(完整版)电子显微镜作业参考答案

电子显微镜作业

一、判断题

1．俄歇电子是从距样品表面几个埃深度范围内发射的并具有特征能量的二次电子。（√）

2．透镜光阑的作用是限制扫描电子束入射试样时的发散度。（×）

3．改变扫描线圈锯齿波的振幅可改变扫描速度，改变扫描线圈电源锯齿波的频率可改变放大倍数。（×）

4．扫描电子显微镜分辨本领的测定方法有两种：一种是测量相邻两条亮线中心间的距离，所测得的最小值就是分辨本领；另一种是测量暗区的宽度，测得的最小宽度定为分辨本领。（×）

二、选择填空

1.电镜的分辨本领主要取决于（A）的分辨本领。

A．物镜；B．中间镜；C．投影镜；D．长磁透镜

2．增加样品反差的方法经常有（A、B））。

A．染色；B．重金属投影；C．超薄切片；D．复型

3．（B）是用来观察聚合物表面的一种制样方法。

A．“超薄切片”；B．“复型”技术；C．染色；D．支持膜

4．（A）是研究本体高聚物内部结构的主要方法。

A．“超薄切片”；B．“复型”技术；C．染色；D．支持膜

5．入射电子中与试样表层原子碰撞发生弹性散射和非弹性散射后从试样表面反射回来的那部分一次电子统称为（B）电子。

A．二次电子；B．背散射电子；C．反冲电子；D．透射电子。

6．扫描电子显微镜的（C）是利用对试样表面形貌敏感的物理信号作为调制信号得到的一种像衬度。

A．散射衬度；B．衍射衬度；C．表面形貌衬度；D．原子序数衬度。

7．（A）是从距样品表面10nm左右深度范围内激发出来的低能电子。

A．二次电子；B．背散射电子；C．吸收电子；D．透射电子。

8．扫描电子显微镜图像的衬度原理有（B）。

（a）散射衬度（b）表面形貌衬度（c）衍射衬度（d）相位衬度9．下面的图中（C）的二次电子信号最大。

10．下面的图中θC＞θA＞θB，在荧光屏上或照片上（C

）小刻面的像最亮。

二．填空题

1．(背散射)电子是指被固体样品中的原子核或核外电子反弹回来的一部分入射电子，来自样品表面（几百）nm深度范围，其产额随原子序数增大而（增多），可用作形貌分析、成分分析（原子序数衬度）以及结构分析。

2．扫描电子显微镜的衬度有（表面形貌衬度）、（原子序数衬度）。

3．扫描电镜的主要性能指标有(放大倍数)、（分辨本领）和（景深）。

4．（二次电子）是在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子，来自表层5~10nm深度范围，其产额与（原子序数）没有明显的依赖关系，它对

样品表面的状态十分敏感，因此能有效地反映样品表面的形貌。

5．吸收电子与（背散射）电子的衬度互补。入射电子束射入一个多元素样品中时，（背散射）电子较多的部位其吸收电子的数量就减少。吸收电子能产生（原子序数）衬度，即可用来进行定性的微区成分分析。

6．入射电子把样品表面原子的内层电子撞击，被激发的孔穴由高能级电子填空时，能量以电磁辐射的形式放出，就产生（特征X射线），可用于元素分析。

7．一束电子射到试样上，电子与物质相互作用，当电子只改变运动方向而电子的能量不发生变化时，称为（弹性散射）；如果电子的运动方向和能量同时发生变化，称为（非弹性散射）。

8．（三级磁透镜）是把电子枪处的电子束直径逐级缩小，聚焦成很细的电子束斑打到样

品上。

9．人眼的分辨本领为（0.1~0.2）mm，光学显微镜分辨本领的极限为（200nm）。

四、问答题

1．为什么载网上要覆盖一层支持膜?为什么一般都采用碳膜作支持膜?其厚度一般是多少?

答案：（1）透射电镜的试样载网很小，其直径一般约为3mm，所以试样的横向尺寸一

般不应大于1 mm。常规透射电镜的加速电压为100kV。在这种情况下，电子穿透试样的能力很弱。因此聚合物试徉必须很薄，最厚不得超过100~200 nrn。这样薄的试样放在一个多孔的载网上容易变形，尤其是当试样横向尺寸只有微米量级时（比网眼还小很多），更是如此。因此必须在载网上再覆盖一层散射能力很弱的支持膜。

（2）因为碳的原子序数低，碳膜对电子束的透明度高，又耐电子轰击，其强度、导电、导热和迁移性均很好。

（3）20nm

2．制样时采用投影技术的目的是什么?操作时要特别注意的是什么?一般所选的投影角

范围是多少?在什么场合下切忌使用投影技术?

答案：（1）有机高分子材料在利用质量厚度衬度成像时，因为它们对入射电子的散射

能力很弱，使得图像的衬度很差。利用重金属投影的方法可使衬度大为提高。利用真空

镀膜的方法把重金属以一定的角度沉积到试样表面上去。当试样表面存在凹凸起伏的表

面形貌时，面向蒸发源的区域沉积上一层重金属，而背向蒸发源的区域会凸出部分挡掉，沉积不上重金属，从而形成对电子束透明的“阴影区”，使图像反差大增，立体感加强。

（2）①投影只对支持膜上侧的试样起作用。如果制样时有试样粘附在靠铜网一侧的支持膜上，则不会有阴影产生，因此不同采用投影的方式提高衬度。②由超薄切片得到的试样不能用投影的方法，因为切片的表面总有刀痕，投影以后会引入假象。③投影材料的选择和蒸发碳的多少要根据试样表面状况和对电子显微像的要求而定。当要显示

的细节尺寸在101nm量级时，常用铬或金一钮合金，蒸发量可以多一些。在要表现更小的细节时，可用铂、铂一铱、铂一锗或铂一碳，投影的量也要少一些，使镀层薄一点。

（3）要根据试样的表面状态来选择投影操作时的角度。对于粗糙的表面要用大角度，

起伏较小的表面则选用小角度。实际所选的投影角一般在15°～45°的范围之内。

（4）由超薄切片得到的试样还不能直接用来进行透射电镜的观察。因为其衬度较低，

需要通过染色或蚀刻的方法来改善切片试样的图像衬度。但不能用投影的方法，因为切

片的表面总有刀痕，投影以后会引入假象。

3．超薄切片制样时可把样品切得多薄?如何避免试样的微细结构在切片过程中发生畸变?如

何提高切片试样的电子显微像的衬度?

答案：（1）用超薄切片机可获得50nm左右的薄试样。

（2）将切好的超薄小片从刀刃上取下时会发生变形或弯曲。为克服这一困难，可以先把样品在液氮或液态空气中冷冻，或者把样品先包埋在一种可以固化的介质中。纤维、薄膜、颗粒状或小块试样，须用树脂包埋后进行超薄切片。常用的包埋剂有邻苯二甲酸二丙烯酯、甲基丙烯酸甲酯与甲基丙烯酸丁酯的混合单体及环氧树脂等。经包埋后再切片，就不会切削过程而使超微结构发生变形。

（3）一般来说，由超薄切片得到的试样还不能直接用来进行透射电镜的观察。因为其衬度较低，需要通过染色或蚀刻的方法来改善切片试样的图像衬度。但不要采用投影的方法，因为切片的表面总有刀痕，投影以后会引入假象。

4．什么样的试样可以通过染色技术来提高其图像的衬度?常用的染色剂是什么?

答案：（1）通常的聚合物由轻元素组成。在用质量厚度衬度成像时图像的反差很弱，通过染色处理后反差可以得到改善。所谓染色处理实质上就是用一种含重金属的试剂对试样中的某一个相或某一组分进行选择性的化学处理，使其结合上或吸附上重金属，而另一部分则没有，从而导致它们对电子的散射能力的明显差异。

（2）常用的金属有锇、钨、银、铝等盐类。例如，OsO4染色，可染-C=C-双键、-OH 基、-NH2基，RuO4

对大部分聚合物都能染色，对PVC、PMMA、PAN、PVF不能染色。

5．试样蚀刻的目的是什么?原理是什么?有哪些常用的蚀刻方法?蚀刻试样的电子显微像是否肯定能显示试样的结构特征?

答案：（1）蚀刻的目的是通过选择性的化学作用、物理作用或物化作用，加大上试祥表面的起伏程度，从而可以突出需要的结构。

（2）蚀刻方法主要有溶剂蚀刻、酸蚀刻和等离子蚀刻。

（3）溶剂蚀刻是靠溶剂的溶解除去易溶性分子；酸蚀刻是用强酸选择性氧化某一相，使高分子断裂为碎片而被除去；等离子或离子蚀刻是用等离子或离子带电体攻击聚合物表面，除去表面的原子或分子，由于除去速度的差异而产生相之间的反差。

（4）由于蚀刻一般是对较厚和较大的样品进行的一种表面处理，故这种样品不能直接放入透射电镜中观察，因此往往采用复型技术来进一步制样。但在对蚀刻试样的图像进行解释时，务必格外小心。因为试样很容易在蚀刻时或随后的处理阶段发生变形，所以根据这种电子显微像推测得到的蚀刻前的试样结构，应该用其它研究技术加以旁证。6．试样进行冷冻脆断操作时采用的冷冻剂是什么?操作时的注意点是什么?什么情况下可以用扫描电镜观察?什么情况下可以用透射电镜观察?

答案：（1）液氮或液态空气

（2）先将样品在液氮〔或液态空气)中浸泡一段时间，待液氮表面不再有气泡时，表明样品内外均已冷冻到了液氮温度。这时将样品取出，迅速折断。

（3）如果表面粗糙，可用扫描电镜观察。如果表面不太粗糙，也不能直接放入透射电

镜中观察。只能先复型，后观察。

7．什么是一级复型?什么是二级复型?什么是负复型?什么是正复型? 什么样的试样可以采用复型技术来提高电子显微像的衬度?如何才能提高其衬度?复型技术的优缺点是什么？

答案：（1）一级复型有塑料膜一级复型和碳膜一级复型。

塑料膜一级复型：将某种塑料的较浓溶液滴在清洁的样品表面、断面或蚀刻面上，

待干燥后将其剥离下来待用。在用这种方法制得的复型膜上，与样品接触的一面形成和

样品表面、断面或蚀刻面上凹凸起伏正好相反的印痕，另一面则基本上是平的，这种复

型叫负复型。

碳膜一级复型的制作有两种不同的操作顺序。一种是先用重金属在样品表面上投影，再蒸发上一层20～30nm的碳膜；另一种是先蒸碳后投影。碳膜一级复型是正复型。

二级复型有塑料—碳膜和碳—塑料膜之分。

塑料—碳膜二级复型可用醋酸纤维素膜（AC纸）；也可用火棉胶等其他塑料先制成一级复型，剥下后再在内侧制碳膜二级复型，再将其置于电镜用铜网上，塑料面朝下，

放入溶剂的蒸汽中把AC纸慢慢溶掉，最终只剩下碳复型膜或经投影后蒸碳的碳复型膜。

制备碳—塑料膜二级复型的方法是先在样品表面上蒸一层碳膜，并用重金属投影，

再将聚合物溶液（如10%聚丙烯酸）滴在上述一级复型上，制成二级复型，待溶剂挥发

后将复型膜截下，把碳膜朝上，塑料膜朝下置于45℃的蒸馏水面上，将聚丙烯酸膜溶去，剩下碳膜，捞在电镜用载网上备用。

（3）与样品表面、断面或蚀刻面上凹凸起伏完全相同的复型叫正复型。

（4）与样品接触的一面形成和样品表面、断面或蚀刻面上凹凸起伏正好相反的印痕，

另一面则基本上是平的，这种复型叫负复型。

（5）为了解块状聚合物的内部结构，可以通过冷冻脆断和蚀刻技术把样品的内部结构

显露出来，然后用复型技术，把这种结构转移到复型膜上，再进行观察。

（6）投影的方式提高衬度。

（7）尽管在复型膜上记录了聚合物材料的表面、断面或蚀刻面的形貌，可供间接观察

之用，但不能对它进行电子衍射的研究来了解聚合物晶体的点阵结构。这是它的不足之处。

8．电子束和固体样品作用时会产生哪些物理信号？它们各具有什么特征？

答案：电子束和固体样品作用时会产生背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、

俄歇电子、特征X射线等物理信号。

（1）背散射电子的特征：

1)弹性背散射电子远比非弹性背散射电子所占的份额多；

2)能量高，例如弹性背散射，能量达数千至数万eV；

3)背散射电子束来自样品表面几百nm深度范围；

4)其产额随原子序数增大而增多；

5)用作形貌分析、成分分析（原子序数衬度）以及结构分析。

（2）二次电子的特征

1)二次电子能量较低。一般不超过50 eV，大部分几eV；

2)来自表层5—10nm深度范围；

3)对样品表面的状态十分敏感，因此能有效地反映样品表面的形貌；

4)其产额与原子序数间没有明显的依赖关系。因此，不能进行成分分析。

（3）吸收电子的特征：

1）与背散射电子的衬度互补。入射电子束射入一个多元素样品中时，背散射电子较多的部位（Z较大）其吸收电子的数量就减少，反之亦然；

2）吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析。

（4）透射电子的特征：

1）透射电子信号由微区的厚度，成分和晶体结构决定。

2）可配合电子能量分析器进行微区成分分析。即电子能量损失谱EELS。

（5）俄歇电子的特征：

1）各元素的俄歇电子能量值很低，50～1500eV ；

2）来自样品表面1—2nm范围。其平均自由程很小（＜1 nm），较深区域产生的俄歇电子向表面运动时必然会因碰撞损失能量而失去特征值的特点。因此，只有在距表面1nm 左右范围内逸出的俄歇电子才具有特征能量。因此它适合做表面分析。

（6）特征X射线的特征：

特征：

1）用特征值进行成分分析；

2）来自样品较深的区域。

9．扫描电子显微镜的工作原理是什么？

答案：扫描电镜的成像原理，象闭路电视系统那样，逐点逐行扫描成像。

图2 扫描电镜工作原理

图2是扫描电镜工作原理示意图。由三极电子枪发射出来的电子束，在加速电压作

用下，经过2～3 个电子透镜聚焦后，在样品表面按顺序逐行进行扫描，激发样品产生

各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X 射线、俄歇电子等。这些物理信号的强度随样品表面特征而变。它们分别被相应的收集器接受，经放大器按顺序、成比例地放大后，送到显像管的栅极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度。由于供给电子光学系统使电子束偏向的扫描线圈的电源也就是供给阴极射线显像管的扫描线圈的电源，此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描。因此，样品上电子束的位置与显像管荧光屏上电子束的位置是一一对应的。这样，在长余辉荧光屏上就形成一幅与样品表面特征相对应的画面——某种信息图，如二次电子像、背散射电子像等。画面上亮度的疏密程度表示该信息的强弱分布。

10．二次电子像与背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同和不同之处？

答案：二次电子信号与背散射电子信号都可以显示表面形貌衬度，但二者与表面形貌衬度、原子序数衬度的关系差异很大。二次电子信号主要来自样品表层下5~10nm以内的

浅层，其信号强度与原子序数没有明显的依赖性，而对微区刻面相对于入射电子束的位向却十分敏感，有利于辨认表面形貌的细节。背散射电子信号虽然也可用来显示试样的表面形貌，但它对表面形貌的变化并不敏感，而对原子序数效应却相当敏感，且背散射电子的能量较高，离开试样表面后近似沿直线轨迹运动，有效收集立体角小，只能检测到直接射向检测器的背散射电子，而检测不到那些背向检测器的刻面和被挡住的区域产生的背散射电子，致使在扫描电子显微镜像上产生阴影，掩盖那些部位的表面细节。11．扫描电子显微镜中电子光学系统的作用是什么？

提示：参考课件

科学六年级下册作业本参考答案

科学六年级下册作业本参考答案 六年级下册 郑重说明： 由浙江教育出版社出版的教科版小学科学作业本，一直是科学老师进行教学的得力助手，能有效记录和评价学生学习情况.近几年，由于该作业本数次修订，之前由科学老师志愿者编写的作业本参考答案已不便继续使用，许多地方都出现题目和答案不一致的现象.为此，我们重新招募科学老师编写2018年下册科学配套作业本参考答案，在此罗列志愿者名单，并表示衷心地感谢. 三下：姚力军（小兔子）、张淑飞（灰灰恢） 四下：陈晓吉、孙小宝（叨叨客）、曹建清（清心） 五下：陈亚飞（海阔天空）、吴凤（happy小豌豆）、朱建英（小七） 六下：许剑珍（葫芦）、李雪颖（捕风）、刘竹英（代玳） 统稿：陈建秋（不睡觉的兔） 本册作业本参考答案由许剑珍（葫芦）、李雪颖（捕风）、刘竹英（代玳）负责提供，若有异议可联系相关老师交流，也可以到小学科学教学论坛发贴讨论.论坛地址： 本册参考答案目录： 六下第一单元，2—13面，许剑珍（葫芦）编写，14—17面，李雪颖（捕风）编写 六下第二单元，18—26面，许剑珍（葫芦）编写 六下第三单元，27—31面，李雪颖（捕风）编写，32—36面，刘竹英（代玳）编写六下第四单元，37—42面，刘竹英（代玳）编写 六下综合练习：43面，刘竹英（代玳）编写 微小世界

1、放大镜 2、用肉眼和放大镜观察物体的特点，并填表（可用文字描述或用图表 示）. 物体名称 肉眼观察的发现 放大镜下的新发现 报纸 字的笔划很清晰， 纸面呈灰色，有颗粒感 字的笔划是由放多黑色小点组成，纸面灰面，凹凸不平，撕开的口子能看到清晰的毛边. 布料 能清楚的看到交错的线，表面有细毛. 横竖交错的线很清晰，能清楚的看到表面卷曲 的细毛. 3、选择题. （1）（ C ）发明了眼镜. A 、格罗斯泰斯特 B 、牛顿 C 、培根 D 、伽利略 （2）下列透明玻璃片具有放大作用的是（ C D ）. 观察微小零件 查看胚芽 拆除危险物品 考古学家 研究文物 学生 探险家 部队指挥官 查看微缩地图 观察小动物 聚光取火

场发射扫描电子显微镜S-4800操作规程

场发射扫描电子显微镜（S-4800）操作规程 开机 1. 检查真空、循环水状态。 2. 开启“Display”电源。 3. 根据提示输入用户名和密码，启动电镜程序。 样品放置、撤出、交换 1. 严格按照高度规定高样品台，制样，固定。 2. 按交换舱上“Air”键放气，蜂鸣器响后将样品台放入，旋转样品杆至“Lock”位，合上交换舱，按“Evac”键抽气，蜂鸣器响后按“Open”键打开样品舱门，推入样品台，旋转样品杆至“Unlock”位后抽出，按“Close”键。 观察与拍照 1. 根据样品特性与观察要求，在操作面板上选择合适的加速电压与束流，按“On”键加高压。 2. 用滚轮将样品台定位至观察点，拧Z轴旋钮（3轴马达台）。 3. 选择合适的放大倍数，点击“Align”键，调节旋钮盘，逐步调整电子束位置、物镜光阑对中、消像散基准。 4. 在“TV”或“Fast”扫描模式下定位观察区域，在“Red”扫描模式下聚焦、消像散，在“Slow”或“Cssc”扫描模式下拍照。 5. 选择合适的图像大小与拍摄方法，按“Capture”拍照。

6. 根据要求选择照片注释内容，保存照片。 关机 1. 将样品台高度调回80mm。 2. 按“Home”键使样品台回到初始状态。 3. “Home”指示灯停止闪烁后，撤出样品台，合上样品舱。 4. 退出程序，关闭“Display”电源。 注意 1. 每天第一次加高压后，进行灯丝Flashing去除污染。 2. 冷场发射电镜一般不断电，如遇特殊情况需要大关机时，依次关闭主机正面的“Stage”电源、“Evac”电源，半小时后关闭离子泵开关和显示单元背面的三个空气开关，关闭循环水。开机时顺序相反。 3. 每半个月旋开空压机底阀放水一次。 4. 待测样品需烘干处理，不能带有强磁性，不能采用铁磁性材料做衬底制样。 5．实验室温度限定在25±5℃，相对湿度小于70% 。 仪器维护 1. 每月进行电镜离子泵及灯丝镜筒烘烤。 2. 每半年进行一次机械泵油维护或更新。 3. 每年进行一次冷却水补充，平时每月检查一次水位。

电子显微作业

透射电子显微镜和扫描电子显微镜分析 摘要：透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2nm的细微结构，要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，目前TEM的分辨力可达0.2nm。扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM），是依据电子与物质的相互作用。利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。 关键词：透射电子显微镜；扫描电子显微镜；实例分析。 第一章透射电子显微镜 透射电子显微镜是利用电子的波动性来观察固体材料内部的各种缺陷和直接观察原子结构的仪器，同时提供物理分析和化学分析所需要全部功能的仪器。特别是选区电子衍射技术的应用，使得微区形貌与微区晶体结构分析结合起来，再配以能谱或波谱进行微区成份分析，得到全面的信息。 实验中所用到的是Tecnai G2 F30—透射电子显微镜。它的主要性能指标为：（1）主机：点分辨率0.205nm，先分辨率0.102nm，信息分辨率0.14nm，加速 （2）附件：CCD数字成像系统，像素2048x2048，电压最高300KV最低小于等于50KV； 高角环形暗场探测器，STEM模式分辨率0.17nm，X射线能谱仪—能量分辨率136eV，分析元素范围B—U，电子能量损失谱仪—能量分辨率0.7eV，分析元素范围H—U。 §1.1透射电子显微镜的结构和成像原理 透射电子显微镜由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统、电源系统五部分构成，如果细分的话，主体部分是电子透镜和显像记录系统，由置于真空中的电子枪、聚光镜、物样室、物镜、衍射镜、中间镜、投影镜、荧光屏和照相机

透射电镜实验报告

透射电镜实验报告 实验报告 课程名称电镜技术成绩姓名学号实验日期 2013.3.27 实验名称透射电子显微镜原理、结构、性能及成像方指导教师 式 一、实验目的与任务 1. 初步了解透射电镜操作过程 2. 初步掌握样品的制样方法(主要是装样过程) 3.拍摄多晶金晶体的低分辨率照片(<300000倍)和高分辨率照片(>300000 倍)，并对相关几何参数、形态给予描述。用能谱分析仪对样品的成分进行分析。 二、实验基本原理 1.仪器原理 透射电子显微镜是以图像方式提供样品的检测结果，其成像的决定因素是样品对入射电子的散射，包括弹性散射和非弹性散射两个过程。样品成像时，未经散射的电子构成背景，而像的衬底取决于样品各部分对电子的不同散射特性。采用不同的实验条件可以得到不同的衬底像，透射电子显微镜不仅能显示样品显微组织的形貌，而且可以利用电子衍射效应同样获得样品晶体学信息。本次实验将演示透射电镜的透射成像方式和衍射成像方式。 (1)成像方式 电子束通过样品进入物镜，在其像面形成第一电子像，中间镜将该像放大，成像在自己的像面上，投影镜再将中间镜的像放大，在荧光屏上形成最终像。 (2)衍射方式

如果样品是晶体，它的电子衍射花样呈现在物镜后焦面上，改变中间镜电流，使其对物镜后焦面成像，该面上的电子衍射花样经中间镜和投影镜放大，在荧光屏上获得电子衍射花样的放大像。 2.仪器结构 主机主要由:照明系统、样品室、放大系统、记录系统四大部分构成。 3.透射电子显微镜的样品制备技术 4.图像观察拍照技术 透射电镜以图像提供实验结果。在观察样品之前对电子光学系统进行调查，包括电子枪及象散的消除。使仪器处于良好状态。观察过程中选合适的加速电压和电流。明场、暗场像及选区电子衍射的观察和操作方法不同，应按况选择。三、实验方法与步骤 1( 登陆计算机 2( 打开操作软件 3( 检查电镜状态 4( 装载样品 5( 插入样品杆 6( 加灯丝电流 7( 开始操作 8( 结束操作 9( 取出样品杆 10( 卸载样品 11( 刻录数据 12( 关闭操作软件 13( 退出计算机

材料微观分析作业题答案(二)

第一章 1、电子波有何特征与可见光有何异同 答： ·电子波特征：电子波属于物质波。电子波的波长取决于电子运动的速度和质量， = h mv 若电子速度较低，则它的质量和静止质量相似；若电子速度具有极高，则 必须经过相对论校正。 ·电子波和光波异同： 不同：不能通过玻璃透镜会聚成像。但是轴对称的非均匀电场和磁场则可以让电子束折射，从而产生电子束的会聚与发散，达到成像的目的。电子波的波长较短，其波长取决于电子运动的速度和质量，电子波的波长要比可见光小5个数量级。另外，可见光为电磁波。 相同：电子波与可见光都具有波粒二象性。 补充：光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。 2、分析电磁透镜对电子波的聚焦原理，说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。 聚焦原理：电子在磁场中运动，当电子运动方向与磁感应强度方向不平行时，将产生一个与运动方向垂直的力（洛仑兹力）使电子运动方向发生偏转。在一个电磁线圈中，当电子沿线圈轴线运 动时，电子运动方向与磁感应强度 方向一致，电子不受力，以直线运 动通过线圈；当电子运动偏离轴线 时，电子受磁场力的作用，运动方 向发生偏转，最后会聚在轴线上的 一点。电子运动的轨迹是一个圆锥 螺旋曲线。 右图短线圈磁场中的电子运动显示 了电磁透镜聚焦成像的基本原理： 结构的影响： 1）增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围几毫米的范围内； 2）电磁透镜中为了增强磁感应强度，通常将线圈置于一个由软磁材料（纯铁或低碳钢）制成的具有内环形间隙的壳子里，此时线圈的磁力线都集中在壳内，磁感应强度得以加强。狭缝的间隙越小，磁场强度越强，对电子的折射能力越大。 3）改变激磁电流可以方便地改变电磁透镜的焦距 3、电磁透镜的像差是怎样产生的，如何消除和减少像差 像差有几何像差（球差、像散等）和色差 球差是由于电磁透镜的中心区域和边沿区域对电子的会聚能力不同而造成的；为了减少 由于球差的存在而引起的散焦斑，可以通过减小球差系数和缩小成像时的孔径半角来实现 像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的；透镜磁场不对称，可能是由于极靴内孔不圆、上下极靴的轴线错位、制作极靴的材料材质不均匀以及极靴孔周围局部污染等原因导致的。像散可通过引入一个强度和方向都可以调节的矫正电磁消像

HITACHI H-7650 透射电镜操作规程

HITACHI H-7650 透射电镜操作规程编号: QW148 样品准备及要求: 1.般生物样品在观察前须制成超薄切片，并且要充分晚干，切片后室温放置1天左右 2.严禁观察磁性样品。， 操作步骤: 一、开机顺序 1.开墙上主机电源电源的开关，开启冷却循环水: 2.开启主机钥匙从OFF到EVC;等1分钟或30分钟后再将钥匙转到Column; 3.仪器自动进入操作软件。 二、样品安装 A: 取样品步骤: 1.关掉灯丝电压; 2.将样品杆拔出一小段距离; 3.顺时针旋转样品杆15度; 4.将样品杆拔出一大段距离; 5.逆时针旋转45度: 6.将真空开关从EVAC拨到AIR; 7.AIR红灯从亮到灭后水平取出样品杆。 B:装样品步骤: 1.在样品杆架上安装好样品于样品杆上; 2.平行将样品杆装入镜筒到AIR灯亮起; 3.将真空开关从AIR拨到EVAC; 4等到EVAC绿灯亮起; 5在EVAC绿灯亮起的30秒内(若超过30秒绿灯会自动熄灭，此时应再次将EVAC 拨到AIR再拨到EVAC,这时EVAC绿灯会再次亮起); 6.将样品杆顺时针转动45度: 7.将样品杆“送进”一大段距离; 8.逆时针旋转样品杆15度; 9.慢慢送入整个样品杆; 三、图像观察 1.通过Stage X、γ旋钮选择想要观察的区域; 2.通过Mag旋钮进一步增大放大倍数;同时需要通过Brightness调整光斑亮度; 3.若光斑不再中心需通过BH旋钮随时将光斑拉致荧光屏中心; 4.使用Focus旋钮将图像调整清晰;用CCD进行拍照存储图像或者通过底片存储图像。 四、数据的存储刻录 1.数据只能用新光盘(非可擦写光盘)刻录，刻录数据应由仪器管理人员操作，严禁用移动硬盘、u盘等从电脑上拷贝数据(出于系统安全考虑); 2.电脑上的数据会定期清理(一般一个月)，请及时拷贝备份。

Tescan 扫描电镜操作规程

Tescan 钨灯丝扫描电镜操作规程 1.点击Vent （操作界面右下方）按钮，放气。等待右下方显示Venting Finish,即可进行下一步操作。 2.装载试样。需将试样用导电胶粘紧。（放样时注意操作界面Z轴距离，钨灯丝100以上。）检查每一个螺丝是否拧紧。不应有露在外的螺丝头。 3.小心关上仓门，点击Pump（位于Vent旁边）。抽真空。等待Chamber 真空度钨灯丝到达5*10-2以上即可进行下一步。 4. 操作前参数检查： A，首先检查高压（HV）是否为所需值，若不是可先点击右边信息盘的HV 再在右上边输入所要求值。 B，其次检查Beam intensity值，正常扫描时为10，打能谱时调节为12。 C，点样品操作盘，想要做的第一个样品所在位置（1-7标号）。样品台会移动到视野内。 5.调节Z轴逐次减小，使样品接近镜筒。（这个值为样品台到镜筒的距离。所以合适的值既是自己样品中最高的样的高度加10的余量）比如：自己样品中最高的为10，则最终可以调节z 轴至20。 6. 找好试样位置（点击鼠标的滚珠可以调节位置），开始先点击Mag（视野右手边一竖行快捷键中），再在右上边输入放大倍数（刚开始可先输入100倍），逐级放大。当视野中图像模糊，

但有图像时，点击WD(视野右手边一竖行快捷键中)，在再视野中双击左键可以出现一个小方框（右键调节方框大小），再左右滚动左手边放置的轨迹球聚焦至图像清楚。再放大，再聚焦，直至达到需求即可。 如果图像无法调清楚则观察是否为以下两种情况： 1）调节WD时图像有移动，选择右下方HV附近Adjustment 中第三项弹出一个对话框点Next 视野中会弹出一个闪动图像，然后调节轨迹球（按住F11调节上下方向，F12调节左右方向）直至图像在中心跳动（而不是左右或上下移动）再聚焦。 2）图像有单一方向的拉长，则判断为有相散，点击Stg右手边一竖行快捷键中。然后调节轨迹球。（按住F11调节上下方向，F12调节左右方向）直至图像不在变形，再聚焦。 （一般要求调节清楚地放大倍数大于需要拍照倍数。例如：需要1000倍，则应将2000倍调节清楚。） 7.拍照之前应检查亮度对比度是否合适，视野右手边一竖行快捷键中选择选项，然后轨迹球上下调节对比度，左右调节亮度。 8.右手边一竖行快捷键中选择Speed选项选择扫描速度6 或7，（调节时Speed选择4以下）。然后点击右手边一竖行快捷键中最后一项保存照片。 9.重复6-8完成拍照。 10.实验完成后归位操作： A. 将Z轴输入钨灯丝100，使样品台降回原位。

TEM_透射电镜习题答案与总结

电子背散射衍射：当入射电子束在晶体样品中产生散射时，在晶体向空间所有方向发射散射电子波。如果这些散射电子波河晶体中某一晶面之间恰好符合布拉格衍射条件将发生衍射，这就是电子背散射衍射。 二、简答 1、透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何? 答：三大系统:电子光学系统,真空系统,供电系统。 其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。 2、照明系统的作用是什么？它应满足什么要求？ 答：照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满足明场和暗场成像需求。 3、成像系统的主要构成及其特点、作用是什么？ 答：主要由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜和投影镜组成. 1）物镜：强励磁短焦透镜（f=1-3mm）,放大倍数100—300倍。 作用：形成第一幅放大像 2）物镜光栏：装在物镜背焦面，直径20—120um，无磁金属制成。 作用：a.提高像衬度，b.减小孔经角，从而减小像差。C.进行暗场成像3）选区光栏：装在物镜像平面上，直径20-400um， 作用：对样品进行微区衍射分析。 4）中间镜：弱压短透镜，长焦，放大倍数可调节0—20倍 作用a.控制电镜总放大倍数。B.成像/衍射模式选择。 5）投影镜：短焦、强磁透镜，进一步放大中间镜的像。投影镜孔径较小，使电子束进入投影镜孔径角很小。 小孔径角有两个特点： a.景深大，改变中间镜放大倍数，使总倍数变化大，也不影响图象清晰度。 焦深长，放宽对荧光屏和底片平面严格位置要求。 4、分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系，并 画出光路图。 答：如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是电子显微镜中的成像操作，如图（a）所示。如果把中间镜的物平面和物镜的后焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是电子显微镜中的电子衍射操作，如图（b）所示。

扫描电子显微镜 (SEM)介绍

扫描电子显微镜(SEM)介绍 (SEM)扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时间太长，所以实用价值不大。经过各国科学工作者的努力，尤其是随着电子工业技术水平的不断发展，到1956年开始生产商品扫描电镜。近数十年来，扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中，促进了各有关学科的发展。 目录 扫描电镜的特点 扫描电镜的结构 工作原理 扫描电镜的特点 和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜SEM（Scanning Electron Microscope）具有以下特点： (一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至 120mm×80mm×50mm。 (二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。 (三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。 (四) 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。 (五) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。 (六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。 (七) 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。 扫描电镜的结构 1．镜筒 镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。其作用是产生很细的电子束(直径约几个nm)，并且使该电子束在样品表面扫描，同时激发出各种信号。 2．电子信号的收集与处理系统 在样品室中，扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇(Auger)电子等。在上述信号中，最主要的是二次电子，它是被入射电子所激发出来的样品原子中的外层电子，产生于样品表面以下几nm至

材料微观分析作业题答案(二)

第一章 1、电子波有何特征？与可见光有何异同？ 答： ·电子波特征：电子波属于物质波。电子波的波长取决于电子运动的速度和质量， = h mv 若电子速度较低，则它的质量和静止质量相似；若电子速度具有极高，则 必须经过相对论校正。 ·电子波和光波异同： 不同：不能通过玻璃透镜会聚成像。但是轴对称的非均匀电场和磁场则可以让电子束折射，从而产生电子束的会聚与发散，达到成像的目的。电子波的波长较短，其波长取决于电子运动的速度和质量，电子波的波长要比可见光小5个数量级。另外，可见光为电磁波。 相同：电子波与可见光都具有波粒二象性。 补充：光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。 2、分析电磁透镜对电子波的聚焦原理，说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。 聚焦原理：电子在磁场中运动，当电子运动方向与磁感应强度方向不平行时，将产生一个与运动方向垂直的力（洛仑兹力）使电子运动方向发生偏转。在一个电磁线圈中，当电子沿线圈轴线运 动时，电子运动方向与磁感应强度 方向一致，电子不受力，以直线运 动通过线圈；当电子运动偏离轴线 时，电子受磁场力的作用，运动方 向发生偏转，最后会聚在轴线上的 一点。电子运动的轨迹是一个圆锥 螺旋曲线。 右图短线圈磁场中的电子运动显 示了电磁透镜聚焦成像的基本原理： 结构的影响： 1）增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围几毫米的范围内； 2）电磁透镜中为了增强磁感应强度，通常将线圈置于一个由软磁材料（纯铁或低碳钢）制成的具有内环形间隙的壳子里，此时线圈的磁力线都集中在壳内，磁感应强度得以加强。狭缝的间隙越小，磁场强度越强，对电子的折射能力越大。 3）改变激磁电流可以方便地改变电磁透镜的焦距 3、电磁透镜的像差是怎样产生的，如何消除和减少像差？ 像差有几何像差（球差、像散等）和色差 球差是由于电磁透镜的中心区域和边沿区域对电子的会聚能力不同而造成的； 为了减少 由于球差的存在而引起的散焦斑，可以通过减小球差系数和缩小成像时的孔径半角来实现 像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的；透镜磁场不对称，可能是由于极靴内孔不圆、上下极靴的轴线错位、制作极靴的材料材质不均匀以及极靴孔周围局部污染等原因导致的。像散可通过引入一个强度和方向都可以调节的矫正电磁消像

(精品)JEM2100透射电镜简易操作说明

JEM-2100 操作说明 一、合轴操作 1．照明系统合轴 （1）.找亮：当打开灯丝，并且灯丝电流发射之后，应该在荧光屏上找到电子束，若打开灯丝后没有发现电子束，请进行以下操作：将放大倍数降低到10K左右，移动轨迹球，撤除所有光阑，基本上以上操作可以解决大多数没亮的情况 若仍然找不到亮，则需调整GUN TILT进行找亮 当然，也可以在用户模式下直接对GUN进行清零操作NTRL！正常情况下就能找到电子束了。

(2)灯丝像调节:放大倍数为X40K，将光斑用beam shift移动到屏幕中心，慢慢降 低灯丝电流，并且用BRIGHTNESS旋钮将光斑聚到最小，随着灯丝电流下降，可以观察到灯丝像出现。 如图所示标准的六硼化阑灯丝像是均匀对称的四瓣花型的，若发现花瓣不对称，说明灯丝偏了，需要用GUN TILT调节到对称即可。调节完毕后将灯丝电流升高到正常数值，即稍能看到一点灯丝像阴影。 （3）1、5合轴：将束斑调到SPOTSIZE 5，用beam shift 将束斑移动至屏幕中间，切换至SPOTSIZE 1 ，用gun shift将偏移的束斑移动至屏幕中间，重复此过程直到当切换SPOTSIZE1到5时束斑基本上不发生偏移即可。 （4）聚光镜消象散：观察各个束斑形状，如果发现束斑形状椭圆，则用CONDSTIG 键将束斑调圆即可。 （5）加聚光镜光阑：聚光镜光阑红点位置表示退出，其余的点的大小表示当前所加入的光阑孔大小，顺时针加入光阑至合适的孔径，一般用1号或2号光阑孔，加完后用beam shift 将光斑移动至屏幕中心，这时顺时针转动BRIGHTNESS将光斑放大到与屏幕同大，若光阑没有加正，则光斑不是均匀覆盖屏幕，即光斑补随BRIGHTNESS同心放大，此时调节光阑前端和右侧的两个旋钮使光斑圆心与屏幕同心即可。

#材料分析技术作业题(含答案)

第一章 1、名词解释： （1）物相:在体系内部物理性质和化学性质完全均匀的一部分称为“相”。在这里，更明白的表述是：成分和结构完全相同的部分才称为同一个相。 （2）K系辐射:处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。当K电子被打出K层时，原子处于K激发状态，此时外层如L、M、N……层的电子将填充K层空位，产生K系辐射。 （3）相干散射:由于散射线和入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件 （4）非相干散射:X射线经束缚力不大的电子（如轻原子中的电子）或自由电子散射后，可以得到波长比入射X射线长的X射线，且波长随散射方向不同而改变。 （5）荧光辐射:处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线称为二次特征X射线即荧光辐射。 （6）吸收限:激发K系光电效应时，入射光子的能量必须等于或大于将K电子从K层移至无穷远时所作的功WK，即将激发限波长λK和激发电压VK联系起来。从X射线被物质吸收的角度，则称λK为吸收限。 （7）★俄歇效应:原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为EK。如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成L电离，其能量由EK变成EL，此时将释放EK-EL的能量。释放出的能量，可能产生荧光X 射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所代替，这种现象称俄歇效应. 2、特征X射线谱和连续谱的发射机制之主要区别？ 特征X射线谱是高能级电子回跳到低能级时多余能量转换成电磁波。 连续谱：高速运动的粒子能量转换成电磁波。 3、计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X射线的振动频率和能量 4、x射线实验室用防护铅屏，若其厚度为1mm，试计算其对Cukα、Mokα辐射的透射因子（I透射/I入射）各为多少？ 第二章 1.名词解释： 晶面指数：用于表示一组晶面的方向，量出待定晶体在三个晶轴的截距并用点阵周期a,b,c度量它们，取三个截距的倒数，把它们简化为最简的整数h,k,l，就构成了该晶面的晶面指数。 晶向指数：表示某一晶向（线）的方向。 干涉面：为了简化布拉格公式而引入的反射面称为干涉面。 2下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（123），（100），（200），（311），（121），（111），（210），（220），（130），（030），（221），（110）。 排序后： （100）（110）（111）（200）（210）（121）（220）（221）（030）（130）（311）（123）3当波长为λ的x射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是多少？相邻两个（hkl）反射线的波程差又上多少？ 相邻两个（hkl）晶面的波程差为nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差为λ。 4原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数和其原子序数有何关系？ 原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反应了原子将X射线向某一方向散射时的散射效率。 关系：z越大，f越大。因此，重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。 第三章 5、衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面和德拜法有何不同？ 入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。 不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2?变化。 德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。 试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。 试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法时间长。 记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图，德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2?）的分布曲线也不同。 2．用直径5.73cm的德拜相机能使Cukα双重线分离开的最小角是多少？（衍射线宽为0.03cm，分离开即是要使双重线间隔达到线宽的两倍）。 3．试述x射线衍射物相分析步骤？及其鉴定时应注意问题？ 步骤：（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值和i值 （2）利用i值最大的三根强线的对应d值查找索引，找出基本符合的物相名称及卡片号。 （3）将实测的d、i值和卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可以定为该物相。 注意问题：（1）d的数据比i/i0数据重要（2）低角度线的数据比高角度线的数据重要（3）强线比弱线重要，特别要重视d值大的强线（4）应重视特征线（5）应尽可能地先利用其他分析、鉴定手段，初步确定出样品可能是什么物相，将它局限于一定的范围内。 第四章 4、电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途? 1)背散射电子:能量高；来自样品表面几百nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。 2)二次电子:能量较低；来自表层5—10nm深度范围；对样品表面化状态十分敏感。 不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。 3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反。和背散射电子的衬度互补。 吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析.

扫描电子显微镜操作规程

扫描电子显微镜操作规程 1. 打开墙上配电箱里的空气开关（见标签上开下关） 2. 打开变压器电源（正常电压应为100v） 3. 打开主机电源：钥匙拧到START位置，停两秒松手，钥匙回到I位置。 4. 打开电脑电源 5. 点击桌面图标，等待 6. 当HT图标显示蓝色后，点VENT排气（排气时vent闪，排完气vent不闪），排完气方可打开样品室 7. 正确选择Z轴高度（需要估计样品高度，Z轴大于样品高度 放入样品，关闭样品台，点击EV AC抽气，抽气时推着样品室门，听到机械泵响声后松手 8. 打开HT图标（此图标在非真空下是灰色，真空位蓝色，打开灯丝拍照为绿色） 9. 选择扫描模式、加速电压（0.5-30KV之间选择，一般微生物类样品选10左右）、WD工作距离（10-15之间选择）、SS电子束斑（一般选30-40） 10. 在SCAN2下调焦、调整对比度及亮度、调消象散（放大时照片晃动、或者样品变形、或者整体移动可点WOBBLE（一般10000倍左右调节有效果）调节光缆使照片不晃动） 11. 高倍下调清晰度，低倍下拍照，拍照选择photo(曝光40秒)或者SCAN4（曝光80秒），拍完选择FREEZE并保存照片 12. 拍完照后关闭灯丝，点VENT排气（排气时vent闪，排完气vent不闪），排完气方可打开样品室，取出样品台；关闭样品台，点击EV AC抽气，抽气时推着样品室门，听到机械泵响声后松手 13. 依次关闭软件、电脑、主机电源、变压器、空开 注意事项 1.注意Z轴的距离要足够高不要让样品碰到探头 2.慢慢调节光缆，防止调节过快看不到被观察物 3.取、放前一定要卸真空，再抽真空 4.关机的时候，要在真空状态下关机

2018年科学六年级下册作业本参考答案

教科版2018年科学作业本参考答案 六年级下册 郑重说明： 由浙江教育出版社出版的教科版小学科学作业本，一直是科学老师进行教学的得力助手，能有效记录和评价学生学习情况。近几年，由于该作业本数次修订，之前由科学老师志愿者编写的作业本参考答案已不便继续使用，许多地方都出现题目和答案不一致的现象。为此，我们重新招募科学老师编写2018年下册科学配套作业本参考答案，在此罗列志愿者名单，并表示衷心地感谢。 三下：姚力军（小兔子）、张淑飞（灰灰恢） 四下：陈晓吉、孙小宝（叨叨客）、曹建清（清心） 五下：陈亚飞（海阔天空）、吴凤（happy小豌豆）、朱建英（小七） 六下：许剑珍（葫芦）、李雪颖（捕风）、刘竹英（代玳） 统稿：陈建秋（不睡觉的兔） 本册作业本参考答案由许剑珍（葫芦）、李雪颖（捕风）、刘竹英（代玳）负责提供，若有异议可联系相关老师交流，也可以到小学科学教学论坛发贴讨论。论坛地址：本册参考答案目录： 六下第一单元，2—13面，许剑珍（葫芦）编写，14—17面，李雪颖（捕风）编写 六下第二单元，18—26面，许剑珍（葫芦）编写 六下第三单元，27—31面，李雪颖（捕风）编写，32—36面，刘竹英（代玳）编写 六下第四单元，37—42面，刘竹英（代玳）编写 六下综合练习：43面，刘竹英（代玳）编写 微小世界 1、放大镜

2、用肉眼和放大镜观察物体的特点，并填表（可用文字描 述或用图表示）。 （1）（ C ）发明了眼镜。 A 、格罗斯泰斯特 B 、牛顿 C 、培根 D 、伽利略 （2）下列透明玻璃片具有放大作用的是（ C D ）。

2、放大镜下的昆虫世界 1、用放大镜观察昆虫的身体构造并画下来。 2、选择题 （1）在放大镜下观察，可以看到蝇的复眼是由许多小眼组成的，每只小眼都呈（D）

扫描电镜操作流程

SIRION场发射扫描电镜操作规程 一.开机 1.首先检查循环水系统,压力显示约4.5，温度显示约11-18度,为正常范围。 2.检查不间断电源的”LINE”，”INV.”指示灯亮，上部6只灯仅一只亮是为正常。 3.开电镜电脑(白色机箱)的电源，通过密码进入WINDOWS后，先启动”SCS”，然后启 动”Microscope Control”。 二.操作过程 1.有关样品的要求： 需用电镜观测的样品，必须干燥，无挥发性，有导电性，能与样品台牢固粘结（块状试样的下底部需平整，利于粘结）。粉末样品用导电胶带粘结后，需敲击检查，或用吹风机吹去粘结不牢固的粉末。含有机成份的样品（包括聚合物等），需经过干燥处理。 2.交换样品特别注意点： 该电镜的样品台是4轴马达驱动的精密机械，定位精度1微米，同时也可以手动旋钮驱动。样品室中暴露着镜头极靴，二次电子探头，低压背散射电子探头，能谱探头，红外相机，涡轮分子泵等电镜的核心部件，样品台驱动过程中存在着碰撞的可能性，交换样品和驱动样品台时要特别小心。比如样品室门应轻拉轻推；样品要固定牢固，防止掉到镜筒里去；样品高度要合适，Z轴移动样品或手动倾斜样品前，用CCD图象检查样品位置等等。 3.换样品过程：换样品前必须先检查加速电压是否已经关闭，条件符合，可按放气键（“VENT”）。交换样品台操作必须戴干净手套。固定好样品台后（固紧内六角螺丝），必须用专用卡尺测量样品高度，不允许超过规定高度。推进样品室，左手按住样品室门上手柄，右手点击抽真空软件键”PUMP”。整个换样品过程中，不要手动调节样品台位置（倾动除外）。 4.关高压过程：按下软件键“xx kV”，稍等待，听到V6阀的动作声音后，键颜色由黄色变灰色,表示高压已正式关闭。 5.开高压过程：样品室抽真空到达5e -5 mBar以上，可以开高压，观察图象。开高压：检查“Detector”菜单项中的“SE”或“TLD”被选中，按“HT”键，数秒后按软键“xx kV”，应听到V6阀开启的声音，等待键颜色变黄色。图象出来后，同时会弹出一个窗口，提示首先必须聚焦图象，然后按“OK”，使电脑能测出实际的样品高度，次序不可颠倒。在数千倍聚焦完成后（In Focus），按“OK”。 6.聚焦图象：按住鼠标右键，左或右向移动鼠标来聚焦图象。 7.消像散：按住左Shift键，按住鼠标右键移动，消除像散。 8.拍照：按“F2”键，电镜开始单次扫描。扫描结束，过数秒，冻结键（雪花图形）自动激活（变黄色）。这时可用“InOut”菜单中的Image保存图象。 9.拷贝图象：须用新光盘或未开封的新软盘拷贝。 三.关机 1.先关高压，放气后，取出样品后，重抽真空，然后关“Microscope Control”，再关WINDOWS。 电镜的电脑是控制整台电镜的，电脑的CMOS管理，显示卡及驱动程序等与普通电脑不同，请不要当作普通电脑来使用。禁止修改电脑的任何设置，禁止安装任何软件。禁止使用USB

扫描电子显微镜成像原理及基本操作

扫描电子显微镜成像原理及基本操作 一、基本结构组成： 1.电子光学系统：电子枪；聚光镜（第一、第二聚光镜和物镜）；物镜光阑。 2.扫描系统：扫描信号发生器；扫描放大控制器；扫描偏转线圈。 3.信号探测放大系统：探测二次电子、背散射电子等电子信号。 4.图象显示和记录系统：SEM采用电脑系统进行图象显示和记录。 5.真空系统：常用机械真空泵、扩散泵、涡轮分子泵等使真空度高于10 -4 Torr 。 6.电源系统：高压发生装置、高压油箱。 二、扫描电子显微镜成像原理 扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为 5 ～35keV 的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其它物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。三、扫描电镜具有以下的特点

(1) 制样方法简单，对试样的尺寸、形态等无严格要求，可以观察直径为的大块试样以及粉末等。 (2) 场深大，适用于粗糙表面和断口的分析观察；图像富有立体感、真实感、易于识别和解释。 (3) 放大倍数变化范围大，对于多相、多组成的非均匀材料便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。 (4) 具有相当高的分辨率，可达到为3.5 ～6nm。 (5) 可以通过电子学方法有效地控制和改善图像的质量，如通过调制可改善图像反差的宽容度，使图像各部分亮暗适中。 (6) 可进行多种功能的分析。与X 射线谱仪配接，可在观察形貌的同时进行微区成分分析。 (7) 可使用，观察在不同环境条件下（加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验）的相变及形态变化等。 四、扫描电镜的用途 通过样品中的电子激发出的各种信号，扫描电镜可以做出电子图像分析，如可利用二次电子进行样品表面形貌及结构分析的分析；以两片探测器信号做积分运算，通过背散射电子可以分析样品表面成分像，以两片探测器信号做微分运算时，则可用于样品表面形貌像德分析；此外，通过透射电子则可对析晶体的内部结构及晶格信息进行分析。而且，其配上其它一些配套设备，还可做显微化学成份分析，显微晶体结构分析，显微阴极发光图像分析，这更加扩大的扫描电镜的广泛应用度。常见的扫描电镜配套设备主要有：x射线波谱仪、x射线能

Quanta 200扫描电镜实验室安全操作规程

Quanta 200扫描电镜实验室安全操作规程 1．开机前的检查 1.1室温：18℃～25℃； 1.2湿度：<80％； 1.3Quanta 200 真空泵PVP1和PVP2的油面指示应在规定位置，油要干 净，无色透明，无污染，每月检查一次； 2．试样制备 2.1微细和超细粉体（粒度<10μm）样品，取少量样品直接放在烧杯中，用无水乙醇做溶剂，超声分散，用干净滴管吸取少量液滴置于铜托上，并用红外灯照射干燥； 2.2粗颗粒样品，取少量粘在铜托上的导电胶带上，用无毛纸轻压，使样品颗粒牢牢粘住，并清楚粘在铜托侧面上的粉样； 2.3块状样品，高度应在15mm以下，要用无水乙醇浸泡，清洗干净，放在超声波水槽中处理，以除去油脂、灰尘、赃物和水分； 2.4试样一定要无水、无油，观察前要用红外灯照射干燥。 3．开机 严格按开机顺序操作，开机抽真空5分钟内，系统真空应达到要求（<1.0?10-4Torr），如果系统真空不能达到要求，应检查样品室门是否关好、样品室密封圈垫圈及密封平面是否干净或其它连接处是否有漏气现象。如果不能解决应及时报告，并与厂商联系。 4．试样观察 4.1按仪器说明步骤操作，选择合适工作参数； 4.2注意样品高度，样品的高度要小于卡尺的长度，千万不要使样品观察面碰触物镜下方的背散射电子探测器； 4.3更换样品时，一定要先切断灯丝高压，待灯丝冷却5分钟以后再放气。开关样品室门，手扶住门下侧的拉杆，轻轻地向外或向里推。勿抓X、Y、Z、R调节杆来开关门，门要拉到合适的位置，才能更换试样。要带手套取放样品架，手千万不要伸到样品室内，以防止碰伤各种探测器；

4.4更换样品时，开关门动作要轻，不使镜筒产生过大振动。更换样品后要及时关门，样品室放大气的时间不宜过长，一般不得超过20分钟； 4.5样品室内如果脏了，用无尘纸（布）擦拭，注意不要碰触探测器； 4.6仪器观察过程中，若暂时停止观察，应立即切断灯丝高压； 4.7仪器观察过程中，若突然发生断电事故，应立即切断计算机电源开关再切断服务器电源开关，最后切断总电源开关。 5．关机 关机顺序： 1)切断灯丝高压； 2)将SEM放大倍数调至最小 3)等待灯丝冷却5分钟后，放大气； 4)关SEM程序，退出XT server； 5)关闭计算机； 6)关闭服务器电源； 7)关闭房间内总电源。 6．维护 6.1粉体样品易污染样品室和镜筒，制样时使用量尽量少，样品托上样 品层厚度要非常薄，不要“起皮”； 6.2更换试样时，开关门动作要轻，防止造成粉末样的飞溅，污染样品 室； 6.3SEM系统从安装起就应一直保持真空，所以在长期不用或放假时， 要求每隔五天抽真空一次； 6.4更换样品过程中，要等软件控制面板上的VENT键变成黑色后才可 以打开样品室的门，SEM样品室通大气的时间不宜过长，一般不超过20分钟； 6.5样品室内的探头，千万不要用气球吹，尤其是二次电子的闪烁体； 6.6每季度检查一次涡轮分子泵油的颜色和液位，及时更换或补充专用 真空油； 6.7保持实验室的清洁，擦拭仪器时，要切断整个仪器的电源，用柔软

细胞作业及答案

第十二章细胞分化 一、填空题 1、在个体发育过程中，通常是通过来增加细胞的数目，通过来增加细胞的类型。 2、细胞分化的关键在于特异性的合成，实质是在时间和空间上的差异表达。 3、从一种类型的分化细胞转变成另一种类型的分化细胞，往往要经历和 的过程。 二、名词解释 1、全能性： 2、管家基因： 3、细胞分化： 4、细胞决定： 5、奢侈基因： 6、干细胞： 三、选择题 1、细胞分化是由于（）中某些或某种基因选择性地表达的结果。 A、奢侈基因 B、管家基因 C、结构基因 D、转录调控因子基因家族 2、受精卵能发育成一个完整的个体，这种能使后代细胞形成完整个体的潜能为 A、单能性 B、多能性 C、全能性 D、发育性 3、细胞分化的实质是（） A、基因选择性表达 B、基因选择性丢失 C、基因突变 D、基因扩增 4、在个体发育中，细胞分化的规律是（）。 A、单能细胞→多能细胞→全能细胞 B、全能细胞→多能细胞→单能细胞 C、多能细胞→单能细胞 D、全能细胞→单能细胞→多能细胞 四、是非题

2.细胞体的分化发生在生物体的整个生命过程中。（） 3.单细胞生物不存在细胞分化。（） 4. 细胞分化是多细胞生物体发育的基础，也是单细胞生物体生活的周期变化的基础。（） 5. 细胞的全能性随着细胞分化程度的提高而逐渐受到限制。（） 五、问答题： 1、何谓细胞分化？为什么说细胞分化是基因选择性表达的结果？ 第七章核糖体 1.核糖体的类型与化学组成。 2.蛋白质合成的功能单位及其意义。

第八章细胞骨架 一、名词解释 1、细胞骨架： 2．踏车现象： 二、选择题 1.在有丝分裂过程中，与胞质分裂有关的细胞骨架是（） （a）微管（b）微丝（c）中等纤维（d）上述三者都有 2.下列哪种细胞骨架成分具组织特异性（） （b）微丝与中等纤维（b）微管与中等纤维（c）中等纤维（d）微丝 3.从红豆杉树皮中提取的药物紫杉醇具有和秋水仙碱（一种生物碱）对于分裂细胞都是致命的，两者都作用于抗癌药物，但两者的作用机理不同，紫杉醇作用的结果是（）；秋水仙碱作用的结果是（）。 （a）与微管紧密结合，抑制微管解聚（b）促进微管解聚 （c）与微丝紧密结合，抑制微管解聚（d）促进微丝解聚 4. 下列结构中（）的微管蛋白是以三联管的形式存在。 (a) 纤毛 (b) 中心粒 (c) 鞭毛 (d) 纺锤体 5、组成微丝最主要的化学成分是（）。 （a）球状肌动蛋白（b）纤维状肌动蛋白（c）原肌球蛋白（d）肌钙蛋白 6、能够专一抑制微丝组装的物质是（）。 （a）秋水仙素（b）细胞松弛素B （c）长春花碱（d）鬼笔环肽 三、填空题 1.微管由_________分子组成的，微管的单体形式是_________和_________组成的异二聚体。 2.细胞骨架普遍存在于细胞中，是细胞的结构，由细胞内的成分组成。包括、和三种结构。 3.中心体由个相互排列的圆筒状结构组成。结构式为。主要功能是与细胞的和有关。 四、问答题 1. 微丝与微管的主要功能。