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LDMO 9 0 - Architecture

统计公差分析方法概述

统计公差分析方法概述(2012-10-23 19:45:32) 分类:公差设计统计六标准差 统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类:一类是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max.)=(20+0.3)+(15+0.25)+(10+0.15)=45.7,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min.)=(20-0.3)+(15-0.25)+(10-0.2)=44.3,出现在A,B、C偏下限之状况 45±0.7适合拿来作设计吗? Worst Case Analysis缺陷: ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。

以上例Part A +Part B+ Part C,假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平,则每个部材的不良机率为1-0.9973=0.0027;在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为:0.0027^3=0.000000019683。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三.统计公差分析法 ?由制造观点来看,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。 ?统计公差方法的思想是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析和计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环) 加工精度,从而减小制造和生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的是『变异』值。 四.方和根法 计算公式(平方相加开根号) 假设每个尺寸的Ppk 指标是1.33并且制程是在中心

工程光学课程设计

工程光学课程设计 设计名称:工程光学课程设计 院系名称: 专业班级: 学生姓名: 学号: 指导教师: XXX教务处制 20 13 年12 月

工程光学课程设计评分表 最后成绩的以优(90~100)、良(80~89)、中(70~79)、及格(60~69)和不及格(少于60分)五级给出。

第1章引言 1.1 简单介绍 对于实际的光学系统来说,它的成像往往是非完善成像,对于怎样来判断一个光学系统的性能的优劣,是光学设计中遇到的一个重要问题.在当前计算机辅助科研、教学的迅猛发展过程中,计算机辅助光学系统设计已成为光学设计不可缺少的一种重要手段.其中,由美国焦点软件公司所发展出的光学设计ZEMAX,可做光学组件设计与照明系统的照度分析,也可建立反射,折射,绕射等光学模型,并结合优化,公差等分析功能,是可以运算Sequential及Non-Sequential的软件.其主要特色有分析:提供多功能的分析图形,对话窗式的参数选择,方便分析,且可将分析图形存成图文件,例如:*.BMP, *.JPG等,且多种优化方式供使用者使用;公差分析:表栏式Tolerance参数输入和对话窗式预Tolerance参数,方便使用者定义;报表输出:多种图形报表输出,可将结果存成图文件及文字文件。 但是,这里必须强调一点的是,ZEMAX软件只是一个光学设计辅助软件,也就是说,该软件不能教你怎么去进行光学设计,而只是能对你设计的光学系统进行性能的优化以达最佳成像质量所以,在应用本教程进行光学辅助设计之前,您最好先学习一下光学设计的有关知识:首先是几何光学基础,几何光学是光学设计的基础,要做光学设计必须懂得各种光学仪器成像原理,外形尺寸计算方法,了解各种典型光学系统的设计方法和设计过程.实际光学系统大多由球面和平面构成。记住共轴球面系统光轴截面内光路计算的三角公式,了解公式中各参数的几何意义是必要的,具体公式可参考有关光学书籍,在此就不一一介绍了。对于平面零件有平面反射镜和棱镜,它们的主要作用多为改变光路方向,使倒像成为正像,或把白光分解为各种波长的单色光.在光学系统中造成光能损失的原因有三点:透射面的反射损失、反射面的吸收损失和光学材料内部的吸收损失。其次是像差理论知识,对于一个光学系统,一般存在7种几何像差,他们分别是球差、彗差、像散、场曲、畸变和位置色差以及倍率色差.另外,还必须了解一点材料的选择和公差的分配方面的知识,以及一些光学工艺的知识,包括切割,粗磨,精磨,抛光和磨边,最后还有镀膜和胶合等。

公差模型和公差分析方法的研究

生 产现场 S H O P S O L U T I O N S 金属加工 汽车工艺与材料 A T&M 2009年第7期 50 机械装配过程中,在保证各组成零件适当功能的前提下,各组成零件所定义的、允许的几何和位置上的误差称为公差。公差的大小不仅关系到制造和装配过程,还极大影响着产品的质量、功能、生产效率以及制造成本。公差信息是产品信息库中的重要 内容,公差模型就是为表示公差信息而建立的数学及物理模型,它是进行公差分析的理论基础。 公差分析或称偏差分析,即通过已知零部件的尺寸分布和公差,考虑偏差的累积和传播,以计算装配体的尺寸分布和装配公差的过程。公差分析的目的在于判断零部件的公差分布是否满足装配功能要求,进而评价整个装配的可行性。早期公差分析方法面向的是一维尺寸公差的分析与计算。Bjorke 则将公差分析拓展到三维空间。Wang 、C h a s e 、P a b o n 、H o f f m a n 、Lee 、Turner 、Tsai 、Salomons 、Varghese 、Connor 等许多学者也分别提出了各自的理论和方法开展公差分析的研究。此后,人工智能、专家系统、神经网络、稳健性理论等工具被引入公差分析领域当中,并分别构建了数学模型以解决公差分析问题。 1 公差模型 公差模型可分为零件层面的公差信息模型和装配层面的公差拓扑关系模型。Shan 提出了完整公差模型的建模准则,即兼容性和可计算性准则。兼容性准则是指公差模型满足产品设计过程的要求,符合ISO 和ASME 标准,能够完整表述所有类型的公差。可计算性准则是指公差模型可实现与CAD 系统集成、支持过/欠约束、可提取隐含尺寸信息、可识别公差类型,以检查公差分配方案的可行性等。目前已经提出了很多公差模型表示法,但每一种模型都是基于一些假设,且只部分满足了公差模型的建模准则,至今尚未出现统一的、公认的公差模型。以下将对几种典型的公差模型加以介绍和评价。1.1 尺寸树模型 Requicha 最早研究了零件层面的公差信息表示,并首先提出了应用于一维公差分析的尺寸树模型。该模型中,每一个节点是一个水平特征,节点间连线表示尺寸,公差值附加到尺寸值后。由于一维零件公差不考虑旋转偏差,所有公差都可表示为尺寸值加公差值的形式。该模型对于简单的一维公差分析十 分有效,但却使尺寸和公差的概念模糊不清,而且没有考虑到形状和位置公差的表示。1.2 漂移公差带模型 Requicha 从几何建模的角度,于20世纪80年代提出了漂移公差带模型以定义形状公差。在这个模型中,形状公差域定义为空间域,公差表面特征需位于此空间域中,同时采用边界表示法(Breps )建立传统的位置和尺寸公差模型。对于表面特征和相关公差信息则运用偏差图(VGraph )来表示。VGraph 主要是作为一种分解实体表面特征的手段,将实体的边界部分定义为特征,公差信息则封装在特征的属性中。漂移公差带模型很好地表达了轮廓公差,轮廓公差包含了所有实际制造过程中的偏差。该模型提供了公差的通用理论且易于实现,但是不能区分不同类型的形状公差。1.3 矢量空间模型 Hoffmann 提出了矢量空间模型,Turner 扩展了这一模型。矢量空间模型首先需要定义公差变量、设计变量和模型变量。公差变量表示零件名义尺寸的偏差。设计变量由设计者确定,用以表示最终装配体的多目标优化函数。模型变量是控制零件各个公差的独立变量。由 公差模型和公差分析方法的研究 讨论了目前工程设计、制造中具有代表性的公差模型的建模、描述和分析的方法。在此基础上,对于面向刚性件和柔性件装配的公差分析方法的研究现状分别进行了综述和评价,通过对比说明各种分析方法的算法、应用范围及不足。最后,展望了公差模型和公差分析方法的研究方向及其发展动态。 奇瑞汽车股份有限公司 葛宜银 李国波

3DCS公差分析工作规范

3DCS公差分析工作规范 1范围 本标准规定了基于CATIA V5软件(以下简称CATIA)进行乘用车整车3DCS公差分析(以下简称公差分析)时的一般性规范,给出了公差分析的方法及流程。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。 《3DCS Analyst 培训教程中文版》 3术语和定义 3.13DCS 3DCS即3维尺寸控制系统(3-Dimensional Control Systems)的简称。 3.23DCS公差分析 3DCS公差分析简单的说就是使用3维尺寸控制软件,通过对数模添加公差从而将数模模拟为真实状态下的工装件,进行公差分析时对软件模拟出的工装件(含公差)进行随机抽样并进行装配,最终分析出零部件中哪些公差设置得不合理的一种方法。 目前我们只对刚性零部件(钣金件或不易变形的硬塑料件等)进行分析。在公差分析时我们一般假定零部件无焊接变形、冲压变形、加工变形和装配变形,将它们均考虑为刚性体。并按各自图纸中的要求对相关零件的固定点、固定面添加尺寸公差和形位公差后进行分析。 3.33DCS装配 在公差分析时需要使用3DCS装配将零部件装配到一起,进行公差分析。 我们常用的3DCS装配均按照3-2-1定位方法进行装配,下面简要介绍一下3-2-1定位方法,以图1中的白色方块为例,若想将它定位至少需要6个定位销(图1中黑色的圆柱),实际上在软件中可以将这6个定位销抽象为6个点(下图中的绿色圆点),即至少需要6个点才能将白色方块定位。我们将这6个点分为三组,第一组是指底面的三个点,限制上下方向的移动,三个点可不在一个平面中但其方向向量需要平行。第二组是指后侧面的两个点,限制前后方向的移动。第三组是指左侧面的一个点,限制左右方向的移动。且这三组点所在的平面方向(圆柱轴线方向)要相互垂直,这种定位方法就叫做3-2-1定位方法。

Win激活码序列号key

Win 激活码序列号key J783Y-JKQWR-677Q8-KCXTF-BHWGC C4M9W-WPRDG-QBB3F-VM9K8-KDQ9Y 2VCGQ-BRVJ4-2HGJ2-K36X9-J66JG MGX79-TPQB9-KQ248-KXR2V-DHRTD FJHWT-KDGHY-K2384-93CT7-323RC HP STARTER RH98C-M9PW4-6DHR7-X99PJ-3FGDB HOME BASIC DX8R9-BVCGB-PPKRR-8J7T4-TJHTH HOME PREM 4FG99-BC3HD-73CQT-WMF7J-3Q6C9 PROFESSIONAL 74T2M-DKDBC-788W3-H689G-6P6GT ULTIMATE MHFPT-8C8M2-V9488-FGM44-2C9T3 236TW-X778T-8MV9F-937GT-QVKBB 87VT2-FY2XW-F7K39-W3T8R-XMFGF ——已经实践 J783Y-JKQWR-677Q8-KCXTF-BHWGC C4M9W-WPRDG-QBB3F-VM9K8-KDQ9Y 2VCGQ-BRVJ4-2HGJ2-K36X9-J66JG MGX79-TPQB9-KQ248-KXR2V-DHRTD FJHWT-KDGHY-K2384-93CT7-323RC ——尚未实践 转载翱翔 第一枚“神Key”:TFP9Y-VCY3P-VVH3T-8XXCC-MF4YK

第二枚“神Key”:KH2J9-PC326-T44D4-39H6V-TVPBY 这两枚“神Key”,都是源于微软对于Windows 7使用者的“无偿奉送”(既然无偿自有无偿的道理),没有“以讹传讹”的激活次数限制(至于何时停止使用,完全取决于微软决策)。“神Key”与“MAK密钥”的本质区别在于:“MAK密钥”系大客户出资向微软购买并享有使用权,按照购买协议有激活次数限制(停用或更换取决于大客户)。 微软再次放出的两枚“神Key”与此前已经提供的两枚“神Key”异曲同工:安装Windows 7 32位(x86)/64位(x64)中、英文旗舰版后,在确保网络畅通的前提下:其一,如果“手气壮、运气好”,即可实现一键直接激活;其二,如果手气运气不佳,100%可以采取电话激活。现提供两枚最新“神Key”如下—— 第三枚“神Key”:236TW-X778T-8MV9F-937GT-QVKBB 第四枚“神Key”:87VT2-FY2XW-F7K39-W3T8R-XMFGF 近日新放出2枚Key—— 236TW-X778T-8MV9F-937GT-QVKBB 87VT2-FY2XW-F7K39-W3T8R-XMFGF 之前放出的2枚神Key—— KH2J9-PC326-T44D4-39H6V-TVPBY TFP9Y-VCY3P-VVH3T-8XXCC-MF4YK 流传于网上未经验证的神Key—— J783Y-JKQWR-677Q8-KCXTF-BHWGC C4M9W-WPRDG-QBB3F-VM9K8-KDQ9Y 2VCGQ-BRVJ4-2HGJ2-K36X9-J66JG MGX79-TPQB9-KQ248-KXR2V-DHRTD FJHWT-KDGHY-K2384-93CT7-323RC Windows 7旗舰版“OEM密钥”: [DELL] 342DG-6YJR8-X92GV-V7DCV-P4K27 [Lenovo] 22TKD-F8XX6-YG69F-9M66D-PMJBM [Acer] FJGCP-4DFJD-GJY49-VJBQ7-HYRR2 [SAMSUNG] 49PB6-6BJ6Y-KHGCQ-7DDY6-TF7CD Windows 7专业版“OEM密钥”: [Acer]

VSA尺寸公差分析---Visualization Basics Tutorial帮助文件

Visualization Basics Tutorial Teamcenter lifecycle visualization の基本を学習する 本チュートリ?ルについて关于本教程 タスク 1:はじめに任务1:开始 1.1フ??ルを開き、表示する文件显示 1.1.1フ??ルを開く文件 1.2部品を表示する配件显示 1.2.1モデルを表示する显示模式 1.2.2個々の部品を表示する一个零件的显示 1.3?ンターフェ?スを検索する接口搜索 1.3.1?ンタフェースの概要接口概要 1.3.2ツールバーを表示し、移動する工具栏显示,移动1.4ヘルプの取得获取帮助 1.4.1ツールヒントを表示する显示提示工具 1.4.2ヘルプを検索する搜索帮助 タスク 2:3D ?センブリを調査する 2.1モデルをナビゲートする 2.1.1ナビゲーションのモード 2.1.2ナビゲーションツールを適用する 2.1.33D モデルをパンする 2.1.43D モデルを回転する 2.1.53D モデルを拡大/縮小表示する 2.1.6画面の新しい中心を設定します。 2.2部品を選択する 2.2.1部品の選択 2.2.2部品の表示/非表示を変更する 2.2.2.1選択範囲を非表示にする 2.3.2.2部品にジャンプする 2.3.2.3選択した部品のみ表示する 2.3モデルを切断し見やすくする 2.3.1セクショニングツールを表示する 2.3.2切断面を定義する 2.3.3断面を作成する 2.43D モデル上の距離を測定する 2.4.1計測ツールを開く 2.4.2測定の種類 2.4.3パーツフ?ーチャを選択する 2.4.4計測の基本設定 2.4.5距離を測定する 2.4.5.1点から点を測定する 2.4.5.2面から面を計測する 2.4.6計測を管理する 2.5?センブリをマーク?ップする

公差分析方法现状与展望

摘要:机械产品的公差设计对机械产品的生产和使用有着十分重要的作用。本文介绍了现有的公差分析方法,分析了这些公差分析方法的应用场合及缺陷,并对公差分析方法进行了展望。 关键词:公差公差分析展望 中图分类号:tg8 文献标识码:a 文章编号:1672-3791(2015)07(b)-0000-00 机械产品的几何设计信息包括零件的几何要素(点、线、面)、几何要素的公差规范以及零件间的装配约束等,其设计方案直接关系到机械产品的制造、检测、使用、维护的方案和成本。利用合理的公差设计方法,工程人员能保障甚至提高机械产品的使用功能,并在机械产品的产品生命周期中起到积极的作用,缩短设计周期、节约人力资源、提高设计质量、降低制造成本、控制物料需求、减少能源浪费等。 公差分析指的是:已知产品的几何设计方案,分析并预测机械装配体的几何质量(某个或某几个几何参数的变化范围)。产品的几何设计方案直接关系到产品的加工、装配和测量方案,而机械装配体的几何质量是产品使用功能的重要方面。公差分析就是公差设计中连接加工、装配、测量和使用的一个基础环节。没有公差分析,就没有办法评价产品几何设计方案的优劣,更没有办法对产品几何设计方案进行优化。 现有的公差分析方法主要考虑了零件中几何要素的尺寸及方位误差、零件间的连接误差。随着公差分析方法的发展,国内外研究人员逐渐注意到了工作负载及零件材料对机械产品的几何性能的影响,并发展了基于理想几何要素和刚体力学的公差集成分析方法、基于理想几何要素和弹性力学的公差集成分析方法。 1 公差分析方法的现状 几何要素的简单变动指的是:将理想的几何要素进行缩放、旋转和平移,得到一个新的几何要素。进行公差分析时,这个新的几何要素通常位于给定的公差带范围内,并用来替代实际几何要素。例如:一个轴的理想外表面为具有理想直径的圆柱面;一个轴的实际外表面为接近圆柱面的一个柱面;在进行公差分析时,用一个不一定具有理想直径的圆柱面来替代前述轴的实际外表面。 目前,公差分析方法主要包括基于几何要素简单变动的公差分析方法、基于几何要素简单变动和刚体力学的公差集成分析方法、基于几何要素简单变动和弹性力学的公差集成分析方法。 1.1 基于几何要素简单变动的公差分析方法 现有的公差分析方法主要是基于理想几何要素的公差分析方法,包括一维尺寸链分析法、二维和三维小位移旋量法、二维和三维直接线性化法等。这些公差分析方法已经成功应用在proe、catia、visvsa等商业软件或其模块中。 (1)一维尺寸链分析法是一种传统的公差分析方法。它将机械总成的尺寸视为零件尺寸的线性叠加,并对装配体的几何质量进行分析、预测。这种公差分析方法没有考虑零件间的装配约束,可以用来分析低精度的机械产品;当零件间的定向误差较大时,这种公差分析方法的误差较大。 (2)小位移旋量法可以描述二维和三维的公差带的形状、大小、位置和公差带内经过简单变动的几何要素,并对装配体的几何质量进行分析、预测。这种方法可以用于形状误差较小的机械产品;当零件间的形状误差较大时,这种公差分析方法的误差较大。 (3)参数矢量化模型可以描述二维和三维的公差带的边界,并对装配体的几何功能进行分析、预测。这种方法忽略了几何要素的定向误差和形状误差,可以用于形状误差和定向误差较小的机械产品;当零件间的形状误差和定向误差较大时,这种公差分析方法的误差较大。 1.2 基于几何要素简单变动和刚体力学的公差集成分析方法

AUTODESK2016全系列安装产品密钥和序列号

AUTODESK 2016 全系列产品密钥 序列号 666-69696969, 667-98989898, 400-45454545 066-66666666 001H1 AutoCAD 2016 057H1 AutoCAD LT 2016 128H1 Autodesk 3ds Max 2016 129H1 AutoCAD Map 3D 2016 140H1 AutoCAD OEM 2016 151H1 RealDWG 2016 185H1 AutoCAD Architecture 2016 200H1 Autodesk Design Academy 2016 206H1 AutoCAD Mechanical 2016 208H1 Autodesk Inventor 2016 213H1 AutoCAD Utility Design 2016 225H1 AutoCAD Electrical 2016 235H1 AutoCAD MEP 2016 237H1 AutoCAD Civil 3D 2016 240H1 Autodesk Revit Architecture 2016 241H1 AutoCAD Revit Architecture Suite 2016 255H1 Autodesk Revit Structure 2016 256H1 AutoCAD Revit Structure Suite 2016 257H1 AutoCAD Revit MEP Suite 2016 262H1 Autodesk Showcase 2016 295H1 Autodesk Showcase Professional 2016 340H1 AutoCAD Raster Design 2016 424H1 Autodesk Quantity Takeoff 2016 426H1 AutoCAD Plant 3D 2016 448H1 AutoCAD P&ID 2016 495H1 Autodesk 3ds Max Design 2016 498H1 Autodesk Mudbox 2016 506H1 Autodesk Navisworks Simulate 2016 507H1 Autodesk Navisworks Manage 2016 529H1 Autodesk Inventor LT 2016 535H1 T1 Enterprise Multi-flex 2016 545H1 AutoCAD LT Civil Suite 2016 546H1 Autodesk Robot Structural Analysis 2016 547H1 Autodesk Robot Structural Analysis Professional 2016 548H1 Autodesk Entertainment Creation Suite Ultimate - Secondary Schools 2016 549H1 Autodesk Vault Collaboration 2016 555H1 Autodesk Vault Office 2016 559H1 Autodesk Vault Workgroup 2016 562H1 AutoCAD ecscad 2016 569H1 Autodesk Vault Professional 2016 570H1 Autodesk Simulation Moldflow Adviser Standard 2016 571H1 Autodesk Simulation Moldflow Adviser Premium 2016 572H1 Autodesk Simulation Moldflow Adviser Ultimate 2016 573H1 Autodesk Simulation Moldflow Insight Standard 2016 574H1 Autodesk Simulation Moldflow Insight Premium 2016 575H1 Autodesk Simulation Moldflow Insight Ultimate 2016 576H1 Autodesk Simulation Moldflow Design Link 2016 577H1 Autodesk Simulation Moldflow CAD Doctor 2016 579H1 Autodesk Simulation Moldflow Synergy 2016 589H1 Autodesk Revit MEP 2016 第 1 页

统计公差分析方法概述

统计公差分析方法概述 一、引言 公差设计问题可以分为两类:一类就是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸与公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类就是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸与公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法与统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环与组成环公差的分析方法称为统计公差法、本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二、Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max、)=(20+0、3)+(15+0、25)+(10+0、15)=45、7,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min、)=(20-0、3)+(15-0、25)+(10-0、2)=44、3,出现在A,B、C偏下限之状况 45±0、7适合拿来作设计不? Worst Case Analysis缺陷: ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。 以上例Part A +Part B+ Part C,假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平,则每个部材的不良机率为1-0、9973=0、0027;在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为:0、0027^3=0、3。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都就是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三、统计公差分析法 ?由制造观点来瞧,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。?统计公差方法的思想就是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析与计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环) 加工精度,从而减小制造与生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的就是『变异』值。

Autodesk2013(密钥及序列号)

Autodesk 2013 安装序列号: 400-45454545 或667-98989898 或666-69696969 每款产品对应的密钥: 001E1 - Autodesk AutoCAD 2013 057E1 - AutoCAD LT 2013 128E1 - Autodesk 3ds Max 2013 129E1 - AutoCAD Map 3D 2013 185E1 - AutoCAD Architecture 2013 200E1 - Autodesk design suite (key for autocad, civil3d, mep, inventor, 3ds max, architecture)206E1 - AutoCAD Mechanical 225E1 - Autocad Electrical 235E1 - Autocad MEP 2013 237E1 - Autocad Civil 3D 240E1 - AutoCAD Revit Architecture 2013 241E1 - AutoCAD Revit Architecture Suite 2013 255E1 - AutoCAD Revit Structure 2013 256E1 - AutoCAD Revit Structure Suite 2013 257E1 - AutoCAD Revit MEP Suite 2013 262E1 - Showcase 2013 276E1 - Autodesk MapGuide 2013 279E1 - Direct Connect for JT 2013 294E1 - Inventor Tooling Suite 295E1 - Autodesk Showcase Professional 2013 297E1 - AutoCAD Revit MEP 2013 340E1 - Raster Design 2013 426E1 - Autocad Plant 3D 424E1 - Autocad Quantity Teakeoff 448E1 - Autocad P ID 462E1 - AutoCAD Inventor Professional Suite 2013 464E1 - Inventor R-SYS 466E1 - Inventor SIMULATION 467E1 - Autodesk Topobase Web 2013 475E1 - TOPOBASE CLIENT 2013 495E1 - Autodesk 3ds Max Design 2013 498E1 - Autodesk Mudbox 504E1 - Navisworks Review 506E1 - Navisworks Simulate 507E1 - Navisworks Manage 527E1 - Inventor Suite 2013 529E1 - Autodesk Inventor LT

统计公差分析方法概述

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统计公差分析方法概述(2012-10-23 19:45:32) 分类:公差设计统计六标准差 统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类:一类是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max.)=(20++(15++(10+=,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min.)=++=,出现在A,B、C偏下限之状况 45±适合拿来作设计吗 Worst Case Analysis缺陷: 设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; 公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。

PROE中公差分析参考指南

Parametric Technology Corporation Pro/ENGINEER? Wildfire? 4.0 Tolerance Analysis Extension Powered by CETOL?Technology 参考指南

? 2008 Parametric Technology Corporation 版权所有。保留所有权利。 Parametric Technology Corporation 及其子公司 (通称“PTC”) 的用户和培训文档受美国和其它国家/地区版权法的保护,并受许可协议的约束,复制、公开发行和使用此文档受到严格限制。PTC 在此同意,依据适用软件的许可协议规定,拥有软件使用权的用户允许以印刷形式复制本文档 (如果软件媒介中提供),并且仅限内部/个人使用。任何复印件都应包括 PTC 版权通告和由 PTC 提供的其它专利通告。未经 PTC 明确授权许可,不得复制培训材料。未经 PTC 事先书面许可,本文档不得公开、转让、修改或简化为任何形式 (包括电子媒介),也不允许以任何手段传播、公开发行或出于此目的进行复制。 此处所描述的信息仅作为一般信息提供,如有更改恕不另行通知,并且不能将其解释为 PTC 的担保或承诺。本文档中如有错误或不确切之处,PTC 概不负责。 本文档中所述软件在有书面许可协议的条件下提供,其中包括重要的商业秘密和专利信息,并受美国和其它国家/地区版权法的保护。未经 PTC 事先书面许可,本软件不能以任何形式在任何媒介中复制或分发、公开至第三方,或者以任何软件许可证协议所不允许的方式使用。 未经授权使用软件或其文档,将会引起民事赔偿和刑事诉讼。 若需了解重要的版权、商标、专利和授权信息,请考虑如下选项:针对 Windchill 产品,请选择产品页面底部的“关于Windchill”。针对 InterComm 产品,请在“帮助”主页上单击 2007 年版权信息链接。其他产品,则单击产品主菜单上的“帮助”>“关于”。 美国政府有限权利说明 依据FAR 12.212(a)-(b) (1995年10月) 或 DFARS 227.7202-1(a) 和227.7202-3(a)(1995年6月),本文档以及其中所述的软件属于商用计算机文档和软件,只在有限商业许可下提供给政府。对于上述条款规定日期之前政府获得的文档资料和软件,其使用、复制或公开受 DFARS 252.227-7013(1988 年 10 月)中“技术资料和计算机软件条款权利”(Rights in Technical Data and Computer Software Clause) 下的 (c)(1)(ii) 子条款或 FAR 52.227-19(c)(1)-(2)(1987 年 6 月) 中“商用计算机软件限制权 利”(Commercial Computer Software-Restricted Rights) 所适用限制条件的约束。 01012008 Parametric Technology Corporation, 140 Kendrick Street, Needham, MA 02494 USA

公差分析的方法与比较

公差分析的方法與比較 PSBU-RDD4-MDD 工程師朱誠璞 alex.chu@https://www.wendangku.net/doc/7d3788328.html, 2002/11/14 PM 04:32 version 1.1 A.公差分析的傳統方法( I)----Worst Case 法 首先,必須解釋在公差分析時所用的兩種方法: 公差合成與公差分配. 而在以下兩個例子中用來運算公差範圍的數學方法為 Worst Case 法,這是傳統的做法 : 1.公差的合成(使用Worst Case 法運算) Part A 與 Part B 必須接合在一起,合成後的尺寸與公差範圍會是如何呢? 在這個例子中,可以得到一個很直觀的結果------當Part A 與 Part B相接後所得到的 Part A+B 長度和公差範圍都是Part A + Part B 的結果. 也就是說:合成後的公差範圍會包括到每個零件的最極端尺寸,無論每個零件的尺寸在其公差範圍內如何變化,都會 100% 落入合成後的公差範圍內. 聽起來相當合理,不是嗎? 稍後會解釋這樣做的缺點.

2.公差的分配(使用Worst Case 法運算) 現在 Part A+B 必須放入 Part C 的開口處,而開口的尺寸與公差如圖所示,那麼 Part A 與 B 的分別的公差範圍又應該是多少呢? 我們以最簡單的方法 : 平均分配給其中所有的零件,所以 Part A 與 B 各得50 %,當然也可以按照其他的比例來調整,並沒有絕對的優劣之分. B. Worst Case法的問題 1.控制公差範圍難以被控制在設計的需求範圍中. 由於 Worst Case 法合成時要求100 % 的可以容許單一零件的公差變化,會造成合成後的公差範圍變的較大,對設計者而言,是非常容易造成零件組裝後相互干涉或間隙過大. 在以上的例子中,如果要將 Part A+B 放入 Part C 時,會發生過緊干涉的情況,因為 Part C 最窄只有 10.75 mm,但是 Part A+B 卻可能有 11.50 mm的情況則有 0.75 mm 的干涉;另一方面,當 Part C 最寬11.25 mm,而 Part A+B 為10.5 mm 的最小值時,又有 0.75 mm的間隙產生.由此可知公差範圍過大所造 成的難以控制的缺點. 2.決定公差範圍的過程缺乏客觀及合邏輯的程序 以此類方式決定的公差範圍尺寸,必須仰賴設計者的經驗,且必須經過多次的試作才可真正決定;若生產條件改變:如更換生產廠商,模具修改…等,皆有可能使原訂之公差範圍無法達成,而被迫放寬或產生大量不良品的損失.

CST2013视频培训课程讲义-CST简介

CST微波工作室入门与应用详解 中文视频教程 微波EDA网(https://www.wendangku.net/doc/7d3788328.html,)、易迪拓培训(https://www.wendangku.net/doc/7d3788328.html,) 联合出品 第二讲:CST工作室套装和CST微波工作室 主讲:李明洋

概述 CST——Computer Simulation Technology ?总部位于德国,全球最大的时域电磁场仿真软件开发公司,具有完备的三维全波电磁场仿真技术 CST工作室套装 ?是CST公司集三十余年在3D电磁场算法研究和软件开发经验的基础上开发出来的,面向3D电磁、电路、温度和结构应力设计工程师的一款全面精确的专业仿真软件包。整个套装包含八个称为工作室的子软 件,集成在同一用户界面内。可以为用户提供从芯片级到系统级的完整的数值仿真分析 CST微波工作室——CST Microwave Studio ?是一款无源三维电磁仿真软件,CST公司旗舰产品,主要用于无源微波器件、天线的仿真设计,RCS、SAR的分析计算,以及EMC/EMI的分析

CST发展历程 ?1975 开始研究有限积分法(Finite Integration) ?1992 成立CST公司 ?1998 发布CST微波工作室—CST Microwave Studio1.0 ?2000 发布CST设计工作室—CST Design Studio1.0 ?2001 发布CST电磁工作室—CST EM Studio 1.0 ?2004 发布CST MicroWave Studio5.0、CST Design Studio 3.0、CST EM Studio 2.0 ?2006 发布CST工作室套装CST Studio Suite 2006,把上述三个软件集成在一个工作环境中?2013 发布CST Studio Suite 2013 包含如下八个子软件:CST Microwave Studio、CST Design Studio、CST EM Studio CST Mphysics Studio、CST Particle Studio、CST PCB Studio CST Cable Studio、CST Microstripes

安装序列号

意指上天会酬报勤奋的人,付出的努力一定会有所回报。多一分耕耘,多一分收获,只要你付出了足够的努力,就算没有看到直接的收益,将来也一定会得到相应的回报。天道酬勤是常用励志类成语 安装序列号Sn:191-75444444。 产品: AutoCAD 2006 序列号/编组ID: 191-75444444 申请号: K439 EFUL VS4Y FPZT DF75 9RAC Z83C 激活号是:EZ5C 7HW7 0L7U KFN5 把申请号复制粘贴到注册机里面就行,注意中间的空格。你也可以一个一个字母往里输入。这是我帮你算出来的激活码:GTKS ZYTU FRDN UC4E。你可以直接用。再有问题可以百度Hi给我留言。 你那下的AUTOCAD2006里面应该附有说明的,仔细看看就知道该怎么激活。在解压到的文件里有以“Sn.txt”命名的记事本,里面的说明如下:、 1、用序列号191-75444444进行安装。 2、装完后运行autocad 2006,会要求你进行激活。记下申请码(共7组),然后运行注册机Keygen.exe,在“Request Code:”中输入刚才的申请码,就可以得到激活码Activation code(共4组)。 3、返回autocad 2006激活界面,选择“输入激活码”,按“下一步”,在“产品作者所在的国家/地区”中选“中国”,输入刚才生成的4组激活码,按“下一步”,完成注册。 按照以上要求做就可以了。 这个是在别的地方帮你找的,希望可以帮助你。 GU5R Q0RK T6NH T2L5 AutoCAD 2010的产品密钥输入框怎么只能输入6个字符,密钥可是好长一串啊,这是为什么,哪位达人遇到过?谢谢! 不是没有注册机,问题是那个密钥输入框跟以往我装CAD不一样,它不能粘贴上那一大串字符,只放得下5个字符,奇就奇在这里!!!这是为什么? 新序列号:356-72378422, 产品密钥:001B1 激活方法(需先下载注册机): 1、启动AutoCAD2010 ,在“[Autodesk 产品] 产品激活”向导中,选择“激活产品”,单击“下一步”。 2、在“现在注册”的“激活”页面上,先在序列号或编组ID下的文本框中输入:356-72378422,产品密钥一律为001B1 3、然后启动注册机,一定要记得右击注册机“以管理员方式运行”!(Vista、win7系统的话)。在注册机“申请码”下框中粘贴(Ctrl+v)刚才记下的申请码,先点击注册机\"Mem Patch\",再点击“Generate”按钮,这时将会在“激活码”下框中得出激活码。用(Ctrl+c)复制激活码并返回auocad2010激活界面。 4、在auocad2010激活界面选择“输入激活码”“粘贴激活码”,用(Ctrl+V)粘贴刚才记下的激活码。点击“下一步”,激活成功。

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