弯曲损耗不敏感单模光纤G657A1

弯曲损耗不敏感单模光纤 G657A1/A2/B2
G657A1 企标 1310nm 衰减系数 1383nm(加氢老化) 1550nm 1625nm 衰减不均匀性 衰减不连续性 衰减波长特性 1310nm、1550nm 1310nm、1550nm 1288~1330nm 1525~1575nm 零色散波长 nm 零色散斜率 光学 传输 性能 色散特性 1288~1339nm 1271~1360nm 1550nm 1625nm 光纤的偏振模色散 光缆截止波长 宏弯损耗（10 圈，30mm） （10 圈，30mm） （1 圈，20mm） （1 圈，20mm） （1 圈，15mm） （1 圈，15mm） 模场直径 翘曲度 包层直径 尺寸 参数 芯/包同心度 包层不圆度 涂层直径 包层/涂层同心度 涂层不圆度 筛选应变 抗拉强度(10m 标距) 机械 性能 抗疲劳参数 Nd 涂层峰值剥离力 N 涂层平均剥离力 N 环 温度循环附加衰减 (-60℃ ～ +85℃) dB/km@1310nm， 境 1550nm, 1625 nm 15% 韦伯断裂概率 50% 韦伯断裂概率 1550nm 1625nm 1550nm 1625nm 1550nm 1625nm 1310nm ≤0.35 ≤0.35 ≤0.21 ≤0.23 ≤0.03 ≤0.03 ≤0.05 ≤0.05 1300~1324 ≤0.092 ≤3.5 ≤5.3 ≤18 ≤22 ≤0.1 ≤1260 ≤0.2dB ≤0.5dB ≤0.3dB ≤1.0dB 8.8± 0.4 ≥4.0 125 ± 0.7 ≤0.5 ≤1.0% 243± 5 ≤8 ≤3% ≥1.05% 2.76 3.45 ≥ 22 1.0~8.9 1.0~5.0 ≤ 0.05 G657A2/B2 企标 ≤0.35 ≤0.35 ≤0.21 ≤0.23 ≤0.05 ≤0.05 ≤0.05 ≤0.05 1300~1324 ≤0.092 ≤3.5 ≤5.3 ≤18 ≤22 ≤0.1 ≤1260 ≤0.03 ≤0.1 ≤0.1 ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 8.6± 0.4 ≥4.0 125 ± 0.7 ≤0.5 ≤1.0% 243± 5 ≤8 ≤3% ≥1.05% 2.76 3.45 ≥ 22 1.0~8.9 1.0~5.0 ≤ 0.05
类别 描述

性 湿热老化(+85± 2℃, 85%RH，30 天) dB/km@1310nm， 能 1550nm, 1625 nm 高温老化(85± 2℃，30 天 ) dB/km @1310nm，1550 nm, 1625 nm 浸水附加衰减 (23± 2℃，30 天 ) dB/km @1310nm，1550 nm, 1625 nm
≤ 0.05 ≤ 0.05 ≤ 0.05
≤ 0.05 ≤ 0.05 ≤ 0.05

光纤弯曲损耗的测试方案

光纤弯曲损耗的测试方案 一．实验目的 近些年，光纤的弯曲损耗问题引起众多学者越来越广泛的关注。除去由于弯曲损耗在光纤通信中的不利影响之外，许多光纤光学传感器也利用了这一传感机理，如在某些传感器中．被测物理量产生一个小位移，该位移又使光纤弯曲半径发生变化，从而改变光衰减。传统的理论都假设光纤具有无限大的包层．因此得到弯曲损耗随弯曲半径或工作波长单调的关系。最近的研究发现单模光纤的弯曲损耗随工作波长及弯曲半径变化的振荡现象。国外的研究人员从上世纪80年代，就已经开始对光纤的弯曲损耗进行比较系统的研究”，但在国内这方面的研究丁作开展较少”，相关的文献报道也比较少。在本文中，我将分析弯曲损耗在850nm，1310nm和1550三种工作波长，强弯曲状态F的单模光纤弯曲损耗随弯曲半径的变化关系．讨论了弯曲半径、工作波长对单模光纤弯曲损耗的影响。 二．实验仪器 光源单模光纤功率计扰模器 三．实验原理 在早期的研究工作中，对于弯曲的单模光纤，设定其包层为无限大，即光在芯区中传输时，包层及覆层的厚度对光的传输无任何影响%光损耗完全是由纯弯曲引起的，光功率的变化表示为： 式中P i，P 分别为光纤弯曲前及弯曲后的光功率，2α是弯曲损耗系数，L是弯曲 的长度，其中： 将上述公式整理后可得：

通过以上的分析，可以看到光纤弯曲引起的损耗依赖于波长和弯曲半径。四．实验步骤 1.测试弯曲半径对弯曲损耗的影响： 试验所用光源波长为850nm半导体激光器，将长飞公司的单模光纤沿圆柱弯曲，测量在不同的弯曲半径下的弯曲损耗特性： （1）将光纤与光源连接，保持不要弯曲，测量光纤的输入功率和输出功率（2）将光纤弯曲，使弯曲半径为5mm,用功率计测出光纤的输入光功率和输出光功率，计算损耗： （3）同上，分别用8mm和10mm的弯曲半径测量，计算损耗。 （4）将康宁公司和长飞公司的单模光纤焊接在一起，重复上述步骤，测量损耗，与（3）实验结果比较。 2.测量光源波长对弯曲损耗的影响： 选取长飞公司的单模光纤，弯曲半径为8mm,选用不同波长的光源进行测量，算出弯曲损耗： （1）选取850nm波长的光源与光纤连接，使光纤保持不弯曲，测出输入功率和输出功率，再将光纤弯曲，将弯曲半径保持在8mm,测量光纤的输入功率和输出功率，计算损耗 （2）将波长变为1310nm,1550nm重复上述步骤，计算损耗。

光纤的常见故障及排障方法

光纤的常见故障及排障方法 光纤是光导纤维的简写，是一种由玻璃或塑料制成的纤维，可作为光传导工具。光纤网络在生活中有很大用处，一旦出现故障会造成成大的麻烦，如何排除光纤网络常见故障及排除方法变得越来越重要。 任何做过网络排障的专业人士都清楚这是一个复杂的过程。这里给出了一些最常见的光纤故障以及产生这些故障的可能因素，这些信息将有助于用户对网络故障进行有根据的猜测。 在各种业务的通信系统中，由于光缆成本低，光信号传输距离远，损耗低的特点，光纤已经逐步取代电缆。所以光缆线路发生故障必须分秒必争进行抢修，尤其是在重要的应用网络系统中。下面将逐步分析光纤故障中出现的现象以及判断故障点可能发生的范围。 一、光缆故障的主要产生原因 为保证光传输信号距离远、低损耗的应用特性，一条光缆线路必须满足一定的物理环境条件。任何轻微的光缆弯曲形变或者轻度污染都会造成光信号的衰耗，甚至中断通信。 1、光缆路由线路长由于光缆本身的物理特性和生产过程中的不均匀性，使其中传播的光信号时刻都在发生着漫射和被吸收。当光缆链路过长时，就会造成整条链路光信号的整体衰耗超过网络规划的需求求，光信号衰耗太大，会使通信效果下降。 2、光缆放置弯曲角度过大光缆弯曲衰耗和受压衰耗其本质上都是由于光缆变形导致光传输过程中满足不了全反射生成的。光纤具有

一定的可弯曲性，但当光纤弯曲到一定角度时，将引起光信号在光缆中传播方向的变化，产生弯曲衰耗。这就要求在布线施工时，要特别注意给走线预留充足的角度。 3、光缆受压或断裂这是光缆故障中最容易出现的故障，光纤受到外力因素或自然灾害的原因，产生微小的不规则弯曲甚至断裂，当断裂发生在接头盒或光缆内部时，从外表是无法发现断点的，但是在光纤断裂点会发生折射率的变化，甚至会形成反射损耗，使光纤的传输信号质量变差。此时，用OTDR光缆测试仪检测反射峰的方式查找光纤内部弯曲衰耗处或断裂点。 4、光纤接头施工熔接故障在光缆铺设过程中，经常会使用光纤熔接机将两段光纤熔为一条。由于是对光缆纤芯层的玻璃纤维进行熔接，所以在施工现场熔接过程中需要根据光缆的类型正确的使用熔接机，由于操作不符合施工规范以及施工环境的变化，容易使光纤纤维被上沾染污物，从而导致在熔接过程中混入杂质，造成整条链路的通信质量下降。 5、光纤核心线径不同光纤铺设经常使用多种活动连接的铺设方式，例如法兰连接，经常使用在建筑物里的计算机网络铺设中。活动连接一般损耗较低，但活动连接时光纤的端面或法兰的端面不清洁，核心光纤直径不同，接合不严，将会使接头损耗大大增加。通过OTDR 或双端功率进行测试，可以发现核心直径不匹配故障。需要注意的是，单模光纤和多模光纤除了核心光纤直径不同外，光的传输模式、波长和衰耗方式完全不同，所以不能混用。

光波导传输损耗的测量

南昌大学实验报告 学生姓名：刘vv 学号：55023110vv 专业班级：vvvvvv 实验日期：2014/9/24 实验成绩： 光波导传输损耗的测量 波导薄膜中导波光的传输损耗是评价介质平板波导的一个重要参数。传统的测量光波导传输损耗的方法如截断法（Cut-Off Method）和滑动棱镜法（Prism Sliding Method）在测量准确性和方便性方面均存在着较大的问题，难以获得广泛的应用。采用CCD数字成像器件，通过数字成像对光波导内部的传输光强进行测量，可计算得到波导的传输损耗，该方法具有无损、高精度快速测量等优点。 [实验目的] 1．了解CCD数字成像法测量波导传输损耗的原理及实际的测量光路； 2．掌握用于去除散粒噪声的中值滤波图像处理技术； 3．通过传输曲线的拟合计算传输衰减系数。 [实验原理] 1.损耗机理 光波导器件传输损耗主要由以下因素产生：波导材料的散射和吸收引起的损耗；基片的表面光洁度受到抛光工艺的限制；界面的不规则导致导模与辐射模间的耦合而引起的损耗；波导表面弯曲，引起能量辐射造成损耗。 2．测量原理 真实波导由于界面不平整以及波导内部杂质散射，使导模转变为辐射模。可以认为：某一位置散射出来的光强主要受到该点的传输光强、界面不平整程度、杂质多少的影响。整块波导是在特定条件下一次性制备，后两个因素的影响可以认为在整块波导中平均分布，即使由于杂质大小有涨落而出现某点散射光特别强，也可以在后期图像处理中采用数字滤波技术加以消除。因此，散射光强将只和该处的实际传输光强成正比。据此，可以采用数字成像器件CCD对传输线上各点的散射光强进行记录，转换成内部传输光强，拟合出传输衰减曲线并计算衰减系数。 CCD摄像头介绍

多模光纤弯曲损耗

多模光纤的弯曲损耗实验研究 何国财 （吉首大学物理科学与信息工程学院，湖南吉首416000） 摘要：随着光通讯、光网络、光传感技术的发展，光纤已经被广泛应用于上述系统作为信息载体和敏感元件。多模光纤以其结构简单、芯径大、耦合效率高，损耗、色散较大而被广泛应用于小型局域网，局域网的铺设线路上往往弯曲较多。因此，研究弯曲对多模光纤所传输信号的衰减对于合理构建和铺设局域网是十分必要的。 为此，我们实验研究了62.5微米芯径多模石英光纤在相同圈数不同弯曲半径和相同弯曲半径不同圈数情况下的弯曲损耗，得到了如下结论：（1）多模光纤弯曲时有一个4.5厘米到5厘米的临界值。（2）当弯曲半径大于临界值时，弯曲不对损耗产生影响，当弯曲半径小于临界值时，弯曲半径越小则损耗越大；（3）当弯曲圈数到一定程度时，弯曲圈数不影响损耗。 关键词：多模光纤；弯曲损耗；弯曲半径 Experimental study about loss of Multi- molds optical fiber inducing by bending He Guocai (College of Physics Science and Information Engineering, Jishou University, Jishou, Hunan 416000) Abstract：Along with development of the optical communication, the optical network, the optical sensor technology, the optical fiber widely is already applied to the above system as the information carrier and the sensitive unit. Multi-molds optical fiber has been applied widely in the LAN for its simple structure, big core diameter, high coupling efficiency, highly waste and big dispersion. The line of LAN always has many bending, therefore, it is necessary to research the bending waste of the multi- molds optical fiber for constructing reasonably and laying down the LAN. For this，it has been experimental study that the bending loss of 62.5-microns- cores-diameters multi-molds silica fiber has the same number of loop with different radius and has the same radius with different number of loop, obtained the following conclusion: (1) The multi- molds optical fiber have a marginal when has curving 4.5 centimeters to 5 centimeters. (2) The winding radius is bigger than marginal, it is not influence lost. The winding radius is more small the lost more big when the winding radius smaller then

G652D光纤宏弯损耗测试方法(精)

G652D光纤宏弯损耗测试方法 摘要：实现了一种全集成可变带宽中频宽带低通滤波器，讨论分析了跨导放大器-电容(OTA—C)连续时间型滤波器的结构、设计和具体实现，使用外部可编程电路对所设计滤波器带宽进行控制，并利用ADS软件进行电路设计和仿真验证。仿真结果表明，该滤波器带宽的可调范围为1～26 MHz，阻带抑制率大于35 dB，带内波纹小于0．5 dB，采用1．8 V电源，TSMC 0．18μm CMOS工艺库仿真，功耗小于21 mW，频响曲线接近理想状态。关键词：Butte 光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。 而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。 大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。 Φ32mm*1宏弯测试更为简便 两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。 用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。 分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下，对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计，最后将全部数据汇总，得到图2。 从整体数据汇总图可看出，Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1 所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。 10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。

实验二十七、光波导传输损耗的测量

实验二十七、光波导传输损耗的测量 波导薄膜中导波光的传输损耗是评价介质平板波导的一个重要参数。传统的测量光波导传输损耗的方法如截断法（Cut-Off Method ）和滑动棱镜法（Prism Sliding Method ）在测量准确性和方便性方面均存在着较大的问题，难以获得广泛的应用。采用CCD 数字成像器件，通过数字成像对光波导内部的传输光强进行测量，可计算得到波导的传输损耗，该方法具有无损、高精度快速测量等优点。 [实验目的] 1． 了解CCD 数字成像法测量波导传输损耗的原理及实际的测量光路； 2． 掌握用于去除散粒噪声的中值滤波图像处理技术； 3． 通过传输曲线的拟合计算传输衰减系数。 [实验仪器] 1．半导体激光器（650nm ）、偏振棱镜、透镜； 2．待测离子交换光波导片； 3．数字成像器件CCD 和数据采集系统。实验中使用的是自带视频信号输出的CCD 。 [预习提示] 1．光波导的损耗有哪些？ 2．什么是数字滤波技术？ [实验原理] 损耗机理 光波导器件传输损耗主要由以下因素产生：波导材料的散射和吸收引起的损耗；基片的表面光洁度受到抛光工艺的限制；界面的不规则导致导模与辐射模间的耦合而引起的损耗；波导表面弯曲，引起能量辐射造成损耗。 2．测量原理 真实波导由于界面不平整以及波导内部杂质散射，使导模转变为辐射模。可以认为：某一位置散射出来的光强主要受到该点的传输光强、界面不平整程度、杂质多少的影响。整块波导是在特定条件下一次性制备，后两个因素的影响可以认为在整块波导中平均分布，即使由于杂质大小有涨落而出现某点散射光特别强，也可以在后期图像处理中采用数字滤波技术加以消除。因此，散射光强将只和该处的实际传输光强成正比。据此，可以采用数字成像器件CCD 对传输线上各点的散射光强进行记录，转换成内部传输光强，拟合出传输衰减曲线并计算衰减系数。 3．图像噪声的消除 在波导传输线静态数字照片上，对传输光强分布进行研究，发现波导杂散光十分明显，如图1，杂散光相当于噪声必须消除，否则将给传输衰减系数的计算带来很大的误差。 消除数字图像噪声的方法有很多种，本文采用的是均值滤波算法。该算法相当于一个低通滤波器，图像上的每一点均被周围点的加权平均值来代替。即： R e l a t i v e I n t e n s i t y

【CN209842127U】一种弯曲光纤阵列结构【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 (45)授权公告日 (21)申请号 201920527959.9 (22)申请日 2019.04.16 (73)专利权人 虞德庆 地址 523716 广东省东莞市塘厦镇高新科 技工业区高科技四路5号 (72)发明人 虞德庆　 (74)专利代理机构 深圳市创富知识产权代理有 限公司 44367 代理人 彭俊垣　赵素丽 (51)Int.Cl. G02B 6/08(2006.01) (54)实用新型名称 一种弯曲光纤阵列结构 (57)摘要 本实用新型涉及光纤阵列技术领域，尤其涉 及一种弯曲光纤阵列结构，用于将末端剥纤形成 裸纤的带状光纤弯曲形成光纤阵列；包含V槽座、 盖板、底座和压板；所述V槽座的上顶面呈双台阶 结构；所述底座依次包括连接部、抵靠部和自由 部；所述带状光纤的弯曲部抵靠于所述抵靠部； 所述压板与所述自由部连接，并压制于所述带状 光纤的弯曲部上。本实用新型的发明目的在于提 供一种弯曲光纤阵列结构，采用本实用新型提供 的技术方案解决了现有弯曲光纤阵列结构存在 加工难度以及成本高的技术问题。权利要求书1页 说明书4页 附图2页CN 209842127 U 2019.12.24 C N 209842127 U

权　利　要　求　书1/1页CN 209842127 U 1.一种弯曲光纤阵列结构，用于将末端剥纤形成裸纤的带状光纤弯曲形成光纤阵列；其特征在于：包含V槽座、盖板、底座和压板；所述V槽座的上顶面呈双台阶结构，其台阶面自上而下依次为第一台阶面、第二台阶面和第三台阶面；所述带状光纤的裸纤夹持于所述第一台阶面与所述盖板之间；所述第二台阶面承载所述光纤的未剥纤部分；所述第三台阶面部分形成连接端；所述底座依次包括连接部、抵靠部和自由部；所述连接端与连接部连接，令所述V槽座与底座形成L字形；所述带状光纤的弯曲部抵靠于所述抵靠部；所述压板与所述自由部连接，并压制于所述带状光纤的弯曲部上。 2.根据权利要求1所述的弯曲光纤阵列结构，其特征在于：在所述底座的连接部开设有供所述V槽座的连接端插入的连接孔。 3.根据权利要求2所述的弯曲光纤阵列结构，其特征在于：所述底座的抵靠部呈与所述带状光纤的弯曲部匹配的凹弧面；所述压板上与所述凹弧面对应的侧面呈凸弧面。 4.根据权利要求3所述的弯曲光纤阵列结构，其特征在于：在所述底座的自由部的两侧形成有滑槽/滑块；在所述压板上与所述滑槽/滑块对应的位置形成有滑块/滑槽。 5.根据权利要求4所述的弯曲光纤阵列结构，其特征在于：在所述压板的凸弧面的两侧分别延伸形成有卡扣；在所述底座的凹弧面的两侧分别形成有与所述卡扣扣合的卡扣位。 6.根据权利要求5所述的弯曲光纤阵列结构，其特征在于：在所述V槽座的第一台阶面并排形成有用于容置所述裸纤的V槽。 7.根据权利要求6所述的弯曲光纤阵列结构，其特征在于：在所述V槽与盖板之间填充有光学UV胶。 2

LD27L2-超低功耗运算放大器

LD27L2 双通道精密运算放大电路 1、概述 LD27L2是一款有极低失调电压、高输入阻抗、轨对轨的运算放大器电路。主要应用于各种需要使用精密运算放大器的领域，其特点如下： z极低的输入失调电压，典型条件下小于1mV； z超低功耗，静态工作电流小于3uA z宽电压工作范围，1.8V~6.0V z高输入阻抗，典型为1013Ω； z超低的失调点偏移 z单位增益带宽14KHz z封装形式：SOP8 2、功能框图与引脚说明 2. 1、功能框图

2. 2、引脚排列图 2. 3、引脚说明与结构原理图 序号管脚名功能描述 1 OUT1 运放1的输出端 2 IN1‐ 运放1的反向输入端 3 IN1+ 运放1的正向输入端 4 GND 电源地 5 IN2+ 运放2的正向输入端 6 IN2‐ 运放2的反向输入端 7 OUT2 运放2的输出端 8 VDD 电源输入端

3、电特性 3. 1、极限参数 参 数 名 称 符 号 额 定 值 单 位 最大电源电压 IVsmax 6 V 输入电压范围 V I GND-0.3~VDD V 差分输入电压 VDD-GND V 工作环境温度 T amb -40~+85 ℃ 贮存温度 T stg -55~+125 ℃ 3. 2、电特性（VDD=2.2~5V ，T A =25℃） 参 数 名 称 符 号 测 试 条 件规 范 值 单 位最小 典型最大 工作电压 V DD 1.8 - 6.0 V 静态工作电流 I DD - 0.8 3 uA 输入失调电压 V OS - 1 2 mV 输入失调温度系数 -40℃~+85℃ - 1.3 - uV/℃电源抑制 V PSRR - 85 90 dB 输入偏置电流 I B - 1 - pA 输入失调电流 I OS - 1 - pA 共模输入阻抗 Z CM - 1013- Ω 差模输入阻抗 Z DIFF - 1013- Ω 共模输入电压 V CMR GND-0.3- VDD+0.3 V 共模抑制比 CMRR VDD=5V 60 90 - dB 单位增益带宽 B I VI=10mV 14 KHz 输出短路电流 I SC VDD=2.2V - 3 - mA VDD=5V - 20 - mA

弯曲不敏感光纤

弯曲不敏感单模光纤 产品描述 弯曲不敏感单模光纤具有非色散位移单模光纤的各项特性，而在弯曲性能方面性能更加优异，适应于1260nm～1625nm全波段的传输系统。弯曲不敏感单模光纤在长波长段弯曲附件衰减非常小，即使弯曲半径在7.5mm，1625nm窗口附加损耗也仅有0.8dB。 产品图片 产品应用 弯曲不敏感单模光纤可以使用在各种结构的光缆中，尤其是内紧套光缆，是光纤到户、光纤到大楼的首先。 产品特点 弯曲不敏感单模光纤指标优于ITU－T推荐的G.652D/G.657A和IEC60973－2－50B1.3类光纤的技术规范。 弯曲不敏感单模光纤光棒采用VAD工艺制造，确保了光纤折射率剖面的稳定、精确的几何尺寸、极低的弯曲特性。 z完全消除了1383nm水峰吸收，实现了1260nm～1625nm全波长传输； z弯曲性能优异，适用于弯曲半径有要求的特殊场合；

z能够与现有的G.652D光纤兼容； z优良的几何尺寸，确保低的熔接损耗和高的熔接性能； z优异的PMD系数，满足传输系统的长中继距离和高速率。

机械特性 张力筛选 ％ ≥1.02 N ≥9.1 Gpa ≥7.04 涂层剥离力 峰值 N 1.3－8.9 典型平均值 N 1.9 抗拉强度 韦伯尔概率50％ Mpa ≥4000 韦伯尔概率15％ Mpa ≥3050动态疲劳参数Nd ≥20 宏弯损耗 10圈R15mm 1550nm dB ≤0.03 1625nm dB ≤0.1 1圈R10mm 1550nm dB ≤0.1 1625nm dB ≤0.2 1圈R7.5mm 1550nm dB ≤0.4 1625nm dB ≤0.8

聚洵低功耗运算放大器GS8551 GS8552 GS8554

描述： GS8551/GS8552/GS8554放大器是单/双/四电源，微功耗，零漂移CMOS运算放大器，这些放大器提供1.8MHz的带宽，轨至轨输入和输出以及1.8V至5.5V的单电源供电。 GS855X使用斩波稳定技术来提供非常低的失调电压（最大值小于5μV），并且在整个温度范围内漂移接近零。每个放大器的静态电源电流低至180μA，输入偏置电流极低，仅为20pA，因此该器件是低失调，低功耗和高阻抗应用的理想选择。 GS855X提供了出色的CMRR，而没有与传统的互补输入级相关的分频器。该设计为驱动模数转换器带来了卓越的性能 转换器（ADC），而不会降低差分线性度。 GS8551提供SOT23-5和SOP-8封装。 GS8552提供MSOP-8和SOP-8封装。GS8554 Quad具有绿色SOP-14和TSSOP-14封装。在所有电源电压下，-45oC至+ 125oC的扩展温度范围提供了额外的设计灵活性。 特点： + 1.8V?+ 5.5V单电源供电?嵌入式RF抗EMI滤波器 ?轨到轨输入/输出?小型封装： ?增益带宽乘积：1.8MHz（典型@ 25°C）GS8551采用SOT23-5和SOP-8封装?低输入偏置电流：20pA（典型值@ 25°C）GS8552采用MSOP-8和SOP-8封装?低失调电压：30μV（最大@ 25°C）GS8554采用SOP-14和TSSOP-14封装?静态电流：每个放大器180μA（典型值） ?工作温度：-45°C?+ 125°C ?零漂移：0.03μV / oC（典型值） 应用： 换能器应用 ?手持测试设备 ?温度测量 ?电池供电的仪器 ?电子秤

弯曲损耗不敏感单模光纤G657A1

弯曲损耗不敏感单模光纤 G657A1/A2/B2
G657A1 企标 1310nm 衰减系数 1383nm(加氢老化) 1550nm 1625nm 衰减不均匀性 衰减不连续性 衰减波长特性 1310nm、1550nm 1310nm、1550nm 1288~1330nm 1525~1575nm 零色散波长 nm 零色散斜率 光学 传输 性能 色散特性 1288~1339nm 1271~1360nm 1550nm 1625nm 光纤的偏振模色散 光缆截止波长 宏弯损耗（10 圈，30mm） （10 圈，30mm） （1 圈，20mm） （1 圈，20mm） （1 圈，15mm） （1 圈，15mm） 模场直径 翘曲度 包层直径 尺寸 参数 芯/包同心度 包层不圆度 涂层直径 包层/涂层同心度 涂层不圆度 筛选应变 抗拉强度(10m 标距) 机械 性能 抗疲劳参数 Nd 涂层峰值剥离力 N 涂层平均剥离力 N 环 温度循环附加衰减 (-60℃ ～ +85℃) dB/km@1310nm， 境 1550nm, 1625 nm 15% 韦伯断裂概率 50% 韦伯断裂概率 1550nm 1625nm 1550nm 1625nm 1550nm 1625nm 1310nm ≤0.35 ≤0.35 ≤0.21 ≤0.23 ≤0.03 ≤0.03 ≤0.05 ≤0.05 1300~1324 ≤0.092 ≤3.5 ≤5.3 ≤18 ≤22 ≤0.1 ≤1260 ≤0.2dB ≤0.5dB ≤0.3dB ≤1.0dB 8.8± 0.4 ≥4.0 125 ± 0.7 ≤0.5 ≤1.0% 243± 5 ≤8 ≤3% ≥1.05% 2.76 3.45 ≥ 22 1.0~8.9 1.0~5.0 ≤ 0.05 G657A2/B2 企标 ≤0.35 ≤0.35 ≤0.21 ≤0.23 ≤0.05 ≤0.05 ≤0.05 ≤0.05 1300~1324 ≤0.092 ≤3.5 ≤5.3 ≤18 ≤22 ≤0.1 ≤1260 ≤0.03 ≤0.1 ≤0.1 ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 8.6± 0.4 ≥4.0 125 ± 0.7 ≤0.5 ≤1.0% 243± 5 ≤8 ≤3% ≥1.05% 2.76 3.45 ≥ 22 1.0~8.9 1.0~5.0 ≤ 0.05
类别 描述

聚洵低功耗运算放大器GS8591 8592 8594

GS8591/GS8592/GS8594放大器是单/双/四电源，微功耗，零漂移CMOS运算放大器，这些放大器提供4.5MHz的带宽，轨至轨输入和输出以及1.8V至5.5V的单电源供电。 GS859X使用斩波稳定技术来提供非常低的失调电压（最大值小于50μV），并且在整个温度范围内漂移接近零。每个放大器550μA的低静态电源电流和20pA的极低输入偏置电流使这些器件成为低失调，低功耗和高阻抗应用的理想选择。 GS859X提供了出色的CMRR，而没有与传统的互补输入级相关的分频器。这种设计在驱动模数转换器（ADC）方面具有卓越的性能，而不会降低差分线性度。 GS8591提供SOT23-5和SOP-8封装。 GS8592提供MSOP-8和SOP-8封装。GS8594 Quad具有绿色SOP-14和TSSOP-14封装。在所有电源电压下，-45oC 至+ 125oC的扩展温度范围提供了额外的设计灵活性。 特性： + 1.8V?+ 5.5V单电源供电?嵌入式RF抗EMI滤波器 ?轨到轨输入/输出?小型封装： ?增益带宽乘积：4.5MHz（典型@ 25°C）GS8591采用SOT23-5和SOP-8封装?低输入偏置电流：20pA（典型值@ 25°C）GS8592采用MSOP-8和SOP-8封装 ?低失调电压：30μV（最大@ 25°C）GS8594采用SOP-14和TSSOP-14封装?静态电流：每个放大器550μA（典型值） ?工作温度：-45°C?+ 125°C ?零漂移：0.03μV / oC（典型值）

Features ?Single-Supply Operation from +1.8V ~ +5.5V ?Embedded RF Anti-EMI Filter ?Rail-to-Rail Input / Output ?Small Package: ?Gain-Bandwidth Product: 4.5MHz (Typ. @25°C) GS8591 Available in SOT23-5 and SOP-8 Packages ?Low Input Bias Current: 20pA (Typ. @25°C) GS8592 Available in MSOP-8 and SOP-8 Packages ?Low Offset Voltage: 30μV (Max. @25°C) GS8594 Available in SOP-14 and TSSOP-14 Packages ?Quiescent Current: 550μA per Amplifier (Typ.) ?Operating Temperature: -45°C ~ +125°C ?Zero Drift: 0.03μV/o C (Typ.) General Description The GS859X amplifier is single/dual/quad supply, micro-power, zero-drift CMOS operational amplifiers, the amplifiers offer bandwidth of 4.5MHz, rail-to-rail inputs and outputs, and single-supply operation from 1.8V to 5.5V. GS859X uses chopper stabilized technique to provide very low offset voltage (less than 50μV maximum) and near zero drift over temperature. Low quiescent supply current of 550μA per amplifier and very low input bias current of 20pA make the devices an ideal choice for low offset, low power consumption and high impedance applications. The GS859X offers excellent CMRR without the crossover associated with traditional complementary input stages. This design results in superior performance for driving analog-to-digital converters (ADCs) without degradation of differential linearity. The GS8591 is available in SOT23-5 and SOP-8 packages. And the GS8592 is available in MSOP-8 and SOP-8 packages. The GS8594 Quad is available in Green SOP-14 and TSSOP-14 packages. The extended temperature range of -45o C to +125o C over all supply voltages offers additional design flexibility. Applications ?Transducer Application ?Handheld Test Equipment ?Temperature Measurements ?Battery-Powered Instrumentation ?Electronics Scales Pin Configuration Figure 1. Pin Assignment Diagram

浅谈光纤通信传输损耗

浅谈光纤通信传输损耗 摘要：本文主要对光纤传输损耗产生的原因进行分析，并提出了相应的解决对策。 关键词：光纤通信传输耗损 中图分类号：tn818 文献标识码：a 文章编号： 1007-9416(2012)02-0054-01 光纤通信由于其自身的一些优点，因此得到了广泛的使用，因此，在光纤通信中产生的问题，也值得我们去认真思考并加以解决。光纤接续工作，技术复杂、工艺要求高，是对质量标准严格要求的精细工作，也是关系到光纤通信传输质量的重要工作，因此，在施工中，技术人员要充分重视光纤接续时产生的损耗，按照严格标准做好光纤的接续工作，从而降低光缆的附加损耗，提高光纤的传输质量。同时相关的技术人员也要不断的学习相关的专业知识，不断的提升自身的专业技能，在日常的施工工作中注意总结经验教训，不断的提高施工的质量，这也是提高光纤传输效果的一条有效的途径。 1、光纤通信的相关理论 光纤即为光导纤维的简称。光纤通信是以光波作为信息载体，以光纤作为传输媒介的一种通信方式。从原理上看，构成光纤通信的基本物质要素是光纤、光源和光检测器。光纤除了按制造工艺、材料组成以及光学特性进行分类外，在应用中，光纤常按用途进行分

类，可分为通信用光纤和传感用光纤。传输介质光纤又分为通用与专用两种，而功能器件光纤则指用于完成光波的放大、整形、分频、倍频、调制以及光振荡等功能的光纤，并常以某种功能器件的形式出现。 光纤通信的应用在当前主要集中于各种信息的传输与控制上。以互联网的发展为例，传统互联网以电缆为传输工具，速度比较慢，随着90年代美国信息高速公路的建设，现代互联网传输的主体为光纤。去年，我国的有线电视实现了由模拟信号向数字信号的完全转变，有线电视信号的传输也是以光纤的应用为前提的。另外，随着信息化的普及，光纤通信基本已经深入到每个人的生活。除此之外，由于光纤通信具有保密性高、受干扰性能高的优点，其在军事与科技中的应用也十分广泛。当然光纤在实际应用中也有一些缺陷，比如玻璃的质地比较脆，比较容易折断，因此加工难度高，价格也较昂贵，要求的加工工艺与电缆相比也复杂很多。而且由于光纤通信自身存在着传输过程中的光能损耗等问题，因此，对于光纤通信要有全面的认识。 2、光纤传输损耗的种类及原因 光纤在传输中的损耗一般可分为接续损耗和非接续损耗。接续损耗包括由于光纤自身特性引起的固有损耗以及非自身因素(一般为工业加工下艺以及机械的设置)引起的的熔接损耗和活动接头的损耗。非接续损耗包括光纤自身的弯曲损耗和由于施工等因素造成的

光纤损耗有哪些

光纤损耗有哪些 光纤传输相比电缆传输和无线传输而言有众多优势。光纤比电缆更轻、更小、更灵活，而且在长距离传输中，光纤比电缆的传播速度更快。然而，影响光纤传输性能的因素很多，为了确保光纤的性能更好更稳定，这些因素不容忽视。光纤的损耗就是其中之一，它已成为许多工程师在选择和使用光纤时最优先考虑的一个因素。这篇教程将为您详细介绍光纤传输中的光损耗。 光信号经光纤传输后，光的强度会逐渐减弱，与此同时，光信号也会逐渐减弱。光纤传输过程中，光信号的损失就叫做光纤损耗或者光的衰减。所谓损耗是指光纤每单位长度上的衰减，单位为dB/km。为了确保光信号安全有效的传输，就要尽可能地降低光纤的损耗。引起光纤损耗的因素主要有两个：内部因素和外部因素，亦即本征光纤损耗和非本征光纤损耗。 本征光纤损耗 本征光纤损耗是指光纤材料固有的一种损耗，引起本征光纤损耗的因素主要有两个：光的吸收和光的散射。 光的吸收是光纤传输中引起光损耗的主要原因，这是由于光纤材料和杂质对光能的吸收而引起的，因此，光的吸收损耗也被称为光纤材料吸收损耗。实际上，光的吸收是光在传播过程中以热能的形式消耗于光纤中，这是由于分子的共振和波长的掺杂不均匀引起的。完全纯净的的原子只吸收特定波长的光，但是绝对纯净的光纤材料几乎不可能生产出来，所以，光纤制造厂商选择掺杂锗这类含有纯硅的材料来优化光纤的性能。 光的散射是光纤损耗的另一个重要原因。光纤的散射损耗是指在玻璃结构中分子水平上的不规则所造成的光的散射。在光纤线路中，当发生散射时，光能量会向各个方向分散，其中一部分能量沿着线路方向继续前行，而其它方向分散的光能量则会丢失，如下图所示。因此，为了减少散射而引起的光纤损耗，必须消除光纤芯的不完善，并对光纤涂层和挤压进行严格控制。 非本征光纤损耗

低功耗型运算放大器

低功耗型运算放大器是什么意思 作者：佚名来源：https://www.wendangku.net/doc/573272997.html, 发布时间：2010-3-9 15:53:17 [收藏] [评论] 低功耗型运算放大器是什么意思 低功耗型运算放大器的定义 由于电子电路集成化的最大优点是能使复杂电路小型轻便，所以随着便携式仪器应用范围的扩大，必须使用低电源电压供电、低功率消耗的运算放大器相适用。而随着技术的发展和人类资源的的有限,对各种应用电器的节能要求越来越高,这就是低功耗运算放大器产生的原因。 集成运算放大器的选择 集成运算放大器是模拟集成电路中应用最广泛的一种器件。在由运算放大器组成的各种系统中，由于应用 要求不一样，对运算放大器的性能要求也不一样。 在没有特殊要求的场合，尽量选用通用型集成运放，这样即可降低成本，又容易保证货源。当一个系统中使用多个运放时，尽可能选用多运放集成电路，例如LM324、LF347等都是将四个运放封装在一起的集 成电路。 评价集成运放性能的优劣，应看其综合性能。一般用优值系数K来衡量集成运放的优良程度，其定义为： 式中，SR为转换率，单位为V/ms，其值越大，表明运放的交流特性越好；Iib为运放的输入偏置电流，单位是nA；VOS为输入失调电压，单位是mV。Iib和VOS值越小，表明运放的直流特性越好。所以，对于放大音频、视频等交流信号的电路，选SR（转换速率）大的运放比较合适；对于处理微弱的直流信号的电路，选用精度比较的高的运放比较合适（既失调电流、失调电压及温飘均比较小）。

实际选择集成运放时，除优值系数要考虑之外，还应考虑其他因素。例如信号源的性质，是电压源还是电流源；负载的性质，集成运放输出电压和电流的是否满足要求；环境条件，集成运放允许工作范围、工作 电压范围、功耗与体积等因素是否满足要求。 低功耗型运算放大器的特点 低功耗型运算放大器的特点是通过在IC外部连接上电阻或恒流源就能适当的调整电源电流,同时也就得到各种不同的参数.在正负3到正负18V都可以工作其还可以作为能用运算放大器来使用。 低功耗型运算放大器的应用 适合于干电池供电条件下的设备使用. 可在低电源电压供电、低功率消耗的运算放大器中应用适用。

弯曲波导结构设计

实验三：弯曲波导结构设计 一、实验目的： 1、 掌握弯曲波导的结构、工作原理 2、 了解弯曲波导的分析方法及其仿真技术 二、实验原理： 在以玻璃为代表的透明介质衬底的表面上，附着上折射率比衬底略高、厚度可以与光波长相比较的薄膜，光就会被封闭于这种高折射率的薄膜层内构成波导。在二维光波导的情况下，只有沿厚度方向对光是封闭的，因此波导中的光可以沿表面自由传播。这么一来光就有可能因为衍射而被全部散失掉。但是，实际上利用光波导组成光调制器和光开关的时候，光沿表面方向也必须是封闭的，光波的分路、弯曲、耦合等也必须都能够控制，这就是三维光波导。 作为变换光路用的三维光波导器件，弯曲波导占据重要地位。其中，弯曲半径R 越小，传输距离越短，越容易产生光路变换。但是弯曲波导的损耗随着弯曲半径R 的减小而增加。图1表示弯曲部分的导模场分布。在弯曲波导中，为了使光波在传输过程中，其波面不被破坏，弯曲部分外侧波导光的相速度必须大于内侧波导光的相速度。因此，在弯曲外侧所看到的光波中，在c r r ≥部分的相速度会超过光速。这就意味着在c r r ≥部分的光波在半径方向上存在着辐射损耗。当设计弯曲波导时，正确评估这部分辐射损耗至关重要。假定在弯曲部分伴随着辐射而造成的波导光衰减常数为a ，在1<

模，这种场分布现象与波导的直线部分的场分布是不同的。由此而产生了弯曲部分入口处的场分布不匹配，入射光的部分功率辐射进衬底，这种损耗叫做模变换损耗，它与辐射损耗一起构成了决定弯曲波导损耗的主要原因。 三、实验内容： 利用设计一个弯曲波导并观察并分析相关结果。 四、实验方法： 1、创建材料库： 材料库参数： Materials－Dielectric1： Name: cladding 2D Isotropic Refractive ： 3D Isotropic Refractive ： Name: guide 2D Isotropic Refractive ： 3D Isotropic Refractive ： Profiles－Channel： Name: channel 2D Profile definition material: guide

光纤传输损耗及其解决方法

光纤传输损耗及其解决方法 光纤的传输损耗特性是决定光网络传输距离、传输稳定性和可靠性的最重要因素之一。光纤传输损耗的产生原因是多方面的，在光纤通信网络的建设和维护中，最值得关注的是光纤使用中引起传输损耗的原因以及如何减少这些损耗。光纤使用中引起的传输损耗主要有接续损耗（光纤的固有损耗、熔接损耗和活动接头损耗）和非接续损耗（弯曲损耗和其它施工因素和应用环境所造成的损耗）两类。 1、接续损耗及其解决方案 1.1接续损耗 光纤的接续损耗主要包括：光纤本征因素造成的固有损耗和非本征因素造成的熔接损耗及活动接头损耗三种。 （1）光纤固有损耗： 主要源于光纤模场直径不一致；光纤芯径失配；纤芯截面不圆；纤芯与包层同心度不佳四点；其中影响最大的是模场直径不一致。 （2）熔接损耗： 非本征因素的熔接损耗主要由轴向错位；轴心（折角）倾斜；端面分离（间隙）；光纤端面不完整；折射率差；光纤端面不清洁以及接续人员操作水平、操作步骤、熔接机电极清洁程度、熔接参数设置、工作环境清洁程度等其他因素造成。 （3）活动接头损耗： 非本征因素的活动接头损耗主要由活动连接器质量差、接触不良、不清洁以及与熔接损耗相同的一些因素（如轴向错位、端面间隙、折角、折射率差等）造成。 1.2 解决接续损耗的方案 （1）工程设计、施工和维护工作中应选用特性一致的优质光纤。一条线路上尽量采用同一批次的优质名牌裸纤，以求光纤的特性尽量匹配，使模场直径对光纤熔接损耗的影响降到最低程度。 （2）光缆施工时应严格按规程和要求进行： 配盘时尽量做到整盘配置（单盘≥500米），以尽量减少接头数量。敷设时严格按缆盘编号和端别顺序布放，使损耗值达到最小。（3）挑选经验丰富训练有素的接续人员进行接续和测试： 接续人员的水平直接影响接续损耗的大小，接续人员应严格按照光纤熔接工艺流程进行接续，严格控制接头损耗，熔接过程中时刻使用光域反射仪（OTDR）进行监测（接续损耗≤0.08dB/个），不符合要求的应重新熔接。使用光时域反射仪（OTDR）时，应从两个方向测量接头的损耗，并求出这两个结果的平均值，消除单向OTDR测量的人为因素误差。 （4）保证接续环境符合要求： 严禁在多尘及潮湿的环境中露天操作，光缆接续部位及工具、材料应保持清洁，不得让光纤接头受潮，准备切割的光纤必须清洁，不得有污物。切割后光纤不得在空气中暴露时间过长尤其是在多尘潮湿的环境中。接续环境温度过低时，应采取必要的升温措施。 （5）制备完善的光纤端面： 光纤端面的制备是光纤接续最为关键的工序。光纤端面的完善与否是决定光纤接续损耗的重要原因之一。优质的端面应平整，无毛刺、无缺损，且与轴线垂直，光纤端面的轴线倾角应小于0.3度，呈现一个光滑平整的镜面，且保持清洁，避免灰尘污染。应选用优质的切割刀，并正确使用切割刀切割光纤。裸纤的清洁、切割和熔接应紧密衔接，不可间隔过长。移动光纤时要轻拿轻放，防止与其他物件擦碰而损伤光纤端面。 （6）正确使用熔接机： 正确使用熔接机是降低光纤接续损耗的重要保证和关键环节。 ①应严格按照熔接机的操作说明和操作流程，正确操作熔接机。 ②合理放置光纤，将光纤放置到熔接机的V型槽中时，动作要轻巧。这是因为对纤芯直径为10 nm的单模光纤而言，若要熔接损耗小于0.1dB，则光纤轴线的径向偏移要小于0.8nm。 ③根据光纤类型正确合理地设置熔接参数（预放电电流、时间及主放电电流、主放电时间等）。 ④在使用中和使用后应及时去除熔接机中的灰尘（特别是夹具、各镜面和ｖ型槽内的粉尘和光纤碎末）。