NIST随机数测试标准
序列检测器
实验三有限状态机进行时序逻辑电路设计 学院：物理与电子科学学院专业：应用电子技术班级： 1007班姓名： xxx 学号： xxxxxxxxxxxxx 一，实验目的： （1）掌握利用有限状态机实现一般时序逻辑分析标的方法； （2）掌握用Verilog编写可综合的优先状态机的准模板； （3）掌握用Verilog编写状态机模板的测试文件的一般方法； 二，实验内容： 序列检测器：将一个指定的序列从数字码流中识别出来。 设计一个能够识别序列“10010”的序列检测器，设：x为数字码流输入，z为检测标记输出，且高电平表示“发现指定序列”，低电平表示“没有发现指定序列”。 考虑码流为“110010010000100101…” 完成序列“10010”检测功能电路模块的Verilog程序编写，和测试模块程序的编写. “10010”序列检测电路的状态转移图如下： 其中状态A-E表示5位序列“10010”按顺序正确出现在码流中。考虑到序列重叠的可能，
转换图中还有状态F,G。另外，电路的初始状态设为IDLE. 三，实验程序 （1）功能模块： module fim (x,z,clock,reset,,state); input clock,reset,x; output z; output[2:0]state; reg [2:0]state; wire z; parameter Idle='d0 ,A='d1, B='d2,C='d3, D='d4,E='d5, F='d6,G='d7; assign z=(state==D&&x==0)?1:0; always @(posedge clock) if(!reset) begin state<=Idle; end else case(state) Idle:if(x==1) begin state<=A; end else begin state<=Idle; end A:if(x==0) begin state<=B; end else begin state<=A; end B:if(x==0) begin state<=C; end else begin state<=F; end C:if(x==1) begin state<=D; end else begin state<=G; end D:if(x==0) begin state<=E; end else begin state<=A; end E:if(x==0) begin state<=C; end else begin state<=A; end F:if(x==1) begin state<=A; end else begin state<=B; end G: if(x==0) begin state<=G; end else begin state<=F; end default: state<=Idle; endcase endmodule
NetApp存储测试报告-SAN
NetApp存储测试报告 1目的 本次测试测试针对NetApp存储的特点、性能等方面进行相关的验证及测试，为今后的存储设备选型提供一定的技术依据。 备注:在测试项目中的输出结果,仅仅作为参考结果,实际结果与信息时间为实际测试结果为准。 2术语
3测试内容 ●存储系统的可管理性测试 ●存储系统的可靠性和可用性 ●存储系统的扩展性、兼容性 ●存储性能测试 4测试准备 4.1 测试拓扑结构 4.2 测试设备配置 4.2.1 服务器配置 相关的应用软件如下表所示： 4.2.2 网络配置 FAS3050直接用一条LC光纤线与SUN服务器V890连接。 4.2.3 存储配置 存储服务器： NetApp FAS3050 具体配置： 磁盘容量：2T裸容量的磁盘。磁盘转速10000RPM，单个磁盘的裸容量为144G, 总共为14个。
4.3 测试工具 对于存储的功能测试，测试厂商需根据测试环境、案例要求准备测试工具，提供相关的监控软件对测试过程进行监控，对监控指标进行记录。 4.4 存储的可管理性 测试是否具有强大的管理功能，主要包括以下一些方面。具体可结合NetApp公司提供的测试方案进行具体测试。
4.5 存储可靠性、可用性测试 测试项目目的步骤预期结果 1．检测电源冗余系统是否可在单电 源情况下正常工作 （证明电源无单点 故障）并且电源可 在线更换 存储设备具有完善 的电源、风扇冗余 功能；电源风扇模 块可热插拔； 1．确认应用均正常运行。 2．在应用不间断的情况下， 随机选择拔下一个电源风 扇模块（模拟电源故障情 况），并通过管理软件检 测整个过程中系统是否发 生中断 应用无中断 3．拔出机头1个电源风扇模 块； 应用无中断 4．拔出第1个磁盘柜的1个 电源风扇模块； 应用无中断 5．恢复磁盘柜1的失效电 源； 应用无中断 6．恢复磁盘柜2的失效电 源； 应用无中断 7．恢复机头的失效电源；应用无中断 附：存储控制台输出 HN> Wed Sep 20 11:43:22 CST [ses.status.psWarning:warning]: DS14-Mk2-FC she lf 1 on channel 0c power warning for Power supply 1: non-critical status; DC und ervoltage fault. This module is on the rear side of the shelf, at the left. Wed Sep 20 11:43:34 CST [ses.status.psError:CRITICAL]: DS14-Mk2-FC shelf 1 on ch annel 0c power error for Power supply 1: critical status; power supply failed. T his module is on the rear side of the shelf, at the left. Wed Sep 20 11:43:42 CST [monitor.chassisPowerSupply.degraded:notice]: Chassis po wer supply 2 is degraded: PSU 2 AC Failed Wed Sep 20 11:43:43 CST [monitor.chassisPowerSupply.degraded:notice]: Chassis po wer supply 2 is degraded: PSU 2 12V Failed Wed Sep 20 11:43:43 CST [monitor.chassisPowerSupply.degraded:notice]: Chassis po wer supply 2 is degraded: PSU 2 5V Failed Wed Sep 20 11:43:50 CST [monitor.chassisPowerSupply.ok:info]: Chassis power supp ly 2 is OK Wed Sep 20 11:43:50 CST last message repeated 2 times Wed Sep 20 11:44:00 CST [monitor.globalStatus.critical:CRITICAL]: Disk shelf fau lt. Wed Sep 20 11:44:27 CST [ses.status.psInfo:info]: DS14-Mk2-FC shelf 1 on channel 0c power supply information for Power supply 1: normal status Wed Sep 20 11:45:00 CST [monitor.globalStatus.ok:info]: The system's global stat us is normal. 2．检验系统全局热备份盘功能测试磁盘阵列是否 能够通过动态备盘 自动接管模拟的故 热备份盘为全局热 备份，可自动接管 失效磁盘。系统中
设计一个1010的序列检测器
二、设计一个1010的序列检测器，检测到1010时输出为“1”否则为“0”，用D触发器实现。 第一步：根据要求进行逻辑抽象，得出电路的原始状态转换图和状态转换表。 取输入数据变量为X，检测的输出变量为Z, 该同步时序逻辑电路的功能是检测输入序列是否为1010，一旦输入序列出现一个1就记下来，因为这个1可能是1010序列的第一个1,；接着看输入是否为0，因为10是序列1010的前两位；其次再看输入是否为1，因为101是1010序列的前三位；最后再输入一个0，输出则为1，因为出现了一个1010序列，泽电路必须记住1,10,101,1010四种输入情况，每一种输入情况应与电路的一个状态相对应。 根据题意，设电路随机的输入和输出序列为： X：0 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0…… Z: 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0…… 该电路仅有一个输入端,每个现态有两个可能转移方向,设电路初态为S0，当X=0时，电路仍处在状态S0，当输入一个1以后的状态为S1，输入10以后的状态为S2，输入101以后的状态为S3，输入1010以后的状态为S4。以S n表示电路的现态，S n+1表示电路的次态。 由此得出原始状态转换图和原始状态转换表：
第二步：状态化简： 依据状态等效条件判断得出S0和S4在相同的输入条件下，它们转换到相同的次态去，且有相同的输出，故S0和S4等效，经分析比较，找出最大等效类：{S1}，{S2}，{S3}，{S0，S4}。 由此得出化简的状态转换图和最简状态表： 第三步：状态编码： 最贱状态表共有四种状态，可用两位二进制代码来表示，设状态变量为Q1，Q2，依据状态编码原则，确定S0=00，S1=01，S2=11，S3=10四种状态，其编码后的状态转换图和状态转换表：
存储性能黑幕
存储性能黑幕：苹果和桔子怎么比较？ 有没有想过，厂商自己提供的存储产品性能指标数据没有任何意义？用户要准确地评估不同厂商的存储产品，还需仔细阅读文中提到的SPC-1基准测试报告…… 前言 近年来，随着存储系统由服务器的附属变成IT系统中独立的子系统、由“外设”变成信息系统基础架构的中心，用户如何规划、设计和挑选符合自己需求的存储系统已变得越来越重要。 每个购买存储系统的用户都希望买到性能高、价格低、质量好(故障率低、可靠性高)、容量大(扩充能力强)、易于管理、售后服务好的存储产品，其中大多数用户最关心的还是存储产品的前三项指标，即性能、价格和可靠性。具体如下: ·体现存储系统性能的最主要指标是IOPS(I/Os per second)，即每秒输入输出次数; ·存储产品的价格需从二个方面进行评估，如果用户对存储的主要需求是存储容量，则可由每GB存储容量的价格比较各存储厂商的产品;如果用户对存储的主要需求是存储性能，则可由每IOPS的价格比较各存储厂商的产品; ·对于基于硬盘的存储系统，其可靠性MTTF(平均故障出现时间)可表示为: MTTF array=MTTF disk/存储系统中的磁盘总数 其中：MTTF disk代表每块磁盘的平均故障出现时间，目前磁盘的MTTF disk最高可达1,400,000小时。 在存储系统的性能方面，很多存储厂商都为其产品公布了漂亮的IOPS指标数据:IOPS 达十几万甚至几十万;但这些厂商大都不公布测出该IOPS指标的存储系统具体配置，因此用户也就无法对该存储产品的性价比和可靠性进行评估。很多用户在实际使用这些存储产品时却发现这些有着漂亮IOPS数值的存储产品性能很差，这是怎么回事?本文将为用户破解这个谜团! 一、此IOPS非彼IOPS，要真正了解存储系统的性能还需看其SPC-1 IOPS? 1、苹果和桔子怎么比较？没有统一的测试标准、环境和参数，IOPS就没有可比性 这是因为IOPS测试结果与很多测试参数有关，如果各个存储厂商都按自己的标准对存储系统进行测试，那么测试出的IOPS等指标就没有任何意义，原因如下: 1)随机(Random)读写的IOPS与顺序(Sequential)读写的IOPS大不一样:对于基于磁盘的存储系统，顺序读写的IOPS要远远大于随机读写的IOPS，其中100%顺序读的IOPS 又大于100%顺序写的IOPS、100%随机读的IOPS又大于100%随机写的IOPS。下面的图表是某品牌磁盘阵列(配置12块Maxtor 250GB, 7,200RPM的磁盘，512MB Cache)的不同IOPS，就清楚地说明了这种情况：
序列检测器
目录 第一章设计方案．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．1 1.1设计任务．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．1 1.2设计要求．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．1 1.2.1整体功能要求．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．1 1.2.2测试要求．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．1 第二章设计思路．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 2.1数字频率计介绍．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 2.2设计原理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 2.2.1频率测量的基本原理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 2.2.2整体方框图及原理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 2.2.3序列器结构框图．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 第三章模块介绍．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 3.1顶层文件模块．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 3.1.1顶层文件原理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 3.1.2顶层文件模块verilog语言描述程序．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 3.2伪随机序列发生器模块．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 3.2.1伪随机序列发生器．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 3.2.2伪随机序列发生器原理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．5 3.2.3伪随机序列发生器模块verilog语言描述程序．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．6
序列检测器
序列检测器功能：将一个指定序列从数字码流中识别出来。本例中将设计一个“10010”序列的检测器。设X为数字码流的输入，Z为检测出标记输出，高电平表示发现指定的序列10010.考虑码流为110010010000100101....则，如表有： 夏宇闻老师教材序列检测器 夏宇闻老师教材序列检测器 moduleseqdet ( input wire x, input wire clk, input wire rst, output wire z ); reg [2:0] state;
localparam IDLE = 3'd0, A = 3'd1, B = 3'd2, C = 3'd3, D = 3'd4, E = 3'd5, F = 3'd6, G = 3'd7; assign z = (state == D && x==0)?1'b1:1'b0;//状态为D时又收到输入0，表明10010已经收到，输出为1 always @ (posedgeclk,negedgerst) if(!rst) begin state<= IDLE; end else casex(state) IDLE: if(x==1) state <= A; //状态A记住第一位正确高电平1来过
else state <= IDLE; //输入的是低电平，不符合要求，所以状态保留不变A: if(x==0) state <= B; //状态B记住第二位正确低电平0来过 else state <= A; //输入的是低电平，不符合要求，所以状态保留不变B: if(x==0) state <= C; //状态C记住第三位正确低电平0来过 else state <= F; //输入高电平，不符合要求，F记住只有1位对过 C: if(x==1) state <= D; //状态D记住第四位正确高电平1来过 else state <= G; //输入低电平，不符合要求，G记住没有1为曾经对过D: if(x==0) state <= E; //状态E记住第五位正确低电平0来过 else state <= A; //输入的是高电平，不符合要求，记住只有一位来过，回到状
分布式存储性能测试理解文档
FastDFS理解文档 目录 简介 ............................................................................................................................................. - 1 - 结构 ............................................................................................................................................. - 2 - 2.1跟踪器与存储结点........................................................................................................ - 2 - 2.1.1 FastDFS上传文件........................................................................................... - 3 - 2.1.2 FastDFS下载文件........................................................................................... - 3 - 2.2 服务器端目录结构..................................................................................................... - 4 - 2.2.2 storage server 结构 ............................................................................................ - 5 - 2.3 服务器项配置说明.................................................................................................. - 6 - 2.3.1 Tracker服务器配置说明............................................................................. - 6 - 2.3.2 Storage服务器配置说明............................................................................. - 7 - 2.4 如何安装:................................................................................................................. - 7 - 2.5 如何配置:................................................................................................................. - 8 - 2.6 如何调用:............................................................................................................... - 12 - 2.7 如何服务器图片下载: ........................................................................................... - 12 - 2.8 如何清除:............................................................................................................... - 12 - 简介 FastDFS是一个开源的轻量级分布式文件系统，她对文件进行管理，功能包括：文件存储、文件同步、文件访问（文件上传、文件下载）等，解决了大容量存储和负载均衡的问题。特别适合以文件为载体的在线服务，如相册网站、视频网站等等。 主页地址：https://www.wendangku.net/doc/4610042462.html,/p/fastdfs/ 被测试版本: 测试环境: 客户端:
11100101序列检测器
状态图： 状态表： VHDL： Library IEEE.; Use.ieee.std_logic_1164.all;
LIBRARY IEEE ; USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL; ENTITY SCHK IS PORT( DIN，CLK，CLR : IN STD_LOGIC ; --串行输入数据位/工作时钟/复位信号 AB : OUT STD_LOGIC_VECTOR(3 DOWNTO 0)); --检测结果输出 END SCHK; ARCHITECTURE behav OF SCHK IS SIGNAL Q : INTEGER RANGE 0 TO 8 ; SIGNAL D : STD_LOGIC_VECTOR(7 DOWNTO 0); --8位待检测预置数 BEGIN
D <= "11100101 " ; --8位待检测预置数 PROCESS( CLK, CLR ) BEGIN IF CLR = '1' THEN Q <= 0 ; ELSIF CLK'EVENT AND CLK='1' THEN --时钟到来时，判断并处理当前输入的位CASE Q IS WHEN 0=> IF DIN = D(7) THEN Q <= 1 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN 1=> IF DIN = D(6) THEN Q <= 2 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN 2=> IF DIN = D(5) THEN Q <= 3 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN 3=> IF DIN = D(4) THEN Q <= 4 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN 4=> IF DIN = D(3) THEN Q <= 5 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN 5=> IF DIN = D(2) THEN Q <= 6 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN 6=> IF DIN = D(1) THEN Q <= 7 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN 7=> IF DIN = D(0) THEN Q <= 8 ; ELSE Q <= 0 ; END IF ; WHEN OTHERS => Q <= 0 ; END CASE ; END IF ; END PROCESS ; PROCESS( Q ) --检测结果判断输出 BEGIN IF Q = 8 THEN AB <= "1010" ; --序列数检测正确，输出“A” ELSE AB <= "1011" ; --序列数检测错误，输出“B” END IF ;
有效提升存储性能的十大方法
目前存储行业中很多公司都在开发与存储优化相关的产品和技术，既有优化主机端访问的方案，也有提升SAN存储性能的技术，这是一个很有潜力的领域。在这里，本文将要介绍一些能够有效提升存储性能的方法，而以往我们却经常忽视它 们。 首先，排除故障 网络存储的应用环境是相当复杂的，各种不 同的硬件和软件要能够顺利的实现互操作。 所以，导致存储系统性能不佳的最常见的原 因可能是配置错误，也可能是一个或多个组 件发生故障。因此，优化存储性能的第一步 就是要看看现有的存储I/O堆栈是不是有问 题。 检查服务器和存储阵列的日志，看看是否有物理设备故障告警、I/O重传、路径切换以及超时等明确的提示。再试着去逐个分析故障组件，从与线缆相关的连接组件开始。收发端口以及线缆的问题不容易发现，但通常会严重的影响性能。在遭受物理冲击的时候，这些东西经常会损坏，因此，在数据中心里安装、迁移或搬走设备时要特别的小心。 1. 更新固件和驱动程序 厂商会不断的通过软件升级来修复产品中的bug并增加新功能。聪明的做法是把存储网络中所有组件的驱动程序和固件都升级到最新版本，定期做，提前测试、调试和升级。我们看到Microsoft和VMware都在积极地为其产品—Windows 和vSphere的存储部分增加新的性能增强特性，但通常我们看不到太多的宣传。比如Microsoft推出的SMB 2.0和2.1，可以明显的提升Windows文件共享的性能，尤其是在低带宽的网络环境中。还有新版的VMFS和 NTFS文件系统在性能和可扩展性方面也有改善。所以，平时要多浏览存储方面的博客和媒体，以便了解最新的相关动态。 要注意的是，并不是所有的版本升级都值得我们花费时间和精力，而且有时候升级的风险还很高。所以，首先要确保所有相关的厂商能够支持你现有的设备及配置，并且有充分的测试，绝对不能在生产系统中使用测试版代码。作为一个系统管理员，我倾向于保守一些，我会等到有其他人出了相关验证报告之后，自己才会尝试升级，以免冒险。 2.降低负载 大多数调优的方法都着眼于定位和消除存储的性能瓶颈，但是换一个角度，也许我们还应该考虑如何减少I/O负载的产生。比如，同数据库管理员一起对查询的效率和性能进行调优，就可以节省大量的查询等待时间。 所以，减少I/O负载对每个人和每个应用来说都是有好处的。
随机数生成方法、随机数生成法比较以及检验生成的随机序列的随机性的方法讲义
摘要 摘要 本文着重讨论了随机数生成方法、随机数生成法比较以及检验生成的随机序列的随机性的方法。 在随机序列生成方面，本文讨论了平方取中法、斐波那契法、滞后斐波那契法、移位法、线性同余法、非线性同余法、取小数法等，并比较了各方法的优劣性。 在统计检验方面，介绍了统计检验的方法，并用其检验几种随机数生成器生成的随机数的随机性。 最后介绍了两种新的随机数生成法，并统计检验了生成随机序列的随机性。关键词：随机数，随机数生成法，统计检验 I
ABSTRACT ABSTRACT This article focuses on methods of random number generator, random number generation method comparison and test the randomness of the generated random sequence method. In random sequence generation, the article discusses the square method, Fibonacci method, lagged Fibonacci method, the shift method, linear congruential method, linear congruence method, taking minority law, and Comparison of advantages and disadvantages of each method. In statistical test, the introduction of the statistical test method, and used to test some random number generator random random numbers generated. Finally, two new random number generation method, and statistical tests of randomness to generate a random sequence. Key Words: random number，random number generator，statistical test II
8位序列检测器的设计
八位序列检测器设计 摘要:序列检测器多用于通信系统中对禁用码的检测，或者是对所需信号的提取，即一旦检测到所需信号就输出高电平，这在数字通信领域有广泛的应运。本文介绍了一种采用单片PGA 芯片进行脉冲序列检测器的设计方法，主要阐述如何使用新兴的EDA 器件取代传统的电子设计方法，利用FPGA 的可编程性，简洁而又多变的设计方法，缩短了研发周期，同时使设计的电路体积更小功能更强大。本次课程设计设计出能够检测序列“”的序列检测器，并以此来描述序列检测器的设计过程和基于FPGA 的软件仿真。最后通过QuartusII 的波形输出对设计方案进行检测，在硬件调试经检测输出正确设计符合要求。 关键词: VHDL 序列检测QuartusⅡFPGA Abstract：Sequence detector system used for communication on the detection code disabled, or is the extraction of the desired signal, that is, once detected, the required high output signal, which in the broad field of digital communications to be transported. This paper presents a single FPGA chip with the detector pulse sequence design method, mainly on how to us e new device to replace the traditional EDA electronic design, the use of FPGA's programmability, concise and changing the design method shortens the development cycle, while allowing smaller circuit design and more powerful. The curriculum is designed to detect sequence "" sequence detectors, and detector in order to describe the sequence of the design process and FPGA- based software simulation. Finally, the output of the waveform QuartusII design testing, debugging the hardware design has been tested and meet the requirements of the correct output. Keywords：VHDL Sequence detection QuartusⅡFPGA
小型机和存储设备性能指标知识
?2005 Hewlett-Packard Development Company, L.P. The information contained herein is subject to change without notice 小型机和存储设备 性能指标知识
议题 小型机性能指标介绍 存储设备性能指标介绍
用户怎样选取计算机系统 系统属性 ?体系机构 －SMP，Cluster，NUMA，etc.?处理器类型 －CISC，RISC，EPIC，etc.?操作系统 －UNIX，Windows/NT，Linux ?存储
用户怎样选取计算机系统 系统性能 理论值 －浮点运算速度，内存带宽/延迟，I/O性能 业界标准测试指标 －TPC-C，SPEC，LINPACK，STREAM，etc. ISV应用测试指标 －SAP，FLUENT，LS-DYNA，Gaussian，etc. 用户自己开发得应用程序测试（Demo机实测）
业界标准测试 为某种特定类型得应用提供参数，来衡量各种计算机系统的性能 简化/加速用户系统选型的过程 为系统配置提供依据 –需求分析 –目标设定 –决策人容易理解 促进计算机生产厂商技术革新 问题 －不能完全代表用户应用的实际性能 －成为计算机生产厂商追逐的单纯目标
什么是TPC TPC是Transaction Processing Performance Council的所写，由字面可以知道这是一个“事务处理性能理事会”。这是一个由IBM、HP、Dell等联合组成的一个第三方评测组织。 TPC值一般都是各个系统在满配情况下的最优化后的得分。 TPC的几个指标 TPC-C：OLTP（联机事务处理）——工厂的MIS系统比较注重这个指标 TPC-H：Decision Support for Ad Hoc Queries（基于特定查询的决策支持） TPC-W：Web e-Commerce（互联网及电子商务） TPC-R：Decision Support for Business Reporting（基于商业报告的决策支持）
IEC61215-2005-测试序列
IEC61215:2005测试序列 8 Modules Preconditioning(5 kWh·m-2)（预处理） 10.1Visual inspection（外观检查） 10.2Maximum powerdetermination（最大功率确定） 10.3Insulation test（绝缘试验） 10.15Wet leakage current test（湿漏电流试验） 1 Module Control 1 Module 10.14Measurement oftemperature coefficients（温度系数测量）10.5NOCT（电池组件的标称工作温度测量） 10.6Performanceat STC and NOCT （标称工作温度和标准测试条件下的性能） 10.7Performanceat low irradiance （低辐照度下的性能）10.8Outdoor exposure test(60 kWh·m-2)（户外爆晒试验）10.18Bypass diodethermal test（旁路二极管热性能试验）10.9Hot-spotendurance test（热斑耐久试验） 10.15Wet leakage current test（湿漏电流试验） 2 Modules
10.10UV Preconditioning test(15 kWh·m-2)（紫外预处理试验）10.11Thermal cycling test(50 cycles,-40 °C to + 85 °C)（热循环50试验） 10.12Humidity freeze test(10 cycles,-40 °C to + 85°C,85 % RH)（湿-冻试验） 1 Module 10.14Robustness ofterminations test（引出端强度试验） 2Modules 10.15Wet leakage current test（湿漏电流试验） 2 Modules 10.11Thermal cycling test(200 cycles,-40 °C to + 85 °C)（热循环200试验） 10.15Wet leakage current test（湿漏电流试验） 2 Modules 10.13Damp heat test(1000 h,85 °C,85 % RH)（湿-热试验）10.15Wet leakage current test（湿漏电流试验） 1 Module 10.16Mechanicalload test（机械载荷试验） 1 Module 10.17Hail test（冰雹试验）
很好的存储性能测试文档
EMC存储性能测试 存储性能好坏无非看三个参数，存储性能直接影响主机的性能好坏与否 Bandwidth (MB/s) ?Important for backups, DSS operations, rich media access Throughput (IOPS) ?Important for filesystem access, RDBMS; small requests (2-16KB) Response time ?A key measurement of quality of ser vice; an array can offer a high max IOPS figure, but deliver consistently slow response time Bandwidth (MB/s) 测试linux下的性能一般就用dd了，taobao就这么做。如果dd的性能都不行，其他就免谈了。 上海linktone测试时候用了vmstat看包的数量，然后用bonnie++测。最快的dd速度有160MB。(CX700+SUN 10K) 此类测试常在流媒体点播，或者大块文件备份。Raid种类有讲究。 Throughput (IOPS) 如果是小块随机，比较麻烦，10K的硬盘120 IOPS，15K的就180 IOPS。可以估算个大概。 以前一直疑惑，为什么flarecode升级时候，前面5个盘必须小于100 IOPS，原来留了20 IOPS给升级的用了。 注意，host IO必须转换到storage IO，两者有区别，读写比例和Raid种类有讲究。 Response time 结果可以从Clariion的analyzer里面读到存储的响应时间。 超过200 IOPS也是有可能的，因为FC硬盘是支持queuing，老的ATA不支持。但是response time会超长。 cache里面响应大约是0.5ms，一般FC磁盘I/O是6-8ms，但看到taobao的CX700实测是 4ms，10K盘。 另外，EMC有cache的优化方案，比如prefetch， coalescing, read/write cache merge. 其他： EMC有专门的IO触发机制，装在异构平台主机端。 Open Systems I/O Driver and Measurement Tool
随机数产生原理及实现
电子信息与通信工程学院 实验报告 实验名称随机数的产生 课程名称随机信号分析 姓名顾康学号U201413323 日期6月6日地点南一楼东204 成绩教师董燕
以上为6种分布的实验结果 1.均匀分布 随机变量X~U(0，1)的一组样本值的模拟值一般采用某种数值计算方法产生随机数序列，在计算机上运算来得到，通常是利用递推公式: Xn=f(Xn-1,.....,Xn-k) 1.1 同余法 Xn+1 = λXn(mod M) Rn=Xn/M R1 R2...Rn即为（0,1）上均匀分布的随机数列。而上述方法是伪随机的，{Rn}本质上是递推公式给定的周期序列，周期T可看做logλ（M）。
解决方法是：选择模拟参数并对序列进行统计检验。 1.2选择模拟参数 1）周期长度取决于Xo,λ， M的选择 2）通过选取适当的参数可以改善随机数的性质 几组参考的取值 Xo =1 , λ=7 , M=10^10 Xo =1 , λ=5^13 , M=2 *10^10 Xo =1 , λ=5^17 , M=10^12 1.3对数列进行统计检验 对应序列能否看作X的独立同分布样本，须检验其独立性和均匀性 for i=2:1:size %同余法均匀分布 x(i)= mod ( v*x(i-1), M); y(i)=x(i)/M; end subplot(2,3,1); hist(y,100) [ahat,bhat,ACI,BCI]=unifit(y)% 以0.95的置信度估计样本的参数 首先我们的标准是U ~（0，1），而实验值，ACI表示ahat的范围[-0.0030,0], BCI表示bhat的范围[1.0000,1.0030]。同时样本的均值和方差分别为0.4932 和0.0830，结论与理论值很接近。该样本以0.95的可信度服从（0,1）均匀分布。 2.伯努利分布 2.1算法原理
USB-chirp序列测试
USBchirp信号测试 1 信号及原理分析 1.1 KJ信号说明 USBchirp信号分为K信号和J信号。根据USB速率将chirp信号做如下区别： RenGE注： 不同的速率模式，对于K、J的形态定义是不同的。 DP表示D+ PIN，DM表示D- PIN。 SE0是一种D+和D-都为0电平的特殊状态。多用于表示End-Of-Packet。 1.2 USB全速高速识别过程分析 根据规范，全速（Full Speed）和低速（Low Speed）很好区分。因为在设备端有一个1.5k的上拉电阻，当设备插入hub或上电（固定线缆的USB设备）时，有上拉电阻的那根数据线就会被拉高，hub根据D+/D-上的电平判断所挂载的是全速设备还是低速设备。 USB全速/低速识别相当简单，但USB2.0，USB1.x就一对数据线，不能像全速/低速那样仅依靠数据线上拉电阻位置就能识别USB第三种速度——高速。因此对于高速设备的识别就显得稍微复杂些。
表1中图3展示了一个高速设备连接到USB 2.0的hub上的协商（negotiation）情形。 高速设备初始是以一个全速设备的身份出现的，即和全速设备一样，D+线上有一个1.5k的上拉电阻。USB2.0的hub把它当作一个全速设备，之后，hub 和设备通过一系列握手信号确认双方的身份。在这里对速度的检测是双向的，比如高速的hub需要检测所挂上来的设备是高速、全速还是低速，高速的设备需要检测所连上的hub是USB2.0的还是1.x的，如果是前者，就进行一系列动作切到高速模式工作，如果是后者，就以全速模式工作。 hub检测到有设备插入/上电时，向主机通报，主机发送Set_Port_Feature请求让hub复位新插入的设备。设备复位操作是hub通过驱动数据线到复位状态SE0(Single-ended 0，即D+和D-全为低电平)，并持续至少10ms。 高速设备看到复位信号后，通过内部的电流源向D-线持续灌大小为17.78mA 电流。因为此时高速设备的1.5k上拉电阻还未撤销，在hub端，全速/低速驱动器形成一个阻抗为45欧姆(Ohm)的终端电阻，2电阻并联后仍是45欧姆左右的阻抗，所以在hub端看到一个约800mV的电压（45欧姆*17.78mA），这就是Chirp K信号。Chirp K信号的持续时间是1ms~7ms。 在hub端，虽然下达了复位信号，并一直驱动着SE0，但USB2.0的高速接收器一直在检测Chirp K信号，如果没有Chirp K信号看到，就继续复位操作, 直到复位结束，之后就在全速模式下操作。如果只是一个全速的hub，不支持高速操作，那么该hub不理会设备发送的Chirp K信号，之后设备也不会切换到高速模式。 设备发送的Chirp K信号结束后100us内，hub必须开始回复一连串的KJKJKJ....序列，向设备表明这是一个USB2.0的hub。这里的KJ序列是连续的，中间不能间断，而且每个K或J的持续时间在40us~60us之间。KJ序列停止后的100~500us内结束复位操作。hub发送Chirp KJ序列的方式和设备一样，通过电流源向差分数据线交替灌17.78mA的电流实现。 再回到设备端来。设备检测到6个hub发出的Chirp 信号后（3对KJ序列），