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光电信号检测实验1

光电信号检测实验1
光电信号检测实验1

实验报告

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实验序号: 实验日期:

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实验成绩: 总 成 绩:

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实验一 光敏电阻特性实验

实验原理:

利用具有光电导效应的半导体材料制成的光敏传感器叫光敏电阻,又称为光导管。是一种均质的半导体光电器件,其结构如图1-1所示。光敏电

阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。

光敏电阻应用得极为广泛,可见光波段和大气透过的几个窗口都有适用的光敏电阻。利用光敏电阻制成的光控开关在日常生活中随处可见。当内光电效应发生时,光敏电阻电导率的改变量为:

p n p e n e σμμ?=???+???

在上式中,e 为电荷电量,p ?为空穴浓度的改变量,n ?为电子浓度的改变量,μ表示迁移率。当两端加上电压U 后,光电流为:ph A

I U d

σ=

??? 式中A 为与电流垂直的表面,d 为电极间的间距。在一定的光照度下,σ?为恒定的值,因而光电流和电压成线性关系。

光敏电阻的伏安特性如图1-2所示,不同的光照度可以得到不同的伏安特性,表明电阻值随光照度发生变化。光照度不变的情况下,电压越高,光电流也越大,光敏电阻的工作电压和电流都不能超过规定的最高额定值。

图1-2光敏电阻的伏安特性曲线 图1-3 光敏电阻的光照特性曲线

光敏电阻的光照特性则如图 1-3 所示。不同的光敏电阻的光照特性是不同的,但是在大多数的情况下,曲线的形状都与图1-3 类似。由于光敏电阻的光照特性是非线性的,

因此不适宜作测量型的线性敏感元件,在自动控制中光敏电阻常用作开关量的光电传感器。

图1-4 几种光敏电阻的光谱特性图1-5 光敏电阻的测量电路实验所需部件:

稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、各种光源、遮光罩、激光器

实验步骤:

1.测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻

观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩盖,用万用表欧姆档测得的电阻值为暗电阻R暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的阻值为亮电阻R亮,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光电阻越大,则灵敏度越高。

在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻,试作性能比较分析。

暗电阻亮电阻光电阻

光敏电阻一16.4M 1.1K 16.3989M

光敏电阻二 6.0M 25K 5.975M

2.光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流

按照图1-5接线,分别在暗光及有光源照射下测出输出电压暗和U亮,电流L暗=U暗/R,亮电流L亮=U亮/R,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。

光敏电阻一:

R U R电流

有光源照射1 88.3KΩ 1.94V 21.97μA

2 45.2KΩ 1.89V 41.8μA

3 29.5KΩ 1.83V 62.03μA

暗光照射 1 88.3KΩ 2.3mV 0.026μA

2 45.2KΩ 1.8mV 0.040μA

3 29.5KΩ 1.5mV 0.051μA R=88.3KΩ时:光电流为21.97μA

R=45.2KΩ时:光电流为41.8μA

R=29.5KΩ时:光电流为61.98μA

光敏电阻二:

R U R电流

有光源照射76.2KΩ 1.5V 19.69μA

暗光照射76.2 KΩ 2.1mV 0.0276μA

光电流为19.66μA。

3. 光敏电阻的伏安特性测试

按照图1-5接线,电源可从直流稳压电源+2~+12V间选用,每次在一定的光照条件下,测出当加在光敏电阻上电压为+2V;+4V;+6V;+8V;+10V时电阻R两端的电压U R,

和电流数据,同时算出此时光敏电阻的阻值,并填入以下表格,根据实验数据画出

光敏电阻的伏安特性曲线。

光敏电阻一:

光敏电阻伏安特性测试数据表(暗光)

电源电压(伏) 2 4 6 8 10 U(伏) 1.997 3.97 5.97 7.97 9.96 电阻(欧姆)22.11 K

电流(微安)0 0 0 0 0 光敏电阻伏安特性测试数据表(正常环境光照2lx)

电源电压(伏) 2 4 6 8 10 U(伏)0.52 0.73 1.08 1.51 1.57 电阻(欧姆)100 K159 K

电流(微安)13 19 28 38 48 光敏电阻伏安特性测试数据表(白炽灯照射1392lx)

电源电压(伏) 2 4 6 8 10 U(伏)0.154 0.08 0.0561 0.0758 0.0949 电阻(欧姆)21.5 K90 K195.6 K

电流(微安)84 44 28 39 50

光敏电阻二:(只做了正常光照下的一组)

光敏电阻伏安特性测试数据表(正常环境光照2lx)

电源电压(伏) 2 4 6 8 10 U(伏)0.79 1.56 2.39 3.32 4.15 电阻(欧姆)64.2K

电流(微安)16 36 55 73 92 4. 光敏电阻的光照特性测试

按照图1-5接好实验线路,负载电阻R 选定1K ,光源用白炽灯,(实验者可仔细调节光源控制旋钮,得到不同的光源亮度),每确定一种亮度后改变测试电路工作电压从0V-12V 。

从电源电压U CC =2V 开始到U CC =10V ,每次在一定的外加电压下测出光敏电阻在相对光照度从“弱光”到逐步增强(通过白炽灯亮度调节)的电流数据,即: 1.00R

ph U I K =Ω

同时求出此时光敏电阻的阻值,即:cc R

g Ph

U U R I -=

。这里要求尽量多的测点(不少于4个)不同照度下的电流数据,尤其要在弱光位置选择较多的数据点,以使所得到的数据点能够绘出较为完整的光照特性曲线。(只测了光敏电阻一) 光敏电阻光照特性测试数据表(电源电压:2V ) 照度 很弱(2lx) 较弱(8lx) 中等(98lx ) 较强(401lx ) 很强(1319lx) U R (伏) 0.0673 0.257 0.866 1.26 1.52 光电流(毫安)

0.0673

0.257

0.866

1.26

1.52

光敏电阻光照特性测试数据表(电源电压:4V ) 照度 很弱(2lx) 较弱(8lx) 中等(98lx ) 较强(401lx ) 很强(1319lx) U R (伏) 0.198 0.526 1.74 2.53 3.05 光电流(毫安)

0.198 0.526 1.74 2.53 3.05 光敏电阻光照特性测试数据表(电源电压:6V ) 照度 很弱(2lx) 较弱(8lx) 中等(98lx ) 较强(401lx ) 很强(1319lx) U R (伏) 0.294 0.810 2.61 3.81 4.09 光电流(毫安)

0.294 0.810 2.61 3.81 4.09 光敏电阻光照特性测试数据表(电源电压:8V ) 照度 很弱(2lx) 较弱(8lx) 中等(98lx ) 较强(401lx ) 很强(1319lx) U R (伏) 0.400 1.10 3.49 5.10 6.12 光电流(毫安)

0.400 1.10 3.49 5.10 6.12 光敏电阻光照特性测试数据表(电源电压:10V ) 照度 很弱(2lx) 较弱(8lx) 中等(98lx ) 较强(401lx ) 很强(1319lx) U R (伏) 0.500 1.41 4.39 6.38 7.66 光电流(毫安)

0.500 1.41 4.39 6.38

7.66

根据以上实验数据画出光敏电阻的一组光照特性曲线。

5. 光敏电阻的光谱特性:

用不同的半导体材料制成的光敏电阻有着不同的光谱特性,见图1-4。当不同波长的入射光照到光敏电阻的光敏面上,光敏电阻就有不同的灵敏度。

用高亮度LED(红、黄、绿、蓝)作为光源,发光管与光敏电阻顶端可用附件中的黑色软管连接。分别测出光敏电阻在各种光源照射下的光电流,再用固体激光器、日光(白光)作为光源,测得光电流,将测得的数据记入下表,据此做出两种光电阻大致的光谱特性曲线:

光源激光红黄绿蓝白光电流( )

6.光敏电阻的温度特性:

光敏电阻与其他半导体器件一样,性能受温度影响较大。随着温度的升高电阻值增大,灵敏度下降。请按图1-5测试电路,分别测出常温下和加温(可白炽灯光照加热3~5分钟)后的伏安特性曲线。

常温下光敏电阻伏安特性测试数据表(正常环境光照2lx)

电源电压(伏) 2 4 6 8 10 U(伏)0.52 0.73 1.08 1.51 1.57

电阻(欧姆)100 K159 K

电流(微安)13 19 28 38 48 加热下光敏电阻伏安特性测试数据表(正常环境光照2lx)

电源电压(伏) 2 4 6 8 10 U(伏)0.899 1.6 2.8 3.25 4.7

电阻(欧姆)100 K159 K

电流(微安)12 28 38 60 74

注意事项:

实验时请注意不要超过光电阻的最大耗散功率P MAX, P MAX=LU

光源照射时灯胆及灯杯温度均很高,请勿用手触摸,以免烫伤。

实验时各种不同波长光源选用的高亮度LED在不发光时均为透明材料封装,查看颜色及亮度均可从其顶端透镜前观察。用做光源时也应将透镜发光点对准光敏器件。

硅光电池特性测试实验报告

硅光电池特性测试实验报告 系别:电子信息工程系 班级:光电08305班 组长:祝李 组员:贺义贵、何江武、占志武 实验时间:2010年4月2日 指导老师:王凌波 2010.4.6

目录 一、实验目的 二、实验内容 三、实验仪器 四、实验原理 五、注意事项 六、实验步骤 七、实验数据及分析 八、总结

一、实验目的 1、学习掌握硅光电池的工作原理 2、学习掌握硅光电池的基本特性 3、掌握硅光电池基本特性测试方法 4、了解硅光电池的基本应用 二、实验内容 1、硅光电池短路电路测试实验 2、硅光电池开路电压测试实验 3、硅光电池光电特性测试实验 4、硅光电池伏安特性测试实验 5、硅光电池负载特性测试实验 6、硅光电池时间响应测试实验 7、硅光电池光谱特性测试实验 设计实验1:硅光电池光控开关电路设计实验 设计实验2:简易光照度计设计实验 三、实验仪器 1、硅光电池综合实验仪 1个 2、光通路组件 1只 3、光照度计 1台 4、2#迭插头对(红色,50cm) 10根 5、2#迭插头对(黑色,50cm) 10根 6、三相电源线 1根 7、实验指导书 1本 8、20M 示波器 1台 四、实验原理 1、硅光电池的基本结构 目前半导体光电探测器在数码摄像﹑光通信﹑太阳电池等领域得到广泛应用,硅光电池是半导体光电探测器的一个基本单元,深刻理解硅光电池的工作原理和具体使用特性可以进一步领会半导体PN结原理﹑光电效应理论和光伏电池产生机理。 零偏反偏正偏 图 2-1. 半导体PN结在零偏﹑反偏﹑正偏下的耗尽区 图2-1是半导体PN结在零偏﹑反偏﹑正偏下的耗尽区,当P型和N型半导体材料结合

光电探测技术发展概况

光电探测技术发展概况 学号:20121226465姓名:熊玉宝 摘要:本文扼要论述光电探测技术重要性,并简要地介绍了光电探测技术的几种主要方法及发展趋势。 关键词:光电;探测;技术 光电探测技术是根据被探测对象辐射或反射的光波的特征来探测和识别对象的一种技术,这种技术本身就赋予光电技术在军事应用中的四大优点,即看得更清、打得更准、反应更快和生存能力更强。 光电探测技术是现代战争中广泛使用的核心技术,它包括光电侦察、夜视、导航、制导、寻的、搜索、跟踪和识别多种功能。光电探测包括从紫外光(0.2~0.4μm)、可见光(0.4~0.7μm)、红外光(1~3μm,3~5μm,8~12μm)等多种波段的光信号的探测。 新一代光电探测技术及其智能化,将使相关武器获得更长的作用距离,更强的单目标/多目标探测和识别能力,从而实现更准确的打击和快速反应,在极小伤亡的情况下取得战争的主动权。同时使武器装备具有很强的自主决策能力,增强了对抗,反对抗和自身的生存能力。实际上,先进的光电探测技术已成为一个国家的军事实力的重要标志。 现代高技术战争的显著特点首先是信息战,而信息战中首要的任务是如何获取信息。谁获取更多信息,谁最早获取信息,谁就掌握信息战的主动权。光电探测正是获取信息的重要手段。微波雷达和光电子成像设备常常一起使用,互相取长补短,相辅相成,可以获取更多信息,可以更早获取信息。前者作用距离远,能全天候工作;后者分辨率高,识别能力和抗干扰能力强。无论侦察卫星、预警卫星、预警飞机还是无人侦察机往往同时装备合成孔径雷达和CCD相机、红外热像仪或多光谱相机。为改进对弹道导弹的预警能力,美国正在研制的天基红外系统(SBIRS)拟用双传感器方案,即一台宽视场扫描短波红外捕获传感器和一台窄视场凝视多色(中波/长波红外、长波红外/可见光)跟踪传感器,能捕获和跟踪弹道导弹从发射到再入大气的全过程。美国已经装备并正在不断改进的CR-135S眼镜蛇球预警机,采用可见光和中波红外像机,能精确测定420km外的导弹发射,确定发动机熄火点,计算出它的弹道和碰撞点。最近在上面加了一台远程激光测距机,其作用距离可达400km。美国海军也在为战区弹道导弹防御

APD光电二极管特性测试实验

APD光电二极管特性测试实验 一、实验目的 1、学习掌握APD光电二极管的工作原理 2、学习掌握APD光电二极管的基本特性 3、掌握APD光电二极管特性测试方法 4、了解APD光电二极管的基本应用 二、实验内容 1、APD光电二极管暗电流测试实验 2、APD光电二极管光电流测试实验 3、APD光电二极管伏安特性测试实验 4、APD光电二极管雪崩电压测试实验 5、APD光电二极管光电特性测试实验 6、APD光电二极管时间响应特性测试实验 7、APD光电二极管光谱特性测试实验 三、实验仪器 1、光电探测综合实验仪 1个 2、光通路组件 1套 3、光照度计 1台 4、光敏电阻及封装组件 1套 5、2#迭插头对(红色,50cm) 10根 6、2#迭插头对(黑色,50cm) 10根 7、三相电源线 1根 8、实验指导书 1本 9、示波器 1台

四、实验原理 雪崩光电二极管APD—Avalanche Photodiode是具有内部增益的光检测器,它可以用来检测微弱光信号并获得较大的输出光电流。 雪崩光电二极管能够获得内部增益是基于碰撞电离效应。当PN结上加高的反偏压时,耗尽层的电场很强,光生载流子经过时就会被电场加速,当电场强度足够高(约3x105V/cm)时,光生载流子获得很大的动能,它们在高速运动中与半导体晶格碰撞,使晶体中的原子电离,从而激发出新的电子一空穴对,这种现象称为碰撞电离。碰撞电离产生的电子一空穴对在强电场作用下同样又被加速,重复前一过程,这样多次碰撞电离的结果使载流子迅速增加,电流也迅速增大,这个物理过程称为雪崩倍增效应。 图6-1为APD的一种结构。外侧与电极接触的P区和N区都进行了重掺杂,分别以P+和N+表示;在I区和N+区中间是宽度较窄的另一层P区。APD工作在大的反偏压下,当反偏压加大到某一值后,耗尽层从N+-P结区一直扩展(或称拉通)到P+区,包括了中间的P层区和I 区。图4的结构为拉通型APD的结构。从图中可以看到,电场在I区分布较弱,而在N+-P 区分布较强,碰撞电离区即雪崩区就在N+-P区。尽管I区的电场比N+-P区低得多,但也足够高(可达2x104V/cm),可以保证载流子达到饱和漂移速度。当入射光照射时,由于雪崩区较窄,不能充分吸收光子,相当多的光子进入了I区。I区很宽,可以充分吸收光子,提高光电转换效率。我们把I区吸收光子产生的电子-空穴对称为初级电子-空穴对。在电场的作用下,初级光生电子从I区向雪崩区漂移,并在雪崩区产生雪崩倍增;而所有的初级空穴则直接被P+层吸收。在雪崩区通过碰撞电离产生的电子-空穴对称为二次电子-空穴对。可见,I区仍然作为吸收光信号的区域并产生初级光生电子-空穴对,此外它还具有分离初级电子和空穴的作用,初级电子在N+-P区通过碰撞电离形成更多的电子-空穴对,从而实现对初级光电流的放大作用。

光电探测技术实验报告

光电探测技术实验报告 班级:08050341X 学号:28 姓名:宫鑫

实验一光敏电阻特性实验 实验原理: 光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1)所示。由于半导体在光照的作用下,电导率的变化只限于表面薄层,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。 实验所需部件: 稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、 各种光源、遮光罩、激光器、光照度计(由用户选配) 实验步骤: 1、测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻 观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩 盖,用万用表测得的电阻值为暗电阻 R暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的 阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光 电阻越大,则灵敏度越高。 在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻, 试作性能比较分析。 2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图(3)接线,电源可从+2~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮则暗电流L暗=V暗/R L,亮电流L亮=V亮/R L,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 分别测出两种光敏电阻的亮电流,并做性能比较。 图(2)几种光敏电阻的光谱特性 3、伏安特性: 光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系。 按照图(3)分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V、12V时的光电流,并尝试高照射光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。将所测得的结果填入表格并作出V/I曲线。 注意事项: 实验时请注意不要超过光电阻的最大耗散功率P MAX, P MAX=LV。光源照射时灯胆及灯杯温度均很高,请勿用手触摸,以免烫伤。实验时各种不同波长的光源的获取也可以采用在仪器上的光源灯泡前加装各色滤色片的办法,同时也须考虑到环境光照的影响。

光电技术与光电检测技术概述

光电技术与光电检测技术概述 摘要:光电技术是以激光,红外,微电子等为基础的,由光学、精密机械、电子和计算机技术结合而成的高新技术。光电检测技术是光电技术中最主要最核心的部分,它主要包括光电变换技术、光信息获取与光信息测量技术 以及测量信息的光电处理技术等。如用光电方法实现各种物理量的测量,微光、弱光测量,红外测量,光扫描、光 跟踪测量,激光测量,光纤测量,图象像测量等。它集中发展了光学和电子固有的技术优势,形成了许多崭新功能和良好的技术性能,在国民经济、国防、科学研究等各方面有着广泛的应用和巨大的潜力,成为新技术革命时代和信息社会的重要技术支柱,受到了各方面重视,从而得到了快速发展。 关键词:光电技术光电检测技术 引言 在当前信息化社会中,光电技术已成为获取光学信息或提取他信息的手段。它是人类能更有效地扩展自身能力,使视觉的长波延长到亚毫米波,短波延伸至X射线、γ射线,乃至高能粒子。并且可以在飞秒级记录超快速现象,如核反应、航空器发射等的变化过程。而且光电检测技术是一种非接触测量的高新技术,是光电技术的核心和重要组成部分。通过光电检测器件对载荷有被检测物体信息的光辐射进行检测,并转换为电信号,经检测电路、A/D变换接口输入微型计算机进行运算、处理,最后得出所需检测物的几何量或物理量等参数。因此,光电检测技术是现代检测技术的重要手段和方法,是计量技术的一个重要发展方向。 一、光电技术与光电检测技术的含义 现代科学技术发展的一个显著性特点是纵横交叉,彼此渗透,边缘科学不断露头和进展迅速。由于光学现象可以进行近似线性化使它可以采用有关线性系统的一般原理,因此在电系统中的许多行之有效的理论和分析方法都可以移植到光学中来。随着大规模集成电路的发展,光学也开始向集成化发展。 光电技术是以激光,红外,微电子等为基础的,由光学、精密机械、电子和计算机技术结合而成的高新技术。它集中发展了光学和电子固有的技术优势,形成了许多崭新功能和良好的技术性能,在国民经济、国防、科学研究等各方面有着广泛的应用和巨大的潜力,成为新技术革命时代和信息社会的重要技术支柱,受到了各方面重视,从而得到了快速发展。 光电检测技术是光电技术中最主要最核心的部分,它主要包括光电变换技术、光信息获取与光信息测量技术以及测量信息的光电处理技术等。如用光电方法实现各种物理量的测量,微光、弱光测量,红外测量,光扫描、光跟踪测量,激光测量,光纤测量,图象像测量等。 光电检测技术将光学技术与电子技术相结合实现对各种量的测量,是21世纪的尖端科学,它将对整个科学技术的发展起着巨大的推动作用。同时它本身涵盖了众多的科学技术,它的发展带动了众多科学技术的发展,并在交流与发展的过程中,形成了巨大的光电产业。 二、光电技术与光电检测技术的发展 光电技术与光电检测技术的发展主要是在1960年成功研制红宝石激光器以后,接着又发明了He-Ne激光的气体激光器和GaAs半导体激光器等。激光器的发明为光电技术与光电检测技术的发展给与了革命性的推动,因为它不断给光电检测器提供主动照明的可能,而且有了传送、接收和加工

光电检测实验报告(2)硅光电池

光电检测实验报告 实验名称:硅光电池特性测试实验实验者: 实验班级: 实验时间: 指导老师:宋老师

一:实验目的 1、学习掌握硅光电池的工作原理 2、学习掌握硅光电池的基本特性 3、掌握硅光电池基本特性测试方法 4、了解硅光电池的基本应用 二、实验内容 1、硅光电池短路电路测试实验 2、硅光电池开路电压测试实验 3、硅光电池光电特性测试实验 4、硅光电池负载特性测试实验 5、硅光电池光谱特性测试实验 三、实验仪器 1、硅光电池综合实验仪 1个 2、光通路组件 1只 3、光照度计 1台 4、2#迭插头对(红色,50cm) 10根 5、2#迭插头对(黑色,50cm) 10根 6、三相电源线 1根 7、实验指导书 1本 8、20M 示波器 1台

四、实验步骤 1、硅光电池短路电流特性测试: (1)组装好光通路组件,将照度计显示表头与光通路组件照度计探头输出正负极对应相连(红为正极,黑为负极),将光源调制单元J4与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。 (2)“光照度调节”调到最小,连接好光照度计,直流电源调至最小,打开照度计,此时照度计的读数应为0。 (3)“光源驱动单元”的三掷开关BM2拨到“静态”,将拨位开关S1拨上,S2,S3,S4,S5,S6,S7均拨下。 (4)按图2-11所示的电路连接电路图 (5)记录下此时的电流表读数I即为硅光电池短路电流。 图2-11 硅光电池短路电流特性测试 2、硅光电池开路电压特性测试 (1)组装好光通路组件,将照度计显示表头与光通路组件照度计探头输出正负极对应相连(红为正极,黑为负极),将光源调制单元J4

与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。 (2)“光照度调节”调到最小,连接好光照度计,直流电源调至最小,打开照度计,此时照度计的读数应为0。 (3)“光源驱动单元”的三掷开关BM2拨到“静态”,将拨位开关S1拨上,S2,S3,S4,S5,S6,S7均拨下。 (4)按图2-12所示的电路连接电路图 (5)记录下此时电压表的读数u即为硅光电池开路电压。 图2-12 硅光电池开路电压特性测试 3、硅光电池伏安特性测试 (1)组装好光通路组件,将照度计显示表头与光通路组件照度计探头输出正负极对应相连(红为正极,黑为负极),将光源调制单元J4与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。 (2)“光照度调节”调到最小,连接好光照度计,直流电源调至最小,打开照度计,此时照度计的读数应为0。 (3)“光源驱动单元”的三掷开关BM2拨到“静态”,将拨位开关S1拨上,S2,S3,S4,S5,S6,S7均拨下。 (4)电压表档位调节至2V档,电流表档位调至200uA档,将“光照度调节”旋钮逆时针调节至最小值位置。

光电检测实验报告

光电检测试验报告 专业:应用物理学 姓名:叶长军 学号:10801030125 指导教师:王颖 实验时间:2011.4 重庆理工大学光电信息学院

实验一 光敏电阻特性实验 实验原理: 利用具有光电导效应的半导体材料制成的光敏传感器叫光敏电阻。光敏电阻采用梳 状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。 内光电效应发生时,光敏电阻电导率的改变量为: p n p e n e σμμ?=???+??? ,e 为 电荷电量,p ?为空穴浓度的改变量,n ?为电子浓度的改变量,μ表示迁移率。当两端加上电压U 后,光电流为:ph A I U d σ=??? 式中A 为与电流垂直的表面,d 为电极间的间距。在一定的光照度下,σ?为恒定的值,因而光电流和电压成线性关系。 光敏电阻的伏安特性如图1-2所示,不同的光照度可以得到不同的伏安特性,表明 电阻值随光照度发生变化。光照度不变的情况下,电压越高,光电流也越大,光敏电阻的工作电压和电流都不能超过规定的最高额定值。 图1-2光敏电阻的伏安特性曲线 图1-3 光敏电阻的光照特性曲线 实验仪器: 稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、各种光源、遮光罩、激光器、光照度计(做光照特性测试,由用户自备或选配) 实验步骤: 1. 测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻 观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩盖,用万用表欧姆档测得的电阻值为 暗电阻R 暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的阻值为亮电阻R 亮,暗电阻 与亮电阻之差为光电阻,光电阻越大,则灵敏度越高。 在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻,试作性能比较分析。 2. 光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图1-5接线,分别在暗光及有光源照射下测出输出 电压暗和U 亮,电流L 暗=U 暗/R,亮电流L 亮=U 亮/R ,亮电流 与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 3. 光敏电阻的伏安特性测试 按照上图接线,电源可从直流稳压电源+2~+12V 间选用, 每次在一定的光照条件下,测出当加在光敏电阻上电压 为 +2V ;+4V ;+6V ;+8V ;+10V ;+12V 时电阻R 两端的电压U R ,

光电检测原理与技术

一 填空题20分,每空1分 1波长在__________-的是红外辐射。通常分为_______、_______和远红外三部分 2辐射体的辐射强度在空间方向上的分布满足公式_________________,式中I e 0是面元 dS 沿其法线方向的辐射强度。符合上式规律的辐射体称为__________,也称为朗伯体。 3光辐射普遍形式的波动方程t J t P t E E ??-??-=??+???? μ μμε22220中,方程右边两项分别由________与________引起。 4 KDP 晶体沿z 轴加电场时,由________变成了双轴晶体,折射率椭球的主轴绕________轴旋转了45度角,此转角与外加电场的大小______,其折射率变化与电场成_______。 5 KDP 晶体横向运用条件下,光波通过晶体后的相位差包括两项:其中一项与外加电场无关,是由晶体本身__________引起的;另一项为电光效应_________。 6考虑到声束的宽度,当光波传播方向上声束的宽度L 满足条件___________,会产生多级衍射,否则从多级衍射过渡到单级衍射。 7要用激光作为信息的载体,就必须解决如何将信息加到激光上去的问题,这种将信息加载于激光的过程称为调制,光束调制按其调制的性质可分为______、______、______及强度调制等。 8依据噪声产生的物理原因,光电探测器的噪声可大致分为________、________和________三类。 二 简答题,共30分,每题6分 1光电探测器性能参数包括哪些方面。 2 光子效应和光热效应。 3 请简要说出InSb 和PbS 光敏电阻的特性。 4 为什么说光电池的频率特性不是很好? 5 直接光电探测器的平方律特性表现在哪两个方面? 三 推导证明,共10分,每题5分 1 已知热电晶体极板面积为A ,热电系数为β,负载电阻为R L ,热敏元件的吸收系数为α,热导为G ,且温度变化规律为t i Te T T ω?+?=0。证明热释电探测器的电压灵敏度为()() 222211H c L u G R A R τωτωαβω++=。 2已知光电二极管的反偏压V 及最大入射光功率P ,器件的暗电导为g,临界电导为g ’,器件 光点转换灵敏度为S ,证明合理的负载电阻为:SP g SP g g V R L ''1-???? ??-=。(画出线性化处理后的伏安特性曲线) 四 分析、计算题,共40分,每题10分 1 已知热敏器件的受光面为100mm 2,频率响应范围Δf 为1H Z ,器件初始温度为300K ,发射率为ε为100%,试推导并估算此热敏探测器的最小可探测光功率。(σ=5.67×10-12J/cm 2K 4,k B =1.38×10-23J/K ) 2输入信号U in 经过二极管整流后,输出信号为U ou =KU in ,现有一按正弦规律变化的经过隔直处理后的调幅输入信号为:U in =(1+msin Ωt )sin ωt,其中的m 为调制度,Ω为调制频率,ω为载波频率,经过二极管整形后并按傅里叶级数展开,得到:

光电探测实验报告

光电探测技术 实验报告 班级:10050341 学号:05 姓名:解娴

实验一光敏电阻特性实验 一、实验目的 1.了解一些常见的光敏电阻的器件的类型; 2.了解光敏电阻的基本特性; 3.测量不同偏置电压下的光敏电阻的电压与电流,并作出V/A曲线。 二、实验原理 伏安特性显示出光敏电阻与外光电效应光电元件间的基本差别。这种差别是当增加电压时,光敏电阻的光电流没有饱和现象,因此,它的灵敏度正比于外加电压。 光敏电阻与外光电效应光电元件不同,具有非线性的光照特性。各种光敏电阻的非线性程度都是各不相同的。 大多数场合证明,各种光敏电阻均存在着分析关系。这一关系为 式中,K为比例系数;是永远小于1的分数。 光电流的增长落后于光通量的增长,即当光通量增加时,光敏电阻的积分灵敏度下降。 这样的光照特性,使得解算许多要求光电流与光强间必需保持正比关系的问题时不能利用光敏电阻。 光照的非线性特性并不是一切光敏半导体都必有的。目前已有就像真空光电管—样,它的光电流随光通量线性增大的光敏电阻的实验室试样。光敏电阻的积分灵敏度非常大,最近研究出的硒—鎘光敏电阻达到12A/lm,这比普通锑、铯真空光电管的灵敏度高120,000倍。

三、实验步骤 1、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图1接线,电源可从+2V~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮。则暗电流L暗=V暗/RL,亮电流L亮=V亮/RL,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 2、伏安特性 光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系即为伏安特性。按照图1接线,分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V时的光电流,并尝试高照度光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。将所测得的结果 填入表格并做出V/I曲线。 图1光敏电阻的测量电路 偏压2V4V6V8V10V12V 光电阻I 四、实验数据 实验数据记录如下: 光电流: E/V246810 U/V0.090.210.320.430.56 I/uA1427.54255.270.5 暗电流:0.5uA 实验数据处理:

光电探测与信号处理期末复习资料总结

一、主要的光源(1)1、热辐射源 太阳白炽灯2、气体放电光源 汞灯 氙灯 空心极灯 氘灯 利用气体放电原理制成的光源称为气体放电光源。制作时在灯中充入发光用的气体,如氢、氦、氘、氙、氪等,或金属蒸气,如汞、镉、钠、铟、铊、镝等。在电场作用下激励出电子和离子,气体变成导电体。当离子向阴极、电子向阳极运动时,从电场中得到能量,当它们与气体原子或分子碰撞时会激励出新的电子和离子。由于这一过程中有些内层电子会跃迁到高能级,引起原子的激发,受激原子回到低能级时就会发射出可见辐射或紫外、红外辐射。这样的发光机制被称为气体放电原理。 气体放电光源具有下列共同的特点:(1)发光效率高。比同瓦数的白炽灯发光效率高2~10倍,因此具有节能的特点;(2)结构紧凑。由于不靠灯丝本身发光,电极可以做得牢固紧凑,耐震、抗冲击;(3)寿命长。一般比白炽灯寿命长2~10倍;(4)光色适应性强,可在很大范围内变化。 3、固体发光源 场致发光:固体在电场的作用下将电能直接转换为光能的发光现象,也称电致发光,其有三种形态:粉末场致发光源薄膜场致发光源结型场致发光源(二极管)LED 的特性参数 (1)量子效率。发光二极管一般用量子效率来 表示 表征器件这一性能的 参数就是外量子效率,表示如下,其中, NT 为器件射出的光子数。 4、激光器 1.气体激光器:氦-氖激光器、 氩离子激光器、 二氧化碳激光器2.固体激光器3.染料激光器 4.半导体激光器 (2)光源的颜色 光源的颜色包含了两方面的含义,即色表和显色性。 色表:用眼睛直接观察光源时所看到的颜色,称为光源的色表。 显色性:当用这种光源照射物体时,物体呈现的颜色与该物体在完全辐射体照射下所呈现的颜色的一致性,称为该光源的显色性。光源选择的基本要求:光源发光强度,稳定性及其它方面的要求;光源发光光谱特性的要求。二、光电二极管1、正常运用时,光电二极管要加反向电压,Rsh 很大,Rs 很小,所以图b 中的V 、Rsh 、Rs 都可以不计,因而有图c 的形式;图d 又是从图c 简化来的,因为Cf 很小,除了高频情况要考虑它的分流作用外,在低频情况下,它的阻抗很大,可不计。因此多用图d 和图c 两种 )(ev Eg 1.24 c =λ,截止波长 2、主要的光电二极管 1、PN 光电二极管 2、PIN 光电二极管 3、雪崩光电二极管(APD) 3、PN 光电二极管工作原理:入射光从P 侧进入,在耗尽区,光吸收产生电子-空穴对,在内建电场作用下分别向左右两侧运动,产生光电流。4 5、量子效率:入射光功率Pin 中含有大量光子,能转换为光电流的光子数和入射总光子数之比称为量子效

光电信号检测实验

实验一 光敏电阻特性实验 实验原理: 利用具有光电导效应的半导体材料制成的光敏传感器叫光敏电阻,又称为光导管。是一种均质的半导体光电器件,其结构如图1-1所示。光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。 光敏电阻应用得极为广泛,可见光波段和大气透过的几个窗口都有适用的光敏电阻。利用光敏电阻制成的光控开关在日常生活中随处可见。当光电效应发生时,光敏电阻电导率的改变量为: p n p e n e σμμ?=???+??? 在上式中,e 为电荷电量,p ?为空穴浓度的改变量,n ?为 电子浓度的改变量,μ表示迁移率。当两端加上电压U 后,光电流为:ph A I U d σ= ??? 式中A 为与电流垂直的表面,d 为电极间的间距。在一定的光照度下,σ?为恒定的值,因而光电流和电压成线性关系。 光敏电阻的伏安特性如图1-2所示,不同的光照度可以得到不同的伏安特性,表明电阻值随光照度发生变化。光照度不变的情况下,电压越高,光电流也越大,光敏电阻的工作电压和电流都不能超过规定的最高额定值。 图1-2光敏电阻的伏安特性曲线 图1-3 光敏电阻的光照特性曲线 光敏电阻的光照特性则如图 1-3 所示。不同的光敏电阻的光照特性是不同的,但是在大多数的情况下,曲线的形状都与图1-3 类似。由于光敏电阻的光照特性是非线性的,因此不适宜作测量型的线性敏感元件,在自动控制中光敏电阻常用作开关量的光电传感

器。 图1-4 几种光敏电阻的光谱特性 实验所需部件: 稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、各种光源、遮光罩、激光器 实验步骤: 1.测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻 观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩盖,用万用表欧姆档测得的电阻值为 暗电阻R 暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的阻值为亮电阻R 亮 ,暗电阻与 亮电阻之差为光电阻,光电阻越大,则灵敏度越高。 结果:用万用表欧姆档测得的暗电阻为∞,超出万用表的量程。在环境光照下的亮电阻为6.5k?。 在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻,试作性能比较分析。 2.光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图1-5接线,分别在暗光及有光源照射下测出输出U 暗和U亮,电流L 暗=U 暗 /R,亮电流L 亮 =U 亮 /R,亮电流与 暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 结果:暗光时电流为0。有光源照射时光电流为71uA。 3. 光敏电阻的伏安特性测试 按照图1-5接线,电源可从直流稳压电源+2~+12V间 选用,每次在一定的光照条件下,测出当加在光敏电阻上 电压为+2V;+4V;+6V;+8V;+10V时电阻R两端的电压U R,和电流数据,同时算出此时光敏电阻的阻值,并填入以下表格,根据实验数据画出光敏电阻的伏安特性曲线。 图1-5 光敏电阻的测量电路 光敏电阻伏安特性测试数据表(暗光) 电源电压(毫 伏) 2 4 6 8 10 U R(伏) 1.98 3.98 5.98 7.98 9.87 电阻(欧姆)∞∞∞∞∞ 电流(毫安)0 0 0 0 0

光电信号转换测试

实验报告:光电信号转换测试 一、实验目的 1、了解光电响应现象及光电响应的原理。 2、熟悉利用电化学手段测试光电响应的方法,能熟练的操作电化学工作站进行光电响应的测试。 二、实验内容 通过电化学的方法测试样品的光电相应参数,如记录光电流值,开路电压,计算样品的功率,并根据数据进行作图分析。 三、实验原理 光伏响应原理: P 型半导体(空穴多)和n 型半导体(电子多)相结合时,在其交界处形成p-n 结,p 区的空穴向n 区扩散,n 区的电子向p 区扩散,引起p 区荷负电,n 区荷正电,在p-n 交界面附近的一个区域(结区,或称耗尽区)内形成一电 图1(a) 太阳光辐照下的硅p-n 结太阳能带, 图1(b)太阳能电池的理想等效

场,称为内建电场,如图1(a)所示。图中左侧为n区,右侧为p区,纵坐 标为电子能量。电子能量越高,电势越低。n区电势比p区电势高,电场方向 由n区指向p区。当光电池受到太阳光照时,能量大于构成p-n结的半导体材料的禁带宽度Eg的光子将价带电子激发到导带,同时在价带中产生空穴,它 们都称为光生载流子。在p-n结的结区,光生电子和空穴被内建电场分别推到势垒的n、p区边沿,然后向各自的内部扩散,在两端形成电压,这就是光伏 效应。若在p-n结两端接入外电路,该光生电压就可形成电流。从外电路来看,发生光伏效应的那个p-n结就是一个电源,即光电池,如图1(b)所示。 四、材料与仪器 电化学工所站、太阳能电池。 五、实验步骤 1. 完成电化学工作站的测试电路的连接; 2. 点start开始测试,测量样品的光电响应曲线、暗态和光照下的开路电极电势,并记录所得的光电流以及开路电压,并计算样品的功率。 六、实验数据记录与分析 1. I-V特征曲线: 暗态:

光电检测技术实验设计

光电检测技术 实验报告 题目:光电报警系统的设计和制作学院:仪器科学与光电工程学院专业:测控技术与仪器 班级: 学生姓名: 指导老师:

实验三 光电报警系统的设计和制作 一、设计任务 红外报警器系统的原理框图如图1所示。由红外光源发出的红外辐射被红外探测器接收,红外辐射信号变为电信号,经信号放大和处理电路后送报警电路。系统分成发送和接收两部分,分开放置。当没有人和物体进入这两部分之间,红外辐射没有被阻挡时,报警处于不报警状态。一旦有人或物体进入这两部分之间。红外辐射被阻挡,报警器立即翻转到报警状态。 图1 红外报警器系统原理框图 二、设计方案 (1)发射端电路 用NE555组成振荡器来驱动发光管,NE555构成多谐振荡器原题图如图2所示。下面对照电路图简述其工作原理及参数选择。 图2 多谐振荡器 注:1地 GND 2触发 3输出 4复位 5控制电压 6门限(阈值) 7放电 8电源电压Vc 当3脚为高电平(略低于Vc 时),输出电压将通过R1对C1充电。A 点电压按指数规律上升,时间常数为R1C1。 当A 点电压上升到上限阙值电压(约2Vc/3时),定时器输出翻转成低电平

(略大于0V)。这时,A点电压将随C1放电而按指数规律下降。当A点下降到下限阙值电压(约Vc/3)时,定时器输出变成高电平,调整R2的阻值得到严格的方波输出。 用NE555组成振荡器来驱动发光管时,要注意发光管上串联一个限流电阻。使输出电流小于或等于发光管的最大正向电流 F I。若振荡器输出电压为Vo,则 限流电阻R取值为F F O I V V R - ≥ 。如果限流电阻低于上述公式所得值,或未加限流电阻,则会造成发光管和定时器烧毁。 D2 LED 图3 振荡发射电路原理图 (2)光电检测、比较报警电路 D4 LED R8 500 图4 光电检测放大器电路原理图比较报警电路的设计利用光敏二极管的反向特性,当接收到光信号时,光敏二极管导通良好,产生电压,放大器即可对信号处理;当没有接收到光信号时,光敏二极管截止,放大器的同相端电压几乎为0。利用1/2LF353构成的光放大器,如图所示。用1/2LF353构成一个比较放大器。放大器的正端加2V左右偏压,负端加信号电压。当光线未阻断时,从主放大器来的交流信号经二极管检波电路,再经低通滤波器后得到直流电压,使后面的放大器负载输入端电位大于(或等于)正输入端电位。

光电实验报告.

长春理工大学 光电信息综合实验一实验总结 名:赵儒桐 学号:S1******* 专业:信息与通信工程学院:电子信息工程2016年5月20号

实验一:光电基础知识实验 1、实验目的 通过实验使学生对光源,光源分光原理,光的不同波长等基本概 念有具体认识。 2、实验原理 本实验我们分别用了普通光源和激光光源两种。普通光源光谱 为连续光谱,激光光源是半导体激光器。在实验中我们利用分光三棱镜可以得到红橙黄绿青蓝紫等多种波长的光辐射。激光光源发射出来的是波长为630 纳米的红色光。 3、实验分析 为了找到光谱需要调节棱镜,不同的面对准光源找出光谱,棱镜的不同面对准光源产生的光谱清晰度不同,想要清晰的光谱就需要通过调节棱镜获得。 实验二:光敏电阻实验 1、实验目的 了解光敏电阻的光照特性,光谱特性和伏安特性等基本特性。 2、实验原理 在光线的作用下,电子吸收光子的能量从键和状态过渡到自由状态,引起电导率的变化,这种现象称为光电导效应。光电导效应是半导体材料的一种体效应。光照越强,器件自身的电阻越小。光敏电阻无极性,其工作特性与入射光光强,波长和外加电压有关。 3、实验结果

当 光敏电阻的工作电压(Vcc )为+5V 时,通过实验我们看出来 改变光照度的值,光源的电流值是发生变化的。光照度增加电流值也 是增加的。测得实验数据如表2-1 : 光敏电阻光照特性实验数据 光照度 (Lx ) 20 40 60 80 100 120 140 160 180 电流mA 0.37 0.52 0.68 0.78 0.88 1.00 1.07 1.18 1.24 表2-1光敏电阻光照特性实验数据 得到的光敏电阻光照特性实验曲线: 光敏电阻伏安特性实验数据 型号:G5528 电压 (U ) 0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 照度 (Lx ) 50 电流 (mA 0 0.05 0 .11 0. 17 0.2 4 0.29 0.35 0 1.42 0. 48 0.5 4 0.6 100 电流 (mA 0 0.09 0 .19 0. 28 0.3 3 0.48 0.58 0 .67 0. 77 0.8 7 0.95 150 电流 (mA 0.12 0 .24 0. 37 0.4 9 0.62 0.74 0.87 0. 98 1.1 2 1.19 通过实验我们看出光敏电阻的光电流值随外加电压的增大而增 大,在光照强度增大的情况下流过光敏电阻的电流值也是增大的, 得 到 数据如表2-2。 光敏电阻光照特性实验曲线 图2.1

光电探测器设计

中北大学 《光电探测理论与技术》 作业 学院:信息与通信工程学院 方向:动态测试与智能仪器 导师:靳鸿 姓名:李俊萍 学号: s2******* 班级: Y110503 成绩:

学习心得 通过本学期《光电探测理论与技术》课程的学习,使我了解了光电测试系统由光源、光学变换器件、光电转换器件、信号调理电路等模块构成,光电测试术具有精度高、测量范围广、非接触式测量等特点及优点。 本次作业的题目是红外线光电烟雾探测系统设计,我通过查阅相关文献资料,对光电探测电路进行了一定程度的总结。我参考了浦昭光(文献[1])、曾光宇,张志伟,张存林的《光电检测技术》(文献[2])、郝晓剑,李仰军的《光电探测技术与应用》(文献[3])、张国立(文献[4])、沈建华(文献[5])、张丽英(文献[6])等六篇文献资料,学习了光电探测电路的组成,光电转换器件的光电效应(包括外光电效应、内光电效应),了解了光电二极管的结构、特点、使用方法等。 通过本学期的课程学习,以及课程作业的完成,让我对光电探测理论与技术这门课程有了一定的了解,当然是比较浅显的。 谢谢尊敬的周老师! 学生:李俊萍(s2*******) 2011-8-28

红外线光电烟雾探测系统设计 中北大学信息与通信工程学院 S2*******李俊萍 摘要:光电技术目前已经全面渗透到人类社会生活的各个方面,部分改变着人们的行为模式和生活方式。光电系统在日常生活中有许多应用,在现代化的公共场所和管理部门如收费站、监控中心、隧道以及在其它军用和民用设施中,火灾自动报警系统己成为必不可少的设施。光电感烟探测器具有精度高,寿命长,成本低,生产、安装简单等优点,是火灾探测的主流产品。本文设计了一种红外线光电烟雾探测报警器,首先分析了目前市场上的情况,依据其工作原理对光电系统各个部分进行芯片选择及设计,选用MSP430超低功耗系列单片机作为探测器的微处理器,充分利用单片机的片上资源,设计了AD转换电路,缩小了体积,降低了功耗,提高了系统性能。通过采用功耗低、速度快、低成本的运算放大器LM358,硬件与软件的设计满足了系统的低功耗要求,实现了光电烟雾探测器的基本功能,且功耗低,性能稳定,实用性强。 关键词:光电烟雾探测器;MSP430;低功耗;运算放大器 0 引言 近年来,全球每年发生火灾600~700万起,为了早期发现和通报火灾,防止和减少火灾危害,保护人身和财产安全,在现代化的公路交通运营现场和管理部门以及许多场合比如收费站、宾馆、图书馆、机场、仓库等方面,火灾自动探测报警装置成为必不可少的设施。对保障人民生命财产安全,保障社会安定,保障交通事业和其它国民经济各部门的安全运营有着重要的意义。 设计火灾自动探测报警装置时的方案选择主要有:感温探测器、感光探测器和感烟探测器,感温探测器是感受到温度的变化,需要离火源较近的地方,感光探测器需要有明火出现才可以发现火情,感烟探测器是感应到烟雾的出现,相比较而言以及考虑火灾的特点,火灾总是先有烟雾的出现,感烟探测器能更快的检测到灾情,在实际应用中使用较多。感烟探测器又分为离子式和光电式两类。离子型感烟探测器对烟雾的探测响应性能较为均衡,但其主要利用放射源媚241进行工作,存在环保问题,并且不适合在潮湿环境中工作,目前处于逐步淘汰中。光电式对燃烧时的烟雾有较好的响应,全部由电子元器件组成,比较环保,基于以上原因本文设计一种低功耗的光电式烟雾探测器。

实验报告_光电效应实验

南昌大学物理实验报告 学生姓名: 学号: 专业班级:材料124班 实验时间:10时00分 第十一周 星期四 座位号:28 一、 实验名称: 光电效应 二、 实验目的: 1、通过实验深刻理解爱因斯坦的光电效应理论,了解光电效应的基本规律; 2、掌握用光电管进行光电效应研究的方法; 3、学习对光电管伏安特性曲线的处理方法,并用以测定普朗克常数。 三、实验仪器: 光电效应测试仪、汞灯及电源、滤色片、光阑、光电管、测试仪 四、实验原理: 1、 光电效应与爱因斯坦方程 用合适频率的光照射在某些金属表面上时,会有电子从金属表面逸出,这种现象叫做光电效应,从金属表面逸出的电子叫光电子。为了解释光电效应现象,爱因斯坦提出了“光量子"的概念,认为对于频率为γ的光波,每个光子的能量为E h ν=,其中 h =6.626 s J ??-3410为普朗克常数。 按照爱因斯坦的理论,光电效应的实质是当光子和电子相碰撞时,光子把全部能量传递给电子,电子所获得的能量,一部分用来克服金属表面对它的约束,其余的能量则成为该光电子逸出金属表面后的动能。爱因斯坦提出了著名的光电方程: 21 2h m W νυ=+ (1) 式中, 为入射光的频率,m 为电子的质量, 为光电子逸出金属表面的初速度,W 为被 光线照射的金属材料的逸出功,1/2mv 2 为从金属逸出的光电子的最大初动能。 由(1)式可见,入射到金属表面的光频率越高,逸出的电子动能必然也越大,所以即使阴极不加电压也会有光电子落入阳极而形成光电流,甚至阳极电位比阴极电位低时也会有光电子落到阳极,直至阳极电位低于某一数值时,所有光电子都不能到达阳极,光电流才为零.这个相对于阴极为负值的阳极电位0U 被称为光电效应的截止电压。 显然,有 eu 0-1/2m v2 =0 (2) 代入上式即有 0h eU W ν=+ (3) 由上式可知,若光电子能量h + W,则不能产生光电子。产生光电效应的最低频率是 0 =W /h,通常称为光电效应的截止频率。不同材料有不同的逸出功,因而 也不同.由

光电信号的检测方法(莫尔拓扑图)

第五章:光电信号的检测方法 单频光相位调制和条纹检测 在使用窄光束单频光波相位调制的干涉测量中,干涉条纹的形成和检测是在光束重叠的较小空间范围内进行的,通常采用单元光电器件检测局部位置上的干涉条纹波数或相位随时间的变化。 1.单频光的相位调制 在单一频率相干光路中,被测量使相干光波的相位发生变化,同时通过干涉作用把波相位的变化变换为振幅的变化,这个过程称单频光波的相位调制或称相幅变换。由前面的公式可知,能引起相位变化的参量是光路长L和介质折射率n。因此相位调制通常是利用不同形式的干涉仪,借助机械的、光学的、光电子学等变换器伴将被测量的变化转换为光路长L 和折射率n的变化。前者用来检测几何和机械运动参量,后者用于分析物质的理化特性。 为了定量描述被测参量对相位调制的影响,采用规一化相位响应表示在单位长度的光路内由被测参量引起的相位变化。 (1/L)(dφ/dF)=(2π/λ0)[dn/dF+(n/L)(dL/dF)] 式中,(1/L)(dφ/dF)为规一化相位响应,L为干涉光路长度,F为被测参量。 等式右端两项分别表示折射率变化和光路长度变化引起的相位响应。上式可用来衡量相位调制的各种类型光学干涉仪和光纤干涉仪的工作特性。 1)光学干涉仪相位调制 通常作为相位调制用的光学干涉仪有迈克尔逊干涉仪、吉曼干涉汉、马赫-泽德干涉仪、萨纳克干涉仪和法布里-珀罗干涉仪等。下图给出了它们的原理示意图。 典型的光学干涉仪原理示意图 除了法布里-珀罗干涉仪外,前述干涉仪皆属双光束干涉。干涉强度分布满足公式。图a的迈克尔逊干涉仪其特点是结构简单,条纹对比度好,信噪比高。测量镜M2与被测物连接可以感知位移、变形等参量。由于M2的位移量Δx引起测量光路2Δx的变化,即λ/2的位移引起干涉条纹一个周期的变化,所以条纹的计数和被测位移的计算关系简单。它的测量灵敏度达10-13m的数量级。其缺点是输出光束能经分束镜返回激光器,这将使激光器工作不稳定,这可以通过设置偏振器来防止。图b是吉曼干涉仪。同样厚度的二块玻璃板背面镀以反射膜,利用两玻璃表面的反射形成光束的分束和再合成。由于两光路的光程差很小,即使相干性较差的光源也可进行精密测量。它主要用来测定透光物质(例如气体)的折射率,可进行标准试样和被测试样的比较测量。若试样长度为L,条纹测量精度为λ/50,则折射率误差在δn=λ/50L之内。图c是马赫-泽德干涉仪,由二片分束镜和二片反射镜组成。输出分束镜有两束干涉光输出,可用于布置多路接收器,它的返回散射光较少,有利于降低激光的不稳定噪声。被测位移的引入通过可移动反射镜进行,位移范围不能超过相干光束的截面。

光电探测器特性测试实验

光电探测器特性测试实验 光电探测器是一种将辐射能转换成电讯号的器件,是光电系统的核心组成部分,在光电系统中的作用是发现信号、测量信号,并为随后的应用提取某些必要的信息。光电探测器的种类很多,新的器件也不断出现,按探测机理的物理效应可分为两大类:一类是利用各种光子效应的光子探测器,另一类是利用温度变化的热探测器。 1、光敏电阻 光敏电阻是用光电导体制成的光电器件,又称光导管.它是基于半导体光电效应工作的。光敏电阻没有极性,纯粹是一个电阻器件,使用时可加直流电压,也可以加交流电压。当无光照时,光敏电阻值(暗电阻)很大,电路中电流很小。当光敏电阻受到一定波长范围的光照时,它的阻值(亮电阻)急剧减少,因此电路中电流迅速增加。 光敏电阻的暗电阻越大.而亮电阻越小.则性能越好,也就是说,暗电流要小,光电流要大,这样的光敏电阻的灵敏度就高。实际上,大多数光敏电阻的暗电阻往往超过1M欧,甚至高达100MΩ,而亮电阻即使在正常白昼条件下也可降到1kΩ以下,可见光敏电阻的灵敏度是相当高的。 频率特性:非平衡载流子的产生与复合都有一个时间过程,在一定程度上影响了光敏电阻对变化光照的响应。

光谱响应特性:由所用半导体材料的禁带宽度决定。PbS 2、 光敏二极管 光敏二极管是一种光伏探测器,主要利用了PN 结的光伏效应。对光伏探测器总的伏安特性可表达为 s kT qV s s D I e I I I I --=-=)1(0 式中I 中是流过探测器总电流,I so 二极管反向饱和电流,I s 是光照时的光电流,q 是电子电荷,V 是探测器两端电压,k 为玻耳兹曼常数,T 器件绝对温度。 当入射光的强度发生变化,通过光敏二极管的电流随之变化,于是在光敏二极管的二端电压也发生变化。光照时导通,光不照时,处于截止状态,并且光电流和照度成线性关系。 光照特性:输出的饱和光电流与光照度之间的关系。 光谱特性:取决于所采用材料的禁带宽度,同事也与结构工艺有着密切的关系。 频率特性:由光生载流子的渡越时间和L R j C 的乘积决定。 伏安特性:在零偏压下,光电二极管仍有光电流,这是光生伏特效应所产生的短路电流。 3、 光敏三极管 在光敏二极管的基础上,为了获得内增益,就利用了晶体三极管的电流放大作用,用Ge 或Si 单晶体制造NPN 或PNP 型光敏三极管。 光敏三极管可以等效一个光电二极管与另一个一般晶体管基极和集电极并联:集电极-基极产生的电流,输入到三极管的基极再放大。不同之处是,集电极电流(光电流)由集电结上产生的I φ控制。集电极起双重作用:把光信号变成电信号起光电二极管作用;使光电流再放大起一般三极管的集电结作用。一般光敏三极管只引出E 、C 两个电极,体积小,光电特性是非线性的,广泛应用于光电自动控制作光电开关应用。

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