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时钟信号质量测试用例5.6

1.目的

测量手机各时钟信号是否符合设计规范，以确保手机各项性能稳定可靠。

2.适用范围

适用于新开发手机产品在试产阶段的评测。

3.测试准备和说明：

3.1程控电源、数字示波器、频率计、原理图及PCB丝印图、原配耳机、SIM卡、TF卡、

烙铁、细导线若干、蓝牙耳机；

3.2测试结果如有必要需附测试波形图。

4.测试过程：

4.1 实时钟32.768KHz时钟测试(测试用例编号:

6.1)

4.1.1测试条件：

被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。

4.1.2 测试步骤：

1）从原理图上找到32.768KHz晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT 端，频率计(10M档位)读数即为晶体频率；

2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；

3）通道耦合选取直流模式，档位设定为100mV，时间标度设置为10.0us；

4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等；

5）按测试说明要求，在摄像状态选取一个半周期的完整波形，按运行/停止键抓取波形，测量读取数据并按Save键保存波形。

4.1.3 预期结果：

测试项目参考值

电压峰值690-750mV

毛刺0

频偏±20ppm

抖动幅度0

占空比50%

4.2 主时钟26MHz时钟测试(测试用例编号:

6.2)

4.2.1测试条件：

被测机开壳，被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。

4.2.2 测试步骤：

1）从原理图上找到26M晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT端，频

率计(120M档位)读数为即晶体频率；

2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；

3）通道耦合选取直流模式，档位设定为500mV，时间标度设置为400ns；

4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等；

5）按测试说明要求，在通话状态选取一个半周期的完整波形，按运行/停止键，测量并读取数据，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等，按Save键保

存波形。

4.2.3 预期结果：

测试项目参考值

电压峰值≤600mv

毛刺≤160

频偏±20ppm

抖动幅度0

占空比50%

4.3 蓝牙32MHz时钟测试(测试用例编号:

6.3)

4.3.1测试条件：

被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机，蓝牙开启，接蓝牙耳机。

4.3.2 测试步骤：

1）从原理图上找到32M晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT端，频

率计(120M档位)读数为即晶体频率；

2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；

3）通道耦合选取直流模式，档位设定为200mV，标度设置为400ns；

4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等；

5）按测试说明要求,在蓝牙听mp3状态选取一个半周期的完整波形,按运行/停止

键抓取波形,测量并读取数据再按Save键保存波形。

4.3.3 预期结果：

测试项目参考值

电压峰值≤800mv

毛刺0

频偏±20ppm

抖动幅度0

占空比50%

4.4 FM时钟测试(测试用例编号:

6.4)

4.4.1测试条件：

被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机，接耳机开收音。

4.4.2 测试步骤：

1）从原理图上找到FM时钟信号输入位置，频率计探头负极接地，正极接信号输

入端，频率计(10M档位)读数即为时钟频率；

2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；

3）通道耦合选取直流模式，档位设定为1.0V，时间标度设置为10.0us；

4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，幅值电压，占空比等；

5）按测试说明要求，在插耳机收听调幅广播状态选取一个半周期的完整波形，

按运行/停止键抓取波形；

6）测量并读取数据后按Save键保存波形。

4.4.3 预期结果：

测试项目参考值

上升时间≤300

下降时间≤300

上过冲0.5V

下过冲-0.2V

电压幅值 2.8V

毛刺20mV

软件测试标准和测试用例汇总

软件测试标准前言前一版的《软件测试标准》，在测试工作中发挥了很好的指导作用。本次修改在原标准基础上，提出了新的测试理念、工作方法、组织方式，使之更贴近实际工作，真正起到纲领的作用。一、软件测试 1、软件测试的目的软件测试是指为了度量和提高被测试对象的质量、对测试对象进行工程设计、使用和维护的与软件开发过程并发的生命周期过程。软件测试的目的为：验证软件产品的实现状态以及实现质量。 2、软件测试相关概念 2.1白盒测试指基于程序结构的测试，测试目标是检查程序内部逻辑结构和逻辑路径，是代码级的测试。 2．2黑盒测试基于程序功能的测试，根据输入输出的关系推断程序功能的正确性。 2．3测试用例测试方案，包括数据输入和相应的期望输出。依据测试用例来执行具体操作。 2．4预防性测试其原理为：只要测试在生命周期中进行得足够早，就能够提高待测软件的质量。 2．5测试风险分析其目的为：确定测试对象、测试的优先级、测试的深度。 2.6软件测试模型公司目前采用V模型，实现测试与软件开发的同步进行。 2.7等价类划分将测试对象按某种约定划分为有限个组成部分，提高测试的有效性。 2.8边界值分析分析测试对象的所有边界值及边界附近的临界值。二、测试工作流程

三、开发—测试流程说明： 1、新版本提供时间，由程序员与测试员按实际情况协调； 2、BUG审核的范围包括对BUG的抽查；对标注为不修改或待讨论BUG的管理； 3、软件涉及到功能性修改时，应该先提供修改设计说明，讨论通过后方可进行修改。四、测试角色与职责五、BUG主要参数 1、当前状态记录BUG的状态，包括已修改、未修改、已验证。 2、严重程度 BUG严重程度分为四个级别

软件测试用例实例非常详细

1、兼容性测试在大多数生产环境中，客户机工作站、网络连接和数据库服务器的具体硬件驱动程客户机工作站可能会安装不同的软件例如，应用程序、规格会有所不同。序等而且在任何时候，都可能运行许多不同的软件组合，从而占用不同的资源。测试目的操作系统系统软件外设应用软件结果配置说明 Window2000(S) 服务器 WindowXp Window2000(P) Window2003 TestCase_LinkWorks_WorkEvaluate 用例编号LinkWorks项目名称WorkEvaluate模块模块名称研发中心-质量管理部项目承担部门用例作者2005-5-27 完成日期质量管理部本文档使用部门评审负责人审核日期批准日期注：本文档由测试组提交，审核由测试组负责人签字，由项目负责人批准。历史版本：备注起止日期参与者作者状态/版本 V1.1 1.1. 疲劳强度测试用例

强度测试也是性能测试是的一种，实施和执行此类测试的目的是找出因资源不足或资源争用而导致的错误。如果内存或磁盘空间不足，测试对象就可能会表现出一些在正常条件下并不明显的缺陷。而其他缺陷则可能由于争用共享资源（如数据库锁或网络带宽）而造成的。强度测试还可用于确定测试对象能够处理的最大工作量。测试目的测试说明用户并发设置添加10连续运行8前提条件小时,输出/响应输入测试需求/动作是否正常运行1 2小时功能4小时6小时8 小时 2小时功能1 4小时6小时小时8 一、功能测试用例此功能测试用例对测试对象的功能测试应侧重于所有可直接追踪到用例或业务功能和业务规则的测试需求。这种测试的目标是核实数据的接受、处理和检索是否正确，以及业务规则的实施是否恰当。主要测试技术方法为用户通过GUI（图形用户界面）与应用程序交互，对交互的输出或接受进行分析，以此来核实需求功能与实现功能是否一致。

高精度时钟芯片的测试方法介绍

高精度时钟芯片的测试方法介绍中国电子科技集团公司第五十八研究所武新郑解维坤摘要：高精度时钟芯片是一种能够提供精确计时的芯片，相对于普通的时钟芯片，它的晶体和温度补偿集成在芯片中，为提高计时精度提供了保障，它同时还具备日历闹钟功能、可编程方波输出功能等。本文以DS3231芯片为例，以J750Ex测试机和相关仪表为测试环境，重点介绍以I2C总线协议为基础的内部寄存器功能和芯片各模块功能的测试。通过测试机测试保存在寄存器中秒、分、时、星期、日期、月、年和闹钟设置等信息，以及电源控制功能，通过测试机对示波器和频率计的程控实现对老化修正和输出频率的测试，同时还会重点介绍该芯片时钟精度的测试方法和测试环境。关键词：高精度时钟芯片；DS3231芯片；J750Ex测试机；I2C总线协议 Introduction of testing method of the extremely accurate RTC Wu Xin-zheng (China Electronic Technology Group Corporation, No.58 Research Institute , Jiangsu Wuxi 214035, China) Abstract: The extremely accurate real time clock is a piece of chip which can maintain accurate timekeeping, compared with the ordinary RTC chip, its integrated temperature compensated crystal oscillator and crystal are located in the center of the chip, which provides an assurance for promoting the exacticy, it also has two programmable time-of-day alarms and a programmable square-wave output. This paper takes DS3231 for instance, the environment with J750Ex and related instruments, introduces inner register with I2C and the testing method of every module. The ATE tests seconds, minutes, hours, day, date, month, and year information, the function of power. By means of OSC and frequency meter, it can test the output wave and register for aging trim, at the same time, also introduced the testing method and environment of accuracy. Key words:

时钟信号质量测试用例5.6

1.目的测量手机各时钟信号是否符合设计规范，以确保手机各项性能稳定可靠。 2.适用范围适用于新开发手机产品在试产阶段的评测。 3.测试准备和说明： 3.1程控电源、数字示波器、频率计、原理图及PCB丝印图、原配耳机、SIM卡、TF卡、烙铁、细导线若干、蓝牙耳机； 3.2测试结果如有必要需附测试波形图。 4.测试过程： 4.1 实时钟32.768KHz时钟测试(测试用例编号: 5. 6.1) 4.1.1测试条件：被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。 4.1.2 测试步骤： 1）从原理图上找到32.768KHz晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT 端，频率计(10M档位)读数即为晶体频率； 2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒； 3）通道耦合选取直流模式，档位设定为100mV，时间标度设置为10.0us； 4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等； 5）按测试说明要求，在摄像状态选取一个半周期的完整波形，按运行/停止键抓取波形，测量读取数据并按Save键保存波形。 4.1.3 预期结果：测试项目参考值电压峰值690-750mV 毛刺0 频偏±20ppm 抖动幅度0 占空比50% 4.2 主时钟26MHz时钟测试(测试用例编号: 5. 6.2) 4.2.1测试条件：被测机开壳，被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。 4.2.2 测试步骤： 1）从原理图上找到26M晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT端，频率计(120M档位)读数为即晶体频率； 2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒； 3）通道耦合选取直流模式，档位设定为500mV，时间标度设置为400ns；

测试用例实例—常见功能测试点

测试用例实例--常见功能测试点笔者在网上看到了一篇文章，个人认为此文对于“软件常用功能测试点”总结的很好，特此摘录下来和大家一起分享。 1. 登陆、添加、删除、查询模块是我们经常遇到的，这些模块的测试点该如何考虑 1)登陆 ①用户名和密码都符合要求(格式上的要求) ②用户名和密码都不符合要求(格式上的要求) ③用户名符合要求，密码不符合要求(格式上的要求) ④密码符合要求，用户名不符合要求(格式上的要求) ⑤用户名或密码为空 ⑥数据库中不存在的用户名，不存在的密码 ⑦数据库中存在的用户名，错误的密码 ⑧数据库中不存在的用户名，存在的密码 ⑨输入的数据前存在空格 ⑩输入正确的用户名密码以后按[enter]是否能登陆 ------------------------------------------------------------------------------------------------------ 2) 添加 ①要添加的数据项均合理，检查数据库中是否添加了相应的数据 ②留出一个必填数据为空

③按照边界值等价类设计测试用例的原则设计其他输入项的测试用例 ④不符合要求的地方要有错误提示 ⑤是否支持table键 ⑥按enter是否能保存 ⑦若提示不能保存，也要察看数据库里是否多了一条数据 ------------------------------------------------------------------------------------------------------ 3) 删除 ①删除一个数据库中存在的数据，然后查看数据库中是否删除 ②删除一个数据库中并不存在的数据，看是否有错误提示，并且数据库中没有数据被删除 ③输入一个格式错误的数据，看是否有错误提示，并且数据库中没有数据被删除。 ④输入的正确数据前加空格，看是否能正确删除数据 ⑤什么也不输入 ⑥是否支持table键 ⑦是否支持enter键 ------------------------------------------------------------------------------------------------------ 4)查询精确查询：

实验一小信号调谐(单调谐)放大器实验指导

实验一高频小信号单调谐放大器实验一、实验目的 1.掌握小信号单调谐放大器的基本工作原理； 2.熟悉放大器静态工作点的测量方法； 3.掌握谐振放大器电压增益、通频带、选择性的定义、测试及计算； 4.了解高频单调谐小信号放大器幅频特性曲线的测试方法。二、实验原理小信号单谐振放大器是通信接收机的前端电路，主要用于高频小信号的线性放大。其实验原理电路如图1-1所示。该电路由晶体管BG、选频回路（LC并联谐振回路）二部分组成。它不仅对高频小信号进行放大，而且还有一定的选频作用。 1．单调谐回路谐振放大器原理单调谐回路谐振放大器原理电路如图1-1所示。图中，R B1、R B2、R E用以保证晶体管工作于放大区域，从而放大器工作于甲类。C E是R E的旁路电容，C B、C C 是输入、输出耦合电容，L、C是谐振回路，R C是集电极（交流）电阻，它决定了回路Q值、带宽。为了减轻负载对回路Q值的影响，输出端采用了部分接入方式。 2．单调谐回路谐振放大器实验电路单调谐回路谐振放大器实验电路如图1-2所示。其基本部分与图1-1相同。图中，C3用来调谐，K1、K2、K3用以改变集电极电阻，以观察集电极负载变化对谐振回路（包括电压增益、带宽、Q值）的影响。K4、K5、K6用以改变射极偏置电阻，以观察放大器静态工作点变化对谐振回路（包括电压增益、带宽、Q值）的影响。

图1-2 单调谐回路谐振放大器实验电路高频小信号调谐放大器的主要性能指标有谐振频率f 0，谐振电压放大倍数A u0，放大器的通频带BW 0.7及选择性（通常用矩形系数K 0.1来表示）等。放大器各项性能指标及测量方法如下： 1.谐振频率放大器的调谐回路谐振时所对应的频率f 0称为放大器的谐振频率，对于图1所示电路（也是以下各项指标所对应电路），f 0的表达式为 ∑=LC f π21 式中，L 为调谐回路电感线圈的电感量； ∑C 为调谐回路的总电容，∑C 的表达式为 21oe C C n C ∑=+ 式中， C oe 为晶体管的输出电容； n 1（注：此图中n 1=1）为初级线圈抽头系数；n 2为次级线圈抽头系数。谐振频率f 0的测量方法是：用扫频仪作为测量仪器，测出电路的幅频特性曲线，微调C3，使电压谐振曲线的峰值出现在规定的谐振频率点f 0。 2.电压放大倍数放大器的谐振回路谐振时，所对应的电压放大倍数A u0称为调谐放大器的电压放大倍数。A u0的表达式为

高速信号的扩频时钟的测试分析

胡为东系列文章之二高速信号的SSC扩频时钟测试分析美国力科公司胡为东摘要：由于FCC、IEC等规定电子产品的EMI辐射不能超出一定的标准。因此电路设计者需要从多个角度来思考如何降低系统的EMI辐射，如进行合理的PCB布线、滤波、屏蔽等。由于信号的辐射主要是由于信号的能量过于集中在其载波频率位置，导致信号的能量在某一频点位置处的产生过大的辐射发射。因此为了进一步有效的降低EMI辐射，芯片厂家在设计芯片时也给容易产生EMI的信号增加了SSC（Spread Spectrum Clocking）即扩频时钟的功能，采用SSC的功能可以有效的降低信号所产生的EMI。当前PCIE、SATA、SAS、USB3.0等几乎所有的高速芯片都支持SSC的功能。本文就将SSC的基本概念、SSC的测试测量方法做一介绍。关键词：力科SSC 扩频时钟EMI 眼图一、SSC（扩频时钟）的概念如下图1所示为一信号在是否具有SSC前后的频谱对比。图中蓝色曲线为没有SSC时候的频谱，浅色的为具有SSC时的频谱。从图中可见，未加SSC时，信号的能量非常集中，且幅度很大；而加了SSC后，信号能量被分散到一个频带范围以内，信号能量的整体幅度也有明显降低，这样信号的EMI辐射发射就将会得到非常有效的抑制。这就是通过使用SSC 扩频时钟的方法抑制EMI辐射的基本原理。使用SSC的方法能在多大程度上抑制EMI辐射和调制后信号能量在多宽频率范围内变化有关，频率变化范围越大，EMI抑制量越大。但这两者需要一个权衡，因为频率变化范围太大会使系统的时序设计带来困难。在Intel的Pentium4处理器中建议此频率变化范围要小于时钟频率的0.8%，如对于100MHZ的时钟，如果按照+/-8%来调制的话，频率的变化范围就是99.2MHZ-100.8MHZ。而对于100MHZ参考时钟的系统工作到100.8MHZ，可能会图1 SSC扩频时钟的图示导致处理器超出额定工作频率，带来其它系统工作问题。因此在实际系统工作中一般都采用

测试用例举例

百度知道> 电脑/网络> 其他软件相关问题添加到搜藏已解决软件测试用例实例悬赏分：0 - 解决时间：2008-7-12 16:30 用例提问者：rainlay8931 - 试用期一级最佳答案自动取款机取款用例规约和测试用例取款用例说明：此用例完成用户利用自动取款机取款的全部流程，分为以下流程：插卡，输入密码，选择金额，取款，取卡等操作。事件流：该用例在用户插卡之后启动 1. 系统提示用户插卡； 2. 提示客户输入密码信息； 3. 密码输入完毕后，客户选择“确认”，向系统提交信息； 4. 系统验证客户输入的密码信息，确认正确后，进入选择系统主界面； 5. 用户选择取款选项； 6. 系统进入取款金额界面并提示用户输入金额； 7. 系统验证可以取款并输出钱款； 8. 系统提示用户取卡，操作完成。基本流：用户取款。备选流： 1.用户密码错误 2.取款金额不符合要求。前置条件：用户必须插入正确的银行卡才能开始执行用例。后置条件：如果系统确认用户信息正确，成功登陆，则系统启动主界面，等待用户发送消息，进行查询和取款等操作。事件流系统用户 1 系统提示用户插卡插入银行卡 2 提示客户输入密码信息输入密码 3 如果密码错误，提示密码不正确，并返回到2 4 如果密码正确，转入主界面 5 提示用户选择选项选择取款选项 6 系统进入取款金额界面并提示用户输入金额输入取款金额

7 如果金额符合则输入钱款 8 如果金额小于余额则提示取款失败并返回7 9 如果金额不是整百则提示不符合规范，取款失败并返回7。 10 提示用户取款取出钱款 11 提示用户取卡取出银行卡测试用例：事件用户操作覆盖等价类系统反应 1 插入正确银行卡功能测试提示输入密码 2 密码正确功能测试进入主界面，提示用户选择 3 密码不正确功能测试提示密码错误重新输入 4 输入金额<余额功能检查提示用户金额不足，重新输入或取卡 5 输入金额为150 功能检查提示用户取款金额不符和规范，重新输入或退出 6 输入正确金额功能检查输出钱款 7 用户未按时取款错误处理自动收回钱款 8 用户未按时取卡错误处理自动吞卡 9 用户按时取卡功能测试返回到主页面

硬件信号质量SI测试规范

目录 1引言 (4) 2适用范围 (4) 3信号质量测试概述 (4) 3.1信号完整性 (4) 3.2信号质量 (5) 4信号质量测试条件 (10) 4.1单板/系统工作条件： (10) 4.2信号质量测试人员要求： (10) 4.3示波器选择与使用要求： (10) 4.4探头选择与使用要求 (11) 4.5测试点的选择 (12) 5信号质量测试通用标准 (12) 5.1信号电平简述： (12) 5.2合格标准 (13) 5.3信号质量测试结果分析注意事项 (15) 6信号质量测试方法 (17) 6.1电源信号质量测试 (17) 6.1.1简述 (17) 6.1.2测试项目 (17) 6.1.3测试方法 (17) 6.2时钟信号质量测试 (24) 6.2.1简述 (24) 6.2.2测试方法 (24) 6.2.3测试指标与合格标准 (24) 6.2.4注意事项 (26) 6.3复位信号质量测试 (27) 6.3.1简述 (27) 6.3.2测试方法 (27) 6.3.3测试项目与合格标准 (27) 6.3.4注意事项 (29) 6.3.5测试示例 (29) 6.4数据、地址信号质量测试 (31) 6.4.1简述 (31)

6.4.2测试方法 (31) 6.4.3测试项目 (32) 6.4.4测试示例： (32) 6.5差分信号质量测试 (34) 6.5.1简述 (34) 6.5.2测试项目 (34) 6.5.3测试方法 (34) 6.5.4合格标准 (36) 6.5.5注意事项 (40) 6.5.6测试示例 (40) 6.6串行信号质量测试 (41) 6.6.1概述 (41) 6.6.2测试项目 (42) 6.6.3测试方法 (43) 6.6.4合格标准 (44) 7信号质量测试CHECKLIST (47) 8测试系统接地说明 (49) 9引用标准和参考资料................................. 错误!未定义书签。

高频实验：小信号调谐放大器实验报告要点

实验一小信号调谐放大器实验报告一实验目的 1．进一步掌握高频小信号调谐放大器的工作原理和基本电路结构。 2．掌握高频小信号调谐放大器的调试方法。 3．掌握高频小信号调谐放大器各项技术参数（电压放大倍数，通频带，矩形系数）的测试。二、实验使用仪器 1．小信号调谐放大器实验板 2．200MH 泰克双踪示波器 3. FLUKE 万用表 4. 模拟扫频仪（安泰信） 5. 高频信号源三、实验基本原理与电路 1、小信号调谐放大器的基本原理所谓“小信号”，通常指输入信号电压一般在微伏毫伏数量级附近，放大这种信号的放大器工作在线性范围内。所谓“调谐”，主要是指放大器的集电极负载为调谐回路（如LC 调谐回路）。这种放大器对谐振频率0f 及附近频率的信号具有最强的放大作用，而对其它远离0f 的频率信号，放大作用很差，如图1-1所示。图1.1 高频小信号调谐放大器的频率选择特性曲线小信号调谐放大器技术参数如下： 1 0.707

1.增益:表示高频小信号调谐放大器放大微弱信号的能力 2.通频带和选择性：通常规定放大器的电压增益下降到最大值的0.707倍时，所对应的频率范围为高频放大器的通频带，用B0.7表示。衡量放大器的频率选择性，通常引入参数——矩形系数K0.1。 2.实验电路原理图分析： In1是高频信号输入端，当信号从In1输入时，需要将跳线TP1的上部连接起来。In2是从天线接收空间中的高频信号输入，电感L1和电容C1,C2组成选频网络，此时，需要将跳线TP1的下部连接起来。电容C3是隔直电容，滑动变阻器RW2和电阻R2,R3是晶体管基极的直流偏置电阻，用来决定晶体管基极的直流电压，电阻R1是射极直流负反馈电阻，决定了晶体管射极的直流电流Ie。晶体管需要设置一个合适的直流工作点，才能保证小信号谐振放大器正常工作，有一定的电压增益。通常，适当的增加晶体管射极的直流电流Ie可以提高晶体管的交流放大倍数，增大小信号谐振放大器的放大倍数。但Ie过大，输出波形容易失真。一般控制Ie在1-4mA之间。电容C3是射极旁路电路，集电极回路由电容和电感组成，是一个并联的LC 谐振回路，起到选频的作用，其中有一个可变电容可以改变回路总的电容值。电

实验一高频小信号调谐放大器实验报告

高频小信号调谐放大器一、实验目的 1.进一步掌握高频小信号调谐放大器的工作原理和基本电路结构。 2.掌握高频小信号调谐放大器的调试方法。 3.掌握高频小信号调谐放大器各项技术参数（电压放大倍数，通频带，矩形系数）的测试方法。 4.熟练掌握multisim软件的使用方法，并能够通过仿真而了解到电路的一些特性以及各电路原件的作用二、实验仿真利用实验室计算机或者自己计算机上安装的Multisim9（10）软件，参照实验电路图，进行仿真仿真电路图如下：

六、数据处理 () f MHz 7 8 9 9.7 9.8 9.9 10 10.1 10. 2 10. 3 () i u mV15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 () o u mV19 28 55 120 128 138 143 150 140 130 (/) u o i A u u 1.2 7 1.8 7 3.6 7 8.0 8.5 3 9.2 9.5 3 10.0 9.3 3 8.6 7 () f MHz10. 4 10. 5 10. 6 10. 7 11 12 13 14 15 16 () i u mV15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 () o u mV120 100 90 80 64 39 28 24 20 18 (/) u o i A u u8.0 0 6.6 7 6.0 5.3 3 4.2 7 2.6 1.8 7 1.6 1.3 3 1.2

7 8910111213141516 25 50 75 100 125 150 uo(mV) f(MHz) 二、实验仿真利用实验室计算机或者自己计算机上安装的Multisim9（10）软件，参照实验电路图，进行仿真仿真电路图如下：使得晶体满足： 1.发射极正偏:b e V V >，且0.6be V V >

手机常用信号的测试方法

手机常用信号的测试方法 ●目的 1．掌握手机常用供电电压的测试方法。 2．掌握手机常用波形的测试方法。 3．掌握手机常用频率的测试方法。 ●要求 1．实习前认真阅读实习指导 2．实习中测试信号电压、波形和频率时要启动相应的电路。 3．实习后写出实习报告。手机常见供电电压的测试维修不开机、不入网、无发射、不识卡、不显示等故障，需要经常测量相关电路的供电电压是否正常，以确定故障部位，这些供电电压，有些为稳定的直流电压，有些则为脉冲电压，一般来说，直流电压即可用万用表测量，也可用示波器测量，当然，用万用表测量是最为方便和简单的，只要所测电压与电路图上的标称电压相当，即可判断此部分电路供电正常；而脉冲电压一般需用示波器测量，用万用表测量，则与电路图中的标称值会有较大的出入。脉冲电压大都是受控的(有些直流电压也可能是受控的)，也就是说，这个脉冲电压只有在启动相关电路时才输出，否则，用示波器也测不到。下面分以下几种情况分析供电电压信号的测试方法。一、外接电源供电电压 1．指导维修手机时，经常需要用外接电源采代替手机电池，以方便维修工作，这个外接电源在和手机连接前，应调到和手机电池电压一致，过低会不开机，过高则有可能烧坏手机。外接电源和手机连接后，要供到手机的电源IC或电源稳压块。外接稳压电源输出的是一个直流电压，且不受控；测量十分简单，只需在电源IC或稳压块的相关引脚上，用万用表即可方便地测到。如果所测的电压与外接电源供电电压相等，可视为正常，否则，应检查供电支路是否有断路或短路现象。 2．操作以摩托罗拉T2688手机为例，装上电池，不开机，测试直通电池正极的电压，共12处： (1)功放U201的左上角(8脚)、右上角(6脚)。 (2)功控ICU202的4脚。 (3)电源ICU27的1、10脚。 (4)充电二极管D14的负极。 (5)射频供电ICIC301的7脚。 (6)U47的6脚。 (7)U35的4脚。 (8)振子驱动管集电极。 (9)电池退耦电容下端。 (10)发光二极管驱动管BQ2集电极。 (11)开机键外圈。 (12)U26的2脚。二、开机信号电压 1．指导手机的开机方式有两种，一种是高电平开机，也就是当开关键被按下时，开机触发端

HD-SDI信号质量标准与测试诊断方法

1. SDI信号质量标准与测试诊断方法 2014-10-16 15:12:18编辑：烦高来源：数字音视工程网在高速SDI信号的传输和转换过程中，由于硬件设备的性能及安装水平的不同，导致SDI信号质量下降，造成高清视频信号接收错误。通常需要对SDI信号进行测试，并根... 在高速SDI信号的传输和转换过程中，由于硬件设备的性能及安装水平的不同，导致SDI信号质量下降，造成高清视频信号接收错误。通常需要对SDI信号进行测试，并根据测试结果判断可能出现问题的原因，从而保证高清系统中每条链路的性能。在SDI信号出现之前，高清视频信号采用模拟信号进行传输。模拟信号在传输和转换过程中非常容易出现质量下降，通常采用高速示波器进行波形采样测试。通常需要测试的指标有色条幅度、同步振幅和时间、噪声、频率响应、多波群、非线性度、通道延时、瞬时特性等。图1 模拟视频信号测试波形而SDI信号采用模数转换和高速串行编码技术，使用一根同轴电缆即可传输所有数字视频及音频信息。

图2 SDI信号生成原理简图由于SDI为数字信号，信号的生成原理和特性不同于模拟视频信号，因此SDI信号测试内容的关注点和模拟视频信号测试基本不同。如下所示为SDI信号的几个关键特性：电平幅度、抖动、上升/下降时间、单元间隔(周期)。图3 SDI数字信号特性按照SMPTE 259M、SMPTE 292M、SMPTE424M的规定，SD-SDI、HD-SDI、3G-SDI 信号质量标准(包含幅度、过冲、上升/下降时间、抖动时间、抖动排列等)各不相同。而且，HD-SDI和3G-SDI高速信号对上升/下降时间的要求达到了几十到几百ps量级。

实验一小信号调谐(单双调谐)放大器实验

实验一高频小信号调谐放大器实验一、实验目的 1.掌握小信号调谐放大器的基本工作原理； 2.掌握谐振放大器电压增益、通频带、选择性的定义、测试及计算； 3.了解高频小信号放大器动态范围的测试方法；二、实验原理 1-1a1-1b （一）单调谐放大器小信号谐振放大器是通信机接收端的前端电路，主要用于高频小信号或微弱信号的线性放大。其实验单元电路如图1-1（a）所示。该电路由晶体管Q1、选频回路T1二部分组成。它不仅对高频小信号进行放大，而且还有一定的选频作用。本实验中输入信号的频率f S＝12MHz。基极偏置电阻W3、R22、R4和射极电阻R5决定晶体管的静态工作点。可变电阻W3改变基极偏置电阻将改变晶体管的静态工作点，从而可以改变放大器的增益。表征高频小信号调谐放大器的主要性能指标有谐振频率f0，谐振电压放大倍数A v0，放大器的通频带BW及选择性（通常用矩形系数K r0.1来表示）等。放大器各项性能指标及测量方法如下： 1.谐振频率放大器的调谐回路谐振时所对应的频率f0称为放大器的谐振频率，对

于图1-1（a ）所示电路（也是以下各项指标所对应电路），f 0的表达式为 ∑ = LC f π210 式中，L 为调谐回路电感线圈的电感量； ∑C 为调谐回路的总电容，∑C 的表达式为 ie oe C P C P C C 2221++=∑ 式中，C oe 为晶体管的输出电容；C ie 为晶体管的输入电容；P 1为初级线圈抽头系数；P 2为次级线圈抽头系数。谐振频率f 0的测量方法是：用扫频仪作为测量仪器，测出电路的幅频特性曲线，调变压器T 的磁芯，使电压谐振曲线的峰值出现在规定的谐振频率点f 0。 2.电压放大倍数放大器的谐振回路谐振时，所对应的电压放大倍数A V0称为调谐放大器的电压放大倍数。A V0的表达式为 G g p g p y p p g y p p v v A ie oe fe fe i V ++-=-=- =∑2 22 1212100 式中，∑g 为谐振回路谐振时的总电导。要注意的是y fe 本身也是一个复数，所以谐振时输出电压V 0与输入电压V i 相位差不是180o而是为180o+Φfe 。 A V0的测量方法是：在谐振回路已处于谐振状态时，用高频电压表测量图1-1（a ）中输出信号V 0及输入信号V i 的大小，则电压放大倍数A V0由下式计算： A V0=V 0/V i 或A V0=20 lg (V 0/V i ) d B 3.通频带由于谐振回路的选频作用，当工作频率偏离谐振频率时，放大器的电压放大倍数下降，习惯上称电压放大倍数A V 下降到谐振电压放大倍数A V0的0.707倍时所对应的频率偏移称为放大器的通频带BW ，其表达式为

测试用例范例

讨论用TestDirector管理测试用例编制时间:2007-03-16 编制部门:测试组编制人:郭宏元 “测试用例”虽有国标作蓝本，但实际中，一直以来“测试用例”是所有测试人员有争议的地方，此所谓“仁者见仁，智者见智”。而“法无定法，则无定则”，所有的规范与标准都是围绕更适应人们的工作环境而创建。在此，我就我的一些体会在此与大家分享。一般来说，“测试用例”的编写主要分三大类，贯彻的原则与基本架构如下：分类： 1、对验证过程的一个记录； 2、展现一个功能； 3、描述一个场景步骤；原则： 1、有“对象”属性的描述； 2、阐述了某个“对象”的方法或事件。 3、对属性、方法或事件有详细的定义。基本架构： 1、目的； 2、前提条件； 3、输入步骤（输入动作或数据，预期结果）以下总结了一些针对测试用例的“编写要点”作出一些较简单的规范。以方便统一测试用例的编写，并保证使用最用效的测试用例来保证测试质量。我们都知道根据详细设计文档编写测试用例的目的不在于验证软件达到的功能，而在于验证软件应该达到的功能，这样可以去除软件开发过程中的随意性。所以下面就明确测试用例的“目的”、“范围”、“原则”是什么？以及采用的方法做了一点描述。 1、目的：围绕测试名称或满足实现测试功能而进行。 2、范围：

适用于所要测试的质检项目。 3、功能测试用例编写原则 3.1单元测试功能用例的编写目的单元测试用例的目的在于验证单个模块是否达到了详细设计说明书中规定的功能，由于是单个模块所以无法检验关联性，可能会牵扯到数据库的操作，例如：删除时，需要查看数据库是否完全删除了数据。 3.2集成测试功能用例的编写目的集成测试功能用例的目的在于验证软件连接时，模块的连接是否正确（及数据的传递是否正确）。.我们的软件中体现出来的是，是否正确调用界面，界面之间显示的数据是否正确，特别是财务、费用、数据方面的。集成测试用例的编写过程中，经常将功能用例与业务流程混合编写，因为在集成测试时需验证业务流程中的数据正确性，以及界面之间的数据传递的准确无误。 3.3系统测试业务流程用例的编写目的系统测试业务流程用例的目的在于验证软件最终数据的准确性，我们的软件体现为，手工数据与报表数据的一直性。用例与用例之间有着一定的关系，目的性十分明确。 4、测试用例设计的原则 4.1全面性指编写的测试用例应该覆盖所有的“概要设计文档”或“需求文档”以及“测试申请文档”中描述的功能。 4.1.1数据库程序基本的增、删、改功能增、改测试用例重点在于数据合法性、正确性的检验和提示信息的正确性的检验。输入的数据可能有无限种组合，此时可以采用等价类划分和边界值法，下面有较详细的说明。删除的测试用例比较简单，只有操作没有数据的输入，但是应该在“备注”中注明，删除的限制条件，以及数据库中应该删除的表的情况，有条件限制时，测试用例应该包含各种删除条件，必要时在添加或修改的测试用例后面或中间紧跟删除的测试用例。 4.1.2对于无输入的操作，应该详细描述其具体的操作步骤和结果

示波器测量小信号方法

如何用示波器测量小信号饶志华肖静刘滨东华理工大学用数字示波器测量小信号时，由于信号幅度较小，极容易受噪声干扰。经总结，用数字示波器测小信号可以按照如下步骤进行： 1、将信号好输入示波器（这里以p-p value=5mv，f=1KHz的余弦信号为例） 2、按”auto set”按钮获取波形，见图1 图1按”auto set”获取波形 3、按触发菜单按钮”trig menu”，在显示屏幕上弹出触发菜单，见按菜单旁边对应的按钮，选取图示的触发方式，见图2 图2按触发菜单按钮选取合适触发方式

4、调节相应的幅度旋钮”scale”,将波形的幅度展宽（图中信号是从第一路输出），见图3。图3调节幅度旋钮将波形的幅度展宽 5、调节相应的频率旋钮”scale”,将波形在时域上展开，仅在屏幕上仅显示1-3个周期（待补图） 6、如果这时后的波形看不到余弦信号的样子，则可能是示波器抓取波形失败，则重复以上步骤。 7、这时候示波器上显示的波形由于受噪声影响，重影非常明显，这时可以按捕获按钮”acquire”，选取“取平均次数，即用多次采样的次来作为测量值，故可以中和掉噪声，这时候可以看到细小清晰的波形。（待补图） --------------- 注：实际信号发生器输出的波形噪声没有那么严重，大部分噪声是来自周围环境的噪声和信号发生器和示波器的接入方式，当采取同轴电缆将信号发生器和示波器直接连接起来的时候，不用求平均值的方式也可以得到较好的信号，这也从一方面说明了当用放大器放大小信号时，示波器上的输出信号不像输入信号般有非常大的噪声。

按下测量按钮，则可以得到测量波形的各项参数值。（待补图）

高频小信号选频放大器的测试与分析

Q值）的影响。图1-2 单调谐回路谐振放大器【实验内容】 1．用万用表测量晶体管各点（对地）电压VB、VE、VC，并计算放大器静态工作点。 2．采用点测法测量单调谐放大器的幅频特性。 3．用示波器观察静态工作点、集电极负载对单调谐放大器幅频特性的影响。 4．用示波器观察放大器输入、输出波形。 3、学会连接电路的方法。 4、按《实验报告》的要求做好记录。【实验步骤】 1. 在实验箱上插上实验板1。接通实验箱上电源开关，此时电源指示灯点亮。 2. 把实验板1左上方单元（单调谐放大器单元）的电源开关（K7）拨到ON位置，就接通了+12V电源（相应指示灯亮），即可开始实验。 3．单调谐回路谐振放大器静态工作点测量 ①取射极电阻R4=1kΩ（接通K4，断开K5、K6），集电极电阻R3=10kΩ（接通K1，断开K2、K3），用万用表测量各点（对地）电压VB、VE、VC，并填入表1.1内。表1.1 射极偏置电阻实测(V) 计算(V,mA) 晶体管工作于放大区? 理由V B V E V C V BE V CE I C是否 R4=1kΩ 3.41 2.76 11.80 0.65 9.04 2.76 是V BE在0.6-0.7V间R4=510Ω 3.37 2.71 11.79 0.66 9.08 5.31 是V BE在0.6-0.7V间R4=2kΩ 3.45 2.81 11.80 0.64 8.99 1.41 是V BE在0.6-0.7V间 ②当R 4分别取510Ω（接通K 5 ，断开K 4 、K 6 ）和2kΩ（接通K 6 ，断开K 4 、K 5 ）时，重复上述过程，将结果填入表1.1，并进行比较和分析。

信号完整性基础之九—— 时钟抖动测量和分析

信号完整性分析基础系列之九 ——时钟的抖动测量与分析张昌骏美国力科公司深圳代表处摘要：本文简要介绍了时钟的抖动定义、各种抖动的应用范围、抖动的分解和基于示波器的测量与分析方法。关键词：时钟，抖动测量，抖动分析，相位噪声，实时示波器时钟是广泛用于计算机、通讯、消费电子产品的元器件，包括晶体振荡器和锁相环，主要用于系统收发数据的同步和锁存。如果时钟信号到达接收端时抖动较大，可能出现：并行总线中数据信号的建立和保持时间余量不够、串行信号接收端误码率高、系统不稳定等现象，因此时钟抖动的测量与分析非常重要。时钟抖动的分类与定义时钟抖动通常分为时间间隔误差（Time Interval Error，简称TIE），周期抖动（Period Jitter）和相邻周期抖动（cycle to cycle jitter）三种抖动。 TIE又称为phase jitter，是信号在电平转换时，其边沿与理想时间位置的偏移量。理想时间位置可以从待测试时钟中恢复，或来自于其他参考时钟。Period Jitter是多个周期内对时钟周期的变化进行统计与测量的结果。Cycle to cycle jitter是时钟相邻周期的周期差值进行统计与测量的结果。对于每一种时钟抖动进行统计和测量，可以得到其抖动的峰峰值和RMS值（有效值），峰峰值是所有样本中的抖动的最大值减去最小值，而RMS值是所有样本统计后的标准偏差。如下图1为某100M时钟的TIE、Period Jitter、Cycle to Cycle jitter的峰峰值和RMS值的计算方法。图1：三种时钟抖动的计算方法

时钟抖动的应用范围在三种时钟抖动中，在不同的应用范围需要重点测量与分析某类时钟抖动。TIE 抖动是最常用的抖动指标，在很多芯片的数据手册上通常都规定了时钟TIE 抖动的要求。对于串行收发器的参考时钟，通常测量其TIE 抖动。如下图2所示，在2.5Gbps 的串行收发器芯片的发送端，参考时钟为100MHz，锁相环25倍频到2.5GHz 后，为Serializer （并行转串行电路）提供时钟。当参考时钟抖动减小时，TX 输出的串行数据的抖动随之减小，因此，需要测量该参考时钟的TIE 抖动。另外，用于射频电路的时钟通常也需测量其TIE 抖动（相位抖动）。在并行总线系统中，通常重点如在共同时钟总线（common clock bus）中（如图3所示），完整的数据传输需要两个时钟脉冲，第一个脉冲用于把数据锁存到发送芯片的IO Buffer，第二个脉冲将数据锁存到接收芯片中，在一个时钟周期内让数据从发送端传送到接收端，当发送端到接收端传输延迟（flight time）过大时，数据的建立时间不够，传输延迟过小时，数据的保持时间不够；同理，当这一个时钟的周期值偏大时，保持时间不够；周期值偏小时，建立时间不够。可见，时钟周期的变化直接影响建立保持时间，需要测量 period jitter 和cycle to cycle jitter。关于共同时钟总线的时序分析的详细讲解，请参考Stephen H. Hall、Garrett W. Hall 和James A. McCall 写的信号完整性分析书籍：《High-Speed Digital System Design》。另外一种常见的并行电路－源同步总线（Source Synchronous bus），通常也重点测量period jitter 和cycle to cycle jitter。比如DDR2就属于源同步总线，在Intel DDR2 667/800 JEDEC Specification Addendum 规范中定义了时钟的抖动测试包括周期抖动和相邻周期抖动，分别如表格1中tJIT(per)和tJIT(cc)，此外，还需要测量N-Cycle jitter，即N 个周期的相邻周期抖动，比如表格1中tERR(2per)是连续2个周期的周期值与下2个周期的周期值的时间差，tERR(3per)是3个周期组合的相邻周期抖动，依此类推。 Driving Receiving 关注period jitter 和cycle to cycle jitter。比

时钟信号质量测试用例5.6

软件测试标准和测试用例汇总

软件测试用例实例非常详细

高精度时钟芯片的测试方法介绍

时钟信号质量测试用例5.6

测试用例实例—常见功能测试点

实验一小信号调谐(单调谐)放大器实验指导

高速信号的扩频时钟的测试分析

测试用例举例

硬件信号质量SI测试规范

高频实验：小信号调谐放大器实验报告要点

实验一高频小信号调谐放大器实验报告

手机常用信号的测试方法

HD-SDI信号质量标准与测试诊断方法

最新软件测试用例实例(非常详细)

实验一小信号调谐(单双调谐)放大器实验

测试用例范例

最新测试用例实例

示波器测量小信号方法

高频小信号选频放大器的测试与分析

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