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SPC计划表

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推行 spc 计划书

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目录

一、 spc简介二、推行计划 1、先期准备

2、试运行(分析用spc)

3、运行(控制用spc)

4、总结,维护三、资源申请及相关

图表

一. spc简介

一、何谓spc

统计制程管制(statistical process control):简称spc。对任何现场依计划收集

的数据资料;如:成品特性、零件尺寸等,提供各种统计分析及管制图的处理、分析、计算、

图标及报表。在制程管制系统中提供绩效报告,以达成预先防止,避免浪费的管制要求。

二、spc要点

1. spc即以制程现状的特征值与原制程能力的特征值进行比较,以判别制程是否出现异

常;

2. spc是预防为主的行动,其目的是为了有效的使用资源采取改进行动;

3. spc是一套「预防性」技术,它不只是进行检验,还要对收集的数据进行分析和维

护,以提供制程能力评估及制程发展预测的依据。

三、spc的用途

1. spc的使用,可通过减少制程变异达成更好的品质;

2. spc能够提早发现及减少制

程变异而提升制程能力;

3. spc有助于制程控制维护及稳定性;

4. spc使我们可以提高产品长期的可靠性及稳定性。

四、spc的发展简史

spcd是statistical process control and diagnosis的简称,即统计过程控制与诊断,

它是spc发展的第二阶段。spc虽能对过程的异常进行告警,但它并不能分辨出是什么异常,

发生于何处,即不能进行诊断,1982年我国首创两种质量诊断理论,突破了休哈特质量控制

理论,开辟了统计质量诊断的新方向。此后,我国质量专家又提出了多元逐步诊断理论和两

种质量多元诊断理论,解决了多工序、多指标系统的质量控制与诊断问题。

spcda是statistical process control , diagnosis and adjustment的简称,即统计

过程控制、诊断与调整,它能控制产品质量、发现异常并诊断导致异常的原因、自动进行调整,

是spc发展的第三个阶段,目前尚无实用性成果。

五.制程管制的目的

在制造过程中,依标准和方法进行管制,以确保制品品质,并重视变异,以预期防患不良品

之发生或再度发生,使制品能在规定之使用环境发挥预期之机能,以对下一工作保证(下一工

站或客户).

六.制程管制系统四要素

一个有效制程管制系统可以称为一个反馈系统.统计制程管制系统(spc)是这一类反馈系

统.它具有四个重要要求:

1. 制程: 将输入(人员、资金、材料、设备、技术方法等)转化为输出(成品或服务)的一

组彼此相关的资源和活动.即制造过程.

2. 有关性能的信息:通过分析制程输出可以获取许多与制程实际性能有关的信息,制程

特性(压力、温度、时间、速度、行程等)是我们关心的重点.

3. 对制程采取措施:通常,对重要的特性采取措施从而避免它们偏离目标太远是很不经

济的.这样能保持制程的稳定性并保持制程输出的变差在可接受界限之内. 采取措施包括改

变操作,或者改变制程本身基本主要因素.

4.

对输出采取措施:对不合品返工或报废,并分析制程根本原因,对制程采取矫正预防措施.

七.spc能解决的制程问题篇二:spc推行计划

spc推行计划

第一部分:spc知识系统的培训; 1、制定详细的培训计划;

2、确认培训效果;

采用多种评估方式对培训后的效果进行评估,并及时改善。

第二部分:基本资料规划

对所获取的资料信息包括两大类:

a. 检验项目的位置条件:诸如批号,工序号,检验数量,检验员等等信息;

b. 各种检

验项目,如不良率,缺陷数等; 1、产品类别

产品是否按照工序产品,还是成品分类,诸如布卷类,经过裁剪之后的成品系列,对每

个产品类别赋予一个符号。如

2、产品资料

按目前公司产品定义的编号使用

6、抽样计划

计数部分:所有满足4个小时以上的批量,按每小时按gb2828-87抽一次,不足4小时也

gb2828-87抽一次。

计量部分:按侮2小时抽5个样品。

7、层别条件

对质量人员,供应商,生产工序,生产线、生产批次等进行层别; 8、检验表设计

对每个工序的检验点进行设计,如pvc拉丝机,我们检验的是直径,和偏心度

第三部分:spc运作流程规划

2、spc运作流程细化

运作流程示意图

3、spc日常报表的处理

4、spc软件的使用与维护篇三:spc作业办法

spc作业办法

好好学习社区

spc作业办法

1、目的

通过在制程中有效的推行spc,对重要管制项目用统计方法解析,达到引导制程改善,预

先管制之目的, 以提升产品质量竞争力。

2、适用范围

本公司产品制程(含最终检验与测试)之数据统计与分析均属之。

3、制程统计图表运用 3.1 参数定义

3.1.1 spc : statistical process control 统计制程管制

3.1.2 ca: capability of accuracy 制程准确度)/(t/2)]% 3.1.3 cp:

capability of precision 制程精密度 cp=t/6*δ

3.1.4 cpk:制程能力指数 cpk=cp(1-|ca|)=[(usl-lsl)-2*abs(sl-cl)]/(6*δ)

3.1.5 t: tolerance

-规格下限

3.1.6 δ: 标准偏差δσ(x-xi)2/(n-1),(其中xbar-r chart δ=r/d2 r为样本全距r

之平均值,d2为一系数,依样本大小而定(见 spc之x(bar)-r管制图实施细则附表page:2)

3.1.9 cl: center line 管制中心值

3.1.10 lcl: lower control limit 管制下限 3.1.11 usl: upper spec.

limit 规格上限 3.1.12 sl或μ: spec. limit 规格中心值

3.1.13 lsl: lower spec. limit 规格下限

4.1.14 a,b,c区定义: 距中心线距离为1δ,2δ,3δ的区域分别为c,b,a区 3.2 作业

方法°管制图

管制图具体作业方法按spc之x(bar)-r管制图实施细则(cgoo-0022)之要求作业.

3.2.2 x-mr管制图 a. x-mr管制图之定义

针对测量所得值与移动式全距进行管制 b. x-mr之制作

b.1 收集数据

针对测量结果至少收集32组(k)以上之数据,每个抽样为一个读值 b.2 管制界限之计

移动全距管制上限 uclmr=d4*m为移动全距平均值) 移动全距管制

下限 lclmr=d3*m测量值管制上限 uclx2*m为测量值平均值)

测量值管制下限 lclx2*mb.3 x-mr系数表

3.2.3 p 管制图

a. p-chart之定义

针对测量所得之不良率(%defectives)进行管制 b. p-chart之制作 b.1 收集数据

针对测试结果至少收集25组以上之数据 b.2 管制界限之计算

b.2.2.1 当样本数固定时,采用如下公式: p= # of defectives/样品总数为样本平均值) b.2.2.2 当样本数非固定或样本数不在 n(1±25%)范围内变化时,采用如下公式: 样品

总数为样本值)

3.2.4 np 管制图

a. np -chart之定义

针对所测量得之 # of defectives进行管制,每次之样品数应固定. b. np-chart之制作

b.1 收集数据

针对测试结果至少收集25组(k)以上之数据,每次之样品数应固定. (npk为第k个样本

中的不良数)

为subgroups之样本数) 3.2.5 c 管制图 a. c 管制图之定义

针对检验结果之缺点数( # of defects)进行管制. b. c-chart之制作 b.1 收集数据

针对检验结果至少收集25组(k)以上之数据,每次之样品数应固定. b.2 c管制图的计算

cl=c=(c1+c2+c3+c4+…+ck)/ k 3.2.6 u 管制图

a. u-chart之定义

b. u-chart之制作 b.1 收集数据

针对检验结果至少收集25组(k)以上之数据. b.2 管制界限之制作

cl=u=(c1+c2+c3+c4+…+ck)/(n1+n2+n3+n4+…+nk) 其中a项为当样本数固定时应用且n

为样本平均值,b项为样本数不固定或样本数不在 n (1±25%)范围内变化时应用,且n为样本

值。

3.3 管制项目的规定:

3.3.1 不同的料号的产品在spc管控的内容,使用的管制图的类型,抽样频率,规格

值,cpk的目标皆不一样,针对不同料号根据客户要求/制程能力等实际情况制定<<spc

管制要项一览表>> (附表七),经事业处主管或品保最高主管核定后,分发到相关单位

依规定管制各项目进行管控。 3.4 管制图异常判定: 管制图异常判定依cgoo-0022spc之x(bar)-r管制图实施细则之4.4.3 异常判定说明判

定. 3.5 管制界限的修正: 3.5.1. 作解析管制图时,无管制界线或依标准规格值为制程管制界限,收集25组以上

数据算出实际界限,以用作分析本期限内制程状况并改善---解析用管制图。

3.5.2. 次周或次月窗体均采用上周或上月窗体之计算管制界限为目标值,并参考质量

目标达成状况,及制程改善状况进行制程管制.

3.5.3. 品管与工程单位应定期针对制程规格与参数提出检讨,以改良制程能力. 3.6.

计算周期

3.6.1 锡膏厚度cpk每周计算一次,回焊炉cpk、波峰焊cpk每月计算一次.

4.制程异常处理

qc pe 责任单位

篇四:spc培训计划

spc培训计划

1.培训目的

根据各种人员的职能和责任不同分别对管理层、技术人员、生产管理人员、操作人员进

行分

阶段有步骤的培训。通过培训,使管理层充分认识到实施spc的作用和意义,知悉spc

的质量

理念,从制度上对实施spc给予支持。使技术人员能够熟练使用spc质量工具、指导班

组长,

具备解决实施spc现场问题的能力,贯彻执行工厂spc体系并提出持续改进意见。使生

产管理

人员能够按spc体系要求和质量理念指导生产,全面执行spc的各项要求。使操作人员

能够按

照程序文件及spc体系要求进行生产,为生产管理人员和技术人员及时提供现场信息以

便分析、

改进。

2.培训范围、内容、方式

2.1对管理层的培训。

管理层的培训范围包括总经理、常务副总经理、副总经理、总工程师。培训内容主要有spc 的定义、术语及原理,实施spc的意义,spc体系文件。管理层的培训主要按内部授课、

小组

讨论、个人自学的方式灵活安排。学时每年不少于8小时。

2.2对技术人员的培训。

技术人员的培训范围包括技术部设计人员、工艺师、项目工程师,质量部工程师、技术员、检验员,分厂技术员、质量管理员。培训内容主要有spc定义、术语及原理,解决问题

的方法

(因果图、直方图、帕雷多分析、检测图表、散布图、波动的概念,基础统计学),控制

基本知

识(控制概念、控制图),能力分析(控制能力的关系,能力指数,测试设备分析),实

验设计。

技术人员作为我厂实施spc的主要骨干,因此对技术人员的知识结构要求较高,对技术

人员的

培训主要以外聘专家、内部培训、小组讨论、个人自学相结合的形式进行以确保培训效果。学时

每年不少于56小时。

2.3对生产管理人员的培训。

生产管理人员的培训范围包括各部门部长及副部长、各分厂厂长及副厂长、各分厂生产调度

人员。培训内容主要有spc定义、术语及原理,实施spc的意义,spc体系文件。生产管理人

员的培训主要以内部培训、小组讨论的形式进行。学时每年不少于16小时。

2.4对操作人员的培训。

操作人员的培训范围包括各工序班组长、各工序操作工人。培训内容主要有spc定义、术

语及原理,spc体系文件。操作人员的培训主要以厂内培训和班组培训的形式进行。学时每年不

少于16小时。

2.5专题培训。

针对实施spc过程中遇到的问题,组织相关技术人员、班组长、操作人员进行针对性培训,对一些经常出现的问题定期讨论、分析。培训主要以内部培训和小组讨论的方式进行。学时每年○不少于8小时。

统计过程控制作业指导书(修改版)

统计过程控制作业指导书 1 目的 应用适当的统计技术,对定量信息进行分析处理,以控制过程特性,确保产品质量特性达到规定的要求。 2 适用范围 适用于质量策划、过程特性、产品特殊特性及持续改进的数据统计和分析。 3 参考文件 《统计过程控制(SPC)参考手册》 4 名词和定义 4.1 统计过程控制:是一种制造控制方法,是将制造中的控制项目,依其特性所收集的数据,通过过程能力的分析与过程标准化,发掘过程中的异常,并立即采取改善措施,使过程恢复正常的方法。 4.2 控制图:是对过程质量特性值进行测定、记录、评估,从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图。 4.3 过程变差:由于普通和特殊两种原因造成的变差,本变差可用样本标准差S 来估计。 4.4 过程固有变差:仅由于普通原因产生的那部分过程变差。该变差可以从控制图上通过R/d2 来估计。 4.5 过程能力:仅适用于统计稳定的过程,是过程固有变差的6σ范围,式中σ通常由R/d2(σR/d2)计算而得。 4.6 Cp:能力指数 4.7 Pp:性能指数 4.8 Cpu:上限能力指数 4.9 Cpl:下限能力指数 4.10 Cpk:这是考虑到过程中心的能力指数,定义为Cpu和Cpl的最小 值。 4.11 Ppk:这是考虑到过程中心的性能指数。 4.12 Ca:偏移度 4.13 UCL:(Upper Control limit)上控制限 LCL:(Lower Control limit)下控制限

5 权责 5.1 制定责任 5.2 实施责任 5.2.1 质量管理处负责指导、监督各部门统计技术应用的有效性。 5.2.2 技术部 5.2.2.1 负责研究初始过程能力并提出改进措施。 5.2.2.2 负责针对质量月报中提到的过程能力达不到要求的进行分析,提出改进措施。 5.2.2.3 负责对现场过程控制中过程特性和产品特性变差较大的利用控制图进行分析,并提出改进措施。 5.3品保部质检处 5.3.1 负责制定和修正控制用控制图的上、下控制限。 5.3.2 负责收集生产各处室完成的控制用控制图,并对实际的过程能力进行计算,将过程能力指数计算结果报到质量月报中。 5.4 生产各处室负责按照控制计划的要求对需用控制图进行控制的项目,在控制用控制图上进行过程监控。 5.5 由CFT小组每天对控制图进行监控,对工艺技术人员不能解决的异常问题及时分析对策。 6 内容及要求 6.1确定需求 6.1.1统计过程控制用于研究工序能力、监控工艺状况、评估测量系统。 6.1.2技术部在产品质量先期策划时要确定每一过程适用的统计技术,并纳入控制计划。 6.1.3技术部在新产品差异性分析以后,对差异方面的产品特性进行初始过程能力的研究。 6.2 统计过程控制的应用时机 6.2.1初始过程性能Ppk研究 6.2.1.1APQP小组按照《产品质量先期策划程序》规定,在新产品开发试生产阶段进行初始过程能力研究。初始过程能力研究计划见附件1。

统计过程控制SPC程序

统计过程控制(SPC)程序 1 目的 为了解和改善过程,通过对过程能力的分析、评估使其有量化资料,为设计、制造过程的改进,选择材料,操作人员及作业方法,提供依据和参考。 2 范围 本程序适用于*****有限公司做统计过程控制(P P K、C P K、CmK 、PPM)的所有产品。 3 术语和定义 SPC:指统计过程控制。 CpK:稳定过程的能力指数。它是一项有关过程的指数,计算时需同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度。 PpK:初期过程的能力指数。它是一项类似于C P K的指数,但计算时是以新产品的初期过程性能研究所得的数据为基础。 C a:过程准确度。指从生产过程中所获得的资料,其实际平均值与规格中心值之间偏差的程度。 C p:过程精密度。指从生产过程中全数抽样或随机抽样(一般样本在50个以上)所计算出来的样本标准差(σ×),以推定实际群体的标准差(σ)用3个标准差(3σ)与规格容许差比较。 PPM:质量水准,即每百万个零件不合格数。指一种根据实际的缺陷材料来反映过程

能力的一种方法。PPM数据常用来优先制定纠正措施。 Cmk:设备能力指数:是反映机械设备在受控条件下,当其人/料/法不变时的生产能力大小。 4 职责 质量部负责统计过程控制的监督、管理工作。 5 PPM、Cp、Cpk、Pp、Ppk过程能力计算及评价方法 1.质量水准PPM的过程能力计算及评值方法: 当产品和/或过程特性的数据为计数值时,制造过程能力的计算及等级评价方法如下:(1)计算公式: 不良品数 PPM = ×1000000 检验总数 (2)等级评价及处理方法:

2.稳定过程的能力指数Cp、Cpk计算及评价方法: (1)计算公式: A)Ca = (x-U)/ (T / 2)×100% 注:U = 规格中心值 T = 公差= SU - SL = 规格上限值–规格下限值 σ= 产品和/或过程特性之数据分配的群体标准差的估计值 x = 产品和/或过程特性之数据分配的平均值 B)Cp = T / 6σ(当产品和/或过程特性为双边规格时)或 CPU(上稳定过程的能力指数)= (SU-x)/ 3σ(当产品和/或过程特性为单 边规格时) CPL(下稳定过程的能力指数)= (x-SL)/ 3σ(当产品和/或过程特性为单边规格时)Z1 = 3Cp(1+Ca)……根据Z1数值查常(正)态分配表得P1%; Z2 = 3Cp(1-Ca)……根据Z2数值查常(正)态分配表得P2%

PCB术语中英文对照表

Adhesion 附着力 Annular Ring 孔环 AOI(automatic optical inspection)自动光学检测 AQL(acceptable quality level)可接受的质量等级 B²it(buried bump interconnection technology) 埋入凸块焊点互连技术 BBH(buried blind hole) 埋盲孔 BGA(ball grid array) 球栅阵列 Blister 起泡 Board Edges 板边 Burr 毛头/毛刺 BUM(Build-up multilayer) 积层式多层板 BVH(buried/blind via hole)埋/盲导通孔 CAD(computer aided design) 计算机辅助设计

CAM(computer aided manufacturing) 计算机辅助制造 Carbon oil 碳油 CEM(composite epoxy material) 环氧树脂复合板材 chamfer 倒角 Characteristic impedance 特性阻抗 CNC(computerized numerical control)计算机化数字控制Conductor Crack 导体破裂 Conductor Spacing 导线间距 connector 连接器 Copper foil 铜箔(皮) Crazing 微裂纹(白斑) Delamination 分层 Dewetting 半润湿(缩锡) DFM(design for manufacturing)可制造性设计

SPC和MSA考试试题答案.doc

SPC和 MSA 培试考试试题 部门:姓名:成绩 一、判断题(每题 1 分,共10 分) 1、在任何工作过程中都有可能应用统计技术。(√) 2、全数检验可以清除批中的全部不合格产品。() 3、稳定性是偏移随时间的变化,也就是漂移;(√) 4、测量系统分析的样品必须是选自于过程并且代表整个的生产的范围;() 5、 ANOVA 分析中的方差被分解成零件、评价人、量具,以及评价人与量具的交互作用所造成的重复误差 四部份;() 6、测量系统分析要求必须要用到图解法;() 7、研究重复性再现性时每人必须至少测量三次。 8、做测量系统分析的零件应产生于稳定的生产过程。 9、必须对每个生产过程进行SPC的控制。(√ 10、测量系统分析就是对检具自身的分析。(( ) (√ ) ) ) 二、选择题 (20 X 2 分,共 40 分 ) 1、重复性是由(A)个以上评价人,采用同一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。 A 、 1 B 、 2 C、 3 D、 4 2、位置误差通常是通过分析( A )和线形来确定。 A、偏倚 B、精密度 C、重复性 D、再现性 3、以下哪种分析方法不是用于基本计量型的测量系统。(C) A极差法B均值和极差法C假设检验分析 D ANOVA 4、测量仪器分辨力的第一准则应该至少是:(B) A 公差的 1/5 B公差的1/10C过程变差的1/5 D过程变差的1/10 5、(A)是指重复性随时间的变化程度; A 、稳定性B、一致性C、均一性D、线性 6、测量系统的稳定性分析不能通过( D )控制图来实现的。 A、平均值极差 B、 P C、单值移动极差图 D、 U 7、 a 随机误差就是由于普通原因造成的误差; b 系统误差是由于特殊原因造成的误差; a 和b 中D。 A、只有 a 正确 B、只有 b 正确 C、 a\ b 均正确 D、 a\b 均不正确 8、测量系统的重复性和再现性相对于公差的百分比可以接受的标准是A。 A、必须小于10%; B、必须小于5%; C、可以大于30%; D、必须小于30% 9、()是指重复性随测量的预期量程的变化程度;( C )

SPC案例分析(1)

统计过程控制(SPC )案例分析 一. 用途 1. 分析判断生产过程的稳定性,生产过程处于统计控制状态。 2.及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异,预防不合格品 产生。 3.查明生产设备和工艺装备的实际精度,以便作出正确的技术 决定。 4.为评定产品质量提供依据。 二、控制图的设计原理 1. 正态性假设:绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分 布。 2. 3σ准则:99。73%。 3. 小概率事件原理:小概率事件一般是不会发生的。 4. 反证法思想。 四. 控制图的种类 1. 按产品质量的特性分(1)计量值(S X R X R X R X S ----,,~ ,) (2)计数值(p ,pn ,u ,c 图)。 2. 按控制图的用途分:(1)分析用控制图;(2)控制用控制 图。 五. 控制图的判断规则 1. 分析用控制图: 规则1 判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线内(3种情况);

规则2 判异准则-----排列无下述现象(8种情况)。 2.控制用控制图: 规则1 每一个点子均落在控制界限内。 规则2 控制界限内点子的排列无异常现象。 [案例2]为控制某无线电元件的不合格率而设计p图,生产过程质量

要求为平均不合格率≤2%。 解:一.收集收据 在5M1E 充分固定并标准化的情况下,从生产过程中收集数据,见下表所表示: 某无线电元件不合格品率数据表 二.计算样本中不合格品率:k i n k p i i i ,.....,2,1,==,列在上表. 三.求过程平均不合格品率:

%14017775/248=== ∑∑i i n k p 四.计算控制线 p 图:i i n p p p UCL n p p p UCL p CL /)1(3/)1(3% 140--=-+=== 从上式可以看出,当诸样本大小i n 不相等时,UCL,LCL 随i n 的变化而变化,其图形为阶梯式的折线而非直线.为了方便,若有关系式: 2 /2min max n n n n ≥≤ 同时满足,也即i n 相差不大时,可以令n n i =,,使得上下限仍为常数,其图形仍为直线. 本例中,711=n , 诸样本大小i n 满足上面条件,故有控制线为: p 图:% 08.0/)1(3/)1(3%72.2/)1(3/)1(3% 140=--=--==-+=-+===n p p p n p p p UCL n p p p n p p p UCL p CL i i 五.制作控制图: 以样本序号为横坐标,样本不合格品率为纵坐标,做p 图. 六.描点:依据每个样本中的不合格品率在图上描点. 七.分析生产过程是否处于统计控制状态

统计过程控制SPC案例分析

统计过程控制S P C案例 分析 Document number:PBGCG-0857-BTDO-0089-PTT1998

统计过程控制(SPC)案例分析一.用途 1. 分析判断生产过程的稳定性,生产过程处于统计控制状态。2.及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异,预防不合格品产生。 3.查明生产设备和工艺装备的实际精度,以便作出正确的技术决定。 4.为评定产品质量提供依据。 二.控制图的基本格式 1.标题部分 X-R控制图数据表 2

质 量 特 性 在方格纸上作出控制图: 横坐标为样本序号,纵坐标为产品质量特性。图上有三条平行线:实线CL:中心线 虚线UCL:上控制界限线 LCL:下控制界限线。 三.控制图的设计原理

1. 正态性假设:绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分 布。 2. 3σ准则:99。73%。 3. 小概率事件原理:小概率事件一般是不会发生的。 4. 反证法思想。 四. 控制图的种类 1. 按产品质量的特性分(1)计量值 (S X R X R X R X S ----,,~ ,) (2)计数值(p ,pn ,u ,c 图)。 2. 按控制图的用途分:(1)分析用控制图;(2)控制用控 制图。 五. 控制图的判断规则 1. 分析用控制图: 规则1 判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线内(3种情况); 规则2 判异准则-----排列无下述现象(8种情况)。 2. 控制用控制图: 规则1 每一个点子均落在控制界限内。 规则2 控制界限内点子的排列无异常现象。 [案例1] p 控制图

某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表(2)(3)栏所表示,根据以往记录知,稳态下的平均不合格品率0389 p,作控制图对其进行控制. .0 数据与p图计算表 [解] 步骤一 :预备数据的取得,如上边表所示.

SPC计算公式一览表

SPC计算公式一览表 SPC运算公式一览表 项目名称:SPC运算公式一览表 项目编号:SPC-002 文档编号: 版本号: 1.0 编制单位:研发部 文档操纵

SPC运算公式-?览表 (1) 文档操纵 (1) 一、计疑型 (4) Mean均值 (4) Max最大值 (4) Min最小值 (4) Range极差最大跨距 (4) MR移动极差 (4) StdDev标准差 (4) Sigma (5) LCL上操纵限、中心限、下操纵限(计量型) (5) Cp过程能力指数 (6) Cmk机器能力指数 (6) Cr过程能力比值 (6) Cpl下限过程能力指数 (6) Cpu上限过程能力指数 (6) Cpk修匸的过程能力指数 (7) k:偏移系数 (7) Pp过程性能指数 (7) Pr过程性能比值 (7) Ppu上限过程性能指数 (7) Ppi下限过程性能指数 (7) Ppk修正的过程性能指数 (7) Cpm目标能力指数 (7) Ppm目标过程性能指数 (8) Zu (Cap) 规俗上限Sigma 水 (8) Z1 (Cap)规格卜?限Sigma 水¥ (8) Zu(Perf) (8) Z1 (Perf) (8) Fpu(Cap)超出操纵上限机率 (8) Fpl(Cap)超出操纵下限机率 (8) Fp (Cap)超出操纵界线的机率 (8) Fpu(Perf) (8) Fpl (Perf) (9) Fp (Perf) (9) Skewness偏度,对称度 (9) Kurtosis 峰度 (9) 二、............ 汁数型 .......................................................... 9 Mean均值 (9) Max (10) Min (10) Range 极差 (10) StdDev标准差 (10) UCL、CL、LCL上操纵限、中心限、卜?操纵限(汁件型、汁点型) (11) 三、.................................................................................................................................................. D PMO 11 四、相关分析 (11) 五、正态分布函数Normsdist(z) (12)

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