椭偏测厚仪主要参数及工作原理

“椭偏测厚仪”有关情况介绍

一、引言：

1、椭偏法是一种测量光在样品表面反射后偏振状态改变的广西方

法，它可以同时测得样品薄膜的厚度和折射率。由于此法具有非接触性、非破坏性以及高灵敏度、高精度等优点，鼓广泛用于薄膜厚度及材料的光学常数的测定。

2、椭偏法测量数据可在短时间内快速采集，可对各类薄膜的生长和

工艺过程进行实时监测，故已成为半导体行业重要的在线监测设备之一。

3、纳米技术是当今科技的发展热点，能精确测得纳米级薄膜厚度和

折射率的椭偏测量技术受到人们的高度重视和关注。

二、椭偏测厚仪发展概况：

1、椭偏测厚仪在我国起步较晚，70年代我国自行设计生产的椭偏

测厚仪只有“TP-77型椭偏测厚仪”和“WJZ型椭偏测厚仪”。基本上是手动测量，仅配一种入射角和衬底材料的薄膜（n，d）~（Ψ，Δ）函数表（如SiO2，70°入射角，波长632.8nm）。

2、90年代末，华东师范大学研制并生产了“HST-1型”和“HST-2

型”多功能智能椭偏测厚仪。该仪器使用计算机技术，利用消光法自动完成，测量薄膜的厚度和折射率。

3、进入二十一世纪，国内生产自动椭偏测厚仪的厂家逐渐多起来。

如：天津港东科技发展有限公司生产的“SGC-1型椭圆偏振测厚仪”、“SGC-2型自动椭圆偏振测厚仪”。天津拓普仪器有限公司生产的

“TPY-1型椭圆偏振测厚仪”和“TPY-2型自动椭圆偏振测厚仪”

等。

现将目前国内生产的几种自动椭圆偏振测厚仪，其性能指标等参数列表如下，供参考：

国内几种“椭圆偏振测厚仪”的性能参数

三、 消光法测量薄膜和折射率的计算公式：

1． 在椭偏法测量中，为了简便，通常引入两个物理量——Ψ，Δ来

描述反射光偏振态的变化，它们与总反射系数p R （p 分量，在入射面内），s R （s 分量，在垂直于入射面内）之间的关系，定义如下：

tan Ψi e ?=p R /s R ————————— 偏振方程 ○

1 式中：Ψ，Δ —— 椭偏参数（均为角度度量）

Ψ —— 相对振幅衰减 Δ —— 相位移动之差

在固定实验条件下：~

1n 和~

3n 为已知，则Ψ=Ψ（d ，~

2n ），

Δ=Δ（d ，~

2n ）

2122121i p p p i p p r r e R r r e δδ

--+?=

+??，2122121i s s s i s s r r e R r r e δ

δ

--+?=+??

式中：2δ——相邻两光束的相位差，设膜厚为d ，光波长为λ，

则有：

122~~~22221122()d n Cos d n n Sin ππ

δ??λλ

=???=??-?——— ○2

若：P-起偏角，A-检偏角

则：Ψ=A ，Δ=k ×180°+90°-2p （当0°≤p ≤135°时，k=1；当

135°≤p ≤180°时，k=3）

综上：通过测得起偏角P 和检偏角A ，即可求得Ψ，Δ，还可反求

d ，~

2n 。 1）

对于透明膜，~

2n 只有实部，上述椭偏方程（复数方程）只有d ，

~2n 两个未知数，由两个已知实测的Ψ，Δ原则上可解出d ，~

2n ，但因得不到它们的解析式，需用计算机进行数据处理，求出数字解。

2）

如何求解未知衬底材料的复折射率~

3n （~

3n =0n ik -）对于无膜样品，

d=0，p R 和s R 的定义式可简化为：

~~

3113~

~

3113

p n Cos n Cos R n Cos n Cos ?????-?=

?+?，~~

1323~~

1323

s n Cos n Cos R n Cos n Cos ?????-?=

?+?

取~

1n =1（空气），可解出衬底材料的复折射率~

3n 的实部0n 和

虚部k 的解析式：

()()()22221222

0122211tan 2112tan 4212Cos Sin Sin n k Sin Sin Cos Sin Sin Sin k n Sin Cos ????????????

-?????=++?+????????????=

?+???

2． 数据处理：

令 2i x e δ-= ———————————————————— ○3 将○

3代入○1得： ()()()()

()()

()()

2212121212221212121211tan 11i i p p s s p

p s s p i i i s

s s p p p p s s r r e r r e r r x r r x R e R r r x r r x r r e r r e δδδ

δδ?----+?+??+?+???=

=

=

+?+??+??+?

展开后得到：20a bx c ++=

式中：

()1122tan i p s p s a r e r r r δ

?=??-?? ()()

221122tan tan i i p s p s s p b r e r r r r e r δδ??=??-??+??-

11tan i s p c r e r δ

?=??-

求解得到两个复根

11102ia b x x e a --+==?

，22202ia b x x e a

---==?

由○3式知x 的模应该为1，在1x ，2

x 中选取模更接近1的一个（另一个舍去），则x=0ia

x e

-?，代入○

1○2可得：

a

d λ=

—————————————— ○

4 3． 迭代法求解：

根据实验测得的Ψ和Δ比较准确，误差可以忽略不计，x 的模0x 偏离1的主要原因是由于所给的2n 的初值与实际值有较大的偏差引起的，所以可将01x -的大小作为衡量误差大小的一个标志量。于是，可以任意给一个初值20n ，将2n 进行多次迭代近似计算，直到01x -小于某个指定的误差δ（例如，取δ=0.00001）为止，即：

01x -<δ —————————————— ○

5 此时的2n 就是实际的薄膜折射率，由○

4式可同时得到薄膜厚度d 。 4． 求薄膜的真实厚度：

需指出的是，上述测得的薄膜厚度均为小于一个周期时的值，

即：0≤2δ≤2π，易知δ=2π，由○

4式可得： 薄膜厚度的周期

D =

薄膜的真实厚度 i i i

d m D d =+ 式中：i m 为正整数，膜厚的周期数；i D 为膜厚的周期；

i d 为不同测量条件时所对应的一个周期内的厚度值。

实验常采用改变入射角和波长的方法得到多组（i ψ，i ?）， 并由

111222d m D d m D d =+=+=??????

解得薄膜的真实厚度d 。

涂层测厚仪操作规程

涂层测厚仅操作规程

一、原则 涂层测厚仪是常见的一种设备涂层检测工具，它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻，且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统/零点/ 两点校准等特点，涂层测厚仪采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。二、工作原理 我公司使用的涂层测厚仪为MC-2000A型，该仪器采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂(镀)层厚度。 技术参数 三 、 1、测量范围：0~1200um 2 测量误差：<3%±1um 、 3、最小示值：1um 4 显示方式： 4 位液晶数字显示 、 5、主要功能： (1.测量：单探头全量程测厚 (2) . 存储、删除：可存入600 个测量数据，可以删除测量中的单个可疑数据，也可以删除存储区内的所有数据。 (3) . 读：读出已存入的测量数据 (4) . 统计：设有三个统计量，平均值最大值最小值 (5) . 校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准 (6) . 电量：具有欠压显示功能 (7) . 蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示 (8) . 打印：可打印测量值，选配微型打印机 (9) . 关机：具有自动关机和手动关机两种方式 6、使用环境温度：0C ~+40C 相对湿度：不大于90%

气相色谱仪原理(图文详解)

气相色谱仪原理（图文详解） 什么是气相色谱 本章介绍气相色谱的功能和用途，以及色谱仪的基本结构。 气相色谱（GC)是一种把混合物分离成单个组分的实验技术。它被用来对样品组分进行鉴定和定量测定： 基子时间的差别进行分离 和物理分离（比如蒸馏和类似的技术）不同，气相色谱（GC)是基于时间差别的分离技术。 将气化的混合物或气体通过含有某种物质的管，基于管中物质对不同化合物的保留性能不同而得到分离。这样，就是基于时间的差别对化合物进行分离。样品经过检测器以后，被记录的就是色谱图（图1),每一个峰代表最初混合样品中不同的组分。 峰出现的时间称为保留时间，可以用来对每个组分进行定性，而峰的大小（峰高或峰面积）则是组分含量大小的度量。 图1典型色谱图

系统 一个气相色谱系统包括 可控而纯净的载气源.它能将样品带入GC系统进样口，它同时还作为液体样品的气化室色谱柱，实现随时间的分离 检测器，当组分通过时，检测器电信号的输出值改变，从而对组分做出响应 某种数据处理装置图2是对此作出的一个总结。 样品 载气源一^ 进样口一^ 色谱柱一^ 检测器一_ 数据处理」 图2色谱系统 气源 载气必须是纯净的。污染物可能与样品或色谱柱反应，产生假峰进入检测器使基线噪音增大等。推荐使用配备有水分、烃类化合物和氧气捕集阱的高纯载气。见图

钢瓶阀 若使用气体发生器而不是气体钢瓶时，应对每一台GC都装配净化器，并且使气源尽可能靠近仪器的背面。 进样口 进样口就是将挥发后的样品引入载气流。最常用的进样装置是注射进样口和进样阀。注射进样口 用于气体和液体样品进样。常用来加热使液体样品蒸发。用气体或液体注射器穿透隔垫将样品注入载气流。其原理（非实际设计尺寸）如图4所示。

塑粉涂层测厚仪

塑粉涂层测厚仪 产品名称：OU3600涂镀层测厚仪 ?产地：中国销售：沧州欧谱 ?简介：OU3600涂层测厚仪是欧谱公司最新研发的新产品，是 德国EPK/易高等同类产品的替代产品，与之前涂层测厚仪相 比有以下主要优点：测量速度快：测量速度比其它TT系列快 6倍；精度高：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是 目前市场上唯一能达到A级的产品,功能、数据、操作、显示 全部是中文。 ? 一、概述 沧州欧谱OU3600涂层测厚仪是欧谱公司最新研发的新产品，是一种小型便携式仪器，磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪。其性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957，多次通过国家技术监督部门的性能试验，获得计量器具制造许可证。 OU3600涂层测厚仪探头 ·测厚仪最容易损坏的部件是探头，本公司的OU3600涂层测厚仪对探头做了特殊的耐久性设计，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。 OU3600涂层测厚仪探头线 ·由于涂镀层测厚仪使用频率很高，探头线成为易损件。一般国产仪器的探头用不多久就会出现故障，多数问题出在探头线上。OU3600涂层测厚仪使用的探头线是在日本定做的。这种导线最初用于机器人，规定可经受几百万次的曲折。实践证明，这种探头线很少有因频繁曲折而损坏的。 二、主要特点： 1. 零位稳定：所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。 仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。 2. 线性编辑：多数涂层测厚仪除了基础校零外，仪器本身没有线性编辑，使得测量重复性误差大，本仪器出厂加入线性编辑增加测量精度与重复稳定性。 3. 温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。 4. 独特的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。

测厚仪原理-测厚仪工作原理【详解】

测厚仪原理 内容来源网络，由“深圳机械展（11万㎡，1100多家展商，超10万观众）”收集整理！更多cnc加工中心、车铣磨钻床、线切割、数控刀具工具、工业机器人、非标自动化、数字化无人工厂、精密测量、3D打印、激光切割、钣金冲压折弯、精密零件加工等展示，就在深圳机械展. 测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。测厚仪可以用来在线测量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。目前常见的测厚仪有γ射线、β射线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。 用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。 超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用最广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，最大测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。 磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而

超声波测厚仪操作规程修订稿

超声波测厚仪操作规程 WEIHUA system office room 【WEIHUA 16H-WEIHUA WEIHUA8Q8-

超声波测厚仪操作规程 一．准备工作 1.超声波测厚仪属于国家强检的计量器具，使用前应检查仪器是否在有效检定期内，确认是否处于正常工作状态。 2.装入电池，并将探头插入主机探头插座中，按ON键开机，检查电源电压是否符合要求。 二．操作步骤 1.厚度测试 按CAL键进入声速状态，用▲或▼键调整到被测材料的声速值。 按PRB键进入校准状态，在随机试块上涂上耦合剂，将探头与随机试块耦合，屏幕显示的横线将逐条消失，直到屏幕显示随机试块的实际厚度值即校准完毕。 将耦合剂涂于被测处，手握仪器使探头与工件之间良好耦合，屏幕上将显示被测材料的厚度。 如耦合标志闪烁或不出现说明耦合不好,应重新校准后再测试。 2.声速测试 用游标卡尺或千分尺测量相关试件,准确读取其厚度值。 按PRB键进入校准状态，在随机试块上涂上耦合剂，将探头与随机试块耦合，屏幕显示的横线将逐条消失，直到屏幕显示随机试块的实际厚度值即校准完毕。

将探头与已知厚度试件耦合,直到显示一厚度,用▲或▼键将显示值调整到实际测试的厚度值。 按CAL键仪器即可显示出被测材料的声速。 三．注意事项 1.在测试过程中应随时观察仪器电源显示情况，不得在低压下使用，电池能量不足应及时更换。同时不得将仪器置于地面或其它硬部件上，严禁在打开后盖状态下使用。 2.测试完毕，应再次对仪器进行校准，以确定测试过程中仪器是否处于正常状态。 3.严格按照厂家说明书使用和保养仪器。 4.使用完毕后，将探头从主机探头插座上拔出，同时将电池取出。并用干净的卫生纸或抹布小心将探头、仪器擦试干净后，装入箱内。

气相色谱仪的工作原理

JC-8890气相色谱分析技术是一种多组分混合物的分离、分析的技术。它主要利用样品中各组份的沸点、极性及吸附系数在色谱柱中的差异，使各组份在色谱柱中得到分离，并对分离的各组分进行定性、定量分析。 气相色谱仪以气体作为流动相（载气），当样品被送入进样器并气化后由载气携带进入填充柱或毛细管柱，由于样品中各组份的沸点、极性及吸附系数的差异，使各组份在柱中得到分离，然后由接在柱后的检测器根据组份的物理化学特性，将各组份按顺序检测出来，最后通过局域网（或互联网）送至色谱工作站，由色谱工作站将各组份的气相色谱图记录并进行分析从而得到各组份的分析报告。其工作原理简图如下图所示： 图1.1 气相色谱仪工作原理简图 由于该分析方法有分离效能高、分析速度快、样品用量少等特点，因此已广泛地应用于石油化工、生物化学、医药卫生、卫生检疫、食品检验、环境保护、食品工业、医疗临床等部门。气相色谱法在这些领域中解决了工业生产的中间体和工业产品的质量检验、科学研究、公害检测、生产控制等问题。 GC-8890系列色谱仪的特点：众所周知，传统气相色谱仪是以1台色谱仪、1台AD转换器、1套计算机、1套打印机的方式工作的。这种工作方式使得色谱仪配备较多的化工厂、实验

室、院校等用户在使用和管理上非常不便，并且设备重复投资、浪费严重。配备大量的计算机也给用户在设备管理和数据管理上带来诸多不便。同时这种传统的模式往往要采用一个厂家的气相色谱仪，又要采用另外一个厂家的工作站配合才能使用，使得系统整体的功能难以发挥、系统的性能也难以提高，对于用户提出的功能增加就更无从谈起了（比如数据的远程传输、多台仪器的监控等）。 GC-8890系列网络化气相色谱仪有如下功能 ★采用了技术先进的10/100M自适应以太网通信接口、并内置IP协议栈、使仪器可以轻松的通过企业内部局域网、互联网实现远距离的数据传输；方便了实验室的架设、简化了实验室的配置、方便了分析数据的管理； ★仪器内部设计3个独立的连接进程，可以连接到本地处理、单位主管（如质检科长、生产厂长等）、以及上级主管，可以方便地使单位主管和上级主管实时监控仪器的运行以及分析数据结果； ★仪器配备的NetChromTM工作站可以同时支持多台色谱仪工作，实现数据处理以及反控，简化了文档管理，并最大程度的降低了用户的实验室投资以及运行费用； ★仪器可以通过互联网连接到生产厂家，实现远程诊断、远程程序更新等（需用户许可）； ★仪器可配备的5.7寸彩色液晶屏或192*64单色液晶屏，满足不同的用户需求； ★系统具有中、英文2套操作系统，可自由切换； ★控温区域可由用户自由命名，方便用户的使用； ★仪器采用了多处理器并行工作方式，使仪器更加稳定可靠；可选配多种高性能检测器选择，如FID、TCD、ECD、FPD和NPD，最多可同时安装三种检测器，可满足复杂样品分析。也可采用检测器追加方式，在仪器购入后很方便的选购安装其它检测器； ★仪器采用模块化的结构设计，设计明了、更换升级方便，保护了投资的有效性；

锡膏测厚仪操作规程

锡膏测厚仪操作规程 、目的: 测量SMT印刷工艺锡膏高度、体积；衡量印刷机工艺参数设置是否正确； 提供印刷工序可信的SPC数据，证实印刷工艺的稳定性。 二、适用范围： SMT技术人员。 三、操作步骤： 1、检查电脑与测量系统连接良好，电源连接正常。 2、开启电脑主机及测量系统。 3、当操作系统正常启动后，用鼠标双击桌面ASM图标，开启测试程序。 4、将待测PCB板放在工作台适当位置，找到要测试点，调节光源及镜头使图 像清淅。开启激光线并旋转调整机构，调整激光本和水平框線重叠达到适当焦距。 5、上下移动调整杆，当调整杆移到激光线反射光线中间处，可进行直接测量。 6、冻结影像 [冻结影像]键,冻结影像,影像转换 7、窗口设定/单点量测设定检测窗口或以以鼠标点出两点，两点定出位移量作成点 量测纪录表 & 检测参数设定T-High / T-Low / SMA /SMD 9、显示与否Check Box [Display] 10、Open/Close Image Check Box [Open]/[Close]

T-Low = 100~150, T-High=180~220 四、 关机 结束STRONG 关闭操作窗口，退出控制软件，关闭电脑主机。 五、 注意事项 非指定人员严禁操作此机器，不可随意去触动机器各部件。 六、 保养事项 1、 使用完毕后要把鼠标、键盘摆放在规定的位置，台面上要保持整洁，不可 有杂物。 2、 每班须对机器的表面进行清洁，除去灰尘等其它异物。 7.使用表单 设备履历卡 设备保养点检记录表 设备维修申请单 仪器、设备报废申请单 12、面积计算 13、 显示结果 结果键/点量测纪录表/厚度分布结果 14、打印结果 打印/点量测纪录表/厚度分布结果/影像 15、储存结果 档案 储存点量测结果/工作文件/影像文件

涂层测厚仪的应用原理

涂层测厚仪的应用原理 涂层测厚仪的应用行业分布在电镀、喷涂；管道防腐；铝型材；钢结构；印刷线路版、及丝网印刷等。 电镀、喷涂：这个行业是使用我们仪器zui多的，占每年销量相当大的比例，是我们主要用户群体，需要精力去不断挖掘。 管道防腐：主要以石化方面的用户比较多，一般防腐层比较厚，KY8001 KY8002测厚仪的用户比较多； 铝型材：今年以来受国家实施强制标准，型材企业换发许可证的影响，该行业出现前所未有的好势头，主要测型材上面的氧化膜，据了解生产企业每少镀一微米，一吨型材“节约”150元，非常可观，因此国家强制要求配备包括涂层测厚仪在内的相关检测设备。此举也给我们带来了非常好的机会。这个机会也同样受到竞争对手的关注，他们zui大限度的调低了价格，而且采取铺货等多种方式迅速在此行业展开攻势. 钢结构：对于我们的产品这类企业也可以单独划为一个行业。涂层测厚仪在此行业也确实有很大的应用，包括铁塔等厂家zui近购买信息也比较多； 印刷线路版、及丝网印刷等：这类企业相对来讲数特殊行业，购买量目前来看只是来自零星一些厂家。 磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。 涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。 根据涂层测厚仪的检测原理：可以分磁性涂层测厚仪，即是被测量的底材是带有磁性的，如钢，铁等，还有一种顾名思义就是非磁性涂层测厚仪，也叫涡流测厚仪，如底材是铝。还有一种就是双功能涂层测厚仪，就是说他的底材不管是铁或者是铝，都是可以自动识别的。客户可以根据自己的测量需求来选择。

椭偏测厚仪主要参数及工作原理

“椭偏测厚仪”有关情况介绍 一、引言： 1、椭偏法是一种测量光在样品表面反射后偏振状态改变的广西方 法，它可以同时测得样品薄膜的厚度和折射率。由于此法具有非接触性、非破坏性以及高灵敏度、高精度等优点，鼓广泛用于薄膜厚度及材料的光学常数的测定。 2、椭偏法测量数据可在短时间内快速采集，可对各类薄膜的生长和 工艺过程进行实时监测，故已成为半导体行业重要的在线监测设备之一。 3、纳米技术是当今科技的发展热点，能精确测得纳米级薄膜厚度和 折射率的椭偏测量技术受到人们的高度重视和关注。 二、椭偏测厚仪发展概况： 1、椭偏测厚仪在我国起步较晚，70年代我国自行设计生产的椭偏 测厚仪只有“TP-77型椭偏测厚仪”和“WJZ型椭偏测厚仪”。基本上是手动测量，仅配一种入射角和衬底材料的薄膜（n，d）~（Ψ，Δ）函数表（如SiO2，70°入射角，波长632.8nm）。 2、90年代末，华东师范大学研制并生产了“HST-1型”和“HST-2 型”多功能智能椭偏测厚仪。该仪器使用计算机技术，利用消光法自动完成，测量薄膜的厚度和折射率。 3、进入二十一世纪，国内生产自动椭偏测厚仪的厂家逐渐多起来。 如：天津港东科技发展有限公司生产的“SGC-1型椭圆偏振测厚仪”、“SGC-2型自动椭圆偏振测厚仪”。天津拓普仪器有限公司生产的

“TPY-1型椭圆偏振测厚仪”和“TPY-2型自动椭圆偏振测厚仪” 等。 现将目前国内生产的几种自动椭圆偏振测厚仪，其性能指标等参数列表如下，供参考： 国内几种“椭圆偏振测厚仪”的性能参数

三、 消光法测量薄膜和折射率的计算公式： 1． 在椭偏法测量中，为了简便，通常引入两个物理量——Ψ，Δ来 描述反射光偏振态的变化，它们与总反射系数p R （p 分量，在入射面内），s R （s 分量，在垂直于入射面内）之间的关系，定义如下： tan Ψi e ?=p R /s R ————————— 偏振方程 ○ 1 式中：Ψ，Δ —— 椭偏参数（均为角度度量） Ψ —— 相对振幅衰减 Δ —— 相位移动之差 在固定实验条件下：~ 1n 和~ 3n 为已知，则Ψ=Ψ（d ，~ 2n ）， Δ=Δ（d ，~ 2n ） 2122121i p p p i p p r r e R r r e δδ --+?= +??，2122121i s s s i s s r r e R r r e δ δ --+?=+?? 式中：2δ——相邻两光束的相位差，设膜厚为d ，光波长为λ， 则有： 122~~~22221122()d n Cos d n n Sin ππ δ??λλ =???=??-?——— ○2 若：P-起偏角，A-检偏角 则：Ψ=A ，Δ=k ×180°+90°-2p （当0°≤p ≤135°时，k=1；当 135°≤p ≤180°时，k=3） 综上：通过测得起偏角P 和检偏角A ，即可求得Ψ，Δ，还可反求 d ，~ 2n 。 1） 对于透明膜，~ 2n 只有实部，上述椭偏方程（复数方程）只有d ，

涂层测厚仪操作规程

涂层测厚仪操作规程 一、技术参数 ●采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度； ●测量范围：（0~1250）μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm； ●分辨率：0.1μm（F1、N1测头） ●示值精度：±（3％H+1）μm；H为被测涂层厚度 ●显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光； ●存储容量：可存储20组（每组最多50个测量数值）测量数据 ●单位制：公制μm、英制（mil）、可自由转换 ●工作电压：3V（2节5号碱性电池） ●持续工作时间：大于200小时（不开背光灯） ●通讯接口：USB1.1，可与PC机连接、通讯 二、操作流程图 开启仪器——校准仪器——进行测量——关闭仪器 三、操作步骤 基本测量步骤 1.准备好待测工件； 2.将测头插头插入主机的测头插座中； 3.仪器开机；

4.判断是否需要校准仪器。如果需要，选择适当的校准方法进行校准； 5.测量。将测头垂直接触工件的测量面，并轻压测头的加载套，当测头与被测工件表面接触稳定后，随着一声蜂鸣声，屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后，测量标识消失，厚度值保持。 6.仪器关机 四、操作注意事项 1.如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大； 2.如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内； 3.仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值； 4.为使测量更加精确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为最终的测量结果； 5.显示测量结果后，一定要提起测头至距离工件10mm以上，才可以进行下次测量。 五、维护及注意事项 1.应避免仪器及测头受到强烈震动； 2.避免仪器置于过于潮湿的环境中； 3.插拔测头时，应捏住活动外套沿轴线用力，不可旋转测头，以避免损坏测头电缆芯线。 4.油、灰尘的附着会使测头线逐渐老化、断裂，使用后应清除缆线

色谱法的分类及其原理

色谱法的分类及其原理 （一）按两相状态 气相色谱法:1、气固色谱法 2、气液色谱法 液相色谱法:1、液固色谱法 2、液液色谱法 （二）按固定相的几何形式 1、柱色谱法(column chromatography) ：柱色谱法是将固定相装在一金属或玻璃柱中或是将固定相附着在毛细管内壁上做成色谱柱，试样从柱头到柱尾沿一个方向移动而进行分离的色谱法 2、纸色谱法（paper chromatography）：纸色谱法是利用滤纸作固定液的载体，把试样点在滤纸上，然后用溶剂展开，各组分在滤纸的不同位置以斑点形式显现，根据滤纸上斑点位置及大小进行定性和定量分析。 3、薄层色谱法(thin-layer chromatography, TLC) ：薄层色谱法是将适当粒度的吸附剂作为固定相涂布在平板上形成薄层，然后用与纸色谱法类似的方法操作以达到分离目的。 （三）按分离原理 按色谱法分离所依据的物理或物理化学性质的不同，又可将其分为：

1、吸附色谱法：利用吸附剂表面对不同组分物理吸附性能的差别而使之分离的色谱法称为吸附色谱法。适于分离不同种类的化合物（例如，分离醇类与芳香烃）。 2、分配色谱法：利用固定液对不同组分分配性能的差别而使之分离的色谱法称为分配色谱法。 3、离子交换色谱法：利用离子交换原理和液相色谱技术的结合来测定溶液中阳离子和阴离子的一种分离分析方法，利用被分离组分与固定相之间发生离子交换的能力差异来实现分离。离子交换色谱主要是用来分离离子或可离解的化合物。它不仅广泛地应用于无机离子的分离，而且广泛地应用于有机和生物物质，如氨基酸、核酸、蛋白质等的分离。 4、尺寸排阻色谱法：是按分子大小顺序进行分离的一种色谱方法，体积大的分子不能渗透到凝胶孔穴中去而被排阻，较早的淋洗出来；中等体积的分子部分渗透；小分子可完全渗透入内，最后洗出色谱柱。这样，样品分子基本按其分子大小先后排阻，从柱中流出。被广泛应用于大分子分级，即用来分析大分子物质相对分子质量的分布。 5、亲和色谱法：相互间具有高度特异亲和性的二种物质之一作为固定相，利用与固定相不同程度的亲和性，使成分与杂质分离的色谱法。例如利用酶与基质（或抑制剂）、抗原与抗体，激素与受体、外源凝集素与多糖类及核酸的碱基对等之间的专一的相互作用，使相互作用物质之一方与不溶性担体形成共价结合化合物，

2.2、测厚仪工作原理

2.2、测厚仪工作原理 对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为 式中 I0———入射射线强度； μ———吸收系数； h———被测材料的厚度。 当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。 X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。 X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。 在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。 参考资料： 楼上没有给出公式，就等于没有说出重点，因此不要轻易的COPY。 简单的说，就是射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，

其公式为：I=Ir*EXP（-UX）,Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。 对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。 射线检测仪 温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温度记录仪 分享 举报| 83 次阅读 | 0 个评论 测原理 作者：allen 1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。它通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。 X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面，它的折射率很小，几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。 由韧致辐射产生的X射线，具有连续谱线。它的波长取决于电场的电压和场内的电子流。其强度表示为：

涡流测厚仪操作规程

编号：SM-ZD-74971 涡流测厚仪操作规程Through the process agreement to achieve a unified action policy for different people, so as to coordinate action, reduce blindness, and make the work orderly. 编制：____________________ 审核：____________________ 批准：____________________ 本文档下载后可任意修改

涡流测厚仪操作规程 简介：该规程资料适用于公司或组织通过合理化地制定计划，达成上下级或不同的人员之间形成统一的行动方针，明确执行目标，工作内容，执行方式，执行进度，从而使整体计划目标统一，行动协调，过程有条不紊。文档可直接下载或修改，使用时请详细阅读内容。 1 清除净被测物件上的污物、尘土和水。将仪器的探头擦拭干净。 2 按下开关键，仪器自检完毕发出一鸣音，显示”0 0”便可以进行测量操作。 3 将探头平稳、垂直地放落在被测件上，待仪器鸣叫一声，显示器上便显示出涂层的厚度值。然后再 抬头高探头，重新落下，进行下一次测量这样反复5—10次，就可以完成一个测量序列。 4 在测试过程中，如因探头放置不平稳，或探头太脏等原因，显示出明显的错误值，此时应按下清除 键，将错误值删除。否则将影响整体测试结果的准确性。 5 按统计键5次，可顺次显示出以下统计数： MEAN—平均值；MAX—最大值；MIN—最小值；S—标准偏差；N—测量次数。

6 统计程序完成后，可接着进行下一次测量序列。若需要获得更多的连续统计数据，只要按两次上调 键时，接着再进行测量，则测量出的数据和以前的数据是连续累加的。 7 在测量过程中，若误按校准键时，可再连续按2次该键以便消除校正状态。 若误按校后又进行了测量，可先用清除键将前次的数字删去（按一次清除键则删除前一个数字，连按二 次则将前面的全部误测数 8 在测试过程中，如果出现负数值，要用清除键将其删去。如连续出现负数，要清洁好探头与被测物面。 9 当探头不能测量或测试数字明显出错时，应检查探头附近有无整流器、变压器、电焊机、硅机等易 产生强电磁的设备。强电磁会影响测试结果，此时应按下调键，显示器显示一下“F”后接着显示磁强 强度，数字越接近0，表示磁场越强，空白表示无磁场。然后再按一下下调键仪器便回到正常测量状态。 10 仪器（尤其是探头）应避免冲击、打击和污损，应保

离子色谱仪的原理及操作

目前离子色谱法已经在能源、环境、冶金、电镀、半导体、水文地质等方面广泛应用，并且开始进入与生命科学有关的分析领域，我国从20世纪80年代初期引进离子色谱仪，开始了离子色谱的应用研究工作，同时也开始了仪器的研制，目前已能生产离子色谱仪，随着离子色谱技术的发展，离子色谱仪在我国的应用将日益普及。 一、工作原理及构造 离子色谱仪分析过程由进样（样品环进样）、分离（离子交换柱分离）、抑制（抑制器）、检测系统和数据系统五部分组成。 二、基本操作步骤 1、开机前的准备：打开实验室空调，根据样品的检测条件和色谱柱的条件配置所需淋洗液和再生液。 2、开机：依次打开打印机、计算机进入操作系统；打开氮气钢瓶总阀，调节钢瓶减压阀分压表指针为0.2MPa左右，再调节色谱主机上的减压表指针为5psi左右，确认离子色谱仪与及计算机数据线连接正常，打开离子色谱主机电源；点击开始、程序、Chromeleon、sever monitor、双击桌面上工作站程序、双击安装目录下离子色谱操作控制面板；操作控制面板打开后选中connected使软件与离子色谱仪联动起来，打开泵头废液阀排除泵和管路里的气泡，关闭泵头废液阀，开泵启动仪器，查看基线，待基线稳定后方可进样分析 3、样品分析：建立程序文件；建立方法文件；建立样品表文件；加样品到自动进样器或手动进样；启动样品表；若是手动进样，按系统提示逐个进样分析。 4、数据处理：建立标准曲线；打印标准曲线；打印待测样品分析报告 5、关机：关闭泵，关闭操作软件；关闭离子色谱主机电源；关闭氮气钢瓶总阀并将减压表卸压；关闭计算机、显示器和打印机电源 三、注意事项 1、以外情况处理：仪器工作中遇到突然停电时，应该立即关闭离子色谱仪主机电源开关，然后关闭计算机、显示器和打印机电源 2、维护和保养：保持泵头无气泡，每周至少开一次机，若长时间未开机，请在开泵之前排除泵头气泡（先逆时针旋松泵头废液阀排气泡，观察管路，无气泡后拧紧泵头废液阀，但不要过紧。） 3、系统更换 将原系统卸下后，原来接柱的地方用黑色两通接头链接，将淋洗液瓶盖管路放入盛有去离子水的容器中，开泵冲洗，用PH试纸检测流出的废液至中性，关泵再将淋洗液瓶盖管路放入所要更换的淋洗液瓶中，开泵冲洗，用PH试纸检测流出的废液至该淋洗液的酸碱性，最后关泵，卸去刚才所接的两通管，将所需要更换的系统按其指示标签及管路标签正确连接。 4、样品处理 含有强氧化性物质、油性水不溶物、高浓度有机溶剂等的样品不宜进样分析，尽量避免样品中的水不溶物进入柱子导致柱头堵塞或柱效能下降，应使用滤膜除去杂质，最好再使用C28预处理小柱除去有机物，以延长柱子的使用寿命。

涂层测厚仪检定

OU3500 涂层测厚仪检定 使用说明书

基本概述 涂层测厚仪又叫电镀涂层测厚仪、涂层厚度测试仪、便携式涂层测厚仪、高精度涂层测厚仪、涂层检测仪、涂层厚度测试仪、涂层测厚仪价格、涂层测厚仪厂家、磷化膜检测仪、磷化膜测试仪、磁阻法磷化膜测厚仪、磁阻法镀层测厚仪、磁性磷化膜测厚仪、磁阻法测厚仪、磁式测厚仪、磁感应测厚仪、磁性覆层测厚仪、磁性镀层测厚仪、磁性涂层测厚仪价格、油漆镀层测厚仪、油漆覆层测厚仪、油漆涂层测厚仪厂家、油漆涂层测厚仪价格、油漆涂层测试仪、油漆涂层检测仪、电泳镀层测厚仪、电泳漆覆层测厚仪、电泳漆漆膜测厚仪、电泳漆厚度测试仪、涂镀层测量仪、电镀层测试仪、防腐层检测仪、涂镀层测试仪、涂镀层测量仪、油漆测厚仪价格、油漆层测厚仪、油漆膜厚仪、钢结构油漆层测厚仪、钢板油漆测厚仪、钢管油漆测厚仪、油漆防腐层测厚仪、油罐防腐层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

附表一： 功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头（F1/N1)：0猇1250μm 测量精度±（3%H+1）μm（零点校准）±（1%H+1）μm（二点校准） 统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计500个测量值 零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√ 标准配置主机、F1探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 主机、N1探头、 基体、校准片、说 明书、包装箱 F1(N1)探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 选配件F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、 通讯软件

超声波测厚仪操作规程详细版

文件编号：GD/FS-4677 （操作规程范本系列） 超声波测厚仪操作规程详 细版 The Daily Operation Mode, It Includes All The Implementation Items, And Acts To Regulate Individual Actions, Regulate Or Limit All Their Behaviors, And Finally Simplify Management Process. 编辑：_________________ 单位：_________________ 日期：_________________

超声波测厚仪操作规程详细版 提示语：本操作规程文件适合使用于日常的规则或运作模式中，包含所有的执行事项，并作用于规范个体行动，规范或限制其所有行为，最终实现简化管理过程，提高管理效率。，文档所展示内容即为所得，可在下载完成后直接进行编辑。 1、仪器使用前，装入电池，检查电源电压是否符合要求。 2、输入正确的声速值，并对仪器进行校准。 3、使用时，应手握仪器使探头与工件之间良好耦合。不得将仪器置于地面或其它硬部件上，严禁在打开后盖状态下使用。 4、在使用过程中应随时观察电源显示情况，不得在低压下使用，电池能量不足及时更换。 5、测材料中超声波声速时，先输入材料厚度，然后按下声速键，即可显示声速值。 6、测试完毕，再次对仪器进行校准，以确定检

测过程中仪器是否处于正常状态。 7、仪器使用完毕后，关闭电源，小心拆卸附件，清理干净并装入仪器箱内。 8、仪器长期不用，应将电池取出，以免漏液腐蚀元件。 可在这里输入个人/品牌名/地点 Personal / Brand Name / Location Can Be Entered Here

液相色谱仪的工作原理

液相色谱仪的工作原理 高效液相色谱法是在经典色谱法的基础上，引用了气相色谱的理论，在技术上，流动相改为高压输送（最高输送压力可达4.9107Pa）;色谱柱是以特殊的方法用小粒径的填料填充而成，从而使柱效大大高于经典液相色谱（每米塔板数可达几万或几十万）；同时柱后连有高 高效液相色谱法是在经典色谱法的基础上，引用了气相色谱的理论，在技术上，流动相改为高压输送（最高输送压力可达4.9′107Pa）;色谱柱是以特殊的方法用小粒径的填料填充而成，从而使柱效大大高于经典液相色谱（每米塔板数可达几万或几十万）；同时柱后连有高灵敏度的检测器，可对流出物进行连续检测。特点 1．高压：液相色谱法以液体为流动相（称为载液），液体流经色谱柱，受到阻力较大，为了迅速地通过色谱柱，必须对载液施加高压。一般可达150～ 350×105Pa。 2. 高速：流动相在柱内的流速较经典色谱快得多，一般可达1～10ml/min。高效液相色谱法所需的分析时间较之经典液相色谱法少得多，一般少于 1h 。 3. 高效：近来研究出许多新型固定相，使分离效率大大提高。 4.高灵敏度：高效液相色谱已广泛采用高灵敏度的检测器，进一步提高了分析的灵敏度。如荧光检测器灵敏度可达10-11g。另外，用样量小，一般几个微升。 5.适应范围宽：气相色谱法与高效液相色谱法的比较：气相色谱法虽具有分离能力好，灵敏度高，分析速度快，操作方便等优点，但是受技术条件的限制，沸点太高的物质或热稳定性差的物质都难于应用气相色谱法进行分析。而高效液相色谱法，只要求试样能制成溶液，而不需要气化，因此不受试样挥发性的限制。对于高沸点、热稳定性差、相对分子量大（大于 400 以上）的有机物（这些物质几乎占有机物总数的 75% ～ 80% ）原则上都可应用高效液相色谱法来进行分离、分析。据统计，在已知化合物中，能用气相色谱分析的约占20%，而能用液相色谱分析的约占70～80%。 高效液相色谱按其固定相的性质可分为高效凝胶色谱、疏水性高效液相色谱、反相高效液相色谱、高效离子交换液相色谱、高效亲和液相色谱以及高效聚焦液相色谱等类型。用不同类型的高效液相色谱分离或分析各种化合物的原理基本上与相对应的普通液相层析的原理相似。其不同之处是高效液相色谱灵敏、快速、分辨率高、重复性好，且须在色谱仪中进行。 高效液相色谱法的主要类型及其分离原理 根据分离机制的不同，高效液相色谱法可分为下述几种主要类型： 1 ．液—液分配色谱法(Liquid-liquid Partition Chromatography)及化学键合相色谱(Chemically Bonded Phase Chromatography)

漆膜测厚仪

OU3500 漆膜测厚仪 使用说明书

基本概述 漆膜测厚仪又叫干漆膜测厚仪、干油漆漆膜测厚仪、漆膜测厚仪价格、油漆漆膜涂层测厚仪、漆膜厚度测厚仪、漆膜厚度检测仪、干漆膜测厚仪价格、漆膜涂层测厚仪、油漆漆膜涂层测厚仪、玻璃鳞片防腐层测厚仪、玻璃鳞片涂层测厚仪、玻璃片涂层测厚仪、防腐磷片测厚仪、电镀镀层测厚仪、热镀锌锌层测厚仪、镀锌层测厚仪、镀锌厚度检测仪、电镀涂层测厚仪、镀涂层测厚仪价格、两用型涂层测厚仪、镀层涂层测厚仪、涂层厚度测厚仪、便携式涂层测厚仪、数字式涂层测厚仪、两用涂层测厚仪、油漆涂层测厚仪、铁基/非铁基涂层测厚仪、电子涂层测厚仪、非磁性涂层测厚仪、涂层镀层测厚仪、高精度涂层测厚仪、表面涂层测厚仪、漆膜厚度测量仪是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。

附表一： 功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头（F1/N1)：0 1250μm 测量精度±（3%H+1）μm（零点校准）±（1%H+1）μm（二点校准） 统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计500个测量值 零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√ 标准配置主机、F1探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 主机、N1探头、 基体、校准片、说 明书、包装箱 F1(N1)探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 选配件F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、 通讯软件

测厚仪

测厚仪 顾名思义，测厚仪，则放射源的选择只与被测物体的厚度有关。 其原理为： 射线在空气中碰撞其他粒子会产生能力转换，造成辐射强度变弱。不同的材质及不同的穿透距离，对射线强度的衰减能力不同。根据穿透过来的射线强度及阻隔材质，可以计算阻隔材质的厚度。 如果要选择放射源，需要知道所要检测的材质对此类射线的最大衰减系数，此类材质生产的最大厚度，并留出一定的余量。要安全与检测兼顾 β射线测厚仪 β射线测厚仪利用β射线穿透被测材料时，β射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度. 测量精度 测量厚度的±0.1% 测量范围 0.01mm—8.0mm 静态精度 ±0.1%或者±0.1微米 基本信息 β射线测厚仪工作原理、结构特性: β射线测厚仪利用β射线穿透被测材料时，β射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度. 适用范围：生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，β射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生 产过程中对板材厚度进行自动控制。 测厚仪系统构成

■ 用户操作终端 触摸屏用户操作终端包括一个专用的计算机和高分辨率的彩色显示器。可显示整个系统 的检测、设定、偏差值；用户通过软件显示页面可直接控制和操作测厚仪。主操作页显示正常操作所需的各种数据。维护页面显示系统正常工作时各种参数高压反馈、管电流、灯丝电流、射线源温度等。一些与用户质量有关的重要数据如厚差曲线、厚度与长度关系曲线均可打印。技术员能很容易地通过操作终端的报表打印功能，打印出来以显示可用信息。 ■ 冷却系统 本系统配备有专用冷却装置，该装置的关键部件，压缩机组均采用进口原装组件，具有 可靠性高、噪音小、控温精度高，经久耐用等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。延长 了关键部件的使用寿命。 ■ β射线发射源及接收检测头 采用β射线管和高压电源。β射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却，高压等级根据所造型号不同有所区别，加上传感器具有的温度自动保护与报警功能，提高了β射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。 检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，延长系统的使用寿命。 ■ 主控制柜 主控制柜是一个自由立式控制台，是个系统的心脏。 根据产品型号、控制系统配置不同： P型采用S7-400PLC作为控制计算中心； G型采用工控机为控制计算中心。 控制柜负责采集和处理从前置放大器传来的信号，负责测厚仪数据处理和与轧机AGC系统的接口信号输出，为轧机AGC系统提供测厚数据及控制信号。控制柜还提供整个系统稳定的电源和现场显示器的显示数据。 测厚仪各部件功能 1）全量程标定功能：