解析LED芯片寿命试验过程

解析LED芯片寿命试验过程

LED具有体积小，耗电量低、长寿命环保等优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行*价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量。

1、引言

作为电子元器件，发光二极管(LightEmittingDiode-led)已出现40多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的LED和兰光LED，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等，提供了作为照明光源的可能性。随着LED应用范围的加大，提高LED可靠性具有更加重要的意义。LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行*价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量，为此在实现全色系LED产业化的同时，开发了LED芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。

2、寿命试验条件的确定

电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工作试验称为寿命试验，又称耐久性试验。随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观，LED的理论寿命为10万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的*价，而我们试验的主要目的是，通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。根据LED器件的特点，经过对比试验和统计分析，最终规定了0.3×～0.3mm2以下芯片的寿命试验条件：

[1].样品随机抽取，数量为8～10粒芯片，制成ф5单灯;

[2].工作电流为30mA;

[3].环境条件为室温(25℃±5℃);

[4].试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种;

工作电流为30mA是额定值的1.5倍，是加大电应力的寿命试验，其结果虽然不能代表真实的寿命情况，但是有很大的参考价值;寿命试验以外延片生产批为母样，随机抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片，封装成ф5单灯器件，进行为96小时寿命试验，其结果代表本生产批

的所有外延片。一般认为，试验周期为1000小时或以上的称为长期寿命试验。生产工艺稳定时，1000小时的寿命试验频次较低，5000小时的寿命试验频次可更低。

3、过程与注意事项

对于LED芯片寿命试验样本，可以采用芯片，一般称为裸晶，也可以采用经过封装后的器件。采用裸晶形式，外界应力较小，容易散热，因此光衰小、寿命长，与实际应用情况差距较大，虽然可通过加大电流来调整，但不如直接采用单灯器件形式直观。采用单灯器件形式进行寿命试验，造成器件的光衰老化的因素复杂，可能有芯片的因素，也有封装的因素。在试验过程中，采取多种措施，降低封装的因素的影响，对可能影响寿命试验结果准确性的细节，逐一进行改善，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。

3.1样品抽取方式

寿命试验只能采用抽样试验的*估办法，具有一定的风险性。首先，产品质量具备一定程度的均匀性和稳定性是抽样*估的前提，只有认为产品质量是均匀的，抽样才具有代表性;其次，由于实际产品质量上存在一定的离散性，我们采取分区随机抽样的办法，以提高寿命试验结果准确性。我们通过查找相关资料和进行大量的对比试验，提出了较为科学的样品抽取方式：将芯片按其在外延片的位置分为四区，分区情况参见图一所示，每区2～3粒芯片，共8～10粒芯片，对于不同器件寿命试验结果相差悬殊，甚至矛盾的情况，我们规定了加严寿命试验的办法，即每区4～6粒芯片，共16～20粒芯片，按正常条件进行寿命试验，只是数量加严，而不是试验条件加严;第三，一般地说，抽样数量越多，风险性越小，寿命试验结果的结果越准确，但是，抽样数量越多抽样数量过多，必然造成人力、物力和时间的浪费，试验成本上升。如何处理风险和成本的关系，一直是我们研究的内容，我们的目标是通过采取科学的抽样方法，在同一试验成本下，使风险性下降到最低。

3.2光电参数测试方法与器件配光曲线

在LED寿命试验中，先对试验样品进行光电参数测试筛选，淘汰光电参数超规或异常的器件，合格者进行逐一编号并投入寿命试验，完成连续试验后进行复测，以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确，除做好测试仪器的计量外，还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试仪测试，以减少不必要的误差因素，这一点对光参数尤为重要;初期我们采用测量器件光强的变化来判断光衰状况，一般测试器件的轴向光强，对于配光曲线半角较小的器件，光强值的大小随几何位置而急剧变化，测量重复性差，影响寿命试验结果的客观性和准确性，为了避免出现这种情况，采用大角度的封装形式，并选用无反射杯支架，排除反射杯配光作用，消除器件封装形式配光性能的影响，提高光参数测试的精确度，后续通过采用光通量测量得到验证。

3.3树脂劣变对寿命试验的影响

现有的环氧树脂封装材料受紫外线照射后透明度降低，是高分子材料的光老化，是紫外线和氧参与下的一系列复杂反应的结果，一般认为是光引发的自动氧化过程。树脂劣变对寿命试验结果的影响，主要体现1000小时或以上长期寿命试验，目前只能通过尽可能减少紫外线的照射，来提高寿命试验结果的果客观性和准确性。今后还可通过选择封装材料，或者检定出环氧树脂的光衰值，并将其从寿命试验中排除。

3.4封装工艺对寿命试验的影响

封装工艺对寿命试验影响较大，虽然采用透明树脂封装，可用显微镜直接观察到内部固晶、键合等情况，以便进行失效分析，但是并不是所有的封装工艺缺陷都能观察到，例如：键合焊点质量与工艺条件是温度和压力关系密切，而温度过高、压力太大则会使芯片发生形变产生应力，从而引进位错，甚至出现暗裂，影响发光效率和寿命。引线键合、树脂封装引人的应力变化，如散热、膨胀系数等都是影响寿命试验的重要因素，其寿命试验结果较裸晶寿命试验差，但是对于目前小功率芯片，加大了考核的质量范围，寿命试验结果更加接近实际使用情况，对生产控制有一定参考价值。

4、寿命试验台的设计

寿命试验台由寿命试验单元板、台架和专用电源设备组成，可同时进行550组(4400只)LED 寿命试验。

根据寿命试验条件的要求，LED可采用并联和串联两种连接驱动形式。并联连接形式：即将多个LED的正极与正极、负极与负极并联连接，其特点是每个LED的工作电压一样，总电流为ΣIfn，为了实现每个LED的工作电流If一致，要求每个LED的正向电压也要一致。但是，器件之间特性参数存在一定差别，且LED的正向电压Vf随温度上升而下降，不同LED可能因为散热条件差别，而引发工作电流If的差别，散热条件较差的LED，温升较大，正向电压Vf下降也较大，造成工作电流If上升。虽然可以通过加入串联电阻限流减轻上述现象，但存在线路复杂、工作电流If差别较大、不能适用不同VF的LED等缺点，因此不宜采用并联连接驱动形式。

串联连接形式：即将多个LED的正极对负极连接成串，其优点通过每个LED的工作电流一样，一般应串入限流电阻R，如图二为单串电路，当出现一个LED开路时，将导致这串8个LED熄灭，从原理上LED芯片开路的可能性极小。我们认为寿命试验的LED，以恒流驱动和串联连接的工作方式为佳。采用常见78系列电源电路IC构成的LED恒流驱动线路，其特点是成本低、结构简单、可靠性高;通过调整电位器阻值，即可方便调整恒流电流;适用电源电压范围大，驱动电流较精确稳定，电源电压变化影响较小。我们以图二电路为基本路线，并联构成寿命试验单元板，每一单元板可同时进行11组(88只)LED寿命试验。

台架为一般标准组合式货架，经过合理布线，使每一单元板可容易加载和卸载，实现在线操作。专用电源设备，输出为5路直流36V安全电压，负载能力为5A，其中2路具有微电脑定时控制功能，可自动开启或关闭，5路输入、输出分别指示，图三为寿命试验台系统接线图。

本寿命试验台设计方案的优点：

[1].寿命试验电流准确、可调、恒定;

[2].具有微电脑定时控制功能，可自动开启或关闭;

[3].可同时适用不同VF的LED，而不必另外调整;

[4].采用单元组合结构，可随时增加寿命试验单元，实现在线操作;

[5].采用低压供电，保障安全性能。

产品寿命可靠性试验MTBF计算规范

产品寿命可靠性试验MTBF计算规范 一、目的： 明确元器件及产品在进行可靠性寿命试验时选用标准的试验条件、测试方法 二、范围： 适用于公司内所有的元器件在进行样品承认、产品开发设计成熟度/产品成熟度（DMT/PMT）验证期间的可靠性测试及风险评估、常规性ORT例行试验 三、职责： DQA部门为本文件之权责单位，责权主管负责本档之管制，协同开发、实验室进行试验，并确保供应商提交的元器件、开发设计产品满足本文件之条件并提供相关的报告。 四、内容： MTBF:平均无故障时间 英文全称:Mean Time Between Failure 定义:衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标,单位为“小时”.它反映了产品的时间质量,是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力.具体来说,是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔,它仅适用于可维修产品,同时也规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF

MTBF测试原理 1.加速寿命试验 (Accelerated Life Testing) 执行寿命试验的目的在于评估产品在既定环境下之使用寿命. 常规试验耗时较长,且需投入大量的金钱,而产品可靠性资讯又不能及时获得并加以改善. 可在实验室时以加速寿命试验的方法,在可接受的试验时间里评估产品的使用寿命. 是在物理与时间基础上,加速产品的劣化肇因,以较短的时间试验来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率.但基本条件是不能破坏原有设计特性. 一般情况下, 加速寿命试验考虑的三个要素是环境应力,试验样本数和试验时间. 一般电子和工控业的零件可靠性模式及加速模式几乎都可以从美军规范或相关标准查得,也可自行试验分析,获得其数学经验公式. 如果温度是产品唯一的加速因素,则可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式最为常用. 引进温度以外的应力,如湿度,电压,机械应力等,则为爱玲模型(Eyring Model),此种模式适用的产品包括电灯,液晶显示元件,电容器等. 反乘幂法则(Inverse Power Law)适用于金属和非金属材料,如轴承和电子装备等.

产品通用寿命测试方法

广东德豪润达电气股份有限公司研究所 文件编号：TQC0602001 版本：试行版A 产品寿命测试方法 日期：2004.05.06 页数：1/2 产品名称：电烤箱 类型：电热类一．目的： 测试验证样机寿命是否达到设计寿命。 二．适用范围： 本测试适用于无客户要求的电烤箱寿命测试。 三．参考文献： 参考Applica 寿命测试要求 四．使用设备： 泄漏电流测试仪、耐压仪、秒表、功率表、电风扇、测试夹具 五．通用说明： 1．测试使用的所有仪器均需在测试前进行点检。 2．测试所使用的所有仪器都应以一年为基准进行校验，每一台仪器上都应贴有载有最近调校日期及调校有效期的标签。 3．试验室环境温度：10~ 40 ℃湿度50~95% 六．程序步骤： 样品在测试前，需做高压测试和漏电流测试、烤箱中心温场测试（保证温度符合规格要求）。（一）、Toast 档 1．接额定电压，运行2185个周期,每个周期包括将烧色旋扭置于深烧色，工作完成后打开门用风扇吹冷30秒；重新将烧色旋扭置于深烧色，工作完成后打开门用风扇吹冷10分钟。 2．每运行730个周期时重新测试功率及炉心温度。 （二）、Bake档 1．接额定电压，运行200个周期,每个周期包括90分钟“ON”，30分钟“OFF”。每个“OFF”期间无需风扇吹冷。 2．每运行100个周期时重新测试功率及炉心温度 （三）、Broil档 1．接额定电压，运行316个周期，每个周期包括30分钟“ON”、10分钟“OFF”，每个“OFF”期间用风扇吹冷。 2．每运行105个周期时重新测试功率及炉心温度。

广东德豪润达电气股份有限公司研究所 文件编号：TQC0602001 版本：试行版A 产品寿命测试方法 日期：2004.05.06 页数：2/2 产品名称：电烤箱 类型：电热类 七．注意事项： 1．在测试过程中若发现异常情况必须立即停止测试。 2．在寿命测试0%、34％、50％、75％、100％各阶段时，需要对各项性能重新测试并记录相关数据。 八．判定结果： 1．耐压、泄漏电流通过。 2．无任何功能失效。 3.Toast 档：低、中档产品2185个循环（2 uses/day * 7 day/week * 52 week/year * 3 year = 2185 uses ）； 高档产品3640个循环（2 uses/day * 7 day/week * 52 week/year * 5 year = 3640 uses）。 4.Bake档：低、中档产品300个小时（0.4 hour/day * 5 day/week * 50 week/year * 3 year = 300 hours）； 高档产品500个小时（0.4 hour/day * 5 day/week * 50 week/year * 5 year = 500 hours）。 5.Briol档：低、中档产品158小时（0.21 hour/day * 5 day/week * 50 week/year * 3 year = 158 hours）；高 档产品260个小时（0.21 hour/day * 5 day/week * 50 week/year * 5 year = 260 hours）。

可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南汇总

术语和定义 HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。 运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。 破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。 裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。产品的裕度越大，则其可靠性越高。 夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。 加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。 振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。 Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。 热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。 功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。一般是通过测量试样的关键参数是否达到指标或利用诊断模式测试试样的内部性能。 摘要：本文围绕产品HALT试验，详细介绍HALT试验基本要求、总体过程及试验过程。 关键词：HALT试验、基本要求、试验过程 1、HALT试验基本要求 1.1对试验设备的要求 1.1.1对试验箱的要求 做HALT试验的设备必须能够提供振动应力和热应力，并满足下列指标： 振动应力：必须能够提供6个自由度的随机振动；振动能量带宽为2Hz～10000Hz；振台在无负载情况下至少能产生65Grms的振动输出。 热应力：目标是为产品创造快速温度变化的环境，要求至少45℃/min的温变率；温度许可范围至少为－90℃～＋170℃。

产品可靠性试验报告.docx

产品可靠性试验报告（初稿）一、试验样品描述 二、试验阶段 三、试验结论

四、试验项目

High Temperature Storage Test （高温贮存） 实验标准： 产品可靠性试验报告 测试产品状态 ■小批□中批□量产 开始时间/Start Time 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name High Temperature Storage Test (高温贮存) 产品名称Name 料号/P/N （材料类填写供应商） 试验样品/数量 试验负责人 （5Pcs ） 实验测试结果 ■通过□不通过□条件通过 试验目的 验证产品在高温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性 试验条件 Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱内，升温速率为1℃/min ，使产品温度达到70℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时后进行产品检查 试验条件图 Test Condition 仪器/设备 高温烤箱、万用表、测试工装 Group 6 包装贮存测试 OK 包装压力测试 OK 包装振动测试 OK 包装跌落测试 OK Group 7 酒精测试 OK RCA 纸带耐磨测试 附着力测试 OK 百格测试 OK 材料防火测试

备注说明 注意：测试不通过或条件通过时需要备注说明现象或原因、所有工作状态机器需要连接信号线、功能测试涵盖遥控距离和按键功能 Low Temperature Storage Test（低温贮存） 实验标准： 产品可靠性试验报告 测试产品状态■小批□中批□量产 开始时间/Start Time 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name Low Temperature Storage Test (低温贮存) 机型名称Name 料号/P/N（材料类填写供应商）试验样品/数量试验负责人 实验测试结果■通过□不通过□条件通过 试验目的验证产品低温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性 试验条件Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱内，降温速率为1℃/min，使试验箱温度达到-30℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时，后进行产品检查. 试验条件图Test Condition

产品寿命可靠性试验MTBF计算规范标准

产品寿命可靠性试验MTBF计算规 一、目的： 明确元器件及产品在进行可靠性寿命试验时选用标准的试验条件、测试方法 二、围： 适用于公司所有的元器件在进行样品承认、产品开发设计成熟度/产品成熟度（DMT/PMT）验证期间的可靠性测试及风险评估、常规性ORT 例行试验 三、职责： DQA部门为本文件之权责单位，责权主管负责本档之管制，协同开发、实验室进行试验，并确保供应商提交的元器件、开发设计产品满足本文件之条件并提供相关的报告。 四、容： MTBF:平均无故障时间 英文全称:Mean Time Between Failure 定义:衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标,单位为“小时”.它反映了产品的时间质量,是体现产品在规定时间保持功能的一种能力.具体来说,是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔,它仅适用于可维修产品,同时也规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF

MTBF测试原理 1.加速寿命试验 (Accelerated Life Testing) 1.1执行寿命试验的目的在于评估产品在既定环境下之使用寿命. 1.2 常規试验耗時较长,且需投入大量的金钱,而产品可靠性资讯又不能及时获得并加以改善. 1.3 可在实验室时以加速寿命试验的方法,在可接受的试验时间里评估产品的使用寿命. 1.4 是在物理与时间基础上,加速产品的劣化肇因,以较短的时间试验来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率.但基本条件是不能破坏原有设计特性. 1.5 一般情況下, 加速寿命试验考虑的三个要素是环境应力,试验样本数和试验时间. 1.6 一般电子和工控业的零件可靠性模式及加速模式几乎都可以从美軍规或相关标准查得,也可自行试验分析,获得其数学经验公式. 1.7 如果溫度是产品唯一的加速因素,則可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式最为常用. 1.8 引进溫度以外的应力,如湿度,电压,机械应力等,則为爱玲模型(Eyring Model),此种模式适用的产品包括电灯,液晶显示元件,电容器等. 1.9反乘冪法則(Inverse Power Law)适用于金属和非金属材料,如轴承和电子装备等.

成品使用寿命测试报告

一、试验信息 1.1试验对象 Xx公司生产的xxx: 型号：xxxxx 1.2执行标准 成品寿命评估报告SJ-PL-029-12 1.3试验环境 环境温度：15～35℃ 相对湿度：45～75% 大气压力：70～106kPa 1.4试验地址 深圳市XXX电子有限公司 深圳市XX区XX镇XXX工业区X栋X楼 1.5实验日期 2011-12-5——2011-12-20 二、实验准备 2.1试验计划 根据标称，使用寿命为一年，按照评估报告中测试计划进行。 所有整机或配件准备2组，每组1件，其中一组作为对比组，另一组做寿命试验，3-8项部件寿命测试均在整机上进行。总体要求在测试完成后，实验组与对比组相比，功能，性能无明显下降。 2.2试验设备

电热鼓风干燥箱：编号：MA-QM-005 不锈钢测试板 三、实验过程 3.1具体实验方法与要求 （1）电极片寿命测试： 把电极片分为A、B、C共3组，每组5片，其中A组做为对比组备用，B、C组为实验组。将B、C组的电极片分别贴在不锈钢板上保持5s以上，以45°的角度匀速缓慢的拉出。重复以上过程，B、C组的每个电极片均反复进行30次。测试完成后与对比组比较，要求试验组的每件电极片均无破损，无脱胶、无粘连；且凝胶的附着力无明显下降。 （2）按键 成品机状态，用手按下按键进行测试。试验人员以正常使用的速度，正常使用时的力度按下，不间断按4000次以上。 备注：本试验推荐多人交替测试同一件样机，测试人员可按性别、年龄分别为男20岁、男40岁、男60岁、女20岁、女40岁、女60岁的试验人员进行，只需智力正常的自然人，无需试验资质。 试验完成后： a. 观察样机外观，要求外观良好，无凸起或凹下、无掉字变形等不良。 b. 模拟使用，按键力度均匀，无手感不良现象。 c. 测试样机应功能正常。 （3）整机 开机、没电时进行更换电池，使低频理疗仪能够连续工作，在2个输出端上带1kΩ电阻，设置为按摩模式，调节为最大输出强度，保持持续工作16天。 试验完成后，要求： a. 整机外观良好，显示器功能正常无失效，无任何缺画、斑点、暗影等不良。 b. 整机应功能良好无缺失仍能输出正常波形与电压。 3.2试验结果

电子产品加速寿命试验报告9

加速寿命试验报告 产品名称：电子器件电容，电阻，贴片数量： 1000 试验数量： 20 试验日期： 2019年 -----科技公司

加速寿命试验报告

1.试验设备与测试仪器﹑仪表 2.加速系数计算 产品使用寿命与温湿度应力关系符合复合模型即温度-非热型（T-NT）模型，T-NT模型的加速系数Af计算公式为: 式中： RHt——试验湿度 RHu——使用湿度 Tu——使用温度（K） Tt——试验温度（K） P——指数，2~3，典型值为2.66 Ea——活化能，对电子设备Ea=0.67 K——Boltzman波尔兹曼常数=8.61710-5eV/K; 现场使用环境湿度恒定为60%，试验湿度取95%，得出 3.3952，现场使用温度恒温25℃转换为热力学温度等于298K，试验温度取恒温+85℃转换为热力学温度等于358K，计算得，（）（），代入公式计算得出加速系数Af=3.395279.27=269.1375，即在此试验环境下工作325.48h相当于实际环境中正常工作10年。 3.试验方法 在做加速寿命试验前，受试样品全部按GB行外观检查及常温性能测试，应全部符合验收规范要求。 试验中，根据现场极限使用参数和频率设定产品工作条件，具体测试点设置如下：在试验最后2h内在试验箱内测绝缘电阻，在试验结束后将断路器从试验箱内取出， 在标准大气压下放置2h后，进行绝缘耐压、时间特性、电气特性测试及外观检查。 3.1试验周期与应力 3.1.1温度应力 温度应力为 +85℃恒温。试验前，把受试样品放置于试验箱内，工作电路放置于试验箱外，受试样品与工作电路的连接线引出；试验时，从室温条件下开始，温度变化速率为3℃/min，将受试样品通电开机，如此循环直到试验结束。