短，显微镜的分辨率越高，因此可以采用波长较短的γ射线作为照明光源。（×）

8、用小孔径角成像时可使球差明显减小。（√）

9、限制电磁透镜分辨率的最主要因素是色差。（×）

10、电磁透镜的景深越大，对聚焦操作越有利。（√）

十、

1、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。（√）

2、物镜的分辨率主要决定于极靴的形状和加工精度（√）

3、物镜光阑可以减小像差但不能提高图像的衬度（×）

4、物镜光阑孔越小，被挡去的电子越多，图像的衬度越大（√）

5、物镜光阑能使物镜孔径角减小，能减小像差，得到质量较高的图像（√）

6、物镜光阑是没有磁性的（√）

7、利用电子显微镜进行图像分析时，物镜和样品之间的距离是固定不变的（√）

十二、

1、多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样，随着环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。（√）

2、单晶衍射花样中的所有斑点同属于一个晶带。（×）

3、偏离矢量S=0时，衍射斑点最亮。这是因为S=0时是精确满足布拉格方程，所以衍射强度最大。（√）

4、对于未知晶体结构，仅凭一张衍射花样是不能确定其晶体结构的。还要从不同位向拍摄多幅衍射花样，并根据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合判断晶体结构。（√）

5、电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。（×）

6、倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（√）

十三、

1、实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（√）

2、厚样品中存在消光距离ξg，薄样品中则不存在消光距离ξg。（×）

3、明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。（×）

4、晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。（×）

5、等厚消光条纹和等倾消光条纹通常是形貌观察中的干扰，应该通过更好的制样来避免它们的出现。（×）

十四、

1、扫描电子显微镜中的物镜与透射电子显微镜的物镜一样。（×）

2、扫描电子显微镜的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。（√）

3、扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。（×）

4、扫描电子显微镜具有大的景深，所以它可以用来进行断口形貌的分析观察。（√）

十五、

1、波谱仪是逐一接收元素的特征波长进行成分分析；能谱仪是同时接收所有元素的特征X

射线进行成分分析的。（√）

名词解释：

0、系统消光：因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上衍射线消失的现象。

1、结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数。

2.Hanawalt索引：数字索引的一种，每种物质的所有衍射峰之中，必然有三个峰的强度最大(而非面网间距最大)。把这三个强度最大的峰，按一定的规律排序，就构成了Hanawalt排序和索引方法。排序时，考虑到影响强度的因素比较复杂，为了减少因强度测量的差异而带来的查找困难，索引中将每种物质列出三次。数据检索时，按实际衍射图谱中的3强峰进行数据检索，即可找到对应的衍射卡片。

3.直接比较法：将试样中待测相某跟衍射线的强度与另一相的某根衍射线强度相比较的定量金相分析方法。

4.球差：即球面像差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不同造成的。轴上物点发出的光束，经电子光学系统以后，与光轴成不同角度的光线交光轴于不同位置，因此，在像面上形成一个圆形弥散斑，这就是球差。

像散：由透镜磁场的非旋转对称引起的像差。

色差：由于电子的波长或能量非单一性所引起的像差，它与多色光相似，所以叫做色差。

5.景深：透镜物平面允许的轴向偏差。

焦长：透镜像平面允许的轴向偏差。

在成一幅清晰像的前提下，像平面不变，景物沿光轴前后移动的距离称“景深”；景物不动，像平面沿光轴前后移动的距离称“焦长”。

6.Ariy斑：物体上的物点通过透镜成像时，由于衍射效应，在像平面上得到的并不是一个点，而是一个中心最亮、周围带有明暗相间同心圆环的圆斑，即所谓Airy斑。

7.孔径半角：孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度。因此，孔径半角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半。

8.点分辨率与晶格分辨率：点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能够分辨的具有最小面间距的晶格像的晶面间距。

9.选区衍射：为了分析样品上的一个微小区域，在样品上放一个选区光阑，使电子束只能通过光阑孔限定的微区，对这个微区进行衍射分析。

10.有效放大倍数：把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0.2mm），让人眼能分辨的放大倍数，即眼睛分辨率/显微镜分辨率。

11.质厚衬度：由于试样的质量和厚度不同，各部分对入射电子发生相互作用，产生的吸收与散射程度不同，而使得透射电子束的强度分布不同，形成反差，称为质-厚衬度。

12.偏离矢量s：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s表示，s 就是偏离矢量。

13.晶带定律：凡是属于[uvw]晶带的晶面，它的晶面指数(hkl)都必须符合hu+kv+lw=0，通常把这种关系式称为晶带定律。

14.相机常数：定义 K=Lλ，称相机常数，其中L为镜筒长度，λ为电子波长。

15.明场像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫明场成像，所得到的像叫明场像。

16.暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。

17.中心暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。如果物镜光阑处于光轴位置，所得图象为中心暗场像。

18.消光距离ξg：晶体内透射波与衍射波动力学相互作用，使其强度在晶体深度方向上发生周期性振荡，振荡的深度周期叫消光距离。

19.衍射衬度：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映。

衍射衬度主要是由于晶体试样满足布拉格反射条件程度差异以及结构振幅不同而形成电子图象反差。

20.背散射电子：入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹性散射部分；背散射电子的作用深度大，产额大小取决于样品原子种类和样品形状。

21.吸收电子：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。

22.特征X射线：原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。利用特征X射线可以进行成分分析。23.二次电子：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自表面50-100 ?的区域，能量为0-50 eV。它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。

24.俄歇电子：如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不以X射线的形式释放，而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种二次电子叫做俄歇电子。

俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。

25.波谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特征波长的谱仪叫做波长分散谱仪。

26.能谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特征能量的谱仪叫做能量分散谱仪。

问答题：

1.什么叫“相干散射”、“短波限”、吸收限？

答：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。

短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限λ0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。

吸收限：主要由于光电效应引起的吸收突然增加所对应的X射线的波长。

2.分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？

（1）用CuK

αX射线激发CuK

α

荧光辐射；

（2）用CuK

βX射线激发CuK

α

荧光辐射；

（3）用CuK

αX射线激发CuL

α

荧光辐射。

解：假设E

K 为K壳层的能量，E

L

为L壳层的能量，E

M

为M壳层的能量，

CuK

αX射线的能量为E

K

-E

L

，CuK

β

X射线的能量为E

K

-E

M

，

CuK

α荧光辐射的能量为E

K

-E

L

，CuL

α

荧光辐射的能量为E

L

-E

M

，

（1）不可能，用CuK

αX射线激发CuK

α

荧光辐射，需要E

K

的能量；

（2）不可能，用CuK

βX射线激发CuK

α

荧光辐射，需要E

K

的能量；

（3）有可能，用CuK

αX射线激发CuL

α

荧光辐射，需要E

L

的能量，具体能不能还

要比较E

K -E

L

和E

L

的大小。

3.特征x射线谱的产生机理。

答：高速运动的粒子（电子或光子）将靶材原子核外电子击出去，或击到原子系统外，或填到未满的高能级上，原子的系统能量升高，处于激发态。为趋于稳定，原子系统自发向低能态转化：较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，这一降低的能量以一个光子的形式辐射出来变成光子能量，且这降低能量为固定值（因原子序数固定），因而λ固定，所以辐射出特征X射线谱。

4.布拉格方程 2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？

答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。

该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量θ，求特征X射线的λ，并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长，通过测量θ，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。

5.给出简单立方、面心立方、体心立方、密排六方以及体心四方晶体结构X衍射发生消光的晶面指数规律。

答：常见晶体的结构消光规律

简单立方对指数没有限制（不会产生结构消光）；

面心立方 h，k，l 奇偶混合；

体心立方 h+k+l=奇数；

密排六方 h+2k=3n, 同时l=奇数；

体心四方 h+k+l=奇数。

6.决定X射线强度的关系式是，试说明式中各参数的物理意义?

答：X射线衍射强度的公式，

试中各参数的含义是：

I0为入射X射线的强度；

λ为入射X射线的波长；

R 为试样到观测点之间的距离；

V 为被照射晶体的体积；

Vc 为单位晶胞体积；

P 为多重性因子，表示等晶面个数对衍射强度的影响因子；

F 为结构因子，反映晶体结构中原子位置、种类和个数对晶面的影响因子；

A(θ) 为吸收因子，圆筒状试样的吸收因子与布拉格角、试样的线吸收系数μ

l和试样圆柱体的半径有关；平板状试样吸收因子与μ有关，而与θ

角无关；

φ(θ) 为角因子，反映样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒数目和衍射线位置对衍射强度的影响；

e-2M 为温度因子= 有热振动影响时的衍射强度

无热振动理想情况下的衍射强度

7.罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？

答：罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响，第一种几何因子表示衍射的晶粒大小对衍射强度的影响，罗仑兹第二种几何因子表示晶粒数目对衍射强度的影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响。

8.试比较衍射仪法与德拜法的优缺点？

（1）简便快速（2）分辨能力强（3）直接获得强度数据（4）低角度区的2θ测量范围大（5）样品用量大（6）设备较复杂，成本高。

9.试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。答：德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后出生的非相干散射、空气对X 射线的散射、温度波动引起的热散射等。采取的措施有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。

10.粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？

答. 粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续，或过小，德拜宽度增大，不利于分

析工作的进行。因为当粉末颗粒过大（大于10-3cm ）时，参加衍射的晶粒数减少，会使衍射线条不连续；不过粉末颗粒过细（小于10-5cm ）时，会使衍射线条变宽，这些都不利于分析工作。

多晶体的块状试样，如果晶粒足够细将得到与粉末试样相似的结果，即衍射峰宽化。但晶粒粗大时参与反射的晶面数量有限，所以发生反射的概率变小，这样会使得某些衍射峰强度变小或不出现。

11.实验中选择X 射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe 为主要成 分的样品，试选择合适的X 射线管和合适的滤波片？

答：实验中选择X 射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X 射线管。

选择滤波片的原则是X 射线分析中，在X 射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉K β线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。

分析以铁为主的样品，应该选用Co 或Fe 靶的X 射线管，它们的分别相应选择Fe 和Mn 为滤波片。

12.电子波有何特征？与可见光有何异同？

答：电子波的波长较短，轴对称非均匀磁场能使电子波聚焦。其波长取决于电子运动的速度和质量，电子波的波长要比可见光小5个数量级。两者都是波，具有波粒二象性，波的大小、产生方式、聚焦方式等不同。

13.电磁透镜的像差是怎样产生的，如何来消除或减小像差？

答：电磁透镜的像差可以分为两类：几何像差和色差。几何像差是因为投射磁场几何形状上的缺陷造成的，色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。几何像差主要指球差和像散。球差是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律造成的，像散是由透镜磁场的非旋转对称引起的。

消除或减小的方法：

球差：减小孔径半角或缩小焦距均可减小球差，尤其小孔径半角可使球差明显减小。

像散：引入一个强度和方向都可以调节的矫正磁场即消像散器予以补偿。 色差：采用稳定加速电压的方法有效地较小色差。

14.说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么？如何提高电磁透镜的分辨率？

答：光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。

电磁透镜的分辨率由衍射效应和球面像差来决定，球差是限制电磁透镜分辨本领的主要因素。

若只考虑衍射效应，在照明光源和介质一定的条件下，孔径角α越大，透镜的分辨本领越高。若同时考虑衍射和球差对分辨率的影响，关键在确定电磁透镜的最佳孔径半角，使衍射效应斑和球差散焦斑的尺寸大小相等。

15.电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响？说明电磁透镜的景深大、焦长长，是什么因素影响的结果？假设电磁透镜没有像差，也没有衍射Airy 斑，即分辨率极高，此时景深和焦长如何？

答：电磁透镜景深与分辨本领

0r ?、孔径半角α之间关系：.2200ααr tg r Df ?≈?=表

明孔径半角越小、景深越大。透镜集长L D 与分辨本领

0r ?，像点所张孔径半角β的关系：ββM r M r D L 002tan 2?≈?=，M αβ=，202M r D L α?=∴ ，M 为透镜放大倍数。当电磁透镜放大倍数和分辨本领一定时，透镜焦长随孔径半角减小而增大。 电磁透镜的景深长、焦长长，是由于小孔径半角影响的结果。

如果电磁透镜没有像差，也没有衍射Airy 斑，即分辨率极高，此时没有景深和焦长。

16、消像散器的作用和原理是什么？

答：消像散器的作用就是用来消除像散的。其原理就利用外加的磁场把固有的椭圆形磁场校正成接近旋转对称的磁场。机械式的消像散器式在电磁透镜的磁场周围放置几块位置可以调节的导磁体来吸引一部分磁场从而校正固有的椭圆形磁场。而电磁式的是通过电磁板间的吸引和排斥来校正椭圆形磁场的。

17.分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系，并画出光路图。

答：如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是电子显微镜中的成像操作，如图（a ）所示。如果把中间镜的物平面和物镜的后焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是电子显微镜中的电子衍射操作，如图（b ）所示。

18.什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别?

答：由于样品中不同位相的衍射条件不同而造成的衬度差别叫衍射衬度。 它与质厚衬度的区别：

质厚衬度是建立在原子对电子散射的理论基础上的，而衍射衬度则是建立在晶体对电子衍射基础之上。

质厚衬度利用样品薄膜厚度的差别和平均原子序数的差别来获得衬度，而衍射衬度则是利用不同晶粒的晶体学位相不同来获得衬度。

质厚衬度应用于非晶体复型样品成像中，而衍射衬度则应用于晶体薄膜样品成像中。

19.制备复型的材料应具备什么条件？

（1）复型材料本身必须是非晶态材料。

（2）复型材料的粒子尺寸必须很小。

（3）复型材料应具备耐电子轰击的性能，即在电子束照射下能保持稳定，不发生分解和破坏。

20.分析电子衍射与X 衍射有何异同？

答：相同点：

都是以满足布拉格方程作为产生衍射的必要条件。

两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上大致相似。

不同点：

电子波的波长比x 射线短的多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角很小，约

为10-2rad 。而X 射线产生衍射时，其衍射角最大可接近 2

。

在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会，使衍射条件变宽。

因为电子波的波长短，采用爱瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角θ较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。

原子对电子的散射能力远高于它对x 射线的散射能力，故电子衍射束的强度较大，摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟。

21、倒易点阵与正点阵之间关系如何？倒易点阵与晶体的电子衍射斑点之间有何对应关系？

答：倒易点阵是与正点阵相对应的量纲为长度倒数的一个三维空间点阵，通过倒易点阵可以把晶体的电子衍射斑点直接解释成晶体相对应晶面的衍射结果，可以认为电子衍射斑点就是与晶体相对应的倒易点阵某一截面上阵点排列的像。 关系：

倒易矢量ghkl 垂直于正点阵中对应的（hkl ）晶面，或平行于它的法向Nhkl 倒易点阵中的一个点代表正点阵中的一组晶面

倒易矢量的长度等于点阵中的相应晶面间距的倒数，即ghkl=1/dhkl

对正交点阵有a*//a ，b*//b ，c*//c ，a*=1/a ，b*=1/b ，c*=1/c 。

只有在立方点阵中，晶面法向和同指数的晶向是重合的，即倒易矢量ghkl 是与相应指数的晶向[hkl]平行

某一倒易基矢量垂直于正交点阵中和自己异名的二基矢所成

平面。

22、什么是消光距离？影响消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？ 这种强烈动力学相互作用的结果，使I 0和I g 在晶体深度方向发生周期性的振荡。

振荡的深度周期叫做消光距离，记做εg 。

影响εg 的物性参数：d ——晶面间距、n ——原子面上单位体积内所含晶胞数、或 Vc ——晶胞体积、Fg ——结构因子

外界条件：加速电压、入射波波长λ、入射波与晶面交成成的布拉格角θ。

23、制备薄膜样品的基本要求是什么？具体工艺过程如何？双喷减薄与离子减

薄各适用于制备什么样品？

答：基本要求：

①薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同。

②样品相对于电子束而言，必须有足够多的“透明度”。

③薄膜样品应有一定的强度和刚度，在制备、夹持和操作的过程中，在一定的

机械力的作用下不会引起变形或损坏。

④在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀。

工艺过程：

①从实物或大块的试样上切割厚度为0.3~0.5nm厚的薄片。

②样品薄片的预减薄（机械法或化学法）

③最终减薄，达到电镜所需的透明度，包括双喷电解减薄和离子减薄，目前效

率最高和操作最简单的方法是双喷电解减薄。

双喷减薄适用制备金属与部分合金样品。

①不易于腐蚀的裂纹端试样

②非粉末冶金试样

③组织中各相电解性能相差不大的材料

④不易于脆断、不能清洗的试样

离子减薄适用制备

①不导电的陶瓷样品

②要求质量高的金属样品

③不宜双喷电解的金属与合金样品

24.用缺陷晶体衍衬运动学基本方程解释衬度形成原理。

答：缺陷晶体的衍射波振幅为：

∑

=

Φ+

-

柱体

)

(α

?

ξ

πi

e

i

g

g

与理想晶体相比较，可发现由于晶体的不完整性，在缺陷附近的点阵畸变范围内衍射振幅的表达式中出现了一个附加的位相因子e-iα，其中附加的位相角α=2πg·R。所以，一般地说，附加位相因子e-iα引入将使缺陷附近物点的衍射强度有别于无缺陷的区域，从而使缺陷在衍衬图像中产生相应的衬度。

25、二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 答：相同处：均利用电子信号的强弱来行成形貌衬度

不同处：

①分辨率不同。背散射电子是在一个较大的作用体积内被入射电子激发出来的，

成像单元较大，因而分辨率较二次电子像低。

②能量和运动轨迹不同。背散射电子能量较高，以直线逸出，因而样品背部的

电子无法被检测到，成一片阴影，衬度较大，无法分析细节；利用二次电子作形貌分析时，可以利用在检测器收集光栅上加上正电压来吸收较低能量的二次电子，使样品背部及凹坑等处逸出的电子以弧线状运动轨迹被吸收，因而使图像层次增加，细节清晰。

26、扫描电子显微镜有哪些特点？

答：和光学显微镜相比，扫描电子显微镜具有能连续改变放大倍率，高放大倍数，高分辨率的优点；扫描电镜的景深很大，特别适合断口分析观察；背散射电子成像还可以显示原子序数衬度。

和透射电子显微镜相比，扫描电镜观察的是表面形貌，样品制备方便简单。

27、电子探针仪与扫描电镜有何异同?电子探针仪如何与扫描电镜和透射电镜配合进行组织结构与微区化学成分的同位分析?

答：相同点：

①镜筒及样品室无本质差别。

②原理相同。利用电子束轰击固体样本产生的信号进行分析。

不同点：

①检测信号类型不同。电子探针检测的是特征X射线，扫描电镜检测的是二次

电子和背散电子。

②用途不同。电子探针得到的是元素种类和含量，用于成分分析；扫描电镜主

要用于形貌分析。

透射电镜成像操作用来组织观察，通过选取衍射操作用来分析选定区域的晶体结构，结合电子探针可分析选定区域的微区化化学成分，这样组织结构与微区化化学成分做到同位分析。

扫描电镜用于形貌观察，结合电子探针可分析选定区域的微区化化学成分，这样形貌与微区化化学成分做到同位分析。

28、波谱仪和能谱仪各有什么优缺点?

能谱仪：

①能谱仪分辨率比波谱仪低，能谱仪给出的波峰比较宽，容易重叠。在一般情

况下，Si（Li）检测器的能量分辨率约为160eV，而波谱仪的能量分辨率可达5-10eV。

②能谱仪中因Si（Li）检测器的铍窗口限制了超轻元素X射线的测量，因此它

只能分析原子系数大于11的元素，而波谱仪可测定原子序数4-92之间所有的元素。

③能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温状态，因此必须时时用液氮冷却。

波谱仪：

①波谱仪由于通过分光体衍射，探测X射线效率低，因而灵敏度低。

②波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长。

③波谱仪结构复杂。

29、和波谱仪相比，能谱仪在分析微区化学成分时有哪些优缺点？

答：能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)，波谱仪全称为波长分散谱仪(WDS)。

Si(Li)能谱仪的优点：

(1)分析速度快

(2)灵敏度高

(3)谱线重复性好

(4)对样品表面没有特殊要求

能谱仪的缺点：

(1)能量分辨率低峰背比低。

(2)分析元素范围限制

(3)工作条件要求严格

资料分析精典题型附答案

一、根据所给文字、图表资料回答106―110题。 2010年1月-2011年7月汽车产量及月同比增速 106．2011年7月产量低于上半年月均产量的是（） A.电 B. 钢材 C. 水泥 D. 乙烯 107．2011年7月轿车产量占汽车产量的比重与上年同期相比（） A. 上升了约7个百分点 B. 下降了月7个百分点 C. 上升了约14个百分点 D. 下降了月14个百分点 108．2010年年3-12月中，汽车单月产量超过150万辆的月份有（）个。 A. 4 B. 5 C. 6 D. 7

109．下列选项中，汽车产量同比增速最低的是（） A. 2010年4月 B. 2010年5月 C. 2011年4月 D. 2011年5月 110．以下说法与资料相符的是（） A. 表中产品2011年7月产量同比增速均慢于上半年 B. 2011年7月，十种有色金融比上年同期增产9.8万吨 C. 2009年11月，汽车日均产量超过4万辆 D. 2010年汽车产量最低的季度是第一季度 二、根据所给文字、图表资料回答111―115题。 某市2010年全年实现农业增加值124.3亿元，比上年下降1.6%。粮食播种面积22.3万公顷，比上年减少0.3万公顷；粮食产量115.7万吨，比上年下降7.3%。 全市农业观光园1303个，比上年增加9个；观光园总收入17.8亿元，比上年增长16.7%。民俗旅游实际经营户7979户，比上年减少726户；民俗旅游总收入7.3亿元，增长20.7%。种业收入14.6亿元，比上年增长13.5%。设施农业占地面积18323公顷，比上年下降2.3%；实现收入40.7亿元，增长20.1%。2010年主要农副产品产量

材料现代分析方法试题2(参考答案)

材料现代分析方法试题4（参考答案） 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片 答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。 选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片， 以滤掉K β线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。 以分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，同时选用Fe和Mn 为滤波片。 2．试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途？ 答：获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向；旋转晶体法主要用于研究晶体结构；粉末法主要用于物相分析。 3．原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？ 答：原子散射因数f 是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。也称原子散射波振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。 原子散射因数与其原子序数有何关系，Z越大，f 越大。因此，重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。 4．用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？ 答：用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相，应当采用带状的照相底片去记录。

材料分析方法试题(1)

《材料科学研究方法》考试试卷（第一套） 一、 1、基态 2、俄歇电子 3、物相分析 4、 色散 5、振动耦合 6、热重分析 一．填空题（每空1分，选做20空，共20分，多答不加分） 1. 对于X 射线管而言，在各种管电压下的连续X 射线谱都存在着一个最短的波长长值 ， 称为 ，当管电压增大时，此值 。 2. 由点阵常数测量精确度与θ角的关系可知，在相同条件下，θ角越大，测量的精确 度 。 3. 对称取代的S=S 、C ≡N 、C=S 等基团在红外光谱中只能产生很弱的吸收带（甚至无吸 收带），而在 光谱中往往产生很强的吸收带。 4. 根据底片圆孔位置和开口位置的不同，德拜照相法的底片安装方法可以分 为： 、 、 。 5. 两组相邻的不同基团上的H 核相互影响，使它们的共振峰产生了裂分，这种现象 叫 。 6. 德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于相机的半径误差、底片的伸缩误差、样品的 偏心误差和 。 7. 激发电压是指产生特征X 射线的最 电压。 8. 凡是与反射球面相交的倒易结点都满足衍射条件而产生衍射，这句话是对是 错？ 。 9. 对于电子探针，检测特征X 射线的波长和强度是由X 射线谱仪来完成的。常用的X 射 线谱仪有两种：一种 ，另一种是 。 10. 对于红外吸收光谱，可将中红外区光谱大致分为两个区： 和 。 区域的谱带有比较明确的基团和频率对应关系。 11. 衍射仪的测量方法分哪两种： 和 。 12. DTA 曲线描述了样品与参比物之间的 随温度或时间的变化关系。 13. 在几大透镜中，透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于 。 14. 紫外吸收光谱是由分子中 跃迁引起的。红外吸收光谱是由分子中 跃迁引起的。 15. 有机化合物的价电子主要有三种，即 、 和 。 16. 核磁共振氢谱规定，标准样品四甲基硅δ TMS ＝ 。 17. 红外吸收光谱又称振-转光谱，可以分析晶体的结构，对非晶体却无能为力。此种说法 正确与否？ 18. 透射电子显微镜以 为成像信号，扫描电子显微镜主要以 为成像信号。 0λ

材料现代分析测试方法习题答案.doc

材料现代分析测试方法习题答案 【篇一：2012 年材料分析测试方法复习题及解答】 lass=txt> 一、单项选择题（每题 3 分，共15 分） 1．成分和价键分析手段包括【 b 】 （a）wds 、能谱仪（eds ）和xrd （b）wds 、eds 和xps （c）tem 、wds 和xps （d）xrd 、ftir 和raman 2．分子结构分析手段包括【a】 （a）拉曼光谱（raman ）、核磁共振（nmr ）和傅立叶变换红外光 谱（ftir ）（b）nmr 、ftir 和wds （c）sem 、tem 和stem （扫描透射电镜）（d）xrd 、ftir 和raman 3．表面形貌分析的手段包括【d】 （a）x 射线衍射（xrd ）和扫描电镜（sem ）(b) sem 和透射电镜 （tem ） (c) 波谱仪（wds ）和x 射线光电子谱仪（xps ）(d) 扫描隧道显微 镜（stm ）和 sem 4．透射电镜的两种主要功能：【b】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–c-h 、–oh 和–nh2 (b) –c-h 、和–nh2, (c) –c-h 、和-c=c- (d) –c-h 、和co 2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√） 5．在样品台转动的工作模式下，x 射线衍射仪探头转动的角速度是 样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题 5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信 号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？

数据分析期末试题及答案

数据分析期末试题及答案 一、人口现状.sav数据中是1992年亚洲各国家和地区平均寿命(y)、按购买力计算的人均GDP(x1)、成人识字率(x2)，一岁儿童疫苗接种率(x3)的数据，试用多元回归分析的方法分析各国家和地区平均寿命与人均GDP、成人识字率、一岁儿童疫苗接种率的关系。(25分) 解： 1.通过分别绘制地区平均寿命(y)、按购买力计算的人均GDP(x1)、成人识字率(x2)，一岁儿童疫苗接种率(x3)之间散点图初步分析他们之间的关系 上图是以人均GDP(x1)为横轴，地区平均寿命(y)为纵轴的散点图，由图可知，他们之间没有呈线性关系。尝试多种模型后采用曲线估计，得出 表示地区平均寿命(y)与人均GDP(x1)的对数有线性关系

上图是以成人识字率(x2)为横轴，地区平均寿命(y)为纵轴的散点图，由图可知，他们之间基本呈正线性关系。 上图是以疫苗接种率(x3)为横轴，地区平均寿命(y)为纵轴的散点图，由图可知，他们之间没有呈线性关系 。 x）为横轴，地区平均寿命(y)为纵轴的散点图，上图是以疫苗接种率(x3)的三次方（3 3 由图可知，他们之间呈正线性关系 所以可以采用如下的线性回归方法分析。

2.线性回归 先用强行进入的方式建立如下线性方程 设Y=β0+β1*（Xi1）+β2*Xi2+β3* X+εi i=1.2 (24) 3i 其中εi（i=1.2……22）相互独立，都服从正态分布N（0，σ^2）且假设其等于方差 R值为0.952，大于0.8，表示两变量间有较强的线性关系。且表示平均寿命(y)的95.2%的信息能由人均GDP(x1)、成人识字率(x2)，一岁儿童疫苗接种率(x3)一起表示出来。 建立总体性的假设检验 提出假设检验H0：β1=β2=β3=0，H1,：其中至少有一个非零 得如下方差分析表 上表是方差分析SAS输出结果。由表知，采用的是F分布，F=58.190，对应的检验概率P值是0.000.，小于显著性水平0.05，拒绝原假设，表示总体性假设检验通过了，平均寿命(y)与人均GDP(x1)、成人识字率(x2)，一岁儿童疫苗接种率(x3)之间有高度显著的的线性回归关系。

材料现代分析方法试题及答案1

一、单项选择题（每题 2 分，共10 分） 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）(b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和X 射线光电子谱仪（XPS）(d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题2 分，共10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 1．透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？ 答：如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。 2．简述能谱仪和波谱仪的工作原理。 答：能量色散谱仪主要由Si(Li)半导体探测器、在电子束照射下，样品发射所含元素的荧光标识X 射线，这些X 射线被Si(Li)半导体探测器吸收，进入探测器中被吸收的每一个X 射线光子都使硅电离成许多电子—空穴对，构成一个电流脉冲，经放大器转换成电压脉冲，脉冲高度与被吸收的光子能量成正比。最后得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的X 射线能量色散谱。 在波谱仪中，在电子束照射下，样品发出所含元素的特征x 射线。若在样品上方水平放置一块具有适当晶面间距 d 的晶体，入射X 射线的波长、入射角和晶面间距三者符合布拉格方程时，这个特征波长的X 射线就会发生强烈衍射。波谱仪利用晶体衍射把不同波长的X 射线分开，即不同波长的X 射线将在各自满足布拉格方程的2θ方向上被检测器接收，最后得到以波长为横坐标、强度为纵坐标的X射线能量色散谱。 3．电子束与试样物质作用产生那些信号？说明其用途。 （1）二次电子。当入射电子和样品中原子的价电子发生非弹性散射作用时会损失其部分能量(约30～50 电子伏特)，这部分能量激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子，即二次电子。二次电子对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。 （2）背散射电子。背散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子。既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子，又包括与样品中核外电子作用而形成的非弹性散射电子。利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，进行定性成分分析。 （3）X 射线。当入射电子和原子中内层电子发生非弹性散射作用时也会损失其部分能量(约

2013国考资料分析试题及答案

资料分析试题 2013年国考行测资料分析每日一练（1） 【例题】根据以下资料，回答1一5题。 2008年，全国共有普通高等学校和成人高等学校2663所。其中，普通高等学校2263所，比上年增加355所，成人高等学校400所，比上年减少13所。普通高校中本科院校1079所，高职(专科)院校1184所。全国共有培养研究生单位796个;其中高等学校479个，科研机构317个。 全国招收研究生44.64万人，比上年增加2.78万人，增长6.64%;其中博士生5.98万人，硕士生38.67万人。在学研究生128. 30万人，比上年增加8.80万人，增长7.36%;其中博士生23.66万人，硕士生104.64万人。毕业研究生34. 48万人，比上年增加3.3万人，增长10.58%;其中博士生4.37万人，硕士生30.11万人。 普通高等教育本专科共招生607.66万人，比上年增加41.74万人;在校生2021.O2万人，比上年增加136. 12万人，增长7.22%;毕业生511.95万人，比上年增加64. 16万人，增长14.33%。成人高等教育本专科共招生202.56万人，在校生548. 29万人，毕业生169. 09万人。全国高等教育自学考试报考988.82万人次，取得毕业证书55.19万人。 普通高等学校学生平均规模为8679人。 普通高等学校教职工205.10万人，比上年增加7.65万人;其中专任教师123. 75万人，比上年增加 6.92万人。生师规模比为1 7.23:1。成人高等学校教职工 8.99万人，比上年减少4.64万人;其中专任教师5.32万人，比上年减少2.7万人。 1.2008年全国本科院校占普通高校和成人高等学校总和的比例为( )。 A.47.7% B.52.3% C.40.5% D.44.5% 2.2007年，全国普通高等学校和成人高等学校的总数为( )所。 A.2675 B.2321 C.2309 D.2250 3.2008年下列数据增幅最大的是( )。

材料现代分析方法练习题及答案

8. 什么是弱束暗场像？与中心暗场像有何不同？试用Ewald图解说明。 答：弱束暗场像是通过入射束倾斜，使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑，透射束和其他衍射束都被挡掉，利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。 与中心暗场像不同的是，中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像，即除直射束外只有一个强的衍射束，而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像，采用很大的偏离参量s。中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件，衍射强度较强，而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像，衍射束强度很弱。采用弱束暗场像，完整区域的衍射束强度极弱，而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射，形成高分辨率的缺陷图像。图：PPT透射电子显微技术1页 10. 透射电子显微成像中，层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同？用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来？ 答：由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同，则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度，相应地出现均匀的亮线和暗线，由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同，故所有亮线和暗线的衬度分别相同。层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。 孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同，或者还由于点阵类型不同，一边的晶体处于双光束条件时，另一边的衍射条件不可能是完全相同的，也可能是处于无强衍射的情况，就相当于出现等厚条纹，所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹，不同的是孪晶界是一条直线，而晶界不是直线。 反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。 层错条纹平行线直线间距相等 反相畴界非平行线非直线间距不等 孪晶界条纹平行线直线间距不等 晶界条纹平行线非直线间距不等 11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。形成衍射衬度像和相位衬度像时，物镜在聚焦方面有何不同？为什么？ 答：质厚衬度：入射电子透过非晶样品时，由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异，导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同，对应各个区域的图像的明暗不同，形成的衬度。 衍射衬度：由于样品中的不同晶体或同一晶体中不同部位的位向差异导致产生衍射程度不同而形成各区域图像亮度的差异，形成的衬度。 相位衬度：电子束透过样品，试样中原子核和核外电子产生的库伦场导致电子波的相位发生变化，样品中不同微区对相位变化作用不同，把相应的相位的变化情况转变为相衬度，称为相位衬度。 物镜聚焦方面的不同：透射电子束和至少一个衍射束同时通过物镜光阑成像时，透射束和衍射束相互干涉形成反应晶体点阵周期的条纹成像或点阵像或结构物象，这种相位衬度图像的形成是透射束和衍射束相干的结果，而衍射衬度成像只用透射束或者衍射束成像。

材料现代分析方法试题及答案1

《现代材料分析方法》期末试卷1 一、单项选择题（每题 2 分，共10 分） 1．成分和价键分析手段包括【b 】 （a）WDS、能谱仪（EDS）和XRD （b）WDS、EDS 和XPS （c）TEM、WDS 和XPS （d）XRD、FTIR 和Raman 2．分子结构分析手段包括【 a 】 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b）NMR、FTIR 和WDS （c）SEM、TEM 和STEM（扫描透射电镜）（d）XRD、FTIR 和Raman 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）(b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和X 射线光电子谱仪（XPS）(d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和CO 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题2 分，共10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）

4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？ 范德华力和毛细力。 以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？ 多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，与外磁场同向的起增强外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同，核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同，满足“n+1”规律 4．什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？ 同种原子处于不同化学环境而引起的电子结合能的变化，在谱线上造成的位移称为化学位移。在XPS、俄歇电子能谱、核磁共振等分析手段中均利用化学位移。 5。拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的, 试述拉曼散射的过程。 拉曼光谱的峰位是由分子基态和激发态的能级差决定的。在拉曼散射中，若光子把一部分能量给样品分子，使一部分处于基态的分子跃迁到激发态，则散射光能量减少，在垂直方向测量到的散射光中，可以检测到频率为（ν0 - Δν)的谱线，称为斯托克斯线。相反，若光子从样品激发态分子中获得能量，样品分子从激发态回到基态，则在大于入射光频率处可测得频率为（ν0 + Δν)的散射光线，称为反斯托克斯线 四、问答题（10 分） 说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。 答：阿贝成像原理（5 分）：平行入射波受到有周期性特征物体的散射作用在物镜的后焦面上形成衍射谱，各级衍射波通过干涉重新在像平面上形成反映物的特征的像。在透射电镜中的具体应用方式（5 分）。利用阿贝成像原理，样品对电子束起散射作用，在物镜的后焦面上可以获得晶体的衍射谱，在物镜的像面上形成反映样品特征的形貌像。当中间镜的物面取在物镜后焦面时, 则将衍射谱放大，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样；当中间镜物面取在物镜的像面上时，则将图像进一步放大,这就是电子显微镜中的成像操作。 五、计算题（10 分） 用Cu KαX 射线（λ=0.15405nm）的作为入射光时，某种氧化铝的样品的XRD 图谱如下，谱线上标注的是2θ的角度值，根据谱图和PDF 卡片判断该氧化铝的类型，并写出XRD 物相分析的一般步骤。 答：确定氧化铝的类型（5 分） 根据布拉格方程2dsinθ=nλ，d=λ/(2sinθ) 对三强峰进行计算：0.2090nm,0.1604nm,0.2588nm,与卡片10-0173 α-Al2O3 符合，进一步比对其他衍射峰的结果可以确定是α-Al2O3。 XRD 物相分析的一般步骤。（5 分） 测定衍射线的峰位及相对强度I/I1： 再根据2dsinθ=nλ求出对应的面间距 d 值。 (1) 以试样衍射谱中三强线面间距d 值为依据查Hanawalt 索引。

材料现代分析测试方法复习题

材料现代分析测试方法 复习题 Document number：WTWYT-WYWY-BTGTT-YTTYU-2018GT

《近代材料测试方法》复习题 1．材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次分别可以用什么方法分析 答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法 ——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射 显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2．X射线与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用 答：除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一 部分可能变成次级或更高次的X射线，即所谓荧光X射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。 （1）现象/现象：散射X射线（想干、非相干）、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 （2）①光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产

生光电效应。 应用：光电效应产生光电子，是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线（称二次特征辐射）。 应用：X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3．电子与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用 答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。（1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射线 （2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4．光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应，荧光产率与俄歇电子产率。特征X射线产生机理。 光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。

2019年公务员《资料分析》试题及答案(卷一)

2019年公务员《资料分析》试题及答案（卷一） 1、房地产开发项目的税后利润是指房地产开发企业缴纳( )之后的利润。 A. 营业税 B. 房产税 C. 土地增值税 D. 企业所得税 标准答案：D 解析：考察房地产开发项目税后利润的含义。房地产开发企业缴纳所得税之后的利润为税后利润。 2、在房地产市场营销中常说的“金九银十”现象，描述的是购房者的( )特征。 A. 消费能力 B. 消费动机 C. 消费行为 D. 消费结构 标准答案：C 解析：考察房地产消费行为调研的内容。房地产消费行为调研就是对消费者购买房地产的模式和习惯的调研。调研内容包括消费者购买房地产的时间分布，消费者在购买房地产的时间分布上有一定的习惯和规律，例如，房地产营销中常说的金九银十。 3、目前在火电领域诞生的新技术很多，联合循环技术就是其中

之一。简单来说，联合循环技术就是“一气两用”;将燃气轮机排出的高温废气，通过余热锅炉回收转换为蒸汽，进入蒸汽轮机后驱动其运转，两台轮机都将动能输送至发电机进行发电;废气再次进入锅炉，进一步将其中蕴含的热能转化为动能，降低最终排出气体的温度。这样不仅环保，还能节省燃料。启动速度快也是一大优点，其工作原理是在开机之初关闭运转较慢的蒸汽轮机，只启动燃气轮机，产生足够的热能后，再切换到联合循环模式。这一特点对于电力应急事件频发的大都市十分实用。 关于联合循环技术，下列说法与上述文字不相符的是： A.明显提高了发电效率 B.高温废气得以循环利用 C.停电时可在短时间内迅速启动 D.蒸汽轮机早于燃气轮机启动 4、在早已对漂亮假花、假树司空见惯的现代人眼里，干枯苍白的植物标本或许难有多少魅力可言。但在标本馆中，每一份看似不起眼的植物标本都代表着它在地球上的_____。它们虽然远离了最光雨露，告别了生长的土地，却在科学殿堂中_____了自己的生命。 依次填入划横线部分最恰当的一项是： A.经历重现 B.同类延续 C.存在超越 D.物种证明 5、2亿个气味受体细胞，而人类只有2000万个，但我们的嗅觉系统也是相当复杂而专业的，气味分子随气流进入鼻子，通过鼻腔顶

材料分析方法考试复习题

1）短波限: 连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。P7。 2）质量吸收系数 指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物质量。P12。 3）吸收限 吸收限是指对一定的吸收体，X 射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。P12。 4）X 射线标识谱 当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X 射线标识谱。P9。 5）连续X 射线谱线 强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。P7。 6）相干散射 当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。P14。 7）闪烁计数器 闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。P54。 8）标准投影图 对具有一定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。P99。 9）结构因数 在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2 HKL F 的平方成正比，结构振幅的平方2HKL F 称为结构因数。P34。

(完整版)材料现代分析方法第一章习题答案解析

第一章 1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？ 答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。 X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。 X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构变化的相关的各种问题。 X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发出的X射线的波长和强度，从而研究物质的原子结构和成分。 2. 试计算当管电压为50 kV时，X射线管中电子击靶时的速度与动能，以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少？ 解：已知条件：U=50kV 电子静止质量：m0=9.1×10-31kg 光速：c=2.998×108m/s 电子电量：e=1.602×10-19C 普朗克常数：h=6.626×10-34J.s 电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为： E=eU=1.602×10-19C×50kV=8.01×10-18kJ 由于E=1/2m0v02 所以电子击靶时的速度为： v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s 所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压： λ0（?）＝12400/U(伏) ＝0.248? 辐射出来的光子的最大动能为： E0＝hv＝h c/λ0＝1.99×10-15J 3. 说明为什么对于同一材料其λK<λKβ<λKα? 答:导致光电效应的X光子能量＝将物质K电子移到原子引力范围以外所需作的功hV k = W k 以kα为例: hV kα = E L– E k

h e = W k – W L = hV k – hV L ∴h V k > h V k α∴λk<λk α以k β 为例:h V k β = E M – E k = W k – W M =h V k – h V M ∴ h V k > h V k β∴ λk<λk βE L – E k < E M – E k ∴hV k α < h V k β∴λk β < λk α 4. 如果用Cu 靶X 光管照相，错用了Fe 滤片，会产生什么现象？ 答：Cu 的K α1,K α2, K β线都穿过来了，没有起到过滤的作用。 5. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何不同？某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它的K 系特征X 射线波长？ 答：特征X 射线与荧光X 射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能 量以X 射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X 射线；以 X 射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放 的是荧光X 射线。某物质的K 系特征X 射线与其K 系荧光X 射线具有相同波长。6. 连续谱是怎样产生的？其短波限 与某物质的吸收限 有何不同（V 和 V K 以kv 为单位）？ 答：当X 射线管两极间加高压时，大量电子在高压电场的作用下，以极高的速度向阳极轰 击，由于阳极的阻碍作用，电子将产生极大的负加速度。根据经典物理学的理论，一个带 负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电 磁波，或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X 射线谱。 在极限情况下，极少数的电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子，这 个光量子便具有最高能量和最短的波长，即短波限。连续谱短波限只与管压有关，当固定

现代材料分析方法试题及答案

1《现代材料分析方法》期末试卷 一、单项选择题（每题 2 分，共 10 分） 1．成分和价键分析手段包括【 b 】 （a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman 2．分子结构分析手段包括【 a 】 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b） NMR、FTIR 和 WDS （c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜）（d） XRD、FTIR 和 Raman 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） (b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS） (d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【 b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和 CO 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题 2 分，共 10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题 5 分，共 25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？ 范德华力和毛细力。

(完整word版)教案-材料现代分析测试方法

西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名：张宝述 课程名称：材料现代分析测试方法 课程代码：11319074 授课对象：本科专业：材料物理 授课总学时：64 其中理论：64 实验：16（单独开课） 教材：左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社，2000 材料学院教学科研办公室制

2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子（束）与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1．理解概念：（电子的）最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射；掌握概念：散射角（2 ）、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、二次离子。 2．了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3．掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4．掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5．掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6．了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点：电子的散射，电子与固体作用产生的信号。难点：电子与固体的相互作用，离子散射，溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子激发产生的？ 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同？ 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？ 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4

材料分析方法__试卷2

材料现代分析方法试题2 材料学院材料科学与工程专业年级班级材料现代分析方法课程200—200学年第学期（）卷期末考试题（ 120 分钟） 考生姓名学号考试时间 主考教师：阅卷教师： 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？ 2．下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重 新排列：（12），（100），（200），（11），（121），（111），（10），（220），（130），（030），（21），（110）。 3．衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？ 4．罗伦兹因子是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？ 5．磁透镜的像差是怎样产生的? 如何来消除和减少像差? 6．别从原理、衍射特点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电子衍 射在材料结构分析中的异同点。 7．子束入射固体样品表面会激发哪些信号? 它们有哪些特点和用途? 8．为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种基本方式，并比较波谱仪和能谱 仪的优缺点。 9．如何区分红外谱图中的醇与酚羟基的吸收峰？ 10．紫外光谱常用来鉴别哪几类有机物？ 二、综合分析题（共5题，每题10分） 1．试比较衍射仪法与德拜法的优缺点？ 2．试述X射线衍射单物相定性基本原理及其分析步骤？

3．扫描电镜的分辨率受哪些因素影响? 用不同的信号成像时，其分辨率有何不同? 所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率? 4．举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。5．分别指出谱图中标记的各吸收峰所对应的基团? 材料现代分析方法试题2（参考答案） 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？ 答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。 选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。 分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，它们的分别相应选择Fe和Mn为滤波片。 2．下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重 新排列：（12），（100），（200），（11），（121），（111），（10），（220），（130），（030），（21），（110）。 答：它们的面间距从大到小按次序是：（100）、（110）、（111）、（200）、（10）、（121）、（220）、（21）、（030）、（130）、（11）、（12）。3．衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？ 答：衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的大小。

材料分析方法考试复习题

一、名词解释（30分，每题3分） 1）短波限: 连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。P7。 2）质量吸收系数 指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物质量。P12。 3）吸收限 吸收限是指对一定的吸收体，X 射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。P12。 4）X 射线标识谱 当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X 射线标识谱。P9。 5）连续X 射线谱线 强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。P7。 6）相干散射 当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。P14。 7）闪烁计数器 闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。P54。 8）标准投影图 对具有一定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。P99。 9）结构因数 在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2 HKL F 的平方成正比，结构振幅

数据分析经典测试题含答案解析

数据分析经典测试题含答案解析 一、选择题 1．某校九年级数学模拟测试中，六名学生的数学成绩如下表所示，下列关于这组数据描述正确的是（） A．众数是110 B．方差是16 C．平均数是109.5 D．中位数是109 【答案】A 【解析】 【分析】 根据众数、中位数的概念求出众数和中位数，根据平均数和方差的计算公式求出平均数和方差． 【详解】 解：这组数据的众数是110，A正确； 1 6 x=×（110+106+109+111+108+110）＝109，C错误； 21 S 6 = [（110﹣109）2+（106﹣109）2+（109﹣109）2+（111﹣109）2+（108﹣109）2+ （110﹣109）2]＝8 3 ，B错误； 中位数是109.5，D错误； 故选A． 【点睛】 本题考查的是众数、平均数、方差、中位数，掌握它们的概念和计算公式是解题的关键． 2．一组数据2，x，6，3，3，5的众数是3和5，则这组数据的中位数是（） A．3 B．4 C．5 D．6 【答案】B 【解析】 【分析】 由众数的定义求出x=5，再根据中位数的定义即可解答． 【详解】 解：∵数据2，x，3,3,5的众数是3和5， ∴x=5，

则数据为2、3、3、5、5、6，这组数据为35 2 =4． 故答案为B． 【点睛】 本题主要考查众数和中位数，根据题意确定x的值以及求中位数的方法是解答本题的关键． 3．如图，是根据九年级某班50名同学一周的锻炼情况绘制的条形统计图，下面关于该班50名同学一周锻炼时间的说法错误的是（） A．平均数是6 B．中位数是6.5 C．众数是7 D．平均每周锻炼超过6小时的人数占该班人数的一半 【答案】A 【解析】 【分析】 根据中位数、众数和平均数的概念分别求得这组数据的中位数、众数和平均数，由图可知锻炼时间超过6小时的有20+5＝25人．即可判断四个选项的正确与否． 【详解】 A、平均数为1 50 ×（5×7+18×6+20×7+5×8）＝6.46，故本选项错误，符合题意； B、∵一共有50个数据， ∴按从小到大排列，第25，26个数据的平均值是中位数， ∴中位数是6.5，故此选项正确，不合题意； C、因为7出现了20次，出现的次数最多，所以众数为：7，故此选项正确，不合题意； D、由图可知锻炼时间超过6小时的有20+5＝25人，故平均每周锻炼超过6小时的人占总数的一半，故此选项正确，不合题意； 故选A． 【点睛】 此题考查了中位数、众数和平均数的概念等知识，中位数是将一组数据从小到大（或从大到小）重新排列后，最中间的那个数（最中间两个数的平均数），叫做这组数据的中位数，如果中位数的概念掌握得不好，不把数据按要求重新排列，就会错误地将这组数据最中间的那个数当作中位数．