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DY294晶体管直流参数测试仪

DY294晶体管直流参数测试仪
DY294晶体管直流参数测试仪

晶体管测试仪使用说明

晶体管测试仪使用说明 输入电压:直流6.8V-12V 工作电流30mA左右,输入7.5V直流电压时实测 ●晶体管测试仪控制 测试仪由一个旋转编码器开关控制,旋转编码器开关一共可以有4种操作,短按、长按、左旋、右旋。 在关机状态下短按一次,就能打开电源,开始测试。 在一次测试完成后,如果没有检测到器件。长按开关或者左右旋转开关可以进入功能菜单,进入功能菜单后,左旋或者右旋开关可以在菜单项上下选择,要进入某一个功能项,则短按一次开关。当需要从某个功能里退出时,则长按开关。 ●测试器件 测试仪一共有3个测试点,TP1、TP2、TP3。这三个测试点在测试座里的分布如下:

在测试座的右边是贴片元件的测试位置,上面分别有数字1,2,3,各代表TP1、TP2、TP3 测试只有2个引脚的元件时,引脚不分测试顺序,2个引脚任意选择2个测试点,3个脚的器件引脚分别放到三个测试点中,不分顺序。经过测试后,测试仪自动识别出元件的引脚名称、所在的测试点,并显示在屏幕上。 测试只有2个脚的元件时,如果使用的是TP1和TP3两个测试点,则测试完成后自动进入连续测试模式,这样可以连续的同步测量TP1和TP3上的元件,不用再按开关。如果使用的是“TP1和TP2”或者“TP2和TP3”测试,则只测试一次。要再一次测试则按一次开关。 测试电容器前,先给电容器放电,再插入测试座测量,否则有可能损坏测试仪的单片机。 ●校准 测试仪校准是用于消除自身元器件的误差,使得最后的测试结果更加精确。校准分为快速校准和全功能校准。 快速校准的操作方法:用导线将三个测试点TP1、TP2、TP3短接,然后按下测试按钮,同时注意观察屏幕。屏幕颜色会变成黑底白字,在出现提示信息”Selftest mode..? ”后,按一下测试按钮,就进入到快速校准过程;如果在出现提示信息“Selftest mode..?”后,2秒钟内没有按键,则进行一次正常的测试过程,最后显示出短接TP1、TP2、TP3三个测试点导线的电阻值。进入快速校准过程后,屏幕上会出现一些数据,不用管他。等待直到屏幕上出现闪烁的字符串“isolate Probes!”后,去掉短接TP1、TP2、TP3的导线。直到屏幕出现字符串“Test End”后,快速校准完成。首次校准时,使用全功能校准方式。 全功能校准需要从功能菜单里进入,还需要另外准备一个220nf的电容器。全功能校准执行更加全面的校准过程,会花费更长的时间。进入功能菜单后,旋转测试按钮来到菜单项“Selftest”,然后按下测试按钮就进入全功能校准过程,屏幕上首先冒出闪烁的字符串“short Probes!”, 这时和快速校准一样,用导线把三个测试点短接,等待校准过程进行,在屏幕冒出闪烁的字符串“isolate Probes!”时,去掉短接在三个测试点的导线,继续等待校准过程进行,在屏幕冒出字符串“1-||-3 > 100nf”时,把准备好的220nf电容器安装在测试点TP1和TP3上。等待直到屏幕提示“Test End”,全功能校准过程完成。 ●功能菜单 Switch off 关机。 Transistor 晶体管测试,也即是开机后的默认功能。 Frequency 测量频率。长按测试按钮可以退出频率测量功能。频率测量范围从1Hz到1MHz以上,当被测频率低于25KHz时,显示周期。 f-Generator 方波发生器,有多档方波频率可选,左旋或右旋测试按钮切换不同的方波频率,长按测试按钮退出方波发生器。 10-bit PWM 脉冲信号发生器,左旋或右旋测试按钮调节脉冲的占空比,从1% - 99%。长按测试按钮退出脉冲信号发生器。 C+ESR@TP1:3 电容在线测量功能,可以从TP1和TP3引出两根导线,对2uF-50mF 电容器在线测量其电容值和ESR,注意测试前被测电容需完全放电,如果是在线测量,电容所在的电路需完全断电后才能进行。 1- - 3 电阻连续测量方式,不断测试安装在TP1和TP3上的电阻值,电感值。被测电阻小于2100欧姆时才会测量其电感,电感测量范围从0.01mH-20H .长按测试按钮退出。

常见大中功率管三极管参数(精)

常见大中功率管三极管参数 晶体管型号反压Vbe0 电流Icm 功率Pcm 放大系数特征频率管子类型2SD1402 1500V 5A 120W * * NPN 2SD1399 1500V 6A 60W * * NPN 2SD1344 1500V 6A 50W * * NPN 2SD1343 1500V 6A 50W * * NPN 2SD1342 1500V 5A 50W * * NPN 2SD1941 1500V 6A 50W * * NPN 2SD1911 1500V 5A 50W * * NPN 2SD1341 1500V 5A 50W * * NPN 2SD1219 1500V 3A 65W * * NPN 2SD1290 1500V 3A 50W * * NPN 2SD1175 1500V 5A 100W * * NPN 2SD1174 1500V 5A 85W * * NPN 2SD1173 1500V 5A 70W * * NPN 2SD1172 1500V 5A 65W * * NPN 2SD1143 1500V 5A 65W * * NPN 晶体管型号反压Vbe0 电流Icm 功率Pcm 放大系数特征频率管子类型2SD1142 1500V 3.5A 50W * * NPN 2SD1016 1500V 7A 50W * * NPN 2SD995 2500V 3A 50W * * NPN 2SD994 1500V 8A 50W * * NPN 2SD957A 1500V 6A 50W * * NPN 2SD954 1500V 5A 95W * * NPN 2SD952 1500V 3A 70W * * NPN 2SD904 1500V 7A 60W * * NPN 2SD903 1500V 7A 50W * * NPN 2SD871 1500V 6A 50W * * NPN 2SD870 1500V 5A 50W * * NPN 2SD869 1500V 3.5A 50W * * NPN 2SD838 2500V 3A 50W * * NPN 2SD822 1500V 7A 50W * * NPN 2SD821 1500V 6A 50W * * NPN 晶体管型号反压Vbe0 电流Icm 功率Pcm 放大系数特征频率管子类型2SD348 1500V 7A 50W * * NPN 2SC4303A 1500V 6A 80W * * NPN 2SC4292 1500V 6A 100W * * NPN 2SC4291 1500V 5A 100W * * NPN 2SC4199A 1500V 10A 100W * * NPN 2SC3883 1500V 5A 50W * * NPN 2SC3729 1500V 5A 50W * * NPN 2SC3688 1500V 10A 150W * * NPN

晶体管的特性曲线

晶体管的特性曲线 晶体管特性曲线即管子各电极电压与电流的关系曲线,是管子内部载流子运动的外部表现,反映了晶体管的性能,是分析放大电路的依据。为什么要研究特性曲线: (1) 直观地分析管子的工作状态 (2) 合理地选择偏置电路的参数,设计性能良好的电路重点讨论应用最广泛的共发射极接法的特性曲线 1.测量晶体管特性的实验线路 图1 共发射极电路 共发射极电路:发射极是输入回路、输出回路的公共端。如图1所示。 2.输入特性曲线 输入特性曲线是指当集-射极电压U CE为常数时,输入电路( 基极电路)中基极电流I B与基-射极电压U BE之间的关系曲线I B = f (U BE),如图2所示。 图2 3DG100晶体管的输入特性曲线 U CE=0V时,B、E间加正向电压,这时发射结和集电结均为正偏,相当于两个二极管正向并联的特性。 U CE≥1V时,这时集电结反偏,从发射区注入基区的电子绝大部分都漂移到

集电极,只有小部分与空穴复合形成I B。U CE>1V以后,I C增加很少,因此I B 的变化量也很少,可以忽略U CE对I B的影响,即输入特性曲线都重合。 由输入特性曲线可知,和二极管的伏安特性一样,晶体管的输入特性也有一段死区。只有在发射结外接电压大于死区电压时,晶体管才会导通,有电流I B。 晶体管死区电压:硅管0.5V,锗管0.1V。晶体管正常工作时发射结电压:NPN型硅管U BE0.6 ~ 0.7) V PNP型锗管U BE0.2 ~ 0.3) V 3.输出特性曲线 输出特性曲线是指当基极电流I B为常数时,输出电路(集电极电路)中集电极电流I C与集-射极电压U CE之间的关系曲线I C = f (U CE),如图3所示。 变化曲线,所以晶体管的输出特性曲在不同的I B下,可得出不同的I C随U CE 线是一族曲线。下面结合图4共发射极电路来进行分析。 图3 3DG100晶体管的输出特性曲线图4 共发射极电路 晶体管有三种工作状态,因而输出特性曲线分为三个工作区 (1) 放大区 在放大区I C=βI B,也称为线性区,具有恒流特性。在放大区,发射结处于正向偏置、集电结处于反向偏置,晶体管工作于放大状态。 对NPN 型管而言, 应使U BE> 0, U BC< 0,此时,U CE> U BE。 (2) 截止区I B = 0 的曲线以下的区域称为截止区。 I B = 0 时, I C = I CEO(很小)。(I CEO<0.001mA)。对NPN型硅管,当U BE<0.5V 时, 即已开始截止, 为使晶体管可靠截止, 常使U BE≤0。截止时, 集电结也处于反向偏置(U BC≤ 0),此时, I C≈0, U CE≈U CC。 (3) 饱和区当U CE< U BE时,集电结处于正向偏置(U BC> 0),晶体管工作于饱和状态。

常用场效应管和晶体管参数大全

常用场效应管和晶体管参数大全 2010年03月04日 10:13 .elecfans.co 作者:佚名用户评论(1)关键字:晶体管参数(6)场效应管(6) 常用场效应管和晶体管参数大全 IRFU020 50V 15A 42W * * NMOS场效应 IRFPG42 1000V 4A 150W * * NMOS场效应 IRFPF40 900V 4.7A 150W * * NMOS场效应 IRFP9240 200V 12A 150W * * PMOS场效应 IRFP9140 100V 19A 150W * * PMOS场效应 IRFP460 500V 20A 250W * * NMOS场效应 IRFP450 500V 14A 180W * * NMOS场效应 IRFP440 500V 8A 150W * * NMOS场效应 IRFP353 350V 14A 180W * * NMOS场效应 IRFP350 400V 16A 180W * * NMOS场效应 IRFP340 400V 10A 150W * * NMOS场效应 IRFP250 200V 33A 180W * * NMOS场效应 IRFP240 200V 19A 150W * * NMOS场效应 IRFP150 100V 40A 180W * * NMOS场效应 IRFP140 100V 30A 150W * * NMOS场效应 IRFP054 60V 65A 180W * * NMOS场效应 IRFI744 400V 4A 32W * * NMOS场效应 IRFI730 400V 4A 32W * * NMOS场效应 IRFD9120 100V 1A 1W * * NMOS场效应 IRFD123 80V 1.1A 1W * * NMOS场效应 IRFD120 100V 1.3A 1W * * NMOS场效应 IRFD113 60V 0.8A 1W * * NMOS场效应 IRFBE30 800V 2.8A 75W * * NMOS场效应 IRFBC40 600V 6.2A 125W * * NMOS场效应 IRFBC30 600V 3.6A 74W * * NMOS场效应 IRFBC20 600V 2.5A 50W * * NMOS场效应 IRFS9630 200V 6.5A 75W * * PMOS场效应 IRF9630 200V 6.5A 75W * * PMOS场效应 IRF9610 200V 1A 20W * * PMOS场效应 IRF9541 60V 19A 125W * * PMOS场效应 IRF9531 60V 12A 75W * * PMOS场效应 IRF9530 100V 12A 75W * * PMOS场效应 IRF840 500V 8A 125W * * NMOS场效应

晶体管测试仪简介

开始/测试按键 SMD 器件测试座电容放电电阻外接表笔座 DC 电源接口 LCD 显示屏 开始/测试按键小元件放置区插件元件测试座 一. 产品概述 本仪表是一款针对于电子爱好者、开发者、电子维修及生产工厂研发的小仪器。可测直插式器件,也可测试贴片器件,可测各种二极管、三极管、可控硅、MOS管;能判断器件类型、引脚的极性、输出HFE、阀电压,场效应管的结电容,可测电容和电阻等。 二. 注意事项 ● 在测试电容前,请务必先进行放电,否则有可能损坏仪表。 ● 使用适配器供电时,请使用DC 9V -12V(含9V,12V)电压范围的适配器。● 本仪表不会对电池进行充电,当电池电量低于6V 时,请更换电池。 三. 技术指标 电阻:0Ω-50MΩ 分辨率: 0.01Ω电容:25pF-100mF 分辨率:1pF 电感:0.01mH-20H 分辨率:0.01mH 测量电容ESR 的分辨率: 0.01Ω 四. 使用方法 a. 按“开机/测试”可以实现开机和一次测试的功能,多次测量可重复按此键;测完后20秒无操作自动关机。 b. 本仪表提供贴片、插件和外置表笔三种测量方式,每种方式的1,2,3脚都是相同的对应关系。 c. 放置器件无需区分管脚顺序,测量完成后屏幕会显每个管脚对应的器件功能。 d. 仪表背面印有电解电容对应的ESR 典型值参照表,该表仅供参考,请以各生产厂家公布的数据为准。 五. 校准 短接1,2,3 测试点,按“开机/测试”按键,屏幕提示是否进入校准,在2秒内此按“开机/测试”按键确认,进入校准。之后屏幕提示断开1, 2,3 测试点,断开后继续,直到提示校准结束。 POWER/TEST SMD Devices Socket Capacitor Discharge Resistor Probe Socket DC IN LCD Screen POWER/TEST Small Devices Container Plug-in Devices Socket 1. Product Description This Meter is a small tool design for Engineer, Electronic Maintenance and Factory. It’s very easy to test plug-in and SMD devices, also can test di?erent kinds of Diodes, Triodes, Thyristors, MOSFET; able to analysis the device type, the polarity of the pin, the output HFE, the valve voltage, the junction capacitance of the FET. 2. Cautions ● Before testing the capacitor, be sure to discharge it, otherwise it may damage the internal circuit.● If using DC supply , please choose DC 9V -12V adapter(including 9V and 12V).● When the battery power is under 6V, please replace a new one . 3. Measuring parameters Resistor : 0Ω-50MΩ Resolution : 0.01ΩCapacitor: 25pF-100mF Resolution : 1pF Inductor: 0.01mH-20H Resolution : 0.01mH Capacitor ESR measuring resolution : 0.01Ω 4. Instructions a. Push "POWER/TEST" to power on and start a test, multiple measurements can be repeated by this key; auto power o? 20 seconds after measurement. b. Provide three kinds of socket, each socket pin1, pin2 and pin3 are connected. c. There 's a table "Typical ESR value of Electrolytic Capacitor" at the back, it’s for guide only, these are typical value for standard grade Electrolytic capacitor at room temperature. 5. Calibration Short the test pin 1,2,3 together, and push "POWER/TEST" button, then the screen prompts to enter Calibration, push the button again whin 2 seconds to con?rm. Few seconds latter the screen prompts to release pin 1,2,3, release them and wait for calibration ?nish. 晶体管测试仪

自制晶体管耐压测试仪

自制晶体管耐压测试仪 本测试仪,可用于测试晶体二极管、三极管、可控硅等元件的反向耐压值或稳压管的稳压值等。 一、工作原理:电路原理如图所示。时基电路NE555、R1、R2和C2等组成了振荡频率约16MHZ的自激振荡器,其输出信号通过三极管Q1放大后驱动升压变压器T,在T的次级感应输出脉动电压。此电压经D1整流、C5滤波,在a点取得左右的测试用只留高压电源。Q2、R7(或R8)、R3和R4等组成测试保护电路,当被测试管反向击穿电流大于一定值(大功率管,小功率管70uA)时,三极管Q2饱和导通,NE555因④脚为低电位而停振,a点电压降低,被测管的反向击穿电流下降,然后NE555再次起振,a点电压上升,这种负反馈的作用结果使XA、XB两点间的电压稳定在被测管的稳压值上。测试时,将被测管按极性接于XA、XB之间,测小功率管时,转换开关S在“1”端,测大功率管时,S 在“2”端,按动按键SB,由外接的电压表PV直接读出被测管的耐压值。二极管D2用于抵消Q2基极电位,使电压表读数更接近于被测管的耐压值。 二、元件选择:升压变压器T用35cm(14英寸)黑白电视级分体式输出变压器改制。将其低压绕组全部拆除,再用线径为的漆包线在原骨架上绕30匝作为初级绕组L1,次级绕组L2和整流管D1用高压包及硅柱代替。三极管Q1选β>50Icm>2A的中大功率管(如3DD15,DD03等)。电阻除R4、R5、R6选1W电阻外,其他均选1/8W的碳膜电阻。C5应选耐压在2KV以上的的瓷介电容。为降低成本,电压表PV可用内阻大于2KΩ/V。直流电压档最大量程大于2KV的万用表代替。其他元件如图1所示。 三、调试及注意事项:电路装好后,先不加装C5,接上电源,然后用万用表检测a点电压,按动SB按钮使电路加电工作。在正常情况下,在a点可监测到左右的直流电压。若无高压输出,可检查振荡电路及其相关器件;若电压略低或略高,可以更换不同阻值的R4,使输出电压为左右,若电压偏离太多,可通过换用不同β值得Q1来解决。由实验可知,Q1的β值越大,则输出电压越高,反之则越低。当电压基本正常后,加装C5,再测a点电压约为即为正常,然后将万用表串入XA、XB之间,直接测量通过R6的电流。当S拨在1端时约为70uA,S拨在2端时,约为为正常。否则,可通过改变R7或R8的阻值来解决。到此调试工作即告结束,本仪器即可投入使用。 四、注意事项:1.由于本测试仪线路中存在高压,因此在线路布局上要防止高压打火,在使用中要防遭电击;2.测试前把万用表量程拨到大于被测元件耐压值档,若被测元件耐压值不楚时,需先用较大量程档测量;3.由于电路工作时电流较大(200~500mA),故电源GB最好选用镍镉电池或5号干电池。

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量 一、实验目的 1、了解半导体特性图示仪的基本原理 2、学习使用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和参数。 二、预习要求 1、阅读本实验的实验原理,了解半导体图示仪的工作原理以及XJ4810 型半导体管图示仪的各旋钮作用。 2、复习晶体二极管、三极管主要参数的定义。 三、实验原理 (一)半导体特性图示仪的基本工作原理 任何一个半导体器件,使用前均应了解其性能,对于晶体三极管,只要知道其输入、输出特性曲线,就不难由曲线求出它的一系列参数,如输入、输出电阻、电流放大倍、漏电流、饱和电压、反向击穿电压等。但如何得到这两组曲线呢?最早是利用图4-1 的伏安法对晶体管进行逐点测试,而后描出曲线,逐点测试法不仅既费时又费力,而而且所得数据不能全面反映被测管的特性,在实际中,广泛采用半导体特性图示仪测量的晶体管输入、输出特性曲线。 图4-1 逐点法测试共射特性曲线的原理线路用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和各种直流参量的基本原理是用图4-2(a)中幅度随时间周期性连续变化的扫描电压UCS代替逐点法中的可调电压EC,用图4-2(b)所示的和扫描电压UCS的周期想对应的阶梯电流iB来代替逐点法中可以逐点改变基极电流的可变电压EB,将晶体管的特性曲线直接显示在示波管的荧光屏上,这样一来,荧光屏上光点位置的坐标便代替了逐点法中电压表和电流表的读数。

1、共射输出特性曲线的显示原理 当显示如图4-3 所示的NPN 型晶体管共发射极输出特性曲线时,图示仪内部和被测晶体管之间的连接方式如图4-4 所示. T是被测晶体管,基极接的是阶梯波信号源,由它产生基极阶梯电流ib 集电极扫描电压UCS直接加到示波器(图示仪中相当于示波器的部分,以下同)的X轴输入端,,经X轴放大器放大到示波管水平偏转板上集电极电流ic经取样电阻R得到与ic成正比的电压,UR=ic,R加到示波器的Y轴输入端,经Y轴放大器放大加到垂直偏转板上.子束的偏转角与偏转板上所加电压的大小成正比,所以荧光屏光点水平方向移动距离代表ic的大小,也就是说,荧光屏平面被模拟成了uce-ic 平面. 图4-4 输出特性曲线显示电路输出特性曲线的显示过程如图4-5 所示 当t=0 时, iB =0 ic=0 UCE =0 两对偏转板上的电压均为零,设此时荧光屏上光点的位置为坐标原点。在0-t1,这段时间内,集电极扫描电压UCS 处于第一个正弦半波周期。

(整理)常用晶体管参数表

常用晶体管参数表 索引晶体管型号反压Vbeo 电流Icm 功率Pcm 放大系数特征频率管子类型9011 50V 0.03A 0.4W * 150MHZ NPN 9012 50V 0.5A 0.6W * * PNP 9013 50V 0.5A 0.6W * * NPN 9014 50V 0.1A 0.4W * 150MHZ NPN 9015 50V 0.1A 0.4W * 150MHZ PNP 9018 30V 0.05A 0.4W * 1GHZ NPN 2N2222 60V 0.8A 0.5W 45 * NPN 2N2369 40V 0.5A 0.3W * 800MHZ NPN 2N2907 60V 0.6A 0.4W 200 * NPN 2N3055 100V 15A 115W * * NPN2N 2N3440 450V 1A 1W * * NPN 2N3773 160V 16A 150W * * NPN 2N5401 160V 0.6A 0.6W * 100MHZ PNP 2N5551 160V 0.6A 0.6W * 100MHZ NPN 2N5685 60V 50A 300W * * NPN 2N6277 180V 50A 300W * * NPN 2N6678 650V 15A 175W * * NPN 2SA 2SA1009 350V 2A 15W ** PNP 2SA1012Y 60V 5A 25W ** PNP 2SA1013R 160V 1A 0.9W * * PNP 2SA1015R 50V 0.15A 0.4W * * PNP 2SA1018 150V 0.07A 0.75W * * PNP 2SA1020 50V 2A 0.9W * * PNP 2SA1123 150V 0.05A 0.75W * * PNP 2SA1162 50V 0.15A 0.15W * * PNP 2SA1175H 50V 0.1A 0.3W * * PNP 2SA1216 180V 17A 200W * * PNP 2SA1265 140V 10A 30W ** PNP 2SA1266Y 50V 0.15A 0.4W * * PNP 2SA1295 230V 17A 200W * * PNP 2SA1299 50V 0.5A 0.3W * * PNP 2SA1300 20V 2A 0.7W * * PNP 2SA1301 200V 10A 100W * * PNP 2SA1302 200V 15A 150W * * PNP 2SA1304 150V 1.5A 25W ** PNP 2SA1309A 25V 0.1A 0.3W * * PNP 2SA1358 120V 1A 10W *120MHZ PNP 2SA1390 35V 0.5A 0.3W * * PNP 2SA1444 100V 1.5A 2W * 80MHZ PNP 2SA1494 200V 17A 200W * 20MHZ PNP 2SA1516 180V 12A 130W * 25MHZ PNP

晶体管测试仪

XJ4810型半导体管特性图示仪的使用方法晶体管测试仪的使用方法 晶体管特性图示仪的使用 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示: 1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。 3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。 4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A 四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。

AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示:接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值×0.1,同时指示灯14亮. 16. Y轴增益:校正Y轴增益。 17. X轴增益:校正X轴增益。 18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是: ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。 ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。 19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。 21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。

常用场效应管和晶体管参数大全

常用场效应管和晶体管参数大全 常用场效应管和晶体管参数大全 IRFU020 50V 15A 42W * * NMOS场效应IRFPG42 1000V 4A 150W * * NMOS场效应IRFPF40 900V 4.7A 150W * * NMOS场效应IRFP9240 200V 12A 150W * * PMOS场效应IRFP9140 100V 19A 150W * * PMOS场效应IRFP460 500V 20A 250W * * NMOS场效应IRFP450 500V 14A 180W * * NMOS场效应IRFP440 500V 8A 150W * * NMOS场效应IRFP353 350V 14A 180W * * NMOS场效应IRFP350 400V 16A 180W * * NMOS场效应IRFP340 400V 10A 150W * * NMOS场效应IRFP250 200V 33A 180W * * NMOS场效应IRFP240 200V 19A 150W * * NMOS场效应IRFP150 100V 40A 180W * * NMOS场效应IRFP140 100V 30A 150W * * NMOS场效应IRFP054 60V 65A 180W * * NMOS场效应IRFI744 400V 4A 32W * * NMOS场效应IRFI730 400V 4A 32W * * NMOS场效应IRFD9120 100V 1A 1W * * NMOS场效应IRFD123 80V 1.1A 1W * * NMOS场效应IRFD120 100V 1.3A 1W * * NMOS场效应IRFD113 60V 0.8A 1W * * NMOS场效应IRFBE30 800V 2.8A 75W * * NMOS场效应IRFBC40 600V 6.2A 125W * * NMOS场效应IRFBC30 600V 3.6A 74W * * NMOS场效应IRFBC20 600V 2.5A 50W * * NMOS场效应IRFS9630 200V 6.5A 75W * * PMOS场效应IRF9630 200V 6.5A 75W * * PMOS场效应IRF9610 200V 1A 20W * * PMOS场效应IRF9541 60V 19A 125W * * PMOS场效应IRF9531 60V 12A 75W * * PMOS场效应IRF9530 100V 12A 75W * * PMOS场效应IRF840 500V 8A 125W * * NMOS场效应IRF830 500V 4.5A 75W * * NMOS场效应IRF740 400V 10A 125W * * NMOS场效应IRF730 400V 5.5A 75W * * NMOS场效应IRF720 400V 3.3A 50W * * NMOS场效应IRF640 200V 18A 125W * * NMOS场效应IRF630 200V 9A 75W * * NMOS场效应IRF610 200V 3.3A 43W * * NMOS场效应IRF541 80V 28A 150W * * NMOS场效应

晶体管在线测试仪原理

6.15 晶体管在线测试仪 在维修家用电路时经常 会对晶体三极管的好坏进行判别,特别是焊在电路板上的三极管,如果不焊开引脚,则判别好坏比较困难,如果用本节介绍的小仪器便可使该问题迎刃而解。 1、电路原理 晶体管在线测试仪电路如图所示,测试仪主要由对称方波发生器、反向器、测试电路等部分组成。 对称方波发生器由555时基电路A2和阻容元件R3、C1构成,A2第三脚输出的方波频率f=0.722/R3*C1≈4.6Hz。反向器由555时基电路A1构成,它接成施密特触发器,A1的2、6两脚输入电平直接取自A2的第3脚,当输入低电平时,A1置位,第3脚输出高电平;当输入高电平时,A1复位,第3脚输出低电平,所以A1输出与A2输出始终保持反向。A1与A2共同为仪器的测试部分提供极性定时改变的交变电源。 测试电路由三极管VT1、VT2、电位器RP1、RP2等组成的双向辅助电源与LED1、LED2极性相反的并联发光二极管构成的显示电路两部分构成。 合上电源开关S,仪器工作指示灯LED3长亮发光、LED1、LED2则交替发光。若用鳄鱼夹将一只完好的NPN三极管按电路所示连接相应c、b、e插孔,由于被测管集电极c和发射极e之间存在饱和压降,负半周时,LED1、LED2均不发光,正半周时,通过R1提供基极偏流使被测管导通,LED2被旁路不发光而LED1发光;当待测的是PNP三极管时,情况正好相反,LED1被旁路不发光而LED2发光,从而可判断晶体管是PNP型还是NPN型。 如果被测管是坏管则有3种情况:①集电极与发射极间短路:此时c-e间无压降,发光管LED1、LED2被旁路,且是双向旁路均不发光;②集电极与发射极间开路:这时相当于电路未接入待测管,LED1、LED2都发光;③基极与集电极(或基极与发射极)存在短路或开路:它们都会使LED1、LED2、发光。 2、元器件选择 LED1、LED2和LED3最好分别采用红色、绿色、和黄色3种不同颜色的发光二极管。 RP1、RP2选用WS型有机实心微调电位器。R1~R4可选用RTX-1/8W型碳膜电阻器。C1选用CT4型独石电容器,C2选用CD11-16V型铝电解电容器。 S为1×1小型拨动式电源开关。G选用4F22型6V层叠式电池或4节7号电池串联供给。

最新常用晶体管参数查询

常用晶体管参数查询

常用晶体管参数查询 Daten ohne Gewahr 2N109 GE-P 35V 0.15A 0.165W | 2N1304 GE-N 25V 0.3A 0.15W 10MHz 2N1305 GE-P 30V 0.3A 0.15W 5MHz | 2N1307 GE-P 30V 0.3A 0.15W B>60 2N1613 SI-N 75V 1A 0.8W 60MHz | 2N1711 SI-N 75V 1A 0.8W 70MHz 2N1893 SI-N 120V 0.5A 0.8W | 2N2102 SI-N 120V 1A 1W <120MHz 2N2148 GE-P 60V 5A 12.5W | 2N2165 SI-P 30V 50mA 0.15W 18MHz 2N2166 SI-P 15V 50mA 0.15W 10MHz | 2N2219A SI-N 40V 0.8A 0.8W 250MHz 2N2222A SI-N 40V 0.8A 0.5W 300MHz | 2N2223 2xSI-N 100V 0.5A 0.6W >50 2N2223A 2xSI-N 100V 0.5A 0.6W >50 | 2N2243A SI-N 120V 1A 0.8W 50MHz 2N2369A SI-N 40V 0.2A .36W 12/18ns | 2N2857 SI-N 30V 40mA 0.2W >1GHz 2N2894 SI-P 12V 0.2A 1.2W 60/90ns | 2N2905A SI-P 60V 0.6A 0.6W 45/100 2N2906A SI-P 60V 0.6A 0.4W 45/100 | 2N2907A SI-P 60V 0.6A 0.4W 45/100 2N2917 SI-N 45V 0.03A >60Mz | 2N2926 SI-N 25V 0.1A 0.2W 300MHz 2N2955 GE-P 40V 0.1A 0.15W 200MHz | 2N3019 SI-N 140V 1A 0.8W 100MHz 2N3053 SI-N 60V 0.7A 5W 100MHz | 2N3054 SI-N 90V 4A 25W 3MHz 2N3055 SI-N 100V 15A 115W 800kHz | 2N3055 SI-N 100V 15A 115W 800kHz 2N3055H SI-N 100V 15A 115W 800kHz | 2N3251 SI-P 50V 0.2A 0.36W 2N3375 SI-N 40V 0.5A 11.6W 500MHz | 2N3439 SI-N 450V 1A 10W 15MHz 2N3440 SI-N 300V 1A 10W 15MHz | 2N3441 SI-N 160V 3A 25W POWER

晶体管的输入输出特性曲线详解.

晶体管的输入输出特性曲线详解 届别 系别 专业 班级 姓名 指导老师 二零一二年十月

晶体管的输入输出特性曲线详解 学生姓名:指导老师: 摘要:晶体三极管,是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。 根据晶体管的结构进行分类,晶体管可以分为:NPN型晶体管和PNP 型晶体管。依据晶体管两个PN结的偏置情况,晶体管的工作状态有放大、饱和、截止和倒置四种。晶体管的性能可以有三个电极之间的电压和电流关系来反映,通常称为伏安特性。 生产厂家还给出了各种管子型号的参数也能表示晶体管的性能。利用晶体管制成的放大电路的可以是把微弱的信号放大到负载所需的数值 晶体管是一种半导体器件,放大器或电控开关常用。晶体管是规范操作电脑,手机,和所有其他现代电子电路的基本构建块。由于其响应速度快,准确性,晶体管可用于各种各样的数字和模拟功能,包括放大,开关,稳压,信号调制和振荡器。晶体管可独立包装或在一个非常小的的区域,可容纳一亿或更多的晶体管集成电路的一部分。

关键字:晶体管、输入输出曲线、放大电路的静态分析和动态分析。 【Keywords】The transistor, the input/output curve, amplifying circuit static analysis and dynamic analysis. 一、晶体管的基本结构 晶体三极管,是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的PN结,两个PN结把正块半导体分成三部分,中间部分是基区,两侧部分是发射区和集电区,排列方式有PNP和NPN两种,如图 1-1(a)、(b)所示。从三个区引出相应的电极,发射极,基极,集电极,各用“E”(或“e”)、“B”(或“b”)、“C”(或“c”)表示。 发射区和基区之间的PN结叫发射结,集电区和基区之间的PN结叫集电极。基区很薄,而发射区较厚,杂质浓度大,PNP型三极管发射区"发射"的是空穴,其移动方向与电流方向一致,故发射极箭头向里;NPN型三极管发射区"发射"的是自由电子,其移动方向与电流方向相反,故发射极箭头向外。发射极箭头向外。发射极箭头指向也是PN结在正向电压下的导通方向。硅晶体三极管和锗晶体三极管都有PNP型和NPN型两种类型。当前国内生产的锗管多为PNP型(3A 系列),硅管多为NPN型(3D系列)。

三极管特性曲线分析

目录 一、三极管特性曲线分析 (1) 1.1三极管结构 (1) 1.2 三极管输入特性曲线 (2) 1.3 三极管输出特性曲线 (2) 二、三极管应用举例 (3) 2.1 三极管在放大状态下的应用 (3) 2.2 三极管在开关状态下的应用 (3) 三、线性电路和非线性电路 (4) 3.1线性电路理论 (4) 3.2 非线性电路理论 (5) 3.3 线性电路的分析应用举例 (6) 3.4 非线性电路的分析应用举例 (7) 四、数字电路和模拟电路 (8) 4.1 数字电路 (8) 4.2 模拟电路 (8) 4.3数字电路和模拟电路区别与联系 (9) 五、总结与体会 (9) 六、参考文献 (10)

三极管输入输出曲线分析 ——谈线性电路与非线性电路 摘要:三极管是电路分析中非常重要的一个元器件。本文主要分析了三极管输入输出特性曲线,介绍了线性电路和非线性电路的理论在分析工具的不同之处。同时,线性电路和非线性电路在分析电路时各有着不同的用处。最后,介绍了数字电路及模拟电路区别与联系。 关键词:三极管;数字电子技术;模拟电子技术 一、三极管特性曲线分析 1.1三极管结构 双极结型三极管是由两个PN结背靠背构成。三极管按结构不同一般可分为PNP和NPN 两种。 图1-1 三极管示意图及符号 PNP型三极管和NPN型三极管具有几乎等同的电流放大特性,以下讨论主要介绍NPN 型三极管工作原理。NPN型三极管其两边各位一块N型半导体,中间为一块很薄的P型半导体。这三个区域分别为发射区、集电区和基区,从三极管的三个区各引出一个电极,相应的称为发射极(E)、集电极(C)和基极(B)。虽然发射区和集电区都是N型半导体,但是发射区的掺杂浓度比集电区的掺杂浓度要高得多。另外在几何尺寸上,集电区的面积比发射区的面积要大。由此可见,发射区和集电区是不对称的。 双极型三极管有三个电极:发射极(E)、集电极(C)、基极(B),其中两个可以作为输入,两个可以作为输出,这样就有一个电极是公共电极。三种接法就有三种组态:共发射极接法(CE)、共基极接法(CC)、共集电极接法(CB)。这里只以共射接法为例分析其输入

多功能晶体管测试仪毕设论文

摘要 晶体管的出现在电子器件的历史上具有划时代的意义,在当今社会的重要性更是不容忽略,它实际上是所有现代电器的关键活动元件。因而研究测量其参数的测试仪器的具有重大的意义。 在分析传统XJ4810 型晶体管特性图示仪的电路结构和功能实现的基础上,结合模拟和数字电子技术的特点,确立了整个系统构成。本系统以凌阳16位单片机SPCE061A 为核心,其内部集成了两路10位DA和7通道的AD,用一路DA输出作为压控电压源的输入端,压控电压源的输出端作为集电极电压的控制端;另一路DA则作为压控恒流源的输入端,压控恒流源的输出端则作为基极的电流控制端。用其中的两路AD分别采样基极和集电极电压,采样结果送CPU处理后再送液晶显示器显示。系统采用的液晶显示器是LCM12664ZK点阵图形液晶模块,显示效果好。系统软件采用C语言在凌阳单片机集成开发环境μ’nSP? IDE 2.0.0上编程,利用模块化的程序设计方法编写系统各模块程序,使整个系统性能稳定,易于扩展。 本系统的压控恒流源和压控电压源都是采用运放构成,电路简单,精度能满足设计要求。经测定恒流源的输出范围为±100uA,误差为±0.5uA;电压源的输出范围±10V, 误差为±0.02V。 本测试系统目前能够完成三极管管型和极性判别、输入、输出特性曲线、放大倍数等参数以及二极管一些参数的测定。它具有功能稳定,精确度较高,易于功能扩展等特点。 关键词:SPCE061A;LCM12864ZK;晶体管参数;压控恒流源;压控电压源

Abstract The appearance of transistor has an epochal impact on the history of electronic element, and its significance could not ignore as the active component of all most of electronic devices. So, taking a research on the transistor tester for measuring its parameter has great importance. Based on the analysis of general configuration and working principle the tradition instrument XJ4810, combined with the analog and digital electronic technology, we ascertain the system’s structure. This system bases on SPCE061A, which contains two DAC and seven ADC, one DAC is used as the input of VCVS(V oltage Controlled V oltage Source), which output is used to control the voltage of collector. The other DAC is used as the input of VCCS(V oltage Controlled Current Source), which output is used to control the current of base. The two of seven ADC are used to sample the voltage of collector and base respectively, and the result is send to the display after processing of processor. This system used LCM12864ZK as the display, which has nice display effect. This system software is developed on Integrated Development Environment μ’nSP? 2.0.0 using C langue, and we utilize the modularization method of program design to make the system stable function and to be pronged to other function. This system’s VCCS and VCVS are both compose of amplifier. The circuit is simple, and the precision can meet the demands of design. The result of experiments proves that the range of output current of VCCS is from -100uA to +100uA, the error is ±2.0uA and the range of output voltage of VCVS is from -10V to +10V, and the error is ±0.05V. The system can measure the type and polarity, the input characteristic curve, the output characteristic curve, and amplification of transistor parameter and diodes. It has the stable function and high accuracy. It is easy to be expanded its function. Key words:SPCE061A;LCM12864ZK;Transistor Parameter ;VCCS;VCVS

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