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温控仪工作原理

温控仪工作原理
温控仪工作原理

涂层测厚仪操作规程

涂层测厚仅操作规程

一、原则 涂层测厚仪是常见的一种设备涂层检测工具,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻,且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统/零点/ 两点校准等特点,涂层测厚仪采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。二、工作原理 我公司使用的涂层测厚仪为MC-2000A型,该仪器采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂(镀)层厚度。 技术参数 三 、 1、测量范围:0~1200um 2 测量误差:<3%±1um 、 3、最小示值:1um 4 显示方式: 4 位液晶数字显示 、 5、主要功能: (1.测量:单探头全量程测厚 (2) . 存储、删除:可存入600 个测量数据,可以删除测量中的单个可疑数据,也可以删除存储区内的所有数据。 (3) . 读:读出已存入的测量数据 (4) . 统计:设有三个统计量,平均值最大值最小值 (5) . 校准:可进行零点校准、两点校准及系统校准 (6) . 电量:具有欠压显示功能 (7) . 蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示 (8) . 打印:可打印测量值,选配微型打印机 (9) . 关机:具有自动关机和手动关机两种方式 6、使用环境温度:0C ~+40C 相对湿度:不大于90%

测厚仪原理-测厚仪工作原理【详解】

测厚仪原理 内容来源网络,由“深圳机械展(11万㎡,1100多家展商,超10万观众)”收集整理!更多cnc加工中心、车铣磨钻床、线切割、数控刀具工具、工业机器人、非标自动化、数字化无人工厂、精密测量、3D打印、激光切割、钣金冲压折弯、精密零件加工等展示,就在深圳机械展. 测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。测厚仪可以用来在线测量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。目前常见的测厚仪有γ射线、β射线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。 用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。 超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射,测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间,即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用最广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度,也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的,体积与小型半导体收音机相近,厚度值的显示多是数字式的。对于钢材,最大测定厚度达2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之间。 磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时,测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而

XMT系列智能数显温控仪使用说明书

XMT-系列智能数显温控仪使用说明书 XMT-7000系列智能数显温控仪使用说明书 操作注意 ·断电后方可清洁仪器。 ·清楚显示器上的污渍请用软布或绵纸。 ·显示器易被划伤,禁止用硬物擦洗过触及。 ·禁止用螺丝刀或圆珠笔等硬物体操作面板按键,否则会损坏或划伤按键。 一、主要技术指标 1.1 输入 热电偶S R B K N E J T 热电阻Pt100 JPt100 Cu50 1.2 基本误差: 输入满量程的±0.5%±1个字 1.3 分辨率:1℃0.1℃ 1.4 采样周期:3次/sec,按需可达到8次/sec 1.5 报警功能:上限,下限,上偏差,下偏差上下限,上下偏差,

范围内及待机状态报警 1.6 报警输出:继电器触点AC250V 3A(阻性负载) 1.7 控制方式:模糊PID控制、位式控制 1.8 控制输出:继电器触点(容量:220VAC3A) SSR驱动电平输出(DC0/5V) 过零触发脉冲:光偶可控硅输出1A 600V 移相触发脉冲:光偶可控硅输出1A 600V 1.9 电源电压: AC85-264V(50/60Hz) 21.6-26.4V AC(额定24V AC) 21.6-26.4V DC(额定24V DC) 1.10 工作环境:温度0-50℃,湿度<85%RH的无腐蚀性场合,功耗<5VA 1.11 面板尺寸:80×160 96×96 72×72 48×96 96×48 48×48 二、产品型号确认 产品代码: X M T ①- 7 ②③④- ⑤⑥~⑦ ①仪表面板尺寸(高×宽mm) S:160×80 E:96×48 F:48×96 A:96×96 G:48×48 D:72×72 空:80×160

旋光仪使用方法

旋光仪使用方法: (1)将旋光仪接于220V交流电源。开启电源开关,约5分钟后钠光灯发光正常,就可开始工作。 (2)检查旋光仪零位是否准确,即在旋光仪未放试管或放进充满蒸馏水的试管时,观察零度时视场亮度是否一致。如不一致,说明有零位误差,应在测量读数中减去或加上该偏差值。或放松度盘盖背面四只螺钉,微微转动度盘盖校正之(只能校正0.5°左右的误差,严重的应送制造厂检修)。 (3)选取长度适宜的试管,注满待测试液,装上橡皮圈,旋上螺帽,直至不漏水为止。螺帽不宜旋得太紧,否则护片玻璃会引起应力,影响读数正确性。然后将试管两头残余溶液揩干,以免影响观察清晰度及测定精度。 (4)测定旋光读数:转动度盘、检偏镜、在视场中觅得亮度一致的位置,再从度盘上读数。读数是正的为右旋物质,读数是负的为左旋物质。 (5)采用双游标读数法可按下列公式求得结果Q=(A+B)/2式中:A和B分别为两游标窗读数值。如果A=B,而且度盘转到任意位置都符合等式,则说明旋光仪没有偏心差(一般出厂前旋光仪均作过校正),可以不用对项读数法。(6)旋光度和温度也有关系。对大多数物质,用λ=5893A°(钠光)测定,当温度升高1℃时,旋光度约减少0.3%。对于要求较高的测定工作,最好能在20℃±2℃的条件下进行。 旋光仪的维护: (1)旋光仪应放在通风干燥和温度适宜的地方,以免受潮发霉。 (2)旋光仪连续使用时间不宜超过4小时。如果使用时间较长,中间应关熄10~15分钟,待钠光灯冷却后再继续使用,或用电风扇吹打,减少灯管受热程度,以免亮度下降和寿命降低。 (3)试管用后要及时将溶液倒出,用蒸馏水洗涤干净,揩干藏好。所有镜片均不能用手直接揩擦,应用柔软绒布揩擦。

超声波测厚仪操作规程修订稿

超声波测厚仪操作规程 WEIHUA system office room 【WEIHUA 16H-WEIHUA WEIHUA8Q8-

超声波测厚仪操作规程 一.准备工作 1.超声波测厚仪属于国家强检的计量器具,使用前应检查仪器是否在有效检定期内,确认是否处于正常工作状态。 2.装入电池,并将探头插入主机探头插座中,按ON键开机,检查电源电压是否符合要求。 二.操作步骤 1.厚度测试 按CAL键进入声速状态,用▲或▼键调整到被测材料的声速值。 按PRB键进入校准状态,在随机试块上涂上耦合剂,将探头与随机试块耦合,屏幕显示的横线将逐条消失,直到屏幕显示随机试块的实际厚度值即校准完毕。 将耦合剂涂于被测处,手握仪器使探头与工件之间良好耦合,屏幕上将显示被测材料的厚度。 如耦合标志闪烁或不出现说明耦合不好,应重新校准后再测试。 2.声速测试 用游标卡尺或千分尺测量相关试件,准确读取其厚度值。 按PRB键进入校准状态,在随机试块上涂上耦合剂,将探头与随机试块耦合,屏幕显示的横线将逐条消失,直到屏幕显示随机试块的实际厚度值即校准完毕。

将探头与已知厚度试件耦合,直到显示一厚度,用▲或▼键将显示值调整到实际测试的厚度值。 按CAL键仪器即可显示出被测材料的声速。 三.注意事项 1.在测试过程中应随时观察仪器电源显示情况,不得在低压下使用,电池能量不足应及时更换。同时不得将仪器置于地面或其它硬部件上,严禁在打开后盖状态下使用。 2.测试完毕,应再次对仪器进行校准,以确定测试过程中仪器是否处于正常状态。 3.严格按照厂家说明书使用和保养仪器。 4.使用完毕后,将探头从主机探头插座上拔出,同时将电池取出。并用干净的卫生纸或抹布小心将探头、仪器擦试干净后,装入箱内。

温控仪说明书

YSZ88-D温控仪 产品操作手册 武汉国电西高电气有限公司

尊敬的用户: 感谢您购买本公司YSZ88-D温控仪。在您初次使用该产品前,请您详细地阅读本使用说明书,将可帮助您熟练地使用本仪器。 我们的宗旨是不断地改进和完善公司的产品,如果您有不清楚之处,请与公司售后服务部联络,我们会尽快给您答复。 注意事项 由于输入输出端子、测试柱等均有可能带电压,您在插拔测试线、电源插 座时,会产生电火花,小心电击,避免触电危险,注意人身安全! ●请勿在易爆环境中操作! ●请勿在潮湿环境下操作! ●防止火灾或人身伤害! ●保持产品表面清洁和干燥。 ●只有合格的技术人员才可执行维修! 本手册内容如有更改,恕不通告。没有武汉国电西高电气有限公司的书面 许可,本手册任何部分都不许以任何(电子的或机械的)形式、方法或以任何 目的而进行传播。

目录 一、概述 (4) 二、控制面板介绍 (5) 三、操作 (6) 四、油杯简介 (6)

YSZ88-D型温控仪使用说明书 一、概述 YSZ88-D型温控仪是专为介损油杯配置的温度控制装置。采用最新的高频感应加热方式。加热时,油杯周围的感应线圈在油杯的周围产生一高频交变磁场,油杯就是利用其金属部分在此磁场作用下形成无数涡流发热。因而该加热方式加热速度快,加热均匀,同时还有非接触加热等特点。在油杯的底部集成了一个经激光校准的数字温度传感器,在全温度范围内,精度特别高,且精度稳定。 仪器内部采用单片机控制,其温度采用PID超前控制算法,保证加热、恒温过程可控、稳定。仪器内部的功率部分进行了温度保护,当温度高于45℃时自动打开散热风扇进行散热。

自动旋光仪标准操作规程

第 1 页 共 2 页 开封明仁药业有限公司GMP 管理文件 文件编码 SOP-QC-0107-02 共2页 文件名称 WZZ-2A 型自动旋光仪标准操作规程 颁发部门 起草: 部门: 日期: 质量部 审核: 部门: 日期: 审核: 部门: 日期: 批准: 部门: 日期: 生效日期: 分发部门:质量部 修订历史: 修订时间 文件编码 修订原因 2009年12月 SOP-QC-0107-01 格式修订 2011年12月 SOP-QC-0107-02 格式修订,增加修订历史 一、目 的: 建立WZZ-2A 型自动旋光仪的标准操作规程,确保正确使用该仪器。 二、适用范围:适用于WZZ-2A 型自动旋光仪的操作。 三、责 任 人:检验员 四、正 文: 4.1 操作前的准备:如测定对温度有严格要求的供试品,在测定前应将仪器及供试品置规定温度的恒温室内至少2小时,使温度恒定。未接通电源前检查样品室内应无异物,电源开关和示数开关应放在关的位置,为了便于钠光灯起辉,应将钠光灯置于交流电路处,并检查仪器旋转位置是否合适。 4.2 接通电源:将仪器电源插头插入220V 交流电源插座上,并接好地线,使过1KV 电子稳压器使电压达到规定电压值,便于钠光灯的起辉。开启电源开关,钠光灯经辉光放电,瞬时起辉点燃,但发光不稳。至少经15分钟,等钠光灯呈现稳定的橙黄色光后,将钠光灯开关板向直流,如钠光灯熄灭,可能是预热时间不够,可将直流开关上下重复扳动1-2次,使点燃。测定时应使钠光灯在直流下点燃。 4.3 测定操作: 4.3.1 开启测量开关,机器处于待测量状态。 4.3.2 将装有蒸馏水或其他空白溶剂的试样管放入样品室,盖上盖子,待示数稳定后,按清零按钮,试管中若有气泡,应先让气泡浮在凸颈处。试管安放时应注意标记的位置和方向。

锡膏测厚仪操作规程

锡膏测厚仪操作规程 、目的: 测量SMT印刷工艺锡膏高度、体积;衡量印刷机工艺参数设置是否正确; 提供印刷工序可信的SPC数据,证实印刷工艺的稳定性。 二、适用范围: SMT技术人员。 三、操作步骤: 1、检查电脑与测量系统连接良好,电源连接正常。 2、开启电脑主机及测量系统。 3、当操作系统正常启动后,用鼠标双击桌面ASM图标,开启测试程序。 4、将待测PCB板放在工作台适当位置,找到要测试点,调节光源及镜头使图 像清淅。开启激光线并旋转调整机构,调整激光本和水平框線重叠达到适当焦距。 5、上下移动调整杆,当调整杆移到激光线反射光线中间处,可进行直接测量。 6、冻结影像 [冻结影像]键,冻结影像,影像转换 7、窗口设定/单点量测设定检测窗口或以以鼠标点出两点,两点定出位移量作成点 量测纪录表 & 检测参数设定T-High / T-Low / SMA /SMD 9、显示与否Check Box [Display] 10、Open/Close Image Check Box [Open]/[Close]

T-Low = 100~150, T-High=180~220 四、 关机 结束STRONG 关闭操作窗口,退出控制软件,关闭电脑主机。 五、 注意事项 非指定人员严禁操作此机器,不可随意去触动机器各部件。 六、 保养事项 1、 使用完毕后要把鼠标、键盘摆放在规定的位置,台面上要保持整洁,不可 有杂物。 2、 每班须对机器的表面进行清洁,除去灰尘等其它异物。 7.使用表单 设备履历卡 设备保养点检记录表 设备维修申请单 仪器、设备报废申请单 12、面积计算 13、 显示结果 结果键/点量测纪录表/厚度分布结果 14、打印结果 打印/点量测纪录表/厚度分布结果/影像 15、储存结果 档案 储存点量测结果/工作文件/影像文件

椭偏测厚仪主要参数及工作原理

“椭偏测厚仪”有关情况介绍 一、引言: 1、椭偏法是一种测量光在样品表面反射后偏振状态改变的广西方 法,它可以同时测得样品薄膜的厚度和折射率。由于此法具有非接触性、非破坏性以及高灵敏度、高精度等优点,鼓广泛用于薄膜厚度及材料的光学常数的测定。 2、椭偏法测量数据可在短时间内快速采集,可对各类薄膜的生长和 工艺过程进行实时监测,故已成为半导体行业重要的在线监测设备之一。 3、纳米技术是当今科技的发展热点,能精确测得纳米级薄膜厚度和 折射率的椭偏测量技术受到人们的高度重视和关注。 二、椭偏测厚仪发展概况: 1、椭偏测厚仪在我国起步较晚,70年代我国自行设计生产的椭偏 测厚仪只有“TP-77型椭偏测厚仪”和“WJZ型椭偏测厚仪”。基本上是手动测量,仅配一种入射角和衬底材料的薄膜(n,d)~(Ψ,Δ)函数表(如SiO2,70°入射角,波长632.8nm)。 2、90年代末,华东师范大学研制并生产了“HST-1型”和“HST-2 型”多功能智能椭偏测厚仪。该仪器使用计算机技术,利用消光法自动完成,测量薄膜的厚度和折射率。 3、进入二十一世纪,国内生产自动椭偏测厚仪的厂家逐渐多起来。 如:天津港东科技发展有限公司生产的“SGC-1型椭圆偏振测厚仪”、“SGC-2型自动椭圆偏振测厚仪”。天津拓普仪器有限公司生产的

“TPY-1型椭圆偏振测厚仪”和“TPY-2型自动椭圆偏振测厚仪” 等。 现将目前国内生产的几种自动椭圆偏振测厚仪,其性能指标等参数列表如下,供参考: 国内几种“椭圆偏振测厚仪”的性能参数

三、 消光法测量薄膜和折射率的计算公式: 1. 在椭偏法测量中,为了简便,通常引入两个物理量——Ψ,Δ来 描述反射光偏振态的变化,它们与总反射系数p R (p 分量,在入射面内),s R (s 分量,在垂直于入射面内)之间的关系,定义如下: tan Ψi e ?=p R /s R ————————— 偏振方程 ○ 1 式中:Ψ,Δ —— 椭偏参数(均为角度度量) Ψ —— 相对振幅衰减 Δ —— 相位移动之差 在固定实验条件下:~ 1n 和~ 3n 为已知,则Ψ=Ψ(d ,~ 2n ), Δ=Δ(d ,~ 2n ) 2122121i p p p i p p r r e R r r e δδ --+?= +??,2122121i s s s i s s r r e R r r e δ δ --+?=+?? 式中:2δ——相邻两光束的相位差,设膜厚为d ,光波长为λ, 则有: 122~~~22221122()d n Cos d n n Sin ππ δ??λλ =???=??-?——— ○2 若:P-起偏角,A-检偏角 则:Ψ=A ,Δ=k ×180°+90°-2p (当0°≤p ≤135°时,k=1;当 135°≤p ≤180°时,k=3) 综上:通过测得起偏角P 和检偏角A ,即可求得Ψ,Δ,还可反求 d ,~ 2n 。 1) 对于透明膜,~ 2n 只有实部,上述椭偏方程(复数方程)只有d ,

智能型数字显示温度控制器使用说明书

XMT-2000 智能型数字显示温度控制器使用说明书 此产品使用前,请仔细阅读说明书,以便正确使用,并妥善保存,以便随时参考。 操作注意 为防止触电或仪表失效,所有接线工作完成后方能接通电源,严禁触及仪表内部和改动仪表。 断电后方可清洗仪表,清除显示器上污渍请用软布或棉纸。显示器易被划伤,禁止用硬物擦拭或触及。 禁止用螺丝刀或书写笔等硬物体操作面板按键,否则会损坏或划伤按键。 1.产品确认 本产品适用于注塑、挤出、吹瓶、食品、包装、印刷、恒温干澡、金属热处理等设备的温度控制。本产品的PID参数可以自动整定,是一种智能化的仪表,使用十分方便,是指针式电子调节器、模拟式数显温控仪的最佳更新换代产品。本产品符合Q/SQG01-1999智能型数字显示调节仪标准的要求。 请参照下列代码表确认送达产品是否和您选定的型号完全一致。 XMT□-□□□□-□ ①②③④⑤⑥ ①板尺寸(mm)3:时间比例(加热) 5:下限偏差报警 省略:80×160(横式) 4:两位PID作用(继电器输出) 6:上下限偏差报警 A:96×96 5:驱动固态继电器的PID调节⑤输入代码 D:72×72 6:移相触发可控硅PID调节 1:热电偶 E:96×48(竖式) 7:过零触发可控硅PID调节 2:热电阻 F:96×48(横式) 9:电流或电压信号的连续PID调节 W:自由信号 G:48×48 ④报警输出⑥馈电变送输出 ②显示方式 0:无报警 V12:隔离12V电压输出 6:双排4位显示 1:上限绝对值报警 V24:隔离24V电压输出 ③控制类型 2:下限绝对值报警 GI4:隔离4-20mA变送输出 0:位式控制3:上下限绝对值报警 2:三位式控制 4:上限偏差报警 2.安装 2.1 注意事项(5)推紧安装支架,使仪表与盘面结合牢固。 (1)仪表安装于以下环境 (2)大气压力:86~106kPa。2.3 尺寸 环境温度:0~50℃。 相对湿度:45~85%RH。 (3)安装时应注意以下情况 H h 环境温度的急剧变化可能引起的结露。 腐蚀性、易燃气体。 直接震动或冲击主体结构。 B l 水、油、化学品、烟雾或蒸汽污染。 b b’ 过多的灰尘、盐份或金属粉末。 空调直吹。阳光的直射。 热辐射积聚之处。 h’ 2.2 安装过程(1)按照盘面开孔尺寸在盘面上打出用来安装单位:mm 仪表的矩形方孔。型号 H×B h×b×1 h’×b’ (2)多个仪表安装时,左右两孔间的距离应大 XTA 96×96 92×92×70 (92+1)×(92+1) 于25mm;上下两孔间的距离应大于30mm。 XTD 72×72 68×68×70 (68+1)×(68+1) (3)将仪表嵌入盘面开孔内。 XTE 96×48 92×44×70 (92+1)×(44+1) (4)在仪表安装槽内插入安装支架 XTG 48×48 44×44×70 (44+1)×(44+1) 3.接线 3.1接线注意 (1)热电偶输入,应使用对应的补偿导线。 (2)热电阻输入,应使用3根低电阻且长度、规格一致的导线。 (3)输入信号线应远离仪表电源线,动力电源线和负荷线,以避免引入电磁干扰。 3.2接线端子 4.面板布置 ①测量值(PV)显示器(红) ?显示测量值。 ?根据仪表状态显示各类提示符。 ②给定值(SV)显示器(绿) ?显示给定值。 ?根据仪表状态显示各类参数。 ③指示灯 ?控制输出灯(OUT)(绿)工作输出时亮。 ?自整定指示灯(AT)(绿) 工作输出时闪烁。 ?报警输出灯1(ALM1)(红)工作输出时亮。 ?报警输出灯2(ALM2)(红)工作输出时亮。 ④SET功能键 ?参数的调出、参数的修改确认。 ⑤移位键 ?根据需要选择参数位,控制输出的ON/OFF。 ⑥▲、▼数字调整键 ?用于调整 数字,启动/退出自整定。

涂层测厚仪操作规程

涂层测厚仪操作规程 一、技术参数 ●采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度; ●测量范围:(0~1250)μm(F1、N1测头),F10测头可达10mm; ●分辨率:0.1μm(F1、N1测头) ●示值精度:±(3%H+1)μm;H为被测涂层厚度 ●显示方法:高对比度的段码液晶显示,高亮度EL背光; ●存储容量:可存储20组(每组最多50个测量数值)测量数据 ●单位制:公制μm、英制(mil)、可自由转换 ●工作电压:3V(2节5号碱性电池) ●持续工作时间:大于200小时(不开背光灯) ●通讯接口:USB1.1,可与PC机连接、通讯 二、操作流程图 开启仪器——校准仪器——进行测量——关闭仪器 三、操作步骤 基本测量步骤 1.准备好待测工件; 2.将测头插头插入主机的测头插座中; 3.仪器开机;

4.判断是否需要校准仪器。如果需要,选择适当的校准方法进行校准; 5.测量。将测头垂直接触工件的测量面,并轻压测头的加载套,当测头与被测工件表面接触稳定后,随着一声蜂鸣声,屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后,测量标识消失,厚度值保持。 6.仪器关机 四、操作注意事项 1.如果在测量中测头放置不稳,会引起测量值与实际值偏差较大; 2.如果已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差范围内; 3.仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值; 4.为使测量更加精确,可在一个点多次测量,并计算其平均值作为最终的测量结果; 5.显示测量结果后,一定要提起测头至距离工件10mm以上,才可以进行下次测量。 五、维护及注意事项 1.应避免仪器及测头受到强烈震动; 2.避免仪器置于过于潮湿的环境中; 3.插拔测头时,应捏住活动外套沿轴线用力,不可旋转测头,以避免损坏测头电缆芯线。 4.油、灰尘的附着会使测头线逐渐老化、断裂,使用后应清除缆线

2.2、测厚仪工作原理

2.2、测厚仪工作原理 对于X射线,在其穿透被测材料后,射线强度I的衰减规律为 式中 I0———入射射线强度; μ———吸收系数; h———被测材料的厚度。 当μ和I0一定时,I仅仅是板厚h的函数,所以测出I就可以知道厚度h。 X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。 X射线源辐射强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时,系统将设定X射线的能量值,使检测能够顺利完成。 在厚度一定的情况下,X射线的能量值为常量。当安全快门打开,X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过,被测钢板将一部分能量吸收,剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收,探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度,则所吸收的X射线量也将改变,这将使探头所接收的X射线量发生变化,检测信号也随之发生相应的变化。 参考资料: 楼上没有给出公式,就等于没有说出重点,因此不要轻易的COPY。 简单的说,就是射线在穿透一定的物质时,其强度的呈指数规律衰减,这和半衰期的公式相似,

其公式为:I=Ir*EXP(-UX),Tr为初始射线强度,I为穿过物体后的射线强度,U为衰减系数,X为射线穿过的厚度。 对于不同的材料,其U值是不同的,因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言密度越大的材料其U值就越大,比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的,相应的射线阻挡能力就越强,因此在核技术实验中用作屏障,与之类似的就是铅玻璃。 射线检测仪 温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温度记录仪 分享 举报| 83 次阅读 | 0 个评论 测原理 作者:allen 1898年11月8日,伦琴发现了X射线,从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中,它以光速直线传播,本身不带电,故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中,我们知道,凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下,高速运动时,突然撞击到靶面,(会产生很大的负加速度)从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说,它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面,当电子的动能足够大时,将会把靶面原子的内层电子轰击出来,在原位置形成孔穴,而此刻,外层的电子(位于高能级)产生跃迁以填补该孔穴。同时,它将多余的能量以X射线的形式放出,形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。它通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中,一般用前者。 X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面,它的折射率很小,几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。 由韧致辐射产生的X射线,具有连续谱线。它的波长取决于电场的电压和场内的电子流。其强度表示为:

温控仪的说明书

智 能 PID 温 度 控 制 仪 操 作 说 明 书 (Ver0913) 南京优倍电气有限公司

一、产品概述 NPTJ系列智能PID温度控制仪是采用专用微处理器的多功能调节仪表,它采用开关电源和表面贴装技术,因而仪表精致小巧,性能可靠。特有的自诊断功能、自整定功能和智能控制功能,使操作者可以通过简单的操作而获得良好的效果。 二、主要技术参数 输入规格 热电偶:K、S、E、J、T、B、N等 热电阻:Pt100、Cu50等 测量精度 ±0.5%FS 响应时间 ≤0.5秒 报警功能 上限、下限、正偏差、负偏差等4种方式 报警输出 继电器触点开关输出(常开+常闭),触点容量220V AC/2A或24V DC/2A 报警精度 ±1℃或±1定义单位 控制输出规格 继电器:触点开关输出(常开+常闭),触点容量200V AC/2A或24V DC/2A SSR:驱动电压为12V DC/30mA(用于驱动SSR固态继电器) SCR:单相/三相过零(随机)触发,可触发(5~500)A的双相可控硅、2个单相可控硅反并联连接或可控硅功率模块 电压:(0~5)V、(1~5)V 电流:(0~10)mA、(4~20)mA、(0~20)mA等(输入电压≥10V) 变送范围 (0~22)mA、(0~10)V DC 变送精度 0.3级(±0.3%FS) 温度补偿 (0~50)℃数字式温度自动补偿 使用环境 环境温度:(0~50)℃ 相对湿度:≤85%,避免强腐蚀气体 供电电源 (85~265)V AC(50Hz/60Hz) 绝缘电阻 ≥100MΩ 500V DC(电源、输入、输出与地之间) 功耗 ≤10W 三、仪表面板及操作说明 1、仪表面板说明 ① OUT输出指示灯 ② RUN手动运行状态指示灯 ③ PV测量值显示窗口 ④ SV设定值显示窗口 ⑤ 设定键----------SET ⑥ 移位键---------- ⑦ 数据减少键------ ⑧ 数据增加键------△ ⑨ SP1报警指示灯 ⑩ SP2报警指示灯

圆盘旋光仪使用方法

圆盘旋光仪使用方法 Company number:【0089WT-8898YT-W8CCB-BUUT-202108】

圆盘旋光仪的使用 偏振光通过某种物质后,其振动面将以光的传播方向为轴线转过一定的角度,这种现象叫做旋光现象。旋转的角度称为旋光度。 凡能使线偏振光通过后将其振动面旋转一定角度的物质,称作旋光性物质。旋光性物质不仅限于像石英、朱砂等固体,还包括糖溶液、松节油等具有旋光性质的液体。不同的旋光性物质可使偏振光的振动面向不同方向旋转。若面对光源,使振动面逆时针旋转的物质称为左旋物质;使振动面顺时针旋转的物质称为右旋物质。 旋光度的大小除了取决于被测分子的立体结构外,,还受到待测溶液的浓度、偏振光通过溶液的厚度(即样品管的长度)以及温度、所用光源的波长、所用溶剂等因素的影响,这些因素在测定结果中都要表示出来。常用比旋光度来表示物质的旋光性。比旋光度和旋光度的关系如下: [α]λt = α C×l 式中:C -溶液的浓度(g/ml);l-旋光管的长度(dm ) 若物质是纯液体,则按下式进行计算: [α]λt = α ρ×l 式中:ρ-液体的密

图1 旋光仪构造示意图 1.底座;2.度盘调节手轮;3.刻度盘;4.目镜;5.度盘游标;6.物镜;7.检偏片;8.测试管;9.石英片;10.起偏片;11.会聚透镜;12.钠光灯光源 测量采用半荫法,钠光灯发出的光经起偏片后成为平面偏振光,在半波片(劳伦特石英片)处产生三分视场。检偏片与刻度盘连在一起,转动刻度盘调节手轮即转动检偏片,可以看到三分视场各部分的亮度变化情况,如图2所示。其中(a )、(c )为大于或小于零度视场,(b )为零度视场,(d )为全亮视场。找到零度视场,从度盘游标处装有放大镜的视窗读数。 图2 三分视场示意图 将装有一定浓度的某种溶液的试管放入旋光仪后,由于溶液具有旋光性,使平面偏振光旋转了一个角度,零度视场便发生了变化,转动度盘调节手轮,使再次出现亮度一致的零度视场,这时检偏片转过的角度就是溶液的旋光度,从视窗中的读数可求出其数值。 图3 旋光仪刻度盘和游标盘 a b c d

涡流测厚仪操作规程

编号:SM-ZD-74971 涡流测厚仪操作规程Through the process agreement to achieve a unified action policy for different people, so as to coordinate action, reduce blindness, and make the work orderly. 编制:____________________ 审核:____________________ 批准:____________________ 本文档下载后可任意修改

涡流测厚仪操作规程 简介:该规程资料适用于公司或组织通过合理化地制定计划,达成上下级或不同的人员之间形成统一的行动方针,明确执行目标,工作内容,执行方式,执行进度,从而使整体计划目标统一,行动协调,过程有条不紊。文档可直接下载或修改,使用时请详细阅读内容。 1 清除净被测物件上的污物、尘土和水。将仪器的探头擦拭干净。 2 按下开关键,仪器自检完毕发出一鸣音,显示”0 0”便可以进行测量操作。 3 将探头平稳、垂直地放落在被测件上,待仪器鸣叫一声,显示器上便显示出涂层的厚度值。然后再 抬头高探头,重新落下,进行下一次测量这样反复5—10次,就可以完成一个测量序列。 4 在测试过程中,如因探头放置不平稳,或探头太脏等原因,显示出明显的错误值,此时应按下清除 键,将错误值删除。否则将影响整体测试结果的准确性。 5 按统计键5次,可顺次显示出以下统计数: MEAN—平均值;MAX—最大值;MIN—最小值;S—标准偏差;N—测量次数。

6 统计程序完成后,可接着进行下一次测量序列。若需要获得更多的连续统计数据,只要按两次上调 键时,接着再进行测量,则测量出的数据和以前的数据是连续累加的。 7 在测量过程中,若误按校准键时,可再连续按2次该键以便消除校正状态。 若误按校后又进行了测量,可先用清除键将前次的数字删去(按一次清除键则删除前一个数字,连按二 次则将前面的全部误测数 8 在测试过程中,如果出现负数值,要用清除键将其删去。如连续出现负数,要清洁好探头与被测物面。 9 当探头不能测量或测试数字明显出错时,应检查探头附近有无整流器、变压器、电焊机、硅机等易 产生强电磁的设备。强电磁会影响测试结果,此时应按下调键,显示器显示一下“F”后接着显示磁强 强度,数字越接近0,表示磁场越强,空白表示无磁场。然后再按一下下调键仪器便回到正常测量状态。 10 仪器(尤其是探头)应避免冲击、打击和污损,应保

温控器说明书

温湿度控制器 一、产品概述 温湿度控制器,主要应用于需要对被测环境进行自动温湿度调节的场合, 用户可通过按键分别调整温湿度的上、下限值来控制加热或排风实现自动控制, 显示方式为数码管显示。 二、基本功能: 2.1 温度测量范围:-25℃~+80℃±1℃; 2.2 湿度测量范围:相对湿度RH: 0%~99% 精度±3%RH; 2.3 控制方式:温度采用上、下限和回差控制,湿度采用上、下限控制,所有参数均可设置; 2.4 输出控制类型:两组继电器触点,分别为加热和排风,每路最大负载AC250V /3A,均为有源输出。 三、技术指标: 3.1电源:AC 220V±20% 3.2 工作环境:温度:-25℃~+55℃,相对湿度:<95%RH 3.3控制设定范围:温度:0℃~80℃,相对湿度:50%RH~99%RH 3.4 本机功耗:<3W 3.5自检功能:若数码管显示“–––”,则为检测到传感器故障;若加热或排风运行过程中相应指示灯熄灭, 则检测到加热或排风故障。 四、工作原理: 4.1 温度控制: 当被测环境温度低于设定温度下限时,本仪器启动电加热设备开始加温,此时加热指示灯亮,温度升至比下限温度设定值高回差值时,即:W测≥W下限+回差,停止加温。 当被测环境温度高于设定温度上限时,本仪器启动降温设备(如风机或空调)开始降温,此时排风指示灯亮,温度降至比上限温度设定值低回差值时,即:W测≤W上限-回差,停止降温。 4.2 湿度控制: 当被测环境湿度超过设定湿度上限时。如果当前温度较高,即:W测≥W下限+(W上限-W下限)×3÷4,采用降温(或排风,视具体地区采用不同设备)抽湿,此时排风指示灯亮;抽湿过程中,如果温度低于下限温度+2度后,自动转为加热降湿;当降湿过程中温度高于上限温度-2度后,自动转为降温抽湿,直至湿度低于设定下限值为止。 当被测环境湿度超过设定湿度上限时。如果当前温度较低,即:W测<W下限+(W上限-W下限)×3÷4,采用加热降湿,此时加热指示灯亮,降湿过程中,如果温度高于上限温度-2度后,自动转为降温抽湿;当温度低于下限温度+2度后,自动转为加热降湿,直至湿度低于设定下限值为止。 4.3 手动/自动控制: 当按下“手动/自动”按键后,本控制器无条件执行加热操作;再次按下该按键,控制器切入自动控制状态。 4.4 指示灯: 面板上四个指示灯依次为:温度指示灯、湿度指示灯、加热指示灯、排风指示灯;数码管显示哪项值时对应的指示灯会亮起,加热或排风动作时相应的指示灯亮起。 4.5 固定/循环显示: 上电后产品默认显示温度值,按“上键”或“下键”切换到显示湿度值,若要自动循环显示温湿度值,

超声波测厚仪操作规程详细版

文件编号:GD/FS-4677 (操作规程范本系列) 超声波测厚仪操作规程详 细版 The Daily Operation Mode, It Includes All The Implementation Items, And Acts To Regulate Individual Actions, Regulate Or Limit All Their Behaviors, And Finally Simplify Management Process. 编辑:_________________ 单位:_________________ 日期:_________________

超声波测厚仪操作规程详细版 提示语:本操作规程文件适合使用于日常的规则或运作模式中,包含所有的执行事项,并作用于规范个体行动,规范或限制其所有行为,最终实现简化管理过程,提高管理效率。,文档所展示内容即为所得,可在下载完成后直接进行编辑。 1、仪器使用前,装入电池,检查电源电压是否符合要求。 2、输入正确的声速值,并对仪器进行校准。 3、使用时,应手握仪器使探头与工件之间良好耦合。不得将仪器置于地面或其它硬部件上,严禁在打开后盖状态下使用。 4、在使用过程中应随时观察电源显示情况,不得在低压下使用,电池能量不足及时更换。 5、测材料中超声波声速时,先输入材料厚度,然后按下声速键,即可显示声速值。 6、测试完毕,再次对仪器进行校准,以确定检

测过程中仪器是否处于正常状态。 7、仪器使用完毕后,关闭电源,小心拆卸附件,清理干净并装入仪器箱内。 8、仪器长期不用,应将电池取出,以免漏液腐蚀元件。 可在这里输入个人/品牌名/地点 Personal / Brand Name / Location Can Be Entered Here

漆膜测厚仪

OU3500 漆膜测厚仪 使用说明书

基本概述 漆膜测厚仪又叫干漆膜测厚仪、干油漆漆膜测厚仪、漆膜测厚仪价格、油漆漆膜涂层测厚仪、漆膜厚度测厚仪、漆膜厚度检测仪、干漆膜测厚仪价格、漆膜涂层测厚仪、油漆漆膜涂层测厚仪、玻璃鳞片防腐层测厚仪、玻璃鳞片涂层测厚仪、玻璃片涂层测厚仪、防腐磷片测厚仪、电镀镀层测厚仪、热镀锌锌层测厚仪、镀锌层测厚仪、镀锌厚度检测仪、电镀涂层测厚仪、镀涂层测厚仪价格、两用型涂层测厚仪、镀层涂层测厚仪、涂层厚度测厚仪、便携式涂层测厚仪、数字式涂层测厚仪、两用涂层测厚仪、油漆涂层测厚仪、铁基/非铁基涂层测厚仪、电子涂层测厚仪、非磁性涂层测厚仪、涂层镀层测厚仪、高精度涂层测厚仪、表面涂层测厚仪、漆膜厚度测量仪是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。

附表一: 功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头(F1/N1):0 1250μm 测量精度±(3%H+1)μm(零点校准)±(1%H+1)μm(二点校准) 统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计500个测量值 零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√ 标准配置主机、F1探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 主机、N1探头、 基体、校准片、说 明书、包装箱 F1(N1)探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 选配件F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、 通讯软件

智能温控仪表说明书

XMT □7000 系列智能温度调节器 使用说明书 一、概述 XMTX7000型智能温度调节器一种高性能、高可靠性的经济型智能型工业温度调节仪表,广泛应用于机械、化工、陶瓷、轻工、冶金、石化、热处理等行业的自动温度控制。 二、技术规格 ●测量精度:0.5级(±0.5%F ±1); 注:仪表对B 分度号热电偶在0-400℃范围内可进行测量,但无法保证测量精度。 ●采样速率: >2次/秒 ●调节方式:智能PID 调节,依据不同的PID 参数可组成P (二位式)、PI 、PD 、PID 调节; ●输出方式:继电器触点、电平信号、过零脉冲、模拟量等可定制。 ●报警方式:上限(或上偏差)、下限(或下偏差); ●具有手动控制功能,且手动自动无扰切换。 ●电源:190V ~240V(AC),/50-60HZ 。 ●电源消耗: ≤5W ●环境温度:0-50℃,35%~85%RH (无冷凝) ●测量范围: K (-50-+1350℃)、S (-50-+1750℃)、T (-200—+400℃)、E (-50—1000℃)、 J (-50-1000℃)、B (50—1800℃)、N (-20—1300℃)、WRe(-20-2300℃)、 CU50(-50.0-+150.0℃)、PT100(-200—+650℃)、PT100(-199.9—199.9℃), 线性输入:-1999—+9999由用户定义 ●面板尺寸:96×96mm 、160×80mm 、80×160mm 、48×96mm 、96×48mm 、72×72mm 、48×48mm ●开口尺寸:92×92mm 、152×76mm 、76×152mm 、45×92mm 、92×45mm 、68×68mm 、44×44mm 三、面板说明(72X72面板为例) 四、操作说明 仪表上电后,PV 窗口显示输入类型,SV 窗口显示量程,然后PV 窗口显示测量值,SV 窗口显示设定值。这是仪表的标准显示方式。 在标准显示方式下,仪表可能闪动交替PV 值及以下字符: HHHH :表示输入信号正超量程,可能因传感器规格错误、输入开路等引起; LLLL :表示输入信号负超量程,可能由传感器规格错误,反接,短路等引起; (一)参数设定流程 1、PV :测量值显示窗(红) 2、SV :设定值显示窗(绿) 2、 指示灯:ON/OFF:主控制开关指示 AT:自整定指示 AL1:AL1动作时点亮对应的灯(红) AL2:AL2动作时点亮对应的灯(红) 3、 按键:SET :参数设定键 ?:数据移位 ▼:数据减少键 ▲:数据增加键 输入类型显示

旋光仪的使用及注意事项

旋光仪的使用及注意事项 a.测定前应将仪器及样品置20℃士0.5℃的恒温室中或规定温度的恒温室中,也可用恒温水浴保持样品室或样品测试管恒温lh以上,特别是一些对温度影响大的旋光性物质,尤为重要。 b.未开电源以前,应检查样品室内有无异物,钠光灯源开关是否在规定位置,示数开关是 否在关的位置,仪器放置位置是否合适,钠光灯启辉后,仪器不要再搬动。 c. 开启钠光灯后,正常起辉时间至少20min,发光才能稳定,测定时钠光灯尽量采用直流供 电,使光亮稳定。如有极性开关,应经常于关机后改变极性,以延长钠灯的使用寿命。 d.测定前,仪器调零时,必须重复按动复测开关,使检偏镜分别向左或向右偏离光学零位。 通过观察左右复测的停点,可以检查仪器的重复性和稳定性。如误差超过规定,仪器应维修 后再使用。 e.将装有蒸馏水或空白溶剂的测定管,放入样品室,测定管中若混有气泡,应先使气泡浮 于凸颈处,通光面两端的玻璃,应用软布擦干。测定时应尽量固定测定管放置的位置及方向, 做好标记,以减少测定管及盖玻片应力的误差。 f.同一旋光性物质,用不同溶剂或在不同pH值测定时,由于缔合、溶剂化和解离的情况不 同,而使比旋度产生变化,甚至改变旋光方向,因此必须使用规定的溶剂。 g.浑浊或含有小颗粒的溶液不能测定,必须先将溶液离心或过滤,弃去初滤液测定。有些 见光后旋光度改变很大的物质溶液,必须注意避光操作。有些放置时间对旋光度影响较大的, 也必须在规定时间内测定读数。 h.测定空白零点或测定供试液停点时,均应读取读数三次,取平均值。严格的测定,应在 每次测定前,用空白溶剂校正零点,测定后,再用试剂核对零点有无变化,如发现零点变化 很大,则应重新测定。 i.测定结束时,应将测定管洗净晾干放回原处。仪器应避免灰尘放置于干燥处,样品室内可 放少许干燥剂防潮。 二、技术参数 1. 旋光度测定范围: -180°∽+180° 2. 度盘格值:1° 3. 度盘游标读数值:0.05° 4. 放大镜放大倍数: 4* 5. 单色光源(钠灯)波长: 589.44mm 6. 试管长度: 100mm、200mm各1支 7. 仪器使用电源:

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