静电放电测试报告
Official Test Report正式的测试报告
测试项目：静电放电测试
Conclusion结论:
Pass通过Fail 不通过
Other其它: 测量PIN耐受电击的极限值，作为设计参考，具体请阅报告正文
Performed by测试: 樊佳伦&黄俊伟Signature Date: 2015-12-22 Written by撰写: 邓文签名：日期：2015-12-23 Checked by核查: 董安庆2015-12-24 Approved by批准: 穆剑权2015-12-25
Revision History修订履历
Contents目录
Contents目录 (3)
1 Purpose目的 (4)
2 References 参考文件 (4)
3 Glossary术语 (4)
4 Sample Information 样品信息 (4)
4.1 General Information 基本信息 (4)
4.2 Hardware &Software Information 软硬件信息 (4)
5 Equipment & Device Information设备信息 (5)
6 Approach测试方法和步骤 (5)
7 Pass/ Fail Criteria 通过标准 (6)
8 Results 分析与结果 (6)
9 Conclusion 结论 (7)
ESD Test Report 1 Purpose目的
验证该BMS的抗静电干扰的性能指标是否在产品规范内。
2 References 参考文件
Specification 产品规格书:
Standard 执行标准: ISO10605
3 Glossary术语
4 Sample Information 样品信息
4.1 General Information 基本信息
4.2 Hardware &Software Information 软硬件信息
软件版本：V1.2
硬件版本：V1.2
5 Equipment & Device Information设备信息
6 Approach测试方法和步骤
次，持续60S
1.使用静电枪圆头；
2.针对表面导电层，采用+8KV，-8KV，+10KV，-10KV，+15KV，-15KV；
3.在2#步骤中，每打次静电后需要给BMS上电查看其基本的监控能力
是否正常（上位机界面截图）；
4.针对BMS外壳的螺钉（各个面取一个中心点），采用+8KV，-8KV，
+10KV，-10KV，+15KV，-15KV；
5.在4#步骤中，每打次静电后需要给BMS上电查看其基本的监控能力
是否正常（上位机界面截图）；
6.针对PIN脚（每个接口各取2个点），采用+4KV，-4KV，+6KV，-6KV，
+8KV，-8KV；
7.在6#步骤中，每打次静电后需要给BMS上电查看其基本的监控能力
是否正常（上位机界面截图）；
收尾：每次放电结束，用导线对被试设备进行泄电
7 Pass/ Fail Criteria 通过标准
如章节6
8 Results 分析与结果
1）ESD极限测试不通过的情况如下：
对保护板Pin脚，控制口端，-8KV 接触放电，测试结束，BMS上电，发现启动不了，分析电路，元器件被电击损坏
测试场景如下图：
2）其他检测点经过静电放电测试后，BMS恢复上电，其各采样和通信功能良好，测试布置如下：
9 Conclusion 结论
该BMS在软件版本V1.2和硬件版本V1.2的阶段，其静电放电抗扰性能指标合格。
ESD静电产品检测规范
1.目的: 1.1编拟本静电防护外围环境设施检测办法是要以一有系统之管制方式,以求 达到本厂静电防护设备之完善管理检测系统. 1.2避免经过长时间使用,防护设备或材料由于自然或人为之破坏以致丧失其 ESD作用. 2.范围: 适用于XX电子有限公司,保护ESD敏感性电子组件及产品所使用的所有相关材料. 3.权责: 3.1工程部:负责制订静电防护外围设施材料检测规范. 3.2各相关部门:依循静电防护外围设施材料检测办法实施,及相关资料归档. 4.参考文件: 4.1 ANSI/EIA-625 4.2 ANSI/ESD S20.20-1999 5.定义及相关朮语: 5.1 ESD(Electrostatic Discharge):静电放电 5.2 EOS(Electrical Over Stress):电压过应力 5.3CGP(Common Ground Point)共同接地点 5.4 EPA(ESD Protected Area)静电防护区 6 流程图:
6.1 无. 7 内容 7.1.导电地板测试 Floor Materials test spec: Resistance to Ground point : 104Ω~ 106Ω Resistance top to top :104Ω~ 106Ω 测试仪器:数显式双锤表面阻抗测试器(测试电压:10V) 7.1.1测试方法 7.1.1.1将表面阻抗测试仪拨至10伏檔位. 7.1.1.2用潮湿的抹布将地面和双锤擦拭干凈. 7.1.1.3连接表面阻抗测试仪,分别将双锤放在地板上或一端放在地板上 另一端接接地测试点.(注意两测试点的距离不可超过90cm) 7.1.1.4按住测试键(约3秒)后,读取仪器上所显示的数值. 7.1.2作业规范 7.1.2.1平均每1000平方英尺必须有壹个测试点. 7.1.2.2地板检测及清洗周期为每30天1次. 7.1.2.3地板清洗时需先用洗地机将地板澈底洗干净,再进行打腊将地板
静电放电测试规范
静电放电测试规范1.测试目的：为使静电干扰耐受性测试时,能有一统一之规范及流程可供依 循,特订定本程序书,本试验的目的是仿真静电对电子产品所造成的干扰,并判别其耐受性。 2.适用范围：执行静电干扰耐受性测试时,适用之。 3.名词定义： 3.1ESD：electrostatic discharge(静电放电),当两个不同电位的物体, 直接接触或非常靠近时所产生的电荷放电现象。 3.2RGP：一个平坦之导电表面并以其电位作为共同的基准。 3.3Contact discharge：接触放电,直接的静电放电试验方法的一种,由产 生器的电极尖端直接接触EUT,并以产生器之放电开关实施静电放电。 3.4Air discharge：空间放电, 直接的静电放电试验方法的一种,由产生 器的圆形充电电极快速接近EUT,而产生火花的静电放电。 3.5EUT：待测设备。 3.6Degradation：劣化为EUT受电磁干扰所造成的产品功能障碍。 3.7HCP：水平耦合面,用以模凝邻近EUT的物体对EUT的静电放 电所使用的水平金属面板。 3.8VCP：垂直耦合面,用以模凝邻近EUT的物体对EUT的静电放电所使用 的垂直金属面板。 4.职责： 测试服务，案件执行。 场地维护。
提供相关信息于测试服务上。 5.办法： 试验等级：试验等级如下 X：此等级依厂商需求而定 接触放电为优先采用的测试方法，空气放电必须是接触放电不能使用时才使用。依不同的放电测试方法而有不同的电压，其严酷度是不相同的。 ESD产生器之特性 - Rc充电电阻：50 MΩ~100MΩ. - Cs 储能电容：150pF±10%。 -Rd 放电电阻：330Ω±10%。 -输出电压极性:正与负。 -输出电压指示值之容许误差值：±5%。 -具有圆形放电电极及尖形放电电极。 -放电回路电缆,长2m。 -具有接触放电开关及空间放电开关。 -可调整之放电操作模式如单击放电极及每秒20次之重复放电。
静电放电抗扰度试验 IEC T 标准总结及重点分析
静电放电抗扰度试验|IEC61000－4－2|GB/T17626.2标准总结及重点分析 1.1静电放电的起因： 静电放电的起因有多种，但GB/T17626.2-2006主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使人体积累了电荷。当带有电荷的人与设备接触时，就可能产生静电放电。 1.2试验目的： 试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟： （1）操作人员或物体在接触设备时的放电。 （2）人或物体对邻近物体的放电。 静电放电可能产生的如下后果： （1）直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。 （2）放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作。 1.3放电方式： 直接放电（直接对设备的放电）：接触放电为首选形式；只有在不能用接触放电的地方（如表面涂有绝缘层，计算机键盘缝隙等情况）才改用气隙放电。 间接放电：水平耦合，垂直耦合 1.4静电放电发生器原理图及波形参数： 注：图中省略的C d是存在于发生器与受试设备，接地参考平面以及偶合板之间的分布电容，由于此电容分布在整个发生器上，因此，在该回路中不可能标明。
静电放电发生器简图 波形参数 等级指示电压 /kV 放电的第一个峰 值电流/A(±10 ﹪) 放电开关操作时 的上升时间t r/ns 在30ns时的电 流/A(±30﹪) 在60ns时的 电流/A(±30 ﹪) 127.50.7～142 24150.7～184 3622.50.7～1126 48300.7～1168 1.5试验的严酷度等级： 1a接触放电1b空气放电 等级试验电压/kV等级试验电压/kV 1 2 3 4 X1） 2 4 6 8 特殊 1 2 3 4 X1） 2 4 8 15 特殊 1）“X”是开放等级，该等级必须在专用设备的规范中加以规定，如果规定了高于表格中的电压，则可能需要专用的试验设备。
电子产品的静电放电测试及相关要求
电子产品的静电放电测试及相关要求 （时间:2007-1-23 共有 901 人次浏览）[信息来源:互联网] 从第一节的叙述中我们了解ESD对电子产品的危害，随着电子产品的复杂 程度和自动化程度越来越高，电子产品的ESD敏感度也越高，电子产品抵御ESD 干扰的能力已经成为电子产品质量好坏的一个重要因素。那么如何来衡量电子产品抗ESD干扰的能力？通过ESD抗扰度试验可以检测这种能力。为此越来越多的产品标准将ESD抗扰度试验作为推荐或强制性内容纳入其中。电子设备的ESD抗扰度试验也作为电子设备电磁兼容性测试一项重要内容列入国家标准和国际标准。 对不同使用环境、不同用途、不同ESD敏感度的电子产品标准对ESD抗扰度试验的要求是不同的，但这些标准关于ESD抗扰度试验大多都直接或间接引用 GB/T17626.2-1998 （idt IEC 61000-4-2:1995）：《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》这一国家电磁兼容基础标准，并按其中的试验方法进行试验。下面就简要介绍一下该标准的内容、试验方法及相关要求。 1.试验对象： 该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、子系统和外部设备。 2.试验内容： ESD的起因有多种，但该标准主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使操作者积累了静电。电子和电气设备遭受直接来自操作者的ESD和对临近物体的ESD的抗扰度要求和试验方法。对电子产品而言，因操作者的ESD造成受设备干扰或损坏的几率相对其他ESD起因大得多。并且若电子产品能提高针对因操作者的ESD抗扰性，则针对因其他因素的ESD抗扰性也会有相应的提高。 3.试验目的： 试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟：（1）操作人员或物体在接触设备时的放电。（2）人或物体对邻近物体的放电。 4. ESD的模拟： 图1和图2分别给出了ESD发生器的基本线路和放电电流的波形。
4.静电放电测试报告
Official Test Report正式的测试报告 测试项目：静电放电测试 Project Information项目信息: Project Code: 项目代码 072V24S Project Phase: 项目阶段 研发 Software Version: 软件版本 V1.2 Sample Information样品信息: Sample Level: 样品类型 BMS Quantity: 数量 1 Serial Number: 序列号 020151125 Test Operation Information测试信息: Location: 地点上海博强 Start Date: 开始日期 2015-12-20 Finish Date: 完成日期 2015-12-21 Conclusion结论: Pass通过Fail 不通过 Other其它:测量PIN耐受电击的极限值，作为设计参考，具体请阅报告正文 Performed by测试: 樊佳伦&黄俊伟Signature Date: 2015-12-22 Written by撰写: 邓文签名：日期：2015-12-23 Checked by核查: 董安庆2015-12-24 Approved by批准: 穆剑权2015-12-25
Revision History修订履历 SN 序号Report No. 报告编号 Report Version 报告版本 Contents 变更内容 Release Date 发行日期 1 BQ-72V-BMS-0004 V1.0 New release. 2015-12-25 2
ESD防护原理及措施总结_V1.0_2018
ESD防护原理及措施总结
— 此总结主要针对传音近期项目在ESD不良方面的问题
进行的硬件设计总结，为后续硬件设计前期静电考量 和后续ESD改善提供参考。提升防静电能力，提高生 产效率，以期从设计前端提升品牌机的质量来满足客 户日益提高的品质要求。
一、静电问题
— — — — — —
1.静电产生机理简介 2.ESD标准及常见不良现象 3.常见ESD Fail的结构位置 4.常见ESD 控制的基本原则 5.ESD主要防止措施 6.部分案例分析
1.1.静电产生机理简介 ★任何物质都是由原子组合而成，而原子的基本结构为质子、中子及电子。科学家们将质子定 义为正电，中子不带电，电子带负电。在正常状况下，一个原子的质子数与电子数量相同，正 负电平衡，所以对外表现出不带电的现象。但是由于外界作用如摩擦或以各种能量如动能、位 能、热能、化学能等的形式作用会使原子的正负电不平衡，任何两个不同材质的物体接触后再 分离，即可产生静电。 ★静电放电(Electrostatic Discharge)是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的 电荷转移。ESD是一种常见的近场危害源，可形成高电压，强电场，瞬时大电流，并伴有强电 磁辐射，形成静电放电电磁脉冲。电流 >1A上升时间0～15ns，衰减时间0～150ns ★静电的产生在电子工业生产中是不可避免的，其造成的危害主要可归结为以下两种机理： 其一：静电放电（ESD）造成的危害： （1）引起电子设备的故障或误动作，造成电磁干扰。 （2）击穿集成电路和精密的电子元件，或者促使元件老化，降低生产成品率。 （3）高压静电放电造成电击，危及人身安全。 （4）在多易燃易爆品或粉尘、油雾的生产场所极易引起爆炸和火灾。 **其二，静电引力（ESA）造成的危害(不作介绍)： （1）电子工业：吸附灰尘，造成集成电路和半导体元件的污染，大大降低成品率。 （2）胶片和塑料工业：使胶片或薄膜收卷不齐；胶片、CD塑盘沾染灰尘，影响品质。 （3）造纸印刷工业：纸张收卷不齐，套印不准，吸污严重，甚至纸张黏结，影响生产。 （4）纺织工业：造成根丝飘动、缠花断头、纱线纠结等危害
静电放电测试规范
静电放电测试规范 1.测试目的：为使静电干扰耐受性测试时,能有一统一之规范及流程可供依循,特订定本程 序书,本试验的目的是仿真静电对电子产品所造成的干扰,并判别其耐受性。 2.适用范围：执行静电干扰耐受性测试时,适用之。 3. 4. 4.2 场地维护。 4.3 提供相关信息于测试服务上。
5.办法： 5.1 试验等级：试验等级如下
5.3 实验室之测试场地配置：实验室之地面应有一铜或铝制的金属GRP,其厚度至少0.25mm。 如果使用别种金属材料，其厚度至少应有0.65mm。GRP尺寸至少1m×1m，依EUT大小而定。其每一面应超出EUT或HCP、VCP至少0.5m并连接至接地系统。EUT依使用状态架设及连接。EUT与实验室墙面及其他金属结构的距离至少1m。EUT除了所规定接地系统外，不可再有其他之接地。ESD产生器的放电回路电缆长度为2m，需连接至GRP，测试时放电回路电缆距离其他导电部分至少0.2m。HCP、VCP之材质与厚度应与GRP相同且使用两端接有470KΩ之接地线连接至GRP。其他规定如下： 5.3.1 EUT为桌上型设备之场地配置：使用高0.8m之木桌立于RGP作测试，并使用一长1.6m ×宽0.8m之HCP置于桌面，EUT及电缆以0.5mm绝缘垫与HCP隔离。EUT距离HCP各边至少0.1m。若EUT过大可使用相同之HCP以较短边相距0.3m连接，可用较大尺寸之桌面或两组桌子，此两组HCP不可搭在一起，并由两端各接470KΩ电阻之接地线个别接至RGP。如下图所示。
5.3.2 EUT属于没有接地系统之设备的测试方法：EUT 是属于设备或设备的一部份、其装设 规格或设计是不可连接至任何接地系统设备、包括可携式、电池操作双重绝缘设备 (class II equipment)。其一般性配置与5.3.1相同，但为了模凝单一静电放电，在每次放电前必须将EUT的电荷消去，EUT的金属部分，例如连接器的外壳、电池充电点、金属天线等，在实施放电前必须将电荷消除。因此需使用具有470KΩ的泄放电阻器之电缆，类似HCP、VCP所用之接地电缆。其中一颗电阻需尽量靠近EUT的测试点，最好小于20mm的距离连接，第二颗电阻需连接在电缆靠近HCP的末端(桌上型)或RGP 的末端(落地型)。使用具有泄放电阻器之电缆，会影响某些EUT的测试结果。有争议时，在测试中如果电荷在连续放电之间有足够的衰减，则优先考虑以电缆不连接的状况作测试。可以使用下列的替换方法： -在连续放电间的时间间隔，必须延长到容许从待测物的电荷自然衰减所需的时间。 -在接地电缆中有碳纤维刷的泄放电阻器(例如2×470KΩ)。 -使用空气离子器以加速待测物在其环境的自然放电过程(使用空气放电作测试时，空气离子器必须关闭)。
ESD测试操作规程
静电放电（ESD）测试指引 一、目的 规范手机静电测试方法，达到测试的准确性和可靠性 二、测试仪器设备 静电放电测试仪、静电试验台、垂直耦合板、水平耦合板、静电枪 三、测试样机的状态 静电测试前，首先检查测试样机的按键，LCD显示，背光灯、通话等各项功能都正常，保证样机是良品。 四、测试条件 测试环境：温度：15℃～35℃，湿度：30%RH～60%RH 五、测试等级 空气放电：+2KV、+4KV、+6KV、+8KV、+10KV（开发阶段：±10KV；量产阶段：±8KV）接触放电：+2KV、+4KV、+6KV（开发阶段：±6KV；量产阶段±4KV） 垂直耦合放电：+2KV、+4KV、+6KV、+8KV、+10KV 水平耦合放电：+2KV、+4KV、+6KV、+8KV、+10KV 六、测试注意事项 1、在进行放电操作时不要将枪头接触到人体，以免对人体产生危险（注意：高压危险）。 2、在信息收集时要详细，描述要清晰。 3、空气放电时不允许放电头接触到机壳本身（必须距离机壳5-10mm）。 4、翻盖机在测试时必须打开翻盖，然后再进行测试，滑盖机在测试时必须滑开方可进 行全方位测试。 5、每次静电测试后，用接地线对枪头放电的部位放电。然后检查放电部位的功能是否 正常，再继续放电。
七、静电放电（ESD）测试流程 八、测试判定标准 样机出现功能暂时性（失效时间大于3秒）或永久性失效（故障不恢复）判为不合格。 出现屏闪或3秒内可自行恢复之故障判为合格。样机出现严重外观不良(如镜片及装饰件严重掉漆)，应判定为不合格。试验样品无功能降级故障（如通话质量下降，MP3音质降低，摄相图片画面降级），存储的信息不可丢失。 九、记录 放电后进行功能测试，将测试中与到的异常情况详细清楚的记录。
EMC静电放电测试基本常识
EMC静电放电测试基本常识 EMC静电放电测试基本常识 生活中，很多原因下都会产生静电，例如薄膜和卷筒之问的摩擦，胶带的分离，物体破损，或者带电的粒子。静电会在各种情景，各种生产设备的各种流程中产生，而主要产生的原因就是重复的摩擦和分离。当电荷累积到一定程度，物体问就会存在电势差，接触或者相互靠近过程会产生电荷瞬间移动，就会形成静电放电。静电放电经常会影响我们日常所用的电子产品的正常工作，甚至造成静电故障。主要是静电放电的过程是电荷移动的现象，既然有电荷的移动就有可能影响到电子产品的元器件的正常工作，特别是现代基本都是半导体工艺元器件。严重时还可能会造成元器件的损坏，静电故障就是山静电造成电子元件(例如1C集成电路))损坏的一种现象。当1C中发生静电故障时，山于静电释放，高压电流瞬问穿过1C 内部，破坏了高绝缘性二氧化硅(绝缘层)并损坏内部电路。所以在设计、生产电子产品的时候就应该考虑静电放电的影响。 为了模仿电子产品在现实环境中可能遭受的静电放电影响，国际标准委员会制订了相关的标准规范，斤民多国家或者地区都会自接采用这些标准作为本国或本地区的标准规范。特别是欧洲，凡是进入欧盟市场的电子电器产品必须符介EM(指令((2004/108/EC)要求，静电放电是EM(试验之一。 2国际标准的静电放电测试要求 在国际标准委员会制订的电磁兼容标准中，包括有基础标准和产品标准。其中静电放电测试标准是基础标准之一，有时候也叫测试技术标准。静电放电测试标准1EC61000-4-2讲述了测试原理、等级、方法等几个方而的内容。1EC61000-4-2定义了四个标准测试等级和一个开放等级。放电测试发生器的电路结构、参数见表2及放电波形所示。然后是介绍了静电放电测试布置和测试方法，1EC61000-4-2使用了两种小同的测试方法:一种是接触放电。intactdischarge，是自接对EUT放电这是首选的测试方法，如果接触放电小能被施加到EUT，接触放电还有问接接触放电即对水平祸介板HCP和垂自祸介板VCP放电测试模式，另外一种方法空气放电Airdischarge可以使用，其实一般产品标准要求的抗扰度静电放电测试都要求两种方法进行测试。 C级判定((CriterionC):指产品功能在测试前可正常被操作，但测试过程中受ESD放电影响，出现功能降低或异常，且功能无法自动回复，必须经山操作人员做重置(Re-set)或重开相L 的动做才能回复功能，这情形则仅符介C级判定结果。 D级判定((Criterion功:指产品功能在测试前可正常被操作，但测试过程中出现异常，虽经山操作人员做重置(Re-set)或重开机也小能回复功能，这种情况大概产品已损伤严重，仅符介D级判定结果。(这属小介格)。 依lEC61000-4-2法规建议，产品采购验证必须符介A级或B级的判定才能接受，C级和D级判定是小介格的。 常见欧洲标准中产品标准抗扰度要求，如家电类EN55014-2，音视频类EN55020，信息技术类EN55024，灯具类EN61547等都有规定ESD的等级和测试要求。这几类产品的ESD 要求是:接触放电14kV，空气放电1 8kV。 我们知道1EC61000-4-2规定的都是对成品的产品所做的试验，也就是最终自接到用户乎上的产品。但是可能还有些疑惑，就是我们常见到有些静电放电的技术文档会讲到静电放电的几个模式HBM.MM.CDIVIo而小是接触放电和空气放电两种方式。其实两种静电放电的测试环境是小同的，Contactdischarge和Airdischarge对应的是测试最终产品的，是对系统级来做的测试。HBM.MM.CDM是在生产过程中静电放电模式，是对生产制造级的测试。HBM
静电测试报告
静电测试报告 一、实验准备工作 1.首先准备4块CCAM1W-DSE遥控器PCB样板，然后按要求把元器件焊好，并装好外壳，最后给四个遥控器编上序号。 2.用DSE接收盒对4个遥控器的发射波形进行测试。按遥控器任意一个按键，观察DSE接收盒的相对应的LED灯是否会亮，还要听蜂鸣器是否会叫。如果LED灯亮，蜂鸣器叫，那么遥控器符合要求。否则不符合。 3.分别用频谱仪，万用表测试4个遥控器的发射幅度和待机电流。 二、实验方法 首先把遥控器放在一个接地的金属板上，然后向遥控器4个按键和天线处发射静电，每一处发射5~10次静电（注意：静电发射端没有压到按键），观察遥控器是否产生不良现象，测试完成后测试遥控器是否正常，完成后用频谱仪检测遥控器是否有发射和DSE接收盒测试遥控器发射波形是否正常，并且用万用表测出待机电流。余下遥控器按同样方法依次测试。测试结果如表1： 遥控器编号静电电压实验结果备注 1 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 2 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 3 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 4 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 1 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 2 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 3 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 4 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 1 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 2 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 3 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 4 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 1 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 2 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 3 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 4 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 1 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 2 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 3 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 4 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 表1 三、实验分析 1.用频谱仪分别测试4个不正常遥控器是否有发射。结果发现有发射，并且幅度正常。 2.用DSE专用接收盒看遥控器发射波形是否符合要求。结果发现接收盒与遥控器按键相对
ESD学习报告
ESD学习报告
1.目的 熟悉ESD测试标准 2.内容 2.1 静电、静电释放的定义 2.2 静电的产生及特点 2.3 静电的损害形式及特点 2.4系统ESD标准及测试 2.5 测试结果分析 2.1 静电、静电释放的定义 静电（static electricity）：物体表面过剩或不足的静止的电荷。
静电释放（electrostatic discharge）：两个具有不同静电电位的物体，由于直接接触或静电场感应引起两物体间的静电电荷的转移。 2.2静电的产生及特点 2.2.1静电的产生 物质都是由分子组成，分子是由原子组成，原子中有带负电的电子和带正电荷的质子组成。在正常状况下，一个原子的质子数与电子数量相同，正负平衡，所以对外表现出不带电的现象。但是电子环绕于原子核周围，一经外力即脱离轨道，离开原来的原子儿而侵入其他的原子B，A原子因缺少电子数而带有正电现象，称为阳离子；B原子因增加电子数而呈带负电现象，称为阴离子。造成不平衡电子分布的原因即是电子受外力而脱离轨道，这个外力包含各种能量(如动能、位能、热能、化学能……等)在日常生活中，任何两个不同材质的物体接触后再分离，即可产生静电。 静电产生的方式有：接触摩擦、感应等。 “接触分离”起电：当两个不同的物体相互接触时就会使得一个物体失去一些电荷如电子转移到另一个物体使其带正电，而另一个体得到一些剩余电子的物体而带负电。若在分离的过程中电荷难以中和，电荷就会积累使物体带上静电。所以物体与其它物体接触后分离就会带上静电。通常在从一个物体上剥离一张塑料薄膜时就是一种典型的“接触分离”起电，在日常生活中脱衣服产生的静电也是“接触分离”起电。 感应起电：当带电物体接近不带电物体时会在不带电的导体的两端分别感应出负电和正电 2.2.2静电的特点： ·高电压 ·低电量 ·小电流 ·作用时间短的特点 2.3静电的损害形式及特点 2.3.1静电的损害形式 静电的基本物理特性为：吸引或排斥，与大地有电位差而产生放电电流。这三种特性能对电子元件影响如下： ·静电吸附灰尘，降低元件绝缘电阻(缩短寿命)。 ·静电放电破坏，使元件受损不能工作(完全破坏)。
静电放电测试规范
静电放电测试规范 WTD standardization office【WTD 5AB- WTDK 08- WTD 2C】
静电放电测试规范 1.测试目的：为使静电干扰耐受性测试时,能有一统一之规范及流程可供依循,特订定 本程序书,本试验的目的是仿真静电对电子产品所造成的干扰,并判别其耐受性。 2.适用范围：执行静电干扰耐受性测试时,适用之。 3.名词定义： 3.1ESD：electrostatic discharge(静电放电),当两个不同电位的物体,直接接触 或非常靠近时所产生的电荷放电现象。 3.2RGP：一个平坦之导电表面并以其电位作为共同的基准。 3.3Contact discharge：接触放电,直接的静电放电试验方法的一种,由产生器的 电极尖端直接接触EUT,并以产生器之放电开关实施静电放电。 3.4Air discharge：空间放电, 直接的静电放电试验方法的一种,由产生器的圆形 充电电极快速接近EUT,而产生火花的静电放电。 3.5EUT：待测设备。 3.6Degradation：劣化为EUT受电磁干扰所造成的产品功能障碍。 3.7HCP：水平耦合面,用以模凝邻近EUT的物体对EUT的静电放 电所使用的水平金属面板。 3.8VCP：垂直耦合面,用以模凝邻近EUT的物体对EUT的静电放电所使用的垂直金 属面板。 4.职责： 测试服务，案件执行。 场地维护。 提供相关信息于测试服务上。 5.办法： 试验等级：试验等级如下
接触放电为优先采用的测试方法，空气放电必须是接触放电不能使用时才使用。依不同的放电测试方法而有不同的电压，其严酷度是不相同的。 ESD产生器之特性 - Rc充电电阻：50 MΩ~100MΩ. - Cs 储能电容：150pF±10%。 -Rd 放电电阻：330Ω±10%。 -输出电压极性:正与负。 -输出电压指示值之容许误差值：±5%。 -具有圆形放电电极及尖形放电电极。 -放电回路电缆,长2m。 -具有接触放电开关及空间放电开关。 -可调整之放电操作模式如单击放电极及每秒20次之重复放电。 可符合EN61000-4-2之放电电流波形，如下图一所示。 实验室之测试场地配置：实验室之地面应有一铜或铝制的金属GRP,其厚度至少。如果使用别种金属材料，其厚度至少应有。GRP尺寸至少1m×1m，依EUT大小而定。其每一面应超出EUT或HCP、VCP至少并连接至接地系统。EUT依使用状态架设及连接。EUT与实验室墙面及其他金属结构的距离至少1m。EUT除了所规定接地系统外，不可再有其他之接地。ESD产生器的放电回路电缆长度为2m，需连接至GRP，测试时放电回路电缆距离其他导电部分至少。HCP、VCP之材质与厚度应与GRP相同且使用两端接有470KΩ之接地线连接至GRP。其他规定如下： EUT为桌上型设备之场地配置：使用高之木桌立于RGP作测试，并使用一长×宽之HCP置于桌面，EUT及电缆以绝缘垫与HCP隔离。EUT距离HCP各边至少。若EUT 过大可使用相同之HCP以较短边相距连接，可用较大尺寸之桌面或两组桌子，此两组HCP不可搭在一起，并由两端各接470KΩ电阻之接地线个别接至RGP。如下图所示。 EUT属于没有接地系统之设备的测试方法：EUT 是属于设备或设备的一部份、其装设规格或设计是不可连接至任何接地系统设备、包括可携式、电池操作双重绝缘设备(class II equipment)。其一般性配置与相同，但为了模凝单一静电放 电，在每次放电前必须将EUT的电荷消去，EUT的金属部分，例如连接器的外
ESD测试标准-总览
ESD测试标准 一、对于相关测试标准的查询 ESD是电磁兼容（EMC）中EMS的一部分 EMS相关标准为：（GB是中国国家标准，IEC是国际电工委员会标准，EN是欧洲标准，JDEC是美国 标准） 电磁抗扰性(基础标准)GB17626.x IEC61000-4-x EN61000-4-x JESD22-A114-x ESD对应的标准为： GB/T 17626.2 IEC61000-4-2 EN61000-4-2 ，之间关系也是等同的 详细文件见附件。 EMS标准其它还包括： GB/T 17626.1-98 电磁兼容试验和测量技术 抗扰度试验总论 GB/T 17626.2-98 电磁兼容试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.3-98 电磁兼容试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T 17626.4-98 电磁兼容试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T 17626.5-99 电磁兼容试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T 17626.6-98 电磁兼容试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.7-98 电磁兼容试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则 GB/T 17626.8-98 电磁兼容试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验 GB/T 17626.9-98 电磁兼容试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验 GB/T 17626.10-98 电磁兼容试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验 GB/T 17626.11-99 电磁兼容试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.12-99 电磁兼容试验和测量技术 振荡波抗扰度试验 另外EMI的相关标准为： 信息技术设备的电磁干扰GB9254CISPR22EN55022等同 西门子的GSM无线模块在规格书中还提到EN301489-7 EN301489是欧盟单独针对无线产品（GSM、CDMA）的EMC标准 二、标准中相关的内容 1、测试设备
静电放电测试方法
静电放电测试方法 问：静电放电测试方法？ 答：参照标准IEC61000-4-2:2001或GB/T 17626.2-2006 备注：（具体测试要求详见以上标准） 1、测试方法分为：接触放电法（contact discharge）和空气放电法（air discharge） contact测试：试验发生器的电极保持与被测设备的接触并由发生器内的放电开关激励放电的一种试验方法。主要针对半成品电子产品，或者是含有金属外壳的电子产品，也就是人体可以接触到的部分。2air测试：将试验发生器的充电电极靠近被测设备并由火花对被测设备激励放电的一种试验方法。主要针对塑料外壳或者表面涂有绝缘漆的金属外壳。 备注：接触放电是优先选择的试验方法，空气放电则用在不能使用接触放电的场合中。 一般接触放电考虑情况如下表：例 连接器外壳
涂层材料 空气放电 接触放电1
静电放电抗扰度的检测方法的检测方法
静电放电抗扰度的检测方法 GB/T7261共对11项电磁兼容试验加以要求： 1、1MHz和100kHz脉冲群抗扰度试验 2、静电放电抗扰度试验 3、辐射电磁场抗扰度试验 4、电快速瞬变/脉冲群抗扰度试验 5、浪涌抗扰度试验 6、射频场感应的传导骚扰的抗扰度试验 7、工频抗扰度试验 8、工频磁场抗扰度试验 9、脉冲磁场抗扰度试验 10、阻尼振荡磁场抗扰度试验 11、电磁发射试验 中试部联合基础硬件部共同开展的试验项目为：静电放电抗扰度试验、电快速瞬变/脉冲群抗扰度试验、浪涌抗扰度试验。 静电放电抗扰度试验 参考标准为《GB/T 14598.14-1998量度继电器和保护装置的电气干扰试验第2部分：静电放电试验》。 1、为什么要进行静电放大抗扰度试验 静电产生的危害：在干燥的大气环境和有合成织物的场所容易产生静电电荷，操作者的身体可直接接地或经静电感应而产生电荷。 电子设备损坏多数为静电所致，静电对集成电路、光电器件等的损害很严重。像CMOS 器件绝缘层的典型厚度已达到0.1μm以下，其相应耐击穿电压大致80至100V。某些VMOS 的耐击穿电压只有30V，而千兆位DRAM耐压仅为10至20V。在电子产品的生产和运输、储存等过程中产生的静电电压远大于上述阈值，造成微电子器件产生击穿（或）软击穿，使之失效或严重影响产品可靠性。 2、试验标准及试验方法介绍 试验目的：本试验的目的是证明被试量度继电器和保护装置在被激励并受静电放电影响时不会误动作。 试验对象：所选择的供试验用的点应当是在正常工作条件下操作者易于接近的部位，包括去掉量度继电器或保护装置外壳才能接近的整定调整部位，但不包括去掉外罩之后还需要去掉任一部分（例如某个插件）才能整定调整的部位，对仅为了修理和维护的目的才可接近
ESD 静电防护 测试试题
ESD测试题 一、选择题 1.ESD控制的目的含有达到更好品质和客户更满意。(√) 2.静电由接触或磨擦而产生。(√) 3.ESD意思是储存静电瞬间放电。(√) 4.非现场人员若不具ESD资格，碰触电子零件亦无所谓。(×) 5.隔离（绝缘）所有东西是建立一个防静电工作区的一个步骤。(√) 6.6(╳)手带静电环即可处理对静电敏感之材料。 7.防静电鞋须两脚都穿着，且只须在有接地之地板上工作才穿着。 (√) 8.防静电包装必须有封闭式的静电遮蔽容器。(√) 9.防ESD包装材料或容器可以无限期使用。(╳) 10.通过ESD资格考试一生有效。(╳) 11.每天必须做工作桌之自我检查和接地测试。(√) 12.假如我在防静电工作区穿上防静电鞋后，当我坐下来后就必须戴 上静电环。(√) 13.当发现缺失或不足时，ESD标准规范必须修正。(√) 14.防静电工作桌或工作区内每个处理ESD敏感零组件的工作站必须 有标示。(√) 15.全部防静电工作桌必须有接地静电环插座且其阻抗低于2Ω。 (√) 16.距离工作桌1公尺内之所有物品其静电电压不需低于100V。(╳)
17.内装有ESD敏感零组件之包装是需有标示。(√) 18.只有单独置放的零件怕静电。若已装在PCB上就不怕静电破坏。(╳) 19.粉红／蓝／黑色的塑料材料表示不易于静电产生。(╳) 20.每周必须检查静电环一次。(╳) 21.拿取基板成品、半成品时,手不可触及焊锡面,金手指,测试点及配线等。(√) 22.作业中掉落地板上的电子ESDS类零件可以继续使用。(╳) 23.检验静电敏感器件时必须佩带有线静电环，无线静电环不能使用。(√) 24.冬天皮肤干燥，可以在佩带静电环的手腕处擦润肤霜。(╳) 25.作业人员进入车间须做防护措施，但客户可以不用。(╳) 26.日常工作产生的静电强度与周围空气之相对湿度成正比，相对湿度愈高，产生的静电的强度愈高。(╳) 27.如果高绝缘材料的静电不能被消除,可以通过用离子风机来消除静电或采用防静电喷雾方式对其进行隔离。(√) 28.建立静电安全工作区的步骤之一是把每件东西都绝缘.() 29.设备外壳接地与静电线接地端为同一接地端.() 30.ESD防护措施的各种接地不但可以有效防止带电,也可以防止静电的产生.() 31.防静电包装袋和中转箱可以永远重复使用.(╳) 32.防静电标准要求当缺陷被发现时应及时釆取补救措施.(√) 33.任何一个可导通并有按扣的导线都可用来做ESD防护区的接地
dito静电放电操作规程
共6页 第1页 1 设备名称、型号及制造厂 1.设备名称：静电放电发生器 2.设备型号：dito 3.制造厂：EMTEST公司 2 技术指标 输出静电电压范围：空气放电：0～16.5kV 接触放电：0~10kV 3 环境要求 环境温度：23℃±5℃ 相对湿度：30％～60％ 4 操作步骤 4.1 静电枪的接地线需要可靠接地。静电放电发生器上的参考接地与试验布置接地 可靠相连。 4.2 如果接虚拟电池请确认连接试验室内的220V交流电源，另外电源线绝对不要和 地线缠绕在一起，否则容易会造成虚拟电池烧坏。 4.3 标配放电模块， 150pF/330Ω。 放电枪的外形下图所示。 放电枪 图中各部分功能如下: (1) 放电电极 放电电极有两个。一个为圆锥形，另一个为圆球形。前者用于接触放电试验，后者用于气隙放电试验。根据试验要求的不同，用户可自行更换使用。注意圆锥体
共6页 第2页 的尖端不能折断。 (2) 放电枪枪机 放电枪枪机的操作与放电模式有关，对空气放电来说，要扣一次枪机，放一次电。 对接触放电来说，只要扣住枪机，放电便一直进行，放电速率由设定的间隔时 间决定。 (3) 放电电阻、储能电容压入仓 根据不同的测试要求，更换阻容套件。由此压入，以保证与放电电极之间的距离最短，确保放电波形符合标准的要求。 (4) 接地回线；测试时必须将接地线连接到接地参考平面。 4.4 根据接触放电或空气放电选择合适的放电头。空气放电用圆头，接触放电用尖头。 4.5 静电放电器主机控制面板如下，可根据放电方式、放电频率、放电电压、计数、 放电极性等对其进行设置。
共6页 第3页 操作面板图 图中各部分的功能如下： 1.主机界面 2.放电模块 3.电池 4.放电枪头 5.触发键和开关键 6.显示屏 7.递减按钮 8.递加按钮 9.功能键F1-F5 10.接地端 11.光电连接口 4.6 操作方法 4.6.1 触发键的功能： 开机：按下触发键一次 关机：按下触发键持续3s钟（设备在开始状态） 改变菜单：按下触发键一次 测试状态下，单次（single）模式下：按下触发键一次；记数（cont）模式下：按下触发键直到测试结束；自动（Auto）模式下：按下触发键一次，自动开始测试，再按下触发键将停止测试进程。 4.6.2 菜单 Dito一共有5个功能键，和“触发键”这几个按钮 功能：通过5个功能键，选择想要的功能，被选择的功能会闪烁。功能键与显示的参数有关，属于对应关系。 改变参数：用于修改参数，通过多次按下相关的功能键进行修改。如触发模式： single-Cont-Auto。 数值参数修改：通过进行数字的修改。开始的时候数字以1为步阶进行修改，当一直按着不放时，超过十次以后会以10为步阶，而后以100，如 12,13,14,15,16,17,18,19,20,21,22,32,42...112,212...，暂停一小会后，又重新从1为步阶继续，如1,2,3,4,5,6,Pause <0.5s, 7,8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,27,37...
静电放电抗扰度试验方法
常用产品抗扰度标准和测试方法 ---静电放电抗扰度试验1、参考标准 静电放电抗扰度试验的国家标准为GB/T17626.2（等同于国际标准IEC61000-4-2）。 2、静电放电的产生于危害 静电放电是一种自然现象，当两种不同介电强度的材料相互摩擦时，就会产生静电电荷，当其中一种材料上的静电荷积累到一定程度，在与另外一个物体接触时，就会通过这个物体到大地的阻抗而进行放电。静电放电及其影响是电子设备的一个主要干扰源。 经验表明，人在合成纤维的地毯上行走时，通过鞋子与地毯的摩擦，只要行走几步，人体上积累的电荷就可以达到10﹣6库仑以上（这取决于鞋子与地毯之间的电阻），在这样一个“系统”里（人/地毯/大地）的平均电容约为几十至上百pF，可能产生的电压要达到15kV。 研究不同的人体产生的静电放电，会有许多不同的电流脉冲，电流波形的上升时间在100ps至30ns之间。 由于静电的存在，使人体成为对电子设备或爆炸性材料的最大危害。电子工程师们发现，静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候，有可能导致数层半导体材料的击穿，产生不可挽回的损坏。静电放电以及紧跟其后的电磁场变化，可能危害电子设备的正常工作。 3、静电放电试验 GB/T17626.2描述的是在低湿度环境下，通过摩擦使人体带电。带了电的人体，在与设备接触过程中就可能对设备放电。静电放电抗扰度试验模拟了两种情况：(1)设备操作人员直接触摸设备时对设备的放电，和放电对设备工作的影响；(2)设备操作人员在触摸邻近设备时，对所关心这台设备的影响。其中前一种情况称为直接放电（直接对设备放电）；后一种情况称为间接放电（通过
对邻近物体的放电，间接构成对设备工作的影响）。 静电放电可能造成的后果是：(1)通过直接放电，引起设备中半导体器件的损坏，从而造成设备的永久性失效。(2)由放电（可能是直接放电，也可能是间接放电）而引起的近场电磁场变化，造成设备的误动作。 4、静电放电的模拟 下图为静电放电发生器基本线路和放电电流波形。 图中高压真空继电器是目前唯一能产生重复和高速放电波形的器件。线路中的150pF电容代表人体的储能电容，330Ω电阻代表人体在手握钥匙和其他金属工具时的人体电阻。标准认为用这种人体放电模型（包括电容量和电阻值）来描述静电放电是足够严酷的。 从图中的放电电流波形（标准规定是放电电极对作为电流传感器的2Ω电阻接触放电时的电流波形）可以预见它含有极其丰富的谐波成分，因此它加大了试验的严酷程度。
IC静电放电的测试
IC静电放电的测试 陆坚 (中国电子科技集团公司第58研究所，江苏无锡214035) 摘要：本文主要论述了静电放电(ESD)人体放电模式的测试过程，包括测试标准、IC管脚的测试组合、IC失效判别以及静电放电敏感度等级分类等。 关键词：ESD；HBM；静电放电故障临界电压 中国分类号：TN407 文献标识码：A 1 前言 静电放电(ESD，electrostatic discharge)是电子工业最花代价的损坏原因之一，它会影响到生产合格率、制造成本、产品质量与可靠性以及公司的可获利润。随着IC产品的制造工艺不断微小化，ESD引起的产品失效问题越来越突出。为了能够了解我们所制造的IC产品的抵抗静电打击的能力，提升产品的质量，减少因ESD而引起的损伤，世界各地的IC工程师们研制出了许多静电放电模拟器，用来模拟现实生活中的静电放电现象，用模拟器对IC进行静电测试，借以找出IC的静电放电故障临界电压。本文就是结合我们现在使用的静电放电模拟器(ZapMaster)详细介绍静电放电的测试过程。 2静电放电模式及国际标准 目前在世界工业界对静电放电的模式大致定义了四种：人体模式HBM(humanbodymodel)、机器模式MM(machine model)、器件充电模式CDM(charge device model)、电场感应模式 FIN(neldinducedmodel)。因为在IC的制造和使用过程中，人体和IC接触的机会最多，由人体静电损伤造成IC失效的比例也最大，而且在实际应用中工业界也大多采用HBM模式来标注IC 的静电等级。所以本文将着重介绍HBM的测试方法和判别标准。 人体模式(HBM)，是指人体在地上走动、摩擦或者其他因素在人体上已积累了静电，当此人去直接接触IC时，人体上的静电便会经IC的管脚而进入IC内，再由IC放电到地去。此放电过程会在短到几百个纳秒的时间内产生数安培的瞬间放电电流，这个电流会把IC内部的元件烧毁。图1是HBM人体放电模式的电路模型，其中R2模拟人体电阻，C1模拟人体电容。测试过程是先用高压源经过电阻R1对电容C1充电，电容充电后经电阻R2对DUT(被测器件)放电。因为静电电压有的要达到几千伏特甚至上万伏特，校验比较困难，而电流的校验比较容易，因此现在都是采用静电放电电压相对应产生的电流来校验。图2是HBM的放电电流波形。表1为不同的HBM静电电压相对应产生的放电电流与时间的关系。