通用寄存器实验报告
6.9 通用寄存器实验报告
一、实验目的:
1、了解通用寄存器组的用途及对CPU的重要性。
2、掌握通用寄存器组的设计方法。
二、实验内容:
1、通用寄存器组的作用
通用寄存器组是CPU的重要组成部分。
（1）从存储器和外部设备（除DMA方式外）取来的数据要放在通用寄存器中；
（2）向存储器和外部设备（除DMA方式外）输出的数据从通用寄存器中取出；
（3）参加算术运算和逻辑运算的数据从通用寄存器组中取出，同时通用寄存器也是运算结果的暂存地。
（4）通用寄存器组有两个读端口，负责提供进行算术逻辑单元需要的源操作数和目的操作数；有一个写端口，负责将运算结果保存到指定的寄存器内。
2、通用寄存器组功能实现
根据通用寄存器组的功能要求，一个只有四个16位寄存器的通用寄存器组的框图如下图所示：
⑴寄存器部分：
当reset为低电平时，将四个16位寄存器R0-R3复位为0；当寄存器的write和sel
为高电平时，在时钟信号clk的上升沿将D端的输入D[15-0]写入寄存器，然后送到寄存器的输出Q[15-0]。4个寄存器的允许写信号write和外部产生的目的寄存器写信号DRWr 直接相连。每个寄存器还有另一个选择信号sel，它决定哪一个寄存器进行写操作。4个寄存器的选择信号分别和2-4译码器产生的sel00、sel01、sel10、sel11相连。只有当一个寄存器被选中（sel为高电平时），才允许对该寄存器进行写操作。
⑵ 2-4译码器：
2-4译码器的输入sel[1-0]接DR[1-0],2-4译码器对2位的输入信号sel[1-0]进行2-4译码，产生4个输出sel00、sel01、sel10、sel11，分别送往4个寄存器R0、R1、R2和R3的选择端sel。
⑶ 4选1多路器
4选1多路选择器1从4个寄存器R0、R1、R2和R3的输出Q[15-0]选择1路送到DR_data[15-0]，给算术逻辑单元提供目的操作数；选择信号sel[1-0]接DR[1-0]。4选1多路选择器2从4个寄存器R0、R1、R2和R3的输出Q[15-0]选择1路送到SR_data[15-0]，给算术逻辑单元提供源操作数；选择信号sel[1-0]接SR[1-0]。
三、实验要求:
1、实验设计目标
设计一个通用寄存器组满足以下要求：
（1）通用寄存器组中有4个16位的寄存器。
（2）当复位信号reset=0时，将通用寄存器组中的4个寄存器清零。
（3）通用寄存器组中有1个写入信号，当DRWr=1时，在时钟clk的上升沿将数据总线上的数写入DR[1-0]指定的寄存器。
（4）通用寄存器组中有两个读出端口，一个对应算术逻辑单元的目的操作数DR,另一个对应算术逻辑单元的源操作数SR。DR[1-0]选择目的操作数;SR[1-0]选择源操作数。
（5）设计要求层次设计。底层的设计实体有三个：16位寄存器，具有复位功能和允许写功能；一个2-4译码器，对应寄存器写选择；一个4选1多路开关，负责选择寄存器的读出。顶层设计构成一个完整的通用寄存器组。
2、顶层设计实体的引脚要求
引脚要求对应关系如下：
（1）clk对应试验台上的时钟（单脉冲）。
（2）reset对应实验台上的CPU复位信号CPU_RST。
（3）SR[1-0]对应实验台开关SA1，SA0。
（4）DR[1-0]对应实验台开关SA3，SA2。
（5）DRWr对应实验台开关SA5。
（6）目的操作数用实验台上的指示灯A15-A0显示，源操作数用实验台上的指示灯R15-R0显示。
四、实验数据:
五、实验体会:
通过本次实验了解到通用寄存器组对CPU的重要性，同时也了解了通用寄存器的
作用以及功能。
在开始做实验时，不知道该如何来描述这个看起来特别复杂的通用寄存器组。但是通过解读实验原理，了解到要通过一些小的部件来组成通用寄存器组，包括2-4译码器、4选1多路选择器以及寄存器。这些简单的小部件便可组成通用寄存器组，从而支持CPU的功能实现。
六源代码
2-4译码器
library ieee;
use ieee.std_logic_1164.all;
entity transcode is
port(
sel: in std_logic_vector(1 downto 0);
sel00,sel01,sel10,sel11: out std_logic
);
end entity transcode;
architecture transcode of transcode is ---
begin
process(sel) is
begin
case sel is
when "00"=>
sel00<='1';sel01<='0';sel10<='0';sel11<='0';
when "01"=>
sel00<='0';sel01<='1';sel10<='0';sel11<='0';
when "10"=>
sel00<='0';sel01<='0';sel10<='1';sel11<='0';
when "11"=>
sel00<='0';sel01<='0';sel10<='0';sel11<='1';
end case;
end process;
end architecture ;
四选一电路
library ieee;
use ieee.std_logic_1164.all;
entity choose4_1 is
port(
sel:in std_logic_vector (1 downto 0);
input0,input1,input2,input3:in std_logic_vector(15 downto 0); output:out std_logic_vector(15 downto 0)
);
end entity;
architecture choose of choose4_1 is
begin
process(sel) is
begin
case sel is
when "00"=>
output(15 downto 0)<=input0(15 downto 0);
when "01"=>
output(15 downto 0)<=input1(15 downto 0);
when "10"=>
output(15 downto 0)<=input2(15 downto 0);
when "11"=>
output(15 downto 0)<=input3(15 downto 0);
end case;
end process;
end architecture ;
use ieee.std_logic_1164.all;
---------------------------------
单个寄存器
entity oneregister is
port(
clr,clk,allow_write,sel:in std_logic; D: in std_logic_vector(15 downto 0);
Q:out std_logic_vector (15 downto 0) );
end entity;
architecture one of oneregister is
begin
process(clk,clr,allow_write,sel) is
begin
if (clk'event and clk='1')then
if (allow_write='1'and sel='1')then Q<=D;
end if;
end if;
if(clr='0') then
Q<="0000000000000000";
end if;
end process;
end architecture ;
单个寄存器组合成的寄存器组
use ieee.std_logic_1164.all;
entity registers is
port(
d_input :in std_logic_vector(15 downto 0);
DRWr,reset,clk:in std_logic ;
DR,SR:in std_logic_vector(1 downto 0);
DR_data,SR_data: out std_logic_vector(15 downto 0)
);
end entity;
architecture res of registers is
component transcode is
port(
sel: in std_logic_vector(1 downto 0);
sel00,sel01,sel10,sel11: out std_logic
);
end component ;
component choose4_1 is
port(
sel:in std_logic_vector (1 downto 0);
input0,input1,input2,input3:in std_logic_vector(15 downto 0); output:out std_logic_vector(15 downto 0)
);
end component ;
component oneregister is
port(
clr,clk,allow_write,sel:in std_logic;
D: in std_logic_vector(15 downto 0);
Q:out std_logic_vector (15 downto 0)
);
end component;
signal sel0,sel1,sel2,sel3:std_logic;
signal outq0,outq1,outq2,outq3:std_logic_vector(15 downto 0); begin
transcode1 :transcode port map(DR,sel0,sel1,sel2,sel3);
----------------------------------------------------------
R0:oneregister port map(reset,clk,DRWr,sel0, d_input,outq0);
R1:oneregister port map(reset,clk,DRWr,sel1,d_input,outq1);
R2:oneregister port map(reset,clk,DRWr,sel2,d_input,outq2);
R3:oneregister port map(reset,clk,DRWr,sel3,d_input,outq3);
---------------------------------------------------------
DRoutput:choose4_1 port map(DR,outq0,outq1,outq2,outq3,DR_data);
SRoutput:choose4_1 port map(SR,outq0,outq1,outq2,outq3,SR_data); end architecture;
实验二通用寄存器单元实验
实验二通用寄存器单元实验 2014.4.29 班级12级物联网工程（1）班学号姓名 【实验目的】 1.了解通用寄存器的组成和硬件电路。 2.利用通用寄存器实现数据的置数、左移、右移等功能。 【实验要求】 1.按照实验步骤完成实验项目，实现通用寄存器移位操作。 2.了解通用寄存器单元的工作原理运用。 【实验过程】 实验2.1 数据输入通用寄存器 （1）.把RA-IN（8芯的盒型插座）与CPT-B板上的二进制开关单元中J01插座相连(对应二进制开关H16~H23)，把RA-OUT（8芯的盒型插座）与数据总线上的DJ6相连。 （2）.把RACK连到脉冲单元的PLS1，把ERA、X0、X1、RA-O、M接入二进制拨动开关。(请按下表接线)。 （3）.二进制开关H16~H23作为数据输入，置42H(对应开关如下表)。 置各控制信号如下： （4）.按启停单元中的运行按钮，置平台为运行状态。 （5）.按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，把42H打入通用寄存器。 （6）.此时数据总线上的指示灯IDB0~IDB7 应该显示为42H。由于通用寄存器内容不为0，所以LED（ZD）灯灭。
实验2.2 寄存器内容无进位位左移实验 （1）按照实验1数据输入的方法把数据42H打入通用寄存器中，数据总线上显示42H。 （2）实现左移功能，置各控制信号如下： （3）按启停单元中的运行按钮，置实验平台为运行状态。 （4）按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，使通用寄存器中的值左移。 （5）此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7 应该显示为84H。由于通用寄存器内容不为0，所以ZD（LED）灯灭。 （6）按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，使通用寄存器中的值左移，此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7应该显示为09H。若一直按PLS1，在总线上将看见数据循环左移的现象。 实验2.3 寄存器内容无进位位右移实验 （1）按照实验1数据输入的方法把数据42H打入通用寄存器中，数据总线上显示42H。 （2）实现右移功能，置各控制信号如下： （3）按启停单元中的运行按钮，置实验平台为运行状态。 （4）按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，使通用寄存器中的值右移。 （5）此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7 应该显示为21H。由于通用寄存器内容不为0，所以ZD（LED）灯灭。 （6）按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，使通用寄存器中的值右移，此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7应该显示为90H。若一直按PLS1，在总线上将看见数据循环左移的现象。 附：通用寄存器的逻辑 通用寄存器（8位并入并出移位寄存器） 【实验结果】
寄存器实验报告
寄存器实验报告
一、实验目的 1. 了解寄存器的分类方法，掌握各种寄存器的工作原理； 2. 学习使用V erilog HDL 语言设计两种类型的寄存器。 二、实验设备 PC 微机一台，TD-EDA 实验箱一台，SOPC 开发板一块。 三、实验内容 寄存器中二进制数的位可以用两种方式移入或移出寄存器。第一种方法是以串行的方式将数据每次移动一位，这种方法称之为串行移位(Serial Shifting)，线路较少，但耗费时间较多。第二种方法是以并行的方式将数据同时移动，这种方法称之为并行移位(Parallel Shifting)，线路较为复杂，但是数据传送的速度较快。因此，按照数据进出移位寄存器的方式，可以将移位寄存器分为四种类型：串行输入串行输出移位寄存器(Serial In- Serial Out)、串行输入并行输出移位寄存器(Serial In- Parallel Out)、并行输入串行输出移位寄存器(Parallel In- Serial Out)、并行输入并行输出移位寄存器(Parallel In-Parallel Out)。 本实验使用V erilog HDL 语言设计一个八位并行输入串行输出右移移位寄存器(Parallel In- Serial Out)和一个八位串行输入并行输出寄存器(Serial In- Parallel Out)，分别进行仿真、引脚分配并下载到电路板进行功能验证。 四、实验步骤 1．并行输入串行输出移位寄存器实验步骤 1）. 运行Quartus II 软件，选择File New Project Wizard 菜单，工程名称及顶层文件名称为SHIFT8R，器件设置对话框中选择Cyclone 系列EP1C6Q240C8 芯片，建立新工程。 2.) 选择File New 菜单，创建V erilog HDL 描述语言设计文件，打开文本编辑器界面。 3.) 在文本编辑器界面中编写V erilog HDL 程序，源程序如下： module SHFIT8R(din,r_st,clk,load,dout); input [7:0]din; input clk,r_st,load; output dout; reg dout; reg [7:0]tmp; always @(posedge clk) if(!r_st) begin dout<=0; end else begin if(load) begin tmp=din; end else
集成计数器及寄存器的运用 实验报告
电子通信与软件工程 系2013-2014学年第2学期 《数字电路与逻辑设计实验》实验报告 --------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 班级: 姓名: 学号: 成绩: 同组成员: 姓名: 学号: --------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 一、 实验名称:集成计数器及寄存器的运用 二、实验目的: 1、熟悉集成计数器逻辑功能与各控制端作用。 2、掌握计数器使用方法。 三、 实验内容及步骤: 1、集成计数器74LS90功能测试。74LS90就是二一五一十进制异步计数器。逻辑简图为图8、1所示。 四、 五、 图8、1 六、 74LS90具有下述功能: ·直接置0(1)0(2)0(.1)R R ,直接置9(S9(1,·S,.:,＝1) ·二进制计数(CP 、输入QA 输出) ·五进制计数(CP 2输入Q D Q C Q B 箱出) ·十进制计数(两种接法如图8.2A 、B 所示) ·按芯片引脚图分别测试上述功能,并填入表 8、1、表8、2、表8、3中。
图8、2 十进制计数器 2、计数器级连 分别用2片74LS90计数器级连成二一五混合进制、十进制计数器。 3、任意进制计数器设计方法 采用脉冲反馈法(称复位法或置位法)。可用74LS90组成任意模(M)计数器。图8、3就是用74LS90实现模7计数器的两种方案,图(A)采用复位法。即计数计到M异步清0。图(B)采用置位法,即计数计到M一1异步置0。 图8、3 74LS90 实现七进进制计数方法 （1）按图8、3接线,进行验证。 （2）设计一个九进制计数器并接线验证。 （3）记录上述实验的同步波形图。 四、实验结果:
计算机组成原理实验报告
实验1 通用寄存器实验 一、实验目的 1.熟悉通用寄存器的数据通路。 2.了解通用寄存器的构成和运用。 二、实验要求 掌握通用寄存器R3~R0的读写操作。 三、实验原理 实验中所用的通用寄存器数据通路如下图所示。由四片8位字长的74LS574组成R1 R0（CX）、R3 R2（DX）通用寄存器组。图中X2 X1 X0定义输出选通使能，SI、XP控制位为源选通控制。RWR为寄存器数据写入使能，DI、OP为目的寄存器写选通。DRCK信号为寄存器组打入脉冲，上升沿有效。准双向I/O输入输出端口用于置数操作，经2片74LS245三态门与数据总线相连。 图2-3-3 通用寄存器数据通路
四、实验内容 1.实验连线 2.寄存器的读写操作 ①目的通路 当RWR=0时，由DI、OP编码产生目的寄存器地址，详见下表。 通用寄存器“手动／搭接”目的编码 ②通用寄存器的写入 通过“I/O输入输出单元”向R0、R1寄存器分别置数11h、22h，操作步骤如下： 通过“I/O输入输出单元”向R2、R3寄存器分别置数33h、44h，操作步骤如下： ③源通路 当X2~X0=001时，由SI、XP编码产生源寄存器，详见下表。 通用寄存器“手动／搭接”源编码
④通用寄存器的读出 五、实验心得 通过这个实验让我清晰的了解了通用寄存器的构成以及通用寄存器是如何运用的，并且熟悉了通用寄存器的数据通路，而且还深刻的掌握了通用寄存器R3~R0的读写操作。
实验2 运算器实验 一、实验目的 掌握八位运算器的数据传输格式，验证运算功能发生器及进位控制的组合功能。 二、实验要求 完成算术、逻辑、移位运算实验，熟悉ALU运算控制位的运用。 三、实验原理 实验中所用的运算器数据通路如图2-3-1所示。ALU运算器由CPLD描述。运算器的输出FUN经过74LS245三态门与数据总线相连，运算源寄存器A和暂存器B的数据输入端分别由2个74LS574锁存器锁存，锁存器的输入端与数据总线相连，准双向I/O输入输出端口用来给出参与运算的数据，经2片74LS245三态门与数据总线相连。 图2-3-1运算器数据通路 图中AWR、BWR在“搭接态”由实验连接对应的二进制开关控制，“0”有效，通过【单拍】按钮产生的脉冲把总线上的数据打入，实现运算源寄存器A、暂存器B的写入操作。 四、实验内容 1.运算器功能编码 表2.3.1 ALU运算器编码表 算术运算逻辑运算 K15 K13 K12 K11 功能K15 K13 K12 K11 功能 M S2 S1 S0 M S2 S1 S0 0 0 0 0 A+B+C 1 0 0 0 B 0 0 0 1 A—B—C 1 0 0 1 /A 0 0 1 0 RLC 1 0 1 0 A-1 0 0 1 1 RRC 1 0 1 1 A=0
计数器和移位寄存器设计仿真实验报告.
实验四典型时序电路的功能测试与综合仿真报告 15291204张智博一．74LS290构成的24位计数器 方法：第一片74290的Q3与第二片的INB相连，R01，R02相连，INA，R91,R92悬空构成24位计数器。50Hz，5v方波电压源提供时钟信号，用白炽灯显示输出信号。 实验电路： 实验现象：
输出由000000变为000001，000010，000011，000100，001000，001001，001010，001011，001100，010001，010000，010010，010011，010100，011000，011001，011010，011011，011100，100000，100001，100010，100011，100100，最终又回到000000，实现一次进位。 二．74LS161构成的24位计数器 方法：运用多次置零法 用两片74LS161构成了24位计数器，两片计数器的时钟信号都由方波电压源提供，第一片芯片的Q3和第二片芯片的Q0通过与非门，构成两个74LS161的LOAD信号，第一片的CO接第二片的ENT，其他ENT和ENP接Vcc（5v）。输出接白炽灯。 电路图： 实验现象：以下为1—24的计数过程
三．74LS194构成的8位双向移位寄存器 方法：通过两片194级联，控制MA,MB的值，来控制左右移动 实验电路由两片74LS194芯片构成。两个Ma接在一起，两个Mb接在一起，第一片的Dr，第二片的Dl，分别通过开关接到Vcc（5v）上。第一片的Q3接到第二片的Dr，第二片的Q0接到第一片的Dl。8个输出端分别接白炽灯。 实验电路：
计算机原理与及设计实验报告
计算机原理与设计 实验报告 实验三多周期MIPS CPU的控制部件用有限状态机实现多周期CPU的控制部 件
一．实验目的 1、了解MIPS—CPU控制器的功能和工作原理； 2、掌握用有限状态机技术实现多周期控制器的方法； 3、熟练掌握用Verilog HDL语言设计多周期控制器的方法； 4、熟练掌握对多周期控制器的仿真实验验证和硬件测试两种调试方法； 5、掌握向MIPS-CPU顶层数据通路中增加控制单元的方法，并通过仿真验证和硬件测试两种方法对电路进行故障定位的调试技术。 二．实验内容 （1）MIPS—CPU控制器的有限状态机设计，根据MIPS—CPU 各种类型指令执行要求和有限状态机的设计原理，将多周期控制器的指令执行划分为多个状态，确定每一种指令的有限状态机，最后归纳为完整的多周期控制器有限状态机。通过Verilog HDL语言实现多周期控制器有限状态机。 （2）根据MIPS—CPU控制器的接口要求，在有限状态机的
基础上，用Verilog HDL实现完整的MIPS—CPU控制器的设计，并根据仿真波形，验证设计的正确性，并对出现的故障进行定位，修改程序，重新编译； （3）设计控制器的硬件下载测试方案。将编译通过的电路下载到实验台中。根据硬件调试结果验证设计的正确性，并对出现的故障进行定位，修改程序重新编译；最终完成控制器的硬件电路设计； （4）在MIPS—CPU指令系统的数据通路基础上，增加控制单元电路，并进行编译，仿真波形和调试。根据仿真波形，验证设计的正确性，并对出现的故障进行定位，修改程序，重新编译； （5）对增加了控制单元的顶层数据通路设计硬件下载测试方案。将编译通过的电路下载到实验台中。根据硬件调试结果验证设计的正确性，并对出现的故障进行定位，修改程序，重新编译；最终完成增加了控制单元的顶层数据通路设计。三．实验原理与步骤 1.把指令执行分成多个阶段，每个阶段在一个时钟周期内完成 （1）.时钟周期以最复杂阶段所花时间为准 （2）.尽量分成大致相等的若干阶段 （3）.每个阶段内最多只能完成：1次访存或1次寄存器堆读/写或1次ALU
计算机组成原理实验报告 通用寄存器单元实验
西华大学数学与计算机学院实验报告 课程名称：计算机组成原理年级：2011级实验成绩： 指导教师：祝昌宇姓名：蒋俊 实验名称：通用寄存器单元实验学号：312011*********实验日期：2013-12-15 一、目的 1.了解通用寄存器的组成和硬件电路 2. 利用通用寄存器实现数据的置数、左移、右移等功能 二、实验原理 （1）寄存器实验构成 1、通用寄存器由2片GAL构成8位字长的寄存器单元。8芯插座RA-IN作为数据输入端，可通过端8芯扁平电缆，把数据数据输入端连接到数据总线上。 2、数据输出由一片74LS244（输出缓冲器）来控制。用8芯插座RA-OUT作为数据输出端，可通过端8芯扁平电缆，把数据数据输出端连接到数据总线上。 3、判零和进位电路由1片GAL、1片7474和一些常规芯片组成，用2个LED（ZD、CY）发光管分别显示其状态。 （2）通用寄存器单元的工作原理 通用寄存器的核心部件为2片GAL，它具有锁存、左移、右移、保存等功能。各个功能都由X1、X2信号和工作脉冲RACK来决定。当置ERA=0、X0=1、X1=1，RACK有上升沿时，把总线上的数据打入通用寄存器。可通过设置X1、X0来指定通用寄存器工作方式，通用寄存器的输出端Q0~Q7接入判零电路。LED（ZD）亮时，表示当前通用寄存器内数据为0。 输出缓冲器采用74LS244，当控制信号RA-O为低时，74LS244开通，把通用寄存器内容输出到总线；当控制信号RA-O为高时，74LS244的输出为高阻。 图1 通用寄存器原理图 三、使用环境 计算机组成原理实验箱 四、实验步骤
（一）数据输入通用寄存器 1．把RA-IN（8芯的盒型插座）与CPT-B板上二进制开关单元中的J1插座相连（对应二进制开关H16~H23），把RA-OUT（8芯的盒型插座）与数据总线上的DJ6相连。 2．把RACK连到脉冲单元的PLS1，把ERA、X0、X1、RA-0、M接入二进制拨动开关。请按下表接线。 信号定义接入开关位号 RACK PLS1孔 X0 H12孔 X1 H11孔 ERA H10孔 RA-O H9孔 M H4孔 3．二进制开关H16~H23作为数据输入，置42H（对应开关如下表） H23 H22 H21 H20 H19 H18 H17 H16 数据总线值 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 8位数据 0 1 0 0 0 0 1 0 42H 置各控制信号如下： H12 H11 H10 H9 H4 X0 X1 ERA RA-O M 1 1 0 0 1 4．按启停单元中的有效按钮，置实验机为运行状态。 5．按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，把42H打入通用寄存器。 $ 此时数据总线上的指示灯IDB0~IDB7显示为42H。由于通用寄存器内容不为0，所以ZD (LED)灯灭。 （二）寄存器内容无进位位左移 1．把42H打入通用寄存器中，数据总线上显示42H。 2．实现左移功能，置各控制信号如下： H12 H11 H10 H9 H4 X0 X1 ERA RA-O M 1 1 0 0 1 3．按启停单元中的有效按钮，置实验机为运行状态。 4．按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，使通用寄存器的值左移。 $ 此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7应该显示为84H。由于通用寄存器内容不为0，所以ZD (LED)灯灭。 5．按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，使通用寄存器的值左移，此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7显示为09H。若一直按PLS1，在总线上看见数据循环左移的现象。
寄存器组的设计与实现
寄存器组的设计与实现 第______ _________组 成员___ ____ ____ 实验日期___ _____ _____ 实验报告完成日期___________ 1、实验目的 １、学习掌握Ｑｕａｒｔｕｓ软件的基本操作； ２、理解寄存器组的工作原理和过程； ３、设计出寄存机组并对设计的正确性进行验证； 二、实验内容
１、设计出功能完善的寄存器组，并对设计的正确性进行验证。要求如下： （１）用图形方式设计出寄存器组的电路原理图 （２）测试波形时用时序仿真实现，先将不同的数据连续写入 ４个寄存器后，再分别读出 （３）将设计文档封装成器件符号。 （４）数据的宽度最好是１６位 ２、能移位的暂存器实验，具体要求如下： （１）用图形方式设计出能移位的暂存器电路原理图，分别实 现左移、逻辑右移和算术右移。 （２）测试波形时要用时序仿真实现，测试数据不要全为０也 不要全为１，算术右移的测试数据要求为负数（即符号位为 １） （３）将设计文档封装成器件符号。 （4）数据的宽度最好是１６位 三、能完善的寄存器组设计思想 1、对于寄存器组设计思路 利用具有三态功能的寄存器堆７４６７０芯片进行设计，根据实验要求，需要设计１６位的存储器组，则需要７４６７０芯片４片，在寄存器组工作时，同时对４片７４６７０芯片进行读写操作控制，封装后即可作为包含有４个寄存器的１６位寄存器组在主机系统中调用。 2、对７４６７０器件的学习 ７４６７０（三态输出４×４寄存器堆）提供４个４位的寄存器，在功能上可对４个寄存器去分别进行写操作和读操作。在寄存器进行写操作时，通过ＷＢ、ＷＡ两个寄存器选择端的组合和００、０１、１０、１１、来选择寄存器，公国ＧＷＮ写操作端控制进行三态控制，在ＧＷＮ为低电平时将数据写入端数据Ｄ４Ｄ３Ｄ２Ｄ１写入该寄存器；在寄存
计算机组成原理实验报告总结寄存器的原理及操作.doc
成绩：实验报告 课程名称：计算机组成原理 实验项目：寄存器的原理及操作 姓名： 专业：计算机科学与技术 班级： 学号：
计算机科学与技术学院 实验教学中心 20 16年6月20日
实验项目名称：寄存器的原理及操作 一、实验目的 1.了解模型机中 A, W 寄存器结构、工作原理及其控制方法。 2.了解模型机中寄存器组 R0..R3 结构、工作原理及其控制方法。 3.了解模型机中地址寄存器 MAR，堆栈寄存器 ST，输出寄存器 OUT寄存器结构、工作原理及其控 制方法。 二、实验内容 1、A、W寄存器：利用 COP2000实验仪上的K16..K23 开关做为DBUS的数据，其它开关做为控制信号， 将数据写入寄存器A， W。 2、R0、R1、R2、R3 寄存器实验：利用COP2000实验仪上的K16..K23 开关做为DBUS的数据，其它开 关做为控制信号，对数据寄存器组R0..R3 进行读写。 3、MAR、ST、OUT寄存器：利用COP2000实验仪上的K16..K23 开关做为DBUS的数据，其它开关做为 控制信号，将数据写入地址寄存器MAR，堆栈寄存器ST，输出寄存器OUT。 三、实验用设备仪器及材料 伟福 COP2000 系列计算机组成原理实验系统 四、实验原理及接线 实验 1：A，W 寄存器实验
实验 2 ：R0，R1， R2，R3寄存器实验
MAR为存储器地址寄存器，其功能是存储操作数在内存中的地址,信号MAREN的功能是将数据总线DBUS上数据 MAR，信号 MAROE的功能是将MAR的值送到地址总线ABUS上 ST 堆栈寄存器的作用，是出现中断或子程序调用时，保存断点处PC 的值，以便中断或子程序结束时， 能继续执行原程序。图中，信号STEN的作用是将数据总线DBUS上数据存入堆栈寄存器ST 中
计算机组成原理实验报告
计算机组成原理课程设计 报告 指导教师： 班级： 姓名： 学号：
一、目的和要求 1.实验目的： 深入了解计算机各种指令的执行过程，以及控制器的组成，指令系统微程序设计的具体知识，进一步理解和掌握动态微程序设计的概念；完成微程序控制的特定功能计算机的指令系统设计和调试。 2、实验要求： 要进行这项大型实验，必须清楚地懂得： （1）TEC-2机的功能部件及其连接关系； （2）TEC-2机每个功能部件的功能与具体组成； （3）TEC-2机支持的指令格式； （4）TEC-2机的微指令格式，AM2910芯片的用法； （5）已实现的典型指令的执行实例，即相应的微指令与其执行次序的安排与衔接； （6）要实现的新指令的格式与功能。 二、实验环境 PC机模拟TEC-2机 三、具体内容 一、实验内容： 选定指令格式、操作码，设计如下指令： （1）把用绝对地址表示的内存单元ADDR1中的内容与内存单元ADDR2中的内容相减，结果存于内存单元ADDR3中。 指令格式：D4××，ADDR1，ADDR2， ADDR3 四字指令（控存入口100H） 功能： [ADDR3]=[ADDR1]-[ADDR2] （2）将一通用寄存器内容减去某内存单元内容，结果放在另一寄存器中。 指令格式：E0 DR SR，ADDR （SR，DR源、目的寄存器各4位）双字指令（控存入口130H） 功能： DR=SR+ [ADDR] （3）转移指令。判断两个通用寄存器内容是否相等，若相等则转移到指定绝对地址，否则顺序执行。 指令格式：E5 DR SR，ADDR 双字指令（控存入口140H） 功能： if DR==SR goto ADDR else 顺序执行。 设计：利用指令的CND字段，即IR10~8，令IR10~8=101，即CC=Z 则当DR==SR时Z=1，微程序不跳转，接着执行MEM PC（即ADDR PC） 而当DR!=SR时Z=0，微程序跳转至A4。 二、实验要求： （1）根据内容自行设计相关指令微程序；（务必利用非上机时间设计好微程序） （2）设计测试程序、实验数据并上机调试。 （3）设计报告内容：包括1、设计目的2、设计内容3、微程序设计（含指令格式、功能、设计及微程序） 4、实验数据（测试所设计指令的程序及结果）。（具体要求安最新规范为准） （4）课程设计实验报告必须打印成册，各班班长收齐大型实验报告于18周星期六下午（15：00）前，交张芳老师办公室。 四、实验程序与分析： （一）.把用绝对地址表示的内存单元ADDR1中的内容与内存单元ADDR2中的内容相减，结果存于内存单元ADDR3中。 指令格式：D4××，ADDR1，ADDR2， ADDR3 四字指令（控存入口100H）
实验六移位寄存器的设计
实验六移位寄存器的设计 一、实验目的 1、掌握中规模4位双向移位寄存器逻辑功能及使用方法。 2、熟悉移位寄存器的应用—实现数据的串行、并行转换和构成环形计数器。 二、实验预习要求 1、复习有关寄存器及串行、并行转换器有关内容。 2、查阅CC40194、CC4011及CC4068 逻辑线路。熟悉其逻辑功能及引脚排列。 3、在对CC40194进行送数后，若要使输出端改成另外的数码，是否一定要使寄存器清零？ 4、使寄存器清零，除采用R C输入低电平外，可否采用右移或左移的方法？可否使用并行送数法？若可行，如何进行操作？ 5、若进行循环左移，图6－4接线应如何改接？ 6、画出用两片CC40194构成的七位左移串 /并行转换器线路。 7、画出用两片CC40194构成的七位左移并 /串行转换器线路。 三、实验设备及器件 1、＋5V直流电源 2、单次脉冲源 3、逻辑电平开关 4、逻辑电平显示器 5、CC40194×2（74LS194）CC4011(74LS00) CC4068(74LS30) 四、设计方法与参考资料 1、移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。 本实验选用的4位双向通用移位寄存器，型号为CC40194或74LS194，两者功能相同，可互换使用，其逻辑符号及引脚排列如图6－1所示。 其中D0、D1、D2、D3为并行输入端；Q0、Q1、Q2、Q3为并行输出端；S R为右移串行输 C为直接无条件清零端； 入端，S L为左移串行输入端；S1、S0为操作模式控制端；R
杭电计组实验4-寄存器堆设计实验
杭州电子科技大学计算机学院 实验报告 实验项目： 课程名称：计算机组成原理与系统结构设计 姓名： 学号： 同组姓名： 学号 : 实 验 位 置 （ 机 号 ） ： 实验日期： 指 导 教 师： 实验 内容 （算 法、 程 序、 步骤 和 方 法） 一、 实验目的 （1 ）学会使用Verilog HDL 进行时序电路的设计方法。 （2）掌握灵活应用Verilog HDL 进行各种描述与建模的技巧和方法。 （3 ）学习寄存器堆的数据传送与读 /写工作原理，掌握寄存器堆得设计方法。 二、 实验仪器 ISE 工具软件 三、 步骤、方法 （1） 启动Xilinx ISE 软件，选择File->New Project,输入工程名shiyan2,默认选择后，点 击Next 按钮，确认工程信息后点击 Finish 按钮，创建一个完整的工程。 （2） 在工程管理区的任意位置右击，选择 New Source 命令。弹出 New Source Wizard 对 话框， 选择Verilog Module,并输入Verilog 文件名，点击Next 按钮进入下一步， 点击Finish 完成创建。 （3） 编辑程序源代码，然后编译，综合；选择 Synthesize--XST 项中的Check Syntax 右击 选择 Run 命令，并查看RTL 视图；如果编译出错，则需要修改程序代码，直至正确。 （4） 在工程管理区将 View 类型设置成 Simulation ，在任意位置右击，选择 New Source 命 令，选择Verilog Test Fixture 选项。点击Next ，点击Finish ，完成。编写激励代码，观察仿 真波形，如果验证逻辑有误，则修改代码，重新编译，仿真，直至正确。 （5） 由于实验四并未链接实验板，所以后面的链接实验板的步骤此处没有。
西工大2017年数字集成电路设计实验课实验一
实验四 译码器的设计及延迟估算 1、 设计译码器并估算延迟 设计一个用于16bit 寄存器堆的译码器，每一个寄存器有32bit 的宽度，每个bit 的寄存器单元形成的负载可以等效为3个单位化的晶体管(后面提到负载都为单位化后的负载)。 译码器的结构可参考典型的4-16译码器 译码器和寄存器堆的连接情况(Output 输出为1的一行寄存器被选中) ① 假定4个寄存器地址位的正反8个输入信号，每个信号的输入负载可以等效为10。确定 译码器的级数，并计算相关逻辑努力，以此来确定每一级中晶体管的尺寸（相当于多少个单位化的晶体管）及整个译码电路的延迟(以单位反相器的延迟的本征延迟Tp0为单位)。 解： 96332,10int =?==ext g C C C ,9.696/10F ==? 假定每一级的逻辑努力：G=1，又因为分支努力(每个信号连接8个与非门)： 81*8*1B ==， 路径努力8.7686.91=??==GFB H 所以，使用最优锥形系数就可得到最佳的电路级数39.36.3ln 8.76ln 6.3ln ln ===H N ,故N 取3级。 因为逻辑努力：2121G =??=，路径努力：6.15386.92=??==GFB H 则使得路径延时最小的门努力 36.5)6.153(3/1===N H h 。 所以： . 36.5136.5,68.2236.5, 36.5136.5132211=========g h f g h f g h f
故第一级晶体管尺寸为7.68 1036.5=?； 第二级尺寸为956.1768.27.6=?； 第三级尺寸为96244.9636.5956.17≈=?。 故延迟为：0008.22)36.5136.5436.51(p p p t t t =+++++= ② 如果在四个寄存器地址输入的时候，只有正信号，反信号必须从正信号来获得。每个正信号的输入的等效负载为20,使用与①中同样的译码结构，在这种条件下确定晶体管的大小并评估延迟(以单位反相器的延迟的本征延迟Tp0为单位)。 解：因为输入时通过两级反相器，使这两个反相器分摊原来单个反相器的等效扇出，将两级反相器等效为一级，故其逻辑努力32.236.5h ==, 故36.5,68.2,32.2,32.24321====f f f f 所以： 第一级尺寸为：()9.2832.210=?； 第二级尺寸为：728.632.29.2=?； 第三级尺寸为：03.1868.2728.6=?； 第四级尺寸为：65.9636.503.18=? 正信号通路的延迟为：()0036.2236.5136.5436.5132.2132.2p p p t t t =++++++++= 反信号通路情况与上问相同，延迟为0008.22)36.5136.5436.51(p p p t t t =+++++= 2、 根据单位反相器(NMOS:W=0.5u L=0.5u PMOS:W=1.8u L=0.5u)，设计出实 际电路，并仿真1题中第一问的路径延迟。 设计出实际电路如下：
计算机组成原理实验报告材料
福建农林大学计算机与信息学院信息工程类实验报告系：计算机科学与技术专业：计算机科学与技术年级： 09级 姓名：张文绮学号： 091150022 实验课程：计算机组成原理 实验室号：___田405 实验设备号： 43 实验时间：2010.12.19 指导教师签字：成绩： 实验一算术逻辑运算实验 1．实验目的和要求 1. 熟悉简单运算器的数据传送通路； 2. 验证4位运算功能发生器功能(74LS181)的组合功能。 2．实验原理 实验中所用到的运算器数据通路如图1-1所示。其中运算器由两片74181
以并/串形式构成8位字长的ALU。运算器的输出经过一个三态门(74245)和数据总线相连，运算器的两个数据输入端分别由两个锁存器(74373)锁存，锁存器的输入连接至数据总线，数据开关INPUT DEVICE用来给出参与运算的数据，并经过一个三态门(74245)和数据总线相连，数据显示灯“BUS UNIT”已和数据总线相连，用来显示数据总线内容。 图1-2中已将用户需要连接的控制信号用圆圈标明(其他实验相同，不再说明)，其中除T4为脉冲信号，其它均为电平信号。由于实验电路中的时序信号均已连至W/R UNIT的相应时序信号引出端，因此，在进行实验时，只需将W/R UNIT 的T4接至STATE UNIT的微动开关KK2的输出端，按动微动开关，即可获得实验所需的单脉冲，而S3，S2，S1，S0，Cn，LDDR1，LDDR2，ALU-B，SW-B各电平控制信号用SWITCH UNIT中的二进制数据开关来模拟，其中Cn，ALU-B，SW-B为低电平控制有效，LDDR1，LDDR2为高电平有效。 3．主要仪器设备（实验用的软硬件环境） ZYE1603B计算机组成原理教学实验系统一台，排线若干。 4．操作方法与实验步骤
实验二：输寄存器实验解析
成绩： 计算机原理实验室实验报告 本说明打印前删除！！proteus 实验报告格式必须保持原样，蓝色部分按照实验内容自行填写；全班统一使用A4大小纸张，部分困难学生可以使用等大小纸张，自绘实验报告格式；全部实验完成后，学委按照实验顺序把每个学生的实验报告（含首页）装订成册，按照学号顺序排列，提交给实验指导老师（询问代课老师，学校将实验工作指派给了哪位老师）。 学委提交报告时，需要同时提交（附录）实验成绩登记表一份。其中表头部分课程，班级，班级总人数照实填写，项目填写本学期本课程的实验数量；学号姓名栏按照顺序填写，报告一栏填写该同学交报告的份数（每项目每人一份报告）；出勤和成绩栏留空，由实验室填写；特殊情况填写在备注处，若空间不够请写于背面并在备注处标明；若有学号超过58号的情况，请在背后按照格式登记所有项目；空学号可以不留空位置，顺序递进。 课程：计算机组成原理 姓名：刘翔翔 专业：软件工程 学号：1420561 21 日期：2016年6月 太原工业学院 计算机工程系
实验二：输寄存器实验 实验环境PC机＋Win 7＋proteus仿真器实验日期2016.06.01 一．实验内容 基本要求 1.理解CPU运算器中寄存器的作用 2.设计并验证寄存器组（至少四个寄存器） 扩展要求 3.实现更多的寄存器（至少8个） 思考题： 思考随着寄存器的增多，电路设计的复杂度是什么比例增大？ 二．理论分析或算法分析 1.基本要求 使用74LS373充当寄存器，74LS139做地址译码，74LS245用作输入，数码管显示寄存器内的数据。74LS139为二-四译码器，用两根线作为地址线接到74LS139的输入端，输出端分别接到每个74LS373的OE上，再用一个74LS139配合反相器产生控制每个74LS373的LE的信号。74LS245的输出端分别对应接到373输入端的每个管脚上的。74LS373的输出端对应接到数码管的对应管教上，以实现数据的显示。先在各个寄存器中输入不同的数据，然后关闭74ls248(输入)，选择不同的373(寄存器)，在数码管上显示不同的数据。 2.扩展要求 与基本要求相比大体不变，地址译码部分选择74LS138来做地址译码器。原理图连接方式原理不变，验证方式不变。
实验二 通用寄存器实验
实验二通用寄存器实验 一、实验目的 1.熟悉通用寄存器的数据通路。 2.了解通用寄存器的构成和运用。 二、实验要求 掌握通用寄存器R3~R0的读写操作。 三、实验原理 实验中所用的通用寄存器数据通路如下图所示。由四片8位字长的74LS574组成R1 R0（CX）、R3 R2（DX）通用寄存器组。图中X2 X1 X0定义输出选通使能，SI、XP控制位为源选通控制。RWR为寄存器数据写入使能，DI、OP为目的寄存器写选通。DRCK信号为寄存器组打入脉冲，上升沿有效。准双向I/O输入输出端口用于置数操作，经2片74LS245三态门与数据总线相连。 图2-3-3 通用寄存器数据通路
四、实验内容 1. 实验连线 K23~K0置“1”，灭M23~M0控位显示灯。然后按下表要求“搭接”部件控制电路。 连线 信号孔 接入孔 作用 有效电平 1 DRCK CLOCK 单元手动实验状态的时钟来源 上升沿打入 2 X2 K10(M10) 源部件译码输入端X2 三八译码 八中选一 低电平有效 3 X1 K9(M9) 源部件译码输入端X1 4 X0 K8(M8) 源部件译码输入端X0 5 XP K7(M7) 源部件奇偶标志：0=偶寻址，1=奇寻址 6 SI K20(M20) 源寄存器地址：0=CX ，1=DX 7 RWR K18(M18) 通用寄存器写使能 低电平有效 8 DI K17(M17) 目标寄存器地址：0=CX ，1=DX 9 OP K16(M16) 目标部件奇偶标志：0=偶寻址，1=奇寻址 2. 寄存器的读写操作 ① 目的通路 当RWR=0时，由DI 、OP 编码产生目的寄存器地址，详见下表。 通用寄存器“手动／搭接”目的编码 目标使能 通用寄存器目的编址 功能说明 RW(K18) DI(K17) OP(K16) T 0 0 0 ↑ R0写 0 0 1 ↑ R1写 0 1 0 ↑ R2写 0 1 1 ↑ R3写 ② 通用寄存器的写入 通过“I/O 输入输出单元”向R0、R1寄存器分别置数27h 、37h ，操作步骤如下： 通过“I/O 输入输出单元”向R2、R3寄存器分别置数47h 、57h ，操作步骤如下： ③ 源通路 当X2~X0=001时，由SI 、XP 编码产生源寄存器，详见下表。 通用寄存器“手动／搭接”源编码 置数 I/O=XX01h 数据来源 I/O 单元 寄存器 R0=01h K10~K7=1000 按【单拍】按钮 置数 I/O=XX11h 寄存器 R1=11h 按【单拍】按钮 K18~K16=000 K18~K16=001 置数 I/O=XX21h 数据来源 I/O 单元 寄存器 R2=21h K10~K7=1000 按【单拍】按钮 置数 I/O=XX31h 寄存器 R3=31h 按【单拍】按钮 K18~K16=010 K18~K16=011
最新实验6-移位寄存器功能测试及应用-(实验报告要求)
实验六 移位寄存器功能测试及应用 --实验报告要求 一. 实验目的(0.5分） 1. 熟悉寄存器、移位寄存器的电路结构和工作原理。 2. 掌握中规模4位双向移位寄存器逻辑功能及使用方法。 3. 熟悉移位寄存器的应用。 二. 实验电路 D0、D1 、D2 、D3为并行输入端；Q0、Q1、Q2、Q3为并行输出端；SR 为右移串行输入端，SL 为左移串行输入端；S1、S0 为操作模式控制端；R C 为直接无条件清零端；CP 为时钟脉冲输入端。 三 图2 CC40194/74LS194 逻辑功能测试 图1 CC40194/74LS194的逻辑符号及引脚功能 图3 环形计数器
四. 实验原理（0.5分） 1.移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。 本实验选用的4位双向通用移位寄存器，型号为CC40194或74LS194，两者功能相同，可互换使用。 74LS194有5种不同操作模式：即并行送数寄存，右移（方向由Q0-->Q3）,左移（方向由Q3→Q0），保持及清零。 2．移位寄存器应用很广，可构成移位寄存器型计数器：顺序脉冲发生器；串行累加器；可用数据转换，即把串行数据转换为并行数据，或把并行数据转换为串行数据等。本实验研究移位寄存器用作环形计数器和数据的串、并行转换。 （1）环行计数器 把移位寄存器的输出反馈到它的串行输入端，就可以进行循环移位。 （2）实现数据、并行转换器 a）串行∕并行转换器 串行∕并行转换器是指串行输入的数码，经转换电路之后变换成并行输出。 b）并行∕串行转换器 并行∕串行转换器是指并行输入的数码经转换电路之后，换成串行输出。 五. 实验内容与步骤（共1分） 1. 2.测试74LS194的逻辑功能（0.5分） (1)在实验箱上选取一个16P插座，按定位标记插好74LS194集成块。 (2)将实验挂箱上＋5V直流电源接40194的16脚，地接8脚。S1、S0、SL、SR、D0、D1、D2、D3分别接至逻辑电平开关的输出插口；Q0、Q1、Q2、Q3接至发光二极管。CP端接单次脉冲源。 (3)改变不同的输入状态，逐个送入单次脉冲，观察寄存器输出状态，记录之。 a)清除：令=0，其它输入均为任意态，这时寄存器输出Q0、 Q1、 Q2 、Q3应均为0。清除后，至=1。 b）送数：令=S1=S0=1 ，送入任意4位二进制数，如D0、D1、D2、D3=1010，加CP脉冲，观察CP=0、CP由1→0、CP=1三种情况下寄存器输出状态的变化，观察寄存输出状态变化是否发生在CP脉冲的上升沿。 （c）右移：清零后，令=1， S1=0 S0=1，由右移输入端S R送入二进制数码如0100，由CP端连续加4个脉冲，观察输出情况，记录之。 （d）左移：先清零或予至，再令=1 S1=1，S0=0，由左移输入端S L送入二进制数码
移位寄存器实验报告
移位寄存器实验报告 姓名：陈素学号：3120100621 专业：软件工程课程名称：逻辑与计算机设计基础实验同组学生姓名：张闻 实验时间：y yyy-mm-dd 实验地点：紫金港东4-509 指导老师：一、实验目的和要求 掌握移位寄存器的工作原理及设计方法 掌握串、并数据转换的概念与方法 了解序列信号在CPU控制器设计中的应用 二、实验内容和原理 2.1 实验原理 带并行置入的移位寄存器 移位寄存器：每来一个时钟脉冲，寄存器中的数据按顺序向左或向右移动一位必须采用主从触发器或边沿触发器 不能采用电平触发器 数据移动方式：左移、右移 数据输入输出方式 串行输入，串行输出 串行输入，并行输出 并行输入，串行输出 串行输入的移位寄存器 使用D触发器，可构成串行输入的移位寄存器 2.2 标题 <正文>
带并行输入的右移移位寄存器 数据输入移位寄存器的方式：串行输入、并行输入 带并行输入的8位右移移位寄存器 module shift_reg(clk, S, s_in, p_in, Q); input wire clk, S, s_in; input wire [7:0] p_in; output wire [7:0] Q; wire [7:0] D; wire nS; FD FDQ0(.C(clk), .D(D[0]), .Q(Q[0])), FDQ1(.C(clk), .D(D[1]), .Q(Q[1])), FDQ2(.C(clk), .D(D[2]), .Q(Q[2])), FDQ3(.C(clk), .D(D[3]), .Q(Q[3])), FDQ4(.C(clk), .D(D[4]), .Q(Q[4])), FDQ5(.C(clk), .D(D[5]), .Q(Q[5])), FDQ6(.C(clk), .D(D[6]), .Q(Q[6])), FDQ7(.C(clk), .D(D[7]), .Q(Q[7])); OR2 D0_L(.I0(L_0), .I1(R_0), .O(D[0])), D1_L(.I0(L_1), .I1(R_1), .O(D[1])), D2_L(.I0(L_2), .I1(R_2), .O(D[2])), D3_L(.I0(L_3), .I1(R_3), .O(D[3])), D4_L(.I0(L_4), .I1(R_4), .O(D[4])), 串行输入 S