YB4811晶体管特性图示仪使用说明书(精)

附录五 YB4811晶体管特性图示仪使用说明书

一、概述

YB4811型半导体管图示仪是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测量仪器。尤其能在不损坏器件的情况下，测量其极限参数，如击穿电压。饱和压降等。因此该仪器广泛地应用与半导体器件有关的各个领域。

二、主要技术指标

1.Y轴偏转系数

集电极电流范围（IC）；10uA/div----0.5uA/div分15档，误差不超过+3%。

二极管反向漏电流（IR）0.2uA/div----5uA/div分5档

2uA/div-------5uA/div，误差不超过+3%.

1uA/div误差不超过+5%

0.2uA/div---0.5uA/div，误差不超过+10%

外接输入；0.1V/div，误差不超过+3%

2.X轴偏转系数

集电极电压范围（Vce)：0.05V/div---500V/div分13档，误差不超过+3%

基极电压范围（Vbe); 0.V/div-----5V/div，分6档，误差不超过+3%

外接输入：0.05V/div，误差不超过+3%

3.信号

阶梯电流范围（Ib;）;0.2uA/级-------100mA/级分18档

1uA/级-------100mA/级，误差不超过+5%

0.2uA/级-------100uA/级，误差不超过+7%

阶梯电压范围（Vb);0.1/级-------2V/级分5档，误差不超过+3%

串联电阻：0Ω，10Ω。10KΩ。100KΩ分3档，误差不超过+10%

每簇级数；1----10级连续可调

4.极扫描电源。高压二极管测试电源

峰值电压与峰值电流容量如下表所示，其最大输出不低于下表，各档级电压连续可调功耗限制电阻0--0.5MΩ分11档，误差不超过+10%

5.尺寸

型式；便携式

外形尺寸；415mm×240mm×320mm

重量;17Kg

电源电压;220.V+10%

电源频率：50HZ+5%

视在功率：非测试状态约50VA

最大功率约100VA

三、注意事项

1.避免过冷和过热，不可将仪器长期暴露在日光下，或者说靠近热源的地方，如火炉

2.在寒冷天气时放在室外使用，仪器工作温度应在0----40度

3.热与寒冷环境交替，不可将仪器从炎热环境中突然转到寒冷的环境或相反进行，这将导致仪器内部形成凝结，从而损坏仪器.

4.免温度，水分和尘土.如果将本仪器放在湿度或尘土多的地方，可能导致\仪器操作出现故障，最佳使用相对湿度范围是35%-----90%

5.可将物体放置在本图仪器上，注意不要堵塞仪器通风孔

6.不可遭受强烈的雷击

7.不可用电源导线拖拉仪器

8.将电烙铁放在本仪器框架及其表面上

9.避免长期倒置存放和运输.

10.仪器使用前应检查工作电源电压，并保证所用的保险丝为指定型号，为防止由于过电流引起的电路损坏，请使用正确的保险丝（电源保险丝为1.5A）。如果保险丝熔断，仔细检查原因，修理后换上规定的保险丝。如果保险不档，不仅会导致出现故障，甚至会使故障扩大。如果仪器不能正常工作，重新检查操作步骤。如果确定仪器有故障，请与本厂销售部或您所在维修部门服务联系，以得到快捷而有效的售后服务。

四、面板操作键作用说明

1.主机

电源开关（1）将电源开关按键按进接通电源，此时电源指示灯亮，弹出为关断电源

辉度（2）：改变示波管栅阴极之间电压来改变电子束强度，从而控制辉度，该电位器顺时针旋转，逐渐变亮，使用时辉亮度应适中。

聚焦（3）：改变示波管第二阳极电压使电子束打在荧光屏的光点直径可变

辅助聚焦/（4）：改变示波管第三阳极电压使电子束打在荧光屏的光点直径可变，在使用时，与聚焦电位器相互配合，使图象清晰。

光迹旋转（5）：当示波管屏幕上扫描光迹与水平内刻度线不平行时，可调节该电位器使之平衡。

示波器屏幕（6）：在此显示测试波形

图5.5.1 YB4811晶体管图示仪前面板图

2.Y轴系统

电流/度开关（7）：具有22多档三种偏转作用的开关。

集电极电流（IC）10uA/度--0.5A/度一共15档；是通过其取样电阻来获得电压。经Y轴放大器的放大而读取得电流偏转值。

二极管漏电流（IR））0.2uA/度--5uA/度一共5档：是通过其二极管电流取样电阻的作用，将电流转化电压后，经Y轴放大器放大而取得读测电流的偏转值。

基极电流或基极源电压：由阶梯分压电阻器的分压，经Y轴放大器放大取得其偏转值。

Y轴移位（8）：移位是通过分差放大器的前置级放大管射极电阻的改变，达到移位作用，该电位器顺时针旋动，光迹向上；反之向下。

3.X轴系统

双簇移位（10）：当选择开关至于双簇显示时，借助于该电位器，可使双簇特性曲线显示示在合适的水平位置上。

电压/度开关（11）是一种具有21档，三种偏转作用的开关。

集电极电压（Vcc)0.05V/度--500V/度共13档，是通过其分压电阻，经X轴放大器放大而取得不同灵敏电压的偏转值。

基极电压（Vcc)0.05V/度--2V/度共6档，是通过其分压电阻分压以达到不同灵敏度电压的偏转值

基极电流或基极电压；由阶梯分压电阻分压，经过放大器而获得其基极电流偏转值

X轴移位（12）：通过分差放大器的前置级放大管射极电阻的改变，达到以为作用。该电位器顺时针旋动，光迹向右，反之向左。

4.转换开关

反向；（9）；通过开关变换使放大器差分输入端二线相互对换，达到图象（在I，II象限内）相互转换，便于NPN管转测PNP管时简化测试步骤。

5.阶梯信号

级/簇（13）：它是用来调节阶梯信号的级数。能在1----10级内任意选择。

电压---电流/级开关（14）：它是一个23档，具有2种作用的开关。

基极电流（Ib)0.2uA/级--100mA/级共18档，其作用是通过改变开关的不同档级的电阻值，是基极电流0.2uA/级--100mA/级所在档级内的电流通过被测半导体

基极电压源（Vb)0.1V/级--2V/级，其作用是通过改变不同的分压反馈电阻，相应输出0.1 V/级--2V/级电压。

调零（15）：未测试前，应首先调整阶梯信号起始级为零电位，当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后将三极管测试座置于“零电压”。按键按下，观察光点留在荧光屏上的位置，复位后调节该旋钮，使阶梯信号起始光点仍在该处，这样阶梯信号的“零电位”即被准确校正。

极性（16）：为了满足不同极性半导体器件（PNP、NPN）的需要来选择阶梯信号的极性。

串联电阻（17）：当电压---电流/级开关（14）置于电压/级位置时，串联电阻被串联进被半导体的输入电路中，串联电阻按键全部弹出时为0Ω。

重复开关（18）：重复：阶梯信号连续输出。作正常测试。

单簇按：（19）单簇的按动其作用是预先调整好的电压（电流）/级位置，当按下该钮时，屏幕上显示出一簇特性曲线后回到待触发状态位置，因此可利用它的瞬时作用的特性来观察被测管的各种极限特性。

6.集电极电源

峰值电压范围（20）：它是通过集电极变压器不同输出电压选择而分：0--10V（5A），0---50V

（2.5A），0----500V（0.5A），0-----3000V（2mA)四档。在测试半导体管时，应由低电压向高电压换档，换档前必须将峰值电压（23）调至“0”，换档后再慢慢增加，否则易损坏测试管。

极性（21）：可以转换集电极电压的正负极性，在PNP型与NPN型半导体管测试时，极性可按面板指示的极性选择按需要选择。

功耗限制电阻Ω（22）：它是串联在被测试管的集电极电路上限制超过功耗，亦可作被测半导体管集电极负载电阻，通过图示仪的特性曲线簇的斜率，可选择合适的功耗限制电阻。

峰值电压%（23）：峰值控制旋钮可在0--10V，0----50V，，0---500V，0---3000V之间连续

可调，面板上的标称值只能作近似值使用，精确的读数应由X轴偏转灵敏度读测。

高压输出按钮/（24）：在0---3 KV档，为了高压测试安全，特设此开关，不按时无高电压输出。

高电压输出插座（25）：测试半导体、击穿电压，把测试附件插在此插座上，根据插座上的管脚方向进行测试。

容性平衡（26）：由于集电极电流输出端的各种杂散电容存在（包括各种开关，功耗限制电阻，被测量的输出电容等），都形成容性电流，因而在电流取样电阻上产生降压，造成测量上的误差。集电极变压器次级绕组对存在电容的不对称，也造成测量不准确。测量前应调节容性平衡电位器，使电容电流减至最小状态。

测试插座（27）：测试半导体参数时，把附件测试台插在此插座上，根据需要进行测试。

电源插座（28）：用电源连接线连接到市电上（200V50HZ），电源保险丝为1.5A。

换相开关（29）在容性平衡不好时可拨动此开关到另一个位置。

电流输入插座（30）：校正Y轴偏转灵敏度时使用。

集电极电源（31）：集电极电源保险丝（1.5A）

图5.5.2 YB4811晶体管图示仪背板图

7.测试台

测试选择开关（32）：可以在测试时任选左右两个被测试管的特性。当左右按键同时按下时为二簇状态，即通过电子开关自动地交替显示左右二簇特性曲线（使用时“级/簇”应置于适当位置，以达到较佳的观察效果，“簇”特性曲线比较时，请勿使用单簇按钮）。

零电位，零电流：被测管未测之前，应首先调整阶梯信号的起始级在零电位的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后，再按下“零电压观察光点停留在荧光屏上的位置。复位后调节“阶梯调零”，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的零电压即被准确的校准。按下“零电流”时被测半导体的基极处于开路状态，即能测量Ico特性.

测试插孔(33)，(34)，(35)：根据不同封装的半导体管，采用不同的测试插孔和夹具，进行测试。

图5.5.3 YB4811晶体管图示仪附加板图

XJ4810晶体管特性图示仪 说明书

XJ4810晶体管特性图示仪说明书 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示： 1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。 3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。 4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示：接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦：与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出，放大器增益扩大10倍，电流/度各挡I C标值×0.1，同时指示灯14亮. 16. Y轴增益：校正Y轴增益。 17. X轴增益：校正X轴增益。 18.显示开关：分转换、接地、校准三挡，其作用是： ⑴转换：使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换，便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地：放大器输入接地，表示输入为零的基准点。 ⑶校准：按下校准键，光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度，以达到10度校正目的。 19. X轴移位：调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换，共17挡。 21. “级/簇”调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮：测试前，应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后，按下测试台上选择按键“零电压”，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节零旋钮，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的零电位即被准确校正。 23. 阶梯信号选择开关：可以调节每级电流大小注入被测管的基极，作为测试各种特性曲线的基极信号源，共22挡。一般选用基极电流/级，当测试场效应管时选用基极源电压/级。 24. 串联电阻开关：当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时，串联电阻将串联在被测管的输入电路中。 25. 重复－－关按键：弹出为重复，阶梯信号重复出现；按下为关，阶梯信号处于待触发状态。 26. 阶梯信号待触发指示灯：重复按键按下时灯亮，阶梯信号进入待触发状态。 27. 单簇按键开关：单簇的按动其作用是使预先调整好的电压（电流）/级，出现一次阶梯信号后回到等待触发位置，因此可利用它瞬间作用的特性来观察被

经纬仪的使用方法(免费)

第三节经纬仪的使用 一、安臵仪器 安臵仪器是将经纬仪安臵在测站点上，包括对中和整平两项内容。对中的目的是使仪器中心与测站点标志中心位于同一铅垂线上；整平的目的是使仪器竖轴处于铅垂位臵，水平度盘处于水平位臵。 1．初步对中整平 （1）用锤球对中，其操作方法如下： 1）将三脚架调整到合适高度，张开三脚架安臵在测站点上方，在脚架的连接螺旋上挂上锤球，如果锤球尖离标志中心太远，可固定一脚移动另外两脚，或将三脚架整体平移，使锤球尖大致对准测站点标志中心，并注意使架头大致水平，然后将三脚架的脚尖踩入土中。 2）将经纬仪从箱中取出，用连接螺旋将经纬仪安装在三脚架上。调整脚螺旋，使圆水准器气泡居中。 3）此时，如果锤球尖偏离测站点标志中心，可旋松连接螺旋，在架头上移动经纬仪，使锤球尖精确对中测站点标志中心，然后旋紧连接螺旋。 （2）用光学对中器对中时，其操作方法如下： 1）使架头大致对中和水平，连接经纬仪；调节光学对中器的目镜和物镜对光螺旋，使光学对中器的分划板小圆圈和测站点标志的影像清晰。 2）转动脚螺旋，使光学对中器对准测站标志中心，此时圆水准器气泡偏离，伸缩三脚架架腿，使圆水准器气泡居中，注意脚架尖位臵不得移动。 2．精确对中和整平

（1）整平 先转动照准部，使水准管平行于任意一对脚螺旋的连线，如图3-7a 所示，两手同时向内或向外转动这两个脚螺旋，使气泡居中，注意气泡移动方向始终与左手大拇指移动方向一致；然后将照准部转动90°，如图3-7b 所示，转动第三个脚螺旋，使水准管气泡居中。再将照准部转回原位臵，检查气泡是否居中，若不居中，按上述步骤反复进行，直到水准管在任何位臵，气泡偏离零点不超过一格为止。 （2）对中 先旋松连接螺旋，在架头上轻轻移动经纬仪，使锤球尖精确对中测站点标志中心，或使对中器分划板的刻划中心与测站点标志影像重合；然后旋紧连接螺旋。锤球对中误差一般可控制在3mm 以内，光学对中器对中误差一般可控制在1mm 以内。 对中和整平，一般都需要经过几次“整平—对中—整平”的循环过程，直至整平和对中均符合要求。 二、瞄准目标 （1）松开望远镜制动螺旋和照准部制动螺旋，将望远镜朝向明亮背景，调节目镜对光螺旋，使十字丝清晰。 （2）利用望远镜上的照门和准星粗略对准目标，拧紧照准部及望远镜制动螺旋；调节物镜对光螺旋，使目标影像清晰，并注意消除图3-7 经纬仪的整平

XJ4810型半导体管特性图示仪测试使用说明

晶体管特性图示仪的使用 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示： 1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。 3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。 4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特

性曲线。 6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示：接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦：与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出，放大器增益扩大10倍，电流/度各挡IC标值×0.1，同时指示灯14亮. 16. Y轴增益：校正Y轴增益。 17. X轴增益：校正X轴增益。 18.显示开关：分转换、接地、校准三挡，其作用是： ⑴转换：使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换，便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地：放大器输入接地，表示输入为零的基准点。 ⑶校准：按下校准键，光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度，以达到10度校正目的。 19. X轴移位：调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换，共17挡。 21. “级/簇”调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮：测试前，应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后，按下测试台上选择按键“零电压”，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节零旋钮，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的零电位即被准确校正。

经纬仪的使用说明书

经纬仪的使用说明书 说明书和操作技巧 满意答案 好评率：100% J6、J6E光学经纬仪使用说明书 一、仪器的用途和特点 本仪器的测角精度：水平方向一测回的方向误差不大于±6"；天顶距测量中误差不大于±9"，适用于低等控制测量，地形测量，矿山测量和工程导线测量等。本仪器具有下列特点： 1、望远镜采用内调焦系统（J6E 为正像内调焦系统），主物镜为三片分离型结构。分划板设有双丝和单丝，便于照准不同目标，水平和垂直分划丝上均有供测距用的视距丝。望远镜孔径大，鉴别率高，成像清晰，用于观测远近目标均适宜。 2、度盘读数采用光学带尺读数系统，在同一视场内可同时直接读取水平角和天顶距，并公用一个照明系统，使用方便，读数快速、精确。 3、对点器系一小型望远镜，用于对地面点进行观测，其物镜可随照准部转动；易于发现和消除对点误差，仪器还附有测锤，便于在不同条件下的对点工作。 4、竖轴采用强制定心球面导轨滚珠支承的半运动式轴系（结构示意图见下图），定向及置中精度高，对温度不敏感，不易卡死。由于强制定心和大型球面滚珠支承的摩擦力距较大，运转时有轻微“沙 沙”声，但绝不影响使用。 5、基座内设有防偏扭簧片，通过此簧片将基座上、下体作半刚性联接，可防止扭转，消除偏扭误差。 6、按用户要求可提供管状定心磁针。 7、仪器出厂前均经环境模拟试验和防霉、防雾处理，经久耐用。仪器可在－25°C ～＋40°C 环 境温度下工作。 二、仪器的主要技术参数 望远镜 成像 J6 倒像 J6E 正像 放大率 J6 28倍 J6E 29倍 物镜有效孔径 40毫米 视场角1°20′ 视距乘常数 100 视距加常数 0 鉴别率<3.6″ 调焦范围 2米～∞ 物镜壳外径φ46-0.05毫米 望远镜长度 180毫米 显微镜放大率 水平读数系统 73倍 竖直读数系统 74倍 读数系统 水平度盘分划直径 93.4毫米

图示仪使用说明书

目录 使用须知．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 安全注意事项．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．3 概述．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 主要技术指标．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 使用说明．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．5 使用范例．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．10 维修指南．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．15 装箱单．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．16

使用须知 WQ4832型晶体管特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。本仪器采用晶体管与集成电路混合线路，具有功耗低、电流容量大、重量轻等特点，是半导体研究及应用领域必不可少的测试工具。 用户在使用本仪器之前应熟悉以下注意事项，以保证仪器的正常使用。 1．“功耗限制电阻”作用大，除了测量饱和电压（如U CER）及最大电流（如I CM）外，一般应将“功耗限制电阻”置于较大值（≥1kΩ），这样既保护了被测管不至电流过载，又可防止由于被测管击穿后导致仪器损坏，在测量击穿电压时更应注意。 2．按“峰值电压范围”需特别注意，一般情况下应与“电压/度”开关相配合： 如需要低于上述量程，应首先将“峰值电压”调至0，再徐徐加大。 在测试中，当输出峰值电压较大时，请勿触摸C极与管子外壳，以免遭电击。严禁将各输出端任意长时间短路。 3．测量被测管首先要了解是PNP或NPN，然后将仪器置于相应极性。在未知被测管极性的情况下，可将输出电压调至较小值进行判别。必须在充分熟悉本仪器后才能用异极性测试功能。 4．基极注入阶梯电流（电压）也应注意： （1）注入电流（电压）应与被测管的功率、最大集电极电流相适应，一般情况注入电流由小逐档增加（同时应估算上述二指标，不致电流、功率击穿）。 （2）“电流/度”应与阶梯电流（电压）相适应，一般情况应从大量程再逐档调至需要档级。“电流/度”量程不应小于阶梯电流量程。 5．当用双簇测试功能时，需调节零电平使显示时第一级曲线与单簇测试时的第一级曲线在Y方向上的位置一致，才能使各项读数一致。异极性测试时阶梯起始电平一般应调至零。 6．仪器出厂经精密调准，请勿随意打开箱板并调节各种机件，当需要进一步调准时，应按照使用说明书的要求与步骤进行。 7．在进行I CM等极限参数测试时，一般采用单次阶梯为宜，以免被测器件损坏。8．本机额定重复输出功率为60W，不同电压档级有不同的允许最大电流，实际测试中不应超过此值。 2

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量 一、实验目的 1、了解半导体特性图示仪的基本原理 2、学习使用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和参数。 二、预习要求 1、阅读本实验的实验原理，了解半导体图示仪的工作原理以及XJ4810 型半导体管图示仪的各旋钮作用。 2、复习晶体二极管、三极管主要参数的定义。 三、实验原理 （一）半导体特性图示仪的基本工作原理 任何一个半导体器件，使用前均应了解其性能，对于晶体三极管，只要知道其输入、输出特性曲线，就不难由曲线求出它的一系列参数，如输入、输出电阻、电流放大倍、漏电流、饱和电压、反向击穿电压等。但如何得到这两组曲线呢？最早是利用图4-1 的伏安法对晶体管进行逐点测试，而后描出曲线，逐点测试法不仅既费时又费力，而而且所得数据不能全面反映被测管的特性，在实际中，广泛采用半导体特性图示仪测量的晶体管输入、输出特性曲线。 图4-1 逐点法测试共射特性曲线的原理线路用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和各种直流参量的基本原理是用图4-2（a）中幅度随时间周期性连续变化的扫描电压UCS代替逐点法中的可调电压EC，用图4-2（b）所示的和扫描电压UCS的周期想对应的阶梯电流iB来代替逐点法中可以逐点改变基极电流的可变电压EB，将晶体管的特性曲线直接显示在示波管的荧光屏上，这样一来，荧光屏上光点位置的坐标便代替了逐点法中电压表和电流表的读数。

1、共射输出特性曲线的显示原理 当显示如图4-3 所示的NPN 型晶体管共发射极输出特性曲线时，图示仪内部和被测晶体管之间的连接方式如图4-4 所示. T是被测晶体管,基极接的是阶梯波信号源,由它产生基极阶梯电流ib 集电极扫描电压UCS直接加到示波器(图示仪中相当于示波器的部分,以下同)的X轴输入端,,经X轴放大器放大到示波管水平偏转板上集电极电流ic经取样电阻R得到与ic成正比的电压,UR=ic,R加到示波器的Y轴输入端,经Y轴放大器放大加到垂直偏转板上.子束的偏转角与偏转板上所加电压的大小成正比,所以荧光屏光点水平方向移动距离代表ic的大小,也就是说,荧光屏平面被模拟成了uce-ic 平面. 图4-4 输出特性曲线显示电路输出特性曲线的显示过程如图4-5 所示 当t=0 时, iB =0 ic=0 UCE =0 两对偏转板上的电压均为零,设此时荧光屏上光点的位置为坐标原点。在0-t1,这段时间内,集电极扫描电压UCS 处于第一个正弦半波周期。

半导体器件--用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数

用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数 一、 引言 晶体管在半导体器件中占有重要的地位，也是组成集成电路的基本元件。晶体管的各种特性参数可以通过专用仪器--晶体管特性图示仪进行直接测量。了解和测量实际的晶体管的各种性能参数不仅有助于掌握晶体管的工作机理，而且还可以分析造成各种器件失败的原因，晶体管特性图示仪是半导体工艺生产线上最常用的一种工艺质量检测工具。 本实验的目的是：了解晶体管特性图示仪的工作原理；学会正确使用晶体管特性图示仪；测量共发射极晶体管的输入特性、输出特性、反向击穿特性和饱和压降等直流特性。 二、晶体管特性图示仪的工作原理和基本结构 晶体管的输出特性曲线如图1所示，这是一组曲线族，对于其中任一条曲线，相当于I b =常数（即基极电流I b 不变）。曲线显示出集电极与发射极之间的电压V cc 增加时，集电极电流I c 的变化。因此，为了显示一条特性曲线，可以采用如图2所示的方法，既固定基极电流I b 为： b be b b E V I R -= （1） 图1共射晶体管输出特性曲线 图2共射晶体管接法 在集电极到发射极的回路中，接入一个锯齿波电压发生器E c 和一个小的电阻R c ，晶体管发射极接地。由于电阻R 很小，锯齿波电压实际上可以看成是加

在晶体管的集电极和发射极之间。晶体管的集电极电流从电阻R c上流过，电阻R c上的电压降就正比于I c。如果把晶体管的c、e两点接到示波管的x偏转板上，把电阻R c两端接到示波管的y偏转板上，示波器便显示出晶体管的I c随V cc变化的曲线。（为了保证测量的准确性，电阻R c应该很小）。用这种方法只能显示出一条特性曲线，因为此时晶体管的基极电流I b是固定不变的。 如果要测量整个特性曲线族，则要求基极电流I b改变。基极电流I b的改变采用阶梯变化，每一个阶梯维持的时间正好等于作用在集电极的锯齿波电压的周期，如图3所示。阶梯电压每跳一级，电流I b便增加一级。（每一级阶梯的增幅可根据不同的晶体管的做相应的调整）。 晶体管特性图示仪便是按照上述原理设计的，它包括阶梯电压发生器（供基极或发射极阶梯波）、锯齿波电压发生器（供集电极扫描电压）、x轴放大器、y 轴放大器、示波管系统等组成，其单元作用如图4所示。作用在垂直偏转板上的除I c（实际上是I c R c）外，还可以是基极电压、基极电流、外接或校正电压。由于x轴和y轴作用选择的不同，在示波器荧光屏上显示出的特性就完全不同。例如：若x轴作用为集电极电压，y轴作用选择集电极电流，得到晶体管的输出特性曲线；若x轴作用为基极电流，y轴作用选择集电极电流，得到晶体管的电流增益特性（即β特性）；若y轴作用为基极电流，x轴作用是基极电流，得到晶体管的输入特性曲线。 图3 阶梯波和锯齿波信号图4 图示仪的原理方框图 三、晶体管特性图示仪的使用方法 为了不使被测晶体管和仪器损坏，在测试前必须充分了解仪器的使用方法和晶体管的规格，测试中，在调整仪器的各个选择开关和转换量时，必须注意使加于被测晶体管的电压、电流（并配合功耗电阻）从低量程漫漫提高，直到满足测量要求。

BJ4814晶体管图示仪技术说明书

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目录 1 概述 (3) 2 工作特性 (3) 3 工作原理 (5) 4使用说明 (5) 5 检查与计量 (13)

1.概述 BJ4814型半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。 本仪器功能齐全,测试范围宽, 绝大部分电路实现了集成化,其中集电极扫描电路实现了电子扫描,大电流测试状态进行了占空比压缩,减小了成本,减小了重量。阶梯部分的大电流测试状态采用了脉冲阶梯输出,减小了被测管的发热。集电极电流测试新增了电子保护电路提高了反映速度,增加了仪器自身及对外保护能力,部分功能参考美国Tex-577产品特点,还有部分功能是为方便测试而增设的,因此使本仪器的应用范围得到拓宽, 随着用户对本仪器的不断了解,根据自身需要也可开发新的应用领域,欢迎广大用户对本仪器的各个方面提出宝贵意见和建议,以促进我们的改进。 2.工作特性 2.1 额定使用条件及规格 A.环境温度: 0 ～ + 40°C B.相对湿度: + 40°C 20 ～90 % RH C.大气压力: Pb - 106 KPa D.供电要求: 220V ±10% 50Hz ±5% E.整机功率: <50V A (非测试状态) <60V A (测试状态) F.外形尺寸: (E×B×H)mm 480×220×320 (主机) 80×110×40(测试盒件) G.预热时间: 15分钟 H.整机重量: 15Kg I.工作时间: 连续工作8小时 J.工作位置: 水平放置或正面仰角小于20°放置 K.外电磁场干扰: 应避免 L.阳光照射: 应避免直射 2.2 技术性能及指标 2.2.1 X轴系统 A.工作方式: 分集电极电压(Vc),基极电压(Vb),二极管电压(Vd)和阶梯信号四类. B.位移范围: 大于10度 C.集电极电压偏转因数: 20mV/度 ～ 20V/度. 1-2-5序共10挡 误差≤±3% D.基极电压偏转因数: 20mV/度 ～ 1V/度. 1-2-5序共6挡 误差≤±3% E.二极管电压偏转因数: 100V/度 ～ 500V/度. 1-2-5序共3挡 误差≤±3% F.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5% 2.2.2 Y轴系统 A.工作方式: 分集电极流(Ic),和阶梯信号两类. B.位移范围: 大于10度 C.集电极电流偏转因数: 1uA/度～ 2A/度. 1-2-5序共20挡 误差≤±3% D.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5%

J2光学经纬仪使用说明书

,J2-2光学经纬仪使用说明书 目录 ○1仪器用途 ○2仪器主要技术参数 ○3仪器结构 ○4仪器使用方法 ○5仪器的调整 ○6仪器的维护 ○7可供附件 仪器用途 J2-2经纬仪是一种精密光学测角仪器，此种仪器在国防建设、大地测量中占很重要的地位。可以广泛应用于国家和城市的三、四等三角测量。同时亦可用于铁路、公路、桥梁、水利、矿山以及大型企业的建筑，大型机器的安装和计量等工作。 仪器主要技术参数 一测回水平方向标准偏差±2″ 一测回垂直角测量标准偏差±6″ 望远镜正象 物镜通光口径φ40mm 放大倍率30 视场（1000m处）24m 最短视距离2m 乘常数100 加常数不清0 度盘和测微器具 水平度盘直径90mm 垂直度盘直径70mm 全园刻度值勤360 度盘最小格值勤20′ 测微器最小格值勤1′ 自动归零补偿器 补偿精度过±″ 补偿范围±3′ 读数显微镜 水平系统放大率48 x 垂直系统放大率62 x 水准器 长水准器20″/2mm 圆水准器具8′/2mm 光学对点器

视场角7°30′ 调焦范围～6m 仪器重量 净重6kg 毛重9kg 一、望远镜 望远镜成正像、采用了双胶合一分离的物镜和对称式目镜。此种结构的望远镜，其成象质量以及在亮度和清晰方面均较好。 望远镜镜筒的上、下二面均装光学粗瞄准器，以便于在正倒镜观测时均可用其进行粗瞄。筒内装有反光板，以便于夜间观测时用其照明分划板。 望远镜分划板上附有保护玻璃片，以便于当分划板有污点时，可以清除，而不致于有十字丝脱色和其他损伤现象。 逆时针方向转动卡环（7），可根据用户所需，置换不同倍率的目镜。 二、竖轴系 本仪器采用的是半运动轴系。此种轴系的幌动角比标准园式园柱小（在同样参数条件下），轴系中的钢珠和轴套锥面具有自动归心作用，所以间隙的大小对轴的幌动影响不大。 半运动式轴系的优点的摩擦力矩小，耐磨性好，当轴套锥面磨损后，在更换直径不同的钢珠后仍可继续使用。同时温度对其影响也较小。 三、读数系统 本仪器采用了对径符合数字读数方式。因此，我们选用了透射工式度盘和1：1透镜式转象系统。并用移动光楔测微器作为测微系统。 移动光楔测微器的原理是光线通过光楔时，光线会发生转角不变。因此通过光楔移动后，由于光线的偏转点改变了而偏转角不变。因此，通过光楔的光线就产生了平行位移地动以这实现其测微的目的。 四、竖盘指标自动归零补偿器 本仪器采用了悬摆补偿器，它能消除仪器整平后的乘余误差给竖盘读数带来的影响，其原理是当仪器竖轴有一小倾角时，悬挂平板相应地的反向摆转一角度，使得通过平板的光线产生偏移，以此来消除竖轴倾斜时对竖盘读数的影响。支架上的按钮（图2），是用来检查补偿器是否正常工作的，整平仪器后，揿一下按钮，竖盘刻线（读数窗中）互相摆开，然后缓慢回复到初始位置，则补助偿工作正常。否则应排除故障。 仪器使用方法 本仪器配用三爪式基座。 一、置中 1、垂球对中 将三脚架架于测站点之上，悬挂垂球于三脚架三角基座下面的中心固定螺旋的弦线上，并使之对准站点中心，压脚架之脚尖入土中，使三脚架稳固。 仪器从箱中取出，一手握扶照准部，一手握住三角基座，小心地放于三角架头上，转动中心固定螺旋，将仪器轻轻地固定于脚架上，再转动脚螺旋（16），使园水泡（20）居中，将仪器在三角架上精细地移动，使垂球尖端正确对测站点，然后拧紧中心固定螺旋。 若对仪器上面的高点定中心，可自该点挂一垂球，当仪器整平和望远镜视准轴在水平位置时，使粗瞄准器上的红点对准垂球尖端。 2、光学对点器对中 精确的对则使用光学对点器，操作如下：先旋转对点器（18）目镜，使分划板清晰，再拉伸对点器镜管，使对中标志清晰。 滑动仪器，使测站点居于分划板的小圆圈中央。 将仪器照准部转动180°后检查仪器对中情况，然后拧紧中心固定螺旋。 仪器整平后再精细对中一次。

精密光学经纬仪的构造及使用方法

§3.2 精密光学经纬仪的构造及使用法 控制测量中，需用经纬仪进行大量的水平角和垂直角观测。使用经纬仪进行角度观测，最重要的环节是：仪器整平、照准和读数。我们围绕这三个环节，对光学经纬仪的构造和使用法作如下介绍。 3.2.1 水准器 由前节可知，测角时必须使经纬仪的垂 直轴与测站铅垂线一致。这样，在仪器结 构正确的条件下，才能正确测定所需的角 度。要满足这一要求，必须借助于安装在 仪器照准部上的水准器，即照准部水准器。 照准部水准器一般采用管状水准器。管水 准器是用质量较好的玻璃管制成，将玻璃 管的壁打磨成光滑的曲面，管注入冰点低， 流动性强，附着力较小的液体，并 图3-3 水准轴与水准器轴 留有空隙形成气泡，将管两端封闭，就成 为带有气泡的水准器，如图3-3所示。 1. 水准轴与水准器轴 为了便于观察水准器的倾斜量，在水准管的外壁上刻有若干个分划，分划间隔一般为2mm，其中间点称为零点。 水准器安置在一个金属框架，并安装在经纬仪照准部支架上，所以把这种管状水准器称为照准部水准器。照准部水准器框架的一端有水准器校正螺旋，通过校正螺旋，使照准部水准器的水准器轴与仪器垂直轴正交。 所谓水准器轴，就是过水准器零点O，水准管壁圆弧的切线，如图3-3所示。另外， O 由于水准管的液体比空气重，当液体静止时，管气泡永远居于管最高位置，如图3-3中的' O作圆弧的切线，此切线总是水平的，我们称此切线为水准轴由此可知，位置。显然，过' O与水准器分划中心O重合，这时经纬仪的使其水准轴与水准器轴相重合，即气泡最高点' 垂直轴与测站铅垂线重合，这个过程称为整置仪器水平。 2. 水准器格值 我们知道，当水准器倾斜时，水准 管的气泡便会随之移动。不同的水准器， 虽然倾斜的角度完全相同，各自的气泡 移动量不会完全相同。这是因为不同的 水准器，它们的灵敏度不同。灵敏度以 水准器格值表示。所谓水准器格值，就 是当水准气泡移动一格时，水准器轴所 变动的角度，也就是水准管上的一格所 对应的圆心角。

QT2晶体管图示仪使用操作方法

QT2晶体管图示仪使用操作方法 [说明书] QT2型晶体管图示仪作业指导书本文来自: 中国计量论坛作者: yilihe 查看3098 次QT2型晶体管图示仪作业指导书特别提示：由于本仪器输出扦孔可输出高压或本身带有高压，本仪器在使用前必须良好接地以及将电压级按至最小档，峰值电压逆时针旋至零。一、使用前的注意事项：1、严格按照BOM上的直流参数进行，本机可输出5KV的高压档位设定；特别要了解被测晶体管的集电极最大允许耗散功率PCM，集电极对其它极的最大反向击穿电压如BVCEO、BVCBO、BVCER，集电极最大允许电流ICM等主要指标；2、在测试前首先要将极性与被测管所需的极性相同即可选择PNP或NPN的开关置于规定位置；3、将集电极电压输出按至其输出电压不应超过被测管允许的集电极电压，同时将峰值电压旋至零，输出电压按至合适的档级并将功耗限制电阻置于一定的阻值，同时将X、Y偏转开关置于合适的档级，此档级以不超过上述几个主要直流参数为原则；4、对被测管进行必要的结算，以选择合格的X阶梯电流或电压，此结逄的原则以不超过被测管的集电极最大允许耗损功率；5、在进行ICM的测试时一般采用单次阶梯为宜，以免被测管的电流击穿；6、在进行IC或ICM测试中应根据集电极电压的实际情况，不应超过本仪器规定的最大电流，具体数据列表如下；电压档次10V 50V 100V 500V 5KV 允许最大电流50A 10A 5A 0.5A 5MA 在进行50A（10A）档级时当实际测试电流超过20A时以脉冲阶梯为宜。二、测试前的开机与调节：1、开启电源：将电源开关向右方向按动，此时白色指示灯亮，待预热十分钟后立即进行正常测试；2、调节光度聚焦、辅助聚焦及标尺亮度：将示波管会聚成一清晰的小光点，标尺亮度以能清晰满足测量要求为原则；3、Y、X移位：对Y、X档位旋钮置于中心位置，此时光点应根据PNP、NPN开关的选择处于左下方（NPN）或右上方（PNP）。再调节移位旋钮使其在左下方或右止方实线部份的零点；4、对Y、X校准：将Y、X灵敏度分别进行10度校准，其方法将Y（或X）方式开关自“I”至“校准”，此时光点或基线应有10度偏转，如超过或不到时应进行增益调节（调节W ）；5、阶梯调零：阶梯调零的依据即将阶梯先在示波管上显示，然后根据方放大器输入端接地所显示的位置，再调节调零电位器使其与放大器接时时重合即完成调零；调节方式前先将Y偏转放大器置于基级电流或基极源电压（即“”）档级，X偏转放大器置于UC的位置任意标级，将测试选择置于“NPN”，置于“常态”，阶梯幅度/级置于电压/级的任何档级，集电极电压置于任意档级使示波管显示电压值，此时即能调零使第一根基线与Y偏转放大器“”的重合即完成了调零步骤；6、电容性电流平衡：在要求较高电流灵敏度档级进行测量时，可对电容性电流进行平衡，平衡方式将Y偏转放大器置于较高灵敏度档级使示波管显示一电容性电流，调节电容平衡旋钮使其达到最小值即可；7、集电极电压检查：在进行测量前应检查集电极电压的输出范围，检查时将VC置于相对应档次，当发现将峰值电压顺时针方向最大时，其输出在规定值与大于10%之间即正常（用普通电压表测量结果比规定值少10%左右）。三、测试：1 ⑴、若发射极VCE-IC特性（基极信号为变量）。①根据集电极基级的极性将测试选择开关置于NPN（此时集电极电压，基极电压均为正）或（PNP（此时集电极电压，基极电压均为负）并将“”开关置于常态，如基极需要反担时可置于“侄置”；②被测管的；③将Y电流/度置于IC合适档级，X电压/度置于UC合适档级；④测试A与测试B搬向被测管连接的一边；⑤集电极电压按照要求值进行调节并使在左下方（NPN）或右上方（PNP）的零点与零刻度线重合； ⑥选择合适的阶梯幅度/级开关旋至电流/级较小档级，再逐渐加大至要求值；⑦选择合适的功耗限制电阻，电阻值的确定可接负载的要求或保护被测管的要求进行选择；⑧观察显示的曲线（波形），并进行读数记录；（2）、其发射极IB-IC特性：①根据集电极基极的极性将测试选择开关置于NPN或PNP档级，并将“”开关置于常态，如基极需要反向可置于侄置；②被测管的CBE按规定进行连接；③将Y电流/度置于IC合适档级，W电压/度置于“”的档级；④测试A与测试B搬向被测管连接的一边；⑤集电极电压按要求值与功耗限制电阻进行调节（必要时将X电压/度置于UC档级进行较精确的调节）；⑥将Y。Y方式开关““调节零点位置；⑦选择合格的阶梯幅度/级开关一般置于较小档级再逐渐加大至要求值；⑧对所显示的IB-IC曲线（波形）进行观察记录，读取数据，并计算NFE 值：NFE=IC/IB IC=示波管刻度×档次读数IB=幅度/级×级数⑵、①反压特性测试及二极管特性测试：本②仪器可进行下列各种反向击穿电压测试，测试定义见有关半导体测试标准，测试接线请参见下表：VCBO集电极基极间电压（发射极开路）VEBO发射极与基极间电压（集电极开路）VCEO集电极与发射间电压（基极开路）VCER集电极与发射极间电压（基极与发射极间电阻连接）VCES集电极与发射间电压（基极与发射极短）①根据被测管的极性选择PNP、NPN的位置，是显示“PNP”位置时，集电极电压为（-）极性，当置于“NPN”位置时，集电极电压为（=）极性；②被测管的CBE接上表的连接方法进行连接；③Y偏转放大器的电流/度开关置于较灵敏档级（一般100/UA 度档级）；④Q偏转放大器的电压/度置于UC合适的档级（视被测管的特性及集电极的电压输出值而定）；⑤将功

XJ4810图示仪使用说明

3.7 XJ4810半导体管特性图示仪 概述： XJ4810型半导体管特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。 本仪器主要由下列几个部分组成：Y轴放大器及X轴放大器；阶梯信号发生器；集电极扫描发生器；主电源及高压电源部分。 本仪器是继JT－l型晶体管特性图示仪后的开发产品。它继承JT－l的优点，并有了较大的改进与提高，与其它半导体管特性图示仪相比，具有以下特点： 1．本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。 2．增设集电极双向扫描电路及装置，能同时观察二级管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。 3．配有双簇曲线显示电路，对于中小功率晶体管各种参数的配对，尤为方便。 4．本仪器专为工作于小电流超β晶体管测试提供测试条件，最小阶梯电流可达 0.2μA／级。 5．本仪器还专为测试二级管的反向漏电流采取了适当的措施，使测试的反向电流I R 达20nA／div 。 6．本仪器配上扩展装置—XJ27100“场效应管配对测试台”可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。 7．本仪器配上扩展装置—XJ27101“数字集成电路电压传输特性测试台”，可测试COMS，TTL数字集成电路的电压传输特性。 XJ4810型半导体管特性图示仪，功能操作方便，它对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用，是一个必不可少的测试工具。 一、主要技术指标 （l）Y轴编转因数： 集电极电流范围：10μA∕div～500毫安／div，分15档，误差≤±3％； 二极管反向漏电流：0.2μA∕div～5μA∕div分5档 2μA∕div～5μA∕div 误差不超过±3% 基极电流或基极源电压：0.05V／div，误差≤±3％； 外接输入：0.1V／div，误差≤±3％； 偏转倍率：×0.1 误差不超过±（10%±10nA） （2）X轴偏转因数： 集电极电压范围：0.05～50V∕div，分10档，误差≤±3％； 基极电压范围：0.05～1V∕div，分5档，误差≤±3％； 基极电流或基极源电压：0.05V∕div，误差≤±3％； 外接输入：0.05V∕div，误差≤±3％。 （3）基极阶梯信号： 阶梯电流范围：0.2μA～50mA∕级，分17档, 误差≤±7％．；

JT-1型晶体管特性图示仪

3.6 JT－1型晶体管特性图示仪 JT－1型晶体管特性图示仪是一种可直接在示波管荧光屏上观察各种晶体管的特性曲线的专用仪器。通过仪器的标尺刻度可直接读被测晶体管的各项参数；它可用来测定晶体管的共集电极、共基极、共发射极的输入特性、输出特性、转换特性、α、β参数特性；可测定各种反向饱和电流I CBO、I CEO、I EB0和各种击穿电压BU CBO、BU CEO、BU EBO等；还可以测定二极管、稳压管、可控硅、隧道二极管、场效应管及数字集成电路的特性，用途广泛。 一、主要技术指标 （l）Y轴编转因数： 集电极电流范围：0.01～1000毫安／度，分十六档，误差≤±3％； 集电极电流倍率：分×2、×1、×0.l三档，误差≤±3％； 基极电压范围：0.01～0.5V／度，分六档，误差≤±3％； 基极电流或基极源电压：0.05V／度，误差≤±3％； 外接输入：0.1V／度，误差≤±3％； （2）X轴偏转因数： 集电极电压范围：0.01～20V／度，分十一档，误差≤±3％； 基极电压范围：0.01～0.5V／度，分六档，误差≤±3％； 基极电流或基极源电压：0.5V／度，误差≤±3％； 外接输入：0.1V／度，误差≤±3％。 （3）基极阶梯信号： 阶梯电流范围：0.001～200mA／度，分十七档； 阶梯电压范围：0.01～0.2V／级，分五档； 串联电阻：10Ω～22KΩ，分24档； 每族级数：4～12连续可变； 每秒级数：100或200，共3档； 阶梯作用：重复、关、单族，共三档； 极性：正、负两档； 误差≤±5％． （4）集电极扫描信号： 峰值电压：0～20V、0～200V两档，正、负连续可调； 电流容量：0～20V时为10A（平均值），0～200V时为1A（平均值）； 功耗限制电阻：0～100KΩ，分17档，误差≤±5％； （5）电源：交流220V ±10％，50Hz±20Hz。 功耗：260V A． 环境温度：－10 ℃～＋40℃ 相对湿度：≤80％

经纬仪使用教程讲解

经纬仪及角度测量 第一节 角度测量原理 角度测量包括水平角测量和竖直角测量，是测量的三项基本工作之一。角度测量最常用的仪器是经纬仪。水平角测量用于计算点的平面位置，竖直角测量用于测定高差或将倾斜距离改算成水平距离。 一、水平角测量原理 水平角是地面上一点到两目标的方向线投影到水平面上的夹角，也就是过这两方向线所作两竖直面间的二面角。用β表示，角值范围0o～360 o。如图3-1所示，设A 、B 、C 是任意三个位于地面上不同高程的点，B 1A 1、B 1C 1为空间直线BA 、BC 在水平面上的投影，B 1A 1与B 1C 1的夹角β就是为地面上BA 、BC 两方向之间的水平角。 为了测出水平角的大小，可以设想在B 点的上方水平地安置一个带有顺时针刻画、注记的圆盘，并使其圆心O 在过B 点的铅垂线上，有一刻度盘和在刻度盘上读数的指标。观测水平角时，刻度盘中心应安放在过测站点的铅垂线上，直线BA 、BC 在水平圆盘上的投影是om 、on ，此时如果能读出om 、on 在水平圆盘上的读数m 和n ，那么水平角β就等于m 减去n ，即n m -=β。 因此，用于测量水平角的仪器必须有一个能读数的度盘，并能使之水平。为了瞄准不同方向，该度盘应能沿水平方向转动，也能高低俯仰。当度盘高低俯仰时，其视准独应划出一竖直面，这样才能使得在同一竖直面内高低不同的目标有相同的水平度盘读数。 经纬仪就是根据上述要求设计制造的一种测角仪器。 图3-1 水平角测量原理 图3-2 竖直角测量原理 二、竖直角测量原理 竖直角是同一竖直面内视线与水平线间的夹角。角值范围为-90°～+ 90°。视线向上倾斜，竖直角为仰角，符号为正。视线向下倾斜，竖直角为俯角，符号为负。 竖直角与水平角一样，其角值也是度盘上两个方向读数之差。不同的是竖直角的两个方向中必有一个是水平方向。任何类型的经纬仪，制作上都要求当竖直指标水准管气泡居中，望远镜视准轴水平时，其竖盘读数是一个固定值。因此，在观测竖直角时，只要观测目标点一个方向并读取竖盘读数便可算得该目标点的竖直角，而不必观测水平方向。

用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数

用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数 一．实验目的 掌握晶体管特性图示仪测试晶体管的特性和参数的方法。 二．实验设备 （1）XJ4810晶体管特性图示仪 （2）QT 2晶体管图示仪 （3）3DG6A 3DJ7B 3DG4 三．实验原理 1．双极型晶体（以3DG4NPN 管为例）输入特性和输出特性的测试原理 （1）输入特性曲线和输入电阻i R ，在共射晶体管电路中，输出交流短路时，输入电压和输入电流之比为i R ，即 ＝常数CE V B BE i I V R ??= （1.1） 它是共射晶体管输入特性曲线斜率的倒数。例如需测3DG 4在V CE ＝10时某一作点Q 的R 值，晶体管接法如图1.1所示。各旋扭位置为 峰值电压% 80% 峰值电压范围 0～10V 功耗电阻 50Ω X 轴作用 基极电压1V/度 Y 轴作用 阶梯选择 μ20A/极 级/簇 10 串联电阻 10K 集电极极性 正（+） 把X 轴集电极电压置于1V/度，调峰值电压为10V ，然后X 轴作用扳回基极电压0.1V/度，即得CE V ＝10V 时的输入特性曲线。这样可测得图1.2：

V CE V B BE i I V R 10=??= （1.2） 根据测得的值计算出i R 的值 图1.1晶体管接法 图1.2输入特性曲线 （2）输出特性曲线、转移特性曲线和β、FE h 在共射电路中，输出交流短路时，输出电流和输入电流增量之比为共射晶体管交流电流放大系数β。在共射电路中，输出端短路时，输出电流和输入电流之比为共射晶体管直流电流放大系数FE h 。晶体管接法如图1.1所示。旋扭位置如下： 峰值电压范围 10V 峰值电压% 80% 功耗电阻 250Ω X 轴 集电极电压1V/度 Y 轴 集电极电流2mA/度 阶梯选择 μ20A/度 集电极极性 正（+） 得到图1.3所示共射晶体管输出特性曲线，由输出特性曲线上读出V V CE 5=时第2、4、6三根曲线对应的C I ，B I 计算出交流放大系数B C I I ??=β （1.3） FE h >β主要是因为基区表面复合等原因导致小电流β较小造成的，β、FE h 也可用共射晶体管的转移特性（图1.4）进行测量只要将上述的X 轴作用开关拨到“基极电流或基极源电压”即得到共射晶体管的转移特性。这种曲线可直接观察β的线性好坏。 C B E