P C B 金 手 指 检 验 规 范
主旨: P C B 金手指检验规范
备注:本规范参照IPC-A-600F,如有未尽事宜,
以IPC-A-600F为主.
检验顺序:
1.外观检验时,首先应将原稿制作底片,套用在实物板上 ,
去核对外层线路,锡垫,钻孔设计,是否皆符合原稿底片.
2.量测金手指之金镍厚度:一般规格为(Ni min :100 μ")
,(Au min :10 μ"),而VGA CARD 一般为(Ni min :100 μ")
(Au min : 5 μ"),若有其它规格,则依客户要求为主.
3.金手指剥离试验:以3M #600系列胶带,密贴G/F长度 约 2",30秒
后垂直拉起,最后检视胶带是否有镀金,镀镍剥落.
4.外型尺寸确认:检验项目包括金手指长度,宽度/斜边/倒角/
V-CUT等规格以规格以drawing 为主.
5.外观检验:
5.1外观检验由人员以目视判定,遇有缺点可以 3~5倍放大镜确认,
若有需要量测可用投影机,尺寸量测机或使用25-50 倍显微镜
量测.
5.2金手指缺点判定,可分为以下三种:
严重缺点(CR):严格缺点系指产品的不良,造成产品无法
使用,以及造成功能性的故障.
主要缺点(MA):指严重缺点以外之缺点,其产品的不良
或许会导致产品功能性发生问题,但目前尚未
发生问题者,有潜在危害性者.
次要缺点(MI):次要缺点系指产品的不良,虽然与理想标
准有所差异,但其产品使用性,实质上不受影
响者.
5.3 一般位于金手指3/5的关键位臵,为重要检验区域.
在此区域发生之缺点,依其现象可分为(CR)严重缺点.(MA)主要缺点(MI) 次要缺点,定义如缺点判定表.
5.4 若非发生于重要检验区则所有CR缺点均视为MA 缺点.记录表格:
1.IQC检验结果,请详细记录于IQC日报表中.
2.IQC检验结果,请详细记录于IQC品质记录表中.
3.IQC检验结果,若有特殊异常情形判允收或退货,甚至以特采进货之批量,请详细记录于IQC承认书中的历史记录内,以便往后的查询作业.
3/5 长度内为
重要检验区域
0秒视判定,遇有缺点可以 3~5倍放大镜确认,