实验十 查找技术验证实验
查找技术实验十查找技术验证实验
一、折半查找验证
1. 实验目的
⑴掌握折半查找算法的基本思想；
⑵掌握折半查找算法的实现方法；
⑶掌握折半查找算法的时间性能。
2. 实验内容
对给定的有序数组（假设长度为n），查找数组中与给定值k相等的元素。
3. 实现提示
折半查找的基本思想为：在有序数组中，取中间元素作为比较对象，若给定值与中间元素相等，则查找成功；若给定值小于中间元素，则在中间元素的左半区继续查找；若给定值大于中间元素，则在中间元素的右半区继续查找。不断重复上述过程，直到查找成功，或所查找的区域无元素，查找失败。为了统计在折半查找过程中元素的比较次数，设置一个计数器count来记载比较次数，算法如下：
查找技术
二、二叉排序树的建立
1. 实验目的
⑴掌握二叉排序树定义和特性；
⑵掌握二叉排序树的建立方法；
⑶实现基于二叉排序树的查找技术；
⑷掌握二叉排序树的查找性能。
2. 实验内容
⑴对给定的一组无序序列，建立一棵二叉排序树；
⑵对建立的二叉排序树实现查找操作。
3. 实现提示
二叉排序树通常采用二叉链表的形式进行存储，其结点结构定义如下（本章假定数据域均为整数）：
struct BiNode
{
int data;
BiNode *lchild, *rchild;
};
设计实验用二叉排序树类BiSortTree，包括插入和查找操作。
class BiSortTree
{
public:
BiSortTree(int a[ ], int n); //建立查找集合a[n]的二叉排序树
~ BiSortTree( ); //析构函数，释放二叉排序树中所有结点，同二叉链表的析构函数
void InsertBST(BiNode *root, BiNode *s); //在二叉排序树中插入一个结点s
BiNode *SearchBST(BiNode
private:
BiNode *root; //二叉排序树（即二叉链表）的根指针
};
⑴设计构造函数，即构造一棵二叉排序树的二叉链表存储，其过程是从空的二叉排序树开始，依次插入一个个结点。
在二叉排序树中插入结点的算法如下：
查找技术
⑵设计查找函数，在二叉排序树上进行查找的过程是一个递归的过程，算法如下：
模拟电子技术基础实验思考题
低频电子线路实验思考题 实验一常用电子仪器的使用（P6） 1.什么是电压有效值？什么是电压峰值？常用交流电压表的电压测量值和示波器的电压直接测量值有什么不同？ 答：电压峰值是该波形中点到最高或最低之间的电压值；电压有效值等于它的瞬时值的平方在一个周期内职分的平均值再取平方根。 常用交流电压表的电压测量值一般都为有效值，而示波器的电压直接测量都为峰值。 2.用示波器测量交流信号的峰值和频率，如何尽可能提高测量精度？答：幅值的测量：Y轴灵敏度微调旋钮置于校准位置，Y轴灵敏度开关置于合适的位置即整个波形在显示屏的Y轴上尽可能大地显示，但不能超出显示屏指示线外。频率测量：扫描微调旋钮置于校准位置，扫描开关处于合适位置即使整个波形在X轴上所占的格数尽可能接近10格（但不能大于10格）。 实验二晶体管主要参数及特性曲线的测试（P11） 1.为什么不能用MF500HA型万用表的R×1Ω和R×10Ω档量程测量工作极限电流小的二极管的正向电阻值？ 答：根据MF500HA型万用表的内部工作原理，可知R×1Ω和R×10Ω档量程测量工作极限电流小的二极管的正向电阻值的等效电路分别为图1和图2所示，此时流过二极管的最大电流，，当I D1和I D2大于该二极管的工作极限电流时就会使二极管损坏。
图1 图2 2. 用MF500HA型万用表的不同量程测量同一只二极管的正向电阻值，其结果不同，为什么？ 提示：根据二极管的输入特性曲线和指针式万用表Ω档的等效电路，结合测试原理分析回答。 答：R×1Ω：r o=9.4Ω; R×10Ω: r o=100Ω; R×100Ω: r o=1073Ω; R×1kΩ: r o=32kΩ。因为二极管工作特性为正向导通、反向截至，尤其是正向导通的输入特性曲线为一条非线性曲线。用MF500HA型万用表
微机原理与接口技术实验报告
微机原理与接口技术实验报告 班级：自动化（铁道信号） 姓名： ***** 学号： 1121**** 授课教师：福恩
目录 1.实验一 (3) 2. 实验二 (8) 3.实验三 (13) 4.实验四 (22) 5.实验五 (26) 6.实验六 (33) 7.参考文献 (38)
实验一交通灯控制实验 一.实验目的 通过应用接口技术设计十字路口、复杂路口交通灯控制系统，学会应用“微机原理与接口技术”课程所学的X86汇编语言和接口技术掌握可编程并行接口芯片的硬件设计、软件编程，实现十字路口交通灯的模拟控制并思考计算机如何应用在各种控制系统中。 （1）掌握利用X86汇编语言技巧 （2）掌握X86微处理器与可编程并行接口芯片8255A硬件电路设计 （3）熟悉模拟交通灯控制的实现方法并思考如何应用在实际中。 二.实验容 设计一个交通控制系统，该控制系统工作后，交通灯按照如下规律变化： （1）南北路口的绿灯、东西路口的红灯同时亮3秒左右。 （2）南北路口的黄灯闪烁若干次，同时东西路口的红灯继续亮。 （3）南北路口的红、东西路口的绿灯同时亮3秒。 （4）南北路口的红灯继续亮、同时东西路口的黄灯亮闪烁若干次。 （5）返回（1）依次循环。 三．实验电路 如下图，L7、L6、L5作为南北路口的交通灯与PC7、PC6、PC5相连，L2、L1、L0作为东西路口的交通灯与PC2、PC1、PC0相连。编程使六个灯按交通灯变化规律燃灭。 8255动态分配地址: 控制寄存器：0EC0BH A口地址： 0EC08H C口地址： 0EC0AH
红黄绿红黄绿 图1-1 交通灯实验电路图四．程序流程图 五．源程序 CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE ;********************************** 工作状态控制字设置 START: MOV DX,0EC0BH ;写控制端口，地址0EC0BH MOV AL,10010000B ;C口方式0输出 OUT DX,AL
查找表实验报告
河北科技大学 实验报告 16级计算机科学与技术专业班学号 2019年5月21日姓名教师白云飞 实验名称查找表操作成绩 实验类型设计型实验批阅教师白云飞 一、实验目的 1．掌握查找表的基本概念。 2．掌握静态查找表（顺序查找、折半查找）的存储和算法实现。 3．掌握动态查找表（二叉排序树）的存储和算法实现。 二、实验内容 1．给出静态查找表的顺序存储结构描述。 2．实现顺序查找和折半查找操作。 3．给出二叉排序树的二叉链式存储结构描述。 4．实现二叉排序树的初始化、插入、删除、查找、清空等操作。 5．编写主程序实现对这些运算的测试。 三、实验环境 硬件：CPU I 5 内存4GB，硬盘512GB 操作系统：Windows XP 软件编程环境：VC++6.0 四、实验步骤 1．用VC建立一个控制台应用程序，命名为Search。 2．新建一个头文件，命名为datastru.h，包含标示符常量的定义和Status类型定义。 3．新建一个头文件，命名为Search.h，包含查找表的存储类型描述和基本运算的声明。4．新建一个程序文件，命名为Search.cpp，包含查找表基本运算的实现和复杂运算的实现。5．新建一个主程序文件，命名为SearchMain.cpp，包含对这些运算的测试。 五、程序源代码（对复杂的设计思想描述要有较详细的注释） 1．头文件datastru.h内容。 #define TRUE 1 #define FALSE 0 #define OK 1
#define ERROR 0 #define INFEASIBLE -1 #define OVERFLOW -2 typedef int Status ; 2．头文件Search.h内容。 …… 3．程序文件Search.cpp内容。 ……. 4．主程序文件SearchMain.cpp实现。 //设计测试程序 …… 六、实验数据、结果分析 （描述最终得到的结果，并进行分析说明） 既要有正确数据的测试也要有异常数据的测试。 七、结论体会 （说明实验过程中遇到的问题及解决办法；个人的收获；未解决的问题等）
单片机原理及其接口技术实验报告
单片机原理及其接口技术实验指导书 实验1 Keil C51的使用（汇编语言） 一.实验目的： 初步掌握Keil C51（汇编语言）和ZY15MCU12BD型综合单片机实验箱的操作和使用，能够输入和运行简单的程序。 二.实验设备： ZY15MCU12BD型综合单片机实验箱一台、具有一个RS232串行口并安装Keil C51的计算机一台。 三.实验原理及环境： 在计算机上已安装Keil C51软件。这个软件既可以与硬件（ZY15MCU12BD型综合单片机实验箱）连接，在硬件（单片机）上运行程序；也可以不与硬件连接，仅在计算机上以虚拟仿真的方法运行程序。如果程序有对硬件的驱动，就需要与硬件连接；如果没有硬件动作，仅有软件操作，就可以使用虚拟仿真。 四：实验内容： 1.掌握软件的开发过程： 1）建立一个工程项目选择芯片确定选项。 2）加入C 源文件或汇编源文件。 3）用项目管理器生成各种应用文件。 4）检查并修改源文件中的错误。 5）编译连接通过后进行软件模拟仿真。 6）编译连接通过后进行硬件仿真。 2.按以上步骤实现在P1.0输出一个频率为1Hz的方波。 3.在2的基础上，实现同时在P1.0和P1.1上各输出一个频率同为1Hz但电平状态相反的方波。 五：程序清单： ORG 0000H AGAIN：CPL P1.0 MOV R0，#10 ;延时0.5秒 LOOP1：MOV R1，#100 LOOP2：MOV R2，#250 DJNZ R2，$ DJNZ R1，LOOP2 DJNZ R0，LOOP1 SJMP AGAIN END 六：实验步骤： 1.建立一个工程项目选择芯片确定选项 如图1-1所示：①Project→②New Project→③输入工程名test→④保存工程文件（鼠标点击保存按钮）
发动机台架试验 -可靠性试验
学生实验报告实验课程名称：发动机试验技术
目录 一、试验目的 二、试验内容 1.试验依据 2.试验条件 3.试验仪器设备 4.试验样机 5.试验内容与方案 （1）交变负荷试验 （2）混合负荷试验 （3）全速负荷试验 （4）冷热冲击试验 （5）活塞机械疲劳试验 （6）活塞热疲劳试验 三、试验进度安排 四、试验结果的提供
摘要 国外在可靠性试验方面己做了许多有益的研究工作，但到目前为止尚未形成统一的试验方法，而且考虑到该试验的非普遍性及技术保密性，将来也不可能形成统一的试验规范。相对于热疲劳研究状况来讲，国内对机械疲劳的研究还比较少。为适应发动机比功率和排放法规日益提高的苛刻要求，发动机面临着更高机械负荷和热负荷的严峻考验。国内高强化发动机最大爆发压力已超过22 Mpa。活塞的机械疲劳损伤主要体现在销孔、环岸等部位。活塞环岸、销座及燃烧室等部位由于在较高的工作温度下承受着高频冲击作用的爆发压力，润滑状况较差，摩擦磨损，其他破坏可靠性的腐蚀磨损(缸套一环换向区、排气门/排气门座锥面等)、疲劳磨损(挺杆、轴瓦、齿轮表面等)、微动磨蚀(轴瓦钢背、飞轮压紧处、飞轮壳压紧处、湿缸套止口处等)、电蚀(火花塞电极等)和穴蚀(水泵叶轮等)这些都是可靠性试验的主要目标，也是实施可靠性设计、试验研究的重点部位。 众所周知，在内燃机整机上进行零部件可靠性试验成本昂贵。本文将参照原有的可靠性试验方法，通过看一些关于可靠性的零部件加速寿命实验技术制定一种评价内燃机可靠性的考核规范，包括活塞机械疲劳试验和活塞热疲劳试验，可迅速做出其可靠性恰当的评价，可以降低研发成本、缩短研发时间。 一、试验目的 1通过理解内燃机可靠性评估，评定发动机的可靠性。 1.1了解评估的多种理论方法，如数学模型法、上下限法、相似设备法、蒙特卡洛法、故障分析( 包括故障模式影响分析和故障树分析) 等。并掌握故障分析法。 1.2学会可靠性试验评估，为进行可靠性设计奠定基础理论，为发动机及相关零部件提供测试、验证以及改进的技术支持。 2掌握可靠性试验方法 2.1掌握内燃机可靠性综合性试验及专项试验。综合性试验的考核对象是零件的可靠性、零件表面性状的变化和发动机性能的保持性；专项试验是超水温( 耐热性) 、超负荷、混合负荷、交变负荷循环、超爆发压力、超速等试验。 二、试验内容 1试验依据 参考的试验标准： GB /T 19055-2003 汽车发动机可靠性试验方法 GB /T 18297-2001 汽车发动机性能试验方法 JB/T 5112-1999 中小功率柴油机产品可靠性考核 2试验条件 一般试验条件： 2.1燃料及机油:采用制造厂所规定的牌号，柴油中不得有消烟添加剂。
二分搜索实验报告
竭诚为您提供优质文档/双击可除 二分搜索实验报告 篇一：算法设计与分析二分查找实验报告 课程设计说明书 设计题目：二分查找程序的实现 专业：班级： 设计人： 山东科技大学年月日 课程设计任务书 学院：信息科学与工程学院专业：班级：姓名： 一、课程设计题目：二分查找程序的实现二、课程设计主要参考资料 （1）计算机算法设计与分析（第三版）王晓东著（2）三、课程设计应解决的主要问题 （1）二分查找程序的实现（2）（3）四、课程设计相关附件（如：图纸、软件等）： （1）（2） 五、任务发出日期：20XX-11-21课程设计完成日期：
20XX-11-24 指导教师签字：系主任签字： 指导教师对课程设计的评语 成绩： 指导教师签字： 年月日 二分查找程序的实现 一、设计目的 算法设计与分析是计算机科学与技术专业的软件方向的必修课。同时，算法设计与分析既有较强的理论性，也有较强的实践性。算法设计与分析的实验过程需要完成课程学习过程各种算法的设计和实现，以达到提高教学效果，增强学生实践动手能力的目标。 用分治法，设计解决二分查找程序的实现问题的一个简捷的算法。通过解决二分查找程序的实现问题，初步学习分治策略。 二、设计要求 给定已按升序排好序的n个元素a[0:n-1]，现要在这n 个元素中找出一特定元素x。实现二分搜索的递归程序并进行跟踪分析其执行过程。 用顺序搜索方法时，逐个比较a[0:n-1]中的元素，直至找出元素x，或搜索遍整个数组后确定x不在其中。这个方
法没有很好的利用n个元素已排好序这个条件，因此在最坏情况下，顺序搜索方法需要o(n)次比较。要求二分法的时间复杂度小于o(n)。 三、设计说明（一）、需求分析 二分搜索方法充分利用了元素间的次序关系，采用分治策略，可在最坏情况下用o(logn)时间完成搜索任务。 该算法的流程图如下： （二）、概要设计 二分查(:二分搜索实验报告)找的基本思路是将n个元素分成大致相等的两部分，取a[n/2]与x做比较，如果 x=a[n/2],则找到x，算法终止；如果xa[n/2]，则只要在数组a的右半部分继续搜索x。 由于二分查找的数组不一定是一个整数数组，所以我采用了c++中的模板函数，将排序函数sort和二分查找函数binarysort写为了模板函数，这样不尽可以查找整数数组，也可以查找小数数组。 由于查找的数组的长度不固定，所以我用了c语言中的malloc和realloc函数，首先定义一个数组指针，用malloc 函数该它分配空间，然后向数组中存数，当数组空间满时，在用realloc函数为数组再次分配空间。由于在随机输入一组数时不知在什么位置停止，所以 篇二：二分搜索实验报告
可靠性验收试验
可靠性验证试验 1 概述 1.1 试验目的与分类 可靠性验证试验的目的是验证产品的可靠性是否达到规定的要求。 可靠性验证试验根据产品的性质分为可靠性鉴定试验和可靠性验收试验。 可靠性鉴定试验是为了验证新开发产品的设计是否达到规定的最低可接收的可靠性定量要求。 验收试验是对正式转入批生产产品是否达到可靠性定量要求的试验。 1.2 统计概念 可靠性指标是产品性能的时间表征，是随机变量，无法用仪表检测，只有通过抽样试验或全寿命统计才能检验。 产品的可靠性使用指标，也是可靠性目标值，在合同中又称规定值，试验方案中可为θ0。 产品必须达到的可靠性使用指标称可靠性门限值，在合同中叫最低可接受值，试验方案中为θ1。 可靠性验证试验方案建立在统计数学基础上，与“个体”、“总体”、“批”、“样本”、“样本量”、“随机抽取”、“分布”等等统计学概念有关。 电子产品在寿命的随机失效期的故障率为常数，符合指数分布。 1.3 一般要求 试验大纲必须经过有关方面讨论批准。 统计试验方案由订购方在合同中规定，从有关标准中选定。 试验样品的技术状态应是经过批准的。 试验剖面应代表实际使用环境条件。 试验应在授权的实验室在用户代表监督下进行。 2 可靠性验证试验大纲 2.1 试验大纲内容 试验对象和数量； 试验目的、进度； 试验方案； 试验条件：试验设备提供的应力及其容差、检测设备及其精度要求； 试验场所，经订购方认可按以下顺序选定：独立实验室，合同乙方以外的实验室，合同乙方的实验室； 设置评审点、开展FRACAS要求。 2.2 试验方案 A 根据大纲要求制定试验方案，内容包括： 试验项目； 选定统计试验方案：号码、鉴别比D、风险α和β、试验时间T、样品数量、是否可替换； 试验剖面； 故障判据及分类； 有关试验方职责分工； 计划进度、经费、人员、维修器材等资源保证条件； 其它可靠性活动信息。 B 试验方案选定因素 定时截尾试验，累积试验时间是确定的，便于试验计划安排和管理，但不一定是最经济的； 定数截尾试验，累计相关故障数是确定的，在采取不可替换的试验时，样品数量是也确定的，也不一定是最经济的。 等概率比序贯试验，做出判据所需的故障数和累计试验时间比定时截尾和定数截尾试验的少，事前只能确定它们的最大值，但样品数量和试验时间难以确定，不便于试验计划安排和管理，最大累积试验时间和累计故障数有可能超过定时截尾或定数截尾的试验。 2.3 试验条件 可靠性验证试验剖面应典型代表产品的使用条件： 功能模式，当产品有超过1种使用模式时，应分析各自所占时间的百分比，确定模式转换的方
电子技术基础实验答案
实验一、常用电子仪器的使用 一、实验目的 1、学习电子技术实验中常用电子仪器的主要技术指标、性能和正确使用方法。 2、初步掌握用示波器观察正弦信号波形和读取波形参数的方法。 电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 二、实验原理 在模拟电子电路实验中，要对各种电子仪器进行综合使用，可按照信号流向，以接线简捷，调节顺手，观察与读数方便等原则进行合理布局。接线时应注意，为防止外界干扰，各仪器的公共接地端应连接在一起，称共地。 1．信号发生器 信号发生器可以根据需要输出正弦波、方波、三角波三种信号波形。输出信号电压频率可以通过频率分挡开关、频率粗调和细调旋钮进行调节。输出信号电压幅度可由输出幅度调节旋钮进行连续调节。 操作要领： 1）按下电源开关。 2）根据需要选定一个波形输出开关按下。 3）根据所需频率，选择频率范围（选定一个频率分挡开关按下）、分别调节频率粗调和细调旋钮，在频率显示屏上显示所需频率即可。 4）调节幅度调节旋钮，用交流毫伏表测出所需信号电压值。 注意：信号发生器的输出端不允许短路。 2．交流毫伏表 交流毫伏表只能在其工作频率范围内，用来测量300伏以下正弦交流电压的有效值。 操作要领： 1）为了防止过载损坏仪表，在开机前和测量前（即在输入端开路情况下）应先将量程开关置于较大量程处，待输入端接入电路开始测量时，再逐档减小量程到适当位置。 2）读数：当量程开关旋到左边首位数为“1”的任一挡位时，应读取0～10标度尺上的示数。当量程开关旋到左边首位数为“3”的任一挡位时，应读取0～3标度尺上的示数。 3）仪表使用完后，先将量程开关置于较大量程位置后，才能拆线或关机。 3．双踪示波器 示波器是用来观察和测量信号的波形及参数的设备。双踪示波器可以同时对两个输入信号进行观测和比较。 操作要领： 1）时基线位置的调节开机数秒钟后，适当调节垂直（↑↓）和水平（←→）位移旋钮，将时基线移至适当的位置。 2）清晰度的调节适当调节亮度和聚焦旋钮，使时基线越细越好（亮度不能太亮，一般能看清楚即可）。 3）示波器的显示方式示波器主要有单踪和双踪两种显示方式，属单踪显示的有“Y1”、“Y2”、“Y1+Y2”，作单踪显示时，可选择“Y1”或“Y2”其中一个按钮按下。属双踪显示的有“交 替”和“断续”，作双踪显示时，为了在一次扫描过程中同时显示两个波形，采用“交替”显示 方式，当被观察信号频率很低时（几十赫兹以下），可采用“断续”显示方式。 4）波形的稳定为了显示稳定的波形，应注意示波器面板上控制按钮的位置：a）“扫描
计算机组成原理与接口技术实验报告
计算机组成原理与接口技术 课程设计实验报告 学院：计算机科学与工程 专业：计算机科学与技术 班级：计科二班 学号： 姓名： 指导老师： 评分： 2016年12月28日
实验一验证74LS181运算和逻辑功能 1、实验目的 （1）掌握算术逻辑单元（ALU）的工作原理； （2）熟悉简单运算器的数据传送通路； （3）画出逻辑电路图及布出美观整齐的接线图； （4）验证4位运算功能发生器(74LS181)组合功能。 2、实验原理 ALU能进行多种算术运算和逻辑运算。4位ALU-74LS181能进行16种算术运算和逻辑运算。 74ls181芯片介绍： 该芯片总共由22个引脚，其中包括8个数据 输入端（~A0、~A1、~A2、~A3，~B0、~B1、~B2、 ~B3，其中八个输入端中A3和B3是高位），这八 个都是低电平有效。还包括S0、S1、S2、S3这四 个控制端，这四个控制端主要控制两个四位输入 数据的运算，例如加、减、与、或。CN端处理进 入芯片前进位值，M控制芯片的运算方式，包括 算术运算和逻辑运算。F0、F1、F2、F3是四个二 进制输出端，以一个四位二进制形式输出运算的 结果。CN4记录运算后的进位。
3、实验内容 实验电路图：
4、总结及心得体会 本实验通过一个设计一个简单的运算器，使我熟悉了Multisim软件的一些基本操作方法，并掌握了一些简单的电路设计与分析的能力，并对我做下一个运算器的实验有一定的帮助。因为是之前实验课做过的实验，再次做起来过程比较流畅，没有遇到什么大的问题，实验的测试结果与预期的一致。 该芯片总共由22个引脚，其中包括8个数据输入端（~A0、~A1、~A2、~A3，~B0、~B1、~B2、~B3，其中八个输入端中A3和B3是高位），这八个都是低电平有效。还包括S0、S1、S2、S3这四个控制端，这四个控制端主要控制两个四位输入数据的运算，例如加、减、与、或。CN端处理进入芯片前进位值，M控制芯片的运算方式，包括算术运算和逻辑运算。F0、F1、F2、F3是四个二进制输出端，以一个四位二进制形式输出运算的结果。CN4记录运算后的进位。其中AEQB、~P和~G这三个端口与本实验无关，所以这里不做额外介绍。
微机原理与接口技术实验报告
新疆农业大学机械交通学院 实习（实验）报告纸 班级：机制072 学号： 073731234 姓名：唐伟 课程名称：微机原理及接口技术实习（实验）名称: DEBUG软件的使用 实验时间: 6.22 指导教师签字：成绩： —、实验目的 1．学习DEBUG软件的基本使用方法。 2．掌握8088／8086的寻址方式。 3．掌握数据传送、算术运算逻辑运算等类指令的基本操作。 二、实验内容与步骤 实验内容： 修改并调试以下程序，使之完成30000H开始的内存单元中存入31个先自然递增然后有自然递减的数据（00H~0F~00H）的功能。程序从CS:0100H开始存放。调试完成后程序命名为PCS.EXE并存盘。 实验步骤： （1）用A命令输入程序； （2）用反汇编U命令显示程序及目标码； 存盘程序命令为PCS1.EXE；
三、思考题 1．EXE文件程序的第一条可执行指令的IP等于多少? 答：EXE文件程序的第一条可执行指令的IP等于0010 。 2．在DEBUG环境下显示的程序和数字是什么形式?标号又是什么形式? 答: DEBUG把所有数据都作为字节序列处理。因此它可以读任何类型的文件。DEB UG可以识别两种数据: 十六进制数据和ASCⅡ码字符。它的显示格式是各个字节的十六进制值以及值在32与126之间的字节的相应ASCⅡ码字符。DEBUG总是用四位十六进制数表示地址。用两位数表示十六进制数据。不支持标号。 3．试述本次实验中你学会的DEBUG命令？ 答：本次试验我学会了汇编命令（A命令）、．反汇编命令(U命令)、显示当前环境和寄存器内容（R命令、以十六进制和ASCII码形式显示内存单元内容（D命令）
电子技术基础实验答案
电子技术基础实验答案 导语：在模拟电子电路实验中，要对各种电子仪器进行综合使用，可按照信号流向，以接线简捷，调节顺手，观察与读数方便等原则进行合理布局。以下为大家介绍电子技术基础实验答案文章，欢迎大家阅读参考! 实验一、常用电子仪器的使用 1、学习电子技术实验中常用电子仪器的主要技术指标、性能和正确使用方法。 2、初步掌握用示波器观察正弦信号波形和读取波形参数的方法。 电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 在模拟电子电路实验中，要对各种电子仪器进行综合使用，可按照信号流向，以接线简捷，调节顺手，观察与读数方便等原则进行合理布局。接线时应注意，为防止外界干扰，各仪器的公共接地端应连接在一起，称共地。 1．信号发生器 信号发生器可以根据需要输出正弦波、方波、三角波三种信号波形。输出信号电压频率可以通过频率分挡开关、频率粗调和细调旋钮进行调节。输出信号电压幅度可由输出幅度调节旋钮进行连续调节。 操作要领：
1）按下电源开关。 2）根据需要选定一个波形输出开关按下。 3）根据所需频率，选择频率范围、分别调节频率粗调和细调旋钮，在频率显示屏上显示所需频率即可。 4）调节幅度调节旋钮，用交流毫伏表测出所需信号电压值。 注意：信号发生器的输出端不允许短路。 2．交流毫伏表 交流毫伏表只能在其工作频率范围内，用来测量300伏以下正弦交流电压的有效值。 1）为了防止过载损坏仪表，在开机前和测量前应先将量程开关置于较大量程处，待输入端接入电路开始测量时，再逐档减小量程到适当位置。 2）读数：当量程开关旋到左边首位数为“1”的任一挡位时，应读取0～10标度尺上的示数。当量程开关旋到左边首位数为“3”的任一挡位时，应读取0～3标度尺上的示数。 3）仪表使用完后，先将量程开关置于较大量程位置后，才能拆线或关机。 3．双踪示波器 示波器是用来观察和测量信号的波形及参数的设备。双踪示波器可以同时对两个输入信号进行观测和比较。
汇编程序及接口技术实验报告
微机汇编程序及接口技术实验报告 汇编程序实验： 一、实验目的 1、熟悉汇编程序调试过程 2、掌握算术运算指令运用 3、掌握分支程序的编程和调试方法 二、实验设备 80X86微型计算机 三、实验内容 1、编程并调试显示“Hello Word!”字符串的汇编程序 TITLE HELLO DA TA SEGMENT STR DB'Hello World!$' DA TA ENDS CODE SEGMENT ASSUME DS:DATA,CS:CODE START:MOV AX,DATA MOV DS,AX MOV DX,OFFSET STR MOV AH,9H INT 21H MOV AH,4CH INT 21H CODE ENDS END START
2、A、B、C、D、W是互不相等的在数据段中定义的16位有符号数，并假设加减运算不产生溢出。编写一个完整段定义的汇编语言程序，计算W=(A+B)×（C—D）。 title asmprogram1_1 DA TA SEGMENT A DW 1H B DW 3H C DW 4H D DW 2H W DW 2 DUP(?) DA TA ENDS ; CODE SEGMENT ASSUME DS:DATA,CS:CODE START:MOV AX,DATA MOV DS,AX MOV AX,A ADD AX,B MOV BX,C SUB BX,D IMUL BX MOV W,AX MOV W+2,DX MOV AH,4CH INT 21H CODE ENDS END START
3、设X、Y为在数据段中定义的有符号字变量。编写一个完整段定义的汇编语言程序（包含必要的伪指令，给出必要的注释）完成以下操作：若0 实验一 DEBUG命令及其基本操作 一．实验目的： 1.熟练掌握DEBUG的常用命令，学会用DEBUG来调试程序。 2.深入了解数据在存储器中的存取方法，了解堆栈中数据的压入与弹出方法。 3.掌握各种寻址方法，了解简单指令的执行过程。 二、实验容: 1.打开计算机，在WINXP操作系统下，点击“开始”，选择“运行”，在“打开”一栏中输入“debug”，运行DEBUG应用程序，将出现DEBUG的提示符“-”。 2.在DEBUG提示符后键入字母“-a100”，回车后，屏幕上就会出现下面类似的容： （具体到每个计算机所产生的段地址和偏移地址可能有所不同） 这表示在地址1383:0100处，DEBUG等待用户键入程序助记符，下面键入程序： 3.在DEBUG的提示符后键入G，这是执行程序的命令，然后回车，就可以看到结果了。 4．现在让我们用“d”命令来看一下存储器 在100H～107H这8个单元，程序覆盖了原来的容，右边的字符是组成程序的ASCII码等价字符，圆点表示不可显示字符。 5．下面我们用反汇编命令来查看一下所键入的程序。“U”命令的格式是“U起始地址，终止地址”，即把起始地址到终止地址之间的十六进制码反汇编成汇编语言助记符语句。键入： 大家在屏幕上不仅可以看到地址和助记符，而且还可以看到与汇编语言等价的机器语言。6.现在我们修改存储单元的容，看看显示情况和变化。 我们看到显示的结果发生了变化，这是因为DOS的2号功能调用是显示输入数据的ASCII 码字符。 7.下面我们给程序命名并存盘。在键入“n”后紧跟程序名及扩展名 因为文件的字节数必须事先放在BX和CX中，其中BX保存高16位，CX保存低16位，整个32位的数保存文件的字节数，一般来说，BX设置为0，因为CX可存放的字节数为64K，对于一般的程序已足够了。 8.结束后可用Q命令退出DEBUG程序。 三、实验习题 1．写出完成下列功能的指令序列 （1）传送20H到AL寄存器 （2）将（AL）*2 （3）传送25H到BL寄存器 （4）（AL）*（BL） 问最后的结果（AX）=？ 单步执行结果： 2．分别写出完成下列指令要求的指令： （1）将BX的低4位清零； （2）将AX的高4位置1； （3）将DX的低4位取反； （4）将CX的中间八位清零； （5）将AX中与BX中的对应位不相同的位均置1. 实验二折半查找算法设计 题目：折半查找算法设计 问题描述：（1）分析掌握折半查找算法思想，在此基础上，设计出递归算法和循环结构两种实现方法的折半查找函数。 （2）编写程序实现：在保存于数组的10000个有序数据元素中查找数 据元素x是否存在。数据元素x要包含两种情况：一种是数据元素x 包含在数组中；另一种是数据元素x不包含在数组中 （3）数组中数据元素的有序化既可以初始赋值时实现，也可以设计一 个排序函数实现。 （4）根据两种方法的实际运行时间，进行两种方法时间效率的分析对 比。 基本要求：（1）10000个数据可以初始赋值时实现，也可以调用系统的随机函数，再设计一个排序函数实现。 （2）两种方法时间效率的分析对比可以有两种方法，一种是理论分析 方法，一种是实际记录运行时间。 （3）提交实验报告。 测试数据：运行算法时，当输入的数据小于10000，例如输入9999时，显示该数据在数组中，下标为9998，并且分别显示递归和循环结构下的时 间；当输入的数据大于10000时，例如输入20000时，显示这个这个 数据不再该数组中。 算法思想：设有数组a中元素按从小到大的次序排列，a的下界下标为low，上界下标为high，首先计算出a的中间位置下标mid=（low+high)/2, 1.递归算法思想：比较x和a[mid],若x=a[mid]，则查找成功；若 x 标识： RMS-SRDT-{S Y1514127, SY1514207}-BG-V1.0-2015 ATM软件 可靠性验证测试实验报告 北航可靠性与系统工程学院 二〇一五年十二月 ATM软件 可靠性验证测试实验报告 编写：林烨 (SY1514127)日期:12月31日校对：王洋洋(SY1514207)日期:12月31日 目录 1 软件可靠性验证测试要求 (1) 1.1 软件可靠性验证测试统计方案 (1) 1.2 软件失效的定义 (1) 1.3 软件可靠性验证测试终止条件 (1) 2 测试结果 (2) 2.1 测试用例生成情况 (2) 2.2 测试用例执行情况 (2) 3 软件可靠性验证测试结论 (3) 4 软件可靠性点估计和区间估计 (4) 5 软件可靠性验证测试实验总结与建议 (4) 1软件可靠性验证测试要求 1.1软件可靠性验证测试统计方案 软件可靠性验证测试常用的统计方法有定时结尾、贯序截尾和无失效结尾三种。序贯截尾试验事先对试验总时间及试验所需用资源无法确定，只能根据事先拟定的接收、拒收条件结束试验，无法估计MTBF的真值，但是为了更充分地利用软件每次的失效信息，以及在可靠性比较高或比较低的情况下可以做出更快的判决，我们采用序贯验证测试。选取的序贯测试方案参数为：生产方风险（α）：10%，使用方风险（β）：10%，鉴别比（d）：1.5，MTBF最低可接受值：600s。生成序贯曲线如图1所示。 图1 序贯验证测试曲线图 1.2软件失效的定义 软件不能实现软件需求规格说明书上的功能。 1.3软件可靠性验证测试终止条件 当有点落到接受区或拒绝区时终止测试。 微机原理与接口技术实验报告 2 3 实验一：数据传送 实验学时：2 实验类型：验证 实验要求：必修 一．实验目的 1．学习程序设计的基本方法和技能，掌握用汇编语言设计、编写、调试和运行程序的方法； 学习用全屏幕编辑软件QEDIT.EXE建立源程序（.ASM文件）； 学习用汇编软件MASM.EXE对源文件汇编产生目标文件（.OBJ文件）； 学习用连接程序LINK.EXE对目标文件产生可执行文件（.EXE文件）； 学习用调试软件TD.EXE调试可执行文件； 2．掌握各种寻址方法以及简单指令的执行过程。 二．实验器材 PC机 三．实验组织运行要求 1．利用堆栈实现AX的内容与BX的内容进行交换。堆栈指针SP=2000H，AX=3000H，BX=5000H； 2．汇编、调试、观察、记录结果； ⑴用QEDIT.EXE软件输入汇编语言源程序，以.ASM格式文件存盘； ⑵用MASM对源程序进行汇编产生二进制目标文件（.OBJ文件），再用连接程序LINK产生可执行文件（.EXE文件）； ⑶用调试软件TD调试、运行程序，观察、记录结果。 四．实验步骤 1．进入子目录E:>\SY86后，利用QEDIT.EXE（简称Q）送入以下汇编语言源程序，并以M1.ASM文件存盘 ⑴汇编语言程序的上机过程 ①进入\SY86子目录 E：>CD\SY86 E：\SY86> ②进入QEDIT.EXE 编辑界面 E：\SY86> Q ③输入文件名*.ASM（如M1.ASM）后，输入源程序 源程序 DATA SEGMENT PARA PUBLIC’DATA’ ；数据段定义 DB 512 DUP(0) DATA ENDS STACK SEGMENT PARA STACK’STACK’ ；堆栈段定义 DB 512 DUP( ?) 4 电子技术实验报告 学号： 222014321092015 姓名： 刘 娟 专业： 教育技术学 实验三 单级交流放大器（二） 一、 实验目的 1. 深入理解放大器的工作原理。 2. 学习测量输入电阻、输出电阻及最大不失真输出电压幅值的方法。 3. 观察电路参数对失真的影响. 4. 学习毫伏表、示波器及信号发生器的使用方法。 二. 实验设备: 1、实验台 2、示波器 3、数字万用表 三、预习要求 1、熟悉单管放大电路。 2、了解饱和失真、截止失真和固有失真的形成及波形。 3、掌握消除失真方法。 四、实验内容及步骤 ● 实验前校准示波器，检查信号源。 ● 按图3-1接线。 图3-1 1、测量电压参数，计算输入电阻和输出电阻。 ● 调整RP2，使V C =Ec/2（取6～7伏），测试V B 、V E 、V b1的值，填入表3-1中。 表3-1 ● 输入端接入f=1KHz 、V i =20mV 的正弦信号。 ● 分别测出电阻R 1两端对地信号电压V i 及V i ′按下式计算出输入电阻R i ： ● 测出负载电阻R L 开路时的输 出电压V ∞ ，和接入R L （2K ）时的输出电压V 0 , 然后按下式计算出输出电阻R 0； 将测量数据及实验结果填入表3-2中。 2 中。 ● 输入信号不变，用示波器观察正常工作时输出电压V o 的波形并描画下来。 ● 逐渐减小R P2的阻值，观察输出电压的变化，在输出电压波形出现明显失真时，把失 真的波形描画下来，并说明是哪种失真。( 如果R P2=0Ω后，仍不出现失真，可以加大输入信号V i ，或将R b1由100K Ω改为10K Ω，直到出现明显失真波形。) ● 逐渐增大R P2的阻值，观察输出电压的变化，在输出电压波形出现明显失真时，把失 真波形描画下来，并说明是哪种失真。如果R P2=1M 后，仍不出现失真，可以加大输入信号V i ，直到出现明显失真波形。 表 3-3 ● 调节R P2使输出电压 波形不失 真且幅值 为最大（这 时的电压放大倍数最大），测量此时的静态工作点V c 、V B 、V b1和V O 。 表 3-4 五、实验报告 1、分析输入电阻和输出电阻的测试方法。 按照电路图连接好电路后，调节RP2，使Vc 的值在6-7V 之间，此时使用万用表。接入输入信号1khz 20mv 后，用示波器测试Vi 与Vi ’，记录数据。用公式计算出输入电阻的值。在接入负载RL 和不接入负载时分别用示波器测试Vo 的值，记录数据，用公式计算出输出电阻的值。 2、讨论静态工作点对放大器输出波形的影响。 静态工作点过低，波形会出现截止失真，即负半轴出现失真；静态工作点过高，波形会出现饱和失真，即正半轴出现失真。 实验四 负反馈放大电路 一、 实验目的 1、熟悉负反馈放大电路性能指标的测试方法。 2、通过实验加深理解负反馈对放大电路性能的影响。 二、实验设备 1、实验台 2、示波器 3、数字万用表 三、预习要求 1、熟悉单管放大电路，掌握不失真放大电路的调整方法。 2、熟悉两级阻容耦合放大电路静态工作点的调整方法。 3、了解负反馈对放大电路性能的影响。 四、实验电路 可靠性验证试验报告需要写写什么？ 可靠性验证试验报告是承制方进行可靠性试验的正式记录，供订购方用来评价可靠性要求得到满足的程度。包括定期可靠性验证试验报告及最终可靠性验证试验报告。最终报告应包括关于受试产品可靠性全面分析及其有关数据和信息的简要说明。其中包括用以说明试验数据、故障与时间的关系。 具体细节如下： 试验报告每一台受试产品的试验记录、每一次故障的故障报告以及试验故障总报告。 每一台受试产品的试验记录应包括如下内容： (a) 受试产品标识。包括产品名称、生产厂名、产品型号、受试产品排序号； (b) 每次观测与操作的记录。包括日期时间、工作条件、环境条件、性能参数值、工作计时器的累积读数、 观测与操作人员姓名、其他。 每一次故障的故障报告应该包括如下内容： 有试验操作人员填报的如下： (a) 故障识别。故障出现日期和日历时间，受试产品排序号、故障涉及的零、组、部件，出故障时产品的工作条件及环境条件，计时器的累积读数，试验操作人员姓名； (b) 故障模式。故障的原始现象，哪些产品特性参数超出了容许限？哪些一标志是出现故障？ (c) 有关的故障分析报告要点； (d) 对故障的类别意见； (e) 建议的修复或纠正措施； (f) 其他需说明的内容。 由维修人员填报的如下： (a) 故障确认。确认的方法和仪器仪表，故障确认的观测结果； (b) 维修说明。采取的维修措施，维修期间产品的工作时间，维修日期及时刻，维修时间、维修人员的所属 单位及姓名。 (c) 更换的零、组、部件记录。零、组、部件（元器件）的名称、型号规格、生产厂名、生产出厂日期、安 装在产品上的部位（具体到电路上的位置）； (d) 故障原因的意见； (e) 故障分类的意见； 课程设计实验报告 课程：现代微机原理与接口技术题目：键盘扫描实验 班级：数字媒体 1004 学号： 0305100417 学生：海洋 指导老师：天天 日期： 2012.6.18 一、实验目的 （1）掌握键盘扫描的应用及编程 （2）掌握LED的应用 二、实验设备 PC计算机一台，TD-PIT + 实验系统一套。 三、实验原理 （1）8255芯片：8255具有3个带锁存或缓冲的数据端口，它的并行数据宽度为8位。可与外设并行进行数据交换。A口和B口具有中断控制逻辑，在外设与CPU之间可用中断方式进行信息交换。把8255并口和键盘，组成一个键盘装置。通过cpu对8255的控制最总达到键扫的目的。每一个键对应一个ASCII 码字符，通过8255的输入和输出，最终显示在屏幕上。 （2）LED数码显示原理：数码管的 7 个段及小数点都是由 LED 块组成的，显示方式分为静态显示和动态显示两种。数码管在静态显示方式时，其共阳管的位选信号均为低电平，四个数码管的共用段选线 a、b、c、d、e、f、g、dp 分别与单片机的 8 根 I/O 口线相连，显示数字时只要给相应的段选线送低电平。数码管在动态显示方式时，在某一时刻只能有一个数码管被点亮显示数字，其余的处于非选通状态，位选码端口的信号改变时，段选码端口的信号也要做相应的改变，每位显示字符停留显示的时间一般为1-5ms，利用人眼睛的视觉惯性，在数码管上就能看到相当稳定的数字显示。 （3）键盘扫描原理：第一步，使行线为编程的输入线，列线是输出线，拉低所有的列线，判断行线的变化，如果有按键按下，按键按下的对应行线被拉低，否则所有的行 可靠性增长试验 1 概述 1.1 基本概念 众所周知，装备的可靠性是由设计决定的。但是，由于受到各种原因的影响，设计缺陷总是难免的，产品在研制阶段往往达不到用户的可靠性要求，因此必须开展可靠性增长活动。 必须指出，可靠性增长活动不是针对设计低劣的产品的，而是针对经过认真设计仍然由于某些技术原因达不到要求的产品，而且可靠性增长活动比可靠性设计活动所需的资源和时间都多，因此，管理者往往只对通过可靠性设计评审的产品才安排可靠性增长计划。那种把可靠性水平寄托在增长活动上的态度是错误的。 可靠性增长的核心是消除影响产品可靠性水平的设计缺陷。可靠性增长的关键是发现影响产品可靠性水平的设计缺陷。为此，必须通过试验或运行的途径来实现产品故障机理的检测。常见的可靠性增长有，一般性的可靠性增长和可靠性增长管理。 一般性的可靠性增长，是指事前未给出明确的可靠性增长目标，对产品在试验或运行中发生的故障，根据可用于可靠性增长资源的多少，选择其中的一部分或全部实施纠正措施，以使产品可靠性得到确实提高的过程；它通常不制定计划增长曲线，也不跟踪增长过程，而是采用一两次集中纠正故障的方式，使产品可靠性得到提高。由于增长过程通常不能满足增长模型的限度条件，增长后的产品可靠性水平需要通过可靠性验证试验才能进行定量评估。 可靠性增长管理，是指有计划有目标的可靠性增长工作项目，并非可靠性增长过程中的管理工作。它是产品寿命期内的一项全局性的、为达到预期的可靠性指标、对时间和资源进行系统安排、在估计值和计划值比较的基础上依靠新分配资源、对实际增长率进行控制的可靠性增长项目。可靠性增长管理有两个特点： a) 有一个逐步提高的可靠性增长目标: 可靠性增长管理主要针对大型军事装备，把可靠性增长工作从工程研制阶段延伸到生产阶段或使用阶段，在阶段的转接处和阶段内部划分的小阶段的进出口处设定可靠性增长目标，形成逐步提高的系列目标。这就促使有关部门实施严格管理和为降低风险提供手段。 b) 充分利用产品寿命期内的各项试验和运行记录: 除了可靠性试验之外，在产品寿命期内还有其它各种试验以及运行过程都可能产生故障信息，可以用于可靠性增长的故障机理检测，经过风险权衡后把其中的一部分纳入可靠性增长管理的范围，形成可靠性增长的整体，使产品可靠性逐步增长到预期目标。 可靠性增长活动是一个连续完整的闭环控制过程。在此环中，首要任务是发现产品的设计缺陷——这主要是从试验、使用中发生的故障中发现；然后是对故障进行分析——重点研究重复性故障和关键故障发生的原因，当认定为设计缺陷后提出纠正这些设计缺陷的措施；接着是实施纠正措施——将修改设计的措施在少数产品（试验样品）上实施，并通过试验验证纠正措施的有效性；最后是修改技术文件和把纠正措施推广到同型号产品中去——这是落实可靠性增长活动的重要工作，是发挥可靠性增长试验效益的关键步骤。可靠性增长活动可以在工程研制阶段、生产阶段进行，甚至在使用阶段进行。按照有关标准的规定只在装备研制阶段才进行可靠性增长试验和增长工作，但从我国的实际情况出发，有不少已经装备部队多年的产品仍然对其进行可靠性增长试验和“可靠性补课工作”，并取得了显著成绩。这就是说，要根据产品的技术状况和可靠性水平去决定何时以何种形式开展可靠性增长活动。 可靠性增长试验是可靠性增长活动的主要内容，是产品工程研制阶段单独安排的可靠性工作项目，成为工程研制阶段的组成部分。可靠性增长试验通常安排在工程研制基本完成之后和可靠性鉴定试验之前进行。此时，产品的性能与功能已经基本达到设计要求，产品结构与布局已经接近批生产的要求，故障信息的确实性已经较高，且此时故障纠正措施的实施所需资源和时间较少。使用阶段的可靠性增长活动可以利用产品的现场故障信息和现场使用状况记录来取代可靠性增长试验工作。 1.2 可靠性增长试验的目的 可靠性增长试验的目的是，在装备研制或生产阶段通过试验获得设计缺陷的信息，以便对其微机原理及接口技术实验报告
实验二 折半查找算法设计
软件可靠性验证测试实验报告
微机原理与接口技术实验报告
电子技术基础实验报告
可靠性验证试验报告需要写写什么
微机原理与接口技术_课程设计实验报告
可靠性增长试验
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