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SMT焊点推力作业标准书

,共 2 页序号

12345LED 脱焊推力≥3.5kgf 电容 1.消除阻碍电容(0402/0603/0805/1206)边

缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥2.0kgf 1.消除阻碍LED边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

LED 脱焊推力≥3.0kgf LED 1.消除阻碍LED(5050/5630)边缘的其它元器

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥3.5kgf 1.消除阻碍LED(1206/2323/3528/3535)边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

4.焊点强度判定:其元器件焊点强度推力依下表进行判定

元件名称图片测试方法判定标准 3.2 用≤30度角(如下图所示)对PCBA中的元器件进行推力测试.

 3.1 将推力计归零(如下图所示)3.测试方法:

1.范围:凡本公司SMT元器件焊点皆属之

2.检测仪器:推力计

佳宏汽车用品有限公司

文件名称

文件编号SMT元器件焊点强度测试标准

版本A1

发行日期电容 1.消除阻碍电容(1210)边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.脱焊推力≥2.5kgf

推力计归零

其测试值要大

于或等于标准

其测试角度

≤30度角

第 2 页,共 2 页678910111213141516171819脱焊推力≥4.0kgf

五脚IC 1.消除阻碍IC边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥3.5kgf 六脚IC 八脚IC 1.消除阻碍IC边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.1.消除阻碍IC边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥3.5kgf 电感 1.消除阻碍电感边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥4.0kgf 四脚IC 1.消除阻碍IC边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥3.0kgf MOS管 1.消除阻碍MOS管边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥4.0kgf 电感 1.消除阻碍电感边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥3.5kgf 脱焊推力≥2.0kgf 三极管 1.消除阻碍三极管边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥3.0kgf 三极管 1.消除阻碍大功率三极管边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥3.5kgf 脱焊推力≥2.5kgf 二极管脱焊推力≥2.0kgf 二极管 1.消除阻碍二极管(SS14)边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

脱焊推力≥2.5kgf 审查制(修)订单位1.消除阻碍电阻(0402/0603/0805/1206)边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

1.消除阻碍电阻(1210)边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤31度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

1.消除阻碍二极管(1206)边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

电阻电阻 1.消除阻碍晶振边缘的其它元器件

2.将推力计归零,用≤30度角(如图所示)

进行推力测试,记录脱焊的数值.

备注:如在PCBA元件焊点强度测试过程中,元件不在上表范围内,可依上表类似元器作参照,进行推力测试及判定.

晶振脱焊推力≥3.0kgf 生效日期核 准

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