GPRS模块实验电科院测试方法

电科院测试巨松模块实验报告

1、浪涌抗扰度实验

实验依据：GB/T 17626.5中规定的严酷等级为4级的浪涌骚扰。

技术要求：无线模块在实验期间，应能正常工作，模块保持在线状态，收发报文正常，不会出现死机、损坏等现象，

实验值：实验电平：共模±4kV，差模±2kV；

试验脉冲次数：正负各5次；

脉冲间隔时间：60s

实验方法：受试设备处在正常工作状态，按实验等级规定的实验值要求，将干扰信号分别施加在电源回路，观察设备工作状况。

实验结果：共模实验做完正常，差模﹢2kV时，模块不运行，拆开检查器件有损坏，整改后测试合格。

2、快速瞬变脉冲群实验

实验依据：GB/T 17626.4规定的严酷等级为4级的电快速瞬变干扰。技术要求：无线模块在实验期间，应能正常工作，不会出现死机，损坏现象，收发报文正常，可以出现瞬间错误。

实验值：实验电平：±4kV（电源端口）

干扰信号重复频率：5kHz

干扰信号持续时间：正负极性各1.5min

实验方法：无线模块处在正常工作状态，按实验等级规定的实验值要求，将干扰信号分别施加在电源回路，观察工作状况。

测试结果：实验中，模块出现掉线状态，且短时间不会自动上线，整改后测试合格

3、高频干扰

实验依据：GB/T 17626.10规定的严酷等级为4级的高频干扰。

技术要求：无线模块在实验期间，应能正常工作，不出现死机，损坏现象，收发报文正常。

实验值：

试验方法：实验设备处在正常工作状态，按实验等级规定的实验值要求，将干扰信号分别施加在电源回路，观察设备工作状况。

实验结果：合格。

4、绝缘电阻和绝缘耐压

4.1 绝缘电阻

技术要求：测量电源回路对地、通信回路对地之间的绝缘电阻，要求如下：

实验条件：电源回路对地，加500V，测量时间10s，232通信回路对地，加250v，测量时间10s。

实验结果：合格。

4.2、绝缘耐压

技术要求：电源回路对地和232通信回路对地之间，应耐受如下表所示的50Hz的交流耐压，历时1min的绝缘强度试验，装置无击穿、闪络及元器件损坏现象，泄露电流不应大于5mA。

实验结果：合格。

5、静电放电试验

实验依据：GB/T 15153.1中规定的严酷等级为4级的静电放电抗扰度试验。

技术要求：试验过程中，模块应能保持正常运行，并保持在线状态，收发报文正常。

实验值：接触放电：±8kV

试验方法：无线模块处在正常工作状态，对模块外壳人手容易接触的

非金属和金属部分施加±8kV的接触放电电压，每次试验点正负极性放电次数均应大于10次，观察模块工作状况。

实验结果：合格。

6、连续通电的稳定性

技术要求：试验后，模块应能保持正常运行，并保持在线状态，收发报文正常。

测试方法：给模块供电，连续通电72小时后测试模块工作情况，模块应能保持正常运行，并保持在线状态，收发报文正常。

实验结果：合格。

7、工频磁场试验：

试验依据：应能承受GB/T 17626.8规定的严酷等级为4级的工频磁场抗扰度试验。

技术要求：无线模块在实验期间，应不受干扰，正常工作，模块应能保持正常运行，并保持在线状态，收发报文正常。

试验方法：

实验值：稳定磁场：100A/m

受试设备处在正常工作状态，按实验等级4级的实验值要求，采用浸入法，将模块放入线圈磁场中，对模块施加干扰信号，观察设备工作状况。

实验结果：合格。

8、高低温实验

技术要求：模块在低温-40°实验后和高温70°试验后，测试模块，

运行正常，保持在线状态，远程监测主站后台，收发报文正常。

试验方法：

低温（-40°）试验：模块放到试验箱内，上电运行正常，保持在线状态，收发报文正常。关闭试验箱，设置-40°后，2.5个小时后，观察模块运行正常，监测主站后台，模块保持在线，收发报文正常。

高温（70°）试验：做完低温试验测试正常后，直接设置高温（70°）后，再经过2.5个小时，观察模块运行正常，监测主站后台，模块保持在线，收发报文正常。

测试结果：合格

9、功耗实验

技术要求：电源回路：独立通信模块在数据通信状态下，功耗应小于2W，最高不应大于5W。

实验方法：

将无线模块供电电源12V电源适配器的插头插到功耗测试仪器上，上电稳定后记录功耗测试仪器显示功耗值是否满足要求。

测试功耗值是1.2W。

实验结果：合格。

10、辐射磁场试验

初粘力及剥离力的测试方法

初粘力的测试方法初粘测试仪——滚球斜坡停止试验法(即国家标准测试方法) GB-T2794 1, 测试设备: 初粘测试仪. 2, 钢球: 直径为0.759-25.4mm( 1-32#) , 作为测试用钢球. 3, 测试条件: 试验室温度(23?à 2) degrees Centigrade, 相对温度(65?à 5 ) %. 4, 试样：①试样宽度为100mm, 长度约200mm 的样品,要求胶面干净,无折皱,无拉伸变形②取样的不允许手或其他物体接触样品胶面。 5, 测试步骤: 准备工作: . ①将擦去防锈油的钢球,放入盛有清洗剂的容器内浸泡数分钟,After taking out, 用干净的无尘布擦拭干净. ②用胶粘带把试样上下两端固定在倾斜板( 倾斜度30. )上，必要时，也可以用胶粘带沿测试段两侧边缘加以固定，使试样平整地贴合在板上。 测试: 用镊子把钢球夹入放球器内,调节放球器的前后位置,使钢球中心位于助滚段起始线上,在正式测试前,一个试样允许作多次测试,但应调节放球器的左右位置,使钢球每次滚动的轨迹不重合.

预选最大钢球: 打开放球器,观察滚下的钢球是否在测试段内被粘住( 停止移动逾Above 5s), 从大到小,取不同球号的钢球进行适当次数的测试,直至找到测试段粘住的最大球号的钢球. 取上述最大球号钢球和球号与之衔接的大小两个球,在同一试样上各进行一次测试,以确认最大球号的钢球. 6, 测试结果: 测试结果以钢球球号表示,钢球号码越大,Show that the viscidity is the higher at the beginning. 备注: 初粘力是粘胶浸润性能和硬度的一个主要指标. 图一: 初粘测试仪. Ball putting device Receiving device 倾斜板180。剥离力测试法标准为GB2792-1998 1, 测试设备: 180 度剥离测试仪2、取样

胶黏剂的剥离强度试验方法.

关于胶黏剂的剥离强度试验方法 一.概述 在航空产品的实际使用中，胶接接头不仅受到拉伸应力与剪切应力作用，有时还会受到线应力作用。因此对胶黏剂来讲它应有好的抗线应力的能力，另一方面在胶接接头设计上则应尽可能地避免接头承受线应力作用。测定胶接接头的抗线应力的能力大小，主要采用剥离试验来测定它的剥离强度，其强度用每单位宽度的胶接面上所能承受最大破坏载荷来表示，单位是KN/m。 剥离是一种胶接接头常见的破坏形式之一。其特点是胶接接头在受外力作用时，力不是作用在整个胶接面上，而只是集中在接头端部的一个非常狭窄的区域，这个区域似乎是一条线，胶黏剂所受到的这种应力，就是我们在前面所讲的线应力。当作用在这一条线上的外力大于胶黏剂的胶接强度时，接头受剥离力作用便沿着胶接面而发生破坏。剥离试验用的试件其中一个是柔性材料（如薄的金属蒙皮，织物，橡胶，皮革等），而另一个试件可以是一刚性材料（如厚的金属梁等）或者也同为一柔性材料，由于至少有一个试件为柔性材料，当接头承受剥离力作用时，被粘物的柔性部分首先发生塑性变形，然后，胶接接头慢慢地被撕开了。如织物与织物的胶接属蒙皮与珩条的胶接等。根据试样的结构和剥离结构的不同，它又分为： T剥离强度单位为KN/m； 90°剥离强度单位为KN/m； 180°剥离强度单位为KN/m； Bell剥离（浮滚剥离）强度单位为KN/m； 爬鼓剥离强度单位KN.m/m； 测定剥离强度的方法虽然各有差异，但它的基本操作与影响因素大致相同。 二.T剥离强度试验（金属-金属） 1.原理 用T剥离方法从未胶接端开始施加剥离力，使金属对金属胶接件沿胶接线生产特定的破裂速率所需的剥离力。 2.仪器设备 拉力试验机并附有能自动记录剥离负荷的绘图装置以及有一能夹紧试样的夹持器。 3.试验步骤 （1）试样制备组成T剥离试样的被胶接材料必须是挠性材料，并被弯曲成90°也不会出现破裂。通常是由两块厚度相同的同一种金属加工而成的薄板胶接在一起制成。这金属材质与薄板厚度在胶黏剂标准中都有规定。厚度应均匀，以不超过0.3mm或0.5mm的LY12CZ铝合金薄板居多。 按有关胶接工艺技术文件，选定薄板的材质与厚度，以及胶黏剂层厚度。当没有明确规定时，则选胶层平均厚度在0.2mm以下，厚0.3mm的LY12CZ铝合金薄板。除非另有规定，试样尺寸，长200mm，宽25mm±0.5mm。施加胶接压力不应少于1MPa。若在压机上加压，则试样上方应覆盖一张邵氏硬度（A）约45，厚10mm 的橡胶板，压力控制在0.7MPa（或按供需双方规定）。每块试片整个宽度涂胶，涂胶长度为150mm。

(完整word版)教案-材料现代分析测试方法

西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名：张宝述 课程名称：材料现代分析测试方法 课程代码：11319074 授课对象：本科专业：材料物理 授课总学时：64 其中理论：64 实验：16（单独开课） 教材：左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社，2000 材料学院教学科研办公室制

2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子（束）与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1．理解概念：（电子的）最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射；掌握概念：散射角（2 ）、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、二次离子。 2．了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3．掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4．掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5．掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6．了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点：电子的散射，电子与固体作用产生的信号。难点：电子与固体的相互作用，离子散射，溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子激发产生的？ 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同？ 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？ 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4

材料研究与测试方法复习题答案版

材料研究与测试方法复习题答案版

复习题 一、名词解释 1、系统消光: 把由于F HKL=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。 2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。 3、Moseley定律：对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。 4、相对强度：同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。 5、积分强度：扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。 6、明场像暗场像：用物镜光栏挡去衍射束，让透射束成像，有衍射的为暗像，无衍射的为明像，这样形成的为明场像；用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束，让一束强衍射束成像，则无衍射的为暗像，有衍射的为明像，这样形成的为暗场像。 7、透射电镜点分辨率、线分辨率：点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离；线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。 8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异； 9、衍射衬度：由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异；10相位衬度：入射电子收到试样原子散射，得到透射波和散射波，两者振幅接近，强度差很小，两者之间引入相位差，使得透射波和合成波振幅产生较大差异，从而产生衬度。 11像差：从物面上一点散射出的电子束，不一定全部聚焦在一点，或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面，结果图像模糊不清，或者原物的几何形状不完全相似，这种现象称为像差 球差：由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的 像散：由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差 色差：由于成像电子的波长（或能量）不同而引起的一种像差 12、透镜景深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，物平面可沿透镜轴移动的距离 13、透镜焦深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，像平面可沿透镜轴移动的距离 14、电子衍射：电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电子波之间产生互相干涉现象。它满足劳厄方程或布拉格方程，并满足电子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相机长度，λ为入射电子束波长，R是透射斑点与衍射斑点间的距离。 15、二次电子：二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子。

GBT 2790—1995 胶粘剂180°剥离强度试验方法 挠性材料对刚性材料

胶粘剂180°剥离强度试验方法 挠性材料对刚性材料 GB／T 2790—1995 代替GB 2790—81 国家技术监督局1995—12—20批准 1996—08—01实施 本标准等效采用ISO 8510—2：1990《胶粘剂—挠性材料与刚性材料粘合的胶接试样的剥离试验第2部分：180°剥离》。 1 主题内容与适用范围 本标准规定了挠性材料与刚性材料粘合的胶接试样的180°剥离试验的装置、试样制备、试验步骤和结果处理。 本标准适用于测定由两种被粘材料（一种是挠性材料，另一种是刚性材料）组成的胶接试样在规定条件下，胶粘剂抗180°剥离性能。 2 引用标准 GB 2918 塑料试样状态调节和试验的标准环境 3 原理 两块被粘材料用胶粘剂制备成胶接试样，然后将胶接试样以规定的速率从胶接的开口处剥开，两块被粘物沿着被粘面长度的方向逐渐分离。通过挠性被粘物所施加的剥离力基本上平行于胶接面。 4 装置 4．1 拉伸试验装置 具有适宜的负荷范围，夹头能以恒定的速率分离并施加拉伸力的装置，该装置应配备有力的测量系统和指示记录系统。力的示值误差不超过2％。整个装置的响应时间应足够地短，以不影响测量的准确性为宜，即当胶接试样被破坏时，所施加的力能被测量到。试样的破坏负荷应处于满标负荷的10％～80％之间。 4．2 夹头 夹头之一能牢固地夹住刚性被粘物(见5．1．1)，并使胶接面平行于所施加的力。另一个夹头则如图1所示，能固定住挠性被粘物(见5．1．2)，此夹头是自校准型的，因此施加的力平行于胶接面，并与拉伸试验装置（4．1）的传感器相联。 5 试样 5．1 被粘材料 被粘材料的厚度要以能经受住所预计的拉伸力为宜。其尺寸要精确地测量并写入试验报告。注：被粘试片的厚度由胶粘剂供需方约定，推荐被粘试片的厚度是：金属1．5mm；塑料1．5mm；木材3mm；硫化胶2mm。挠性被粘试片的厚度与类型对试验结果影响较大必须加以记录，当被粘试片厚度大于1 mm时，厚度测量精确到0．1mm；当被粘试片厚度小于1 mm时，厚度测量精确到0．001mm。 5．1．1 刚性被粘试片 刚性被粘试片宽为25．0mm±0．5mm，除非另有规定1]，长为200mm以上的长条。

光学薄膜现代分析测试方法

一、金相实验室 ? Leica DM/RM 光学显微镜 主要特性：用于金相显微分析，可直观检测金属材料的微观组织，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成，从而判断材质优劣。须进行样品制备工作，最大放大倍数约1400倍。 ? Leica 体视显微镜 主要特性：1、用于观察材料的表面低倍形貌，初步判断材质缺陷； 2、观察断口的宏观断裂形貌，初步判断裂纹起源。 ?热振光模拟显微镜 ?图象分析仪 ?莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码照相装置 二、电子显微镜实验室 ?扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200，JOEL JSM820，JEOL JSM6335) 主要特性： 1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析，如解理断裂、疲劳断裂（疲劳辉纹）、晶间断裂（氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等）、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。 2、附带能谱，用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析，测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。 3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率：10X—300,000X；样品尺寸：0.1mm—10cm；分辩率:1—50nm。 ?透射电子显微镜（菲利蒲 CM-20,CM-200） 主要特性： 1、需进行试样制备为金属薄膜，试样厚度须<200nm。用于薄膜表面科学分析，带能谱，可进行化学成分分析。 2、有三种衍射花样：斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。 三、X射线衍射实验室 ? XRD-Siemens500—X射线衍射仪 主要特性： 1、专用于测定粉末样品的晶体结构（如密排六方，体心立方，面心立方等），晶型，点阵类型，晶面指数，衍射角，布拉格位移矢量，已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。 2、可升温（加热）使用。 ? XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪 主要特性： 1、分辨率衍射仪，主要用于材料科学的研究工作，如半导体材料等，其重现性精度达万分之一度。 2、具备物相分析（定性、定量、物相晶粒度测定；点阵参数测定），残余应力及织构的测定；薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定；非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。 3、用于快速定性定量测定各类材料（包括金属、陶瓷、半导体材料）的化学成分组成及元素含量。如：Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等，精确度为0.1%。 4、同时可观察样品的显微形貌，进行显微选区成分分析。

材料研究与测试方法复习题答案版

复习题 一、名词解释 1、系统消光: 把由于F HKL=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。 2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。 3、Moseley定律：对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。 4、相对强度：同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。 5、积分强度：扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。 6、明场像暗场像：用物镜光栏挡去衍射束，让透射束成像，有衍射的为暗像，无衍射的为明像，这样形成的为明场像；用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束，让一束强衍射束成像，则无衍射的为暗像，有衍射的为明像，这样形成的为暗场像。 7、透射电镜点分辨率、线分辨率：点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离；线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。 8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异； 9、衍射衬度：由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异；10相位衬度：入射电子收到试样原子散射，得到透射波和散射波，两者振幅接近，强度差很小，两者之间引入相位差，使得透射波和合成波振幅产生较大差异，从而产生衬度。 11像差：从物面上一点散射出的电子束，不一定全部聚焦在一点，或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面，结果图像模糊不清，或者原物的几何形状不完全相似，这种现象称为像差 球差：由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的 像散：由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差 色差：由于成像电子的波长（或能量）不同而引起的一种像差 12、透镜景深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，物平面可沿透镜轴移动的距离 13、透镜焦深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，像平面可沿透镜轴移动的距离 14、电子衍射：电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电子波之间产生互相干涉现象。它满足劳厄方程或布拉格方程，并满足电子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相机长度，λ为入射电子束波长，R是透射斑点与衍射斑点间的距离。 15、二次电子：二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子。

FTM1-FINAT测试方法NO.1 180°剥离力测试(剥离速度300mmmin)

FTM1-FINAT测试方法NO.1 180°剥离力测试（剥离速度 300mmmin) 适用范围：本方法用于测试自粘性压敏材料的永久粘合力或可剥离性。 定义：剥离力是在一定条件下将压敏材料从标准测试板上以一定角度、一定速度剥离时所需的力。 分别在压敏材料和标准测试板贴合20min及24h后进行测试,称后者 为永久剥离力。 测试仪器：拉力测试仪或类似仪器，其夹具能以180°剥离玻璃压敏材料，剥离速度300mm/min，精度+2%。 测试板用玻璃制成。 一只标准FINAT测试压辊。 测试样品：应是从有代表性的材料上取下来的测试条，测试条宽25mm,沿仪器方向至少长175mm.切口应干净、平直。每种材料至少应取3条进行 测试。 测试条件：温度23±2℃，50%RH±5%RH。测试样在测试前应至少放置4h。 测试步骤：从测试条上移除背材，胶面向下，用轻微指压将胶条贴于清洁的测试板上。用FINAT测试压辊以大约10mm/s的速度每方向各压2次，使 胶面与测试板表面紧密接触。 在测试条贴合于测试板以后，放置20min再测试。重复上述步骤，将 另一测试条贴合于另一测试板上，放置24h再测试。 将测试条与测试板固定在仪器的合适位置使得剥离角度为180°，设置 夹具分离速度为30mm/min。在测试条中部每10mm读取数据，至少 读取5个数据。对所读取数据取平均值。 测试结果：剥离力用N/25mm表示，对各测试条取平均值。贴合时间为20min 或24h。 破坏类型 CP 洁净试板－试板上无污痕。 PS 试板污染－测试区域有色变，但无胶残留。 CF 内聚破坏－胶膜在测试过程中撕裂，胶残留在试板和基材上。 AT 胶转移－胶膜干净地从基材转移到试板上。用百分数描述胶转 移程度。

《现代分析测试技术》复习知识点答案

一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度：也称特征浓度，在原子吸收法中，将能产生1％吸收率即得到0.0044 的吸光 度的某元素的浓度称为特征浓度。计算公式：S=0.0044 x C/A （ug/mL/1%） S——1％吸收灵敏度C ——标准溶液浓度0.0044 ——为1％吸收的吸光度 A——3 次测得的吸光度读数均值 2. 原子吸收检出限：是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最 小浓度或最小含量。通常以产生空白溶液信号的标准偏差2?3倍时的测量讯号的浓度表示。 只有待测元素的存在量达到这一最低浓度或更高时，才有可能将有效分析信号和噪声信号可靠地区分开。 计算公式： D = c K S /A m D一一元素的检出限ug/mL c ――试液的浓度 S ――空白溶液吸光度的标准偏差 A m――试液的平均吸光度K――置信度常数，通常取2~3 3．荧光激发光谱：将激发光的光源分光，测定不同波长的激发光照射下所发射的荧光强度的变化， 以I F—入激发作图，便可得到荧光物质的激发光谱 4 ?紫外可见分光光度法：紫外一可见分光光度法是利用某些物质分子能够吸收200 ~ 800 nm光谱 区的辐射来进行分析测定的方法。这种分子吸收光谱源于价电子或分子轨道上电子的电子能级间跃迁，广泛用于无机和有机物质的定量测定，辅助定性分析（如配合IR）。 5 ?热重法：热重法（TG是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。TG基本原 理：许多物质在加热过程中常伴随质量的变化，这种变化过程有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。热重分析通常可分为两类：动态（升温）和静态（恒温）。检测质量的变化最常用的办法就是用热天平（图1），测量的原理有两种：变位法和零位法。 6?差热分析；差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技 术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温差（△ T）随温度或时间的变化关系。在DAT试验中， 样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如: 相转变，熔化，结晶结构的转变， 沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说来，相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸热效应；而结晶、氧化和一些分解反应产生放热效应。 7. 红外光谱：红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频率连续变化的红外光 照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，导致分子振动或转动引起偶极矩的净变化,使振-转能级从基态跃迁到激发态，相应于这些区域的透射光强度减弱，记录经过样品的光透过率T%寸波数或波长

ASTM-D3359-09-标准试验方法-胶带法测量附着力

Designation: D 3359 – 02 名称： D 3359-02 Standard Test Methods for Measuring Adhesion by Tape Test1 ASTM D3359-09 标准试验方法胶带法测量附着力 This standard is issued under the fixed designation D 3359; the number immediately following the designation indicates the year of original adoption or, in the case of revision, the year of last revision. A number in parentheses indicates the year of last reapproval. A superscript epsilon (e) indicates an editorial change since the last revision or reapproval. 这个标准是D 3359确定了以后发行的。数字代表名称最初通过的时间，或者修订情况，和最新版本。括号内的数字代表最新重新审批时间。上标代表最新版本的变化或重新审批。 This standard has been approved for use by agencies of the Department of Defense. 该标准已经被国防机构部门批准使用。 1. Scope 范围 1.1 These test methods cover procedures for assessing the adhesion of coating films to metallic substrates by applying and removing pressure-sensitive tape over cuts made in the film. 本标准提出的试验方法是规定通过在漆膜切割区施加和撕离压敏胶带的方式，对漆膜与金属底材之间的附着力进行评定的程序 1.2 Test Method A is primarily intended for use at job sites while Test Method B is more suitable for use in the laboratory. Also, Test Method B is not considered suitable for films thicker than 5 mils (125μm). 试验方法A主要是供工作场所用，而试验方法B更适合实验室使用。试验方法B被视为不适合厚度超过 5毫英寸（125微米）的漆膜。 NOTE 1—Subject to agreement between the purchaser and the seller,Test Method B can be used for thicker films if wider spaced cuts are employed. 注 1-根据买卖双方的协议，如果切割间距较宽，漆膜较厚时可采用试验方法B。

ASTM~D3330剥离强度测试标准中文版

压敏胶带剥离强度测试标准 1. 范围 1.1这些测试方法主要用于压敏胶带剥离强度的测试。 1.1.1 方法 A：单面胶从标准钢板或其他类似表面的平板上180° 剥离的测试方法。 1.1.2 方法B：单面背衬胶粘性的测试方法。 1.1.3 方法C：双面胶与标准钢板粘性的测试方法。 1.1.4 方法D：单面胶或双面胶与离型纸的粘性的测试方法。 1.1.5 方法E：无基材胶带与标准钢板的粘性的测试方法。 1.1.6 方法F：单面胶与标准钢板90°剥离的测试方法。 1.2这些测试方法是给定压敏胶带粘性测试的统一评定方法，这评定可 以针对一卷，两卷之间或一批。 1.3不同的基材和（或）胶质都会影响测定结果，因此，这些方法不适 用不统一的胶质。 1.4这些测试方法不适用于一些相对硬质的基材、衬里或在低强度下高粘性背胶的测试。这些特性对测试结果有很大的影响，因而不能真正代表粘力。 1.5 测试数值用 IS或英寸—磅做为单位，在每个单位系统中数值的规定都是不同的，因此，每个系统必须使用自己的单位。 1.6这些标准没用强调在操作过程中可能会发生的所有安全隐患。标准 使用者有义务去建立一个安全健康的操纵规则。 4.测试方法概要 4.1 方法 A——单面胶180°剥离——用可控压力把胶带粘贴到标准测 试板上。测试时，以恒定的速度180°角从测试板上剥离。 4.2 方法B——单面背衬胶的粘性——胶带式样一粘贴到测试钢板上， 取另一式样粘贴到式样以的背面，然后按方法A进行测试。 4.3 方法C——双面胶 4.3.1 表面粘性——把双面胶的正面贴到不锈钢板上，衬里面朝外。 撕去衬纸，贴一层0.025mm（0.001in）的聚酯薄膜，接下来按方法A 进行

《现代分析测试技术》复习知识点

《现代分析测试技术》复习知识点 一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度、指产生1％吸收时水溶液中某种元素的浓度 2. 原子吸收检出限、是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最小浓度或最小含量 3．荧光激发光谱、4．紫外可见分光光度法 5．热重法、是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。 6．差热分析、是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。 7．红外光谱、如果将透过物质的光辐射用单色器加以色散，使光的波长按大小依次排列，同时测量在不同波长处的辐射强度，即得到物质的吸收光谱。如果用的是光源是红外辐射就得到红外吸收光谱(Infrared Spectrometry)。 8．拉曼散射，但也存在很微量的光子不仅改变了光的传播方向，而且也改变了光波的频率，这种散射称为拉曼散射。 9．瑞利散射、当一束激发光的光子与作为散射中心的分子发生相互作用时，大部分光子仅是改变了方向，发生散射，而光的频率仍与激发光源一致，这种散射称为瑞利散射 10．连续X射线：当高速运动的电子击靶时，电子穿过靶材原子核附近的强电场时被减速。电子所减少的能量（△E）转为所发射X 射线光子能量（hν），即hν＝△E。 这种过程是一种量子过程。由于击靶的电子数目极多，击靶时间不同、穿透的深浅不同、损失的动能不等，因此，由电子动能转换为X 射线光子的能量有多有少，产生的X 射线频率也有高有低，从而形成一系列不同频率、不同波长的X 射线，构成了连续谱 11．特征X射线、原子内部的电子按泡利不相容原理和能量最低原理分布于各个能级。在电子轰击阳极的过程中，当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时，于是在低能级上出现空位，系统能量升高，处于不稳定激发态。较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，并以光子的形式辐射出标识X 射线 13．相干散射、当入射X射线光子与原子中束缚较紧的电子发生弹性碰撞时，X射线光子的能量不足以使电子摆脱束缚，电子的散射线波长与入射线波长相同，有确定的相位关系。这种散射称相干散射或汤姆逊（Thomson）散射。 14．非相干散射，，当入射X射线光子与原子中束缚较弱的电子（如外层电子）发生非弹性碰撞时，光子消耗一部分能量作为电子的动能，于是电子被撞出原子之外，同时发出波长变长、能量降低的非相干散射或康普顿（Compton）散射

武汉理工大学材料研究与测试方法复习资料样本

第一章X射线 一、 X射线的产生? 热阴极上的灯丝被通电加热至高温时, 产生大量的热电子, 这些电子在阴阳极间的高压作用下被加速, 以极快速度撞向阳极, 由于电子的运动突然受阻, 其动能部分转变为辐射能, 以X射线的形式放出, 产生X射线。 二、 X射线谱的种类? 各自的特征? 答: 两种类型: 连续X射线谱和特征X射线谱 连续X射线谱: 具有从某一个最短波长( 短波极限) 开始的连续的各种波长的X射线。它的强度随管电压V、管电流i和阳极材料原子序数Z的变化而变化。指X射线管中发出的一部分包含各种波长的光的光谱。从管中释放的电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同, 绝大多数电子要经历多次碰撞, 产生能量各不相同的辐射, 因此出现连续X射线谱特征X射线谱: 也称标识X射线谱, 它是由若干特定波长而强度很大的谱线构成的, 这种谱线只有当管电压超过一定数值Vk(激发电压)时才能产生, 而这种谱线的波长与X射线管的管电压、管电流等工作条件无关, 只取决于阳极材料, 不同元属制成的阳极将发出不同波长的谱线, 并称为特征X射线谱 三、什么叫K系和L系辐射? 当k层电子被激发, L、 M、 N。。壳层中的电子跳入k层空位时发出X射线的过程叫K 系辐射, 发出的X射线谱线分别称之为Kα、 Kβ、 Kγ…谱线, 它们共同构成了k系标识X 射线。 当L层电子被激发, M、 N。。壳层中的电子跳入L层空位时发出X射线的过程叫L系辐射, 发出的X射线谱线分别称之为Lα、 Lβ…谱线, 它们共同构成了L系标识X射线。 四、何谓K α射线? 何谓K β 射线? 这两种射线中哪种射线强度大? 一般X射线衍射用的是哪 种射线? Kα是L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线, Kβ射线是M壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线, Kα比Kβ强度大, 因为L层电子跳入K层空位的几率比M层电子跳入

GB2792-81压敏胶粘带180°剥离强度测定方法.

中华人民共和国国家标准 GB2792－81 压敏胶粘带180°剥离强度测定方法 1 适用范围 本标准规定了用剥离法测量分开压敏胶粘带与被粘板材所需力的测定方法。 压敏胶粘带与被粘物为片、膜材料时，将采用金属校直板进行测定。 2 原理 用180°剥离方法施加应力，使压敏胶粘带对被粘材料粘接处产生特定的破裂速率所需的力。 3 装置 3．1 辊压装置(见图1) 3．1．1 压辊是用橡胶覆盖的直径为84±1mm，宽度45mm的钢轮子。 3．1．2 橡胶硬度(邵尔A型)为60°±5°，厚度6mm。 3.1．3 压辊质量为2000±50g。 3.2 试验机 3．2．1 拉力试验机应符合JB 706-77《机械式拉力试验机技术条件》的关于鉴定试验机的要求。3．2．2 拉力试验机应附有能自动记录剥离负荷的绘图装置。 4 试样 4.l 胶粘带 胶粘带宽度为20±1、25±1mm，长度约200mm。

4．2 试验板 胶粘带与板材粘合时，试验板表面应平整，试验时不应产生弯曲变形，试验板尺寸如图2所示。 单位：mm。 4．3 校直板 胶粘带与片、膜材料粘合时，应使用金属校直板，其尺寸如图3所示。单位：mm。 4．4 试样制备 4．4．1 被粘材料，表面处理方法、试样制备后的停放时间等应按产品工艺规程要求进行。4．4．2 为了保证在试验时胶粘带与被粘片、膜材料保持180°分离角度，用胶粘带将试片顺长度方向的两侧粘贴在金属校直板上。 5 试验条件 5．1 试验室温度为23±2℃；相对湿度为65±5％。

5．2 胶粘带、被粘材料应在5．1条件下放置2h以上。 6 试验步骤 6．1 用精度不低于0．05mm的量具测量胶粘带宽度。 6．2 将胶粘带剥开，切去外面的3～5层，均匀撕剥胶粘带(在粘合长度内不能接触手或其它物体)，使胶粘带与被粘材料一端粘接，其夹角大于30°，被粘材料的另一端下面放置一条长约200mm， 宽40mm的涤纶膜或其它材料，然后用辊压装置的轮子在自重下约以120mm／s的速度对试样来回滚压三次。 6．3 到达产品工艺规程规定的停放时间后，将试样自由端折过180°，并剥开粘合面约10mm。被粘材料夹在下夹持器上，试样自由端夹在上夹持器上。应使剥离面与试验机力线保持一致。6．4 试验机以300±10mm／min下降速度连续剥离。有效剥离粘合面长度约100mm,并有自动记录装置绘出剥离曲线。 7 试验结果 7．1 取值范围 在记录曲线中，曲线AB、CD部分都不计入试验结果(图4)。单位：mm。 7．2 求积仪法计算 压敏胶粘带180°剥离平均强度σ(180°B)(g／cm)按下式计算：

胶粘带剥离强度的试验方法(标准状态：现行)

I C S83.180 G38 中华人民共和国国家标准 G B/T2792 2014 代替G B/T2792 1998 胶粘带剥离强度的试验方法 M e a s u r e m e n t o f p e e l a d h e s i o n p r o p e r t i e s f o r a d h e s i v e t a p e s (I S O29862:2007,S e l f a d h e s i v e t a p e s D e t e r m i n a t i o no f p e e l a d h e s i o n p r o p e r t i e s,MO D) 2014-07-08发布2014-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

前言 本标准按照G B/T1.1 2009给出的规则起草三 本标准代替G B/T2792 1998‘压敏胶粘带180?剥离强度试验方法“,与G B/T2792 1998相比,主要技术变化如下: 修改了标准名称,将标准的名称修改为‘胶粘带剥离强度的试验方法“ 删除了引用标准J B/T7499 1994‘耐水砂纸“(见1998版的第2章); 修改了 剥离强度 术语的定义(见3.1,1998版的第3章); 增加了 样件 术语(见3.2); 增加了 表面平均粗糙度 术语(见3.3); 修改了清洗剂的种类(见5.2.2,1998版的5.3.1); 增加了试样的裁取方法(见5.3.1); 修改了标准试验钢板的要求(见5.3.3,1998版的5.2); 修改了压辊的尺寸和质量(见5.3.4.1,1998版的4.1.1和4.1.3); 修改了试验室的标准试验条件(见5.4.1,1998版的6.2); 修改了试样的标准尺寸(见5.4.2,1998版的5.1); 增加了钢板的清洗方法(见5.5.2.1); 修改了压辊次数(见5.5.3.1,1998版的7.3); 修改了试样的制样时间和试验前的滞留时间(见5.5.3.1,1998版的7.4); 增加了胶粘带与自身背膜的180?剥离强度试验方法(见第6章); 增加了胶粘带与防粘材料的180?剥离强度试验方法(见第8章); 增加了低温下胶粘带180?剥离强度试验方法(见附录A); 增加了胶粘带90?剥离强度的试验方法(见附录B)三 本标准使用重新起草法修改采用I S O29862:2007‘粘胶带抗剥离粘附性能的测定“三 本标准与I S O29862:2007相比在结构上有一些调整,附录C中列出了本标准与I S O29862:2007的章条编号对照一览表三 本标准与I S O29862:2007相比,存在技术性差异,这些差异涉及的条款已通过在其外侧页边空白位置的垂直单线(|)进行了标示,附录D中给出了技术性差异及其原因的一览表三 本标准还对I S O29862:2007作了下列编辑性修改: 本国际标准 一词改为本标准; 剥离强度的单位 N/10mm 改为 N/c m 三 本标准由中国石油和化学工业联合会提出三 本标准由全国胶粘剂标准化技术委员会(S A C/T C185)归口三 本标准起草单位:上海橡胶制品研究所二开平市齐裕胶粘制品科技有限公司二联冠(中山)胶粘制品有限公司二永大(中山)有限公司二广州宏昌胶粘带厂二无锡市万力粘合材料有限公司二宁波综研化学有限公司二上海晶华粘胶制品发展有限公司三 本标准主要起草人:金卫星二陈维斌二王灿二张建庆二罗吉尔二陈华昌二杨春强二刘小丽二许宁三 本标准所代替标准的历次版本发布情况为: G B/T2792 1981二G B/T2792 1998三

剥离试验

简述胶粘剂剥离强度试验 一、概述 在航空产品的实际使用中，胶接接头不仅受到拉伸应力与剪切应力作用，有时还会受到线应力作用。因此对胶黏剂来讲它应有好的抗线应力的能力，另一方面在胶接接头设计上则应尽可能地避免接头承受线应力作用。测定胶接接头的抗线应力的能力大小，主要采用剥离试验来测定它的剥离强度，其强度用每单位宽度的胶接面上所能承受最大破坏载荷来表示，单位是KN/m。 剥离是一种胶接接头常见的破坏形式之一。其特点是胶接接头在受外力作用时，力不是作用在整个胶接面上，而只是集中在接头端部的一个非常狭窄的区域，这个区域似乎是一条线，胶黏剂所受到的这种应力，就是我们在前面所讲的线应力。当作用在这一条线上的外力大于胶黏剂的胶接强度时，接头受剥离力作用便沿着胶接面而发生破坏。剥离试验用的试件其中一个是柔性材料（如薄的金属蒙皮，织物，橡胶，皮革等），而另一个试件可以是一刚性材料（如厚的金属梁等）或者也同为一柔性材料，由于至少有一个试件为柔性材料，当接头承受剥离力作用时，被粘物的柔性部分首先发生塑性变形，然后，胶接接头慢慢地被撕开了。如织物与织物的胶接属蒙皮与珩条的胶接等。根据试样的结构和剥离结构的不同，它又分为： T剥离强度单位为KN/m； 90度剥离强度单位为KN/m； 180度剥离强度单位为KN/m； Bell剥离(浮滚剥离)强度单位为KN/m； 爬鼓剥离强度单位KN.m/m； 测定剥离强度的方法虽然各有差异，但它的基本操作与影响因素大致相同。 二、T剥离强度试验（金属-金属） 1、原理: 用T剥离方法从未胶接端开始施加剥离力，使金属对金属胶接件沿胶接线生产特定的破裂速率所需的剥离力。 2、仪器设备 拉力试验机并附有能自动记录剥离负荷的绘图装置以及有一能夹紧试样的夹持器。 3、试验步骤

《材料现代分析测试方法》复习题

《近代材料测试方法》复习题 1．材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？分别可以用什么方法分析？ 答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法 ——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射 显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2．X射线与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一部 分可能变成次级或更高次的X射线，即所谓荧光X射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。 （1）现象/现象：散射X射线（想干、非相干）、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 （2）①光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产 生光电效应。

应用：光电效应产生光电子，是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线（称二次特征辐射）。 应用：X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3．电子与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。 （1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射 线 （2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4．光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应，荧光产率与俄歇电子产率。 特征X射线产生机理。 光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。 荧光辐射：被打掉了内层电子的受激原子，将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线。这种利用X射线激发而产生的特征辐射为二次特

常用材料测试方法总结

成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为微量样品分析和痕量成分分析两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X 射线荧光与X 射线衍射分析方法；其中前三种分析方法需要对样品进行溶解后再进行测定，因此属于破坏性样品分析方法；而X射线荧光与衍射分析方法可以直接对固体样品进行测定因此又称为非破坏性元素分析方法。 表面与微区成份分析： X射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS）；（10纳米，表面） 俄歇电子能谱（Auger electron spectroscopy，AES）；（6nm，表面） 二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）；（微米，表面） 电子探针分析方法；（0.5微米，体相） 电镜的能谱分析；（1微米，体相） 电镜的电子能量损失谱分析；（0.5nm） 为达此目的，成分分析按照分析手段不同又分为光谱分析、质谱分析和能谱分析。 1.光谱分析：主要包括火焰和电热原子吸收光谱AAS，电感耦合等离子体原子发射光谱 ICP-OES，X-射线荧光光谱XFS 和X-射线衍射光谱分析法XRD； （1）原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 又称原子吸收分光光度分析。原子吸收光谱分析是基于试样蒸气相中被测元素的基态原子对由光源发出的该原子的特征性窄频辐射产生共振吸收，其吸光度在一定范围内与蒸气相中被测元素的基态原子浓度成正比，以此测定试样中该元素含量的一种仪器分析方法。 原子吸收分析特点： （a）根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量； （b）适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低，ng/cm3，10-10—10-14g； （c）测量准确度很高，1%（3—5%）； （d）选择性好，不需要进行分离检测； （e）分析元素范围广，70多种； 应该是缺点（不确定）：难熔性元素，稀土元素和非金属元素，不能同时进行多元素分析；（2）电感耦合等离子体原子发射光谱(Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry, ICP-AES)