VW 75174_(LV214_2010)_EN_车用连接器测试规范(传统)

Group Standard

VW 75174

Issue 2010-04

Class. No.: 69606

Descriptors:

crimp, vehicle cables, test specification, connectors, LV 214

Check standard for current issue prior to usage. The English translation is believed to be accurate.

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In case of discrepancies the German version shall govern. Numerical notation acc. to ISO practice.

This electronically generated standard is authentic and valid without signature.

Technical Responsibility Standards

EEKK/2 Ingo Eckhardt Tel.: +49 5361 9 76439 I/EE-23 Dr. Hans Bauer

Tel.: +49 841 89 43405

I/EZ-11 Heinz J. Winkler Phone: +49 841 89 30965

Confidential. All rights reserved. No part of this document may be transmitted or reproduced without the prior permission of a standards department within the Volkswagen Group. Contract partners shall obtain the standard only through the B2B supplier platform at https://www.wendangku.net/doc/1a5384523.html,.

? Volkswagen Aktiengesellschaft vwnorm-2007-07

Motor Vehicle Connectors Test Specification

Preface

This standard in the present issue is based on template LV 214, which was drawn up by represen-tatives of automobile manufacturers Audi AG, BMW AG, Daimler AG, Porsche AG, and Volks-wagen AG.

If modifications to individual test sections become necessary in individual cases, these must be agreed upon separately between the responsible specialized department and the relevant manu-facturer.

Test reports are accepted as long as the tests were performed by an independent testing institute that is accredited according to DIN EN ISO/IEC 17025. Acceptance of the test reports does not automatically result in a release.

Previous issue 2004-10

Changes

The following changes have been made as compared to Volkswagen Standard VW 75174: 2004-10:

Standard has been editorially revised

The following Group Standards must be used instead of the Supply Specifications (LVs) mentioned in the text:

LV number Standard number LV 112-1 VW 60306 LV 214-1 VW 75174-1 LV 214-2 VW 75174-2 LV 214-3 VW 75174-3

Q U E L L E : N O L I S

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LV 214: 2010-03

Contents

Page Loads (4)

Properties tests (6)

General rules (7)

Determination of the contact resistance (E 0.2, E 14.0, and E 16.0) (7)

"Crimp" definition (11)

PG 0Inspection of as-received condition (12)

PG 1Dimensions (13)

PG 2Material and surface analysis, contacts (13)

PG 3Material and surface analysis, housings and single-wire seals (14)

PG 4Contact engagement length (15)

PG 5Mechanical and thermal relaxation behavior (16)

PG 6Interaction between contact and housing (17)

PG 7Handling and functional reliability of the housing (20)

PG 8Insertion and retention forces of the contact parts in the housing (22)

PG 9Insertion inclination/misuse safe (scoop-proofing ) (23)

PG 10Contacts: conductor pull-out strength (24)

PG 11Contacts: Insertion and removal forces, mating cycle frequency (25)

PG 12Current heating, derating (26)

PG 13Housing influence on the derating (27)

PG 14 Thermal time constant (current excess temperature at n times rated current) (28)

PG 15Electrical stress test (28)

PG 16Friction corrosion (30)

PG 17Dynamic load (31)

PG 18 A C oastal climate load (35)

PG 18 C D eicing salt load (35)

PG 19Environmental simulation (36)

PG 20Climate load of the housing (38)

PG 21 Long-term temperature aging (40)

PG 22 A C hemical resistance (41)

PG 22 B C hemical resistance, extended test (41)

PG 23Water leak tightness (42)

PG 24Impenetrability to paint (44)

PG 25Test group omitted (45)

PG 26Test group omitted (45)

PG 27Test group omitted (45)

PG 28Locking noise (45)

PG 29 Retention force of the blind plugs (46)

Appendix A Double crimp (47)

Appendix B Vibrator table mounting (48)

Appendix C Temperature cycle with current supply (49)

Appendix D Resistance limits (49)

Appendix F Referenced standards (51)

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LV 214: 2010-03 Structure of test numbers

First letter (German abbreviations)

=Load

B

E = Determination of properties

group

PG

=Test

First number

The test group (PG) in which the test is first used.

Second number

Serial number

Final letter (optional)

A or none = Test for general requirements

B = Test for water-tightness requirements

C = Test for increased requirements

test

D

=Special

Loads

B 5.1 Insertion and removal of half of the batch size

B 5.2 All devices under test (DUT) are inserted

B 5.3 Aging in dry heat, inserted DIN EN 60068-2-2

Test B

B 6.1 Drop test DIN EN 60068-2-31

B 8.1 Contacts removed from the cavity 5 times

B 11.1 Mating cycle frequency

B 15.1 The DUTs are inserted and removed 2 x

B 15.2 Temperature/current cycle endurance test

B 15.3 Humid heat, cyclic DIN EN 60068-2-30

B 16.1 Friction load

B 17.1 Dynamic load, sinusoidal DIN EN 60068-2-6

B 17.2 Dynamic load, broad-band random vibration DIN EN 60068-2-64

B 17.3 Endurance shock test DIN EN 60068-2-27

B 18.1 The DUTs are inserted and removed 2 x

B 18.2 Salt spray, cyclic DIN EN 60068-2-52

B 18.3 Salt spray with "Nordic country salt", cyclic DIN EN 60068-2-52

B 19.1 Temperature shock DIN EN 60068-2-14

Test Na

B 19.2 Temperature cycle DIN EN 60068-2-14

Test Nb

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LV 214: 2010-03 B 19.3 Aging in dry heat DIN EN 60068-2-2

Test B

B 19.4 Industrial climate (multi-component climate) DIN EN 60512-11-14

B 19.5 Humid heat, cyclic DIN EN 60068-2-30

Variant 2

B 19.6 Dynamic load, broad-band random vibration DIN EN 60068-2-64

B 19.7 Mech. shocks (single shocks) DIN EN 60068-2-27

B 19.8 One-time disconnection and insertion

B 20.1 Aging in dry heat DIN EN 60068-2-2

Test B

B 20.2 Humid heat, constant DIN EN 60068-2-30

B 20.3 Low-temperature aging DIN EN 60068-2-1

B 20.4 Removal and insertion at -20 °C

B 20.5 Aging in dry heat DIN EN 60068-2-2

Test B

B 21.1 Long-term aging in dry heat DIN EN 60068-2-2

Test B

B 22.1 A Resistance to agents (general requirements)

B 22.1 B Resistance to agents (water-tight design)

B 23.1 Immersion with pressure difference DIN EN 60512-14-5

DIN EN 60068-2-13

B 23.2 Line movement during immersion with pressure difference

B 23.3 Thermal shock test

B 23.4 Degree of protection test/pressure washer test DIN 40050-9

B 24.1 Dip painting

B 27.1 Dynamic load, 1 000 h, sinusoidal DIN EN 60068-2-6

B 28.1 Aging

Properties tests

E 0.1 Visual inspection DIN EN 60512-1-1

E 0.2 Contact resistance

E 0.2.1 Contact resistance in contact area DIN EN 60512-2-1

E 0.2.2 Contact resistance in line connection area DIN EN 60512-2-1

E 0.3 Insulation resistance DIN EN 60512-3-1

E 1.1 Dimensions DIN EN 60512-1-2

E 1.2 Dimensions (of processed components) DIN EN 60512-2-2

E 2.1 Material test, contact parts

E 2.2 Markings on the visible surface

E 3.1 Material test, housing

E 3.2 Markings on the surface

E 4.1 Contact engagement length DIN EN 60512-1-3

E 5.1 Contact opening dimension

E 5.2 Normal contact force

E 6.1 Deflection of contacts in the housing cavity (manufacturer's specification)

E 6.2 Function of the primary lock/latch play

E 6.3 Function of the secondary lock/latch play

E 6.4 Actuation forces of the secondary lock

E 7.1 Error-proof design of housings DIN EN 60512-13-5

(bare housings)

E 7.2 Retention force of the housing latch/lock DIN EN 60512-15-6

housings)

(bare

E 7.3 Connector position assurance (CPA) functional test

E 7.4 Insertion force or actuation force for insertion and removal aids

E 8.1 Determination of the contact insertion forces

E 8.2 Contact removal force from the housing

E 8.2.1 Contact removal force from the housing,

primary lock only

E 8.2.2 Contact removal force from the housing,

secondary lock only

E 9.1 Determination of contact opening dimension, pin tip position, and pin geometry

E 9.2 Max. possible insertion inclination

E 9.3 Examination of housing for scoop-proofing DIN EN 60512-1-4

E 10.1 Conductor pull-out strength (only in connection with crimp)

E 10.2 Pull-out force from the insulation displacement connection (only in connection with insula-tion displacement connection = IDC)

E 11.1 Plugging and removal force, without additional lubricants

E 12.1 Current excess temperature DIN EN 60512-5-1

E 12.2 Derating without housing DIN EN 60512-5-2

E 13.1 Current excess temperature with housing

E 13.2 Derating with housing

E 14.0 Contact resistance, continuous monitoring, recording, and storing

DIN EN 60512-2-2

E 14.1 Thermal time constant

E 16.0 Contact resistance, continuous monitoring, recording, and storing

DIN EN 60512-2-2

E 21.1 Functional test

E 28.1 Locking noise

E 29.1 Theoretical determination of the internal pressure p0

E 29.2 Determination of the retention force of the blind plugs p max

General rules

All tests (for test sequence, see LV 214-3) must be performed according to LV 214-1 (test matrix). The test according to LV 214-2 (slow-motion test) is part of this test (see test matrix).

A cover sheet must be created for the test report. All tests performed must be listed together with the result (passed/not passed) on the cover sheet in an overview. Deviations from the test condi-tions must be agreed with the responsible engineering department in advance, the reasons for the deviations must be stated, and the deviations must be clearly documented.

All DUTs for each PG must be described (e.g., OEM part number, supplier part number, IMDS no., manufacturer, date of manufacture, manufacturing location, injection mold number, material, sur-faces used, etc.). This also applies to corresponding mating pieces (e.g., pin contacts or device connectors). For all tests, it must be ensured that the DUTs correspond to the applicable drawing documents and product specifications.

The measurement frequency for continuously monitoring the measured values is defined in the concerned test groups. The measured values must be recorded, stored, and represented for later evaluation.

The supplier specifies the measurement frequency according to the significance unless the PG contains a specification.

Unless otherwise indicated, the following values must be indicated in the test report: the maximum value, average, minimum value, and the standard deviation for all DUTs in each case. For resis-tances, the initial value, final value, standard deviation, and the resistance change of the respective DUTs in each case.

Unless otherwise indicated, all tests must be performed with series production parts. Rejection, lubrication, cleaning, or other manipulations are not permissible.

Only released lines (according to LV 112) must be used for testing. The line materials must be se-lected reasonably. The test result must not be positively influenced by the selected line. In individ-ual cases an agreement is required. The line types used must be documented in the test report. Within a PG, all properties tests or loads must be performed with the DUTs of the PG. It is not per-missible to transfer results of a test/load from one PG to another PG.

Input values of the PGs can be transferred to or from PG 0.

All tensile tests must be performed at a speed of 50 mm/min.

Determination of the contact resistance (E 0.2, E 14.0, and E 16.0)

The contact resistance is always measured according to the 4-point measuring method.

For each measuring point (e.g., contact), the line (e.g., approx. 100 mm line in each case) at both ends of the contacts is also measured in each case. The line length must be deducted from the resistance measurements (i.e., reference line of corresponding line length is also measured).

The corrected values of the resistance in m? and the value of the reference line are documented. These values are calculated from the voltage drop and measured current.

There are generally 2 setups for the resistance measurement:

?Setup E 0.2:

- Description:

"Millivolt level method" ("dry circuit method")

DIN EN 60512-2-1

Is used for before/after determinations of the resistance

- Properties:

In order to prevent the voltage to be applied from puncturing any contaminates that

may be present on the DUT, the terminal voltage for the open-circuit case is limited

to 20 mV DC voltage. The maximum current in the event of a short-circuit is limited

to 100 mA. These devices are generally operating in current reverse mode, and the

determined resistance is called the dry circuit resistance.

While the test current can be indicated in the data sheet, the voltage drop at the con-

tact (quantity to be measured) is hidden from the user, because the determined re-

sistance is indicated directly. The terminal voltage applied during the measurement

is generally less than the limit value. The test current is the current that actually

flows during the measurement, and it is less than the current limit value. The test

current is stored in the device or measuring mode as a fixed value. The measuring

method is used preferably for cross-sections ≤ 10 mm2.

For cross-sections >10 mm2, nanovoltmeters must be used. For precise resistance

measurement (low dispersion of the measured values), higher currents may addi-

tionally be used after the resistance measurement under dry-circuit conditions.

- Measurement setup:

Ohmmeter with voltage and current limitation

Figure 1 Measurement setup E 0.2

?Setup E 14.0:

- Description:

"Measurement with specified current" (DIN EN 60512-2-2)

Is used for the loading of the contact with currents that extend from the mA range to

far into the power range.

The current is prescribed in the corresponding test groups.

- Properties:

Heating of the contact at various amperages, then the temperature is measured,

e.g., for the current excess temperature curve

Measurement of voltage drop as a function of amperage

Provision of the test current for the case in which the voltage drops on the feed lines

are greater than the limited terminal voltage from E02. In this case, the test speci-

mens are continually monitored at a certain measurement frequency.

In deviation from DIN EN 60512-2-2, the current must flow only in one direction.

- Quantities to be measured (depending on PG):

Voltage drop

Temperature

- Documentation (depending on PG):

Resistance

Temperature

Note: The fact that the voltage drop is insufficient for documentation of the monitor-

ing arises from the 1st and 2nd paragraphs of this Section.

- Measurement setup:

Figure 2 Measurement setup E 14.0:

?Setup E 16.0:

- Description:

Like E 0.2, but deviating for the continuous determination of the resistance - Properties:

Dry-circuit condition:

Terminal voltage limited to 100 mV in the open-circuit case (DC voltage)

Short-circuit current limited to 100 mA

- Measurement setup:

Similar to E 0.2

?Use of the setups E 0.2, E 14.0, and E 16.0 in the PGs

Tabelle 1 Use of the setups

PG E

0.2

Dry-circuit conditions

Before/after determination of

resistance

E 14.0

"Specified current"

Continuous load-

ing/monitoring The amperage is defined

in the PG

Quantities to be measured are PG specific (voltage

drop or temperature) Documentation is PG spe-cific (resistance or tem-

perature)

E 16.0

Dry-circuit conditions Continuous monitoring of

resistance

0 X

12 X

13 X

14 X

15 X X

16 X

17 X X

18 X

19 X X

21 X

"Crimp" definition

The connection between the contact element and the line is usually established by crimping (join-

ing by plastic deformation). For alternative connection techniques such as welding or possibly sol-dering, the test conditions and requirements apply accordingly. If necessary, deviations must be coordinated with the purchaser.

In this document, this connection is referred to as a crimp for the sake of clarity and simplification.

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LV 214: 2010-03

PG 0 Inspection of as-received condition

Aim: Basic examination of all contact and housing parts in the unused condition, without prior loads. Requirement: Determination of deviations from a given target state.

E 0.1 Visual inspection DIN EN 60512-1-1

Contact parts: all variants that occur

Housings: all variants that occur

Single-wire seals: all variants that occur

The basic mechanical functions of the connector must be checked as part of the visual

inspection.

E 0.2 Contact resistance D IN EN 60512-2-1

Contact parts: 10 DUTs per variant

Line cross-section: all cross-sections that occur

Type of test:

E 0.2.1 Contact resistance in the contact area DIN EN 60512-2-1 E 0.2.2 Contact resistance in the connection area DIN EN 60512-2-1

Requirement:

The measured values must correspond to the manufacturer's specifications. The limits

must be complied with (see Appendix D), and the measured values (initial value, final

value, standard deviation, and resistance change of the respective DUTs) must be

documented accordingly in the test report.

E 0.3 Insulation resistance DIN EN 60512-3-1

Contact parts: arbitrary

Housings: 1 housing per injection mold

Insulation resistance between all adjacent contacts

Figure 3 Insulation resistance measurement setup

Requirement:

MΩ at U = 500 V, t = 60 s

R iso > 100

R iso=insulation

resistance

U = DC test voltage

T = read cycle time

PG 1 Dimensions

Aim: Dimensional inspection of all contact parts, housing parts, and single-wire seals Batch size: 1 piece per die or mold

Contact parts: all crimped and non-crimped variants that occur;

for permissible double crimps, see

Appendix A

Housings: all variants that occur

Single-wire seals: all variants that occur

Type of test

E 0.1 Visual inspection DIN EN 60512-1-1

E

EN

60512-1-2 Dimensions DIN

1.1

Requirement:

The measured values must correspond to the release drawing or product specifications.

Indications must be provided in the measurement report.

Furthermore, all function-relevant dimensions for leak tightness, locking and latching ge-

ometries, clearances and creepage distances, and the most important dimensions that

ensure the scoop-proofing and contact engagement length must be documented. These

dimensions (first-sample test report and design dimensions, etc.) must be marked in the

release drawing.

E 1.2 Dimensions (of processed components) DIN EN 60512-1-2

Requirement:

The measured values of processed contacts (crimp parameters, metallographic sections)

must correspond to the release drawing and the product specifications.

PG 2 Material and surface analysis, contacts

Aim: Determination of all material parameters of metal parts

Batch size: 5 pieces

Test object: all materials and surfaces that occur

Type of test:

E 0.1 Visual inspection DIN EN 60512-1-1

E 2.1 Material test of contact parts

The material test must be documented for all individual parts of the contact (contact area

and line area).

All materials must be documented in the manufacturer's product specifications.

?Material documentation of the base material:

Data sheets must be attached to the test report as documentation.

o Material certificate

o Electrical conductances

o Tensile strength

o Modulus of elasticity of the contact spring

?Material documentation of the surface:

o Material certificates

o Measurement of coating thickness on the finished contact area and on the line connection area

o Measurement of surface roughness (if limits are specified, e.g., in drawings) and documentation that the surface was not damaged by the production

process.

E 2.2 Markings on the visible surface

The markings on the contact must be recognizable after the processing procedure crimping):

(e.g.,

?Clear legibility of all indications that are specified in the drawings

Requirement:

Confirmation that all materials are in conformance with applicable legal requirements and

the drawings.

Function-relevant pores, cracking, or other damage to the surface in the contact zone area and line connection area are not permissible.

The contact labels must be recognizable after processing. The description of the nomen-

clature must be described in the product specifications.

The material breakdown of the materials used must be available in the IMDS.

PG 3 Material and surface analysis, housings and single-wire seals

Aim: Determination of all material parameters of plastic and silicone parts

Batch size: 1 component per injection mold

Housings: all variants that occur

Single-wire seals: all variants that occur

Type of test:

E 0.1 Visual inspection (evaluate injection faults, e.g., burrs) DIN EN 60512-1-1 E 3.1 Material test of housings and single-wire seals

The material test must be documented for the single-wire seal and for all individual parts

of the housing (including slides, CPAs, sealing elements, and the like). Data sheets must

be attached to the test report as documentation. The portion of the component's own sprue regenerate must be documented in the release drawing.

All materials must be documented.

?Documentation of the materials:

o Material certificate and declaration of all possible materials

o The RAL colors (for all keyings)

?Documentation of the surface quality:

o Measurement of maximum permissible burrs at the function-relevant loca-

tions

o Measurement of surface roughness (if limits are specified, e.g., in drawings)

and documentation that the surface was not damaged by the production

process.

E 3.2 Markings on the surface

T he markings on the housing parts must be recognizable after processing (manufacture

of the wiring harness):

?Clear legibility of the housing labeling that is specified in the drawings

Requirement:

Injection molded skins, tool offset, and mold separation marks must not impair the

handling or function.

Burrs, tool offset, etc. are permissible within the drawing specifications.

NOTE Burrs are not permissible on the actuation surfaces. Burrs, tool offset, or part

markings are not permissible (due to the design) on surfaces that come in contact with

seals.

The material breakdown of the materials used must be available in the IMDS.

PG 4 Contact engagement length

Aim: Documentation of the minimum required contact engagement length under all worst con-ditions, including using theoretical studies (e.g., CAD)

Batch size: 3 housings

Up to 5-pin, fully equipped; for 6-pin and above, with 5 contacts Contact parts: all variants that occur, line cross-section and surface

arbitrary

Housings: all variants that occur, keying and color arbitrary

Type of test:

EN

60512-1-1 inspection DIN

E

0.1

Visual

E 4.1 Contact engagement length

T he contact engagement length and the required clearance (according to the manufac-

turer's specifications) from the pin tip to the contact bottom must be documented compu-

tationally under all worst conditions of the contacts and housings and their locks (includ-

ing, e.g., pulling on the line until all locks are at the stop). The contact pin and the contact

socket must touch only at the contact points.

Definition of contact engagement length (Figure 4)

Figure 4 Contact engagement length of a pin-socket pair Contact engagement length is defined as the length at which a contact pin penetrates the

contact socket with its full cross-section. Measurements are taken from the contact point

of the socket contact to the end of the insertion bevel at the full cross-section (in devia-

tion from DIN EN 60512-2-3).

The distance between the pin tip and the contact bottom is called the clearance. This

clearance is absolutely required for floating support of the contact in the cavity and must

still be present taking into consideration all tolerances of the pin-socket pair.

Requirement:

Contact engagement length: >1,00 mm (for all contact points)

Clearance: >0 (in the worst case)

A tolerance calculation with dimensional specification is required.

PG 5 Mechanical and thermal relaxation behavior

Aim: Functional evaluation of the upper limit temperature (= T max) of the contact system speci-fied by the manufacturer and of the normal force.

Batch size: 5 test batches of 10 contact parts each per sampling time

Contact parts: all materials and design variants that occur in the

area

contact

Type of test:

E 0.1 Visual inspection DIN EN 60512-1-1

E 5.1 Contact opening dimension in the unused condition (optical measurement) – all test

batches

B 5.1 One half (5 pieces each) of all test batches is inserted and disconnected 5 times before

further loading.

E 5.1 Contact opening dimension of the DUTs inserted 5 times (optical measurement) – all test

batches

E 5.2 Normal contact force

Determination of the normal contact force – on test batch 1

The measuring method must be documented. Indirect measurement is permissible.

B 5.2 All DUTs of test batches 2 – 5 are inserted. The DUTs must not be disconnected until measurement of the contact opening dimension and the normal contact force. B 5.3

Aging in dry heat, inserted

DIN EN 60068-2-2

Test B

Duration 1 000 h Max. temperature T max limit temperature from derating curve (I = 0 A)

Test batches 2 – 5 are aged and are successively removed at the respective times (1 h, 100 h, 200 h, 500 h, and 1 000 h), and the normal force is measured.

E 0.1 Visual inspection

DIN EN 60512-1-1

E 5.1 Contact opening dimension (optical measurement) – on test batches 2 – 5 E 5.2 Normal contact force

Determination of the normal contact force on all test batches

The measuring method must be documented. Indirect measurement is permissible.

Requirement:

The normal contact force must be documented. Graphical representation (simple loga-rithmic time representation) extrapolated to 3 000 h.

Intermediate values at 0 h, 1 h, 100 h, 200 h, 500 h, and 1 000 h. The contact opening dimensions must be documented.

PG 6 Interaction between contact and housing

Aim: Documentation of the function of the cavity and of the contact locks Batch size: 3 fully equipped housings for E 6.2 and E 6.3 6 housings for B 6.1

- 3 fully equipped housings, secondary lock in the end engage-ment position

- 3 unequipped housings, secondary lock in the pre-engagement position

3 times 3 unequipped housings for E 6.4

Contact parts:

arbitrary

Line cross-sections:

smallest and largest cross-section and, if applicable, permissible double-wire crimps, see Appendix A

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LV 214: 2010-03 Housings: all variants that occur, keying and color arbitrary

Type of test:

E 0.1 Visual inspection DIN EN 60512-1-1 E 6.1 Deflection of contacts in the housing cavity (theoretical documentation according to

manufacturer's specification)

E 6.2 Function of the primary lock/latch play (with new housings, see batch size)

E 6.3 Function of the secondary lock/latch play (with new housings, see batch size)

Requirement:

Deflection: Based on the cavity and pin drawings, it must be documented that the pin and

contact can be joined one in the other without any damage. The documentation must be

provided graphically or computationally for the worst case.

Latch play: Must be examined using the contact parts in the housing cavity. The primary

lock must latch audibly and must be checked by pulling it back (max. 10 N). The secon-

dary lock must be closable at the end stop. The secondary lock must not be closable un-

til all contacts are properly locked in the housing cavity in the correct position.

B 6.1 Drop test (with new housings, see batch size)

To test the housing stability and the locks, the housings (cut off the lines directly behind

the housing) are tested in a rotating drum (see DIN EN 60068-2-31).

?Test at room temperature (RT) according to ISO 554-23/50 ordinary (normal)

?All DUTs are tested at the same time.

?Rotational speed: e.g., 3 rpm (the speed must be set so that all parts strike in the drop area

?Number of revolutions: 30

?Thickness of the steel plate in the drop area: at least 5 mm

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LV 214: 2010-03

With: L1 = 1 200 mm, L2 = 500 mm, L3 = 700 mm, L4 = 500 mm, L5 = 1 000 mm,

L6 = L7 = 100 mm

Figure 5 Drop test in drum

E 0.1 Visual inspection DIN EN 60512-1-1

Requirement:

?The secondary lock in the pre-engagement position (simulation of transport of un-equipped housings) must not close in the drop test.

?The secondary lock in the end engagement position (simulation of transport of equipped housings) must not open in the drop test.

E 6.4 Actuation forces for secondary lock (with new housings in each case, see batch size)

Table 2 Actuation force requirements

Actuation Condition Limits

Open - F o = 10 N ... 50 N

Close For film hinge, hinge length

< 15 mm

F s < 50 N

Close For film hinge, hinge length

≥ 15 mm

F s < 75 N

Close For

slide F s < 50 N

Close not OK At contact position 0, not in end posi-

tion F s NOK > 3 times F s

at least F s NOK > F s + 50 N

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LV 214: 2010-03

E 0.1 Visual inspection

DIN EN 60512-1-1

E 6.5

Detection of secondary lock by test adapter

An open or only partially closed secondary lock must be reliably detected by the test adapter at the cable manufacturer through a 100% final inspection. Confirmation by a cable manufacturer must be provided.

NOTE Must preferably be clarified before tool manufacture.

PG 7 Handling and functional reliability of the housing

Aim:

Housing test, documentation of the holding and actuation forces Batch size: at least 10 equipped and unequipped housings;

New components can be used for each of the following properties tests within this test group.

Housings: all variants that occur

Type of test:

E 0.1 Visual inspection

DIN EN 60512-1-1 E 7.1 Error-proof design of housings (unequipped housings) DIN EN 60512-13-5 (keying/polarizing)

E 7.2 Retention force of the housing latch/lock DIN EN 60512-15-6

(unequipped housings)

Applicable to housings for inline plug-in connections and device-mounted plug-in connec-tions.

Sample preparation: 10 complete connector couplings without contacts.

If the connector housings have a CPA, the tests must be performed both with the CPA open and with the CPA closed.

The DUTs must be fastened in the tensile testing machine with suitable holders so that the housings are not damaged or deformed. The force must be applied opposite the plugging direction of the housings. The maximum force on the first displacement millime-ter is defined as the retention force (see Figure 6).

Figure 6 Retention force load-displacement curve

F o r c e i n N

Displacement in mm

测试环境管理规范

软件测试环境重要性及意义 稳定、可控勺测试环境，可使测试人员花费较少时间完成测试用例勺执行 可保证每一个被提交勺缺陷被准确勺重现 ; 经过良好规划和管理勺测试环境， 可以尽可能勺减少环境勺变动对测试工作 勺不利影响， 1. 测试环境重要性及意义 稳定、可控勺测试环境，可使测试人员花费较少时间完成测试用例勺执行 可保证每一个被提交勺缺陷被准确勺重现 ; 经过良好规划和管理勺测试环境， 可以尽可能勺减少环境勺变动对测试工作 勺不利影响，并可以对测试工作勺效率和质量勺提高产生积极勺作用。 2. 测试环境搭建原则 测试环境搭建之前，需要明确以下问题： 所需计算机数量，以及对每台计算机勺硬件配置要求，包括 存和硬盘勺容量、网卡所支持勺速度等 ; 部署被测应用勺服务器所必 需勺操作系统、数据库管理系统、中间件、 WEB 服务器以及其他必需组件勺名称、版本，以及所要用到勺相关补丁勺版本 ; 用来执行测试工作勺计算机所必需勺操作系统、数据库管理系统、中间件、 WEB 艮务器以及其他必需组件的名称、版本，以及所要用到的相关补丁的版 本; 是否需要专门的计算机用于被测应用的服务器环境和测试管理服务器的环 境的备份; 测试中所需要使用的网络环境 ; 执行测试工作所需要使用的文档编写工具、测试管理系统、性能测试工具、 缺陷跟踪管理系统等软件的名称、版本、 License 数量，以及所要用到的相 关补丁的版本。对于性能测试工具，则还应当特别关注所选择的工具是否支 持被测应用所使用的协议 ; 测试数据的备份与恢复是否需要 ; 模拟实际生产环境或用户环境搭建。 3. 测试环境管理 、设置专门勺测试环境管理员 每条业务线或测试小组应配备一名专门勺测试环境管理员，其职责包括： u 测试环境搭建。包括操作系统、数据库、中间件、 WE 曲艮务器等必须软件 的安装，配置，并做好各项安装、配置手册编写 ； u 记录组成测试环境的各台机器硬件配置、 IP 地址、端口配置、机器的具 体用途，以及当前网络环境的情况 ； 管理规 范 CPUl 勺速度、内

连接器要求规范和测试要求

【技術&知識】連接器規範和測試要求 文：Knight Chen / CACT 工程部 連接器依照其產品功能和使用環境，將規範要求分為四大部分。 1. 電氣規範要求 2. 機械規範要求 3. 環境規範要求 4. 環保要求 精彩文档

一、電氣規範要求 電氣特性是連接器實現連接功能的主要特性。確定連接器的電氣特性，以保證連接器滿足連接功能。連接器的電氣特性有： 1. 接觸阻抗（Contact Resistance） 目的：維持連接器在使用期限內的接觸阻抗，以減少信號和能量在傳輸過程中的損失或衰減。 測試方法：EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A,3004.1。 測試要點：a. 測試電流/電壓100mA@20mV，被測試連接器（連接系統）無負載。 b. 測試電流為低電流是為了避免接觸阻抗受到端子（導體）熱電效應影響。 c. 測試電壓為低電壓是為了避免端子（導體）之間接觸界面絕緣薄膜被擊穿和熔化。 精彩文档

規範要求：一般要求50m?（initial）；100m?（final，即在壽命測試或環境測試後）。 定義接觸阻抗此參數是為了減少信號和能量在傳輸過程中的損失或衰減，電流就像水流一樣。阻力越小，能量的損失和衰減就越少。 就連接器的接觸處而言，影響其阻抗大小的因素有正向力（對於彈性接觸結構而言），接觸環境，如端子（導體）的表面粗糙度，表面處理方式（如電鍍的金屬特性和緻密性），端子與端子（或其他導體）的結合方式（是焊接or鉚合or彈性接觸等）。 從電學理論角度來說，接觸阻抗為C點綠色圈接觸處的阻抗；在客人使用角度來說，連接器提供A點到B點的導通（連接），所以客人要的阻抗應包含從A點到B點的所有導體本身的阻抗和接觸處的阻抗（包括焊接、鉚合等接觸方式）如圖一示。 精彩文档

老化测试管理规定

1、目的 为了规范产品老化操作步骤及老化环境要求，特制定本规范，严格按照本规范要求作业。 2、适用范围 公司老化房。 3、权责 工程部门负责老化房设备的维护保养及操作，生产部门负责老化车的维护保养。 4、定义 恒温老化房，也叫高温老化房和老化房，是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设 备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流 程，根据不同的要求配置主体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、风力恒温系统、时间控制系统、测试负载等可检杳出不良品或不良件，是客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段。 5、作业内容 5.1所需设备 5.1.1老化台车及老化电源，按客户出货电源要求调整电压，特殊产品使用专用电源（详 查BOM单）。 5.1.2 220V 50HZ交流电源。 5.1.3老化加热系统。 5.2老化步骤： 5.1.1将DIP通电测试OK的产品接在老化车上 5.1.2将一台装好产品的老化台车进行预通电，检查产品的电源灯是否能点亮，将电源灯不 点亮的PCBA从老化车取下并做好标示放置在不良品箱中，不良品给到工程与PE分析，按照《不良品处理规范》操作。 5.1.3产品推进老化房老化之前须将老化房环境温度设定为45+/-5℃，提前给老化房升温，老化房温度达到40度才开始老化。 5.1.4将预通电OK后的老化车的总电源插头插到老化房墙壁上的电源插座上进行通电，并开启老化车上变压器电源，当老化产品通电后其电源灯亮的状态必须一致的，否则亮灯异常的为不良品送至维修处维修，进出老化房时随手关好老化房门，记录产品开始老化时间并填写到“老化记录表”里面。 5.1.5产品在老化过程中，老化操作人员及IPQC人员要每隔1个小时进行巡查，检查老化房中温度计上显示应在45+/-5℃间，则表示该环境温度为合格；巡检过程中发现的不良品（例如灯不亮、烧爆IC和电容、冒烟、外壳变形等）及不良一定要拿出由产品工程师和维修人员共同分析，不良品按照《不良品处理规范》操作。 5.1.6老化房中的老化车要摆放整齐，老化房中的温度计及湿度计要定期校验合格后才能使用。 5.1.7产品老化时间规定为4小时，特殊产品老化时间按客户要求而定。由于产品的试验等特殊性的要求及特殊情况，需要更改产品老化时间，以《工程更改通知》或由产品工程师在《老化记录表》备注栏签字. 5.1.8不良品太多（超过2%）应立即通知工程技术人员分析，出现起火要立即关总电源开关。 5.1.9老化完后将老化车变压器的开关关闭，拔下插头，将老化车推出老化房。 5.1.10将老化OK的产品全部放置到指定的已老化的区域，按照规定和结合“7 S ”来放置，在老化台车上面贴好标示单。

连接器的测试标准样本

连接器实验 一.连接器实验项目: 插拔力、夹持力、蒸汽老化、盐水喷雾、热风回流程(IR)、振动测试、高温老化、恒温恒湿、冷热冲击、迅速插拔测试、接触阻抗、绝缘阻抗、耐压测试、硬度测试、喷漆厚度测试、电镀膜厚测试、表面粗糙度测试、吃锡性/耐焊性实验。 二.各项实验之条件及实验目: 1.插拔力---测试公母对插之插入及拔出所需力量。(自动插拔测试机) 参数:插入行程及速度、测试单程或去回程、插拔次数。 检查:检查产品在公母对插时力量与否太紧太松,当影响对插力理尺寸不良需做此项实验确认。 2.夹持力---测试端子植入塑料所需拔出之力量。(自动插拔测试机) 参数:同上 检查:当端子卡钩尺寸或塑料卡槽尺寸不良时,需做此项实验来确认。 自动插拔测试机如下:

3.蒸汽老化---检查五金件电镀后保质期。(镀全金/半金锡/全锡端子)实验条件为 温度98±2℃,时间8H。(蒸汽老化实验机) 参数:温度及时间可以调节。另可检查NY6T塑料吸湿性 检查:当五金件表面刮伤、镀层太低或电镀表面不良时需做此项实验确认质量。蒸汽老化实验机如下: 4.盐水喷雾---检查五金件电镀后保质期。(铁壳/叉片/铆钉类)实验条件为实验槽 温度35℃,时间4H,盐水比例5:95。(盐水喷雾实验机) 参数:实验时间可调节。 检查:当五金件表面刮伤、镀层太低或电镀表面不良时需做此项实验确认质量。盐水喷雾实验机如下:

5.热风回流焊(IR)---仿真产品在客户处过SMT使用状况。现厂内重要检查塑料起泡 状况及少量产品SMT实验,实验条件为温度235±5℃,最高温度 时间为3~5S。(热风回流焊实验机) 参数:实验温度/时间可以依需求调节。 检查:当塑料存储时间过长(NY6T 3个月)、镀锡铁壳或沾锡膏实验需通过此实验确认塑料与否会起泡、铁壳与否会流锡或吃锡状况。 热风回流焊实验机如下:

开发测试及准生产环境暂行管理办法

****开发测试及准生产环境暂行管理办法 第一章总则 第一条为加强********股份有限公司开发测试及准生产环境的管理，确保开发测试及准生产环境项目文档、代码及数据安全，明确开发测试及准生产环境软硬件平台的维护职责，保证开发测试及准生产环境的稳定运行，提高开发效率，特制定本办法。 第二条本办法所指开发测试及准生产环境是指公司软件项目在开发过程中所使用的相关环境，包括并不仅限于开发环境、用户测试环境、准生产环境、配置版本库环境等。 第三条开发测试及准生产环境的管理和建设应遵循以下原则： (一)安全性：通过相应管理制度和技术手段，保证开发环境数据、代码、 文档等信息的安全可靠，保证不会丢失。 (二)保密性：通过相应管理制度和技术手段，保证公司的商业秘密及数据、 代码、文档等重要信息不会被非法访问或泄露。 (三)高效性：通过采用合适的软硬件平台和技术手段，保证开发环境的各 套系统的运行速度和效率，保证项目开发进度。 (四)稳定性：通过采用合适的软硬件平台和技术手段，保证开发环境各套 系统的稳定运行，减低系统故障率。 第四条信息技术部核心组、投资OA组的开发测试及准生产环境管理应遵循本制度。 第二章分工及职责 第五条信息技术部运维组主要负责如下工作： (一)负责开发测试及准生产环境的机房设备、硬件设备、网络设备、系统 软件的安装、管理、维护、故障报告后的性能监控及排查等工作。

(二)负责开发测试及准生产环境的病毒防治工作。 (三)根据项目组的要求，配合完成开发测试及准生产环境的数据及版本配 置库的备份与恢复工作。 (四)协助项目组完成开发测试及准生产环境的性能优化工作。 (五)对开发过程中遇到的硬件平台、系统软件、网络等技术问题提供支持。 第六条信息技术部项目组成员主要负责如下工作： (一)准生产系统权限、密码管理。 (二)准生产环境的应用系统搭建、配置工作。 (三)准生产环境程序、数据的同步。 (四)准生产环境的版本管理及配置管理。 (五)准生产环境的维护和软件系统投产前验证。 (六)准生产环境应用软件故障的调查、分析。 第七条开发厂商职责。 (一)开发测试环境系统权限、密码管理 (二)开发测试环境系统搭建、配置工作。 (三)开发测试环境程序版本发布。 (四)开发人员客户端程序代码、文档的管理、备份工作。 (五)开发测试环境的程序开发、测试维护和投产前验证。 (六)开发测试环境应用软件故障的排查、分析。 第三章保密管理 第八条为加强项目开发、实施期间的保密管理，维护公司的商业秘密和权益，所有参与****项目的厂商必须与公司签订《保密承诺书》，所有参与项目的厂商人员必须签字承诺遵守《****IT外包厂商人员日常行为规范》，否则不允许厂商及人员进场。 第九条外包人员不得在办公区内部接待与工作无关的访客，如有人员来访，应在会客区接待；对因工作需要，需要在办公区接待的访客，应会知****工作人员，并填写《项目组外来人员访客登记表》，《项目组外来人员访客登记表》的格式请参考附

汽车连接器标准QCT1067解析

汽车连接器标准QC／T-1067解析 随着中国汽车工业的飞速发展，汽车从满足最初的运输功能，扩展到现在具有非常多的安全性、舒适性功能。随着功能的增加，作为汽车关键部件的汽车连接器从以前一辆车使用几十个发展到如今一辆车用几百个连接器，一百多个品种；从以前的6.3规格发展到现在的0.64规格。而这一百多种连接器分布在驾驶室、车身、车门、发动机舱、变速器等地方，因为不同地方连接器的使用温度、振动等级的不同，对连接器的防护等级的要求不同，所以不同的使用环境对连接器的性能要求也不相同。 当前连接器标准非常多，从较早的国际标准ISO 8092、SAE标准USCAR-2，到目前中国最新修订的行业标准QC／T-1067-2017 （替代QC／T-417）。同时很多的汽车企业也定义了属于自己企业的连接器标准，如大众公司的VW 75174、通用的GMW-3191、上汽集团的SMTC 3 862 001、吉利汽车的Q／JLY J7110195C等。 连接器标准QC／T-1067对连接器使用环境的定义 对于一款连接器，在研发之初都会在其规格书中定义出该连接器的使用环境温度、载流能力、防护等级、抗振等级等规格参数，连接器选型工程师需要了解到不同的使用环境对连接器的不同要求，这一点在目前的使用标准中也有很详细的定义。QC／T-1067的标准定义见表1~表3：

表1 QC／T-1067温度等级 表2 QC／T-1067振动等级 表3 QC／T-1067密封等级

表4 QC／T-1067振动等级 关于振动实验，我们主要验证的是连接器系统在模拟实际车载振动条件下的性能是否满足要求，因为在振动或者振动冲击情况下，会引起端子接触面的镀层磨损、正压力衰减、支撑塑料材料的机械性能失效等，所以需要在振动实验中连续监控接触电阻并保证线路中接触电阻超过7Ω（或者1Ω）的时间不能超过1微秒。

软件系统安全测试管理规范

软件系统安全测试 管理规范 上海理想信息产业（集团）有限公司 2020年3月22日

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【目录】 1概述 (5) 1.1编写目的 (5) 1.2适用范围 (5) 1.3角色定义 (5) 1.4参考资料 (5) 2项目背景 (6) 3软件系统安全测试流程 (7) 4测试准备 (9) 4.1测试准备 (9) 4.1.1测试对象 (9) 4.1.2测试范围 (9) 4.1.3工作权责 (9) 4.2测试方案 (10) 4.2.1测试准备 (10) 4.2.2测试分析 (11) 4.2.3制作测试用例 (12) 4.2.4实施测试方法 (13) 4.2.5回归测试方法 (14) 4.3测试计划 (14) 4.4实施测试 (15) 4.5回归测试 (15)

4.6测试总结 (15)

1概述 1.1 编写目的 建立和完善-系统安全测试管理制度。规范软件系统安全测试各环节的要求、规范各岗位人员的工作职责、明确软件系统安全测试实施过程中的管理行为及文档要求。 以规范化的文档指导软件系统安全测试工作，提升管理效率、降低项目风险。 1.2 适用范围 本规范适用于智能信息化系统建设项目软件安全测试管理过程。 1.3 角色定义 1.4 参考资料

2项目背景 校园内信息化软件众多，这些软件不光承载着学校核心业务，同时还生成、处理、存储着学校的核心敏感信息：账户、隐私、科研、薪资等，一旦软件的安全性不足，将可能造成业务中断、数据泄露等问题的出现。 希望通过规范软件系统安全测试管理，改善和提高学校软件安全测试水准，将学校软件系统可能发生的风险控制在可以接受的范围内，提高系统的安全性能。

连接器力测试标准

连接器力测试标准： 6.0连接器和端子测试: (Engage/Disengage Force, Terminal Push) 6.1 目的: 本实验是为了检验控制器的连接端子是否满足保持力的标准要求。该测试的失效模式及效果 6.2步骤: 控制器要承受的测试条件如测试条件表中所描述。该测试条件表遵循产品测试表中相关内容。测试中的任何偏差以及任何其他相关的测试数据必须要求记录。 Note 1a: 本试验将会给测试模块连接器内部的端子一个应力。在测试时需要确保夹具能紧固测试模块。 Note 2a: 目检：由测试导致的产品变化应该被记录下来，并报告给JETEK工程师。JETEK工程将决定是否进行必要调整。 机械表面目检： 目检是否有部件松动（电气的或机械的），或者管套有损伤或磨损。 6.5合格/不合格标准： 端子应当完整的保留在连接器上，永久性变形持续不能超过0.1 mm。

7.0 连接器插入力测试: 7.1目的: 本试验是为了检验线束的接头到控制器接口的接头的插入力是否满足标准要求。该测试的失效模式及效果测试情况如下： 7.2步骤: 控制器要承受的测试条件如测试条件表中所描述。该测试条件表遵循产品测试表中相关内容。测试中的任何偏差以及任何其他相关的测试数据必须要求记录。 Note 1b: 线束的接头应该要有依据产品设计最大数量的端子；在测试时需要确保夹具能紧固测试模块。 Note 2b: 目检：由测试导致的产品变化应当记录下来，并报告给JETEK工程师。JETEK工程师将决定是否进行必要的调整。 机械表面目检： 视觉检查是否有部件松动（电气的或机械的），或者管套损伤或磨损。

连接器的测试标准

连接器实验 一.连接器的实验项目: 插拔力、夹持力、蒸汽老化、盐水喷雾、热风回流程(IR)、振动测试、高温老化、恒温恒湿、冷热冲击、快速插拔测试、接触阻抗、绝缘阻抗、耐压测试、硬度测试、喷漆厚度测试、电镀膜厚测试、表面粗糙度测试、吃锡性/耐焊性实验。 二.各项实验之条件及实验目的: 1.插拔力---测试公母对插之插入及拔出所需力量。(自动插拔测试机) 参数:插入行程及速度、测试单程或去回程、插拔次数。 检验:检验产品在公母对插时的力量是否太紧太松,当影响对插力理的尺寸不良需做此项实验确认。 2.夹持力---测试端子植入塑料所需拔出之力量。(自动插拔测试机) 参数:同上 检验:当端子卡钩尺寸或塑料卡槽尺寸不良时,需做此项实验来确认。 自动插拔测试机如下:

3.蒸汽老化---检验五金件电镀后的保质期。(镀全金/半金锡/全锡端子)试验条件为 温度98±2℃,时间8H。(蒸汽老化试验机) 参数:温度及时间可以调整。另可检验NY6T塑料的吸湿性 检验:当五金件表面刮伤、镀层太低或电镀表面不良时需做此项实验确认质量。蒸汽老化试验机如下: 4.盐水喷雾---检验五金件电镀后的保质期。(铁壳/叉片/铆钉类)试验条件为试验槽 温度35℃,时间4H,盐水比例5:95。(盐水喷雾试验机) 参数:试验时间可调整。 检验:当五金件表面刮伤、镀层太低或电镀表面不良时需做此项实验确认质量。盐水喷雾试验机如下:

5.热风回流焊(IR)---仿真产品在客户处过SMT使用状况。现厂主要检验塑料起泡 状况及少量产品SMT试验,实验条件为温度235±5℃,最高温度 时间为3~5S。(热风回流焊试验机) 参数:实验温度/时间可以依需求调整。 检验:当塑料存放时间过长(NY6T 3个月)、镀锡铁壳或沾锡膏实验需通过此实验确认塑料是否会起泡、铁壳是否会流锡或吃锡状况。 热风回流焊试验机如下: 6.振动测试---检验产品公母对插后的瞬间导通性,实验时将产品全部串联接到信号 测试机上测试。另也可以仿真产品在运输途中的状况。实验条件为频 率10HZ-55HZ-10HZ/分钟一个循环,振幅1.52mm,时间为X、Y、Z各2H。 参数:频率、振幅及时间均可依需求做调整。 检验:当产品对插口尺寸不良、产品包装不良或盖子与本体搭配不良需做此实验确认。此实验项目重点是检验产品公母接触的瞬间接触状况。 振动试验机如下:

软件开发管理办法

软件开发管理办法 第一章总则 第一条为规范公司的开发管理流程，使各开发项目的管理进行标准化管理，特制定本管理办法。 第二条本管理办法详细规定软件开发程的各个阶段及每一阶段的任务、要求、交付文件，使整个软件开发过程阶段清晰、要求明确、任务具体，实现软件开发过程的标准化。 第三条本管理办法适用于计算机的自主软件开发项目。适用对象：软件开发管理人员，软件开发人员，软件维护人员，系统管理人员。 第二章组织机构与职责 第四条软件开发管理人员职责： 第五条软件开发人员职责： 第六条软件维护人员职责： 第七条系统管理人员职责： 第三章软件开发环境管理 第八条软件建设环境根据项目不同的时期，需要搭建生产运行环境、系统测试环境、系统开发环境三种不同的软硬件网络环境，便于生产、开发、测试等工作的安全、顺畅的进行。 第九条生产环境为系统维护管理人间管理的范畴，是系统正式运行，提交给各业务科室的正式环境，包括系统运行的硬件、网络等设备和进行集群处理的软件系统。 第十条测试环境为测试人员提供功能测试、性能测试的运行环境，包括运行环境模拟、测试工具服务器、测试工具客户端。 第十一条开发环境为系统开发人员提供系统开发需要的软件硬件环境，包括数据库服务器、应用服务器、开发工具客户端。 第十二条生产环境、测试环境、开发环境都存在自己独立的数据库服务器、应用服务器、客户端。在开发环境完成内部测试后，提交发布版本到测试环境中，由专门的测试人

员进行集成测试和功能测试。并进行一定的压力性能测试。在测试环境通过的版本在发布到生产环境。 第十三条生产环境与测试环境、开发环境需要物理隔离，保障生产环境的安全。 第四章开发过程管理 第十四条项目开发流程根据软件工程的流程，分为可行性研究与计划、需求分析、总计设计、详细设计、代码开发、系统测试五个阶段。 第十五条可行性研究与计划 1实施要求 1.软件开发部分析人员进行市场调查与分析，确认软件的市场需求 2.在调查研究的基础上进行可行性研究，写出可行性报告 3.评审和审批，决定项目取消或继续 4.若项目可行，制订初步的软件开发计划，建立项目日志 5.根据市场环境、公司软硬件情况预测十大风险因素 2交付文档 1.可行性研究报告* 2.初步的软件开发计划 3.十大风险列表* 4.软件项目日志* 第十六条需求分析 1实施要求 1.调查被开发软件的环境 2.软件开发提出的需求进行分析并给出详细的功能定义 3.做出简单的用户原型，与用户共同研究，直到用户满意 4.对可利用的资源（计算机硬件、软件、人力等）进行估计，制定项目进度计划（可 有相应的缓冲时间） 5.制定详细的软件开发计划 6.测试人员制订质量控制计划和测试计划 7.编写初步的用户手册 8.进行需求方案评审 2交付文档 1.软件需求说明书 2.更新后的软件开发计划 3.项目进度计划 4.计划

连接器可靠性测试项目及其测试标准

连接器检测一般涉及以下几个项目：插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等。 连接器具体测试项目如下： （一）连接器插拔力测试 参考标准：EIA-364-13 目的：验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求。 原理：将连接器按规定速率进行完全插合或拔出，记录相应的力值。 （二）连接器耐久性测试 参考标准：EIA-364-09 目的：评估反复插拔对连接器的影响，模拟实际使用中连接器的插拔状况。 原理：按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。 （三）连接器绝缘电阻测试 参考标准：EIA-364-21 目的：验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温，潮湿等环境应力时，其阻值是否符合有关技术条件的规定。 原理：在连接器的绝缘部分施加电压，从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。 （四）连接器耐电压测试 参考标准：EIA-364-20 目的：验证连接器在额定电压下是否能安全工作，能否耐受过电位的能力，从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适。 原理：在连接器接触件与接触件之间，接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间，观察样品是否有击穿或放电现象。 （五）连接器接触电阻测试 参考标准：EIA-364-06/EIA-364-23 目的：验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值。 原理：通过对连接器通规定电流，测量连接器两端电压降从而得出电阻值。 （六）连接器振动测试

参考标准：EIA-364-28 目的：验证振动对电连接器及其组件性能的影响。 振动类型：随机振动，正弦振动。 （七）连接器机械冲击测试 参考标准：EIA-364-27 目的：验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固。 测试波形：半正弦波，方波。 （八）连接器冷热冲击测试 参考标准：EIA-364-32 目的：评估连接器在急速的大温差变化下，对于其功能品质的影响。 （九）连接器温湿度组合循环测试 参考标准：EIA-364-31 目的：评估连接器在经过高温高湿环境储存后对连接器性能的影响。 （十）连接器高温测试 参考标准：EIA-364-17 目的：评估连接器暴露在高温环境中于规定时间后端子和绝缘体性能是否发生变化。（十一）连接器盐雾测试 参考标准：EIA-364-26 目的：评估连接器，端子，镀层耐盐雾腐蚀能力。 （十二）连接器混合气体腐蚀测试 参考标准：EIA-364-65 目的：评估连接器暴露在不同浓度混合气体中的耐腐蚀能力及对其性能的影响。（十三）连接器线材摇摆测试

软件测试环境管理规范

测试环境管理规范

修改履历 修改编号版本修改条款及内容修改日期 1 V1.0 初稿

目录 1.概述 (5) 1.1目的 (5) 1.2适用范围 (5) 2.环境使用要求和原则 (5) 2.1环境使用要求 (5) 2.2环境使用原则 (5) 3.硬件环境 (6) 3.1全流程测试环境申请 (6) 3.1.1申请流程图 (6) 3.1.2申请流程说明： (6) 3.2待测系统环境申请 (7) 3.2.1申请流程图 (7) 3.2.2申请流程说明： (7) 3.3测试用机申请 (8) 3.3.1申请流程图 (8) 3.3.2申请流程说明： (8) 3.4硬件环境变更 (9) 3.4.1全流程测试环境变更流程图 (9) 3.4.2全流程测试环境变更流程说明： (9) 3.5硬件环境释放 (10) 3.5.1释放流程图 (10) 3.5.2释放流程说明 (10) 4.环境权限 (11) 4.1权限说明 (11) 4.1.1查询帐户 (11) 4.1.2监控帐户 (11) 4.1.3应用帐户 (11) 4.1.4备用帐户 (11) 4.1.5特殊帐户 (11) 4.2权限申请流程 (11) 4.2.1查询帐户申请流程 (11) 4.2.2监控帐户申请流程 (11)

4.2.3应用帐户申请流程 (12) 4.2.4备用帐户申请流程 (12) 4.2.5特殊帐户申请流程 (12) 4.3应用系统 (12) 4.3.1应用版本变更 (12) 应用版本部署 (12) 应用版本变更 (12) 4.3.2测试数据 (12) 测试数据预埋 (13) 测试数据变更 (13) 5.系统参数变更 (13) 5.1工作时段参数变更 (14) 5.1.1变更流程图： (14) 5.1.2变更流程说明： (14) 5.2非工作时段参数变更 (15) 5.2.1变更流程图： (15) 5.2.2变更流程说明 (15) 6.系统备份 (16) 6.1不定期备份 (16) 6.1.1备份说明 (16) 6.1.2备份流程 (16) 6.2特需备份 (16) 6.2.1备份说明 (16) 6.2.2备份流程 (16)

连接器检验规范

制作：审核：核准： 一、目的： 明确连接器来料品质验收标准，规范检验动作，使检验、判定标准达到一致性。 二、适用范围： 适用于我司所有的连接器来料检验。 三、检验条件：

照明条件：日光灯600～800LUX； 目光与被测物距离：30～45CM； 灯光与被测物距离：100CM以內； 检查角度：以垂直正视为准±45度； 检查员视力：双眼视力（包括戴上眼镜）以上，且视觉正常，不可有色盲，斜视、散光等； 四、参照标准： 依照MIL-STD-105EⅡ级单次正常抽样标准CR=(正常抽样Ac/Re:0/1);MA=;MI= 依照MIL-STD-105EⅡ级单次S-2 特殊抽样标准. AQL:抽样 五、检验顺序： 包装箱：包装箱应为一次性包装箱，供应商不可回收，包装箱外应标有物料品名、规格、数量、生产日期、出货检验合格章及供应商名称;包装上必须标有我司相应的物 料编号，最小包装应无破损、混料现象，在正常储藏条件（温度-5℃~35℃，相 对湿度≤75％）下一年内不能出现因包装不善而导致异常。 外观：来料本体上要求有厂商或供应商的标识，规格书须标有额定电压、电流，储存的温度，插座的型号；插座本体无损伤、表面清洁、无明显油污、污迹，成形良好、安 装后可见部分不允许有披锋、破损，允许不明显且不影响安装的披锋，来料颜色、 结构要求和样品一致，孔槽无堵塞、缺针现象，引脚不能出现变形，上锡端子无氧化。 尺寸：具体的尺寸请按我司相对应的图纸要求，实配PCB板应良好。 接触电阻（导通性）：用对应的公母端子相匹配，接触电阻要求≤20mΩ;(测试时公、母端 子必须为我司合格的物料)。 额定耐压：指插座的导体与绝缘体所可承受的电压，电压要求应小于或等于标称值。 拉力：被测试线的拉力请根据我司图纸的要求测试，应符合要求。 绝缘电阻：用DC500V直流电阻仪测试应≥800MΩ 高温：高温（根据实验物料的额定温度），在烤箱内放置16h后，室温放置1小时，再测

连接器电气性能检测

1 引言 不论是高频电连接器，还是低频电连接器，绝缘电阻、介质耐压（又称抗电强度）和接触电阻都是保证电连接器能正常可靠地工作的最基本的电气参数。通常在电连接器产品技术条件的质量一致性检验A、B 组常规交收检验项目中都列有明确的技术指标要求和试验方法。这三个检验项目也是用户判别电连接器质量和可靠性优劣的重要依据。但根据笔者多年来从事电连接器检验的实践发现，目前各生产厂之间以及生产厂和使用厂之间，在具体执行有关技术条件时尚存在许多不一致和差异，往往由于采用的仪器、测试工装、操作方法、样品处理和环境条件等因素不同，直接影响到检验准确和一致。为此，笔者认为，针对目前这三个常规电性能检验项目和实际操作中存在的问题进行一些专题研讨，对提高电连接器检验可靠性是十分有益的。 另外，随着电子信息技术的迅猛发展，新一代的多功能自动检测仪正在逐步替代原有的单参数测试仪。这些新型测试仪器的应用必将大大提高电性能的检测速度、效率和准确可靠性。 2 绝缘电阻检验 2．1作用原理 绝缘电阻是指在连接器的绝缘部分施加电压，从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出的电阻值。即绝缘电阴(MΩ)=加在绝缘体上的电压（V）/泄漏电流（μA）。通过绝缘电阻检验，确定连接器的绝缘性能能否符合电路设计的要求，或在经受高温、潮湿等环境应力时，其绝缘电阻是否符合有关技术条件的规定。 绝缘电阻是设计高阻抗电路的限制因素。绝缘电阻低，意味着漏电流大，这将破坏电路和正常工作。如形成反馈回路，过大的漏电流所产生的热和直流电解，将使绝缘破坏或使连接器的电性能变劣。 2．2影响因素 主要受绝缘材料、温度、湿度、污损、试验电压及连续施加测试电压的持续时间等因素影响。 2．2．1绝缘材料 设计电连接器时选用何种绝缘材料非常重要，它往往影响产品的绝缘电阻能否稳定合格。如某厂原使用酚醛玻纤塑料和增强尼龙等材料制作绝缘体，这些材料内含极性基因，吸湿性大，在常温下绝缘性能可满足产品要求，而在高温潮湿下则绝缘性能不合格。后采用特种工程塑料PES（聚苯醚砜）材料，产品经200℃、1000h和240h潮湿试验，绝缘电阻变化较小，仍在105MΩ以上，无异常变化。 2．2．2温度 高温会破坏绝缘材料，引起绝缘电阻和耐压性能降低。对金属壳体，高温可使接触件失去弹性、加速氧化和发生镀层变质。如按GJB598生产的耐环境快速分离电连接器系列II产品，绝缘电阻规定25℃时应不小于5000MΩ，而200℃时，则降低至不小于500MΩ。 2．2．3温度 潮湿环境引起水蒸气在绝缘体表面的吸引和扩散，容易使绝缘电阻降低到MΩ级以下。长期处于高温环境下会引起绝缘体物理变形、分解、逸出生成物，产生呼吸效应及电解腐蚀及裂纹。如按GJB2281生产的带状电缆电连接器，标准大气条件下的绝缘电阻值应不小于5000MΩ，而经相对湿度90%~95%、温度40±2℃、96h湿热试验后的绝缘电阻降至不小于1000MΩ。 2．2．4污损 绝缘体内部和表面的洁净度对绝缘电阻影响很大，由于注塑绝缘体用的粉料或胶接上、下绝缘安装板的胶料中混有杂质，或由于多次插拔磨损残留的金属屑及锡焊端接时残留的焊剂渗入绝缘体表面，都会明显降低绝缘电阻。如某厂生产的圆形电连接器在成品交收试验时发现有一个产品接触件之间的绝缘电阻很低，仅20MΩ，不合格。后经解剖分析发现，这是因注塑绝缘体用的粉料中混有杂质而造成的。后只得将该批产品全部报废。 2．2．5 试验电压 绝缘电阻检验时施加的试验电压对测试结果有很大关系。因为试验电压升高时，漏电流的增加不成线性

连接器规范和测试要求

【技术&知识】连接器规范和测试要求 文：Knight Chen / CACT 工程部 连接器依照其产品功能和使用环境，将规范要求分为四大部分。 1. 电气规范要求 2. 机械规范要求 3. 环境规范要求 4. 环保要求 一、电气规范要求 电气特性是连接器实现连接功能的主要特性。确定连接器的电气特性，以保证连接器满足连接功连接器的电气特性有： 1. 接触阻抗（Contact Resistance） 目的：維持連接器在使用期限內的接觸阻抗，以減少信號和能量在傳輸過程中的損失或衰減。 測試方法：EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A,。

测试要点：a. 测试电流/电压100mA@20mV，被测试连接器（连接系统）无负载。 b. 测试电流为低电流是为了避免接触阻抗受到端子（导体）热电效应影响。 c. 测试电压为低电压是为了避免端子（导体）之间接触界面绝缘薄膜被击穿和熔化。 规范要求：一般要求50m?（initial）；100m?（final，即在寿命测试或环境测试後）。 定义接触阻抗此参数是为了减少信号和能量在传输过程中的损失或衰减，电流就像水流一样。阻小，能量的损失和衰减就越少。 就连接器的接触处而言，影响其阻抗大小的因素有正向力（对於弹性接触结构而言），接触环境端子（导体）的表面粗糙度，表面处理方式（如电镀的金属特性和致密性），端子与端子（或其他导的结合方式（是焊接or铆合or弹性接触等）。 从电学理论角度来说，接触阻抗为C点绿色圈接触处的阻抗；在客人使用角度来说，连接器提供到B点的导通（连接），所以客人要的阻抗应包含从A点到B点的所有导体本身的阻抗和接触处的阻（包括焊接、铆合等接触方式）如图一示。 （图一） 2. 耐電壓(Withstanding Voltage) 目的：确认两导体（或两回路）之间的绝缘介质（包含气体）及其间距是否适合和足够，以确保

软件开发测试及准生产环境管理规范

软件开发测试及准生产环境 管理规范 -标准化文件发布号：（9456-EUATWK-MWUB-WUNN-INNUL-DDQTY-KII

软件开发、测试及准生产环境管理规范 （ISO27001-2013） 第一章总则 第一条为加强公司开发测试及准生产环境的管理，确保开发测试及准生产环境项目文档、代码及数据安全，明确开发测试及准生产环境软硬件平台的维护职责，保证开发测试及准生产环境的稳定运行，提高开发效率，特制定本办法。 第二条本办法所指开发测试及准生产环境是指公司软件项目在开发过程中所使用的相关环境，包括并不仅限于开发环境、用户测试环境、准生产环境、配置版本库环境等。 第三条开发测试及准生产环境的管理和建设应遵循以下原则： (一) 安全性：通过相应管理制度和技术手段，保证开发环境数据、代码、文档等信息的安全可靠，保证不会丢失。 (二) 保密性：通过相应管理制度和技术手段，保证公司的商业秘密及数据、代码、文档等重要信息不会被非法访问或泄露。 (三) 高效性：通过采用合适的软硬件平台和技术手段，保证开发环境的各套系统的运行速度和效率，保证项目开发进度。 (四) 稳定性：通过采用合适的软硬件平台和技术手段，保证开发环境各套系统的稳定运行，减低系统故障率。 第二章分工及职责

第四条信息部运维组主要负责如下工作： (一) 负责开发测试及准生产环境的机房设备、硬件设备、网络设备、系统软件的安装、管理、维护、故障报告后的性能监控及排查等工作。 (二) 负责开发测试及准生产环境的病毒防治工作。 (三) 根据项目组的要求，配合完成开发测试及准生产环境的数据及版本配置库的备份与恢复工作。 (四) 协助项目组完成开发测试及准生产环境的性能优化工作。 (五) 对开发过程中遇到的硬件平台、系统软件、网络等技术问题提供支持。第五条信息部项目组成员主要负责如下工作： (一) 准生产系统权限、密码管理。 (二) 准生产环境的应用系统搭建、配置工作。 (三) 准生产环境程序、数据的同步。 (四) 准生产环境的版本管理及配置管理。 (五) 准生产环境的维护和软件系统投产前验证。 (六) 准生产环境应用软件故障的调查、分析。 第六条开发厂商职责。 (一) 开发测试环境系统权限、密码管理 (二) 开发测试环境系统搭建、配置工作。 (三) 开发测试环境程序版本发布。

连接器性能及测试标准介绍

连接器性能及测试标准介绍 很多时候，连接器厂商在选择相关PIN针产品时，都会要求PIN 针供应商做相关测试，但是，在实际操作当中，很多PIN针厂商都把握不准相关测试标准与方向！那么，东莞群桦在这里连接器相关性能以及测试标准要求简单的介绍： 连接器的基本性能可分爲三大类：机械性能、电气性能和环境性能。 一、机械性能： 就连接功能而言，插拔力是重要地机械性能。插拔力分爲插入力和拔出力（拔出力亦称分离力），两者的要求是不同的。在有关标准中有最大插入力和最小分离力规定，这表明，从使用角度来看，插入力要小（从而有低插入力LIF和无插入力ZIF的结构），而分离力若太小，则会影响接触的可靠性。 另一个重要的机械性能是连接器的机械寿命。机械寿命实际上是一种耐久性（durability）指标，在国标GB5095中把它叫作机械操作。它是以一次插入和一次拔出爲一个循环，以在规定的插拔循环后连接器能否正常完成其连接功能（如接触电阻值）作爲评判依据。连接器的插拔力和机械寿命与接触件结构（正压力大小）接触部位镀层质量（滑动摩擦係数）以及接触件排列尺寸精度（对准度）有关。二、电气性能：连接器的主要电气性能包括接触电阻、绝缘电阻和抗电强度。 1、接触电阻高质量的电连接器应当具有低而稳定的接触电阻。连接器的接触电阻从几毫欧到数十毫欧不等。

2、绝缘电阻衡量电连接器接触件之间和接触件与外壳之间绝缘性能的指标，其数量级爲数百兆欧至数千兆欧不等。 3、抗电强度或称耐电压、介质耐压是表征连接器接触件之间或接触件与外壳之间耐受额定试验电压的能力。 4、其它电气性能电磁干扰洩漏衰减是评价连接器的电磁干扰屏蔽效果,电磁干扰洩漏衰减是评价连接器的电磁干扰屏蔽效果，一般在100MHz~10GHz频率范围內测试。对射频同轴连接器而言，还有特性阻抗、插入损耗、反射係数、电压驻波比（VSWR）等电气指标。由于数字技术的发展，爲了连接和传输高速数字脉衝信号，出现了一类新型的连接器即高速信号连接器，相应地，在电气性能方面，除特性阻抗外，还出现了一些新的电气指标，如串扰（crosstalk），传输延迟（delay）、时滞（skew）等。 三、环境性能：常见的环境性能包括耐温、耐湿、耐盐雾、振动和冲击等。 1、耐温目前连接器的最高工作温度爲200℃（少数高温特种连接器除外），最低温度爲-65℃。由于连接器工作时，电流在接触点处産生热量，导致温升，因此一般认爲工作温度应等于环境温度与接点温升之和。在某些规范中，明确规定了连接器在额定工作电流下容许的最高温升。 2、耐湿潮气的侵入会影响连接器的绝缘性能，并锈蚀金属零件。恆定湿热试验条件爲相对湿度90%~95%（依据産品规范，可达98%）、温度+40±20℃，试验时间按産品规定，最少爲96小时。交变湿热试

连接器插拔力标准总结

连接器插拔力标准 目地：为了保证连接器适配后的可靠性和稳定性，依据EIA-364-13C（国际电气协会插拔力测试规范）特制定本标准，规定插入力不得大于额定值（确保使用者不至于很难插入适配头），而拔出力不得小于额定值（防止在各种复杂场合松脱或掉落，造成设备连线中断及损坏）。 连接器类型测试项目标准测试条件 USB系列1.连接器拔出力≥1.0Kg,焊线后注塑成品≥0.8Kg 测试头插拔次数≤10次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤3.5Kg Mini-Din系列1.连接器拔出力≥1.3Kg,焊线后注塑成品≥1.0Kg 测试头插拔次数≤10次 插拔速度为25.4mm/分钟2.连接器插入力≤3.5Kg S-ATA系列1.连接器拔出力≥1.0Kg 测试头插拔次数≤10次 插拔速度为25.4mm/分钟2.连接器插入力≤4.5Kg D-SUB系列-09P 1.连接器拔出力≥1.5Kg 测试头插拔次数≤20次 插拔速度为25.4mm/分钟2.连接器插入力≤3.5Kg D-SUB系列-15P 1.连接器拔出力≥2.0Kg 测试头插拔次数≤20次 插拔速度为25.4mm/分钟2.连接器插入力≤5.0Kg D-SUB系列-25P 1.连接器拔出力≥2.5Kg 测试头插拔次数≤20次 插拔速度为25.4mm/分钟2.连接器插入力≤8.5Kg D-SUB系列-37P 1.连接器拔出力≥3.0Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤12.5Kg Housing系列-02P 1.连接器拔出力≥0.5Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤3.0Kg Housing系列-04P 1.连接器拔出力≥0.5Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤3.0Kg Housing系列-06P 1.连接器拔出力≥0.5Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤3.0Kg Housing系列-08P 1.连接器拔出力≥0.7Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤3.5Kg Housing系列-10P 1.连接器拔出力≥0.7Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤3.5Kg Housing系列-12P 1.连接器拔出力≥1.0Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤5.0Kg Housing系列-14P 1.连接器拔出力≥1.0Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤5.0Kg Housing系列-16P 1.连接器拔出力≥1.0Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤5.0Kg 187端子系列1.连接器拔出力≥1.5Kg 测试头插拔次数≤5次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤6.5Kg 250端子系列1.连接器拔出力≥2.0Kg 测试头插拔次数≤6次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤8.0Kg IDC端子系列1.连接器拔出力≥0.06g*Pin数测试头插拔次数≤10次 插拔速度为12.7mm/分钟2.连接器插入力≤6.8Kg