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1.实用的集成芯片逻辑功能测试仪

常用集成电路的型号及功能说明

型号功能 ACP2371NI 多制式数字音频信号处理电路ACVP2205 梳状滤波、视频信号处理电路 AN5071 波段转换控制电路 AN5195K 子图像信号处理电路 AN5265 伴音功率放大电路 AN5274 伴音功率放大电路 AN5285K 伴音前置放大电路 AN5342K 图像水平轮廓校正、扫描速度调制电路AN5348K AI信号处理电路 AN5521 场扫描输出电路 AN5551 枕形失真校正电路 AN5560 50/60Hz场频自动识别电路 AN5612 色差、基色信号变换电路 AN5836 双声道前置放大及控制电路 AN5858K TV/AV切换电路 AN5862K(AN5862S) 视频模拟开关 AN5891K 音频信号处理电路 AT24C02 2线电可擦、可编程只读存储器 AT24C04 2线电可擦、可编程只读存储器 AT24C08 2线电可擦、可编程只读存储器 ATQ203 扬声器切换继电器电路 BA3880S 高分辨率音频信号处理电路 BA3884S 高分辨率音频信号处理电路 BA4558N 双运算放大器 BA7604N 梳状切换开关电路 BU9252S 8bitA/D转换电路 CAT24C16 2线电可擦、可编程只读存储器 CCU-FDTV 微处理器 CCU-FDTV-06 微处理器 CD54573A/CD54573CS 波段转换控制电路 CH0403-5H61 微处理器 CH04801-5F43 微处理器 CH05001(PCA84C841) 微处理器 CH05002 微处理器 CH7001C 数字NTSC/PAL编码电路 CHT0406 微处理器 CHT0803(TMP87CP38N*) 8bit微处理器 CHT0807(TMP87CP38N) 8bit微处理器 CHT0808(TMP87CP38N) 8bit微处理器 CHT0818 微处理器 CKP1003C 微处理器 CKP1004S(TMP87CK38N) 微处理器 CKP1006S(TMP87CH38N) 微处理器

基本逻辑门逻辑功能测试及应用

实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用一、实验目的 1、掌握基本逻辑门的功能及验证方法。 2、学习TTL 基本门电路的实际应用。 3、掌握逻辑门多余输入端的处理方法。二、实验原理数字电路中，最基本的逻辑门可归结为与门、或门和非门。实际应用时，它们可以独立使用，但用的更多的是经过逻辑组合组成的复合门电路。目前广泛使用的门电路有TTL 门电路。TTL 门电路是数字集成电路中应用最广泛的，由于其输入端和输出端的结构形式都采用了半导体三极管，所以一般称它为晶体管-晶体管逻辑电路，或称为TTL 电路。这种电路的电源电压为+5V ，高电平典型值为3.6V （≥2.4V 合格）；低电平典型值为0.3V （≤0.45合格）。常见的复合门有与非门、或非门、与或非门和异或门。有时门电路的输入端多余无用，因为对TTL 电路来说，悬空相当于“1”，所以对不同的逻辑门，其多余输入端处理方法不同。 1. TTL 与门、与非门的多余输入端的处理如图1.1为四输入端与非门，若只需用两个输入端A 和B ，那么另两个多余输入端的处理方法是：并联悬空通过电阻接高电平图1.1 TTL 与门、与非门多余输入端的处理并联、悬空或通过电阻接高电平使用，这是TTL 型与门、与非门的特定要求，但要在使用中考虑到，并联使用时，增加了门的输入电容，对前级增加容性负载和增加输出电流，使该门的抗干扰能力下降；悬空使用，逻辑上可视为“1”，但该门的输入端输入阻抗高，易受外界干扰；相比之下，多余输入端通过串接限流电阻接高电平的方法较好。 2. TTL 或门、或非门的多余输入端的处理如图1.2为四输入端或非门，若只需用两个输入端A 和B ，那么另两个多余输入端的处理方法是：并联、接低电平或接地。并联接低电平或接地图1.2 TTL 或门、或非门多余输入端的处理 Y Y A Y Y Y

系列芯片功能表汇总

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７4系列标准数字电路功能表——中文资料名称类别功能 7４0０ＴTL 2输入端四与非门 7401 TTL 集电极开路２输入端四与非门 7４02 ＴTＬ2输入端四或非门 7４0３TTＬ集电极开路2输入端四与非门 740４TTＬ六反相器７４0５TTL 集电极开路六反相器 7４06 TTL 集电极开路六反相高压驱动器 740７TＴL 集电极开路六正相高压驱动器 7408 TTＬ2输入端四与门 7４0９TTＬ集电极开路２输入端四与门 74１0 TTL ３输入端３与非门７4１07 TＴL 带清除主从双Ｊ-K触发器７４109 ＴＴＬ带预置清除正触发双J-K触发器 74１１TＴL ３输入端3与门７41１2 ＴTL 带预置清除负触发双J－K触发器 7412 TＴL 开路输出３输入端三与非门７4１2１TTL 单稳态多谐振荡器７４122 TTL 可再触发单稳态多谐振荡器７4123 TTL 双可再触发单稳态多谐振荡器 7412５TＴＬ三态输出高有效四总线缓冲门 74１26 ＴＴＬ三态输出低有效四总线缓冲门 7413 TTＬ4输入端双与非施密特触发器 741３2 ＴTL 2输入端四与非施密特触发器 74133 TＴL １3输入端与非门７41３6 TTL 四异或门７4138 TTL 3-8线译码器/复工器 7４139 ＴＴL 双２-4线译码器/复工器 7414 TＴL 六反相施密特触发器 741４５TTL BＣD—十进制译码/驱动器 7415 TTL 开路输出3输入端三与门 74１50 ＴTL 16选1数据选择/多路开关 74151 TTL 8选1数据选择器 7415３TTＬ双4选1数据选择器 7４１5４ＴTL 4线—16线译码器 74１５5 ＴTL 图腾柱输出译码器/分配器７４156 ＴＴL 开路输出译码器/分配器 7４１５7 TＴL 同相输出四2选1数据选择器 7415８TTL 反相输出四2选１数据选择器 7416 TTL 开路输出六反相缓冲/驱动器

数电实验__门电路逻辑功能及测试

一、实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能。 2、学习数字电路实验的一般程序及方法。 3、熟悉数字电路设备的使用方法。二、实验仪器及材料 1、数字万用表 2、器件： 74LS00 二输入端四“与非”门2片 4LS20 四输入端二“与非”门1片 74LS86 二输入端四“异或”门1片三、预习要求 1、复习门电路的工作原理及相应的逻辑表达式。 2、熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途（功能）。四、实验内容实验前先检查设备的电源是否正常。然后选择实验用的集成电路，按设计的实验原理图（逻辑图）接好连线，特别注意V CC及地线（GND）不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中改动接线须断开电源，改接好线后再通电实验。 1、测试门电路逻辑功能 ⑴、选用四输入端二“与非”门芯片74LS20一片，按图1.1接线。输入端接四只电平开关（电平开关输出插口），输出端接任意一个电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。 2、异或门逻辑功能测试 ⑴、选二输入端四“异或”门芯片74LS86一片，按图1.2接线。输入端A、B、C、D接四只电平开关，E点、F点和输出端Y分别接三只电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。

4、用“与非”门组成其它门电路并测试验证⑴、组成“或非”门。用一片二输入端四“与非”门芯组成一个“或非”门：Y=A+B，画出逻辑电路图，测试并填表1.5。 ⑵、组成“异或”门。 A、将“异或”门表达式转化为“与非”门表达式。 B、画出逻辑电路图。 C、测试并填表1.6。

思考题：（1）、怎样判断门电路的逻辑功能是否正常? 答：门电路功能正常与否的判断：(1)按照门电路功能，根据输入和输出，列出真值表。(2)按真值表输入电平，查看它的输出是否符合真值表。(3)所有真值表输入状态时，它的输出都是符合真值表，则门电路功能正常；否则门电路功能不正常。（2）、“与非”门的一个输入端接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过? 答：与非门接髙电平则其他信号可以通过，接低电平则输出恒为0，与非门的真值表是“有0出1，全1出0”。所以一个输入接时钟，就是用时钟控制与非门，当时钟脉冲为高电平时，允许信号通过，为低电平时关闭与非门。（3）、“异或”门又称可控反相门，为什么？答：“异或”函数当有奇数个输入变量为真时，输出为真！当输入X＝0，Y＝0 时输出S＝0 当输入X＝0，Y＝1 时输出S＝1 0代表假1代表真异或门主要用在数字电路的控制中！实验小结由于是第一次数字电路动手试验，操作不是很熟悉，搞得有些手忙脚乱，加之仪器有一点陈旧，电路板上有些地方被烧过，实验中稍不留神接到了烧过的电路板就很难得出正确的结果。本次试验加深了我对门电路逻辑功能的掌握，对数字电路实验的一般程序及方法有了一定的了解，对数字电路设备的使用方法也有了初步掌握。在以后的实验中，我会好好预习，认真思考，实验的时候小心仔细，对实验结果认真推敲，勤于思考勤于动手，锻炼自己的动手能力。

实验一门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能及测试1.1 实验目的 1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。 2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。 3、学会检测基本门电路的方法。 1.2 预习内容 1. 预习门电路相应的逻辑表达式。 2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。 1.3 实验仪器设备及器件 1. 仪器设备：双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件： 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片图1.1 门电路逻辑功能及测试中用到的芯片管角示意图

1.4 实验原理和内容及步骤实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常，然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座，按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。 1.与非门电路逻辑功能的测试（1）选用双四输入与非门74LS20一片，插入数字电路实验箱中对应的IC座，按图1.2接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K 4 的逻辑开关输出插口，输出端接电平显示发光二极管D1~D4任意一个。图1.2 与非门电路连线示意图（2）将逻辑开关按表1.1的状态，分别测输出电压及逻辑状态。表1.1 与非门电路逻辑功能测试表输入输出 1(k1) 2(k2) 4(k3) 5(k4) Y 电压值（V） H H H H L H H H L L H H L L L H L L L L

2. 异或门逻辑功能的测试（1）选二输入四异或门电路74LS86，按图1.3接线，输入端1、2、4、5接逻辑开关(K1~K4)，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。图 1.3 异或门电路连线示意图（2）将逻辑开关按表1.2的状态，将结果填入表1.2中。表1.2 异或门逻辑功能测试表输入输出 1(K1) 2(K2) 4(K3) 5(K4) A B Y 电压（V） L H H H H L L L H H H H L L L H H L L L L L H H 3. 逻辑电路的逻辑关系测试（1）用74LS00，按图1.4和1.5接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.3和表1.4中。

常用集成电路功能

鹏运发科技有限公司收音机用集成电路序号产品型号功能与用途封装形式境外同类产品 1 YD1000 DTS用AM/FM单片立体声收音机电路 TSSOP24 DTS是数字化影院系统 2 YD1191 AM/FM单片收音机电路 SOP28 CXA1191 3 YD1600 AM单片收音机电路 SIP9 LA1600 4 YD1619 AM/FM单片收音机电路 SOP28/SDIP30 CXA1619 5 YD1800 AM/FM单片收音机电路 SDIP22 LA1800 6 YD2003 AM/FM单片收音机电路 DIP16 TA2003 7 YD2111 AM/FM单片立体收音机电路 SDIP24/SSOP24 TA2111 8 YD2149 DTS用AM/FM单片立体声收音机电路 SDIP24/SSOP24 TA2149 9 YD7088 FM自动搜索单片收音机电路 SOP16 TDA7088T 10 YD72130 AM/FM频率锁相环 SDIP24 LC72130 11 YD72131 AM/FM频率锁相环 SDIP22 LC72131 12 YD7343 FM立体声解调电路 SIP9 TA7343 13 YD7640 AM/FM单片收音机电路 DIP16 TA7640 音频功率放大集成电路序号产品型号功能与用途封装形式境外同类产品 1 YD1001 720mW单声道音频功放电路 DIP8 2 YD1006 18W单声道音频功放电路 TO-220B 3 YD1008 22W单声道音频功放电路 TO-220B 4 YD1026 具有待机、静音功能的25W双声道音频功放电路 FZIP12 5 YD131 6 2W双声道音频功放电路 FDIP14 μPC1316C 6 YD1519 具有待机、静音功能的6W双声道音频功放电路 FSIP9 TDA1519 7 TDA2003 10W单声道音频功放电路 TO-220B TDA2003 8 YD2025 2.3W单声道音频功放电路 DIP16 TEA2025B 9 YD2025A 2.4W单声道音频功放电路 DIP16 TEA2025B 10 YD2025H 2.4W单声道音频功放电路 HDIP12 11 YD2030 18W单声道音频功放电路 TO-220B TDA2030 12 YD2030A 20W单声道音频功放电路 TO-220B TDA2030A

实验一基本门电路的逻辑功能测试

实验一基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的 1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。二、实验原理实验中用到的基本门电路的符号为：在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。三、实验设备与器件 1、数字逻辑电路用PROTEUS 2、显示可用发光二极管。 3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。四、实验内容 1.测试TTL门电路的逻辑功能： a）测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111 b）测试74LS32的逻辑功能。（或门）000 011 101 111 c）测试74LS04的逻辑功能。（非门）01 10 d）测试74LS00的逻辑功能。（两个都弄得时候不亮，其他都亮）（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）001 011 101 110 e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。（两个都不弄得时候亮，其他不亮）001 010 100 110 f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。 2.测试CMOS门电路的逻辑功能：在CMOS 4000分类中查询 a）测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。（与门） b）测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。（或门） c）测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。（非门） d）测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）

e）测试CC4001(74HC02)（或非门）的逻辑功能。 f) 测试CC4030(74HC86)（异或门）的逻辑功能。五、实验报告要求 1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。 2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并分析如何判断逻辑门的好坏。 3.比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。 4．查询各种集成门的管脚分配，并注明各个管脚的作用与功能。例：74LS00 与门 Y=AB

常用系列芯片功能

常用4000 系列芯片功能 CD4000 双3 输入端或非门单非门 CD4001 四2 输入端或非门 CD4002 双4 输入端或非门 CD4006 18 位串入/串出移位寄存器 CD4007 双互补对加反相器 CD4008 4 位超前进位全加器 CD4009 六反相缓冲/变换器 CD4010 六同相缓冲/变换器 CD4011 四2 输入端与非门 CD4012 双4 输入端与非门 CD4013双主-从D型触发器 CD4014 8 位串入/并入-串出移位寄存器 CD4015 双4位串入/并出移位寄存器 CD4016 四传输门 CD4017 十进制计数/分配器 CD4018 可预制1/N 计数器 CD4019 四与或选择器 CD4020 14 级串行二进制计数/分频器 CD4021 08 位串入/并入-串出移位寄存器CD4022 八进制计数/分配器 CD4023 三3 输入端与非门 CD4024 7 级二进制串行计数/分频器 CD4025 三3 输入端或非门 CD4026 十进制计数/7 段译码器 CD4027 双J-K 触发器 CD4028 BCD 码十进制译码器 CD4029 可预置可逆计数器 CD4030 四异或门 CD4031 64 位串入/串出移位存储器 CD4032 三串行加法器 CD4033 十进制计数/7 段译码器 CD4034 8 位通用总线寄存器 CD4035 4 位并入/串入-并出/串出移位寄存CD4038 三串行加法器 CD4040 12 级二进制串行计数/分频器 CD4041 四同相/反相缓冲器 CD4042 四锁存D 型触发器 CD4043 三态R-S 锁存触发器（"1"触发）CD4044 四三态R-S 锁存触发器（"0"触发）

实验一TTL各种门电路功能测试

实验序号实验题目 TTL各种门电路功能测试实验时间实验室 1．实验元件（元件型号；引脚结构；逻辑功能；引脚名称） 1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个 2.数字万用表1块 3.74LS20双四输入与非门1片 4.74LS02四二输入或非门1片 5.74LS51双2-3输入与或非门1片 6.74LS86 四二输入异或门1片 7.74LS00四二输入与非门2片（1）74LS20引脚结构及逻辑功能（2）74LS02引脚结构及逻辑功能（3）74LS51引脚结构及逻辑功能（4）74LS86引脚结构及逻辑功能（5）74LS00引脚结构及逻辑功能

2．实验目的（1）熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。（2）熟悉万用表的使用方法。 3．实验电路原理图及接线方法描述：（1）74LS00实现与电路电路图（2）74LS00实现或电路电路图

（3）74LS00实现或非电路电路图（4）74LS00实现异或电路

4．实验中各种信号的选取及控制（电源为哪些电路供电；输入信号的分布位置；输出信号的指示类型；总结完成实验条件） 5．逻辑验证与真值表填写（1）74LS00实现与电路电路图逻辑分析逻辑运算过程分析： 1 21 Y=AB Y=Y=AB=AB 真值表：（2）74LS00实现或电路电路图逻辑运算过程分析： 1 2 312 Y=AA=A Y=BB=B Y=Y Y=AB=A+B=A+B 真值表：输入输出 A B 2 Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 输入输出 A B 3 Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1

集成电路型号功能对照表

集成电路型号功能对照表 0206A 天线开关集成电路 03VFG9 发射压控振荡集成电路 1021AC 发射压控振荡集成电路 1097C 升压集成电路 140N 电源取样比较放大集成电路 14DN363 伺服控制集成电路 15105 充电控制集成电路 15551 管理卡升压集成电路 1710 视频信号处理集成电路 1N706 混响延时集成电路 20810－F6096 存储集成电路 2252B 微处理集成电路 2274 延迟集成电路 24C01ACEA 存储集成电路 24C026 存储集成电路 24C04 存储集成电路 24C64 码片集成电路 24LC16B 存储集成电路 24LC65 电可改写编程只读存储集成电路27C1000PC－12 存储集成电路

27C2000QC－90 存储集成电路 27C20T 存储集成电路 27C512 电可改写编程只读存储集成电路2800 红外遥控信号接收集成电路 28BV64 码片集成电路 28F004 版本集成电路 31085 射频电源集成电路 32D54 电源、音频信号处理集成电路32D75 电源、音频信号处理集成电路32D92 电源中频放大集成电路 4066B 电子开关切换集成电路 4094 移位寄存串入、并出集成电路424260SDJ 存储集成电路 4260 动态随机存储集成电路 4270351/91B9905 中频放大集成电路4370341/90M9919 中频处理集成电路4464 存储集成电路 4558 双运算放大集成电路 4580D 双运算放大集成电路 47C1638AN－U337 微处理集成电路 47C1638AU－353 微处理集成电路 47C432GP 微处理集成电路

ttl与非门逻辑功能测试 (1)

实验 TTL与非门逻辑功能测试一、实验目的 1.熟悉集成门电路的外观和引线排列 2.掌握TTL与非门逻辑功能二、实验设备 5VDC电源、面包板、数字万用表、导线若干、逻辑电平指示器一组、逻辑开关一组、4输入端双与非门（74LS20）、双输入端四与非门（74LS00）三、实验内容及要求 1.测试74LS20与非门的逻辑功能（1）画出实验电路图，设计实验表格（包括输入端的各种逻辑状态、输出端的逻辑状态及电平）。（2）搭试电路验证，用万用表测量输出电压。 2.用74LS00芯片组成与、或、或非门电路（均为2输入端）（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图，标明各管脚；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。 3.用74LS00芯片组成异或门电路（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。四、思考题 1.逻辑值“1”是否是指电平为1V？ 2.在逻辑开关电路原理图中，没有1KΩ限流电阻行不行？为什么？ 3.在逻辑电平指示器电路原理图中，没有300Ω限流电阻行不行？为什么？五、附录 1.逻辑开关及作用如图１所示，利用1kΩ电阻作为限流电阻，电键作为逻辑值输入（当电键按下，相对应的端子输出逻辑值“0”；当未按下电键，输出逻辑值为“1”）。

图1 逻辑开关电路原理图图2 逻辑电平指示器 2.逻辑电平指示器及作用为了便于检验逻辑电路的输出逻辑值，我们采用发光二极管电路来检验逻辑电平的高低。如图2所示，当某输入端为低电平时，对应的发光二极管不亮；当某输入端为高电平时，对应的发光二极管亮。 3.有关芯片外引线排列图如图3所示，分别为74LS20及74LS00芯片外引线排列图。图3 芯片外引线排列图

集成逻辑门电路逻辑功能的测试

实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的 1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。 2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。二、实验仪器及设备 1、数字逻辑实验箱 1台 2、万用表 1只 3、元器件： 74LS00 74LS04 74LS55 74LS86 各一块导线若干三、实验内容 1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚）重点讲解，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑 Y 电平。得表达式为A 表1-1 74LS04逻辑功能测试表 1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y 4A 4Y 5A 5Y 6A 6Y 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0

2、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能将74LS00正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为B A Y ?= 表1-2 74LS00 逻辑功能测试表 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 3、测试74LS55（二路四输入与或非门）逻辑功能将74LS55正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-3要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，填入表中。（表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据）表1-3 74LS55部分逻辑功能测试表 A B C D E F G H Y 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 1 1

常用4000系列芯片功能

常用4000系列芯片功能 CD4000 双3输入端或非门单非门 CD4001 四2输入端或非门 CD4002 双4输入端或非门 CD4006 18位串入/串出移位寄存器 CD4007 双互补对加反相器 CD4008 4位超前进位全加器 CD4009 六反相缓冲/变换器 CD4010 六同相缓冲/变换器 CD4011 四2输入端与非门 CD4012 双4输入端与非门 CD4013 双主-从D型触发器 CD4014 8位串入/并入-串出移位寄存器CD4015 双4位串入/并出移位寄存器 CD4016 四传输门 CD4017 十进制计数/分配器 CD4018 可预制1/N计数器 CD4019 四与或选择器 CD4020 14级串行二进制计数/分频器 CD4021 08位串入/并入-串出移位寄存器CD4022 八进制计数/分配器 CD4023 三3输入端与非门 CD4024 7级二进制串行计数/分频器 CD4025 三3输入端或非门 CD4026 十进制计数/7段译码器 CD4027 双J-K触发器 CD4028 BCD码十进制译码器 CD4029 可预置可逆计数器 CD4030 四异或门 CD4031 64位串入/串出移位存储器 CD4032 三串行加法器 CD4033 十进制计数/7段译码器 CD4034 8位通用总线寄存器 CD4035 4位并入/串入-并出/串出移位寄存CD4038 三串行加法器 CD4040 12级二进制串行计数/分频器 CD4041 四同相/反相缓冲器 CD4042 四锁存D型触发器 CD4043 三态R-S锁存触发器("1"触发) CD4044 四三态R-S锁存触发器("0"触发)

门电路逻辑功能及测试实验报告记录

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深圳大学实验报告实验课程名称：数字电路实验实验项目名称：门电路逻辑功能及测试学院：信息工程学院报告人：许泽鑫学号：201 班级：2班同组人：指导教师：张志朋老师实验时间：2016-9-27 实验报告提交时间：2016-10-11

一、实验目的（1）熟悉门电路逻辑功能，并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。（2）熟悉RXS-1B数字电路实验箱。二、方法、步骤 1.实验仪器及材料 1)RXS-1B数字电路实验箱 2)万用表 3)器件 74LS00四2输入与非门1片 74LS86四2输入异或门1片 2.预习要求 1)阅读数字电子技术实验指南，懂得数字电子技术实验要求和实验方法。 2)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 3)熟悉所用集成电路的外引线排列图，了解各引出脚的功能。 4)学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。 3.说明用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。非逻辑关系：Y=A 与逻辑关系：Y=A B + 或逻辑关系：Y=A B 与非逻辑关系：Y=A B + 或非逻辑关系：Y=A B + 与或非逻辑关系：Y=A B C D ⊕ 异或逻辑关系：Y=A B

三、实验过程及内容任务一：异或门逻辑功能测试集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A ⊕1B ，2Y=2A ⊕2B ， 3Y=3A ⊕3B ，4Y=4A ⊕4B ，其外引线排列图如图1.3.1所示。它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A 、1B 、2A 、2B 、3A 、3B 、4A 、4B ，3、6、8、11号引脚为输出端1Y 、2Y 、3Y 、4Y ，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V 。（1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B 数字电路实验箱的任意14引脚的IC 空插座中。（2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。14号引脚+5V 接至数字电路实验箱的+5V 电源的“+5V ”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V 电源的“⊥”插孔。（3）将电平开关按表1.3.1设置，观察输出端A 、B 、Y 所连接的电平显示器的发光二极管的状态，测量输出端Y 的电压值。发光二极管亮表示输出为高电平（H ），发光二极管不亮表示输出为低电平（L ）。把实验结果填入表1.3.1中。图1.3.1 四2输入异或门74LS86外引线排列图 1A 1B 1Y 2A 2B 74LS86 V CC 4B 4A 4Y 3B 4A 3Y 1 2 3 4 5 14 13 12 11

字段译码器逻辑功能测试及应用

实验五字段译码器逻辑功能测试及应用一、实验目的 1.掌握七段译码驱动器74LS47逻辑功能。 2.掌握LED七段数码管的判别方法。 3.熟悉常用字段译码器的典型应用。二、实验仪器及材料 a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b) 参考元件：译码器74ls47一片、共阳数码管一个。. 三、实验原理 1、七段发光二极管(LED)数码管 LED数码管是目前最常用的数字显示器，图5-1(a)、(b)为共阴管和共阳管的电路，(c)为两种不同出线形式的引出脚功能图。一个LED数码管可用来显示一位0～9十进制数和一个小数点。小型数码管（0.5寸和0.36寸）每段发光二极管的正向压降，随显示光（通常为红、绿、黄、橙色）的颜色不同略有差别，通常约为2～2.5V，每个发光二极管的点亮电流在5～10mA。LED数码管要显示BCD码所表示的十进制数字就需要有一个专门的译码器，该译码器不但要完成译码功能，还要有相当的驱动能力。 (a) 共阴连接（“1”电平驱动） (b) 共阳连接（“0”电平驱动） (c) 符号及引脚功能图 5-1 LED数码管 2、BCD码七段译码驱动器此类译码器型号有74LS47（共阳），74LS48（共阴），CC4511（共阴）等，本实验系采用74LS47／七段译码／驱动器。驱动共阳极LED数码管。图 5-2为74LS47引脚排列

图5-2 74LS47引脚排其中A、B、C、D—BCD码输入端。 a、b、c、d、e、f、g—译码输出端，输出“0”有效，用来驱动共阳极LED数码管。 BI：消隐输入端，BI＝“0”时，译码输出全为“1”； LT：测试输入端，BI＝“1”,LT＝“0”时，译码输出全为“0”；：当BI =LT=1,=0时，输入DCBA为0000，译码输出全为“1”。而DCBA为其它各种组合时，正常显示。它主要用来熄灭无效的前零和后零。表5-1 输入输出 LT D C B A a b c d e f g 字形××0 ×××× 1 1 1 1 1 1 1 消隐×0 1××××0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 0 000000 1 × 1 1 0 0 0 1 1 001111 × 1 1 0 0 1 0 0 0 1 0 0 1 0 × 1 1 0 0 1 1 0000110 × 1 1 0 1 0 0 1 001100 × 1 1 0 1 0 1 0 1 0 0 1 0 0 × 1 1 0 1 1 0 110 0 0 0 0 × 1 1 0 1 1 1 0 0 0 1111 × 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 × 1 1 1 0 0 1 0001100 × 1 1 1 0 1 0 1110 0 10 × 1 1 1 0 1 1 110 0 110 × 1 1 1 1 0 0 10 1110 0 × 1 1 1 1 0 1 0 110 10 0 × 1 1 1 1 1 0 1110 0 0 0 × 1 1 1 1 1 1 1111111消隐 0 1 0 00001111111灭零 :当本位的“0”熄灭时，=0,在多位显示系统中，它与下一位的相连，通知下位如果是零也可熄灭。四、实验内容 1.集成七段显示译码器的功能测试。

常用芯片功能表

常用芯片功能表 17555 HD 单时基电路[返回] 27128 ST 16K×8 EPROM 2716 2K×8 EPROM 2732 4K×8 EPROM 2764A-2F1 ST 8K×8 EPRROM 27C040-1500C 512K×8 EPROM(CMOS) 27C1001-12F1 ST 128K×8 EPROM(CMOS) 27C1024 ST [返回] 27C128 ST 16K×8 EPROM 27C16 2K×8 EPROM(CMOS) 27C2001-10F1 ST 256K×8 EPROM(CMOS) 27C256B-12F1 ST 32K×8 EPROM(CMOS) 27C32 4K×8 EPROM(CMOS) 27C4000D-15 NEC 512K×8 EPROM(CMOS) 27C4001-10F1 ST 512K×8 EPROM(CMOS) 27C4001-10F1 ST 512K×8 EPROM(CMOS) 27C512Q120 NS 64K×8 EPROM(CMOS) 27C64A-15F1 ST 8K×8 EPROM(CMOS) 27C8001-10F1 ST 1024K×8 EPROM(CMOS) 27C801-100F1 ST 1024K×8 EPROM(CMOS) [返回] 27SF020-70-4C-NH SST 256K×8 EPROM(CMOS) 28F256 AMD/INTEL 32K×8 EPROM(CMOS)

28F512 AMD/INTEL 64K×8 EPROM(CMOS) 29EE010-150-4CF SST 128K×8 FLASH 29F010B-70JC AMD 128K×8 FLASH 29F010B-90PC AMD 128K×8 FLASH 29F040B-70JC AMD 512K×8 FLASH 29F040B-90PC AMD 512K×8 FLASH 2SD1782K ROHM罗姆 3844 MC 电流式控制器[返回] 39VF160-90-4C SST 4N25 FSC /QTC 光电藕合器(晶体管输岀)DATA 4N26 FSC /QTC 光电藕合器(晶体管输岀) 晶体管输岀DATA 4N27 FSC /QTC 光电藕合器(晶体管输岀)DATA 4N28 FSC /QTC 光电藕合器(晶体管输岀)DATA 4N30 FSC /QTC 光电藕合器(达林顿输出)DATA 4N33 FSC /QTC 光电藕合器(达林顿输出)DATA 4N35 FSC /QTC (达林顿输出) 光电藕合器DATA 4N36 FSC /QTC 光电藕合器(达林顿输出) 光电藕合器DATA 4N37 FSC /QTC 光电藕合器(达林顿输出) 光电藕合器DATA 4N38 TOS 光电藕合器(达林顿输出) 电藕合器[返回] 4N39 TOS 光电藕合器(可控硅驱动器输岀) 光电藕合器 4N40 TOS 光电藕合器(可控硅驱动器输岀) 可控硅驱动器输岀光电藕合器 628128ALP-7 HD 128K×8 D-RAM

常用集成电路及主要参数

1 附录四、常用集成电路及主要参数 4.1 常用集成电路的引线端子识别及使用注意事项 4.1.1 集成电路引出端的识别使用集成电路前，必须认真查对和识别集成电路的引线端，确认电源、地、输入、输出及控制端的引线号，以免因错接损坏元器件。贴片封装(A、B)型，如附图4.1-1所示，识别时，将文字符号正放，定位销向左，然后，从左下角起，按逆时针方向依次为1、2、3……。扁形和双列直插型集成电路：如附图 4.1-2(b)所示，识别时，将文字符号标记正放，由顶部俯视，其面上有一个缺口或小圆点，附图4.1-1贴片型，有时两者都有，这是“1”号引线端的标记，如将该标记置于左边，然后，从左下角起，按逆时针方向依次为1、2、3……。一般圆型和集成电路：如附图4.1-2(a)所示，识别时，面向引出端，从定位销顺时针依次为1、2、3……。圆形多用于模拟集成电路。 (a) 园形外型（b）扁平双列直插型附图4.1-2 集成电路外引线的识别 4.1.2 数字集成电路的使用数字集成电路按内部组成的元器件的不同又分为：TTL电路和CMOS电路。不论哪一种集成电路，使用时，首先应查阅手册，识别集成电路的外引线端排列图，然后按照功能表使用芯片，尤其是牛规模的集成电路，应注意使能端的使用，时序电路还应注意“同步”和“异步”功能等。使用集成路时应注意以下方面的问题。 1、TTL电路（1）电源 ①只允许工作在5V±10％的范围内。若电源电压超过5.5V或低于4.5V，将使器件损坏或导致器件工作的逻辑功能不正常。 ②为防止动态尖峰电流造成的干扰，常在电源和地之间接人滤波电容。消除高频干扰的滤波电容取0.01～0.1PF，消除低频干扰取10—50／uF ③不要将“电源”和“地”颠倒，例如将741S00插反，缺口或小圆点置于右面，则电源的引线端与“地”引线端恰好颠倒，若不注意，这种情况极易发生，将造成元器件的损坏。 ④TTL电路的工作电流较大，例如中规模集成TTL电路需要几十毫安的工作电流，因此使用干电池长期工作，既不经济，也不可靠。（2）输出端 ①不允许直接接地或接电源，否则将使器件损坏。 ②图腾柱输出的TTL门电路的输出端不能“线与”使用，OC门的输出端可以