JT300S1505数字测量投影仪测试方法
标题： JT300S1505数字测量投影仪操作方法
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1. 目的
为JT300S1505数字测量投影仪操作详细说明，以保证能正确使用。 2. 范围
适用于JT300S1505数字测量投影仪。 3. 定义
无 4. 操作方法
4.1接上电源,然后按下电源开关,数显表进入自检状态，按任意一个键或自检完成后,进入正常显示状态。 （图1 图2 图3所示）
图1 图2 图3
4.2取待测线材绝缘或护套一段，用刀片进行纵向切割成片状作为被测试样（被测试样一定要切得薄，厚度不超过0.3mm ），将其放在工作台中央，调节工作台升降手轮，使投影屏幕上光亮适中，图象清晰。
（图4 图5 图6图7所示）
4.3调节工作台纵、横向测微鼓轮，开始对试样进行测量。（图7所示）
4.4投影屏旋转零位对准，调整工件测量方向与测量轴平行，移动工作台将被测长度的一端对准屏上刻线交点，
坐标值清零，移动工作台使另一端对准屏上刻线交点，此时显示值即为被测尺寸。（图3所示） 4.5用毕立即切断电源。 打开电源开关
仪器初始状态
开机数显表画面
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图4 图5 图6
图7 图8
5. 维护保养
5.1使用本仪器时，必须注意防尘、防油、防潮。
5.2仪器应放在清洁干燥的房间里(室温20℃±5℃，湿度低于60％)避免光学零件发霉、金属件生锈，影响光学系统成像质量和仪器测量精度。光学零件不能用手触摸，污渍多时可用脱脂棉或擦镜纸蘸少许酒精乙醚混合液轻擦。投影屏上污渍较多时，可用干净湿纱布蘸少许中性洗涤剂轻擦，污渍除掉后，再用干净试纱布擦抹几次去净，再涂防锈油脂。仪器导轨面应定期用航空汽油擦干净，再涂防锈油脂。经常注意风扇工作是否正常。除需要外，透、反射照明正常使用时只需开低档即可，对延长灯泡使用寿命有好处。 5.3仪器外露运动部分机械件，要定期用汽油揩清，涂以适量润滑脂、润滑油防锈，工作台调焦导轨 加润滑脂，工作台测量导轨表面加钟油。
6. 相关文件
无 7. 相关记录
《成品检验原始记录》
试样清晰度
X 轴手轮
Y 轴手轮
升降手轮
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光学投影仪操作、维护、保养规范 一．主要用途： 用于测量各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状尺寸。 二．型号及种类: 1．型号：JT-3015 2. 品牌：嘉腾 三、操作方法及步骤 1.使用前应该注意该仪器是不是在校正周期内. 1.1.同时打开总电源开关(IO)透射照明电源开关(IO) 透射照明电源开关(IO) 和反射照明开关. 1.2将工作量于工作台上,并位于反射照明光斑之内,若为细小工件,需用垫杆 或垫片作为支撑物,调好焦,此时屏上出现工作表面的影像. 1.3.视工件的大小,可以旋转反射聚光镜的镜筒改变照在工件上的光斑大小, 当光班变小时,工件影像将更明亮. 1.4将左手握住у轴手轮,右手握住х轴手轮,眼睛目视于投影屏上,待工件清 晰,平整后方可进行测量工作. 2.轮廓测量 2.1将标准放大图用四只弹性压板压在投影屏上. 2.2工件放在工作台上,调好焦,移动х、у工作台使零件影像与放大图套准。 2.3若工件影像与放大图的偏差在公差带之内,则为合格,超出范围为不合格, 偏差数值可以用х、у坐标测量出来. 2.4用格值为0.5mm标准玻璃,工作尺在屏上直接测量工作影像的大小,(小于 格值部分х、у坐标数量测出)除以物镜放在倍数即为工件的测量尺寸. 3.双坐标测量 3.1工作量于工作台上,选用倍率较高的物镜,调好焦. 3.2投影屏旋转零位对准,即屏框上的短白线对准零位标记 3.3调整工件被测方向与测量轴平行. 3.4移动工作台,将被测长度的一个端面对准屏上的垂直刻线力坐标值清零. 3.5移动力轴,使工作另一端对准垂直刻线,力轴显示值即工件尺寸. 4.单坐标测量 4.1投影屏旋转零位线对准零位标记
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小尺寸物体光学测量方法 李闯闯 （华东师范大学，物理与材料学院，上海市，邮编：200000） 摘要：测量微小长度的方法很多，除了游标卡尺，螺旋测微器，读书显微镜等简单的长度测量方法外，利用激光强度高，干涉性好，方向性好的特点，设计出的光学测量方法也有很多，本文将先对实验中的线阵CCD测量物体尺寸进行简单介绍，然后再介绍两种其他的小尺寸物体光学测量方法：利用光学多道仪测量，照相法测量。 1.线阵CCD测量物体尺寸 随着科学技术的发展和工业自动化检测程度的提高，传统的人工接触式的测量由于测量精度和效率的限制已经无法满足大规模生产的需求。高精度，高速度的在线非接触测量已经成为检测行业的发展趋势。产于上世纪70年代的电荷耦合器件（CCD）是现代最重要的图像传感器的一种。 CCD是由一种高感光度的半导体材料制成的模拟集成电路芯片，借助光学系统和驱动电路，图像经光敏区后可以实现光电信号的转换、存储和传输，从而将空间域的光学图像转换为时间域的离散电压信号。 线阵CCD具有灵敏度高、光谱响应宽、集成度高、结构简单、成本低廉等诸多优点，因此在检测方面应用越来越广。 （1）线阵CCD测量原理 装置由远心照明光源系统，待测物体，线阵成像系统，线阵CCD图像采集系统和计算机数据处理系统构成。 远心照明光源发出平行光术均匀投射到待测物体，经成像物体成像在线阵CCD的光敏阵列上。由于待测物体的成像面上光照度不同，线阵CCD光敏阵列上的照度分布也就不同，因此，输出信号中将包含待测物体的尺寸信息，如下图所示。再通过线阵CCD及其驱动器将其转换为图二右侧所示的时序电压信号（N1，N2是待测物体的边缘信号） 为了提取图二所示的边缘信息，通常要对线阵CCD输出的信号进行二值化处理。其方法有固定阈值法，浮动阈值法和微分阈值法。实验中我们采用的是浮动阈值法。软件采集到一行周期U0输出的数据之后，根据背景光信号的强度信号
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家庭影院投影亮度指标解析 随着投影机产品的发展,各厂家不断推出具有更高亮度的投影机产品,投影机的亮度已经达到2000ANSI流明以上，但在用户购买过程中，对投影机亮度指标的理解常有偏差，不同品牌，相同亮度指标的机器在比较中也相差较远,那么如何理解投影机的亮度指标呢? “light out”是投影机主要的技术指标，“light out”通常以光通量来表示,光通量是描述单位时间内光源辐射产生视觉响应强弱的能力，单位是流明。 LCD 投影机表示光通量的单位是ANSI流明，ANSI流明是美国国家标准化协会制定的测量投影机光通量的方法，它测量屏幕"田"字形九个交叉点上的各点照度，乘以面积，再求九点的平均值，即为该投影机的ANSI流明值,液晶投影机的光输出主要决定于光源的亮度和光路系统以及液晶板的透射或反射能力。 目前高亮度投影机在不增加光源功率的前提下通过技术提高光利用率,在光路上设置P.S光转换板，把起偏以后的垂直方向震动的S光反射转向,P光透射来提高光的效率。现在主流机型的流明已超过1000ANSI，大约在1500ANSI左右。DLP 投影机的亮度单位为ANSI 流明。 DLP投影机(数字光处理技术美国德州仪器公司技术)以数字微反射镜器件作为光阀成像器件通过信号放大,输出大屏幕图像。大多数DLP投影机都采用1块DMD光阀片，用滤色片旋转出色彩。LCD液晶投影机和DLP投影机是目前中国市场上主要机种，其亮度指标由于测试环境的差异，各品牌的机器ANSI流明指标有所差异。但是厂家提供的ANSI流明数值基本反映了投影机的亮度水平。但在市场上大多数产品存在标高ANSI指标的情况，建议在选购时直接看样机进行比较。 CRT(三枪)投影机的光输出用峰值流明来表示，即在一个白窗口的测试图像上，以扫描线尚清晰可见的情况下，测量白窗口的最大照度(LUX)乘以白窗面积(m2)来确定投影机光通量，峰值流明具有很好的实际意义，由于您看到的任何一帧视频图像不可能全部都是白场，白色所占的比例一般占图像面积的20%左右。 同时CRT投影机是依靠投影管内电子束在荧光屏上扫描获取图像，束电流大小取决于阴极的发射能力,正常状态下阴极发射的电子被阴栅之间的负电位差控制，在阴栅之间形成电子云,随电位减少，电子流很快被拉到阳极----荧光屏，CRT管能提供较高的脉冲电流，所以窗口信号的屏上亮度可较高,而如果画面是全白场，由于阴极发射能力的限制，只能提供平均束电流，屏上亮度会大大降低，只有峰值流时的1/5左右。由于阴极各CRT投影和所采用窗口信号的大小不同(10%-25%)，所以各厂家产品的亮度指标，没有绝对的可比性。 昌融智能影音投影机亮度在测试和用户使用中，与投影机距离屏幕的远近和屏幕视角，增益指标有很大关系，也是需要注意的一点。
25J数字测量投影仪操作规程
25J数字测量投影仪操作规程 1、适用范围： 广泛适用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶等各行业及院校、研究所、计量检定部门、试验室和生产车间。 2、主要技术参数： 工作台尺寸：150mm*150mm 液晶显示屏尺寸：320mm*320mm 工作台行程：X轴55mm,Y轴55mm 玻璃台尺寸：Φ60 载物台旋转范围：0-360° 上光源：30W(6V) 下光源：30W(6V) 测量手轮格值：0.01mm 调焦行程：60mm 操作方式：手动 电源：220V,50HZ 重量：约35KG 3、操作步骤： 3.1 打开主机和液晶显示器开关使系统供电。 3.2根据测量样品选择上光源测量或下光源测量，测量样品放在载物镜中心位置，调节变焦镜头或镜头高度使显示屏成像清晰，将其旋转零位对准，调整样品测量点与测量轴平行，移动测微手轮将被测点的一端对准显示屏上十字线交点，测微X轴手轮上读数，移动测微手轮另一被测点对准十字线交点，再次读数，两者之差即为被测尺寸。同样方法移动Y轴进行纵向测量。 3.3测量时可调节工作台左方的光源调整轮，选择合适的测量亮度。 3.4测量工作完毕后使工作台在X、Y方向恢复到对称位置。 4、维护和保养: 4.1仪器应放在清洁干燥的试验室里，避免光学零件发霉、金属生锈，影响光学系统成像质量和仪器测量精度。 4.2光学零件不能用手触摸，上有灰尘可用软毛笔拂去，污渍多时可用脱脂棉或擦镜纸蘸少许酒精乙醚混合液轻擦。 4.3显示屏上污渍较多时，可用干净湿纱布蘸少许中性洗涤剂轻擦，污渍除掉后，在用干净湿纱布擦抹几次去净洗涤剂。 4.4仪器轨道面应定期用航空汽油擦干净，在涂除锈油脂。
投影机检测方法
投影机检测方法 用专业仪器测试 ●亮度 我们的测试表格里提到的投影机“亮度”其实并不完全等同于光学知识里真正意义上的亮度。简单来理解，我们测试出来的“亮度”指的是投影机投射出的所有光线的总和，单位是流明。 9个测试点 照度是反映光照强度的一种单位，其物理意义是照射到单位面积上的光通量，照度的单位是每平方米的流明（Lm）数，也叫做勒克斯（Lux）：1Lux=1Lm/m2 我们使用ANSI标准的9点法来进行测试，投影机把拥有9个测试点的图片投射到幕布上，均匀分布在屏幕9个测试点上的照度的平均值就是整个屏幕的平均照度。使用照度计分别测试9个点的照度值，然后得出投影屏幕上的平均照度（单位面积上接收到的光线的数量，单位：勒克斯），将平均照度乘以画面尺寸，就得出了屏幕上接收到的全部光线，也就是投影机发出的全部光线的数量，这个数量即是数据表格里的“亮度”。 编辑点评： 平均照度X 面积= 亮度 简单来说就是先用仪器求出单位面积上接收到的光线的数量，然后再用这个单位面积数量乘以画面的面积，就可以得到整个画面的所有光线总和。 ●优化亮度和最大亮度的区别 优化亮度和最大亮度的区别其实很简单，前者是投影机在ANSI优化调整后测试得出，而后者是在将投影机的对比度和亮度都调到最大后测试得出。 ●对比度（ANSI对比度、FOFO对比度） 对比度是画面白与黑的比值，也就是从白到黑的渐变层次。比值越大，从白到黑的渐变层次就越多，从而色彩表现越丰富。 ANSI对比度的16个测试点 FOFO对比度测试（白/黑） 在投影机测试中有两种对比度测试方法： ◆一种是ANSI对比度，它采用ANSI标准测试方法测试对比度，ANSI对比度测试方法采用16点黑白相间色块，8个白色区域亮度平均值和8个黑色区域亮度平均值之间的比值即为ANSI对比度。 ◆另一种是画面全白/全黑对比度测试方式，即测试投影机输出的全白屏幕与全黑屏幕亮度比值（FOFO对比度）。 用这两种对比度的测试方法测投影机，得出的“ANSI对比度”会远远小于“FOFO对比度”，两者差异很大。但用这两种方法测试液晶显示器或液晶电视却区别不大。原因就是投影机的光路自身存在不可避免的缺陷，由于是反射式显示，因此容易受到周围明亮区域反射、
光学测量复习题
1.光学测量：对光学材料、零件及系统的参数和性能的测量。 2.直接测量：无需对被测的量与其他的实测的量进行函数关系的辅助计算，而直接得到被测值的测量。 3.间接测量：直接测量的量与被测的量之间有已知的函数关系，从而得到该被测量的测量。 4.测量误差原因：（测量装置误差）（环境误差）（方法误差）（人员误差）。 5.测量误差按其特点和性质，可分为（系统误差）、（偶然误差）和（粗大误差）。 6.精度：反应测量结果与真实值接近程度的量。 7.精度分为：①正确度:由系统误差引起的测量值与真值的偏离程度②由偶然误差引起......③由系统误差和偶然误差引起的...... 8.偶然误差的评价:(标准偏差)(极限误差)。 9.正态分布特征：（单峰性）（对称性）（有界性）（抵偿性）。 10.确定权的大小的方法：（根据测量次数确定）（由标准偏差确定）。 11.对准（横向对准）是指在垂直于瞄准轴方向上，使目标和比较标记重合或置中的过程，又称横向对准。 12.调焦（纵向对准）指目标和比较标记瞄准轴方向重合或置中的过程。 13..对准误差：对准残留的误差。 14.调焦误差：调焦残留的误差。 15.常用调焦方式：（清晰度法）、（消视差法）。 16.清晰度法：以目标象和比较标志同样清晰为准，其调焦误差由几何景深和物理景深决定。 17.消视差法：以眼睛垂直于瞄准轴摆动时看不出目标象和比较标志有相对错动为准，调焦误差受对准误差影响。 18.平行光管：是光学测量中最常用的部件，发出平行光，用来模拟无限远目标，主要由（望远物镜）和（安置在物镜焦平面上的分划板）构成。 19.调校平行光管的目的：是使分划板的分划面位于物镜焦平面上。调校方法：（远物法）、（可调前置镜法）、（自准直法）、（五棱镜法）和（三管法）。 20.自准直仪：（自准直望远镜）（自准直显微镜）。 21.自准直目镜是一种带分划板和分划板照明装置的目镜。一般不能单独使用，应与望远镜物镜配合构成自准直望远镜；与显微镜物镜配合构成自准直显微镜。它们统称自准直仪。 22.常用自准直目镜：（高斯目镜）、（阿贝目镜）、（双分划板式自准直目镜）。 23.剪切干涉法常见的平板式横向剪切干涉仪，它是以干涉条纹成无限宽，即干涉场中呈均匀一片作为判别光束准直性基准的。 24.双楔板剪切干涉法的原理？ 解：假设楔板的棱边平行于x轴(棱边呈水平状态)，并倾斜至于光路中。一离焦板的光波Kd(x2+y2)经楔板前，后面反射，则反射波沿x方向被横波向剪切。干涉条纹是一组与x轴倾斜的直线簇，在重叠区域形成的条纹可表示为（nkβ）y+(KDs)x=mπ 25.V棱镜法的检测原理：当单色平行光垂直的入射到V棱镜的ED面时，若被检玻璃折射率n与V棱镜折射率n0完全相同，则出射光不发生任何偏折的射出；若n与n0不等，则出射光相对入射光有一偏折角θ，若测出θ，就可计算出折射率。 26.V棱镜折光仪：主要用于平行光管、对准望远系统、读数显微镜系统和标准V块组成。 27.V棱镜折光仪的使用方法：平行光管分划板的刻线是在水平透光宽缝中间刻一细长线。由平行光管射出的单色平行光束经V棱镜和待检试样后，产生偏折角θ，转动望远镜对准平行光管的刻线象。当望远镜对准时，带动度盘转动。有读数显微镜读得角θ，其整数部分由度盘读出，小数部分由测微目镜读出。 28.最小偏向角法的测量原理：单色平行光沿MP方向射出，入射光与出射光的夹角δ为偏
投影仪的使用说明
投影仪使用说明书 一、目的 1、对ph-3500投影仪的维护和保养以及保持仪器的良好使用状态可以保证仪 器原有的精度和延长仪器的用寿命。 二、简单的介绍投影仪 1、投影仪的用途： ph-3500系列投影仪一种光、机、电、计算机一体化的精密高效光学计量仪器。它被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、轻工等行业，院校、研究所以及计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。本仪器能高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状，如样板、冲压件、凸轮、螺纹、齿轮、成形铣刀以及丝攻等各种工具、刀具和零件。 2、投影仪的仪器介绍 （1）总体介绍 1、投影屏（照面纸和玻璃） 2、屏幕旋转按钮 3、角度计数器 4、XY轴计 数器5、投影透镜6、X轴调节手柄7、光纤照明灯8、等高投影灯9、载物台10、控制面板11、Y轴调节手柄12、载物台深降手柄 （2）角度计数器以及XY周计数器 2、1角度计数器 1、角度显示屏 2、角度显示屏置零键 3、ABS/INC状态切换指示 4、显 示单位切换/断开设置键5、ABS/INC状态切换键 2、2.XY轴计数器 6 、单位切换指示（inch英寸mm毫米）7、X轴移动指示量8、Y轴移 动指示量 9、X轴置零设置键10、Y轴指零设置键 （3）控制面板 1、电源总开关（I:ON/O:OFF） 2、等高投影开关灯（I:ON/O:OFF） 3、等 高投射灯亮度调节（¤；亮/¤：暗）4、光纤照明灯开关（I:ON/O:OFF） 5、光纤照明灯亮度调节（上图标：表面光/下图标：斜面及反射面光源） （4）投影仪显示屏 1、照面玻璃 2、照面玻璃旋转扭 3、显示屏固定扭 4、“零”基准线 三、PH-3500投影仪在测试前的准备和测试的操作规程 (1)操作前的准备工作 1、作业环境：室内环境，并能有效的避免外来光对投影仪显示屏的直射 2、揭开投影仪的保护套并整理好， 3、清洁测量工作台面以及载物台 4、确认投影仪XY轴的移动自如 5用纱布（清洁布）擦去待测物附着的毛刺及杂质 6、插上投影仪电源开关，打开投影仪的电源主开关，打开透过照明开关。 7、调节屏幕旋转旋钮，将其角度调到“零”基准线 （2）投影仪的测量
测量投影仪
测量投影仪 测量投影仪又称为光学投影检量仪或光学投影比较仪，为利用光学投射的原理，将被测工件之轮廓或表机投影至观察幕上，作测量或比对的一种测量仪器。 图1 仪器工作原理图 投影仪工作原理如图1所示,被测工件Y置于工作台上,在透射或反射照明下, 它由物镜0成放大实像Y′(倒像)并经光镜M1与M2反射于投影屏P的磨沙面上。当反光镜M1换成反像系统后,Y′即成为反像,一个与工件完全反向的影 像,CM-300-C/D反像投影仪在屏上可用标准玻璃工作尺对Y′进行测量，也可以 用预先绘制好的标准放大图对它进行比较测。测得的数值除以物镜的放大倍数即是工件的测量尺寸。还可以利用工作台上的数位测量系统对工件Y进行座标测量；也可利用投影屏旋转角度数显系统对工件的角度进行测量。 图中S1与S2分别为透射和反射照明光源，K1与K2分别为透射和反射聚光镜。视工件的性质，两种照明可分别使用，也可同时使用。半反半透镜L 仅仅在反 射照明时才使用。 二、仪器总体结构 主要由投影箱,主壳体和工作台)三大部分构成。 2.1 投影箱:包括仪器的成像系统即物镜,反光镜M1与M2投影屏和SDS5-3PJ 多功能资料测量处理电箱。投影屏旋转机构上装有角度感测器。 2.2 仪器主壳体:除支撑投影箱和工作台外,仪器的照明系统,电器控制系统,以 及冷却风扇等均装上面。 2.3 仪器工作台:包括从(X轴)、横（Y轴）向运动（座标测量用）和垂向（Z 轴）运动（调焦用）。X轴与Y轴配有解析度为0.001mm的光栅线位移感测器。 三、仪器测量方法 投影仪测量方法概括为2类: 轮廓测量与座标测量. 3.1 轮廓测量 1）用“标准放大图”进行比较测量 此法适用于形状复杂，批量大的零件检验。步骤为： 2）按零件大小确定物镜倍率,再按零件设计图纸制作与物镜放大倍率相同比例的标准放大图,材料选用伸缩性较小的透明塑胶片.在图上还可以绘出允许的公 差带,如零件尺寸在￠30左右,则制10:1的放大图,选用10X物镜进行测量.标准圆弧、角度、螺纹、齿形、网格、等放大图也有现成的可购买。 3）将标准放大图用四只弹性压板在投影屏上. 4）工件放在工作台上,调好焦.移动X、Y工作台使零件影像与放大图套准。5）若工作影像与放大图的偏差在公差带之内,则为合格.超出范围为不合格, 偏差数值可以用X、Y座标测量出来。 6）用格值为0.5mm标准玻璃工作尺(选购附件)在屏上直接测量工件影像的大小(小于格值部分也可用X、Y座标数显测出)，除以物镜放大倍数即为工件的测量尺寸. 3.2 座标测量
角度测量的光学方法
第28卷第2期2002年3月 光学技术OPTICAL TECHN IQU E Vol.28No.2 March 2002 文章编号:100221582(2002)022******* 角度测量的光学方法 Ξ 浦昭邦,陶卫,张琢 (哈尔滨工业大学305信箱,黑龙江哈尔滨 150001) 摘 要:光学测角法是高精度动态角度测量的一种有效的解决途径。对目前发展较快的几种角度测量的光学方法———圆光栅测角法、光学内反射小角度测量法、激光干涉测角法和环形激光测角法进行了详细的介绍,并且分别给出了每种方法的测量原理和发展现状,比较了各种方法的优缺点,给出了每种方法的应用场合和发展前景。 关键词:角度测量;光学方法;转角;整周中图分类号:TH741.2 文献标识码:A Angle measurement with optical methods PU Zhao 2bang ,T AO Wei ,ZH ANG Zhuo (Harbin institute of Technology ,Harbin 150001,China ) Abstract :Optical methods are one of the most effective way of dynamic angle measurement with high accuracy.Several well developed optical methods of angle measurement ,such as angle measurement with radical gratings ,angle measurement based on internal 2reflection effect ,laser interference angle measurement system and ring laser goniomcters ,are described in de 2tail.The principle ,present status and application situation of each method is dis played.The superiority and defects of these methods are lined out.The development future of each method is given at last. K ey w ords :angle measurement ;optical methods ;rotation angle ;whole round 1 引 言 角度测量是几何量计量技术的重要组成部分,发展较为完备,各种测量手段的综合运用使测量准确度达到了很高的水平。角度测量技术可以分为静态测量和动态测量两种。对于静态测量技术来说,目前的主要任务集中在如何提高测量精度和测量分辨力上[1～3]。随着工业的发展,对回转量的测量要求也越来越多,因此人们在静态测角的基础上,对旋转物体的转角测量问题进行了大量的研究,产生了许多新的测角方法。 测角技术中研究最早的是机械式和电磁式测角技术,如多齿分度台和圆磁栅等,这些方法的主要缺点大多为手工测量,不容易实现自动化,测量精度受到限制[4,5]。光学测角方法由于具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点而倍受人们的重视,尤 其是稳定的激光光源的发展使工业现场测量成为可能,因此使光学测角法的应用越来越广泛,各种新的光学测角方法也应运而生。目前,光学测角方法除众所周知的光学分度头法和多面棱体法外,常用的还有光电编码器法[6]、衍射法[7,8]、自准直法[9,10]、光纤法[11]、声光调制法[12,13]、圆光栅法[14～17]、光学内反射法[18～23]、激光干涉法[24～28]、平行干涉图法[29,30]以及环形激光法[31～33]等。这些方法中的很多方法在小角度的精密测量中已经得到了成功地应用,并得到了较高的测量精度和测量灵敏度,通过适当的改进还可对360°整周角度进行测量。对于众所周知的光学分度盘、轴角编码器、光电光楔测角法等来说,由于应用较多,技术比较成熟,本文不作具体介绍。下面主要介绍几种近几年来发展起米的小角度测量方法和可用于整周角度测 量的方法。 2 圆光栅测角法 圆光栅是角度测量中最常用的器件之一。作为角度测量基准的光栅可以用平均读数原理来减小由分度误差和安装偏心误差引起的读数误差,因此其准确度高、稳定可靠。但在动态测量时,在10r/s 的转速下,要想达到1′的分辨力都非常困难。目前我国的国家线角度基准采用64800线/周的圆光栅系统,分辨力为01001″,总的测量不确定度为0105″。该测量方法主要是在静态下的相对角度测量。英国国家物理实验室(NPL )的E W 图1 NPL 测角仪原理图Palmer 介绍了一台作为角度基准的径向光栅测角仪,如图1所示,既可用于测角,又 可用于标定。其原理是利用两块32400线的径向光栅安装在015r/s 的同一个轴 套上,两个读数头一个固定,一个装在转台上连续旋转,信号间的相位差变化与转角成正比。仪器中用一个自准直仪作为基准指示器,可以测得绝对角度,利用光栅细分原理可测360°范围内的任意角度,附加零伺服机构可以对转台进行实时调整,限制零漂。用干涉仪作为读数头,可进行高精度测量。按95%置信度 水平确定其系统误差的不确定度为0105″[15] 。 德国联邦物理研究院(PTB )的Anglica T ubner 等人用衍射 8 61Ξ收稿日期:2001205224;收到修改稿日期:2001206218 基金项目:国家自然科学基金资助项目(59875017) 作者简介:浦昭邦(19402),男,哈尔滨工业大学教授,博士生导师,主要从事光学测量、图像处理方面的研究。
数字式测量投影仪操作指导书
一、投影屏的使用 1）仪器总电源打开后，投影屏旋转角度值也在DC-3000上显示出来，可通过DC-3000内部设置进行度、分与百进制的转换。 2）松开锁紧螺丝，用投影屏框上的小手柄把磨砂镜片压紧，并使屏框上的白色短线与零位标记对齐。 3）视工件大小选择16或20x的物镜，将工件放在工作台上，位于反射照光斑之内，调好焦。 此时屏慕上出现的工件表面的影像必须清晰可见、无阴影。 4）摆正工件，在摆正过程中应对被测物釆取轻微敲击，直至选取被测物体的一边与X轴或Y 轴重合。操作时可以来回运动几次，可以提高测量的精确度。 5）然后，以这条与X轴或Y轴重合的边为基准，把显示面板中的X, Y, Z这三坐标值设为0，此时就可以根据实际测试的尺寸来测量，用手轮传动的过程中，动作要平缓，不要用力过大，直至测量出结果。 二、利用投影屏常见的几种测量 1）轮廓测量（釆用标准放大图） a) 根据被测件大小确定物镜倍率，再按零件图纸制作与物镜倍率相同比例的标准放大图， 材料选用伸缩性较小的透明塑胶片。在图上也可以画出允许的公差带。 b)将标准放大图用弹性压板压在投影屏上。 c)把工件放在工作台上，调好焦，移动X ,Y工作台使零件影像与放大图套准。 d) 若工件影像与放大图的偏差在公差带之内，则为合格；若超出范围则为不合格，偏差数值可用X,Y坐标测量出来。 2）坐标测量 a)工件放在工作台上，选用倍率较高的物镜，调好焦。 b)投影屏旋转零位对准，即屏框上的短白线对准零位标记。 c)调整工件被测方向与测量轴平行。如X轴。 d)移动工作台，将被测工件的另一个端面与Y轴重合，然后把显示面板的X ,Y,Z数值 都设置为0，此时即可进行测量。 3）角度坐标测量
如何选择投影仪镜头
如何选择投影仪镜头呢？ 光学测量投影仪的种类有立式和卧式，根据不同的要求，选择不同种类的投影仪，才能真正发挥效果。那么如何选择投影仪镜头呢？ 下面亿辉光电就光学测量投影仪做一下简单分析。 光学测量投影仪是利用光学镜头将被测件按比例放大投影至屏幕上进行测量的一种光学计量仪器，广泛用来测量形状复杂的机械零件和注塑件，如冲压件，齿轮，凸轮，螺纹，刀具及样板等，除直接测量零件的几何参数外，还可描绘轮廓和做轮廓对比测量。 选购光学测量投影仪时必须考虑如下各点： 1.选择正像或倒像：最简单的光学投影仪在屏幕上显现的都是被测件的倒像，即镜面像。为方便测量，有时特意加上正像系统把倒象变成正像，这无疑会增加成本而且测量精度也会随之有所降低。因此，若无绝对必须，容忍倒像是正确的选择。 2.选择合适的工作台及相关附件：工作台是放置和夹持被测件的，它本身的体量、X，Y 行程和承载能力都至关重要，务必认真选择。同时，为方便夹持被测件，还需选购旋转工作台、V型座架等附件。 3.选择合适的精度：当前市售的的光学测量投影仪由于影响测量精度的光学镜头和光栅尺的质量都差不多，故其理论精度也都不相上下，因而选购时不必刻意追求高精度。 4、选择放大倍数：投影仪的投影镜头，其放大倍数是固定的，一个被测件的不同部位往往需要选用不同的放大倍数，不同零件更需用不同的放大倍数，但投影仪出厂时的标准配置多数是只配一只镜头，若需更多镜头必须按需选购。新颖的转盘式投影仪，配有四组镜头，只要轻轻转动即可更换镜头。 5.选择屏幕大小：挑选屏幕大小时，应慎重考虑是否必须在屏幕上显现整个零件，若分段观测即可达目的，则不必追求大屏幕。各投影仪的生产厂家都备有多种屏幕尺寸供选择。
电子测量仪器的各种分类方法和测量方式
电子测量仪器的各种分类方法和测量方式 1 按测量手段分类 1.1 直接测量：在测量过程中，能够直接将被测量与同类标准量进行比较，或能够直接用事先刻度好的测量仪器对被测量进行测量，直接获得数值的测量称为直接测量。 1. 2 间接测量：当被测 量由于某种原因不能直接测量时可以通过直接测量与被测量有一定函数关系的物理量，然后按函数关系计算被测量的数值，这种间接获得测量结果的方式称为间接测量。 1.3 组合测量：当某项测量结果需要用多个未知参数表 达时，可通过改变测量条件进行多次测量，根据函数关系列出方程组求解，从而得到未知量的测量，称为组合测量。 2 按测量方式分类 2.1 直读法：用直接指出被测量大小的指示仪表进行测量，能够直接从仪表刻度盘商或从显示器上读取被测量数值的测量方法，称为直读法。 2.2 比较法：将被测量与标准量在比较仪器中直接比较，从而获得被测量数值的方法，称为比较法。 3 按测量性质分类 3.1 时域测量：时域测量也叫作瞬时测量，主要是测量被测量随时间的变化规律。如用示波器观察脉冲信号的上升沿、下降沿、平顶降落等脉冲参数以及动态电路的暂态过程。真空表| 硬度计| 探伤仪| 电子称| 热像仪 3.2 频域测量：频域测量也称为稳态测量，主要目的是获取待测量与频率之间的关系。如用频谱分析仪分析信号的频谱，测量放大器的幅频特性、相频特性等。 3.3 数据域测量：数据域测量 也称逻辑量测量，主要是对数字信号或电路的逻辑状态进行测量，如用逻辑分析仪等设备测量计数器的状态。 3.4 随机测量：随机测量又叫做统计 测量，主要是对各类噪声信号进行动态测量和统计分析。这是一项新的测量技术，尤其在通信领域有着广泛应用。tips:感谢大家的阅读，本文由我司收集整编。仅供参阅！
光学测量应用举例
1、激光三角法测距。 利用激光良好的方向性，以及几何光学成像的比例特性，将一束激光照射到物体上，在与激光光束成一定角度的位置用光学成像系统检测照射到物体的光斑，这样镜头-光斑、镜头平面到激光光束的连线、光斑到镜头平面与激光光束交点构成一三角形，而镜头-光斑的像、镜头平面以及过光斑的像的激光光束平行线与镜头平面的交点成一个与前面所描述的三角形相似的三角形。用光电传感器阵列检测到光斑的像的位置，则可以根据三角形性质计算出光斑位置。这种测量方法适合距离较短的情况。 目前的激光三坐标测量机（抄数机）一般都采用激光三角法测距。 2、光速法测距。 利用光速不变原理，检测激光发射与反射光反射回来的时间差，从而计算出距离。为了提高精度，可以将激光调制上一个低频信号，利用测量反射光的相位差来测得反射时间差。这种方法一般用于远距离测量。 目前各种激光测距仪一般用这种方法测量。 3、激光干涉法测距。 这是一种相对测量，它无法测得一个物体离仪器的绝对距离，但可以测得两被测物体的相对距离。它的原理是一台迈克尔逊干涉仪，利用反射镜距离变化时干涉条纹的变化来测量，反射镜从物体A运动到物体B，干涉条纹变化的数量反映了其距离。这种测量要求条件较高，但是可以精确测量，它也是目前所有测量手段中最精确的一种。 4、光学图象识别技术测量位移。 其所用原理与三角法相似，但是可以不用激光，而是直接对移动物体拍照，利用前后两幅图片中物体在图片中的位移来计算物体真实的位移。、 这种技术在光电鼠标中大量使用。 5、光栅测量位移。 利用光栅形成的莫尔条纹，计算莫尔条纹变化量即可计算出位移量。 这是目前应用最多的技术，光栅尺大量应用于工业上的行程测量。 6、激光衍射法测量细丝、小孔直径和狭缝宽度。 测量衍射斑的大小就可以计算出孔或缝的尺寸。
光学薄膜现代分析测试方法
一、金相实验室 ? Leica DM/RM 光学显微镜 主要特性：用于金相显微分析，可直观检测金属材料的微观组织，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成，从而判断材质优劣。须进行样品制备工作，最大放大倍数约1400倍。 ? Leica 体视显微镜 主要特性：1、用于观察材料的表面低倍形貌，初步判断材质缺陷； 2、观察断口的宏观断裂形貌，初步判断裂纹起源。 ?热振光模拟显微镜 ?图象分析仪 ?莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码照相装置 二、电子显微镜实验室 ?扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200，JOEL JSM820，JEOL JSM6335) 主要特性： 1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析，如解理断裂、疲劳断裂（疲劳辉纹）、晶间断裂（氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等）、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。 2、附带能谱，用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析，测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。 3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率：10X—300,000X；样品尺寸：0.1mm—10cm；分辩率:1—50nm。 ?透射电子显微镜（菲利蒲 CM-20,CM-200） 主要特性： 1、需进行试样制备为金属薄膜，试样厚度须<200nm。用于薄膜表面科学分析，带能谱，可进行化学成分分析。 2、有三种衍射花样：斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。 三、X射线衍射实验室 ? XRD-Siemens500—X射线衍射仪 主要特性： 1、专用于测定粉末样品的晶体结构（如密排六方，体心立方，面心立方等），晶型，点阵类型，晶面指数，衍射角，布拉格位移矢量，已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。 2、可升温（加热）使用。 ? XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪 主要特性： 1、分辨率衍射仪，主要用于材料科学的研究工作，如半导体材料等，其重现性精度达万分之一度。 2、具备物相分析（定性、定量、物相晶粒度测定；点阵参数测定），残余应力及织构的测定；薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定；非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。 3、用于快速定性定量测定各类材料（包括金属、陶瓷、半导体材料）的化学成分组成及元素含量。如：Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等，精确度为0.1%。 4、同时可观察样品的显微形貌，进行显微选区成分分析。
现代电子测量的认识
现代电子测量的认识 时光如流水一般划过指甲，不留一丝痕迹。很快这学期就过去了。通过这学期的学习对现代电子测量有了更深刻的认识！ 第三次科技革命以来至今，科学技术的发展日新月异，以信息技术为代表的新技术促进了电子行业的飞速增长，也极大地推动了测试测量仪器和设备的快速发展。科学技术的不断发展对电子测量技术提出越来越高的要求，同样地电子测量技术是推动科学技术进步的重大力量。而电子测量技术凭借其诸多优势成为现代测量技术的主角，在信息获取与工业控制方面发挥着不可替代的作用。近年来的发展是基于大规模集成电路发展的重要时期，它同时也带来了电子测量仪器技术的革命。由于大规模集成电路的大量应用，使得现代电子测量仪器体积更小、功能更全面、可靠性更高、功耗更低。新工艺、新材料、新的制造技术催生了新的一代电子元器件，同时也促使电子测量技术和电子测量仪器产生了新概念和新发展趋势。 人类社会从远古时代发展到物质文明和精神文明都高度发达的今天，没有测量技术的作用是不可想象的。电子测量除具体运用电子科学的原理、方法和设备对各种电量、电信号及电路元器件的特性和参数进行测量外，还可以通过各种敏感器件和传感装置对非电量进行测量，这种测量方法往往更加方便、快捷、准确，有时是用其他测量方法不可替代的。因此，电子测量不仅用于电学这专业，也广泛用于物理学，化学，机械学，材料学，生物学，医学等科学领域。近几十年来计算机技术和微电子技术的迅猛发展为电子测量和测量仪器增添了巨大活力。电子计算机尤其是尤其是微型计算机与电子测量仪器相结合，构成了一代崭新的仪器和测试系统，即人们通常所说的“智能仪器”和“自动测试系统”，它们能够对若干电参数进行自动测量，自动量程选择，数据记录和处理，数据传输，误差修正，自检自校，故障诊断及在线测试等，不仅改变了若干传统测量的概念，更对整个电子技术和其他科学技术产生了巨大的推动作用。现在，电子测量技术已成为电子科学领域重要且发展迅速的分支学科。 一．电子测量的特点 频率范围宽。除测量直流电量外，还可以测量交流电量，其频率范围低至10-4Hz，高至THz。电子测量设备能够工作在这样宽的频率范围，这就使它的应用范围大大扩展。如果利用各种传感器，则几乎可以测量全部的电磁频谱物理量。当然对于不同频段的测量需采用不同的测量方法与测量仪器。 量程很广。量程是仪器测量范围上限值与下限值之差。由于所测量的大小相差极大，因而要求测量仪器的量程也必须极宽。同一台电子仪器，往往要求最高量程与最低量程要相差几个甚至几十个数量级，量程范围广正是电子测量的突出优点。 测量准确度高。电子仪器的准确度通常可比其它测量仪器高很多，例如，长度测量的准确度最高为10-8，而用电子测量方法对频率和时间进行测量，由于原子频标和原子秒作为基准，可以使测量准确度达到10-15的量级，这是目前人类在测量准确度方面达到的最高指标。 二．测量速度快。电子测量由于是通过电子的运动和电磁波的传播来进行工作的，因此具有通过其它测量方法通常无法类比的高速度。在有些测量中，希望在相同条件下对同一量进行多次测量，再用求平均值的方法以减小误差。 易于实现遥测和长期不间断的测量。电子测量同电子计算机相结合，使测量仪器智能化，并在自动化系统中占据重要的地位。可以把电子仪器或与它连接的传感器放到人类不便长期停留或无法到达的区域去进行遥测，而且可在被测对象正常工作的情况下进行测量。对于测量结果，电子测量的显示方法也比较清晰、直观。
光学测量技术详解
光学测量技术详解(图文) 光学测量是生产制造过程中质量控制环节上重要的一步。它包括通过操作者的观察进行的快速、主观性的检测，也包括通过测量仪器进行的自动定量检测。光学测量既可以在线下进行，即将工件从生产线上取下送到检测台进行测量；还可以在线进行，即工件无须离开产线；此外，工件还可以在生产线旁接受检测，完成后可以迅速返回生产线。 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器；它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。当物体靠近眼球时，物体的尺寸感觉上会增加，这是因为图像在视网膜上覆盖的“光感器”数量增加了。在某一个位置，图像达到最大，此时再将物体移近时，图像就会失焦而变得模糊。这个距离通常为10英寸（250毫米）。在这个位置上，图像分辨率大约为0.004英寸（100微米）。举例来说，当你看两根头发时，只有靠得很近时才能发现它们之间是有空隙的。如果想进一步分辨更加清楚的细节的话，则需要进行额外的放大处理。 本部分设定了隐藏，您已回复过了，以下是隐藏的内容 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器；它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。本图显示了人眼成 像的原理图。 人眼之外的测量系统 光学测量是对肉眼直接观察获得的简单视觉检测的强化处理，因为通过光学透镜来改进或放大物体的图像，可以对物体的某些特征或属性做出准确的评估。大多数的光学测量都是定性的，也就是说操作者对放大的图像做出主观性的判断。光学测量也可以是定量的，这时图像通过成像仪器生成，所获取的图像数据再用于分析。在这种情况下，光学检测其实是一种测量技术，因为它提供了量化的图像测量方式。 无任何仪器辅助的肉眼测量通常称为视觉检测。当采用光学镜头或镜头系统时，视觉检测就变成了光学测量。光学测量系统和技术有许多不同的种类，但是基本原理和结构大致相同。
测量投影仪使用原理与结构介绍
数字式测量投影仪又名光学投影仪、轮廓投影仪，是一种光、机、电、计算器一体化的精密高效光学测量仪器，适用于精密工 业二维尺寸测量。本仪器能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状，如样板、冲压件、凸轮、螺纹、齿轮、成形锉刀、丝攻等各种刀具、工具和零件等，被广泛地应用于机械、仪表、电子、轻工业等行业，院校、研究所以及计量部门的计量室、试验 室和生产车间。 测量投影仪分类： 测量投影仪品类繁多，商业名称和俗称五花八门，按成像分为成像区分：正像和反像；反像是利用投影仪光学成像原理，工件 与图像成反向；正像是通过对投影仪的认知对其加一个棱镜将其成像改为正像,工件与图像同步。常用的为反像，为方便测量，有 时特意加上正像系统把反像变成正像，但这无疑会增加成本而且测量精度也会随之有所降低。因此，若无绝对必需，选择反像是正 确的选择。 就投影方式而言测量投影仪只有两类：即立式测量投影仪、卧式测量投影仪两种。 立式测量投影仪卧式测量投影仪
测量投影仪使用原理： 被测工件置于工作台上，在透射或反射照明下，它由物镜成放大实像（倒像）并经 2 个反光镜反射于投影屏的磨沙面上。当反 光镜换成正像系统后，即成为正像，一个与工作完全同向的影像，观察很直观，给使用者带来极大的方便。 a. 立式测量投影仪：这类投影仪的主光轴平行于影屏平面，多数投影仪均属此类，它们最适合测量平面型零件或体积较小的工件。 立式轮廓投影仪仪器工作原理如下图 1 所示，被测工件Y 置于工作台上，在透射或反射光照明下，它由物镜0 成放大实像Y’并经反射镜M反射于投影屏P 的磨砂面上。 P Y' M M 2 S 2 S Y 1 K 1 S 1 C 图1 在投影屏上可用标准玻璃工作尺对Y’进行测量，也可以用预先绘制好的标准放大图对它进行比较测量，测得数值除以物镜 的放大倍数即工件的测量尺寸。还可以利用工作台上的数字测量系统对工件Y 进行坐标测量：也可以利用投影屏旋转角度数数显系 统对工件的角度进行测量。 图中S1 为透射照明光源，2-S2 为用于反射照明的二支光导纤维（VP系列立式投影仪为 3.2V/10W 透射LDE灯照片组），K1为透射聚光镜，C1 为球面反射镜。视工件的性质，两种照明可分别使用，也可以同时使用。 b. 卧式测量投影仪：这类投影仪的主光轴垂直于投影屏平面，中型和大型投影仪多属此类，它们最适合测量轴类零件或体积较大的 重型工件。 仪器工作原理如下图 2 所示，被测工件Y 置于工作台上，在透射或反射光照明下，它由物镜0 成放大实像Y’并经反射镜M反射于投影屏P 的磨砂面上。 P Y' M S2 M C1 S1 K1 Y 0
电子测量部分习题答案
3.3 已知可变频率振荡器频率f 1＝2.4996~ 4.5000MHz ，固定频率振荡器频率f 2=2.5MHz ，若以f 1和f 2构成一差频式信号发生器，试求其频率覆盖系数，若直接以f 1构成一信号发生器，其频率覆盖系数又为多少？ 解：因为差频式信号发生器f 0= f 1－f 2 所以输出频率范围为：400Hz ～2.0000MHz 频率覆盖系数301055000Hz 400MHz 0000.2?= ＝＝k 如果直接以f 1构成一信号发生器，则其频率覆盖系数 8.1.4996MHz 2MHz 5000.40 ≈='k 3.4 简述高频信号发生器主要组成结构，并说明各组成部分的作用？ 答：高频信号发生器主要组成结构图如下图所示： （1）主振级 产生具有一定工作频率范围的正弦信号，是信号发生器的核心。 （2）缓冲级 主要起阻抗变换作用，用来隔离调制级对主振级可能产生的不良影响，以保证主振级工作的稳定。 （3）调制级 主要进行幅度调制和放大后输出，并保证一定的输出电平调节和输出阻抗。 （4）输出级 进一步控制输出电压的幅度，使最小输出电压达到μV 数量级。 3.5 要求某高频信号发生器的输出频率f ＝8~60MHz ，已知其可变电容器的电容C 的变化范围为50pF~200pF ，请问该如何进行波段划分，且每个波段对应的电感应为多大？ 解：250 200 2121 min max max min min max == = C C LC LC f f k ＝＝ππ 而5.7Hz 80MHz 6＝= ∑k ，n k k =∑ 高频信号发生器原理框图 输出
443.3255 .0875 .08.1lg 5.7lg 9.0lg lg ≈==== ∑k k n 由MHz 8pF 2002121max min == L LC f ππ＝ ，所以H 979.10μ=L 相邻波段的电感值满足： 21 k L L n n =-，所以可以计算得出 H 495.01μ=L H 124.02μ=L H 031.01μ=L 3.8 简述各种类型的信号发生器的主振器的组成，并比较各自特点。 答：（1）低频信号发生器的主振器组成为：RC 文氏桥式振荡器，其特点是频率稳定，易于调节，并且波形失真小和易于稳幅。 （2）高频信号发生器的主振器组成为：LC 三点式振荡电路，主振级的电路结构简单，输出功率不大，一般在几到几十毫瓦的范围内。 （3）脉冲信号发生器的主振器组成为：可采用自激多谐振荡器、晶体振荡器或锁相振荡器产生矩形波，也可将正弦振荡信号放大、限幅后输出，作为下级的触发信号。对主振级输出波形的前、后沿等参数要求不很高，但要求波形的一致性要好，并具有足够的幅度。 3.9 XFG-7高频信号发生器的频率范围为f=100kHz~30MHz ，试问应划分几个波段？（为答案一致，设k=2.4） 解：而30000KHz 10MHz 3＝= ∑k ，n k k =∑ 84.7334 .0477 .24.29.0lg 300lg 9.0lg lg ≈==?== ∑k k n 3.10 简述合成信号源的的各种频率合成方法及其优缺点。 答：合成信号源的的各种频率合成方法主要有模拟直接合成法，数字直接合成法和锁相环频率合成法。 模拟直接合成法特点：虽然转换速度快（μs 量级），但是由于电路复杂，难以集成化，因此其发展受到一定限制。 数字直接合成法：基于大规模集成电路和计算机技术，尤其适用于函数波形和任意波形的信号源，将进一步得到发展。但目前有关芯片的速度还跟不上高频信号的需要，利用DDS 专用芯片仅能产生100MHz 量级正弦波，其相位累加器可达32位，在基准时钟为100MHz 时输出频率分辨力可达0.023Hz ，可贵的是这一优良性能在其它合成方法中是难以达到的。锁相环频率合成法：虽然转换速度慢（ms 量级），但其输出信号频率可达超高频频段甚至微波、输出信号频谱纯度高、输出信号的频率分辨力取决于分频系数N ，尤其在采用小数分频技术以后，频率分辨力大力提高。