测试陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台及其测试方法

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利说明书

（10）申请公布号

CN101957215B

（43）申请公布日2013.01.09（21）申请号CN200910057625.0

（22）申请日2009.07.21

（71）申请人深迪半导体(上海)有限公司

地址201203 上海市张江高科技园区晨晖路88号1号楼307室

（72）发明人邹波;华亚平;付世;郭慧芳

（74）专利代理机构

代理人

（51）Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

（54）发明名称

测试陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台及其测试方法

（57）摘要

本发明公开了一种测试陀螺仪在两个

轴向上的性能的测试转台及其测试方法，测

试转台包括平台、测试母板、卡钩、弹簧、

定位板、间隔块、测试板、连接装置、插

槽、转动装置、水平垫、待测器件卡槽和引

线条，测试母板位于平台的上方，卡钩的一

端固定在平台上，卡钩将测试板固定在水平

垫上，弹簧安装在转动装置上，定位板固定

于转动装置上，间隔块固定于测试板的一

端，待测器件卡槽安装于测试板上方，测试

板的一端设有引线条，引线条插入插槽中，