混合扫描上机练习

创建花瓶的3D模型

任务1. 创建构成的混合伸出项。

1.单击“插入”→“混合”→“伸出项”→“平行、规则截面、草绘截面”

→“完成”→“光滑”→“完成”。

2.选取基准TOP平面，并单击“正向”→“缺省”。

3.草绘截面1，如图6-2-1所示。

4.单击右键→切换剖面→变灰。

注释：也可通过“草绘”→“特征工具”→“切换剖面”→变灰.

图6-2-1 图6-2-2

5.草绘截面2，如图6-2-2所示。单击右键→切换剖面→变灰。

注释：1.绘制?70的圆形截面→使用“分割”命令，将圆与中心线相交

处分割为4段图元。

2.起始点位置和指向要一致。

方法：选中该点，通过“草绘”→“特征工具”→“起始点”，

来改变它的位置或方向。

6.草绘截面3，如图6-2-3所示。单击右键→切换剖面→变灰。

7.草绘截面4，如图6-2-4所示。完成草绘。

图6-2-3 图6-2-4

8.依次输入各截面的深度30、40、20，完成实体模型如图6-2-5所示。

图6-2-5 图6-2-3

任务2. 创建构成的拉伸伸出项。

9.选择基准TOP面为草绘平面，使用草绘中“使用边”命令，拾取花瓶底部

投影正方形的四个边，完成草绘截面，如图6-2-3所示。

10.设定拉伸厚度为2，注意拉伸方向。完成拉伸特征如图6-2-4所示。

任务3. 创建构成的抽壳特征。

11.启动“抽壳”工具，拾取花瓶的上表面为开口面如图6-2-5所示，输入壳

体厚度2（如图6-2-6），完成花瓶的建立如图6-2-7所示。

12.保存模型，关闭窗口。

图6-2-4 图6-2-5

图6-2-6 图6-2-7

创建扫描混合模型

任务1.绘制如图9-2-1所示烟斗

图9-2-1

1.绘制轨迹线

单击“草绘”工具，选取草绘平面(FRONT)，绘制如图8-1-2所示的轨迹线。

图9-2-2

2.建立烟斗主体

（1）单击菜单【插入】→【扫描混合】→【伸出项】→【混合选项】→依次单击【草绘截面】、【垂直于原始轨迹】、【完成】→选取轨迹→按住CTRL键，依次选取上步轨迹线→确定→完成→自动→完成。

（2）确定轨迹线上放置剖面的点，按命令提示“接受”选择，如图8-1-3所示。

图9-2-3

（3）剖面不旋转，绘制第一个剖面Φ6，完成第一剖面。

（4）同样方法，依次绘制Φ10、Φ12和Φ15 。

2.拉伸去材料

3.扫描去材料（轨迹同上）

4.保存模型，关闭窗口。

使用【螺旋扫描】命令建立如图六角螺栓螺母。

电子显微部分思考题及答案

电子显微部分思考题-2011 *1. 什么是分辨率？提高显微镜分辨的途径有哪些？ 分辨本领又称分辨率，是指显微镜能分辨的样品上两点间的最小距离。 根据瑞利公式：Δr=(0.61λ)/(N·sinα) 其中：Δr：最小可分辨距离； λ：光源的波长； N：介质的折射率； α：孔径半角，即透镜对物点的张角的一半； Nsinα：称为数值孔径，常用N.A表示。 提高分辩率，即减小Δr值的途径有： (1)增大N.A(物镜的数值孔径) ，即增大N和α； (2)减小λ。 *2. 什么是像差？解释其成因。 像差有分为几何像差和色差，几何像差又包括球差和像散。 球差是由于电子波经过透镜成像时，离开透镜主轴较远的电子(远轴电子)比主轴附近的电子(近轴电子)被折射程度要大。当物点P通过透镜成像时，电子就不会会聚到同一焦点上，从而形成了一个散焦斑。 像散是由于透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的。像散是由透镜磁场的旋转对称性被破坏而引起的。透镜磁场不对称，可能是由于磁透镜极靴被污染、光镧被污染，或极靴加工的机械不对称性，或极靴材料各向磁导率差异引起（由制造精度引起）。 色差是由于电子波的波长（或能量）发生一定幅度的波动而造成的。引起电子束能量变化的主要有两个原因：一是电子的加速电压不稳定；二是电子束照射到试样时，和试样相互作用，一部分电子发生非弹性散射，致使电子的能量发生变化。 *3. 电磁透镜与光学透镜有何显著不同？解释电磁透镜的聚焦原理。 运动的电子在磁场中会受磁场力的作用产生偏折，从而达到会聚和发散。通电短线圈产生对称不均匀磁场，可以使电子束聚焦，因此通电短线圈制成的可使电子束聚焦成像的装置叫电磁透镜。改变激磁电流，电磁透镜的焦距将发生相应变化。因此，电磁透镜是一种变焦距或变倍率的会聚透镜，这正是它有别于光学透镜的一大特点。 沿电磁透镜轴线方向的电子通过电磁透镜时运动状态不发生改变；与轴线平行但不在轴线上的的电子通过电磁透镜时，将受到与初始运动方向垂直的切向力和指向轴向的向轴力作用，绕轴作螺旋运动并将最终聚焦于一点。

思考题解答

复 习 的 重 点 及 思 考 题 第一章 X 射线的性质 X 射线产生的基本原理。 ● X 射线的本质―――电磁波 、 高能粒子 、 物质 ● X 射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等 ● 高能电子与物质相互作用可产生哪两种X 射线？产生的机理？ 连续X 射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X 射线波长是连续的,故称之为～ 特征(标识)X 射线：由原子内层电子跃迁所产生的X 射线叫做特征X 射线。 X 射线与物质的相互作用 ● 两类散射的性质 ● 吸收与吸收系数意义及基本计算 ● 二次特征辐射（X 射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件 二次特征辐射（X 射线荧光）：由X 射线所激发出的二次特征X 射线叫X 射线荧光。 俄歇电子：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电 子将产生跃迁，多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来。这种效应称为俄歇效应。 ● 选靶的意义与作用 第二章 X 射线的方向 晶体几何学基础 ● 晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型 在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体 ● 晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应 ● 晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式 ● 倒易点阵定义、倒易矢量的性质 ● 厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明 (a) 以λ1= 为半径作一球； (b) 将球心置于衍射晶面与入射线的交点。 (c) 初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。 (d) 落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。 (e) 由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。 布拉格方程 ● 布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。 布拉格方程只是确定了衍射的方向,在复杂点阵晶脆中不同位置原子的相同方向衍 射线,因彼此间有确定的位相关系而相互干涉,使得某些晶面的布拉格反射消失即 出现结构消光,因此产生衍射的充要条件是满足布拉格方程的同时结构因子不为零 ● 干涉指数引入的意义，与晶面指数（密勒指数）的关系 干涉指数 HKL 与 Miller 指数 hkl 之间的关系有 ： H= nh , K = nk , L = nl 不同点：（1）密勒指数是实际晶面 的指数，而干涉晶面指数不一定；

微生物思考题

第一章绪论 1．用具体事例说明人类与微生物的关系。 2．为什么说巴斯德和柯赫是微生物学的奠基人? 3．为什么微生物学比动、植物学起步晚，但却发展非常迅速? 4．简述微生物学在生命科学发展中的地位。 5．试述微生物学的发展前景 1．微生物与人类关系的重要性，可以从它们在给人类带来巨大利益的同时也可能带来极大的危害两方面进行分析。能够例举：面包、奶酪、啤酒、抗生素、疫苗、维生素及酶等重要产品的生产；微生物使得地球上的物质进行循环，是人类生存环境中必不可少的成员；过去瘟疫的流行，现在一些病原体正在全球蔓延，许多已被征服的传染病也有“卷土重来”之势；食品的腐败等等具体事例说明。 2．这是由于巴斯德和柯赫为微生物学的建立和发展做出了卓越的贡献，使微生物学作为一门独立的学科开始形成。巴斯德彻底否定了“自然发生”学说；发现将病原菌减毒可诱发免疫性，首次制成狂犬疫苗，进行预防接种；证实发酵是由微生物引起的；创立巴斯德消毒法等。柯赫对病原细菌的研究做出了突出的成就：证实了炭疽病菌是炭疽病的病原菌，发现了肺结核病的病原菌，提出了证明某种微生物是否为某种疾病病原体的基本原则——柯赫原则，创建了分离、纯化微生物的技术等。 3．其原因从下列几方面分析：微生物具有其他生物不具备的生物学特性；微生物具有其他生物共有的基本生物学特性；微生物个体小、结构简单、生长周期短，易大量培养，易变异，重复性强等优势，十分易于操作。动、植物由于结构的复杂性及技术方法的限制而相对发展缓慢。微生物的广泛的应用性，能迅速地符合现代学科、社会和经济发展的需求。 4．20世纪40年代，随着生物学的发展，许多生物学难以解决的理论和技术问题十分突出，特别是遗传学上的争论问题，使得微生物这样一种简单而又具完整生命活动的小生物成了生物学研究的“明星”。微生物学很快与生物学主流汇合，并被推到了整个生命科学发展的前沿，获得了迅速的发展，为整个生命科学的发展做出了巨大的贡献(可举例说明)，在生命科学的发展中占有重要的地位。 5．可从以下几方面论述微生物学的发展前量景：微生物基因组学研究将全面展开；以了解微生物之间、微生物与其他生物、微生物与环境的相互作用为研究内容的微生物生态学、环境微生物学、细胞微生物学等，将在基因组信息的基础上获得长足发展，为人类的生存和健康发挥积极的作用；微生物生命现象的特性和共性将更加受到重视；与其他学科实现更广泛的交叉，获得新的发展；微生物产业将呈现全新的局面。培养物能较好地被研究、利用和重复结果。 第二章微生物的纯培养和显微镜技术 1．一般说来，严格的无菌操作是一切微生物工作的基本要求，但在分离与培养极端嗜盐菌时常在没有点酒精灯的普通实验台上倾倒培养平板、在日常环境中直接打开皿盖观察和挑取菌落，而其研究结果并没有因此受到影响，你知道这是为什么吗? 2．如果希望从环境中分离得到厌氧固氮菌，你该如何设计实验? 3，为什么光学显微镜的目镜通常都是15X?是否可以采用更大放大倍率的目镜(如30x)来进一步提高显微镜的总放大倍数? 4．为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异?能否用扫描电镜来

材料表征方法思考题答案

第一章XRD 1.X射线的定义、性质、连续X射线和特征X射线的产生、特点。 答：X射线定义：高速运动的粒子与某种物质相撞击后猝然减速，且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。性质：看不见；能使气体电离，使照相底片感光，具有很强的穿透能力，还能使物质发出荧光；在磁场和电场中都不发生偏转；当穿过物体时只有部分被散射；能杀伤生物细胞。 连续X射线产生：经典物理学解释——由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。量子力学解释——大量的电子在到达靶面的时间、条件均不同，而且还有多次碰撞，因而产生不同能量不同强度的光子序列，即形成连续谱。特点：强度随波长连续变化 特征X射线产生：当管电压达到或高于某一临界值时，阴极发出的电子在电场的加速下，可以将物质原子深层的电子击到能量较高的外部壳层或击出原子外，使原子电离。此时的原子处于激发态。处于激发态的原子有自发回到激发态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量降低。原子从高能态变为低能态时，多出的能量以X射线的形式释放出来。因物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能级差一定，故辐射出波长一定的特征X射线。特点：仅在特定的波长处有特别强的强度峰。 2.X射线与物质的相互作用 答：X射线与物质的相互作用，如图所示 一束X射线通过物体后，其强度因散射和吸收而被衰减，并且吸收是造成强度衰减的主要原因。 散射分为两部分，即相干散射和不相干散射。当X射线照射到物质的某个晶面时可以产生反射线，当反射线与X射线的频率、位相一致时，在相同反射方向上的各个反射波相互干涉，产生相干散射；当X射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，产生波长比入射X射线波长长的X射线，且波长随着散射方向的不同而改变，这种现象称为不相干散射。其中相干散射是X射线在晶体中产生衍射现象的基础。 物质对X射线的吸收是指X射线通过物质时，光子的能量变成了其它形式的能量，即产生了光电子、俄歇电子和荧光X射线。当X射线入射到物质的内层时，使内层的电子受激发而离开物质的壳层，则该电子就是光电子，与此同时产生内层空位。此时，外层电子将填充到内层空位，相应伴随着原子能量降低，放出的能量就是荧光X射线。当放出的荧光X射线回到外层时，将使外层电子受激发，从而产生俄歇电子而出去。产生光电子和荧光X射线的过程称为光电子效应，产生俄歇电子的过程称为俄歇效应。示意图见下：

实验十六 扫描电镜对材料组织的分析

实验十六扫描电镜对材料组织的分析(验证性) 一、试验目的 1．了解扫描电子显微镜结构原理，以及在金相分析中的应用。 2．掌握马氏体、贝氏体、回火马氏体、回火托氏体、回火索氏体在扫描电子显微镜中的形貌。 二、实验原理 1、扫描电子显微镜的结构 扫描电子显微镜可粗略分为镜体和电源电路系统及冷却系统。如图3-1所示，镜体是由电子光学系统、样品室、检测器以及真空抽气系统组成。电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈等。电源电路系统由控制镜体部分的各种电源、信号处理、图象显示和记录系统以及用于全部电气部分的操作面板构成。真空系统由用于低真空抽气的旋转机械泵(RP)和高真空抽气的油扩散泵（DP）或离子泵构成。 2、扫描电子显微镜的工作原理 图3-2是扫描电镜的原理示意图。由最上边电子枪发射出来的电子束，经栅格聚焦后，在加速电压作用下，经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成一个细的电子数聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈，在它的作用下使电子束在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用，结果产生了各种信息：二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子、阴极荧光和透射电子等。这些信号被相应的接收器接收，经放大后送到显像管的栅极上，调制显像管的亮度。由于经过扫描线圈上的电流是与显像管相应的亮度一一对应，也就是说，电子束打到样品上一点时，在显像管荧光屏上就出现了一个亮点。扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法，把样品表面不同的特征，按顺序，成比例地转换为视频信号，完成一帧图像，从而使我们在荧光屏上观察到样品表面的各种特征图像。 图3-1 扫描电子显微镜的结构图图3-2扫描电子显微镜的工作原理图

扫描电镜的使用演示 (2)

扫描电镜的使用演示 一、实验目的 1）了解扫描电镜基本结构和工作原理。 2）通过对表面形貌衬度和原子序数衬度的观察，了解扫描电镜图像衬底原理及其应用。 二、扫描电镜的基本结构和工作原理 扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产行各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点，是进行样品表面研究的有效分析工具。 扫描电镜所需的加速电压一般在1～30kV，常用的加速电压~20kV左右。图像放大倍数在一定范围内(几十倍到几十万倍)可以实现连续调整，放大倍数等于荧光屏上显示的图像横向长度与电子束在样品上横向扫描的实际长度之比。扫描电镜最常使用的是二次电子信号和背散射电子信号，前者用于显示表面形貌衬度，后者用于显示原子序数衬度。 扫描电镜的基本结构可分为电子光学系统、扫描系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、真空系统和电源及控制系统六大部分。 三、扫描电镜图像衬度观察 1．样品制备 扫描电镜的优点之一是样品制备简单，对于新鲜的金属断口样品不需要做任何处理，可以直接进行观察。但在有些情况下需对样品进行必要的处理。 1) 样品表面附着有灰尘和油污，可用有机溶剂(乙醇或丙酮)在超声波清洗器中清洗。 2) 样品表面锈蚀或严重氧化，采用化学清洗或电解的方法处理。清洗时可能会失去一些表面形貌特征的细节，操作过程中应该注意。 3) 对于不导电的样品，观察前需在表面喷镀一层导电金属或碳，镀膜厚度控制在5-10nm为宜。 2．表面形貌衬度观察 二次电子信号来自于样品表面层5～l0nm，信号的强度对样品微区表面相对于入射束的取向非常敏感，随着样品表面相对于入射束的倾角增大，二次电子的产额增多。因此，二次电子像适合于显示表面形貌衬度。 二次电子像的分辨率较高，一般约在3～6nm。其分辨率的高低主要取决于束斑直径，而实际上真正达到的分辨率与样品本身的性质、制备方法，以及电镜的操作条件如高匝、扫描速度、光强度、工作距离、样品的倾斜角等因素有关，在最理想的状态下，目前可达的最佳分辩率为lnm。 扫描电镜图像表面形貌衬度几乎可以用于显示任何样品表面的超微信息，其应用已渗透到许多科学研究领域，在失效分析、刑事案件侦破、病理诊断等技术部门也得到广泛应用。在材料科学研究领域，表面形貌衬度在断口分析等方面显示有突出的优越性。 3．原子序数衬度观察 原子序数衬度是利用对样品表层微区原子序数或化学成分变化敏感的物理信号，如背散射电子、吸收电子等作为调制信号而形成的一种能反映微区化学成分差别的像衬度。实验证明，在实验条件相同的情况下，背散射电子信号的强度随原子序数增大而增大。在样品表层平均原子序数较大的区域，产生的背散射信号强度较高，背散射电子像中相应的区域显示较亮的衬度；而样品表层平均原子序数较小的区域则显示较暗的衬度。由此可见，背散射电

同济研究方法思考题

第1章思考习题及解答 1.材料是如何分类的？材料的结构层次有哪些？ 2.材料研究的主要任务和对象是什么，有哪些相应的研究方法？ 3.材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？[答(pdf)] 第2章思考习题及解答 1.区分晶体的颜色、多色性及吸收性，为何非均质体矿物晶体具有多色性？ 2.什么是贝克线？其移动规律如何？有什么作用？ 3.什么是晶体的糙面、突起、闪突起？决定晶体糙面和突起等级的因素是什么？ 4.什么叫干涉色？影响晶体干涉色的因素有哪些？ 5.白云母的三个主折射率为N g=1.588，N m=1.582，N p=1.552，如要制造干涉色为1/4λ（147nm） 的试板，在垂直于Ng切面上的切片厚度应为多少？ 6.平行金红石（四方）（100）晶面取一薄片，在折射率仪中测得C轴方向为2.616，垂直C轴方向为2.832；试 绘出其光率体，并写出最大双折射率及其光性正负。 7.平行莫来石（斜方）斜方柱面（110）取一切面测得该晶体最大折射率为1.654，垂直斜方柱面另取一切面（001） 面测得其折射率变化在1.644-1.642之间。已知光轴面//（010），试绘出其光率体并写出最大双折射率、光性符号、光性方位。[答(pdf)] 8.普通辉石为正光性晶体，在正交偏光下其最高干涉色为二级黄（R＝880nm），⊥B xa切面具有一级亮灰干涉色 （R＝210nm），设N g-N m=0.019，求薄片厚度。[答(pdf)] 9.设橄榄石晶体薄片厚度0.03mm，N g=1.689, N m=1.670, N p=1.654，问：垂直B xa切面、垂直B xo切面和平行光轴 面切面上的光程差是多少？[答(pdf)] 10.如何利用锥光镜鉴定晶体的光性和轴性？ 11.如何提高光学显微分析的分辨能力？

《材料结构表征及应用》思考题

第二章 1、什么是贝克线？其移动规律如何？有什么作用？在两个折射率不同的物质接触处，可以看到比较黑暗的边缘，在这轮廓附近可以看到一条比较明亮的线细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条明亮的细线称为贝克线。 贝克线的移动规律：提升镜筒，贝克线向折射率大的介质移动。根据贝克线的移动，可以比较相邻两晶体折射率的相对大小。 2、单偏光镜和正交偏光镜有什么区别？单偏光下和正交偏光下分别可以观察哪些现象？单偏光（仅使用下偏光）下可以观察晶体的形态、结晶习性、解理、颜色以及突起、糙面、多色性和吸收性，比较晶体的折光率（贝克线移动），用油浸法测定折光率等，对矿物鉴定十分重要。 正交偏光镜：联合使用上、下偏光镜，且两偏光镜的振动面处于互相垂直位置。可看到消光现象、球晶。 第三章 1.电子透镜的分辨率受哪些条件的限制？ 透镜的分辨率主要取决于照明束波长儿其次还有透镜孔径半角和物 方介质折射率。 2.透射电镜主要分为哪几部分？ 电子光线系统（镜筒）、电源系统、真空系统和操作控制系统。 3.透射电镜的成像原理是什么？透射电镜，通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为 照明源。热阴极发射的电子，在阳极加速电压的作用下，高速穿过阳极孔，然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。具有一定能量的电子束与样品发生作用，产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位向差别的多

种信息。透过样品的电子束强度，其取决于这些信息，经过物镜聚焦放大在其平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像，经过中间镜和投影镜进一步放大，在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像，还可将其记录在电子感光板或胶卷上。 4.请概述透射电镜的制样方法。 支持膜法，复型法、晶体薄膜法和超薄切片法。高分子材料必要时还需染色、刻蚀。 5.扫描电镜的工作原理是什么？ 由三极电子枪发射出来的电子束，在加速电压作用下，经过2?3个电子透镜聚焦后，在样品表面按顺序逐行进行扫描，激发样品产生各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。这些物理信号分别被相应的收集器接受，经放大器放大后，送到显像管的栅极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度。由于供给电子光学系统使电子束偏向的扫描线圈的电源也就是供给阴极射线显像管的扫描线圈的电源，此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描。因此，样品上电子束的位置与显像管荧光屏上电子束的位置是一一对应的。这样，在长余辉荧光屏上就形成一幅与样品表面特征相对应的画面——某种信息图，如二次电子像、背散射电子像等。画面上亮度的疏密程度表示该信息的强弱分布。 6.扫描电镜成像的物理信号包括哪几种？ 二次电子、背散射电子、吸收电子、X 射线、俄歇电子等 7.相对于光学显微镜和透射电镜，扫描电镜各有哪些优点？ SEM 的景深大、放大倍数连续调节范围大，分辨本领比较高、能配置各种附件，做表面成分分析及表层晶体学位向分析等

测试方法思考题

第一章 1.X射线的产生 2. X射线谱有哪两种类型？何谓Kα射线？何谓Kβ射线？为什么Kα射线中包含Kα1 和Kα2？ 3.晶体对X射线的散射有哪两类？X射线衍射用的是哪一类？ 4.布拉格方程的表达式、阐明的问题以及所讨论的问题. 5.粉晶X射线衍射卡片检索手册的基本类型有哪几种？每种手册的编排特点是什么？ 6.X射线粉末衍射法物相定性分析依据 7.物相定性分析步骤 8.对一张混合物相的X射线衍射图进行定性分析时，应注意哪几个问题？ 9.用衍射仪测量时，X射线衍射线的相对积分强度与那些因素有关。 10.系统消光？产生衍射的条件？ 第二章 1.如何提高显微镜分辨本领，电子透镜的分辨本领受哪些条件的限制？ 2.透射电子显微镜的成像原理是什么，为什么必须小孔径成像？ 3.扫描电子显微镜的工作原理什什么？ 4.与光学显微镜和透射电子显微镜比较扫描电镜有哪些优点？ 5.电子探针X射线显微分析仪有哪些工作模式，能谱仪的特点是什么？ 6.透射电子显微镜的电子显微图像包括哪几种类型？主要用来观察什么？ 产生机制是什么？ 10.何谓明场象？何谓暗场象? 11.何谓二次电子？扫描电镜中二次电子像的衬度与什么因素有关?为什么？最适宜观察什么？ 12.何谓背散射电子？扫描电镜中背散射电子衬度与什么因素有关？为什么？最适宜观察什么？ 13.扫描电镜中二次电子像为什么比背散射电子像的分辨率更高？ 14.电子探针X射线显微分析有哪两大类？具体的分析方法有哪些？ 15.比较X射线波谱分析与X射线能谱分析的异同 第三章 1.简述差热分析的原理。

2.为何用外延始点作为DTA曲线的反应起始温度？ 3.热分析用的参比物有何性能要求？ 4.影响差热分析的仪器、试样、操作因素是什么？ 5.阐述DTA、DSC的异同。 6.阐述功率补偿型/热流型DSC技术的原理和特点。 7.简述热重分析的特点和影响因素。 8.举例说明热分析技术在玻璃和微晶玻璃材料研究中的应用。第四章 1.阐述分子振动的形式 2.红外光谱振动吸收带的类型。 3.产生红外吸收的条件是什么？ 4.阐述红外光谱吸收带强度及其位置的影响因素。 5阐述红外光谱定性分析四要素 6.试比较红外光谱和拉曼光谱的异同。 第五章 1.光电效应？ 2.化学位移？化学位移规律？ 3、XPS伴线有哪些？并简明说明之？ 4.荷电效应？ 5．常用的XPS谱图能量校正方法

材料现代分析实验思考题

Maie 思考题 实验一X射线衍射仪的构造与操作无思考题 实验二扫描电镜的基本构造及工作原理 1．扫描电镜的分析特点 (一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 (二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。 (三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。 (四) 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。 (五) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。 (六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。 (七) 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。 2．Quanta 200 FEG型扫描电镜的操作注意事项 (一) 首先确认样品室GMN PRESSURE真空状况。 (二) 释放样品室真空。 (三) 打开样品室，放置预先制好的样品在载物台上并固定住。 (四) 抽取样品室真空。 (五) 等待样品室真空达到一定值，打开灯丝即可观察样品。 (六) 放到所需倍数聚焦好，即可拍摄照片及保存拍摄照。 (七) 拍摄完照片，释放样品室真空，拿出样品，并抽取样品室真空。 实验三X射线物相分析 1．有机相与无机矿物相的衍射峰有无区别？ 但有机相一般都是由C和H组成的，这些轻原子的吸收系数小，因此背景（噪音）都比较高，在同样结晶度时是可以比较出来的。有机相结晶不如无机矿物相接近完善。如果有机相的结晶度很高，而无机相的结晶度低，那区别不是很明显。 2．金属块状样品的峰强比与对应卡的峰强比为何有差异？ 一般来说，对于金属块状样品，由于择优取向的存在，导致峰强比与对应卡的峰强比不全一致，所以峰强比仅可用于参考。 3．什么是择优取向？

16级现代分析测试方法思考题

现代分析测试与研究方法思考题 1、分析时仪器所用的激发能有哪些类型？，分别应用于哪些仪器分析方法？ (1)火焰、电弧、火花、等离子束；原子发射光谱法。 （2）电能、化学能；①它可以使被轰击样品的电子电离，这些电子可用来成像，如用高能电子轰击，则可获得原子像；②被电离原子的弛豫会发出特征X射线，可得到X射线光谱，可作元素和结构分析；③还会产生Auger电子，可做表面分析；④入射电子还可在样品上发生衍射，称为电子衍射。可测定晶胞参数，研究晶体结构，并确定可能物相等；如果测量电子能量损失谱，则可得到与x射线吸收光谱相似的谱，它能测定原子簇结构等。⑤ （3）电磁辐射(细分)； （4）高能电子束。 二次电子：扫描电镜；背散射电子：扫描电镜和电子探针。透射电子：透射电镜。特征X 3、原子发射光

原子吸收光谱金属元素：

原子荧光：原子荧光光谱法的基本原理是：基态原子（一般为蒸汽状态）吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态，激发态原子在去激发过程中以光辐射的形式发射出特定波长的荧光。 I f=K C 式中：k——常数。 I f便与试样中待测元素的浓度C成正比。只有在待测元素浓度较低时才成立，所以，原子荧光光谱法是一种痕量元素分析方法。 （1）可测定：元素砷As、锑Sb、铋Bi、锡Sn、硒Se、碲Te、铅Pb、锗Ge、锌Zn 、镉Cd、汞Hg等十一种元素。 （2）灵敏度高，检出限低，达到0.01 μg/L。 X- 定性或定量测定样品中成分的一种方法.

分析原理的异同和特点，分别能测定哪些元素（测量范围及检测限）或不能测定哪些元素。 4、解释激发电位和电离电位，原子线和离子线，共振线和主共振线。 5、原子吸收光谱中，中性火焰，氧化性火焰，还原性火焰，物理干扰，化学干扰，光谱干 扰，电离干扰。标准曲线法和标准加入法的使用条件。

材料结构表征及应用思考题

材料结构表征及应用思 考题 集团标准化工作小组 #Q8QGGQT-GX8G08Q8-GNQGJ8-MHHGN#

第二章 1、什么是贝克线其移动规律如何有什么作用 在两个折射率不同的物质接触处，可以看到比较黑暗的边缘，在这轮廓附近可以看到一条比较明亮的线细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条明亮的细线称为贝克线。 贝克线的移动规律：提升镜筒，贝克线向折射率大的介质移动。 根据贝克线的移动，可以比较相邻两晶体折射率的相对大小。 2、单偏光镜和正交偏光镜有什么区别单偏光下和正交偏光下分别可以观察哪些现象 单偏光（仅使用下偏光）下可以观察晶体的形态、结晶习性、解理、颜色以及突起、糙面、多色性和吸收性，比较晶体的折光率（贝克线移动），用油浸法测定折光率等，对矿物鉴定十分重要。 正交偏光镜：联合使用上、下偏光镜，且两偏光镜的振动面处于互相垂直位置。可看到消光现象、球晶。 第三章 1. 电子透镜的分辨率受哪些条件的限制 透镜的分辨率主要取决于照明束波长λ。其次还有透镜孔径半角和物方介质折射率。 2. 透射电镜主要分为哪几部分 电子光线系统（镜筒）、电源系统、真空系统和操作控制系统。 3. 透射电镜的成像原理是什么

透射电镜，通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源。热阴极发射的电子，在阳极加速电压的作用下，高速穿过阳极孔，然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。具有一定能量的电子束与样品发生作用，产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位 向差别的多种信息。透过样品的电子束强度，其取决于这些信息，经过物镜聚焦放大在其平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像，经过中间镜和投影镜进一步放大，在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像， 还可将其记录在电子感光板或胶卷上。 4. 请概述透射电镜的制样方法。 支持膜法，复型法、晶体薄膜法和超薄切片法。 高分子材料必要时还需染色、刻蚀。 5. 扫描电镜的工作原理是什么 由三极电子枪发射出来的电子束，在加速电压作用下，经过2～3个电子透镜聚焦后，在样品表面按顺序逐行进行扫描，激发样品产生各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。这些物理信号分别被相应的收集器接受，经放大器放大后，送到显像管的栅极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度。由于供给电子光学系统使电子束偏向的扫描线圈的电源也就是供给阴极射线显像管的扫描线圈的电源，此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描。因此，样品上电子束的位置与显像管荧光屏上电子束的位置是一一对应的。这样，在长余辉荧光屏上就形成一幅与样品表面特征相对应的画面——某种信息图，如二次电子像、背散射电子像等。画面上亮度的疏密程度表示该信息的强弱分布。

透射电镜思考练习题1-2012

复习与思考题-1 一、电子束与样品作用 1. 电子束与样品的作用 1 为什么电子显微分析方法在材料研究中非常有用？ 2. 电子与样品作用产生的信号是如何被利用的？扫描电镜利用了那几个信号？ 3. 属于弹性散射的信号有哪几个？ 4. 荧光X射线、二次电子和背散电子哪一个在样品上扩展的体积最大？ 5. 在铝合金中距离样品表面0.5um的亚表层有一块富铜相。是否可以用二次电子或者背散 电子看到它？请详细解释原因。 2. 二次电子与背散电子 1. 解释扫描电镜放大倍率的控制方法。 2. 采集二次电子信号的探头在样品的什么位置，何能有效收集二次电子？ 3. 背散电子的探头为什么总是位于样品的正上方？ 4. 要用扫描电镜观察不导电样品，可以采取哪些措施避免放电对图像清晰的影响？ 5. EBSD是背散电子衍射花样分析，它可以用来研究样品的晶体结构和晶体取向分布。EBSD 分析的信号采集与一般扫描电镜中的背散电子成像有何不同？ 二、电子探针与能谱分析 1. 能谱如何与扫描电镜配合进行微区化学成分分析？ 2. 扫描电镜是进行断口分析的有效手段，缺陷组织的成分如何分析？ 3. 从特征X射线形成的原理，分析采用30kV电压做电子探针分析时，可以检测到铜元素 的几个特阵峰？考虑能量分辨率因素，进一步分析能谱方法可能检测到几个特征峰。 4. 讨论电子探针的分辨率，即可以检测的最小尺寸范围。影响分辨率的主要因素有哪些？ 5. 当合金中杂质元素含量低于0.5%时，低于能谱的检测极限，此时还能用能谱检测出夹杂 物成分吗？ 6. 描述能谱定量分析时需要哪些校正。为了让定量分析数据可靠最有效措施是什么？ 7.在能谱的左端，即能量低于2keV时如何正确定性峰？比如，如何正确定在1.7keV处出现的峰是来自硅的还是来自钽的？ 8. 要分析钢的碳含量可以选用能谱吗？要分析钢中碳化物成分可以选用能谱吗？ 复习与思考题-2 三、电子衍射

扫描电镜的结构及使用

扫描电镜的结构及使用实验指导 史秋月 扫描电子显微镜是利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产生各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点，是进行样品表面研究的有效分析工具。通过本实验学习，了解扫描电镜基本机构，掌握扫描电镜的基本使用方法和使用过程中的注意事项。 一、实验目的 1、了解扫描电镜基本机构和工作原理； 2、掌握扫描电镜的基本使用方法和使用过程中的注意事项； 3、掌握扫描电镜图像衬度观察的原理。 二、实验所用设备及仪表 JSM-6510LV扫描电镜 三、实验内容 1、扫描电镜基本结构 扫描电镜的基本结构可分为电子光学系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、真空系统和电源及控制系统六大部分。 光学系统是由电子枪、磁透镜、扫描线圈以及样品室组成(图3-1）。电子枪由灯丝阴极、栅极 (或称韦氏圆筒)和加速阳极组成，提供稳定的电子束，一般在1～30kV。磁透镜有第一、二聚光镜和物镜，其作用缩小电子束的直径，把来自电子枪的约30μm大小的电子束经过第一、二聚光镜和物镜的作用，缩小成直径约为几十埃的狭窄电子束。这是由于扫描电镜的分辨率主要取决于电子束的直径，所以要尽可能缩小它，为此，物镜还装备有物镜可动光栏和消散器。一个带有扫描电路的偏转线圈通以锯齿波的电流，产生的磁场作用于电子束使它在样品上扫描。样品室位于镜筒的底部。显示系统包括信号的收集、放大、处理、显示与记录部分。显示和记录部分包括两个显像管和照相机。一个显像管是长余辉的，用于观察;另一显像管是高分辨率的、短余辉的，用于照相。扫描电镜的真空系统由机械泵、扩散泵、检测系统、管道及阀门等组成。

扫描电镜实验指导

扫描电镜显微分析 一、实验目的 1. 结合扫描电镜实物，介绍其基本结构和工作原理，加深对扫描电镜结构及原理的了解。 2. 选用合适的样品，通过对表面形貌衬度和原子序数衬度的观察，了解扫描电镜图像衬度原理及其应用。 二﹑扫描电镜的基本结构和工作原理 扫描电子显微镜利用细聚电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产生各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点，是进行样品表面研究的有效分析工具。 扫描电镜所需的加速电压比透射电镜要低得多，一般约在1~3kv，实验时可根据被分析样品的性质适当地选择，最常用的加速电压约在20kv左右。扫描电镜的图像放大倍数在一定范围内（几十到几十万倍）可以实现连续调整，放大倍数等于荧光屏上显示的图像横向长度与电子束在样品上横扫的实际长度之比。扫描电镜的电子光学系统与透射电镜有所不同，其作用仅仅是为了提供扫描电子束，作为使样品产生各种物理信号的激发源。扫描电镜最长使用的是二次电子信号和背散射电子信号，前者用于显示表面形貌衬度，后者用于显示原子序数衬度。 扫描电镜的基本结构可分为六大部分，电子光学系统、电子光学系统、扫描系统、信号放大系统、图像显示和记录系统、真空系统和电源及控制系统。 三、扫描电镜图像衬度观察 1. 样品制备扫描电镜的优点之一是样品制备简单，对于新鲜的金属端口样品不需要做任何处理，可直接进行观察。但在有些情况下需对样品进行必要有处理。

（1）样品表面附着有灰尘和油污，可用有机溶剂（乙醇或丙酮）在超声波清洗器中清洗。 （2）样品表面锈蚀或严重氧化，采用化学清洗或电解的方法处理。清洗时可能会失去一些表面形貌特征的细节，操作过程中应该注意。 （3）对于不导电的样品，观察前需要在表面喷镀一层导电金属或碳，镀膜厚度控制在5~10nm为宜。 2. 表面形貌衬度观察二次电子信号来自于样品表面层5~10nm，信号的强度对样品微区表面相对于入射束的取向非常敏感，随着样品表面相对于入射束的倾角增大，二次电子的产额增多。因此，二次电子像适合于显示表面形貌衬度。 二次电子像的分辨率较高，一般约在3~6nm。其分辨率的高低找取决于束斑直径，而实际上真正达到得分辨率与样品本身性质、制备方法，以及电镜的操作条件如高压、扫描速度、光强度、工作距离、样品的倾斜角等因素有关，在最理想的状态下，目前可达到的最佳分辨率为1nm。 扫描电镜图像表面形貌衬度几乎可以用于显示任何样品表面的超微信息，其应用己渗透到许多科学研究领域，在失效分析、刑事案件侦破、病理诊断等技术部门也得到广泛应用。在材料科学研究领域，表面形貌衬度在断口分析等方面显示有突出的优越性。下面就以断口分析等方面的研究为例说明表面形貌衬度的应用。 利用试样或构件断口的二次电子像所显示的表面形貌特征，可以获得有关裂纹的起源、裂纹扩展的途径以及断裂方式等信息，根据端口的微观形貌特征可以分析裂纹萌生的原因，裂纹的扩展的途径以及断裂机制。举例说明断口形貌二次电子像。 解理断口特点：在解理断口上存在有许多台阶。在解理裂纹扩展过程中，台阶相互汇合形成河流花样，这是解理断裂的重要特征。 准解理断口的形貌特征：准解理断口与解理断口有所不同，其断口中有许多弯曲的撕裂棱，河流花样由点状裂纹源向四周放射。

实验思考题

实验思考题 实验一、思考题 1、物证是怎样形成的？物证的作用表现在哪些方面？ 2、什么是微量物证？微量物证有何特点？ 3、提取附着在载体上的物证时，为什么要同时提取无物证附着的载体作为空白样本？ 4、搜寻、发现物证应该注意哪些事项？为什么？ 实验二、思考题 通过本实验，结合前面几个实验，你认为实验中有哪些方面需要特别注意和需要进行改进的？ 实验三、思考题 1、用偏振光显微镜观察同一种纤维，为什么得到的干涉图像有时会不一致？ 2、用偏振光显微镜观察纤维时，交替使用自然光和偏振光的目的？ 3、动植物纤维和化学纤维用偏振光显微镜观察时，在正交偏振光下是否有彩色干涉条纹；如有彩色干涉条纹，对称分布，颜色分布的顺序、亮暗程度如何；如没有彩色干涉条纹，加上一级红补偿片后，是否出现干涉条纹？ 实验四、思考题 1、薄层色谱分析时，各斑点的比移值及斑点个数是由什么性质决定的？ 2、油痕检材有哪些提取方法？ 3、油痕检材的提取是否影响检验结果？应注意哪些问题？ 4、常用乙醚提取动、植物油脂，能否用乙醇或乙酸乙酯提取？为什么？ 5、通过实验，分析哪几组展开剂更适合分析动、植物油脂，为什么？ 6、薄层色谱分析对点样操作有何要求？ 实验五、思考题 1、简述初制吗啡的制造过程。 2、试写出海洛因的合成路线。 3、合成安非他明、甲基安非他明、MDA及MDMA的原料有哪些?其合成路线怎样? 4、试写出具有法庭意义的大麻成分及其缩写，简述大麻油的提取过程。 5、合成可卡因的主要原料是什么?其合成路线怎样? 6、采用马奎斯氏(Marquis)试验对鸦片及吗啡进行初步鉴定时，应注意哪些问题。 7、使用马奎斯氏(Marquis)试剂能否将海洛因与吗啡初步区分开? 8、试列出对马奎斯氏(Marquis) 试剂呈阳性反应的物质及其反应的颜色。 9、从实验操作中，你认为加试剂时应该注意什么？ 实验六、思考题

材料分析思考题

要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器？用怎样的操作方式进行具体分析？ 答：（1）若观察断口形貌，用扫描电子显微镜来观察：而要分析夹杂物的化学成分，得选用能谱仪来分析其化学成分。 (2)A、用扫描电镜的断口分析观察其断口形貌： a、沿晶断口分析：靠近二次电子检测器的断裂面亮度大，背面则暗，故短裤呈冰糖块状或呈石块状。沿晶断口属于脆性断裂，断口上午塑性变形迹象。 b、韧窝断口分析：韧窝的边缘类似尖棱，故亮度较大，韧窝底部比较平坦，图像亮度较低。韧窝断口是一种韧性断裂断口，无论是从试样的宏观变形行为上，还是从断口的微观区域上都能看出明显的塑性变形。韧窝断口是穿晶韧性断口。 c、解理断口分析：由于相邻晶粒的位相不一样，因此解理断裂纹从一个晶粒扩展到相邻晶粒内部时，在晶界处开始形成河流花样即解理台阶。解理断裂是脆性断裂，是沿着某特定的晶体学晶面产生的穿晶断裂。 d、纤维增强复合材料断口分析：断口上有很多纤维拔出。由于纤维断裂的位置不都是在基体主裂纹平面上，一些纤维与基体脱粘后断裂位置在基体中，所以断口山更大量露出的拔出纤维，同时还可看到纤维拔出后留下的孔洞。 B、用能谱仪定性分析方法进行其化学成分的分析。定点分析: 对样品选定区进行定性分析.线分析: 测定某特定元素的直线分布. 面分析: 测定某特定元素的面分布 a、定点分析方法：电子束照射分析区,波谱仪分析时,改变分光晶体和探测器位置.或用能谱仪,获取、E—I谱线,根据谱线中各峰对应的特征波长值或特征能量值,确定照射区的元素组成； b、线分析方法：将谱仪固定在要测元素的特征X射线波长值或特征能量值,使电子束沿着图像指定直线轨迹扫描.常用于测晶界、相界元素分布.常将元素分布谱与该微区组织形貌结合起来分析； c、面分析方法：将谱仪固定在要测元素的特征X射线波长值或特征能量值, 使电子束在在样品微区作光栅扫描,此时在荧光屏上便得到该元素的微区分布,含量高则亮。 举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。 答：（1）电子探针定点分析：将电子束固定在要分析的微区上用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线（2）电子探针线分析：将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描，便可得到这一元素沿直线的浓度分布情况。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。（3）电子探针面分析：电子束在样品表面作光栅扫描，将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置，此时，在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X 射线调制图像的方法 要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子探针仪?为什么? 答：分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪，这是因为与波谱仪相比，能谱仪具有以下优点：能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度比波谱仪高约一个数量级。在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。与波谱仪相比能谱仪具有以下缺点和不足：分辨率低：Si(Li)检测器分辨率约为160eV；波谱仪分辨率为5－10eV 能谱仪中因Si(Li)检测器的铍窗口限制了超轻元素的测量，因此它只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。能谱

材料分析方法思考题

复 习 的 重 点 及 思 考 题 第一章 X 射线的性质 X 射线产生的基本原理。 ● X 射线的本质 ● X 射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等 ● 高能电子与物质相互作用可产生哪两种X 射线？产生的机理？ X 射线与物质的相互作用 ● 两类散射的性质 ● 吸收与吸收系数意义及基本计算 ● 二次特征辐射（X 射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件 ● 选靶的意义与作用 第二章 X 射线的方向 晶体几何学基础 ● 晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型 ● 晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应 ● 晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式 ● 倒易点阵定义、倒易矢量的性质 ● 厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明 布拉格方程 ● 布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。 ● 干涉指数引入的意义，与晶面指数（密勒指数）的关系 第三章 X 射线衍射强度 结构因子 ● 原子散射因子、结构因子、系统消光的定义与意义 ● 结构因子的计算 ● 产生结构消光的根本原因？会分析消光规律。例如试分析面心立方晶体的消光规律。 =2hkl F 21)(2cos ????????++∑=n j j j j j LZ KY HX f π+21)(2sin ????????++∑=n j j j j j LZ KY HX f π， 多晶体的衍射强度 ● 上式中五项的定义与意义，即：结构因子、角因子、多重性因子（P ）、吸收因子、德拜温度因子的定义与物理意义 第四章 多晶体分析方法 德拜粉末照相法 ● 德拜摄照法――光源、样品、相机、底片的特点 ● 德拜衍射花样的指标化原理 ● 影响德拜分析方法分析精度的因数 x 射线衍射仪 ● 衍射仪的基本构成、结构与原理。测角仪的“θ—2θ”、“θ—θ”模式连动的意义。 ● X 射线仪连续扫描、步进（阶梯）扫描的工作方式特点？在实际实验时如何选择？ ● 从物质的X 射线衍射图谱上可以得到什么信息？ ● 两种衍射方法（德拜、衍射仪）对样品的要求