静电测试报告

静电测试报告

一、实验准备工作

1.首先准备4块CCAM1W-DSE遥控器PCB样板，然后按要求把元器件焊好，并装好外壳，最后给四个遥控器编上序号。

2.用DSE接收盒对4个遥控器的发射波形进行测试。按遥控器任意一个按键，观察DSE接收盒的相对应的LED灯是否会亮，还要听蜂鸣器是否会叫。如果LED灯亮，蜂鸣器叫，那么遥控器符合要求。否则不符合。

3.分别用频谱仪，万用表测试4个遥控器的发射幅度和待机电流。

二、实验方法

首先把遥控器放在一个接地的金属板上，然后向遥控器4个按键和天线处发射静电，每一处发射5~10次静电（注意：静电发射端没有压到按键），观察遥控器是否产生不良现象，测试完成后测试遥控器是否正常，完成后用频谱仪检测遥控器是否有发射和DSE接收盒测试遥控器发射波形是否正常，并且用万用表测出待机电流。余下遥控器按同样方法依次测试。测试结果如表1：

遥控器编号静电电压实验结果备注

1 4.05KV 正常按照上述方法进行测试

2 4.05KV 正常按照上述方法进行测试

3 4.05KV 正常按照上述方法进行测试

4 4.05KV 正常按照上述方法进行测试

1 5.97KV 正常按照上述方法进行测试

2 5.97KV 正常按照上述方法进行测试

3 5.97KV 正常按照上述方法进行测试

4 5.97KV 正常按照上述方法进行测试

1 8.18KV 正常按照上述方法进行测试

2 8.18KV 正常按照上述方法进行测试

3 8.18KV 正常按照上述方法进行测试

4 8.18KV 正常按照上述方法进行测试

1 10.1KV 正常按照上述方法进行测试

2 10.1KV 正常按照上述方法进行测试

3 10.1KV 正常按照上述方法进行测试

4 10.1KV 正常按照上述方法进行测试

1 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。

2 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。

3 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。

4 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。

表1

三、实验分析

1.用频谱仪分别测试4个不正常遥控器是否有发射。结果发现有发射，并且幅度正常。

2.用DSE专用接收盒看遥控器发射波形是否符合要求。结果发现接收盒与遥控器按键相对

应的LED灯不亮，并且蜂鸣器不会叫。这说明遥控器发射的波形不符合要求。

3.用示波器检测DSE接收盒输出端波形，并且与正常遥控器发射时在DSE接收盒接收端的

波形对比。结果发现与正常波形时序不一样。

4.通过以上的实验现象和分析，可以判断应该是遥控器中的RT1530 IC损坏。然后换上好的RT1530后，遥控器工作正常。

四、实验结论

CCAM-DSE遥控器至少能达到10.1KV。在此范围内完全能保证遥控器不受损坏。

静电放电抗扰度试验 IEC T 标准总结及重点分析

静电放电抗扰度试验|IEC61000－4－2|GB/T17626.2标准总结及重点分析 1.1静电放电的起因： 静电放电的起因有多种，但GB/T17626.2-2006主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使人体积累了电荷。当带有电荷的人与设备接触时，就可能产生静电放电。 1.2试验目的： 试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟： （1）操作人员或物体在接触设备时的放电。 （2）人或物体对邻近物体的放电。 静电放电可能产生的如下后果： （1）直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。 （2）放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作。 1.3放电方式： 直接放电（直接对设备的放电）：接触放电为首选形式；只有在不能用接触放电的地方（如表面涂有绝缘层，计算机键盘缝隙等情况）才改用气隙放电。 间接放电：水平耦合，垂直耦合 1.4静电放电发生器原理图及波形参数： 注：图中省略的C d是存在于发生器与受试设备，接地参考平面以及偶合板之间的分布电容，由于此电容分布在整个发生器上，因此，在该回路中不可能标明。

静电放电发生器简图 波形参数 等级指示电压 /kV 放电的第一个峰 值电流/A(±10 ﹪) 放电开关操作时 的上升时间t r/ns 在30ns时的电 流/A(±30﹪) 在60ns时的 电流/A(±30 ﹪) 127.50.7～142 24150.7～184 3622.50.7～1126 48300.7～1168 1.5试验的严酷度等级： 1a接触放电1b空气放电 等级试验电压/kV等级试验电压/kV 1 2 3 4 X1） 2 4 6 8 特殊 1 2 3 4 X1） 2 4 8 15 特殊 1）“X”是开放等级，该等级必须在专用设备的规范中加以规定，如果规定了高于表格中的电压，则可能需要专用的试验设备。

电子产品的静电放电测试及相关要求

电子产品的静电放电测试及相关要求 （时间:2007-1-23 共有 901 人次浏览）[信息来源:互联网] 从第一节的叙述中我们了解ESD对电子产品的危害，随着电子产品的复杂 程度和自动化程度越来越高，电子产品的ESD敏感度也越高，电子产品抵御ESD 干扰的能力已经成为电子产品质量好坏的一个重要因素。那么如何来衡量电子产品抗ESD干扰的能力？通过ESD抗扰度试验可以检测这种能力。为此越来越多的产品标准将ESD抗扰度试验作为推荐或强制性内容纳入其中。电子设备的ESD抗扰度试验也作为电子设备电磁兼容性测试一项重要内容列入国家标准和国际标准。 对不同使用环境、不同用途、不同ESD敏感度的电子产品标准对ESD抗扰度试验的要求是不同的，但这些标准关于ESD抗扰度试验大多都直接或间接引用 GB/T17626.2-1998 （idt IEC 61000-4-2:1995）：《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》这一国家电磁兼容基础标准，并按其中的试验方法进行试验。下面就简要介绍一下该标准的内容、试验方法及相关要求。 1.试验对象： 该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、子系统和外部设备。 2.试验内容： ESD的起因有多种，但该标准主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使操作者积累了静电。电子和电气设备遭受直接来自操作者的ESD和对临近物体的ESD的抗扰度要求和试验方法。对电子产品而言，因操作者的ESD造成受设备干扰或损坏的几率相对其他ESD起因大得多。并且若电子产品能提高针对因操作者的ESD抗扰性，则针对因其他因素的ESD抗扰性也会有相应的提高。 3.试验目的： 试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟：（1）操作人员或物体在接触设备时的放电。（2）人或物体对邻近物体的放电。 4. ESD的模拟： 图1和图2分别给出了ESD发生器的基本线路和放电电流的波形。

4.静电放电测试报告

Official Test Report正式的测试报告 测试项目：静电放电测试 Project Information项目信息: Project Code: 项目代码 072V24S Project Phase: 项目阶段 研发 Software Version: 软件版本 V1.2 Sample Information样品信息: Sample Level: 样品类型 BMS Quantity: 数量 1 Serial Number: 序列号 020151125 Test Operation Information测试信息: Location: 地点上海博强 Start Date: 开始日期 2015-12-20 Finish Date: 完成日期 2015-12-21 Conclusion结论: Pass通过Fail 不通过 Other其它:测量PIN耐受电击的极限值，作为设计参考，具体请阅报告正文 Performed by测试: 樊佳伦&黄俊伟Signature Date: 2015-12-22 Written by撰写: 邓文签名：日期：2015-12-23 Checked by核查: 董安庆2015-12-24 Approved by批准: 穆剑权2015-12-25

Revision History修订履历 SN 序号Report No. 报告编号 Report Version 报告版本 Contents 变更内容 Release Date 发行日期 1 BQ-72V-BMS-0004 V1.0 New release. 2015-12-25 2

ESD防护原理及措施总结_V1.0_2018

ESD防护原理及措施总结
— 此总结主要针对传音近期项目在ESD不良方面的问题
进行的硬件设计总结，为后续硬件设计前期静电考量 和后续ESD改善提供参考。提升防静电能力，提高生 产效率，以期从设计前端提升品牌机的质量来满足客 户日益提高的品质要求。

一、静电问题
— — — — — —
1.静电产生机理简介 2.ESD标准及常见不良现象 3.常见ESD Fail的结构位置 4.常见ESD 控制的基本原则 5.ESD主要防止措施 6.部分案例分析

1.1.静电产生机理简介 ★任何物质都是由原子组合而成，而原子的基本结构为质子、中子及电子。科学家们将质子定 义为正电，中子不带电，电子带负电。在正常状况下，一个原子的质子数与电子数量相同，正 负电平衡，所以对外表现出不带电的现象。但是由于外界作用如摩擦或以各种能量如动能、位 能、热能、化学能等的形式作用会使原子的正负电不平衡，任何两个不同材质的物体接触后再 分离，即可产生静电。 ★静电放电(Electrostatic Discharge)是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的 电荷转移。ESD是一种常见的近场危害源，可形成高电压，强电场，瞬时大电流，并伴有强电 磁辐射，形成静电放电电磁脉冲。电流 >1A上升时间0～15ns，衰减时间0～150ns ★静电的产生在电子工业生产中是不可避免的，其造成的危害主要可归结为以下两种机理： 其一：静电放电（ESD）造成的危害： （1）引起电子设备的故障或误动作，造成电磁干扰。 （2）击穿集成电路和精密的电子元件，或者促使元件老化，降低生产成品率。 （3）高压静电放电造成电击，危及人身安全。 （4）在多易燃易爆品或粉尘、油雾的生产场所极易引起爆炸和火灾。 **其二，静电引力（ESA）造成的危害(不作介绍)： （1）电子工业：吸附灰尘，造成集成电路和半导体元件的污染，大大降低成品率。 （2）胶片和塑料工业：使胶片或薄膜收卷不齐；胶片、CD塑盘沾染灰尘，影响品质。 （3）造纸印刷工业：纸张收卷不齐，套印不准，吸污严重，甚至纸张黏结，影响生产。 （4）纺织工业：造成根丝飘动、缠花断头、纱线纠结等危害

静电放电测试规范

静电放电测试规范 1.测试目的：为使静电干扰耐受性测试时,能有一统一之规范及流程可供依循,特订定本程 序书,本试验的目的是仿真静电对电子产品所造成的干扰,并判别其耐受性。 2.适用范围：执行静电干扰耐受性测试时,适用之。 3. 4. 4.2 场地维护。 4.3 提供相关信息于测试服务上。

5.办法： 5.1 试验等级：试验等级如下

5.3 实验室之测试场地配置：实验室之地面应有一铜或铝制的金属GRP,其厚度至少0.25mm。 如果使用别种金属材料，其厚度至少应有0.65mm。GRP尺寸至少1m×1m，依EUT大小而定。其每一面应超出EUT或HCP、VCP至少0.5m并连接至接地系统。EUT依使用状态架设及连接。EUT与实验室墙面及其他金属结构的距离至少1m。EUT除了所规定接地系统外，不可再有其他之接地。ESD产生器的放电回路电缆长度为2m，需连接至GRP，测试时放电回路电缆距离其他导电部分至少0.2m。HCP、VCP之材质与厚度应与GRP相同且使用两端接有470KΩ之接地线连接至GRP。其他规定如下： 5.3.1 EUT为桌上型设备之场地配置：使用高0.8m之木桌立于RGP作测试，并使用一长1.6m ×宽0.8m之HCP置于桌面，EUT及电缆以0.5mm绝缘垫与HCP隔离。EUT距离HCP各边至少0.1m。若EUT过大可使用相同之HCP以较短边相距0.3m连接，可用较大尺寸之桌面或两组桌子，此两组HCP不可搭在一起，并由两端各接470KΩ电阻之接地线个别接至RGP。如下图所示。

5.3.2 EUT属于没有接地系统之设备的测试方法：EUT 是属于设备或设备的一部份、其装设 规格或设计是不可连接至任何接地系统设备、包括可携式、电池操作双重绝缘设备 (class II equipment)。其一般性配置与5.3.1相同，但为了模凝单一静电放电，在每次放电前必须将EUT的电荷消去，EUT的金属部分，例如连接器的外壳、电池充电点、金属天线等，在实施放电前必须将电荷消除。因此需使用具有470KΩ的泄放电阻器之电缆，类似HCP、VCP所用之接地电缆。其中一颗电阻需尽量靠近EUT的测试点，最好小于20mm的距离连接，第二颗电阻需连接在电缆靠近HCP的末端(桌上型)或RGP 的末端(落地型)。使用具有泄放电阻器之电缆，会影响某些EUT的测试结果。有争议时，在测试中如果电荷在连续放电之间有足够的衰减，则优先考虑以电缆不连接的状况作测试。可以使用下列的替换方法： -在连续放电间的时间间隔，必须延长到容许从待测物的电荷自然衰减所需的时间。 -在接地电缆中有碳纤维刷的泄放电阻器(例如2×470KΩ)。 -使用空气离子器以加速待测物在其环境的自然放电过程(使用空气放电作测试时，空气离子器必须关闭)。

静电测试报告

静电测试报告 一、实验准备工作 1.首先准备4块CCAM1W-DSE遥控器PCB样板，然后按要求把元器件焊好，并装好外壳，最后给四个遥控器编上序号。 2.用DSE接收盒对4个遥控器的发射波形进行测试。按遥控器任意一个按键，观察DSE接收盒的相对应的LED灯是否会亮，还要听蜂鸣器是否会叫。如果LED灯亮，蜂鸣器叫，那么遥控器符合要求。否则不符合。 3.分别用频谱仪，万用表测试4个遥控器的发射幅度和待机电流。 二、实验方法 首先把遥控器放在一个接地的金属板上，然后向遥控器4个按键和天线处发射静电，每一处发射5~10次静电（注意：静电发射端没有压到按键），观察遥控器是否产生不良现象，测试完成后测试遥控器是否正常，完成后用频谱仪检测遥控器是否有发射和DSE接收盒测试遥控器发射波形是否正常，并且用万用表测出待机电流。余下遥控器按同样方法依次测试。测试结果如表1： 遥控器编号静电电压实验结果备注 1 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 2 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 3 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 4 4.05KV 正常按照上述方法进行测试 1 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 2 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 3 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 4 5.97KV 正常按照上述方法进行测试 1 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 2 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 3 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 4 8.18KV 正常按照上述方法进行测试 1 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 2 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 3 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 4 10.1KV 正常按照上述方法进行测试 1 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 2 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 3 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 4 12.5KV 不正常按其中任意一个键，其LED灯亮，并且被其它按键控制的一个或者两个不同颜色的LED灯同时亮。 表1 三、实验分析 1.用频谱仪分别测试4个不正常遥控器是否有发射。结果发现有发射，并且幅度正常。 2.用DSE专用接收盒看遥控器发射波形是否符合要求。结果发现接收盒与遥控器按键相对

ESD学习报告

ESD学习报告

1.目的 熟悉ESD测试标准 2.内容 2.1 静电、静电释放的定义 2.2 静电的产生及特点 2.3 静电的损害形式及特点 2.4系统ESD标准及测试 2.5 测试结果分析 2.1 静电、静电释放的定义 静电（static electricity）：物体表面过剩或不足的静止的电荷。

静电释放（electrostatic discharge）：两个具有不同静电电位的物体，由于直接接触或静电场感应引起两物体间的静电电荷的转移。 2.2静电的产生及特点 2.2.1静电的产生 物质都是由分子组成，分子是由原子组成，原子中有带负电的电子和带正电荷的质子组成。在正常状况下，一个原子的质子数与电子数量相同，正负平衡，所以对外表现出不带电的现象。但是电子环绕于原子核周围，一经外力即脱离轨道，离开原来的原子儿而侵入其他的原子B，A原子因缺少电子数而带有正电现象，称为阳离子；B原子因增加电子数而呈带负电现象，称为阴离子。造成不平衡电子分布的原因即是电子受外力而脱离轨道，这个外力包含各种能量(如动能、位能、热能、化学能……等)在日常生活中，任何两个不同材质的物体接触后再分离，即可产生静电。 静电产生的方式有：接触摩擦、感应等。 “接触分离”起电：当两个不同的物体相互接触时就会使得一个物体失去一些电荷如电子转移到另一个物体使其带正电，而另一个体得到一些剩余电子的物体而带负电。若在分离的过程中电荷难以中和，电荷就会积累使物体带上静电。所以物体与其它物体接触后分离就会带上静电。通常在从一个物体上剥离一张塑料薄膜时就是一种典型的“接触分离”起电，在日常生活中脱衣服产生的静电也是“接触分离”起电。 感应起电：当带电物体接近不带电物体时会在不带电的导体的两端分别感应出负电和正电 2.2.2静电的特点： ·高电压 ·低电量 ·小电流 ·作用时间短的特点 2.3静电的损害形式及特点 2.3.1静电的损害形式 静电的基本物理特性为：吸引或排斥，与大地有电位差而产生放电电流。这三种特性能对电子元件影响如下： ·静电吸附灰尘，降低元件绝缘电阻(缩短寿命)。 ·静电放电破坏，使元件受损不能工作(完全破坏)。

ESD 静电防护 测试试题

ESD测试题 一、选择题 1.ESD控制的目的含有达到更好品质和客户更满意。(√) 2.静电由接触或磨擦而产生。(√) 3.ESD意思是储存静电瞬间放电。(√) 4.非现场人员若不具ESD资格，碰触电子零件亦无所谓。(×) 5.隔离（绝缘）所有东西是建立一个防静电工作区的一个步骤。(√) 6.6(╳)手带静电环即可处理对静电敏感之材料。 7.防静电鞋须两脚都穿着，且只须在有接地之地板上工作才穿着。 (√) 8.防静电包装必须有封闭式的静电遮蔽容器。(√) 9.防ESD包装材料或容器可以无限期使用。(╳) 10.通过ESD资格考试一生有效。(╳) 11.每天必须做工作桌之自我检查和接地测试。(√) 12.假如我在防静电工作区穿上防静电鞋后，当我坐下来后就必须戴 上静电环。(√) 13.当发现缺失或不足时，ESD标准规范必须修正。(√) 14.防静电工作桌或工作区内每个处理ESD敏感零组件的工作站必须 有标示。(√) 15.全部防静电工作桌必须有接地静电环插座且其阻抗低于2Ω。 (√) 16.距离工作桌1公尺内之所有物品其静电电压不需低于100V。(╳)

17.内装有ESD敏感零组件之包装是需有标示。(√) 18.只有单独置放的零件怕静电。若已装在PCB上就不怕静电破坏。(╳) 19.粉红／蓝／黑色的塑料材料表示不易于静电产生。(╳) 20.每周必须检查静电环一次。(╳) 21.拿取基板成品、半成品时,手不可触及焊锡面,金手指,测试点及配线等。(√) 22.作业中掉落地板上的电子ESDS类零件可以继续使用。(╳) 23.检验静电敏感器件时必须佩带有线静电环，无线静电环不能使用。(√) 24.冬天皮肤干燥，可以在佩带静电环的手腕处擦润肤霜。(╳) 25.作业人员进入车间须做防护措施，但客户可以不用。(╳) 26.日常工作产生的静电强度与周围空气之相对湿度成正比，相对湿度愈高，产生的静电的强度愈高。(╳) 27.如果高绝缘材料的静电不能被消除,可以通过用离子风机来消除静电或采用防静电喷雾方式对其进行隔离。(√) 28.建立静电安全工作区的步骤之一是把每件东西都绝缘.() 29.设备外壳接地与静电线接地端为同一接地端.() 30.ESD防护措施的各种接地不但可以有效防止带电,也可以防止静电的产生.() 31.防静电包装袋和中转箱可以永远重复使用.(╳) 32.防静电标准要求当缺陷被发现时应及时釆取补救措施.(√) 33.任何一个可导通并有按扣的导线都可用来做ESD防护区的接地

ESD测试结果评估

ESD测试结果评估须按被测试产品功能受影响的程度做判定, 依法规系将受影响的程度分为四级,说明如下: 第一级为A级判定 (Criterion A): 指产品功能在测试前后及测试过程中完全可以正常操作, 无任何功能减低或异常现象出现, 完全不受ESD放电影响, 则称产品符合A级判定结果. 第二级为B级判定 (Criterion B): 指产品在测试过程中,功能会受ESD放电影响,在放电瞬间会暂时性的功能降低, 但可以自动回复, 这样的产品则称符合B级判定结果. 第三级为C级判定 (Criterion C):指产品功能在测试前可正常被操作,但测试过程中受ESD放电影响, 出现功能降低或异常, 且功能无法自动回复, 必须经由操作人员做重置(Re-set)或重开机的动做才能回复功能, 这情形则仅符合C级判定结果. 第四级为D级判定 (Criterion D): 指产品功能在测试前可正常被操作,但测试过程中出现异常,虽经由操作人员做重置(Re-set)或重开机也不能回复功能, 这种情况大概产品已损伤严重, 仅符合D级判定结果. (这属不合格). 依IEC 61000-4-2法规建议,产品采购验证必须符合A级或B级的判定才能接受, C级和D级判定是不合格的. A 测试过程功能完全正常,不受影响合格 B 功能暂时性受影响,但可自动回复合格 C 功能受ESD影响出现异常, 须人为重置或重开机排除. 不合格 D 重开机功能也不能回复, 已损坏. 不合格 执行ESD测试的电压由低到高的规定, 是因为被测试的产品偶尔在低压放电时会出现失效现象, 但在最高电压放电时反而不见失效现象. 因此在法规中有明确定义电压值须要从最高电压的25%, 50%, 75%, 100%逐渐增加,

ESD-20.20-2014静电放电防护培训总结

ESD-静电放电防护培训总结 本次ESD培训主要学习了ESD的国际标准介绍以及ESD标准技术和测试要求简介。初步了解了ESD国际标准S20.20的一些标准要求和程序编制的基本要求。 一、ESD基础知识 ESD是Electro Static Discharge的简称，也即静电放电。静电就是物体表面过剩或不足的相对静止电荷，它是电能的一种表现形式。静电是正负电荷在局部范围内失去平衡的结果，是通过电子转移而形成的。这些不平衡的电荷就产生一个静电场。静电放电（ESD），就是两个带不同静电电位的物件相互接近到某程度或接触时，静电从一个物件突然流放到另一物件上，发生电荷转移的现象。 静电产生的来源和途径。静电的产生主要有以下几种方式：摩擦、接触（传导）、分离、感应、冲流、辐射、压电、温差、电解等常见途径。摩擦产生静电的材料序列为摩擦静电序列＋（正极）: 空气→人手→石棉→兔毛→玻璃→云母→人发→尼龙→羊毛→铅→丝绸→铝→纸→棉花→钢铁→木→琥珀→蜡→硬 橡胶→镍、铜→黄铜、银→金、铂→硫黄→人造丝→聚酯→赛璐珞→奥轮→聚氨酯→聚乙稀→聚丙稀→聚氯乙稀(PVC)→二氧化硅→聚四氟乙稀 : －（负极）摩擦起电的产生机理是：上述任意两种介质摩擦后前者带正电，后者带负电，且相距较远的两种介质通常比相距较近的两种介质所产生的摩擦电量大。由于摩擦材料不同，摩擦程度不同，材料表面均匀度不同，接触力，摩擦力，分离速度不同最终产生的电荷量也不同。感应起电的产生机理是：不带电的物体接近带点的物体时，由于静电场电力线的存在，而是不带电的物体在静电场的作用下，在接近带电体的一侧产生于带电体电荷异性的电荷。分离起电是相互密切结合的物体剥离时，而引起电荷分离，最终引起分离物体双方带异性电荷。而其中摩擦、接触分离、感应是最常见，而且对电子行业危害最大的静电产生途径。 产生静电量大小的主要因素有材料种类、接触面积、材料表面均匀性、表面粗糙情况、接触分离力的大小、分离速度、环境温湿度等。 生产现场的典型静电源及来源：油漆, 腊面, 塑胶和乙烯树脂，塑料，抛光木材工作表面；油漆, 腊面，塑料，抛光木材，毛毯，砖地板地面；玻璃纤维, 塑胶, 表面处理木料等材料椅子；操作人员的普通衣物, 头发, 鞋子, 手套等；塑胶袋, 气泡包装, 海绵, 盒子等包装；塑胶袋, 气泡包装, 海绵, 盒子，刷子等工具物品；显示器，电吹风或热吹风枪，复印机，打印机，电脑，喷雾清洗剂，压缩气气枪，水枪等设备工具。以及人体在地板地毯上的走动，物品的取放，以及没有接地措施的人体运动等也会产生静电。 静电的危害有1、ESA模式。即静电(力)吸附灰尘，降低元件绝缘电阻。2、ESD模式。静电放电破坏，造成电子元件损坏。3、EMI模式。静电放电产生电磁场幅度很大，频谱极宽，对电子元件产生干扰。静电放电的失效机理有热二次击穿，金属喷镀烧熔，介质击穿，气体电弧放电，表面击穿，体积击穿等。 静电放电模型。1、人体模型（HBM）。静电损伤最普遍的原因之一是通过从人体或带电材料到静电放电敏感（ESDS）器件之间的一系列有效电阻（1~1.5K Ω）发生静电电荷的直接转移。手指与ESDS器件或组件表面的简单接触就可使人体放电，可能造成器件损坏。用以模拟这类事件的模型就叫人体模型（HBM）。HBM模式是带电人体对电子元件的损害。2、机器模型（MM）。与HBM事件类似

EMC试验报告范文.

试品类型：oooo 试验时间：2013、4、1—2013、 试验环境：20摄氏度 4、2 试验项目： 静电放电抗扰度试验、振荡波抗扰度试验、快速瞬变脉冲群抗扰度试验、浪涌冲击抗扰度试验、电磁传导试验 试验依据： Q/INP 001-2012 5.10.1.1 JB/T 11067-2011 4.11.1.1 试验概况： 实验结论： 抗扰度试验判据说明： 序号判定准则类别说明 1 判据A 试验中装置在规范极限值内性能正常 2 判据B 试验中装置功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复 3 判据C 试验中装置功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干 预或系统重调(或复位) 4 判据D 试验中装置因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低 或丧失

试验产品 试验项目 依据标准Q/INP 001-2012 5.10.1.1 B/T 11067-2011 4.11.1.1 测试仪器3CTEST ESD-20G 试验条件温度 20 ℃，湿度：正常，大气压：正常。 电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。 设备状态试验前设备可以正常工作，实验过程中，设备受到干扰信号后还可以继续工作。 试验等级接触放电：试验电压6kV； 气隙放电：试验电压8kV； 要求符合性能判据： B 。 试验布置严格按标准要求。 试验过程接触放电：对装置可接触的导电表面、螺钉、端口等金属体进行接触放电，分别选择4个以上试验点进行（每点至少50次，正负极性各25次）， 试验电压6kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/s。试验 电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。 气隙放电：对装置可接触的壳体表面，按键、指示灯、显示屏、壳体等 的缝隙进行空气放电，分别选择3个以上试验点，每点进行至少20次单 次放电，正负极性各10次，试验电压8kV，用圆形空气放电枪头。试验 电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。 设备表现 试验框图：

静电放电对电子产品的危害报告

静电放电对电子产品的危害报告 1、电子产品静电放电损害的特点 （1）隐蔽性 在静电放电造成电子产品的损害当中，活动的人体带电是一个重要原因。一般情况下，人体所带静电电位都在1-2KV范围，而在此电压水平上的静电放电人体一般并无直接观察，而电子元器件却在人们不知不觉中受到损伤。 （2）失效分析的复杂性 静电放电损伤的失效分析工作，因电子产品的精、细、微小的结构特点而费时、费事、费钱，要求较高的技术并往往需要使用扫描电镜等精密仪器。即使如此，有些静电损伤现象也难以与其他原因造成的损伤加以区别，使人误把静电损伤失效当作其他失效。这在以静电放电损害未充分认识之前，常常归因于早期失效或情况不明的失效，从而不自觉掩盖了失效的真正原因。 （3）损伤具有潜在性 有些电子元器件受静电放电损伤后，仅表现出产品某些性能参数的下降，但尚未达到完全失效的程度，如不进行全面地检测往往无法发现。例如数字电路在静电放电损伤后电流输入电平的增加，在电路功能测试时一般不会被发现；或者静电放电使产品出现可自愈的击穿或其他非致命的损害，但这种效应可以累加，从而形成潜在隐患，在继续使用的情况下可发生致命失效，既难以预料又不可能事先筛选。 （4）损伤的随机性 只要电子元器件接触和靠近超过其静电放电敏感电压阀值的情况存在，就有可能发生静电放电损伤，而由于静电可以在任何两种物体（包括人体）接触分离的条件下产生，故电子元器件的静电放电损伤可能在产品从加工到制造到使用维护的任一环节，、任一步骤、与任何有关带电人体（或物体）接触时发生，具有很大的随机性。 2、器件类型的元件对静电的敏感程度 20世纪70年代中期后，集成电路技术迅速发展，集成规模不断扩大，集成密度日益提高，产品越来微小型化，MOS工艺已日益成为集成电路制造的主导技术。MOS电路栅氧化层横截面厚度的减薄使其耐压相对降低。 一些器件类型的静电敏感电压值

静电基本实验实验报告

篇一：实验报告范本研究生实验报告(范本) 实验课程：实验名称：实验地点： 学生姓名：学号：指导教师：（范本） 实验时间：年月日一、实验目的 熟悉电阻型气体传感器结构及工作原理，进行基于聚苯胺敏感薄膜的气体传感器的结构设计、材料制作、材料表征、探测单元制作与测试、实验结果分析，通过该实验获得气体传感器从设计到性能测试完整的实验流程，锻炼同学学习能力、动手能力和分析问题能力。 二、实验内容 1、理解电阻式气体传感器工作原理 2、进行传感器结构设计 3、进行敏感材料的合成与测试 4、开展气体传感器制作 5、器件性能测试与分析讨论 三、实验原理 气体传感器是化学传感器的一大门类，是气体检测系统的核心,通常安装在探测头内。从本质上讲，气体传感器是一种将某种气体体积分数转化成对应电信号的转换器。根据气敏特性来分类，主要分为半导体气体传感器、固体电解质气体传感器、接触燃烧式气体传感器、光学式气体传感器、石英谐振式气体传感器、表面声波气体传感器等。 气体传感器的检测原理一般是利用吸附气体与高分子半导体之间产生电子授受的关系，通过检测相互作用导致的物性变化从而得知检测气体分子存在的信息，大体上可以分为： (l)气体分子的吸附引起聚合物材料表面电导率变化 (2)p型或n型有机半导体间结特性变化 (3)气体分子反应热引起导电率变化 (4)聚合物表面气体分子吸、脱附引起光学特性变化 (5)伴随气体吸附脱附引起微小量变化 对于电阻型气体传感器，其基本的机理都是气体分子吸附于膜表面并扩散进体内，从而引起膜电导的增加，电导变化量反应了气体的浓度情况。 四、实验器材 电子天平bs2245:北京赛多利斯仪器系统有限公司 ksv5000自组装超薄膜设备:芬兰ksv设备公司 keithley2700数据采集系统:美国keithley公司kw-4a 型匀胶机:chemat technologies inc. 85-2 型恒温磁力热搅拌机:上海司乐仪器公司 优普超纯水制造系统:成都超纯科技有限公司 动态配气装置北京汇博隆仪器 s-450型扫描电镜:日本日立公司 uv1700紫外一可见分光光度计:北京瑞利分析仪器公司 bsf-gx-2型分流式标准湿度发生器:国家标准物质研究中心、北京耐思达新技术发展公司 五、实验步骤 1、电阻型气体探测器工作原理认识（见三、实验原理） 2、器件结构设计 电阻型气体探测器基于敏感薄膜电阻变化来进行气体浓度测定，因此电阻是探测器件的一个重要参数。叉指电极结构测量出的电导可由下式表示： 其中l和w为叉指电极基底的长度和宽度，n为叉指电极的数目对数，d为两相邻电极之间的间距，σ为薄膜的本征电导率。结合基底尺寸、材料电导率和工艺能力可以设计出结构优化

模拟法测静电场示范实验报告

实验七:模拟法测静电场 示范实验报告 【实验目的】 1． 理解模拟实验法的适用条件。 2． 对于给定的电极，能用模拟法求出其电场分布。 3． 加深对电场强度和电势概念的理解。 【实验仪器】 YJ-MJ-Ⅲ型激光描点模拟静电场描绘仪、白纸、夹子 【实验原理】 直接测量静电场，是非常困难的，因为： ① 静电场是没有电流的，测量静电场中各点的电势需要静电式仪表。而教学实验室只有磁电式仪表。任何磁电式电表都需要有电流通过才能偏转，所以想利用磁电式电压表直接测定静电场中各点的电势，是不可能的。 ② 任何磁电式电表的内阻都远小于空气或真空的电阻，若在静电场中引入电表，势必使电场发生严重畸变；同时，电表或其它探测器置于电场中，要引起静电感应，会使场源电荷的分布发生变化。 人们在实践中发现：两个物理量之间，只要具有相同的物理模型或相同的数学表达式，就可以用一个物理量去定量或定性地去模拟另一个物理量，这种测量方法称为模拟法。本实验用稳恒电流场模拟静电场进行测量。 从电磁学理论知道，稳恒电流场与静电场满足相同的场方程： 0E dl ?=?v v ? （静电场的环路定理） ， 0E dS ?=??v v ò（闭合面内无电荷时静电场的高斯定理） ； 0j dl ?=?v v ? （由?=?0l d E ? ?，得?=?0l d E ??σ，又E j ρρσ=，故?=?0l d j ??） ， 0j ds ?=??v v ò（电流场的稳恒条件） ； 如果二者有相同的边界条件，则场分布必定相同，故可用稳恒电流场模拟静电场。 1．长直同轴圆柱面电极间的电场分布 在真空中有一个半径为r 0的长圆柱导体A 和一个内半径为R0的长圆筒导体B ，其中心轴重合且均匀带电，设A 、B 各带等量异种电荷，沿轴线每单位长度上内外柱面各带电荷σ+和

ESD静电放电检验

浅谈ESD静电放电试验 上海时代之光照明电器检测有限公司陆杰 一、基本概念 静电放电Electrostatic discharge抗扰度试验，简称ESD，是电磁兼容(EMC)的最重要试验之一，静电放电是具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移的现象。 二、试验标准 随着电子产品的集成度越来越高和运行速度越来越快，以及电磁环境越来越复杂，其标准也必定会越来越严酷。而静电放电抗扰度试验的目的是为了让电子电气设备在模拟静电放电测试的环境下，检测其性能是否满足国际标准IEC 61000-4-2和国内标准GB/T 17626.2规定的要求。 三、试验危害 静电放电是电子设备的一个主要干扰源。由于静电放电的存在，使人体成为对电子设备或者爆炸性材料的最大危害。静电放电可能引起油品、火工品等的燃烧，另外也会导致电子设备的功能失效甚至损坏。静电放电是普遍存在的自然现象，无处不在的影响着电子产品，是一种危害程度极高的电磁能量。 四、测试原理 静电就是静止的电荷。静电的产生是由于电子在外力的作用下，从一个物体转移到另一个物体或者是受外界磁场的影响而产生的极化现象。静电也是一种电能，是正电荷和负电荷在局部范围内失去平衡的结果。静电的基本物理特性为：吸引或排斥，与大地有电位差，会产生放电电流。 静电只存在于物体表面，而非物体内部，绝缘体中的电荷只保持在产生静电的那些区域，而不会出现在整个物体表面。因而绝缘体接地后不会失去这些电荷。与绝缘体相反，充电导体接地后便会失去自身电荷。将导体瞬间接地，那么远离带电体表面的电荷就会释放，则导体将携带正电荷。静电可以在您的身体上形成且在放电时很容易损坏灵敏的内部电路元件。一次非常小以致不能感觉出的静电放电可能造成永久性损坏。 五、静电放电在近场或远场的耦合方式 静电放电试验有两种方式：一种是直接放电，另一种是间接放电。 静电放电模拟器主要有高压发生器和放电头组成，其原理图如（图1）所示，工作时先对高压电容充电，然后闭合放电开关，向试验对象作直接或间接放电。直接放电有接触放电和空气放电两种方式。间接放电通过静电放电模拟器与耦合板接触放电来实现。 静电放电在近场其辐射耦合的基本方式可以是电容或电感方式，取决于静电放电源和接受器的阻抗。在高阻电路中，电流信号很小，信号用电压电平表示，此时电容耦合将占主导地位，静电放电感应电压为主要问题。在低阻电路中，信号主要由电流形式，因而电感耦合占主导地位，静电放电感应电流将导致大多数电路出现的问题。在远场，则存在电磁场耦合。

ESD耐静电放电试验测试作业指导书

ESD耐静电放电试验测试作业指导书 1.目的：仿真人体所带静电对电子产品之影响。试验点是对所有接触面，经空气放电 (AIR DISCHARGE TEST)试验试至15KV，接触试验(CONTACT DISCHARGE TEST)(含垂直及水平耦合)试至8KV，正(+)、负(-)极性都须测试，在2001年6月之前为至少测试10点,每点正(+)、负(-)极性至少各放电10次，放电间隔维持至少1 sec。2001年6月1日起为至少测试4点,每点正(+)、负(-)极性至少各放电25次，放电间隔维持至少1 sec。 因此总共需打接触试验200次以上,经空气的放电试验200次以上。 2.为使周围环境对验结果产生的影响最低，必须在下列之条件下试验： 3.场地设置注意事项： 3.1静电放电试验器之接地电缆，必须确实接在标准接地板，长度通常为2m。 3.2如欲使用耦合板做间接放电时，耦合板之材质及尺度(厚度)必须与标准接地板相 同，且必须经470KΩ电阻连接(连接线之二端各一470KΩ电阻)耦合板与标准接地板两面。 3.3试验台上须有1.6m Χ 0.8m之水平耦合板(HCP)，EUT及电缆类皆须以0.5mm厚之 绝缘物与水平耦合板维持绝缘。水平耦合板如为铜片或铝片其厚度最小为0.25mm，若为其它金属片则小需为0.65mm。 3.4试验桌上型电器时，必须备有0.8m高可自立之木制试验台。

3.5 被测物要在全功能之标准使用状态下试验，故要选用适当的试验程序或软件运作。 3.6 测试用计算机与计算机屏幕需使用具有安规等级产品及其电源需接地,以避免误 测及烧毁。 3.7 根据上述2. 试验场地需在一密闭空间且必须加装除湿机与电暖气,并以温湿度计 监看以避免温适度超过环境标准。 4.ESD 试验电压分级如下：(X 级系开放级，须在设备规范里规定) 分级 接触放电 经空气放电 Remark ： CE 规范中，测试标准引用Contact ：Level 2 ± 4KV ：Level 3 ± 8KV 测试结果为Criteria B 即通过测试，可发报告。 1 2 3 4 X ±2KV ±4KV ±6KV ±8KV 议定 ±2KV ±4KV ±8KV ±15KV 议定 注: 接触放电以尖头放电头测试;经空气放电或非直接接触放电以锥头放电头测试. 5.ESD 测试作业之结果，被测物性能须依据下列之Criteria 分级： 5.1 Criteria A ：被测物性能(功能)维持正常而不受干扰。 计 算 机 键 盘 藕合 板