LTE VOLITE MOS话音质量分析
1.1.1无线侧优化
eNodeB以下主要包含终端、空口及eNodeB的影响，主要定位流程和检查点如下：
Step1：检查测试软件是否调优，最大是是否整体偏低；测试软件统计方面是不是有问题；如果为路测软件更换后恢复，则为路测软件问题，需软件厂家处理；
Step2：隔离是否为终端问题，更换测试设备进行对比或者更换测试区域进行对比，如果更换测试终端恢复，则为终端问题；终端问题主要检查终端软件版本、终端能力等；如无法确认，需找终端厂商确认；
Step3：空口问题隔离，分析路测数据进行RSRP、SINR、干扰、异常事件等的核查，如果不能满足阈值条件，则进行空口优化处理；
Step4：在空口条件无异常的情况下，需要检查基站状态，故障告警信息，基站版本确认，参数配置核查，确认是不是为基站问题，如果一切影响因素排查完毕后仍无法恢复，提单进行问题处理；
●终端侧拉网数据分析
?丢包，点击Message选项下的IP Key Messages子选项可查看终端收发RTP包情况
其中，Network->UE是指终端收到的网络下发的下行RTP包，若下行sequence number 不连续，则说明网络侧有丢包，具体丢包位置需要基站及上层网元同时排查；UE->Network 是指终端发送到网络侧的上行RTP包，若上行sequence number不连续，说明终端自身有问题：
时延：端到端时延是影响交互式语音通信质量的最重要因素之一。它必须被控制在一个合理的值以内，否则收听的一方会误认为说话的一方还没有开始讲话而开口，
但恰好此时另一方的通话也到了，从而发生冲突。从经验来看，当时延到达[175ms、
200ms]的区间范围内时，MOS会有一明显的抖降，后续随时延增加MOS会持续
维持抖降的过程。
?抖动：也叫做时延的变化。是指在一个IP呼叫过程中所有发送的数据包到达的时间差异。当一个数据包发送时，发送端在RTP报文头上增加一个时间戳；当在另
一端被接收时，接收端同样增加另一个时间戳；计算这两个时间戳可以得到这个数
据包的通路时间。
●eNodeB：eNodeB数据主要通过CELLDT数据进行上下游隔离分析。
?丢包：基站TTI级跟踪（CellDT 138跟踪）是在基站侧PDCP层部署的跟踪，能够检测到核心网（S1链路）原因导致的下行丢包。
比如下图中，显示时间点TTI：4486447到4492787之间，基站从核心网（S1链路）收到的数据有207个丢包，RTP SN为0x057a到0x0649。
?时延：UE1（CRNTI:7183）和UE2（CRNTI:6058）互相做V oLTE语音，可以根据UE1上行数据包发送给核心网的时间，和UE2再从核心网接收到该数据包的时间之差，来查看核心网的延迟时间。比如下图中RTP SN=0x88e5的数据包在TTI209191805源侧上行发送给核心网，在TTI209191809在目的侧下行收到，可以看到核心网的时延很短，只有4ms。
?抖动，CellDT 138跟踪也能够判断eNodeB收到核心网（S1链路）的包是否有抖动。
比如下图中，能够看到核心网的来包稍有抖动。
1.2 影响因素和优化方法 1.
2.1 影响因素
MOS 影响因素多，考虑三网元、两管道，需要端到端拉通优化，无线+承载网性能是影响MOS 指标的关键因素。具体如下图所示：
通话中语音包的丢包率、时延、时延抖动、切换等，会影响到MOS 分。因此，在MOS 分析中，需要从这些指标方面分析对MOS 影响。
语音质量端到端各网元影响分析：
1.2.2 终端侧影响
● 终端能力:是否支持VOLTE 、SRVCC 、终端性能受限、兼容性等问题，导致MOS 分问
题发生。
● 语音编码（V oLTE 语音业务的编码为终端之间协商结果，一般为WB23.85K ）
目前VoLTE 支持的主要语音编码类型：
? AMR WB ，包括从6.6K~23.85K 的9种速率； ? AMR NB ：包括从4.75K~12.2K 的8种速率； ? G.711编码：支持64K 的PCM 码流。
在覆盖较好区域和同等覆盖情况下（RSRP和SINR水平相当），语音编码速率越高，MOS分越好。
但在小区边缘和业务覆盖受限点，低编码速率的语音业务鲁棒性（健壮性）相对较好，在覆盖边缘的同等覆盖情况下，语音编码速率越低，MOS分越好。如下图所示，当Pathloss 大于141dB的情况下，12.65k语音MOS比23.85k的要好。
核心网是否做编解码转换。除了语音编码类型及速率外，语音编解码次数也对语音质量有直接的影响，端到端的语音会经过两次编解码，一次是在终端上，一次是在核心网。一般情况下，网络侧不进行编解码转换从而通过减少一次编解码来改善语音质量。V oLTE与V oLTE用户互通，SBC不做编解码转换
●终端能力
?VoLTE能力查询。
通过分析路测软件记录或者跟踪消息中的A TTACH Request/TAU Request消息，查看可选信元Voice Domain Preference用于指示语音能力，具体值如下：
当Voice Domain Preference显示01或11时，如果网络侧支持VoLTE，终端采用VoLTE 方式发起呼叫。
?UE是否支持SRVCC功能查询
通过分析路测数据或者跟踪消息中UE开机发送Attach Request消息，Attach Request 消息中携带相关关键信元MS Network Capability中的第21 Bit表示SRVCC to GERAN/UTRAN capability。
上接入过程通过查看Initial Context Setup Request中是否携带SRVCC operation possible 信元来排查UE及MME是否支持SRVCC能力。
语音编码方式
在路测工具窗口中可以直接看到采用的语音编码方式，中国移动要求为WB AMR 23.85kbit/s编码方式：
1.2.3空口优化
空口引入的问题较多，主要为覆盖和干扰、空口资源、网内切换、eSrvcc影响等，主要影响和优化方法如下：
1.覆盖与SINR
覆盖是影响MOS的最重要因素，弱覆盖直接影响到语音质量。移动要求MOS>3.5分，对应的覆盖要求为RSRP>-110dbm&SINR>0db,在覆盖达不到此要求的情况下，MOS无法达到要求，且覆盖越好MOS值越高。
根据多次MOS值拉网分析MOS值随RSRP变化的分布，如下图所示，可见RSRP低于-110dBm时，MOS分恶化较为明显。
根据多次MOS值拉网分析MOS分随SINR分布如下图所示，可见SINR低于0时，MOS分恶化较为明显
通过分析路测数据的上下行空口误码，针对丢包率高且MOS分低的区域，首先进行覆盖检查，满足下述判断条件则认为网络覆盖差：RSRP分布：RSRP < -110dBm，SINR 分布差：SINR <0dB
2.空口负荷
?在大话务量场景下，语音有高优先级，数据业务的负载对语音MOS的影响较小，但是语音业务话务量较大的情况下，也可能会出现拥塞导致的语音丢包，这种情况
下要分析资源是否已经充分利用。
?接入阶段的V oLTE用户干扰较大：刚接入用户初始接入功率很高，对相邻码道的用户会产生很大的干扰，而导致上行丢包。
?空口资源
平均利用率>60%，就认为负载较高，可能应影响语音质量。
需要进行高负荷场景下的参数配置核查。
?该问题影响范围为高话务站点，基于eRan8.1版本解决方案有两个：
方案一：
执行VoLTE SR 优于数据业务SR调度优化参数，建议整网执行：
MOD eNBCellRsvdPara: LocalCellId=1-6, RsvdSwPara3=RsvdSwPara3_bit1-1;
或者方案二：
修改高话务站点子帧3/8，上下行CCE占比10:1，保证上行调度CCE充足
MOD ENBCELLRSVDPARA:LocalCellId=3,RsvdPara52=10;
3.干扰影响
上行干扰直接影响上行丢包，从而影响MOS值。根据小区受干扰水平分析MOS值随小区每RB平均干扰电平值变化分布如下图，可见平均每RB干扰电平值大于-105dBm 时，MOS分恶化较为明显。
?查看MOS分低点区域TOP小区的上行干扰话统数据，如果L.UL.Interference.Avg>= -105dBm，则初步判断很有可能存在上行干扰；
?DT测试log中，查看终端上行发射功率是否存在大幅提升（表现为整网路测log 的UE发射功率分布中，满功率比例明显增加，例如满功率比例增加15%以上），
并且M2000上的上行接收SINR水平降低。当两者同时满足时，可以断定存在上
行干扰，需要进行干扰排查；
4.切换事件影响
分析路测数据，确认低分点评分周期内是否有切换慢、切换频繁、切换失败、eSRVCC 切换或掉话等，从而确认切换是否为导致低分的原因
?系统内切换过程中对MOS有影响：系统内切换对MOS值并不一定影响非常大，RSRP 较好地方切换MOS值下降0.1~0.5，而乒乓切换影响较大，MOS值下降0.5~1.5
分。路测工具间隔10S采集一次MOS值（10S平均值），如果采集到切换过程的
MOS，测试结果就会偏低。在分析路测数据时，需要关注低MOS区域是否有切换
或者乒乓切换发生。
?切换失败影响，UE收到切换命令后，启动T304（系统内500ms；到GERAN8000ms），定时器超时，仍然没有完成切换，UE侧丢弃切换命令里边携带的专用Preamble，恢复小区的原来配置，发起重建，重建期间的MOS会降低到1.5左右。
?LTE语音评估算法使用POLQA算法进行评估，主要是用来评估WB的，而2G是属于NB的，用这种算法评估2G MOS值是不合适，MOS值下降1.5~2.0分，影响
较大；如下图所示SRVCC到2G后MOS值：
5.无线网络优化提升动作
结合空口侧的影响因素，总结网络优化主要动作如下：
1.2.4eNodeB优化
1.算法特性限制
●eNodeB基线参数配置，参考VOLTE参数配置基线描述，在网管平台上检查eNodeB
参数配置，详细参数见《V oLTE参数配置基线（中移动.xlsx》；涉及性能提升特性，
建议现场根据基线配置建议，选择使用。
●调度特性影响：在预调度关闭或失效场景，终端上行发包会触发SR，如果出现SR
持续漏检（干扰或弱覆盖引起），上行语音包迟迟得不到调度，就会出现上行语音
包由于PDCP丢弃定时器超时而丢弃，该定时器默认为100毫秒。建议打开智能预
调度开关；
●无线侧参数优化
2.基站小区状态核查
测试前要确保基站状态正常，通过下告警判断：以下条告警可能影响语音MOS分，建议在网管进行重点排查：
1. VoLTE语音呼叫流程
进行VoLTE语音呼叫业务，需要用户已注册到IMS网络，通过LTE网络发起呼叫。通过SIP消息携带SDP信息，完成会话承载的协商，主要包括承载的IP地址、端口号、编解码类型、打包时长等信息。
2. VoLTE语音质量关键指标
V oLTE语音质量定界方案中，定界对部署方案的要求至少要保证S1-U、Mw或Gm接口至少有一个接口具有VoLTE语音呼叫媒体面测量能力。对于V oLTE与V oLTE互通场景、VoLTE与2/3G、PSTN互通场景，探针采集节点和语音质量指标所表示的测量范围如下图所示：
SBC
EPC
SBC EPC
UE1
2G/3G/PSTN VoLTE Net Probe Observation Scope dividing line
User Plane Rx
MOS/VQI Measurement Scope
User Plane Tx 图2-1语音质量指标所表示的测量范围
对于VoLTE 与V oLTE 互通场景，端到端的MOS 和端到端的单通是根据RTCP 消息统计的，RTCP 消息也是UE<->UE 的E2E 透传，在话音流的探针采集节点都可以完成RTCP 消息的获取。分段的IPMOS 和分段的单通是根据RTP 消息统计的，表示的范围为UE 到RTP 消息的采集节点。
对于VoLTE 与2/3G 、CSFB 或者PSTN 互通场景，端到端的MOS 和端到端的单通是根据RTCP 消息统计的，具有发送RTCP 的报文的网元包括VoLTE 侧的UE 和CS 域的MGW ，端到端范围实际为VoLTE 的UE 到CS 域的MGW 。分段的IPMOS 和分段的单通是根据RTP 消息统计的，表示的范围为UE 或者CS 域的MGW 到RTP 消息的采集节点。
对于VoLTE 与VOBB 互通场景，与2/3G 互通场景类似。具有发送RTCP 报文的网元为VoBB 侧的SBC 。端到端测量指标表示的范围为UE 到V oBB 侧的SBC ，分段测量指标表示范围为UE 或者VOBB 侧的SBC 到RTP 消息的采集节点。 V oLTE 语音呼叫关键测量点，以S1-U 接口为例：
●测量点1，呼叫的承载建立，用户面开始周期测量，包括周期内的RTP包数、抖动、时延和编解码信息进行测量、MOS、单通，记录开始时间
●测量点2，呼叫应答，此时对振铃阶段的用户面的测量进行重置，重新开始测量周期测量，包括周期内的RTP包数、抖动、时延和编解码信息进行测量、MOS、单通。记录语音流的开始时间
●测量点3，呼叫的承载释放，用户面停止测量，记录结束时间
●呼叫结束后，对周期测量的MOS、单通记录做汇聚，填写呼叫单据CDR里，并且对整条语音流的RTP包数填写到呼叫单据CDR里
对于VoLTE语音呼叫，根据RTCP报文的周期上报时间，把语音流做周期化处理。RTCP 消息默认每5秒报一个，网络带宽状况不同会得到不同的RTCP周期时长。SEQ根据RTCP的周期性规律，使用周周期测量原理如下：
T1
T1：流（或者应答后流）的第一个RTP报文时间戳
T4：接收方向最后一个周期的起始时间戳
T5：发送方向最后一个周期的起始时间戳
T6：接收方向最后一个RTP报文的时间戳
T7：发送方向最后一个RTP报文的时间戳
T2：接收方向第一个结束的时间。
当收到发送方向的RTCP报文，并且与周期开始
时间大于周期最小时长；或者到达周期最大时
长时，周期结束。
T3：发送方向第一个结束的时间。
当收到接收方向的RTCP报文，并且与周期开始
时间大于周期最小时长；或者到达周期最大时
长时，周期结束。
●对于呼叫过程中没有RTCP报文的呼叫, 无法做RTCP的周期测量, 语音流的CDR的
MOS和根据RTCP得到的单通记录为0。
●对于不满足最小测量周期的呼叫（即短呼），无法做计算周期性测量，语音流的CDR
的MOS和根据RTCP得到的单通记录为0。
注：周期最小时长默认4.5秒（可配置）、周期最大时长默认10.5秒（可配置）
语音质量关键测量信息如下表：
3. VoLTE语音质量问题定界原理
本文档的定界是针对V oLTE与V oLTE互通、VoLTE和CS/PSTN/V oBB互通场景，VoLTE 呼叫侧语音质量问题的定界。不包括未部署支持V oLTE语音质量分析的VoLTE呼叫侧、CS/PSTN/V oBB的定界分析。
本文档是对基于单接口的语音质量问题进行定界分析。探针系统支持EPC域和IMS域语音承载面的采集，具备探针部署的接口有：S1-U，Mw，Gm。对于多个接口联合分析，可参考单接口的定界原理进行联合定界分析。
探针系统支持V oLTE语音呼叫使用amr-wb和amr类型的编解码的MOS测量。当V oLTE 语音呼叫的终端或者网元（如SBC、IM-MGW等）支持RTCP信息时，除RTP分段测量统计外，还可做UE到UE或者UE到网元的测量统计；否则，根据RTP信息做分段测量统计。
3.1 质差MOS定界原理
●对单接口单据的不同节点的MOS进行有效性识别和差值计算
●根据不同接口的MOS差值和MOS所表示的测量范围，确定质差MOS的引入范围。
3.2 单通问题定界原理
对单通结果进行有效性识别，根据不同接口的是否发生单通标的差异与单通指标代表的测量范围，确定单通问题的引入范围。
4. 单接口定界方法
4.1 上行质差MOS定界
单接口上行质差MOS定界流程如下图：
图4-1单接口上行质差MOS定界流程
●第一步：判断上行MOS和上行IPMOS的有效性。当上行MOS大于0，则上行MOS
有效，否则上行MOS无效；当上行IPMOS大于0，则上行IPMOS有效，否则上行
IPMOS无效。
●第二步：判断上行MOS或者上行IPMOS是否质差
使用上行MOS判断质差，当上行MOS无效时，使用上行IPMOS判断，方法：当上行MOS有效，并且上行MOS小于质差阈值（注释1），则上行MOS质差，否则上行MOS非质差；当上行MOS无效时，并且上行IPMOS有效，并且上行IPMOS 小于质差阈值（注释1），则上行IPMOS质差，否则上行IPMOS非质差。对于非质差的上行MOS和上行IPMOS，不需要定界分析。
●第三步：对质差呼叫单据做分段MOS损失计算
采集接口以上MOS损失=当上行MOS并且上行IPMOS有效时，上行IPMOS-上行MOS；否则0
采集接口以下MOS损失=当上行IPMOS有效时，编解码或者上行编解码平均速率对应的MOS分（注释2）-上行IPMOS；否则0
上行编解码协商MOS损失=当编解码类型为AMR或者AMR-WB时，编解码起始MOS（注释3）-编解码或者上行编解码平均速率对应MOS（注释2）；否则0
●第四步：对质差呼叫单据做质差范围定界
当上行MOS质差，上行IPMOS无效时，无法准确定界质差引入范围。
对采集接口以上MOS损失、采集接口以下MOS损失、上行编解码协商MOS损失取最大值，得到与最大值相应的主要质差引入范围。
备注：注释1，参考质差MOS配置说明；注释2，参考编解码或者编解码平均速率对应的MOS分计算说明；注释3，编解码起始MOS计算说明
4.2 下行质差MOS定界
单接口下行质差MOS定界流程如下图：
图4-2单接口下行质差MOS定界流程
●第一步：判断下行MOS和下行IPMOS的有效性。当下行MOS大于0，则下行MOS
有效，否则下行MOS无效；当下行IPMOS大于0，则下行IPMOS有效，否则下行IPMOS无效。
●第二步：判断下行MOS或者下行IPMOS是否质差
使用下行MOS判断质差，当下行MOS无效时，使用下行IPMOS判断，方法：当下行MOS有效，并且下行MOS小于质差阈值（注释1），则下行MOS质差，否则下行MOS非质差；当下行MOS无效时，并且下行IPMOS有效，并且下行IPMOS 小于质差阈值（注释1），则下行IPMOS质差，否则下行IPMOS非质差。对于非质差的下行MOS和下行IPMOS，不需要定界分析。
●第三步：对质差呼叫单据做分段MOS损失计算
采集接口以下MOS损失=当下行MOS并且下行IPMOS有效时，下行IPMOS-下行MOS；否则0
采集接口以上MOS损失=当下行IPMOS有效时，编解码或者下行编解码平均速率对应的MOS分（注释2）-下行IPMOS；否则0
下行编解码协商MOS损失=当编解码类型为AMR或者AMR-WB时，编解码起始MOS（注释3）-编解码或者下行编解码平均速率对应MOS（注释2）；否则0
●第四步：对质差呼叫单据做质差范围定界
当下行MOS质差，下行IPMOS无效时，无法准确定界质差引入范围。
对采集接口以下MOS损失、采集接口以上MOS损失、下行编解码协商MOS损失取最大值，得到与最大值相应的主要质差引入范围。
金属--断裂与失效分析报告 刘尚慈
金属断裂与失效分析（尚慈编） 第一章概述 失效：机械装备或机械零件丧失其规定功能的现象。 失效类型：表面损伤、断裂、变形、材质变化失效等。 第二章金属断裂失效分析的基本思路 §2—1 断裂失效分析的基本程序 一、现场调查 二、残骸分析 三、实验研究 （一）零件结构、制作工艺及受力状况的分析 （二）无损检测 （三）材质分析，包括成分、性能和微观组织结构分析 （四）断口分析 （五）断裂力学分析 以线弹性理学为基础，分析裂纹前沿附近的受力状态，以应力强度因子K作为应力场的主要参量。 K I＝Yσ（πα）1/2 脆性断裂时，裂纹不发生失稳扩展的条件：K I＜K IC 对一定尺寸裂纹，其失稳的“临界应力”为：σc＝K IC / Y（πα）1/2 应力不变，裂纹失稳的“临界裂纹尺寸”为：αc＝（K IC / Yσ）2/π 中低强度材料，当断裂前发生大围屈服时，按弹塑性断裂力学提出的裂纹顶端开位移[COD（δ）]作为材料的断裂韧性参量，当工作应力小于屈服极限时： δ＝（8σsα/πE）ln sec(πσ/2σs) 不发生断裂的条件为：δ＜δC（临界开位移） J积分判据：对一定材料在大围屈服的情况下，裂纹尖端应力应变场强度由形变功差率J来描述。开型裂纹不断裂的判据为：
J＜J IC K IC——断裂韧性；K ISCC——应力腐蚀门槛值 （六）模拟试验 四、综合分析 分析报告的涵：①失效零部件的描述；②失效零部件的服役条件；③失效前的使用记录；④零部件的制造及处理工艺；⑤零件的力学分析；⑥材料质量的评价；⑦失效的主要原因及其影响因素；⑧预防措施及改进建议等。 五、回访与促进建议的贯彻 §2—2 实效分析的基本思路 一、强度分析思路 二、断裂失效的统计分析 三、断裂失效分析的故障树技术 第三章金属的裂纹 §3—1 裂纹的形态与分类 裂纹：两侧凹凸不平，偶合自然。裂纹经变形后，局部磨钝是偶合特征不明显；在氧化或腐蚀环境下，裂缝的两侧耦合特征也可能降低。 发纹：钢中的夹杂物或带状偏析等在锻压或轧制过程中，沿锻轧方向延伸所形成的细小纹缕。发纹的两侧没有耦合特征，两侧及尾端常有较多夹杂物。 裂纹一般是以钢中的缺陷（发纹、划痕、折叠等）为源发展起来的。 一、按宏观形态分为： （1）网状裂纹（龟裂纹），属于表面裂纹。产生的原因，主要是材料表面的化学成分、金相组织、力学性能、应力状态等与中心不一致；或者在加工过程中发生过热与过烧，晶界性能降低等，导致裂纹沿晶界扩展。如： ①铸件表面裂纹：在1250～1450℃形成的裂纹，沿晶界延伸，
性能测试报告-模板
Xxx系统性能测试报告 拟制：****日期：****审核：日期： 批准：日期：
1.概述 1.1.编写目的 本次测试报告为xxx系统的性能测试总结报告，目的在于总结性能测试工作，并分析测试结果，描述系统是否符合xxx系统的性能需求。 预期参考人员包括用户、测试人员、开发人员、项目管理者、质量管理人员和需要阅读本报告的高层经理。 1.2.项目背景 腾讯公司为员工提供一个网上查询班车的入口，分析出哪些路线/站点比较紧张或宽松，以进行一些合理调配。 1.3.测试目标 （简要列出进行本次压力测试的主要目标）完善班车管理系统，满足腾讯内部员工的班车查询需求，满足500个用户并发访问本系统。 1.4.名词解释 测试时间：一轮测试从开始到结束所使用的时间 并发线程数：测试时同时访问被测系统的线程数。注意，由于测试过程中，每个线程都是以尽可能快的速度发请求，与实际用户的使用有极大差别，所以，此数据不等同于实际使用时的并发用户数。 每次时间间隔：测试线程发出一个请求，并得到被测系统的响应后，间隔多少时间发出下一次请求。 平均响应时间：测试线程向被测系统发请求，所有请求的响应时间的平均值。 处理能力：在某一特定环境下，系统处理请求的速度。 cache影响系数：测试数据未必如实际使用时分散，cache在测试过程中会比实际使用时发挥更大作用，从而使测试出的最高处理能力偏高，考虑到这个因素而引入的系数。 用户习惯操作频率：根据用户使用习惯估算出来的，单个用户在一段时间内，使用此类功能的次数。通常以一天内某段固定的高峰使用时间来统计，如果一天内没有哪段时间是固定的高峰使用时间，则以一天的工作时间来统计。
上下行不平衡问题总结
关于BTS3012因工程问题引起上下行不平衡问题预警 问题分析： 通过现场分析，现场工程原因主要包括： 1：接收射频电缆连接错误，导致上下行不平衡 2：DATU单板拨码开关不正确导致塔放供不上电，导致上下行不平衡 3：主集接收电缆没有拧紧（DTRU和DDPU），导致上下行不平衡 三、问题影响情况： 现场出现上下行不平衡的小区，都是下行大于上行，影响用户的正常接入，严重时用户将无法进行业务。 四、解决方案或规避措施： 对于需要安装BTS3012的办事处，在完成合作方招标并且硬件督导到位后，现场需要对所有需要参与项目的BSC督导、BTS督导进行BTS3012产品知识的培训，尤其需要注意以下内容： 1：所有参与BTS安装割接的BSC、BTS督导必须掌握DDPU与DTRU之间的射频连接原理、跳线与内部射频连线的对应关系、射频连线与BSC数据配置的对应关系，BTS督导完成安装后必须与BSC数据工程师核对连线与数据配置是否一致，对于先安装后做数据配置的，必须详细告知BSC数据工程师现场连接方法和数据配置方法。 2：BTS3012通过DATU+BiasTee的方式实现对塔放的馈电及告警上报。替换站原来有塔放时需先确认配发的DATU、BiasTee能否为其供电，不能供电时需拆除塔放或者建议客户申购华为公司配套塔放；可以利旧时，一定要连接DATU为其提供馈电，并正确设置DATU单板的拨码开关。 3：现场工程施工要注意确保射频电缆接头可靠拧紧。
3900系列基站上下行不平衡问题定位指导书 “测量报告上下行平衡测量”话统各个等级内的MR个数呈正态分布，波峰处“上下行平衡等级”相对于“上下行平衡点”的位置偏差不超过1个等级的认为系统是上下行平衡的。偏左认为下行覆盖弱，偏右认为上行覆盖弱。（注：“上下行平衡点”详细请参看1.2“上下行平衡点”评估标准） 例如：如果“上下行平衡点”在等级4，“测量报告上下行平衡测量”话统波峰在等级3、4、5认为系统是上下行平衡的，而此时话统显示话统波峰在等级6，相对“上下行平衡点”偏右，上行覆盖弱。
PC性能评测实验报告
计算机体系结构课程实验报告 PC性能测试实验报告 学号： 姓名：张俊阳 班级：计科1302 题目1：PC性能测试软件 请在网上搜索并下载一个PC机性能评测软件（比如：可在百度上输入“PC 性能benchmark”，进行搜索并下载，安装），并对你自己的电脑和机房电脑的性能进行测试。并加以比较。 实验过程及结果： 我的电脑：
机房电脑：
综上分析：分析pcbenchmark所得数据为电脑的current performance与其potential performance的比值，值大表明计算机目前运行良好，性能好，由测试结果数据可得比较出机房的电脑当前运行的性能更好。分析鲁大师性能测试结果：我的电脑得分148588机房电脑得分71298，通过分析我们可以得出CPU占总得分的比重最大，表明了其对计算机性能的影响是最大的，其次显卡性能和内存性能也很关键，另外机房的电脑显卡性能较弱，所以拉低了整体得分，我的电脑各项得分均超过机房电脑，可以得出我的电脑性能更好的结论。 题目2：toy benchmark的编写并测试 可用C语言编写一个程序（10-100行语句），该程序包括两个部分，一个部分主要执行整数操作，另一个部分主要执行浮点操作，两个部分执行的频率（频率整数，频率浮点）可调整。请在你的计算机或者在机房计算机上，以（，），（，），（，）的频率运行你编写的程序，并算出三种情况下的加权平均运行时间。 实验过程及结果： #include<> #include<> int main() {
int x, y, a; double b; clock_t start, end; printf("请输入整数运算与浮点数运算次数（单位亿次）\n"); scanf("%d%d", &x, &y); /*控制运行频率*/ start = clock(); for (int i = 0; i 语音类最差小区优化专题 目录 一、概述 (2) 1网络状况概述 (2) 2网络现状 (3) 2.1差小区考核改动后的优化进程 (3) 2.2语音差小区特点 (5) 二、语音差小区处理流程 (6) 三、语音差小区整治措施 (7) 1 上/下行质差优化思路 (7) 1.1质量定义说明 (7) 1.1.1质量含义 (7) 1.1.2公式 (8) 1.1.3质差小区定义 (8) 1.2影响质量差的因素 (8) 1.3 质差小区的优化措施 (10) 1.3.1 动态功控参数优化 (10) 1.3.2 上行干扰造成的话音质差 (18) 1.3.3 频率干扰造成的话音质差 (22) 1.3.4 覆盖问题造成的话音质差 (26) 1.3.5 切换参数优化 (28) 1.4 小结 (30) 2 高掉话小区的优化措施 (30) 2.1 概述 (30) 2.2掉话主要原因分析 (30) 2.2.1覆盖原因导致的掉话 (30) 2.2.2切换原因导致的掉话 (31) 2.2.3干扰原因导致的掉话 (32) 2.2.4其它原因导致的掉话 (33) 2.3优化思路 (33) 2.4高掉话优化调整 (34) 2.5案例 (37) 2.6 小结 (39) 3 TCH拥塞率的优化措施 (40) 3.1TCH拥塞率定义 (40) 3.2TCH拥塞率的影响分析 (40) 3.3TCH拥塞的优化流程 (42) 四、总结 (43) 一、概述 1网络状况概述 某地市区域GSM网络经过多年的建设，已具备良好的覆盖，现网共有12个BSC，共计687个基站，2780个小区，各BSC基站分布情况如下： 基站分布图如下： HT200试棒脆性断裂失效分析 过程装备与控制工程２０１３－２刘凯（２２）李阔（１６） 摘要：在机电装备的各类失效分析中以断裂失效最主要，危害最大，往往造成严重的后果及巨大的经济损失。试棒脆性断裂失效分析从断口的宏观外观、微观组织、受力状态等方面综合分析，解释断裂失效的原因。 关键字：ＨＴ２００试棒脆性断裂失效分析 断裂是金属构件在应力作用下材料分离为互不相连的两个或两个以上部分的现象，是金属构件常见的失效形式之一，特别是脆性断裂，它是危害性甚大的失效形式。脆性断裂前构件的变形量很小，没有明显可以觉察出来的宏观变形量。断裂过程中材料吸收的能量很小，一般是在低于允许应力条件下的低能断裂。通过对ＨＴ２００拉力试棒断裂失效分析包括力学性能、化学成分、金相组织、其他相关性能；断口分析、表面分析，包括金相组织、电镜分析各种分析；失效现象及原因分析等综合学习掌握关于脆性断裂的相关知识 一、试样收集与观察 ＨＨＴ２００拉力试棒 图示拉力试棒为液压万能试验机拉断后的试棒，其原始尺寸如下图。 ＨＴ２００拉力试棒尺寸图 试棒装在液压万能试验机后，开动试验机缓慢加载。在拉伸过程中，没有肉眼可见的颈缩、屈服现象，，随着“砰”一声，试棒被拉断。拉断前的应变很小，伸长率也很小，十分典型的脆性断裂过程。 二、化学成分 脆性断裂实验所用拉力试棒为ＨＴ２００材料，具体含义为灰口铸铁抗拉强度为２００ＭＰａ，硬度范围为１６３～２５５ＨＢ，抗拉强度和塑性低，但铸造性能和减震性能好，主要用来铸造汽车发动机汽缸、汽缸套、车床床身等承受压力及振动部件。其具体化学成分如下表。 试验过程中观察不到拉力试棒明显的应变过程及颈缩现象，在较小的拉应力作用下就被拉断了，没有屈服和颈缩现象，拉断前的应变很小，伸长率也很小。其拉伸时的应力－应变关系是一段微弯的曲线，没有明显的直线部分，也没有明显的屈服阶段。 铸铁在拉断时的最大应力即为其强度极限。因为没有屈服现象，强度极限σ ｂ是衡量强度的唯一指标。σ ｂ ＝Ｆｂ Ａｏ 。 灰口铸铁σ－ε图 四、断裂试棒断口宏观形貌及其微观金相组织观察 脆性断裂是从金属构件内部原本存在的微小裂纹为裂纹源而开始的。因此，脆性断裂往往是突然发生的，断裂前基本没有肉眼可见的变形量。脆性断裂一般沿低指数晶面穿晶解理，解理是金属在正应力作用下沿解理面发生的一种低能断裂。由于解理是通过破坏原子间的键合来实现的，而密排面之间的原子间隙最大，键合力最弱，故绝大多数解理面是原子密排面。但也有一些脆性材料断裂是沿晶断裂，如晶界上有脆性物或有晶间腐蚀是，就有可能产生沿晶断裂。该拉力试棒为沿解理面断裂，故其断口的宏观形貌具有两个明显特征。一、其断口表面是明亮结晶状的，表面存在小刻面。一个多晶体金属材料的解理断口，由于其每个晶体的取向不同，所以其解理面与断裂面所取的位向也就不同，若把断口放在手中旋转时，将闪闪发亮，像存在许多分镜面。二、存在“山形”条纹。脆性材料在断裂时会从断裂源点形成“山形”裂纹。随着裂纹的发展，条纹会变粗，因此，根据断口“山形”裂纹的图形可以判断脆性断裂的裂纹扩展方向和寻找断裂起源点。综上并观察试棒断口分析可知ＨＴ２００拉力试棒为典型的脆性断裂。 脆性解理断裂的电子显微断口形态的一个特征是呈现河流花样。由于金属是多晶体，取向又是无序的，解理在某一晶粒内进行时以及穿过一个晶粒向相邻晶粒传播时，均会造成解理裂缝在不同的结晶面上断开，这些解理裂缝相交处即会形成台阶。在电子显微镜中这些解理台阶呈现出形似地球上的河流状形貌，故名河流状花样。沿着解理断裂的方向河流可以合并为“主流”。解理穿越晶界时，不仅河流花样的“流向”要发生变化，而且有可能加粗或部分消失由于实际晶体内部存在许多缺陷（位错、析出物、夹杂物等），所以在一个晶粒内的解理并不 各类材料失效分析方法 Via 常州精密钢管博客 失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及，它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。 失效分析流程 图1 失效分析流程 各种材料失效分析检测方法 1 PCB/PCBA失效分析 PCB作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽已经成为电子信息产品的最为重要而关键的部分，其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。 图2 PCB/PCBA 失效模爆板、分层、短路、起泡，焊接不良，腐蚀迁移等。 常用手段· 无损检测： 外观检查，X射线透视检测，三维CT检测，C-SAM检测，红外热成像表面元素分析： 扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS) 显微红外分析(FTIR) 俄歇电子能谱分析(AES) X射线光电子能谱分析(X PS) 二次离子质谱分析(TOF-SIMS)· 热分析：· 差示扫描量热法(DSC) 热机械分析(TMA) 热重分析(TGA) 动态热机械分析(DMA) 导热系数(稳态热流法、激光散射法) 电性能测试： · 击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移· 破坏性能测试： 染色及渗透检测 2 电子元器件失效分析 电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。 图3 电子元器件 失效模式 开路，短路，漏电，功能失效，电参数漂移，非稳定失效等 常用手段· 电测：连接性测试电参数测试功能测试 无损检测： 开封技术(机械开封、化学开封、激光开封) 去钝化层技术(化学腐蚀去钝化层、等离子腐蚀去钝化层、机械研磨去钝化层) 微区分析技术(FIB、CP) 制样技术： 开封技术(机械开封、化学开封、激光开封) 去钝化层技术(化学腐蚀去钝化层、等离子腐蚀去钝化层、机械研磨去钝化层) 微区分析技术(FIB、CP) 显微形貌分析： 光学显微分析技术 扫描电子显微镜二次电子像技术 表面元素分析： 扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS) 俄歇电子能谱分析(AES) 订单系统二期_Order接口 性能测试报告 目录 1.术语 (3) 2.测试环境 (3) 2.1服务器&客户端环境信息 (3) 3.测试场景 (4) 4.测试目的&策略 (5) 5.结果分析 (5) 5.1基本数据统计分析&对比 (5) 5.1.1.测试场景PT1 (5) 5.1.2.测试场景PT2 (5) 5.1.3.测试场景PT3 (6) 5.2.详细数据分析 (6) 5.2.1.测试场景PT1(getOrderList Interface） (6) 5.2.2.测试场景PT2(getOrderRow Interface) (9) 5.2.3.测试场景PT3(getOrderGoodsList) (14) 6.测试结论 (17) 1.术语 2.测试环境 2.1服务器&客户端环境信息 服务端配置： 10.19.141.57 应用服务器： CPU: Intel(R) Xeon(R) CPUE5620 @ 2.40GHz 8个逻辑CPU 内存：15GB 网卡: 1000M 操作系统: CentOS release 5.8 (Final) 辅助软件: nmon 10.19.141.58 数据库服务器： CPU: Intel(R) Xeon(R) CPUE5620 @ 2.40GHz 8个逻辑CPU 内存：8GB 网卡: 1000M 操作系统: CentOS release 5.8 (Final) 辅助软件: nmon 客户端配置：（2台） CPU:4核8线程Intel(R) Xeon(R) CPU E5620 @ 2.40GHz 内存：8.00GB 网卡: 1000M 操作系统: Windows2008 浏览器/版本号: IE9.0 测试工具: LoadRunner11.0、nmon GSM上下行不平衡概念分析及案例 目录 1 上下行链路平衡定义说明 (2) 1.1上下行平衡定义 (2) 1.2上下行平衡公式 (2) 1.3上下行不平衡定义标准 (2) 1.4上下行不平衡影响因素 (2) 2 上下行链路不平衡处理流程 (3) 3 上下行链路不平衡问题处理思路 (4) 3.1参数及数据配置不当 (4) 3.2硬件故障 (4) 3.3直放站及室分系统 (5) 3.4天馈线及跳线问题 (5) 3.5塔放安装 (5) 3.6天线匹配方面 (5) 3.7扩减容后连线问题 (6) 3.8手机用户行为 (6) 4 上下行链路不平衡小区典型案例（具体分为11种类型）： (6) 4.1案例一：数据与物理连线不一致 (6) 4.2案例二：TRX硬件隐行故障 (7) 4.3案例三：跳线故障 (9) 4.4案例四：室分系统或直放站 (10) 4.5案例五：TRX硬件故障 (12) 4.6案例六：驻波过高 (13) 4.7案例七：DDPU硬件问题 (15) 4.8案例八：减容后出现问题 (16) 4.9案例九：功率设置 (17) 4.10案例十：天馈接反 (19) 4.11案例十一：载频异常吊死导致上下行链路不平衡 (21) 1 上下行链路平衡定义说明 1.1上下行平衡定义 GSM系统是一个双向通信系统，上行链路和下行链路都有自己的发射功率和路径衰落，为了使系统工作在最佳状态，就要保证每个小区的链路达到基本平衡（上下行链路平衡），可以促使切换和呼叫建立期间，移动通话性能更好。当上下行平衡时，上行、下行允许的最大传输路径损耗应该是相同的，可以促使切换和呼叫建立期间，移动通话性能更好： 下行链路（DownLink）是指基站发，移动台接收的链路。 上行链路（UpLink）是指移动台发，基站接收的链路。 上下行平衡，简言之，在下行信号达到边界时，上行信号也同时达到边界。 1.2上下行平衡公式 根据测量报告上下行平衡测量<载频>提取出1-11级指标来计算各个等级的比例： 上下行链路等级1的比例=上下行链路等级1的测量值/上下行链路等级1-11级的测量值 上下行链路等级11的比例=上下行链路等级11的测量值/上下行链路等级1-11级的测量值1.3上下行不平衡定义标准 华为总部定义上下行不平衡标准为： 上下行平衡等级1的比例大于等于30% 则认为不平衡（下行偏弱或上行偏强） 上下行平衡等级11的比例大于等于30% 则认为不平衡（下行偏强或上行偏弱） 1.4上下行不平衡影响因素 主要的因素有： 天馈线及跳线问题 塔放安装 参数及数据配置不当 硬件故障 直放站 天线匹配方面 扩减容后连线问题 手机用户行为 M10-45H 内六角紧定螺钉 断裂分析 据客户反映，由本公司供应的M10-45H 紧定螺钉，安装过程中发生故障。 现状：M10-45H 内六角紧定螺钉，在密封锁紧螺母安装过程中发生断裂； 安装过程：在部件上指定部位使用43~48N.m 扭矩旋入紧定螺钉（作为限位螺钉使用），然后，在紧定螺钉露出端使用43~48N.m 的终拧扭矩旋入密封锁紧螺母并拧紧，防止螺钉与基体之间的间隙造成介质渗漏。 一，失效件检测分析： 1，断口形貌宏观观察： 断面基本与轴线垂直，颜色灰色，颗粒细小均匀；放大10倍进行观测，未见目测可见原始裂纹。 2，机械性能检测： 3，金相检测分析： 沿轴线使用线切割方式制样，检测了纵向剖面的金相组织。如下图图1和图2。 图1 芯部金相x500 芯部金相组织：回火马氏体+回火屈氏体 图2 螺纹金相x200 螺纹部位金相：无脱碳层或渗碳层 4，化学成分分析： 合金钢SCM435: 0.35%C, 0.21%Si, 0.70%Mn, 0.013%P, 0.007%S, 1.04%Cr, 0.185%Mo 符合GB3098.3对45H 级螺钉的材质要求。 失效件检测分析表明，该产品机械性能和使用材料完全符合GB3098.3标准要求 二，断裂原因分析： 对失效件的机械性能检测、金相组织检测、化学成分检测结果表明，产品完全符合标准规范。 对照标准GB/T 3098.3-2000，在标准条文内第一章，标准范围，对该产品的描述，第一段有明确：本标 准 规 定了由碳钢或合金钢制造的、在环境温度为10-35℃条件下进行试验时，螺纹公称直径为1.6- 24m m 的紧定螺钉及类似的不受拉应力的紧固件机械性能。如下截图： 材料理化检验报告 金相实验室理化检验报告 送验单位 送验品名 检验项目 数 量 编 号 日 期 2 13CrMo44（φ88.9mm ×10mm ） 钢管弯头 1＃（弯头内管试样） 2＃（弯头外管试样） 金相组织 一、金相组织分析 参照GB/T13238-91《金属显微组织检验方法》、GB/T13299-91《钢的显微组织评定方法》GB6394-2002《金属平均晶粒度测定法》，对送检钢管样品的材质进行了金相显微组织检验。 13CrMo44钢的化学成分与我国的15CrMo钢相近，其显微组织应为铁素体和珠光体(有时存在少量的粒状贝氏体)。对送检的金相试样，进行磨制、抛光后经4%硝酸酒精浸蚀，在光学金相显微镜下进行检验，拍摄的显微组织照片如图1—6所示。 国标要求脱碳层二者之和小于0.6mm，还可使用。 按照GB6394-86对钢管的实际晶粒度，内管试样（1＃）和外管试样（2＃）的晶粒均较细，晶粒度为？？？？级。 二、结论 对照GB5310-1995《高压锅炉用无缝钢管》的标准，该钢管的金相组织符合使用要求。 实验者：审核： 1＃图1内管试样内壁×100 1＃图2 内管试样外壁×100 1＃图3 内管试样中部×200 2＃图4 外管试样内壁×100 2＃图5外管试样外壁×100 2＃图6外管试样中部×200 引用标准一览： 1.GB/T13291—91 金属显微组织检验方法 2.GB/T13299—91 钢的显微组织评定方法 3.GB224—87 钢中脱碳层深度测定法 4.GB6394—2002 金属平均晶粒度测定法 5.GB5310—1995 高压锅炉用无缝钢管 6. 软件系统项目可行性分 析报告 Document serial number【UU89WT-UU98YT-UU8CB-UUUT-UUT108】 软件系统项目 可行性分析报告 ****年**月 目录 1.项目概述 1.1.项目背景 （一般从国家、省、市、地方顺序写政策背景，如果行业背景可以分项目写，如移动互联网用户数、微信用户数、电子商务用户数等） 1.2.项目范围 （一段总述后，分点概况项目建设的范围，如果有配置网络建设、设备采购也需要说明） 1.3.编制依据 （与项目相关的各级政府政策文件） 1.4.技术规范与标准 （与项目相关的行业技术标准） 2.项目目标与必要性 2.1.项目目的与意义 （响应*****，进一步推进****，重大现实意义***，打造*****需要 *****，全面实现*****） 2.2.项目必要性 （****客观需要、****现实要求、****重要举措、****重要抓手、****文件要求） 3.现状与项目需求 3.1.项目现状 （写清楚项目的建设基础、政策实施基础、网络基础、软件基础、用户使用基础等） 也可分析存在问题 3.2.需求分析 3.2.1.业务需求分析 （划业务流程图，并说明） 3.2.2.数据需求分析 （划数据流图，并说明） 3.2.3.功能需求分析 （罗列子系统、子平台、模块功能需求） 3.2. 4.性能需求分析 （罗列实用性、易用性、先进性、成熟性、可扩展性、经济性、可管理性等需求） 3.2.5.安全需求分析 （说明项目在安全方面的需求分析，包括存储、传输、身份认证、服务器等） 3.2.6.其它需求分析 （项目中如果涉及非功能性也非性能的需求，则写在这里，如派人驻点服务、数据扫描服务、数据录入服务等等） 4.项目总体设计 4.1.设计原则 （如实用性、可扩展性、安全性、先进性等） 4.2.总体框架 （技术、数据、功能、安全框架，画框架图并说明） 3GPP TSG RAN WG2 #58bis Tdoc-R2-072721 Orlando, U.S.A., 25th – 29th June 2007 Agenda item: 4.5.1 Source: NTT DoCoMo, Telecom Italia, T-Mobile Title: Use of cell specific offsets and reading neighbour BCH Document for: Discussion 1. Introduction In RAN2#58 in Kobe, RAN2 has decided that, to allow for sufficient mobility control without NCL, an offset value shall be included in BCH, and that the UE shall read the neighbour cell BCH to obtain this offset value both in ACTIVE and IDLE modes [1]. The offset value biases the measured quantity of the corresponding cell for mobility control. It was expressed by operators that this offset is necessary primarily to control the cell boudaries considering the DL and UL coverage imbalance, caused by DL/UL feeder cable loss difference (due to TMA) and eNBs having different transmission powers adjoining in the network [2]. However, in RAN Plenary #36 in Busan, the decision was taken back after some vendors expressed concerns on the handover/cell reselection delays and UE battery consumption [3]. Revisiting this issue, this document explains why cell specific offsets are thought necessary, summarises concerns of reading neighbour BCH, and presents our position on the issue. Note that the support for optional NCL for intra-frequency cells has already been agreed in RAN2, and this has not been reopened. The optional NCL should serve purposes such as to set serving-neighbour pairwise specific offsets or to blacklist certain cells. It can also be used to speed up cell detection, although relevance of this is pending RAN4 response. Hence, the only open question that needs to be addressed is “whether UE reads neighbour BCH and obtains the offset value included therewith,” and this is the exact focus of this paper. 2. Use of cell specific offsets 2.1 DL/UL imbalance problem As mentioned in [2], the need for a cell specific offset is mainly motivated by the fact that eNBs of different power classes can be adjoining in many places throughout the network, and that each cell has different DL and UL feeder cable losses (i.e., DL/UL feeder loss difference due to TMA). By setting approprite offset values, the DL/UL imbalance can be mitigated. Before going into how offsetting works, the DL/UL imbalance problem has to be understood. Figure 1 shows the principle of DL/UL imbalance caused by cable loss difference. Assuming two base stations, having the same antennas and propagation coefficients, the cell boundary will be at the centre (equidistant) based on path loss (UL oriented). However, if the two base stations have different cable losses (or different transmission powers), the cell boundary will deviate from the centre based on Ec/N0 (DL oriented), hence causing DL/UL imbalance. 失效分析 第三章失效分析的基本方法 1.按照失效件制造的全过程及使用条件的分析方法：（1）审查设计（2）材料分析（3）加工制 造缺陷分析（4）使用及维护情况分析 2.系统工程的分析思路方法：（1）失效系统工程分析法的类型（2）故障树分析法（3）模糊故 障树分析及应用 3.失效分析的程序：调查失效时间的现场；收集背景材料，深入研究分析，综合归纳所有信息 并提出初步结论；重现性试验或证明试验，确定失效原因并提出建议措施；最后写出分析报告等内容。 4.失效分析的步骤：（1）现场调查①保护现场②查明事故发生的时间、地点及失效过程③收集 残骸碎片，标出相对位置，保护好断口④选取进一步分析的试样，并注明位置及取样方法⑤询问目击者及相关有关人员，了解有关情况⑥写出现场调查报告（2）收集背景材料①设备的自然情况，包括设备名称，出厂及使用日期，设计参数及功能要求等②设备的运行记录，要特别注意载荷及其波动，温度变化，腐蚀介质等③设备的维修历史情况④设备的失效历史情况⑤设计图样及说明书、装配程序说明书、使用维护说明书等⑥材料选择及其依据⑦设备主要零部件的生产流程⑧设备服役前的经历，包括装配、包装、运输、储存、安装和调试等阶段⑨质量检验报告及有关的规范和标准。（3）技术参量复验①材料的化学成分②材料的金相组织和硬度及其分布③常规力学性能④主要零部件的几何参量及装配间隙（4）深入分析研究（5）综合分析归纳，推理判断提出初步结论（6）重现性试验或证明试验 5.断口的处理：①在干燥大气中断裂的新鲜断口，应立即放到干燥器内或真空室内保存，以防 止锈蚀，并应注意防止手指污染断口及损伤断口表面；对于在现场一时不能取样的零件尤其是断口，应采取有效的保护，防止零件或断口的二次污染或锈蚀，尽可能地将断裂件移到安全的地方，必要时可采取油脂封涂的办法保护断口。②对于断后被油污染的断口，要进行仔细清洗。③在潮湿大气中锈蚀的断口，可先用稀盐酸水溶液去除锈蚀氧化物，然后用清水冲洗，再用无水酒精冲洗并吹干。④在腐蚀环境中断裂的断口，在断口表面通常覆盖一层腐蚀产物，这层腐蚀产物对分析致断原因往往是非常重要的，因而不能轻易地将其去掉。 6.断口分析的具体任务：①确定断裂的宏观性质，是延性断裂还是脆性断裂或疲劳断裂等。② 确定断口的宏观形貌，是纤维状断口还是结晶状断口，有无放射线花样及有无剪切唇等。③查找裂纹源区的位置及数量，裂纹源的所在位置是在表面、次表面还是在内部，裂纹源是单个还是多个，在存在多个裂纹源区的情况下，它们产生的先后顺序是怎样的等。④确定断口的形成过程，裂纹是从何处产生的，裂纹向何处扩展，扩展的速度如何等。⑤确定断裂的微观机理，是解理型、准解理型还是微孔型，是沿晶型还是穿晶型等。⑥确定断口表面产物的性质，断口上有无腐蚀产物，何种产物，该产物是否参与了断裂过程等。 7.断口的宏观分析（1）最初断裂件的宏观判断①整机残骸的失效分析；②多个同类零件损坏的 失效分析；③同一个零件上相同部位的多处发生破断时的分析。（2）主断面（主裂纹）的宏观判断①利用碎片拼凑法确定主断面；②按照“T”形汇合法确定主断面或主裂纹；③按照裂纹 佛山4G网络根据UE功率余量定位上下行不平 衡分析报告 目录 1PHR:(POWER HEADROOM REPORT)功率余量介绍 (2) 2PHR指标提取以及计算方式 (2) 3案例分析 (3) 3.1问题描述 (3) 3.2问题分析 (4) 3.3问题解决 (5) 3.4效果对比 (5) 4总结 (6) 1PHR:(Power Headroom Report)功率余量介绍 在LTE中，UE的UU协议栈L2的MAC子层，将基于L1测量及某些入参，计算得到Power Headroom Report（功率余量），并将功率余量报告PHR最终封装在MAC控制格式的PDU中，向ENB上报自己的发射功率余量（PHR）。 UE功率余量报告过程，是为了向ENB提供UE配置的最大的传输功率（configured maximum output power）与当前UL-SCH传输功率估计值之间的差异值（CA中要考虑PUCCH和PDSCH同时存在的影响）。进一步说，PHR表示的是除了当前传输所使用的传输功率外，UE还有多少传输功率可以使用。PHR的单位是dB，范围是[-23dB，+40dB]，如果是负值，则表示网侧给UE调度了一个高于其当时可用发送功率所能支持的数据传输速度（如下图所示）。另外，PHR逐渐用作判断上行弱覆盖的一种辅助手段。 2PHR指标提取以及计算方式 在U31网管“历史性能查询”内的“查询指标/计数器”内搜索PHR，勾选中如图所示11类计数器。 提取后使用“功率余量小于0”采样点总是除以总采样点数量，得出“功率余量小于0”采样点占比，用来辅助判断上行弱覆盖的程度。 课程教案 课程名称：材料失效分析实验 任课教师：刘先兰 所属院（部）：机械工程学院 教学班级： 2011级金属材料工程教学时间：2013—2014学年第二学期 湖南工学院 《材料失效分析》实验 实验课程编码： 学时：6 适用专业：金属材料工程 先修课程：材料科学基础、材料力学性能、金属塑性成型原理、现代材料检测技术等 考核方式： 一、实验课程的性质与任务 帮助学生进一步理解所学知识，加深对一般工程结构和机械零件失效分析的基础知识、基本方法和基本技能的掌握；能够利用所学的知识建立失效分析方法和思路（故障树）；熟悉判断失效零件裂纹源的方法；熟知各类断裂件的断口形貌及断裂机制，分析各种断裂类型、起裂点及断裂过程。 二、实验项目 实验一材料失效中的金相分析法实验（2学时） 实验二零件失效的宏观分析法（2学时） 实验三静载荷作用下的金属材料断裂失效断口分析（2学时） 三、实验报告要求 每个实验均应写实验报告。按统一格式，采用统一封面和报告纸。实验报告内容应包括实验名称、目的、内容和理论基础、实验设备（名称、规格及型号）及材料名称，实验步骤、实验结果、结果分析。 四、其它要求 实验中，注重知识、能力、素质的协调发展，突出学生的创新精神与创新能力的培养。 五、教材和参考资料 1教材： 《材料失效分析》，庄东汉主编.华东理工大学出版社. 2．参考资料： [1]《机械零件失效分析》，刘瑞堂编，哈尔滨工业大学出版社.. [2]《材料成形与失效》，王国凡主编，化学工业出版社. [3]《材料现代分析方法》，左演声主编，北京工业出版社. [4] 《断口学》，钟群鹏主编，高等教育出版社. [5] 《金属材料及其缺陷分析和失效分析100例》，候公伟主编，机械工业出版社. XXXX系统性能测试报告 1 项目背景 为了了解XXXX系统的性能，特此对该网站进行了压力测试2 编写目的 描述该网站在大数据量的环境下，系统的执行效率和稳定性3 参考文档 4 参与测试人员 5 测试说明 5.1 测试对象 XXXX系统 5.2 测试环境结构图 5.3 软硬件环境 XXXXX 6 测试流程 1、搭建模拟用户真实运行环境 2、安装HP-LoadRunner11.00（以下简称LR） 3、使用LR中VuGen录制并调试测试脚本 4、对录制的脚本进行参数化 5、使用LR中Controller创建场景并执行 6、使用LR中Analysis组件分析测试结果 7、整理并分析测试结果，写测试总结报告 7 测试方法 使用HP公司的性能测试软件LoadRunner11.00，对本系统业务进行脚本录制，测试回放，逐步加压和跟踪记录。测试过程中，由LoadRunner的管理平台调用各前台测试，发起 各种组合业务请求，并跟踪记录服务器端的运行情况和返回给客户端的运行结果。录制登陆业务模块，并模拟30、50、80、100 个虚拟用户并发登陆、添加和提交操作，进行多次连续测试，完成测试目标。 测试评估及数据统计 此次测试通过同一台客户机模拟多个并发用户在因特网环境进行，未考虑因特网的稳定 性的问题。此次测试用户操作流程相对简单，只录制了三个事务，即：用户登录、添加和信息提交，从测试的数据来分析，各项性能指标基本在可控的范围之内。但在测试过程中也发 现一些不容忽视的问题，应予以重视。 1 、模拟80 个用户并发操作时，出现1 个未通过的事务，具体原因需结合程序、网络和服务器综合分析，系统的稳定性并非无可挑剔。 2 、用户登陆事务的平均响应时间与其他两个事务相比等待的时间要长，且波动也较大， 在网速变慢、用户数增加的外部条件下，有可能会影响到系统的稳定性。建议优化系统登录页面程序，提高系统的稳定性。 1 影响质量差的因素 根据以往的优化经验，对质量差问题进行了相应的总结，影响质量差的主要因素有： 硬件故障传输问题参数设置问题网内外干扰覆盖问题天馈问题上下行不平衡直放站问题 1.1 硬件故障 当出现TRX或合路器故障的情况时，将会造成TCH占用困难，上下行质量下降。 载频异常吊死导致上/下行接收质量差； 1.2 传输问题 由于各种情况导致的Abis接口、A接口链路等传输质量差，传输链路不稳定，也会导致上下行质量差。 1.3 参数设置问题 BSC侧和MSC侧的一些参数设置会影响上下行质量，主要包括： 1．“最小接入信号电平”设置过低 2．“RACH最小接入电平”设置过低 3．“切换候选小区最小下行功率”与“最小接入电平偏移”设置不合适4．切换相关参数设置不合理 5．质量差切换相关参数设置不合理 6．干扰切换相关参数设置不合理 7．功控参数设置不合理 8．邻区关系未配置完整 9．功率设置 1.4 网内外干扰 当存在网外干扰、直放站干扰，或者由于频率资源不足导致频率复用度过高而出现严重的网内干扰时，会导致占用TCH信道时质量差。 可能出现的干扰： 1．网外干扰器、私装天线等引入的干扰 2．直放站引入的干扰 3．基站互调干扰 4．网内同邻频干扰 1.5 覆盖问题 可能影响质量差的覆盖问题： 1．不连续覆盖(盲区) 由于在孤站边缘，信号强度弱质量差。 由于基站所覆盖的区域地形复杂（如山区公路）、地势起伏，无线传播环境复杂，信号受阻挡，覆盖不连续造成质量差。 2. 室内覆盖差 因为一些建筑物密集，信号传输衰耗大，加上建筑物墙体厚，穿透损耗大，室内电平低，使得在通话过程中质量变差。 3. 越区覆盖（孤岛） 服务小区由于各种原因（如功率过大）造成越区覆盖，导致无合适邻区可以切换，电平下降导致质量差。 4. 覆盖过小 由于天线受到阻挡或携带BCCH的载频发生了故障，造成覆盖不连续，质量变差。 1.6 天馈问题 可能出现的天馈问题： 1.如果由于工程方面的原因，两个小区间的发射天线接反，会造成小区内 上行信号比下行信号电平差很多，在距离基站较远处质量变差。上下行质量差小区处理方案
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