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三维面形测量系统的基本原理

三维面形测量系统的基本原理
三维面形测量系统的基本原理

三维面型测量细棒的直径

一、实验目的

(1)了解三维面型测量的基本原理和方法,熟悉傅立叶变换剖面术的方法,

(2)通过对物体的三维面形的重建,掌握三维目标的识别、位置形状分析及origin75的使用方法。

(3)能够根据携带有三维面形信息的观察光场中解调得出三维面形数据。

(4)掌握利用三维传感非接触测量的基本方法。

二、三维面型的测量原理

光学三维传感在机器视觉、自动加工、工业在线检测、实物仿形、生物医学等领域,具

有重要意义和广阔应用前景。获取物体三维信息的基本方法可以分为两大类:被动三维传感和主动三维传感。被动三维传感采用非结构照明方式,从一个或多个观察系统获取的二维图像中确定第三维(距离维)信息,形成三维面型数据。从一个观察系统获取的二维图像中确定距离维时,人们必须依赖对于物体形态、光照条件等的先验知识。从两个或多个观察系统获取的不同视觉方向的二维图像中,通过相关或匹配等运算可以重建物体的三维面形,但这种方法要求大量的数据运算,而且,当被测物体上各点的反射率没有明显差异时这种计算变得更加困难。因此,被动三维传感的方法常常用于对三维目标的识别、理解以及位置形状分析。

一种更适合于计算目的的三维传感方法是主动三维传感。主动三维传感采用结构照明方

式,由于三维面形对结构光场的空间或时间调制,可以从携带有三维面形信息的观察光场中解调得出三维面形数据。由于这种方法具有较高的测量精度,作为一种三维面貌计量手段已经得到广泛的应用。

三维面形自动测量仪是基于上述研究的计算机辅助三维测量设备,设计新颖,技术先进,

配有丰富的软件,可对各种复杂面形的工业零件、叶轮、叶片,实物模型进行高速度、高精度面形自动测量,广泛用于实物仿形,工业检测,机器视觉,产品质量控制,三维信息存贮,三维数字全息,影视特技,三维动画等众多领域。系统软件在 Windows 平台上运行,具有中文菜单,操作十分方便。三维面形测量仪已在国内推广使用,并已出口到美国。

三维面形测量的基本方法主要有:(1)飞行时间法;(2)激光三角测量法;(3)付里叶

变换方法;(4)位相测量方法;(5)空间位相检测法;(6)莫尔轮廓术。在上述方法中,位相测量方法由于速度较快,精度较高,是一种比较理想的复杂面形测量方法。

三、采用位相测量原理的三维面形测量方法

傅里叶变换轮廓术测量系统的光路原理如图所示。图中Ep ’Ep 是投射系统的光轴,Ec ’Ec 是成像系统光轴,两光轴相交于参考平面R 上的O 点。朗奇光栅G 的栅线垂直于EpEcO 平面,光栅像被投影系统投影在待测物体表面。由于物体面形的调制,观察系统得到变形的光栅

像,S 是就收变形光栅像的面阵检测器。由成像系统得到的变形光栅像可以记为 g(x.y)= r(x,y) )]},(2[exp{0y x n x nf j Am φπ+∑ (1)

式中,f0是光栅像的基频,r(x,y)是物体表面非均匀的反射率,φ(x,y )是物体高度

分布引起的相应调制,即

BD f y x 02),(πφ= (2)

当h(z,y)=0,即对参考平面R 测量时,变形光栅像为

),(0y x g = )]},(2[exp{00y x n x nf j An φπ+∑ (3)

图2

式中BC f y x 02),(πφ=。对(1)的变形光栅像进行一维傅里叶变换,对于某一固定的y 坐标,其傅里叶变换谱如图2所示. 再对频谱滤波,取出图中所示的基频分量,然后做傅里叶逆变换,光场分布变为

g(x.y) = )]},(2[exp{),(01y x x f j y x r A φπ+ (4)

对式(3)进行相同的运算,得到

),(0y x g =)]},(2[exp{),(01y x x f j y x r A φπ+ (5)

φ0(x,y)是由于投影系统的出瞳Ep 在有限远所引入的附加相位调制,这时结构光场的照明是发散的。 当投影系统的出瞳位于无穷远时,在参考平面上的相位分布时线性的,

附加相位调制φ0(x,y)等于零。在这种情况下,图1中入射线Ep A 变为EA ,即与光轴Ep O 平行。对于发散照明情况,单纯由高度引起的相位调制△),(y x φ为

△),(y x φ = ),(y x φ -φ0(x,y) = CD f 02π (6)

这一相位调制可以从(4)和式(5)通过下列运算得到:

△),(y x φ = )]},(),([Im{*0*y x g y x g In (7)

式中,*表示共轭运算,Im{} 表示取复数的虚部。利用三角形 △HCD 和 △HEpEc 的相位关系,可以得到所需的三维面形h(x,y)为 h(x,y) = d f 2-y)(x,△ y)(x, △00πφφl (8)

四、测量原理的主要特点

基于位相测量的三维面形测量方法,具有非接触,大数据量(例如:512×512点),测量速度快,精度高等特点,特别是可用于复杂面形的测量,这是任何常规接触式测量工具所无法比拟的。

但是,这种光学非接触测量方法也有一些局限性。(1)与常规计量工具相比具有较低的精度;(2)物体必须有漫反射表面,表面反射率比较均匀;(3)物体表面的局部起伏不能太大,以免产生阴影,局部起伏较大的区域和阴影区的数据是不可靠的。

由于这种测量方法的特点和局限性,因此该方法常用于测量那些常规计量无法解决的复杂三维漫反射表面。

三维面形自动测量仪主要性能指标:

1.测量范围:200 x 200 mm

2.被测深度:50mm

3.精度: 0.2 mm

4.采样速度:30秒

5.自动校准

6.基本软件:

·自动校准,自动测量,立体图形显示、剖面显示,高度假彩色编码等功能的集成系统软件

基本配置:

1)仪器主体

2)电子控制箱

3)图像板

4)电控平移台

5)软件包

五、实验步骤

1、按图1所示光路图搭建光路。

2、打开OE-3D 软件,选择“文件”下的“单CCD 捕获图像”然后再选择CCD 型号为 “P2V_DEF-CC512*512P ”端口号为“Port 6”调节CCD 镜头的焦距,使参考平面上的光栅

条纹在计算机上清晰可见。并依次点击“获取图像”、“停止捕获”、“抓图”、“保存”。最终得到参考平面的图像。如图2所示:

图2 参考平面光栅条纹

3、将细金属棒放在参考平面上,重复第二步,得到物平面的图像,如图3所示:

图3 物平面光栅条纹

4、获得两幅图像后再进行图像处理,点击菜单栏的“条文处理”,点击“傅氏变换”得到傅里叶变换的级图,我们选择正一级,再进行“滤波处理”得到下图:

图4

调整X将正一级条纹的有用信息的选择在红色线条内,然后调节Y使红色线条处于适当位置。

5、再对图片依次进行“逆傅氏变换”,“设置模板”我们适当设置“调制度阙值”通常在32-36左右。接着进行几点连接,除去一些不可靠的点。最后进行“相位展开”即得到细棒

的相位图,如下图所示:

图五

6、接下来我们OriginPro7.5对其进行相位分析。点击“F ile文件”,到“Open”,将已经保存

的图像调入显示。再选择“Plot”工具中的“profiles/Image”。适当移动坐标轴就可以得到下

图。

图6

7、再在菜单栏选择“Edit”下的“Conver to worksheet”得到光阑的灰度矩阵。读数时,对于某一固定y,读出一系列x值,数据将是一矩阵,第三维则是灰度。在参考平面内选取

一行数据,再在棒的顶端选取一行数据。然后我们可以得到灰度曲线图如下:

8

由上表可得平均像素点之差为6,参考平面上的一个周期的像素点之差为28.7。

六、数据处理

由螺旋测微器测得细棒的直径为6.22mm 。

物距0l =97.5cm ,CCD 镜头与光栅前的镜头距离d=13.6cm

由表1可知光栅的一个周期所间隔的像素点个数为28.7,那么单位像素所对应的相位为:

2π/28.7=0.21892632

由此可得加上细棒后光栅条纹相位变化为:

△),(y x φ=2*6π/28.7=1.31355792

空间频为:20=f .4

将以上数据代入(8)式,即可得到细棒的三维面型的高度h (x ,y ),即细棒直径。如下所示: h(x,y) = d f 2-y)(x,△ y)(x, △00πφφl

=97.5×1.31355792/|(1.31355792-2×3.1415926×2.4×13.6)|

=0.628513cm=6.28513mm

由上述计算可知实验测得的结果与用螺旋测微器测得的结果基本一致。

七、实验总结

1、在光路的调节过程中要注意光源的光,不要让他不通过光栅直接照射到参考平面上,因为这样会导致参考平面的灰度不统一,从而在傅里叶变换时得到的相位图效果不好。

2、在调节光路时通常以在计算机屏幕上得到清晰条纹为目标。

3、在图像处理过程中也要注意选择适当的参数值,这样才能得到最好的相位灰度图。

基于结构光的微小物体三维测量系统的设计及应用

基于结构光的微小物体三维测量系统的设计及应用针对微小物体的三维轮廓测量是现代三维形貌测量的一个重要分支领域。自从上世纪六十年代在国外被首次提出后,国内外研究学者经过几十年的不断研究和发展,与其相关的测量技术与测量设备也获得了高速发展,进入21世纪以后,其被广泛应用于缺陷检测、精密制造、虚拟现实(VR)、机器视觉、医疗工程、影音游戏、三维打印以及现代教育等众多领域。但与国外现有的测量技术与设备相比较,国内目前还处在相对落后的局面。因此,研制出测量精度高、测量速度快、微型化以及更加智能化的微小物体三维轮廓测量系统迫在眉睫。 根据上述情况,本文针对微小物体的三维轮廓测量从两个方向展开研究。一方面,基于正弦光栅条纹投影和光学三角法的三维测量方法进行研究。另一方面,着眼于以体视显微镜和双远心镜头为主体的硬件测量系统的设计与搭建。具体研究内容如下:(1)针对微小物体的三维轮廓测量现有方法以及研究现状系统地调研。 对常规方法存在的问题进行归纳总结,明确了微小物体测量面临的困难与挑战。本文将从硬件系统搭建以及算法实现两个方面进行研究改进。(2)设计与搭建以体视显微镜和双远心镜头为主体的硬件测量系统。因体视显微镜可实现物体的立体成像,可观察区域范围大;双远心镜头因分辨率高,低畸变,景深大,在成像时能最大限度还原物体的形状信息。 因此,测量系统采用体视显微镜和双远心镜头为主体结构设计并搭建了测量系统,结合基于光学三角原理的正弦光栅条纹投影三维测量方法,在经过系统标定后,能顺利获取被测物体的三维轮廓信息,测量系统的视场范围可达 1.8cm*1.6 cm。(3)基于正弦光栅条纹投影和光学三角法的三维测量方法进行研究。本文选用无损伤、精度高、速度快、易实现的正弦光栅条纹投影结合光学三角法对微小物体表面的三维轮廓进行测量,详细阐述了其测量原理,提出了一种基于质量图引导的相位解包裹改进算法——可靠路径跟踪算法,在满足测量精度要求下,提高了系统整体测量速度;针对系统标定,基于一般成像模型引入了摄像机标定与系统标定方法,深入阐述了摄像机标定和系统标定的方法理论,完成了测量系统的整体标定。基于C++与MATLAB实现了相关算法。 进行了大量相关实验,验证了该测量方法的稳定性和有效性,实验结果表明

光学非接触式三维测量技术_图文

光学非接触式三维测量技术_图文 光学三维测量技术及应用 摘要:随着现代科学技术的发展,光学三维测量已经在越来越广泛的领域起到了重要作用。本文主要对接触式三维测量和非接触式三维测量进行了介绍。着重介绍了光学三维测量技术的各种实现方法及原理。最后对目前光学三维测量的应用进行了简单介绍。 随着科学技术和工业的发展,三维测量技术在自动化生产、质量控制、机器人视觉、反求工程、CAD/CAM以及生物医学工程等方面的应用日益重要。传统的接触式测量技术存在 测量时间长、需进行测头半径的补偿、不能测量弹性或脆性材料等局限性,因而不能满足现代工业发展的需要。。 光学测量是光电技术与机械测量结合的高科技。光学测量主要应用在现代工业检测。借用计算机技术,可以实现快速,准确的测量。方便记录,存储,打印,查询等等功能。 光学三维测量技术是集光、机、电和计算机技术于一体的智能化、可视化的高新技术,主要用于对物体空间外形和结构进行扫描,以得到物体的三维轮廓,获得物体表面点的三维空间坐标。随着现代检测技术的进步,特别是随着激光技术、计算机技术以及图像处理技术等高新技术的发展,三维测量技术逐步成为人们的研究重点。光学三维测量技术由于非接触、快速测量、精度高的优点在机械、汽车、航空航天等制造工业及服装、玩具、制鞋等民用工业得到广泛的应用。 2 三维测量技术方法及分类 三维测量技术是获取物体表面各点空间坐标的技术,主要包括接触式和非接触式测量两大类。如图1所示。 图1 三维测量技术分类 2.1 接触式测量 物体三维接触式测量的典型代表是坐标测量机(CMM,Coordinate Measuring Machine)。CMM是一种大型精密的三坐标测量仪器[1],它以精密机械为基础,综合应用电子、计算机、光学和数控等先进技术,能对三维复杂工件的尺寸、形状和相对位置进行高精度的测量。 三坐标测量机作为现代大型精密、综合测量仪器,有其显著的优点,包括: (1)灵活性强,可实现空间坐标点测量,方便地测量各种零件的三维轮廓尺寸及位置参数;(2)测量精度高且可靠;(3)可方便地进行数字运算与程序控制,有很高的智能 化程度。

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面结构光三维测量系统的精度研究

华中科技大学 硕士学位论文 面结构光三维测量系统的精度研究 姓名:杜宪 申请学位级别:硕士 专业:材料加工工程 指导教师:王从军 20090522

华中科技大学硕士学位论文 摘要 结构光测量系统在工业检测、人体测量、文物保护和反求工程等众多领域具有广泛的应用前景。国外的面结构光三维测量技术已相对成熟,但设备价格昂贵。国内也有一些单位开展了相关研究,但普遍存在着精度不高、稳定性差等缺点。为此,本文在简要介绍结构光三维测量技术原理的基础上,系统分析了光栅条纹数和数字光栅投影装置的伽马非线性对测量精度的影响,以期进一步提高课题组前期开发的三维测量系统的精度。 面结构光三维测量系统,首先使用相移法和多频外差原理进行稳定高精度的相位计算;然后根据预先标定的系统参数,从得到的相位灰度图重构出被测物体的三维点云数据。 由三维重构过程可知,光栅周期数的增加可以降低立体匹配的误差,本文通过理论推导和实验研究,分析了不同光栅周期数对系统测量精度的影响,并为系统选择了一个最优的光栅周期数。当周期数为110~120时,系统的测量精度最高,滤波后可达0.037mm。 此外,三维重构的精度还与相位计算的精度有关,根据现有研究,投影仪的伽马非线性是相位误差的主要来源。本文分析了不同伽马值和不同条纹周期数的测量精度,发现条纹周期数抑制了伽马非线性,提高了相位计算的精度。 最后,通过分析不同距离的平面精度、拟合标准球直径及距离等测量实验,表明系统的测量精度稳定可靠,绝对测量精度可达0.05mm。 关键词:结构光;光栅周期数;误差;非线性

华中科技大学硕士学位论文 Abstract Structured Light Measurement System (SLMS) is widely used in many fields such as industrial inspection, human body measurement, Protection of Cultural Relics and reverse engineering etc. In abroad, SLMS is well developped, but they are always expensive. In China, lots of research work has been made on it, but they are poor in accuracy and stability. So, this paper, which is based on a brief introduction of the structured light measurement technology, analyzes the impact of the period number of fringe pattern and gamma non-linear of Digital Projector, attempt to further improve the precision of pre-development measurement system. In our SLMS, phase-shifting method and multi-frequency heterodyne principle were imployed to obtain phrase gray map, then 3D data could be reconstructed base on the pre-calibrated parameters. According to the process of 3D reconstruction, we found that the increase of the period number of fringe pattern can reduce the error. So this paper analyzed the relationship between period number of fringe pattern and accuracy through theoretical research and experiments. Then we can conclude that the optimal period number is 110~120 and the SLMS gets the highest precision which is up to 0.037mm after filtering. In addition, the calculated phase value can also affect the accuracy of 3D reconstruction. According to research, gamma non-linear of projector is the main error source of the phase error. This paper analyzes 3D date by using different gamma values and different the period numbers of fringe pattern, then found that the period number of fringe pattern can inhibit the effect of the gamma non-linear of projector and improved the accuracy of the phase calculation. Finally, a series of measurement experiment, such as analyses of the accuracy in different distance and fitting diameter and distance of the standard ball, shows that the accuracy of system is stable and repeatability and the absolute measurement accuracy is 0.05mm. Key words: Structured light; Period number of fringe pattern; Error; Non-linear

光学三维测量技术综述精选文档

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附红外吸收光谱(IR)的基本原理及应用 一、红外吸收光谱的历史 太阳光透过三棱镜时,能够分解成红、橙、黄、绿、蓝、紫的光谱带;1800年,发现在红光的外面,温度会升高。这样就发现了具有热效应的红外线。红外线和可见光一样,具有反射、色散、衍射、干涉、偏振等性质;它的传播速度和可见光一样,只是波长不同,是电磁波总谱中的一部分。(图一)、波长范围在0.7微米到大约1000微米左右。红外区又可以进一步划分为近红外区<0.7到2微米,基频红外区(也称指纹区,2至25微米)和远红外区(25微米至1000微米)三个部分。 1881年以后,人们发现了物质对不同波长的红外线具有不同程度的吸收,二十世纪初,测量了各种无机物和有机物对红外辐射的吸收情况,并提出了物质吸收的辐射波长与化学结构的关系,逐渐积累了大量的资料;与此同时,分子的振动――转动光谱的研究逐步深入,确立了物质分子对红外光吸收的基本理论,为红外光谱学奠定了基础。1940年以后,红外光谱成为化学和物理研究的重要工具。今年来,干涉仪、计算机和激光光源和红外光谱相结合,诞生了计算机-红外分光光度计、傅立叶红外光谱仪和激光红外光谱仪,开创了崭新的红外光谱领域,促进了红外理论的发展和红外光谱的应用。 二、红外吸收的本质 物质处于不停的运动状态之中,分子经光照射后,就吸收了光能,运动状态从基态跃迁到高能态的激发态。分子的运动能量是量子化的,它不能占有任意的能量,被分子吸收的光子,其能量等于分子动能的两种能量级之差,否则不能被吸收。 分子所吸收的能量可由下式表示: E=hυ=hc/λ 式中,E为光子的能量,h为普朗克常数,υ为光子的频率,c为光速,λ为波长。由此可见,光子的能量与频率成正比,与波长成反比。 分子吸收光子以后,依光子能量的大小,可以引起转动、振动和电子能阶的跃迁,红外光谱就是由于分子的振动和转动引起的,又称振-转光谱。

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pH测量的基本原理: 用于确定化学反应过程的最熟悉最古老的零电流测量方法恐怕就是PH测量。 什么是pH,对于PH测量应该知道些什么? 一般来讲,pH测量就是用来确定某种溶液的酸碱度。 在水中加入酸,水的酸度便会提高,而PH值降低。在水中加入碱,水的碱度便会提高,而PH值是用来表示酸碱度的单位。 当我们讲牛奶是“凉”的或酸是“弱”的时,并不是确定表示事物的状况,这是因为我们没有说出测量单位和测量值。而当我们讲牛奶的温度是10℃,则是一个确切的概念。同样的当我们讲弱酸的pH值为5.2,这也是一个确切的概念。 世界上有各种各样具有不同酸碱强度的酸和碱。例如:盐酸就是一种很强的酸,而硼酸则很弱(可以用来冲洗眼睛和伤口)。 决定酸的强弱程度,主要看氢离子在溶液中离解的多少。强酸中氢离子离解的很广泛,弱酸中则离解的很少。盐酸之所以成为强酸,是因为氯使氢离子几乎完全离解了出来。硼酸之所以是弱酸,是因为只有很少氢离子离解出来。即使化学纯水也有微量被离解:严格地讲,只有在与水分子水合作以前,氢核不是以自由态存在。 H2O+H2O=H3O-+OH- 由于水合氢离子(H3O)的浓度可与氢离子(H)浓度等同看待,上式可以简化成下述常用的形式: H2O=H++OH- 此处正的氢离子人们在化学中表示为“H+离子”或“氢核”。水合氢核表示为“水合氢离子”。负的氢氧根离子称为“氢氧化物离子”。利用质量作用定律,对于纯水的离解可以找到一平衡常数加以表示: K= H3O+·OH- H2O 由于水只有极少量被离解,因此水的克分子浓度实际上为一常数,并且有平衡常数K可求出水的离子积KW。 KW=K×H2O KW = H3O+·OH-=10-7·10-7=10mol/l(25℃) 也就是说,对于一升纯水在25℃时存在10-7摩尔H3O-离子和10-7摩尔OH-离子。为了免于用此克分子浓度负冥指数进行运算,生物学家泽伦森(Soernsen)在1909年建议将此不便使用的数值用对数代替,并定义为“ pH值”。数学上定义pH值为氢离子浓度的常用对数的负值。即: pH=-logH+ 严格地讲,此公式忽略了氢离子(H+)和氢氧根离子(OH-)的交互作用,因为在离子

三维激光扫描仪的原理与其应用

三维激光扫描仪 2.1三维激光扫描仪研究背景 自上个世纪60年代激光技术已经开始出现,激光技术以其单一性和高聚积度在20世纪获得巨大发展。实现了从一维到二维直至今天广泛应用的三维测量的发展,实现了无合作目标的快速高精度测量。而且数字地球,数字城市等一系列概念的提出,我们可以看到:信息表达从二维到三维方向的转化,从静态到动态的过渡将是推动我国信息化建设和社会经资源环境可持续发展的重要武器。目前,各种各样的三维数据获取工具和手段不断地涌现,推动着三维空间数据获取向着实时化、集成化、数字化、动态化和智能化的方向不断地发展,三维建模和曲面重构的应用也越来越广泛[1]。传统的测绘技术主要是单点精确测量,难以满足建模中所需要的精度、数量以及速度的要求。而三维激光扫描技术采用的是现代高精度传感技术,它可以采用无接触方式,能够深入到复杂的现场环境及空间中进行扫描操作。可以直接获取各种实体或实景的三维数据,得到被测物体表面的采样点集合“点云”,具有快速、简便、准确的特点。基于点云模型的数据和距离影像数据可以快速重构出目标的三维模型,并能获得三维空间的线、面、体等各种实验数据,如测绘、计量、分析、仿真、模拟、展示、监测、虚拟现实等。 其中,地面三维激光扫描技术的研究,已经成为测绘领域中的一个新的研究热点。它采用非接触式高速激光测量的方式,能够获取复杂物体的几何图形数据和影像数据,最终由后处理数据的软件对采集的点云数据和影像数据进行处理,并转换成绝对坐标系中的空间位置坐标或模型,能以多种不同的格式输出,满足空间信息数据库的数据源和不同项目的需要。目前这项技术已经广泛应用到文物的保护、建筑物的变形监测、三维数字地球和城市的场景重建、堆积物的测定等多个方面。 2.2 三维激光扫描技术研究现状 2.2.1 主要的三维激光扫描仪介绍 随着三维激光扫描技术研究领域的不断扩大,生产扫描仪的商家也越来越多。主要的有瑞士Leica公司,美国的FARO公司和3D DIGITAL公司、奥地利的RIGEL公司、加拿大的OpTech公司、法国MENSI公司、中国的北京荣创兴业科技发展公司等。这些扫描仪在扫描距离、扫描精度、点间距和数量、光斑点的大小等指标有所不同[2]。主要的分类见图1-1和表1-1。

光学非接触式三维测量技术

光学三维测量技术及应用 摘要:随着现代科学技术的发展,光学三维测量已经在越来越广泛的领域起到了重要作用。本文主要对接触式三维测量和非接触式三维测量进行了介绍。着重介绍了光学三维测量技术的各种实现方法及原理。最后对目前光学三维测量的应用进行了简单介绍。 1 引言 随着科学技术和工业的发展,三维测量技术在自动化生产、质量控制、机器人视觉、反求工程、CAD/CAM以及生物医学工程等方面的应用日益重要。传统的接触式测量技术存在测量时间长、需进行测头半径的补偿、不能测量弹性或脆性材料等局限性,因而不能满足现代工业发展的需要。。 光学测量是光电技术与机械测量结合的高科技。光学测量主要应用在现代工业检测。借用计算机技术,可以实现快速,准确的测量。方便记录,存储,打印,查询等等功能。 光学三维测量技术是集光、机、电和计算机技术于一体的智能化、可视化的高新技术,主要用于对物体空间外形和结构进行扫描,以得到物体的三维轮廓,获得物体表面点的三维空间坐标。随着现代检测技术的进步,特别是随着激光技术、计算机技术以及图像处理技术等高新技术的发展,三维测量技术逐步成为人们的研究重点。光学三维测量技术由于非接触、快速测量、精度高的优点在机械、汽车、航空航天等制造工业及服装、玩具、制鞋等民用工业得到广泛的应用。 2 三维测量技术方法及分类 三维测量技术是获取物体表面各点空间坐标的技术,主要包括接触式和非接触式测量两大类。如图1所示。 图1 三维测量技术分类

2.1 接触式测量 物体三维接触式测量的典型代表是坐标测量机(CMM,Coordinate Measuring Machine)。CMM是一种大型精密的三坐标测量仪器[1],它以精密机械为基础,综合应用电子、计算机、光学和数控等先进技术,能对三维复杂工件的尺寸、形状和相对位置进行高精度的测量。 三坐标测量机作为现代大型精密、综合测量仪器,有其显著的优点,包括:(1)灵活性强,可实现空间坐标点测量,方便地测量各种零件的三维轮廓尺寸及位置参数;(2)测量精度高且可靠;(3)可方便地进行数字运算与程序控制,有很高的智能化程度。 早期的坐标测量机大多使用固定刚性测头,它最为简单,缺点也很多[2]。主要为(1)测量时操作人员凭手的感觉来保证测头与工件的接触压力,这往往因人而异且与读数之间很难定量描述;(2)刚性测头为非反馈型测头,不能用于数控坐标测量机上;(3)必须对测头半径进行三维补偿才能得到真实的实物表面数据。针对上述缺陷,人们陆续开发出各种电感式、电容式反馈型微位移测头,解决了数控坐标测量机自动测量的难题,但测量时测头与被测物之间仍存在一定的接触压力,对柔软物体的测量必然导致测量误差。另外测头半径三维补偿问题依然存在。三维测头的出现可以相对容易地解决测头半径三维补偿的难题,但三维测头仍存在接触压力,对不可触及的表面(如软表面,精密的光滑表面等)无法测量,而且测头的扫描速度受到机械限制,测量效率很低,不适合大范围测量。 2.2 非接触式测量 非接触式测量技术是随着近年来光学和电子元件的广泛应用而发展起来的,其测量基于光学原理,具有高效率、无破坏性、工作距离大等特点,可以对物体进行静态或动态的测量。此类技术应用在产品质量检测和工艺控制中,可大大节约生产成本,缩短产品的研制周期,大大提高产品的质量,因而倍受人们的青睐。随着各种高性能器件如半导体激光器LD、电荷耦合器件CCD、CMOS图像传感器和位置敏感传感器PSD等的出现,新型三维传感器不断出现,其性能也大幅度提高,光学非接触测量技术得到迅猛的发展。 非接触式三维测量不需要与待测物体接触,可以远距离非破坏性地对待测物体进行测量。其中,光学非接触式测量是非接触式测量中主要采用的方法。 3 光学非接触式三维测量的概述 光学非接触式三维测量技术根据获取三维信息的基本方法可分为两大类:被动式与主动式。如图2所示[3]。 主动式是利用特殊的受控光源(称为主动光源)照射被测物,根据主动光源的已知结构信息(几何的、物体的、光学的)获取景物的三维信息。被动式是在自然光(包括室内可控照明光)条件下,通过摄像机等光学传感器摄取的二维灰度图像获取物体的三维信息。

吸收光谱测量基本原理

吸收光谱简介 纯白光为一连续的从红色到紫色的光谱,但当白光穿过一个有色宝石,一定颜色或波长可被宝石所吸收,这导致该白光光谱中有一处或几处间断,这些间断以暗线或暗带形式出现。许多宝石显示出在可见光谱中吸收带或线的特征样式,其完整的样式被称为"吸收光谱"。吸收光谱 处于基态和低激发态的原子或分子吸收具有连续分布的某些波长的光而跃迁到各激发态,形成了按波长排列的暗线或暗带组成的光谱。 吸收光谱是温度很高的光源发出来的白光,通过温度较低的蒸汽或气体后产生的,如让高温光源发出的白光,通过温度较低的钠的蒸汽就能生成钠的吸收光谱。这个光谱背景是明亮的连续光谱。而在钠的标识谱线的位置上出现了暗线。通过大量实验观察总结出一条规律,即每一种元素的吸收光谱里暗线的位置跟他们明线光谱的位置是互相重合的。也就是每种元素所发射的光的频率跟它所吸收的光频率是相同的。 太阳光谱是一种吸收光谱,是因为太阳发出的光穿过温度比太阳本身低得多的太阳大气层,而在这大气层里存在着从太阳里蒸发出来的许多元素的气体,太阳光穿过它们的时候跟这些元素的标识谱线相同的光都被这些气体吸收掉了。因此我们看到的太阳光谱是在连续光谱的背景上分布着许多条暗线。这些暗线是德国物理学家夫琅和费首先发现的称为夫琅和费线。 吸收光谱高温物体发出的白光(其中包含连续分布的一切波长的光)通过物质时,某些波长的光被物质吸收后产生的光谱,叫做吸收光谱。例如,让弧光灯发出的白光通过温度较低的钠气(在酒精灯的灯心上放一些食盐,食盐受热分解就会产生钠气),然后用分光镜来观察,就会看到在连续光谱的背景中有两条挨得很近的暗线(见彩图8.分光镜的分辨本领不够高时,只能看见一条暗线).这就是钠原子的吸收光谱.值得注意的是,各种原子的吸收光谱中的每一条暗线都跟该种原子的发射光谱中的一条明线相对应.这表明,低温气体原子吸收的光,恰好就是这种原子在高温时发出的光.因此,吸收光谱中的谱线(暗线),也是原子的特征谱线,只是通常在吸收光谱中看到的特征谱线比明线光谱中的少 光谱分析 光谱分析由于每种原子都有自己的特征谱线,因此可以根据光谱来鉴别物质和确定它的化学组成.这种方法叫做光谱分析.做光谱分析时,可以利用发射光谱,也可以利用吸收光谱.这种方法的优点是非常灵敏而且迅速.某种元素在物质中的含量达10-10克,就可以从光谱中发现它的特征谱线,因而能够把它检查出来.光谱分析在科学技术中有广泛的应用.例如,在检查半导体材料硅和锗是不是达到了高纯度的要求时,就要用到光谱分析.在历史上,光谱分析还帮助人们发现了许多新元素.例如,铷和铯就是从光谱中看到了以前所不知道的特征谱线而被发现的.光谱分

镜面反射物体光学三维测量技术研究

中腰分类号:TN247密缀:单悦代号:lL903 々e:02720464 上海大学@/;lit硕士学位论文SHANGHAlUNIVERSlTY MASTER’STHESIS 题{镜面反射物体光学三维测 日量技术研究 作看陶蓬 学科专业精密仪器及机械 导师竖堑里 完成日期2005.06

第一章:概述 1.1课题的研究意义 “镜面反射物体光学三维测量技术研究(Research()nOpticalThree—dimensionalMeasurementTechniqueforSpecularObjects)”试图以光学方岳为手段,实现镜面反射物体(SpecularObjects)三维面形的快速测量与重建。 1970年代以来,光学三维测量技术以其高精度、高效率和非接触性(Non—Contact)的优点,已经在工业及民用领域得到广泛的应用和发展¨12l。首先,在工业领域,光学三维测量技术的作用是为先进制造业服务,担负起保证产品质量和提高生产效率的重任。特别是在航天航空工业、汽车制造业中,其应用可贯穿于从产品开发到制造,以及质量控制的整个生产过程;具体如在cAD/cAM/cAE(计算机辅助设计/制造/工程)中替代接触式测量,用于构建逆向工程(ReverseEngineering)系统,为产品开发和仿真加工制造提供一一种理想的设计手段。其次,在非工业领域亦有广阔的市场空间,比如①在多媒体技术及虚拟现实技术I3I中的应用、②在医疗诊断|4】及人类学I5I中的应用等等。 但是,现有光学三维测量主流技术及其设备主要针对的是漫反射物体(DefusedObjects)的三维测量,而难以有效地测量镜面物体。而在实际应用中,大量被测物体的表面性质为镜面反射。特别是在工业领域,镜面反射物体更是占有较大比重。例如,抛光模具等精加工零部件、某些表面涂镀零件(如喷镀汽车覆盖件)、某些玻璃及塑料制品以及印刷线路板的焊点等,其表 图1-1工业中常见的镜面反射物体 (a)喷镀车身(b)印刷线路板的焊点(c)抛光模具(d)精加T零部件 面性质均为镜面反射。图1.1是工程中常见的镜面反射物体。目前,对于这类零件的三维检测一般采用两种办法: 其一,呆用传统的坐标测量机(CMM)等接触式测量设备,速度很慢; 其二,喷涂其表面,改变其反射特性为漫反射后用光学方法测量【11,这种方法削弱了光学测量方法的非接触优点。 事实上,镜面物体的光学三维测量技术研究已严重滞后于需求的快速增氏,对其研究具有重要的科学技术价值。从实用性的角度,该技术研究来源自22程中的实际需求,其成果必然具有良好的应用前景;从技术角度,其意义在于镜面反射物体的光学三维测量已经成为工程测量领域中一个亟待解决的技术难题,对其开展研究,有助于丰富光学三维测量领域中的知识成果,从而拓宽光学三维测量技术的应用领域。

光学三维测量技术综述

光学三维测量技术综述 1.引言 客观景物三维信息的获取是计算机辅助设计、三维重建以及三维成像技术中的基础环节,被测物体的三维信息的快速、准确的获得在虚拟现实、逆向工程、 生物与医学工程等领域有着广泛的应用[1]。 三维测量方法总的包括两大类,接触式以及非接触式。如图 1.1 所示。 图1.1 三维测量方法分类 接触式的三维测量方法到目前为止已经发展了很长一段时间,这方面的技术理论已经非常完善和成熟,所以,在实际的测量中会有比较高的准确性。但是尽 管如此,依然会有一些缺点[2]: (1) 在测量过程中,接触式测量必须要接触被测物体,这就很容易造成被测物体表面的划伤。 (2) 接触式测量设备在经过长时间的使用之后,测量头有时会出现形变现象,这无疑会对整个测量结果造成影响。 (3) 接触式测量要依靠测量头遍历被测物体上所有的点,可见,其测量效率还是相当低的。 接触式三维测量技术发展已久,应用最广泛的莫过于三坐标测量机。该方法基于精密机械,并结合了当前一些比较先进技术,如光学、计算机等。并且该方法现在已经得到了广泛的应用,特别是在一些复杂物体的轮廓、尺寸等信息的精确测量上。在测量过程中,三坐标测量机的测量头在世界坐标系的三个坐标轴上都可以移动,而且测量头可以到达被测物体上的任意一个位置上,只要测量头能到达该位置,测量机就可以得到该位置的坐标,而且可以达到微米级的测量精度。但由于三坐标机测量系统成本较高,加之上述的一些缺点,广泛应用还不太现实。 非接触式三维测量技术一般通过利用磁学、光学、声学等学科中的物理量测量物体表面点坐标位置。核磁共振法、工业计算机断层扫描法、超声波数字化法

紫外吸收光谱的基本原理

紫外吸收光谱的基本原理,应用与其特点 紫外吸收光谱的基本原理 吸收光谱的产生 许多无色透明的有机化合物,虽不吸收可见光,但往往能吸收紫外光。如果用一束具有连续波长的紫外光照射有机化合物,这时紫外光中某些波长的光辐射就可以被该化合物的分子所吸收,若将不同波长的吸收光度记录下来,就可获的该化合物的紫外吸收光谱. 紫外光谱的表示方法 通常以波长λ为横轴、吸光度A(百分透光率T%)为纵轴作图,就可获的该化合物的紫外吸收光谱图。 吸光度A,表示单色光通过某一样品时被吸收的程度A=log(I0/I1), I0入射光强度,I1透过光强度; 透光率也称透射率T,为透过光强度I1与入射光强度I0之比值,T= I1/I0透光率T与吸光度A的关系为A=log(1/T) 根据朗伯-比尔定律,吸光度A与溶液浓度c成正比A=εbc ε为摩尔吸光系数,它是浓度为1mol/L的溶液在1cm的吸收池中,在一定波长下测得的吸光度,它表示物质对光能的吸收强度,是各种物质在一定波长下的特征常数,因而是检定化合物的重要数据;c为物质的浓度,单位为mol/L;b为液层厚度,单位为cm。 在紫外吸收光谱中常以吸收带最大吸收处波长λmax和该波长下的摩尔吸收系数εmax来表征化合物吸收特征。吸收光谱反映了物质分子对不同波长紫外光的吸收能力。吸收带的许多无色透明的有机化合物,虽不吸收可见光,但往往能吸收紫外光。如果用一束具有连续波长的紫外光照射有机化合物,这时紫外光中某些波长的光辐射就可以被该化合物的分子所吸收,若将不同波长的吸收光度记录下来,就可获的该化合物的紫外吸收光谱. 通常以波长λ为横轴、吸光度A(百分透光率T%)为纵轴作图,就可获的该化合物的紫外吸收光谱图。 吸光度A,表示单色光通过某一样品时被吸收的程度A=log(I0/I1), I0入射光强度,I1透过光强度; 透光率也称透射率T,为透过光强度I1与入射光强度I0之比值,T= I1/I0透光率T与吸光度A的关系为A=log(1/T) 根据朗伯-比尔定律,吸光度A与溶液浓度c成正比A=εbc ε为摩尔吸光系数,它是浓度为1mol/L的溶液在1cm的吸收池中,在一定波长下测得的吸光度,它表示物质对光能的吸收强度,是各种物质在一定波长下的特征常数,因而是检定化合物的重要数据;c为物质的浓度,单位为mol/L;b为液层厚度,单位为cm。 在紫外吸收光谱中常以吸收带最大吸收处波长λmax和该波长下的摩尔吸收系数εmax来表征化合物吸收特征。吸收光谱反映了物质分子对不同波长紫外光的吸收能力。吸收带的形状、λmax和εmax与吸光分子的结构有密切的关系。各种有机化合形状、λmax 和εmax与吸光分子的结构有密切的关系。各种有机化合物的λmax和εmax都有定值,同类化合物的εmax比较接近,处于一个范围。 紫外吸收光谱是由分子中价电子能级跃迁所产生的。由于电子能级跃迁往往要引起分子中核的运动状态的变化,因此在电子跃迁的同时,总是伴随着分子的振动能级和转动能级的跃迁。考虑跃迁前的基态分子并不是全是处于最低振动和转动能级,而是分布在若干不同的

GPS测量基本原理

G P S测量基本原理 Prepared on 24 November 2020

1> 概述 测量学中有测距交会确定点位的方法。与其相似,无线电导航定位系统、卫星激光测距定位系统,其定位原理也是利用测距交会的原理定位。 就无线电导航定位来说,设想在地面上有三个无线电发射台,其坐标为已知,用户接收机在某一时刻采用无线电测距的方法分别测得了接收机至三个发射台的距离d1,d2,d3。只需以三个发射台为球心,以d1,d2,d3为半径作出三个定位球面,即可交会出用户接收机的空间位置。如果只有两个无线电发射台的话,则可根据用户接收机的概略位置交会出接收机的平面位置。这种无线电导航定位系统是迄今为止仍在使用的飞机船舶的的中导航定位方法。 近代卫星大地测量中的卫星激光测距定位也是应用了测距交会定位的原理和方法。虽然用于测距的卫星(表面安装有激光反射镜)是在不停的运动中,但总可以利用固定于地面上三个已知点上的卫星激光测距仪同时测定某一时刻至卫星的距离d1,d2,d3,应用测距交会的原理便可确定该时刻卫星的空间位置。如此,可以确定三可以上卫星的空间位置。如果第四个地面点上(坐标未知)也有一台卫星测距仪同时参与了测定改点到三颗卫星的空间距离,则利用所测定的三个空间距离可交会出该地面点的空间位置。 将无线电信号发射台从地面搬到卫星上,组成一颗卫星导航定位系统,应用无线电测距交会的原理,便可利用三个以上地面已知点(控制站)交会处卫星的位置,反之利用三颗以上的卫星的已知空间位置又可交会出地面未知点(用户接收机)的位置。这便是GPS卫星定位的基本原理。 GPS卫星发射测距信号和导航电文,导航电文中含有卫星的位置信息。用户用GPS接收机在某一时刻同时接收三个以上的GPS卫星信号,测量出测站点

光学三维测量技术与应用

光学三维测量技术 1. 引言 人类观察到的世界是一个三维世界, 尽可能准确和完备地获取客观世界的三维信息才能尽可能准确和完备地刻画和再现客观世界。对三维信息的获取和处理技术体现了人类对客观世界的把握能力,因而从某种程度上来说它是体现人类智慧的一个重要标志。 近年来, 计算机技术的飞速发展推动了三维数字化技术的逐步成熟, 三维数字化信息获取与处理技术以各种不同的风貌与特色进入到各个不同领域之中 [1]:在工业界, 它已成为设计进程中的一环, 凡产品设计、模具开发等, 无一不与三维数字化测量有着紧密的结合; 虚拟现实技术需要大量景物的三维彩色模型数据, 以用于国防、模拟训练、科学试验; 大量应用的三坐标测量机和医学上广泛应用的 CT 机和 MRI 核磁共振仪器,也属于三维数字化技术的典型应用;文化艺术数字化保存(意大利的古代铜像数字化、中国的古代佛像数字化、古文物数字化保存、 3D 动画的模型建构(电影如侏罗纪公园、太空战士、医学研究中的牙齿、骨头扫描, 甚至人类学的考古研究等, 都可运用三维扫描仪快速地将模型扫描、建构; 而随着宽频与计算机速度的提升, Web 3D的网络虚拟世界将更为普及,更带动了三维数字化扫描技术推广到商品的电子商务、产品简报、电玩动画等, 这一切都表明未来的世界是三维的世界。 目前, 有很多种方法可用来获取目标物体的三维形状数据, 光学三维测量技术(Optiacl Three-dimensional Measurement Techniques因为其“非接触”与“全场”的特点,是目前工程应用中最有发展前途的三维数据采集方法。光学三维测量技术是二十世纪科学技术飞速发展所催生的丰富多彩的诸多实用技术之一, 它是以现代光学为基础, 融光电子学、计算机图像处理、图形学、信号处理等科学技术为一体的现代测量技术。它把光学图像当作检测和传递信息的手段或载体加以利用, 其目的是从图像中提取有用的信号, 完成三维实体模型的重构 [2]。随着激光技术、精密计量光栅制造技术、计算机技术以及图像处理等高新技术的发展, 以及不断推出的高

角度测量的原理及其方法

角度测量的原理及其方法 角度测量原理 一、水平角测量原理 地面上两条直线之间的夹角在水平面上的投影称为水平角。如图 3-1所示,A、B、O为地面上的任意点,通OA和OB直线各作一垂 直面,并把OA和OB分别投影到水平投影面上,其投影线Oa和Ob 的夹角∠aOb,就是∠AOB的水平角β。 如果在角顶O上安置一个带有水平刻度盘的测角仪器,其度盘 中心O′在通过测站O点的铅垂线上,设OA和OB两条方向线在水 平刻度盘上的投影读数为a1和b1,则水平角β为: β= b1 - a1(3-1) 二、竖直角测量原理 在同一竖直面内视线和水平线之间的夹角称为竖直角或称垂直 角。如图3-2所示,视线在水平线之上称为仰角,符号为正;视线在 水平线之下称为俯角,符号为负。

图3-1 水平角测量原理图图3-2 竖直角测 量原理图 如果在测站点O上安置一个带有竖直刻度盘的测角仪器,其竖盘中心通过水平视线,设照准目标点A时视线的读数为n,水平视线的读数为m,则竖直角α为: α= n - m (3-2) 光学经纬仪 一、DJ6级光学经纬仪的构造 它主要由照准部(包括望远镜、竖直度盘、水准器、读数设备)、水平度盘、基座三部分组成。现将各组成部分分别介绍如下:1.望远镜 望远镜的构造和水准仪望远镜构造基本相同,是用来照准远方目标。它和横轴固连在一起放在支架上,并要求望远镜视准轴垂直于横轴,当横轴水平时,望远镜绕横轴旋转的视准面是一个铅垂面。为了控制望远镜的俯仰程度,在照准部外壳上还设置有一套望远镜制动和

微动螺旋。在照准部外壳上还设置有一套水平制动和微动螺旋,以控制水平方向的转动。当拧紧望远镜或照准部的制动螺旋后,转动微动螺旋,望远镜或照准部才能作微小的转动。 2.水平度盘 水平度盘是用光学玻璃制成圆盘,在盘上按顺时针方向从0°到360°刻有等角度的分划线。相邻两刻划线的格值有1°或30′两种。度盘固定在轴套上,轴套套在轴座上。水平度盘和照准部两者之间的转动关系,由离合器扳手或度盘变换手轮控制。 3.读数设备 我国制造的DJ6型光学经纬仪采用分微尺读数设备,它把度盘和分微尺的影像,通过一系列透镜的放大和棱镜的折射,反映到读数显微镜内进行读数。在读数显微镜内就能看到水平度盘和分微尺影像,如图3-4所示。度盘上两分划线所对的圆心角,称为度盘分划值。 在读数显微镜内所见到的长刻划线和大号数字是度盘分划线及其注记,短刻划线和小号数字是分微尺的分划线及其注记。分微尺的长度等于度盘1°的分划长度,分微尺分成6大格,每大格又分成10,每小格格值为1′,可估读到0.1′。分微尺的0°分划线是其指标线,它所指度盘上的位置与度盘分划线所截的分微尺长度就是分微尺读数值。为了直接读出小数值,使分微尺注数增大方向与度盘注数方向相反。读数时,以在分微尺上的度盘分划线为准读取度数,而后读取该度盘分划线与分微尺指标线之间的分微尺读数的分数,并估读

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