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ICT 基本测试原理

ICT 基本测试原理

部門:姓名:sdfg工號:

一、填空题:

1.探針接觸不好時,電阻所測值會,而電容值會

2.被动元件的测试方法有两大方向:、

3.IC的測試方法最常見的有、、、

4.测试电阻时,隔离点是选择。而测试电容与电

感时隔高点选择与。

5.Driver工作時

。 Sensor則。

二、答题

簡敘電阻的4線測試原理。

ICT 基本测试原理

部門:姓名:工號:

一、填空题:

1.探針接觸不好時,電阻所測值會偏大,而電容值會偏小

2.被动元件的测试方法有两大方向:电流源当信号源、电压源当信号源。

3.IC的測試方法最常見的有Open Xpress Test 、Junction Xpress Test 、

Digital Test、

4.测试电阻时,隔离点是选择与高点相连接的另一个测试针点。而测试电

容与电感时隔高点选择与低点相连接零件的另一个测试针点。

5.Driver工作時相當一個電流源,可強制任何一個IC腳位拉到邏輯

高電平或低電平。 Sensor則獨立的監控每一個輸出腳位,從而感應這些腳位的狀態。

二、问答题

簡敘電阻的4線測試原理。

SET MUX AT (CHA=ACZVSRC:CHB=ACZIMEAS:CHC=ACZGRDSNS:

CHD=REFCONN:REF=ACZGND,ANAGND);

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