DM5000手持光数字测试仪应用介绍

DM5000手持光数字测试仪在智能变电站应用简介

1 保护装置一般调试流程

2 DM5000手持光数字测试仪定位

一款适用于智能变电站安装调试、日常运行维护、故障检修、技能培训的智能测试分析仪；

3 具体应用

(1)保护、测控装置加量，采样值检查；

场合：现场调试、系统联调、故障检修

测试目的：测试保护/测控IED报文解析、通道配置、通信配置是否正确

具体测试方法：

根据SCD文件，选择相应的MU，给保护、测控装置施加电压、电流，检查保护、测控各电压、电流通道采样值正确性。

电流通道施加1A/5A；

电压通道施加57.7V/100V；

(2)双AD不一致检查；

场合：出厂试验和现场调试

测试目的：测试保护在双AD通道信息不一致时保护闭锁行为是否正确；

具体测试方法：

采用DM5000模拟双AD通道采样值不一致，检测保护闭锁行为

(3)保护功能调试：

场合：出厂试验、系统联调、现场试验；

测试目的：测试保护功能、逻辑是否正确；

具体测试方法：

(a)采用DM5000<电压电流>模块测试过量保护行为；

(b)采用DM5000<状态序列>模块测试线路距离、阻抗；

(c)采用三口光交换机测试部分差动保护功能，需要注意保护装置是否单纤接收，如只有单纤，

则只能采用DM5000外加1路信号，若保护具有收发光纤，则可采用三口光交换机。

(4)继电保护测试仪信号校验

场合：出厂试验、系统联调、现场调试，在某些时候，可能继电保护测试仪输出信号异常，保护厂家认为保护逻辑正确或不明原因保护异常；

测试目的：验证继电保护测试仪输出报文格式和信号是否正确；

具体测试方法：

(a)将保护装置从继电保护测试仪断开，接入DM5000；

(b)校验测试仪输出信号报文格式，通道配置等是否正确；

(c)检查测试仪输出信号是否存在丢帧、失步、品质位异常等现象；

(d)采用核相功能模块/三口交换机，检查测试仪输出不同SV控制块电压之间，电压、电流之

间相位是否正确；

(5)光纤链路检查

场合：系统联调、现场调试、故障检修；

测试目的：确认光纤链路连接正常，如保护/测控至MU，保护/测控至智能终端，MU至交换机，交换机至网络记录分析装置等；

具体测试方法：

(a)在光纤链路的发送端，采用DM5000接收检验有无相应的信号；

(b)在光纤链路的接收端，采用DM5000发送相应的SV采样值或者GOOSE；

(6)MU输出信号检查；

场合：出厂试验、现场调试、故障查找；

测试目的：检查MU输出报文格式及采样值/GOOSE信号正常；

具体测试方法：

(a)采用DM5000接入MU输出口，监测MU输出SV采样值是否正确；

(b)监测MU输出SV报文是否存在丢帧、失步、品质位异常等现象；

(7)全站遥测信号检查（非常方便实用）

场合：现场调试，故障检修；

测试目的：按电压等级逐一检查间隔保护/测控、变压器测控等遥测量是否在监控后台正确反映，相位及功率因素等是否正确；

具体测试方法：

(a)根据SCD配置文件，采用DM5000逐一给保护/测控施加电气量，注意各电压等级电压变

比、电流变比是否设置正确；

(b)通过通讯设备与后台监控核对遥测量信息；

(8)智能终端检查

场合：现场调试、故障检修；

测试目的：测试保护/测控与智能终端之间的跳闸回路正常，智能终端GOOSE接收及发送是否正常，动作行为是否正常；

具体测试方法：

(a)根据SCD配置文件，从保护/测控处施加SV信号，开放保护跳闸及压板，根据保护定值

施加故障信号，验证智能终端是否正确接收和动作；

(b)根据SCD配置文件，选择相应的GOOSE控制块，从智能终端处施加GOOSE信号，验证

智能终端是否正确接收和动作。

(c)验证智能终端GOOSE状态，如跳位、合位等位置信号输出是否正常；

(9)智能变电站核相测试

场合：现场调试、送电、故障检修；

测试目的：测试存在并列可能的两路电源核对相序、相位，线路送电对端带电时核相。

具体测试方法

(a)SV组网模式下，采用单台DM5000光网口接入待核相SV控制块，选择待核相SV控

制块相应电压组别进行核相；

(b)SV点对点模式下，采用三口光交换机进行核相，三口光交换机F2/F3可接入单纤，也

可双光纤，F1接入DM5000采用双光纤。

(c)进入核相界面核对两组电压相序、相位、幅值、频率。

(10)智能变电站极性测试

场合：现场调试、故障检修；

测试目的：测试变压器极性，必要时，核对互感器极性；

具体测试方法：

(a)变压器高压侧接入3V/6V/9V干电池，正极性接入变压器高压侧A/B/C，负极接入X/Y/Z/N，

在合上电池之前，进入极性模块，选中待校核极性侧MU；

(b)点击开始，合上电池开关；

(c)查看欲校核极性的电压通道所反映的极性；

(d)如欲重做，可清除结果后重做；

(e)分析极性测试结果；

(11)时间同步系统信号检查

场合：系统联调、现场调试、故障检修；

测试目的：测试时间同步系统是否工作正常，光纤链路是否正常，输出时间报文是否正确。

具体测试方法：

(a)对于IEEE1588对时方式，采用DM5000接入交换机或对时系统输出口，测试对时信息是

否正确；

(b)对于光IRIG-B码对时，接入时间同步系统或者其它接入对时的IED对时输入，测试对时

信息是否正确；

(12)S CD配置文件检查

场合：系统联调、现场调试；

测试目的：检查全站SCD配置文件是否正确；

具体测试方法：

(d)在采用DM5000对保护/测控/MU/智能终端连接测试过程中，信号收发是否正常，如不

正常，在排除DM5000问题后，需要核对SCD文件配置的正确性；

(e)DM5000对如下格式报文字段进行SCD对比检查，如实际接收报文与SCD文件不一致，

在报文监测部分以红色条目标记显示。

1) IEC61850-9-2：VLAN，ASDU数目，svID，dataSet，confRev；

2）IEC61850-9-1：VLAN，长度；

3）GOOSE报文：VLAN, goID, gocbRef, datSet, confRev；

4）FT3报文：长度，CRC校验码

(13)网络异常报文监测

场合：系统联调、现场调试；

测试目的：查找网络上异常报文、突发报文、未配置报文；

测试方法：

(a)将DM5000分别接入不同电压等级线路及母线测A、B网，变压器测控A、B网，线路及

母联A、B网等；

(b)分别进入SV接收和GOOSE接收，检查是否有无未配置报文，记录下报文源码和结构，

对比SCD配置文件查找问题；

(c)进入网络报文模块，监测是否有无其它异常报文，记录下报文源码和结构，根据报文源地

址、目标地址查找异常报文源头；

(14)61850技能培训

场合：保护班组、现场比武、现场调试、故障检修等；

目的：加深班组成员对IEC61850体系、智能变电站报文格式、与常规站调试的区别等多方面的理解，提高调试水平；

测试方法：

(a)采用2台或多台DM5000根据某一智能变电站配置文件SCD，进行SV采样值、GOOSE

信号收发测试；

(b)采用DM5000给保护装置施加电气量，进行简单保护功能测试，同时监测保护动作信号；

(c)采用DM5000接收合并单元信息，了解熟悉合并单元；

(d)其它必要的测试；

频率特性测试仪(精)

频率特性测试仪 摘要:本频率特性测量仪以 MSP430单片机为控制核心,由信号源、被测双 T 网络、检波电路、检相电路及显示等功能模块组成。其中,检波电路、检相电路由过零比较器、鉴相器、有效值检波器、 A/D、 D/A转换器等组成;被测网络采用带自举功能的有源双 T 网络;同时本设计还把 FPGA 作为 MCU 的一个高性能外设结合起来, 充分发挥了 FPGA 的高速信号处理能力和 MCU 的复杂数据分析能力;通过DDS 可手动预置扫频信号并能在全频范围和特定频率范围内为自动步进测量, 在数码管上实现频率和相位差的显示, 以及实现了用示波器观察幅频特性和相频特性。 关键词:单片机; DDS ;幅频特性;相频特性 一、方案比较与论证 1. 方案论证与选择 (1系统总体方案描述 该系统以单片机和 FPGA 为控制核心,用 DDS 技术产生频率扫描信号,采用真有效值检测器件 AD637测量信号幅度。在 FPGA 中,采用高频脉冲计数的方法测量相位差,经过单片机运算,可得到 100 Hz ~100 kHz 中任意频率的幅频特性和相频特性数据, 实现在该频段的自动扫描, 并在示波器上同时显示幅频和相频特性曲线。用键盘控制系统实现各种功能, 并且在 LCD 同步显示相应的功能和数据。系统总体设计框图如图 1所示。

图 1 系统总体框图 (2扫描信号源发生器 方案一:采用单片函数发生器。其频率可由外围电路控制。产生的信号频率 稳定度低,抗干扰能力差,灵活性差。 方案二:采用数字锁相环频率合成技术。但锁相环本身是一个惰性环节, 频率转换时间长, 整个测试仪的反应速度就会很慢 , 而且带宽不高。其原理图如图 2所示: 图 2 PPl原理图 方案三:采用数字直接频率合成技术 (DDFS。以单片机和 FPGA 为控制核心 , 通过相位累加器输出寻址波形存储器中的数据 , 以产生固定频率的正弦信号。该方案实现简单,频率稳定,抗干扰能力强。其原理图如图 3所示:

数字集成电路设计_笔记归纳..

第三章、器件 一、超深亚微米工艺条件下MOS 管主要二阶效应： 1、速度饱和效应：主要出现在短沟道NMOS 管，PMOS 速度饱和效应不显著。主要原因是 TH G S V V -太大。在沟道电场强度不高时载流子速度正比于电场强度（μξν=） ，即载流子迁移率是常数。但在电场强度很高时载流子的速度将由于散射效应而趋于饱和，不再随电场 强度的增加而线性增加。此时近似表达式为：μξυ=（c ξξ<），c s a t μξυυ==（c ξξ≥） ，出现饱和速度时的漏源电压D SAT V 是一个常数。线性区的电流公式不变，但一旦达到DSAT V ，电流即可饱和，此时DS I 与GS V 成线性关系（不再是低压时的平方关系）。 2、Latch-up 效应：由于单阱工艺的NPNP 结构，可能会出现VDD 到VSS 的短路大电流。 正反馈机制：PNP 微正向导通，射集电流反馈入NPN 的基极，电流放大后又反馈到PNP 的基极，再次放大加剧导通。 克服的方法：1、减少阱/衬底的寄生电阻，从而减少馈入基极的电流，于是削弱了正反馈。 2、保护环。 3、短沟道效应：在沟道较长时，沟道耗尽区主要来自MOS 场效应，而当沟道较短时，漏衬结（反偏）、源衬结的耗尽区将不可忽略，即栅下的一部分区域已被耗尽，只需要一个较小的阈值电压就足以引起强反型。所以短沟时VT 随L 的减小而减小。 此外，提高漏源电压可以得到类似的效应，短沟时VT 随VDS 增加而减小，因为这增加了反偏漏衬结耗尽区的宽度。这一效应被称为漏端感应源端势垒降低。

4、漏端感应源端势垒降低（DIBL）： VDS增加会使源端势垒下降，沟道长度缩短会使源端势垒下降。VDS很大时反偏漏衬结击穿，漏源穿通，将不受栅压控制。 5、亚阈值效应（弱反型导通）：当电压低于阈值电压时MOS管已部分导通。不存在导电沟道时源（n+）体（p）漏（n+）三端实际上形成了一个寄生的双极性晶体管。一般希望该效应越小越好，尤其在依靠电荷在电容上存储的动态电路，因为其工作会受亚阈值漏电的严重影响。 绝缘体上硅（SOI） 6、沟长调制：长沟器件：沟道夹断饱和；短沟器件：载流子速度饱和。 7、热载流子效应：由于器件发展过程中，电压降低的幅度不及器件尺寸，导致电场强度提高，使得电子速度增加。漏端强电场一方面引起高能热电子与晶格碰撞产生电子空穴对，从而形成衬底电流，另一方面使电子隧穿到栅氧中，形成栅电流并改变阈值电压。 影响：1、使器件参数变差，引起长期的可靠性问题，可能导致器件失效。2、衬底电流会引入噪声、Latch-up、和动态节点漏电。 解决：LDD（轻掺杂漏）：在漏源区和沟道间加一段电阻率较高的轻掺杂n-区。缺点是使器件跨导和IDS减小。 8、体效应：衬底偏置体效应、衬底电流感应体效应（衬底电流在衬底电阻上的压降造成衬偏电压）。 二、MOSFET器件模型 1、目的、意义：减少设计时间和制造成本。 2、要求：精确；有物理基础；可扩展性，能预测不同尺寸器件性能；高效率性，减少迭代次数和模拟时间 3、结构电阻：沟道等效电阻、寄生电阻 4、结构电容： 三、特征尺寸缩小 目的：1、尺寸更小；2、速度更快；3、功耗更低；4、成本更低、 方式： 1、恒场律（全比例缩小），理想模型，尺寸和电压按统一比例缩小。 优点：提高了集成密度 未改善：功率密度。 问题：1、电流密度增加；2、VTH小使得抗干扰能力差；3、电源电压标准改变带来不便；4、漏源耗尽层宽度不按比例缩小。 2、恒压律，目前最普遍，仅尺寸缩小，电压保持不变。 优点：1、电源电压不变；2、提高了集成密度 问题：1、电流密度、功率密度极大增加；2、功耗增加；3、沟道电场增加，将产生热载流子效应、速度饱和效应等负面效应；4、衬底浓度的增加使PN结寄生电容增加，速度下降。 3、一般化缩小，对今天最实用，尺寸和电压按不同比例缩小。 限制因素：长期使用的可靠性、载流子的极限速度、功耗。

电阻分拣仪课程设计

一级电阻分选电路的设计 摘要 本设计充分利用了现代集成芯片技术，采用了阻抗变换和比较的方法，其结果简单、控制可靠、使用方便、具有很高的灵敏性，又不易产生错误。具有很高的使用价值。 主要运用桥式整流电路，窗口比较电路和显示电路等基本电路，并利用三端稳压器稳定输出电压，并通过窗口比较电路输出高低电平，再通过LED显示电路显示出合适的电阻，从而方便快捷的挑选出一级电阻。本设计主要运用的芯片有W7805,W7905,CD4001,LM324D等。整体设计遵循硬件工程的方法，经过需求分析，总体设计，安装调试，模块测试和系统实现几个阶段。 关键词：稳压电路，窗口比较器，CD4001，电阻测量

目录 1 课题描述 (1) 2 设计方案 (1) 2.1电源电路设计 (2) 2.2检测电路 (2) 2.3显示电路 (5) 3元件选择 (5) 3.1 三端稳压器 (5) 3.2 LM324四运放 (6) 3.3 四输入或非门 (6) 4整体电路 (7) 总结 (8) 致谢 (9) 参考文献 (10)

1 课题描述 随着工业的快速发展，很多东西得到了批量的生产。但是，这就给质量检验增加了难度。过去的微电子技术已经不能满足现状所需，因此微电子技术的发展应运而生，新的测试方法，新的测试理论，新的测试领域以及新的测试领域不断出现，在许多方面已经冲破了传统仪器的观念，电子仪器的功能和作用发生了质的变化。因此，如何快速而又高效的检测便成了人们关注的问题。比如，生产出来的电阻由于各种原因而造成在一定范围内浮动，如何筛选变化在0.95~1.05范围内的合格电阻而抛弃那些不合格的电阻。本设计是对电阻进行检测，有电源部分，检测部分和显示部分构成。并且，此设计可以直接加载在220V 交流电上。其中，电源部分由整流桥整流和三态稳压管进行稳压，以输出+/- 5V 的直流电压，用以检测电路模块的工作。检测部分通过选定门限电压、标准电阻，通过窗口比较器进行比较，就可以快速而又准确的检测出被测电阻是否合格。 2 设计方案 整个电路系统如图1所示，由电源部分、检测部分和显示部分三部分构成[1]。 图1 整体电路框图 电源模块由桥式整流、电容滤波和三端集成稳压块W7805和W7809等部分组成，可使输出电压为+/-5V 。检测电路由LM324四运放集成芯片构成，其中一个运放作为电压跟随器事项阻抗变换，另外两个运放组成窗口比较器。 由门限电

集成电路测试

第一章 集成电路的测试 1.集成电路测试的定义 集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 .2.集成电路测试的基本原理 输入Y 被测电路DUT（Device Under Test）可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入x 和网络功能集F（x），确定原始输出回应y，并分析y是否表达了电路网络的实际输出。因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器件，并分析其输出的正确性。测试过程中，测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测器件的原始输入管脚，第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应，最后经过分析处理得到测试结果。 3.集成电路故障与测试 集成电路的不正常状态有缺陷（defect）、故障（fault）和失效（failure）等。由于设计考虑不周全或制造过程中的一些物理、化学因素，使集成电路不符合技术条件而不能正常工作，称为集成电路存在缺陷。集成电路的缺陷导致它的功能发生变化，称为故障。故障可能使集成电路失效，也可能不失效，集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能，称为集成电路失效。故障和缺陷等效，但两者有一定区别，缺陷会引发故障，故障是表象，相对稳定，并且易于测试；缺陷相对隐蔽和微观，缺陷的查找与定位较难。 4.集成电路测试的过程 1.测试设备 测试仪：通常被叫做自动测试设备，是用来向被测试器件施加输入，并观察输出。测试是要考虑DUT的技术指标和规范，包括：器件最高时钟频率、定时精度要求、输入\输出引脚的数目等。要考虑的因素：费用、可靠性、服务能力、软件编程难易程度等。 1.测试界面 测试界面主要根据DUT的封装形式、最高时钟频率、ATE的资源配置和界面板卡形等合理地选择测试插座和设计制作测试负载板。

简易频率特性测试仪毕业设计论文

题目简易频率特性测试仪 电子工程系应用电子技术专业应电二班

简易频率特性测试仪 摘要：简易频率特性测试仪是以51单片机为控制核心的一种测量频率的仪器，具有 较宽的可测试带宽。电路由正交扫频信号源、被测网络、混频器、低通滤波器、ADC以及液晶显示部分组成。正交扫频信号源AD9854采用DDS技术产生高稳定的频率、相位、幅度可编程调制的正弦和余弦信号。被测网络是一个RLC串联谐振电路，其前后分别添加电压跟随器和电阻网络使其与相邻电路电阻匹配。混频器采用性能高，功耗低的SA602A，将信号源输出的正余弦信号与经过被测网络出来的处理信号进一步处理，产生高频与低频两种信号。低通滤波器采用max274芯片过滤较高频信号，外接元件少，参数调节方便，也具有良好的抗干扰性。ADC选用AD8317外置，提高AD转换性能。整体电路实现了测量较高频率信号的频率测量及幅频特性与相频特性的显示。 关键词：DDS技术、中频正交解调原理、RLC振荡电路。 Abstract：Simple frequency characteristic tester is a metrical instrument which is operated by 51 single chip computer, It has a wide bandwidth. The circuit is composed of orthogonal frequency sweep signal source, the measured network, mixer, low-pass filter, ADC and liquid crystal display part. Orthogonal frequency sweep signal source AD9854 using DDS technology to produce frequency, phase, amplitude and high stability of the programmable modulation sine and cosine signal. The measured network is a RLC series resonant circuit, a voltage follower and the resistor network to match the adjacent circuit resistance respectively before and after adding the. The mixer uses high performance, low power SA602A, the sine and cosine signal source output and the processed signal measured network for further processing, to produce high and low frequency signal two. Low pass filter using MAX274 chip filter high frequency signals, less external components, easy to adjust the parameters, and also has good anti-interference performance. ADC use AD8317 external, enhance AD conversion performance. The whole circuit of the display frequency measurement and the amplitude frequency characteristic measurement of high frequency signal and the phase frequency characteristic. Keywords：DDS technology、Quadrature demodulation, RLC oscillating circuit.

简易频率特性测试仪

简易频率特性测试仪（E题） 2013年全国电子设计大赛 摘要：本频率特性测试仪由AD9854为DDS频率合成器，MSP430为主控制器，根据零中频正交解调原理对被测网络针对频率特性进行扫描测量，将DDS 输出的正弦信号输入被测网络，将被测网络的出口信号分别与DDS输出的两路正交信号通过模拟乘法器进行乘法混频，通过低通滤波器取得含有幅频特性与相频特性的直流分量，由高精度A/D转换器传递给MSP430主控器，由MSP430对所测数据进行分析处理，最终测得目标网络的幅频特性与相频特性，同时通过LCD绘制相应的特性曲线，从而完成对目标网络的特性测试。本系统具有低功

耗，成本低廉，控制方便，人机交互友好，工作性能稳定等特点，不失为简易频率特性测试仪的一种优越方案。 关键字：DDS9854，MSP430，频率特性测试 目录 一、设计目标 (3) 1、基本要求： (4)

2、发挥部分： (4) 二、系统方案 (4) 方案一 (5) 方案三 (5) 方案二 (5) 三、控制方法及显示方案 (5) 四、系统总体框图 (6) 五、电路设计 (6) 1、DDS模块设计 (6) 2、DDS输出放大电路 (7) 3、RLC被测网络 (8) 4、乘法器电路 (8) 5、AD模数转换 (9) 六、软件方案 (10) 七、测试情况 (11) 1、测试仪器 (11) 2、DDS频率合成输出信号： (11) 3、RLC被测网络测试结果 (12) 4、频谱特性测试 (12) 八、总结 (12) 九、参考文献 (12) 十、附录 (13) 一、设计目标 根据零中频正交解调原理，设计并制作一个双端口网络频率特性测试仪，包括幅频特性和相频特性。

高校实验室IC集成电路芯片测试解决方案

高校实验室IC集成电路芯片测试 解决方案 在高校的教学实验环节，需要大量地使用一些基本功能的集成芯片。譬如74/54系列的门电路，AD/DA芯片，放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口芯片等。 由于学生初学电路，使用过程中，存在很多偶然的低级错误，造成芯片的损伤，给后面的实验造成很多麻烦，所以在实验过程中，为了排除这类因素，节省教学时间，需要用专用的amdtech芯片测试仪器对芯片的功能进行校验。除此之外，此测试仪支持芯片自动查找功能，查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单易用。可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。 1.1方案特色 1.基于标准USB接口，即插即用； 2.标准40脚锁扣插座，最大可测40脚的IC； 3.系统带自检功能，芯片型号可自动判别； 4.可测试74/54系列TTL芯片，4000/4500系列CMOS芯片； 5.可测试放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口 芯片等集成电路芯片；

6.可测试常用的AD、DA芯片； 7.驱动程序支持win2000/winxp/win2003/win7/win8/ win10； 8.测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单 易用； 9.可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。 1.2方案使用 1.首先安装软件，安装完成后，插入芯片测试仪，系统会自动提示安装驱动设备，按照提示，使用自动安装。 测试芯片时，不管什么类型的芯片，都是底部对齐，缺口朝上，如下图所示：

2.运行芯片测试仪软件。 测试步骤如下： （1）在【选择类型】下拉框里面，选择芯片的类型 （2）选择好类别后，在【选择器件】列表框里选择具体的待测 试芯片型号。 （3）选中芯片后，点击【测试】按钮，这时测试仪 的“ready”指示灯会点亮。软件会自动测试指定芯 片的好坏。 （4）如果芯片字迹模糊，而无法知道具体芯片型号 时，可以选择【自动扫描测试】按钮，软件会自动从 芯片库里面进行比对，如果对应上了具体型号，会自 动提示芯片的型号。 注：【自动扫描测试】是扫描当前类别里面的器件，

数字逻辑信号测试器的设计

2012~ 2013 学年第二学期 《模拟电子技术基础》课程设计报告 题目：数字逻辑信号测试器的设计 专业：电子信息工程 班级： 组成员： 指导教师： 电气工程学院 2013年6月5 日

任务书 课题名称数字逻辑信号测试器的设计 指导教师（职称）倪琳 执行时间2012 — 2013 学年第二学期第 15 周学生姓名学号承担任务 音响信号产生电路 音响信号产生电路 音响信号产生电路 输入信号识别电路 输入信号识别电路 输入信号识别电路及仿真 音响驱动电路及仿真 音响驱动电路及仿真 音响驱动电路及仿真 设计目的1、学习数字逻辑电平测试仪电路的设计方法； 2、研究数字逻辑电平测试仪电路的设计方案。 设计要求 1、技术指标：测试高电平、低电平，发出不同的声响。测量范围：低电平＜0.8V, 高电平＞3.5V ，高低电平分别用1KHZ和800HZ的声响表示；被测信号在0.8～3.5v之间不发声；工作电源为5V ,输入阻抗大于20KΩ。 2、设计基本要求 （1）设计一个数字逻辑电平测试仪电路； （2）拟定设计步骤； （3）根据设计要求和技术指标设计好电路，选好元件及参数； （4）运用仿真软件绘制设计电路图； （5）撰写设计报告。

数字逻辑电平测试仪设计 摘要 在检修数字集成电路组成的设备时，经常需要使用万用表和示波器对电路中的故障部位的高低电平进行测量，以便分析故障的原因。使用这些仪器能较准确的测出被测点信号的电平的高低和被测电平的周期，但是使用者必须一方面用眼睛看着万用表的表盘或示波器的屏幕，另一方面还要寻找测试点，因此使用起来很不方便。本文介绍了一个逻辑信号电平测试器，它可以方便快捷的测量某一点的电位的高低，通过声音的有无和声音的频率来判定被测电位的电平范围，从而能解决平常对电路中某点的逻辑电平进行测试其高低电平时，采用很不方便的万用表或示波器等仪器仪表的麻烦。该测试器采用运算放大器作电压比较器进行电平判断，根据电平高低使音响电路产生不同频率方波驱动扬声器，使扬声器有相应不同的声调输出提示。从而达到了测试效果。 关键词放大器；逻辑信号；电平测试；高电平；低电平

一种集成电路产品测试系统的设计与实现

一种集成电路产品测试系统的设计与实现 曹维国1，邓中亮1，王峥2 1北京邮电大学电子工程学院，北京 (100876) 2凤凰微电子（中国）有限公司，北京 (100084) E-mail：Weiguo.cao@https://www.wendangku.net/doc/7a10727588.html, 摘要：本文回顾了数字集成电路的测试技术；分析了该项技术在对SIM形式封装的数字集成电路测试中的缺陷和不足；针对目前的测试系统的单一和性能价格比例偏低的情况提出了一种新型的综合测试系统，详细介绍了该系统的工作原理及组成，讨论了该系统的软硬件设计方案，总结了其优点。 关键词：用户识别模块，集成电路，测试系统，精密测量单元 1.引言 数字集成电路测试的目的在于检测集成电路的故障并对检测到的故障进行定位、生成测试报告并对故障进行分类汇总以用于缺陷分析。从测试技术上分可分为测试生成技术、响应鉴别技术、测试仪技术和易测设计技术等。从测试方法上分可分为人工测试和穷举测试法、ATPG (自动测试图形生成)、DFT (Design For Test，可测性设计)、 BST (边界扫描测试)和BIST (Build In Self Test，内建自测试)[1]等。从阶段可分为设计阶段测试、生产阶段测试和产品测试[2]。测试技术和测试方法具有通用性和共用性，而阶段性测试则跟被测对象的不同会衍生不同的测试系统尤其是在产品测试阶段[3]。设计阶段测试可借助强大的EDA（Electronic Design Automation，电子设计自动化）工具，生产阶段的测试由集成电路制造商完整的制造体系来保证，但是封装后的数字集成电路的外形各种各样，管脚有多有少，尤其是对SIM （Subscriber Identity Module，用户识别模块）形式封装的数字集成电路的产品外部只有8个管脚可以利用，从而造成了该类产品测试阶段通用性和专用性的矛盾。目前针对SIM封装形式的数字集成电路进行产品测试的系统十分稀缺且都具有共同的不足： 1)没有补偿电路，无法进行回零测试； 2)只能进行电气性能的开短路和漏电流测试，无法进行加压测流和加流测压； 3)只能进行电气性能的测试，无法完成逻辑功能的测试； 4)价格比较高。 结合SIM封装形式的数字集成电路产品测试系统的要求和企业产品的具体应用进行设计开发了一套专用测试系统，实现对SIM封装形式的数字集成电路的逻辑功能测试和电气性能测试，并对测试的结果进行汇总分析形成报告以用于缺陷分析。 2.系统介绍 本测试系统由控制计算机﹑测试电路和测试适配器三部分组成.适用于SIM封装形式下的集成电路的开短路测试﹑工作电流测试﹑输入管脚漏电流测试﹑输出电平测试和基本逻辑功能测试。并且具备16个芯片的并行测试能力。系统框架图如图1所示：

ZD9610型在线电路维修测试仪发展历程

第三代ZD9610型在线电路维修测试仪的发展历程 ——中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展缩影 摘要：第三代ZD9610型在线电路维修测试仪是精密电路板维修（芯片级）检测设备，在关键技术上取得重大突破，许多被长期困扰的维修测试难题得到解决。第三代ZD9610电路测试仪的发展历程，是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。 关键词：第三代ZD9610电路测试仪 >40管脚数字器件动态性能测试 5cVI曲线 0.前言 北京正达时代电子技术有限公司成立于1997年，核心人员是1990年代初期国内最早研制在线电路维修测试仪的专家骨干，长期致力于精密电路板维修仪器/电子元器件检测设备研发和服务。特别是第三代ZD9610型在线电路维修测试仪，在国内外业界具有重要影响力。 回顾中国改革开放40年，在经济腾飞浪潮中，国内在线电路维修测试仪经历了1998~2018高速发展的黄金20年。第三代ZD9610电路测试仪的发展历程，正是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。 1.国内在线电路维修测试仪黄金20年 在线电路维修测试仪设计精密，测试高效，结合计算机技术并且综合运用器件功能测试和器件管脚阻抗特性测试等测试手段，是重要的精密电路板维修（芯片级）检测设备。 1.1国内电路测试仪研制背景： 1980年代初，伴随改革开放步伐，国内陆续引进了大量现代化电气设备。由于这些设备上普遍采用数字集成电路器件，因而常被冠以“数控设备”这一时髦的名称。当时国内电路维修人员对数字器件概念模糊，器件故障无从判别，迫切需要检测手段。 1980年代末，新加坡“创能”品牌BW4040型在线电路维修测试仪（下文简称：电路测试仪）进入国内。名称中“在线”是指：测试电路板时无须焊下器件。型号中“4040”是指：具有40路数字通道，40路VI曲线通道。电路测试仪将测试技术与计算机技术相结合，具有+5V 数字器件库。既可以测试+5V数字器件功能，也可以采用VI曲线测试数字器件/模拟器件管脚阻抗特性。 面对电路测试仪在电路板维修中的巨大优势，国内企业也积极开始研究与试制，不断推出一代又一代电路测试仪产品。 1.2第一代电路测试仪： 国内第一代电路测试仪是从对BW4040电路测试仪的学习和仿制开始的，代表机型是正达ZD4040电路测试仪。主要特点：40路数字通道，40路VI曲线通道，器件库包含40管脚以下+5V数字器件。 具有40路数字通道，提供+5V测试电源是第一代电路测试仪的基本特征。由于增加VI曲线通道难度不大，所以ZD4080电路测试仪（80路VI曲线通道）也属于第一代电路测试仪。 第一代电路测试仪始于1990年代初，那时的计算机还是DOS操作系统。随着计算机技术的飞速发展，第一代ZD4040电路测试仪也同步改进和升级。今天的ZD4040-N电路测试仪可以支持windows10_64位操作系统，在维修中依然发挥着重要作用。 1.3第二代电路测试仪： 国内第二代电路测试仪开始摆脱全面仿制阶段，推出一些自主创新的特色功能。代表机型是正达ZD9001电路测试仪。主要特点是：40路数字通道，80路VI曲线通道，20路模拟功能

集成电路测试原理及方法资料

H a r b i n I n s t i t u t e o f T e c h n o l o g y 集成电路测试原理及方法简介 院系：电气工程及自动化学院 姓名： XXXXXX 学号： XXXXXXXXX 指导教师： XXXXXX 设计时间： XXXXXXXXXX

摘要 随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。 本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。 关键词：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法

目录 一、引言 (4) 二、集成电路测试重要性 (4) 三、集成电路测试分类 (5) 四、集成电路测试原理和方法 (6) 4.1.数字器件的逻辑功能测试 (6) 4.1.1测试周期及输入数据 (8) 4.1.2输出数据 (10) 4.2 集成电路生产测试的流程 (12) 五、集成电路自动测试面临的挑战 (13) 参考文献 (14)

一、引言 随着经济的发展，人们生活质量的提高，生活中遍布着各类电子消费产品。电脑﹑手机和mp3播放器等电子产品和人们的生活息息相关，这些都为集成电路产业的发展带来了巨大的市场空间。2007年世界半导体营业额高达2.740亿美元，2008世界半导体产业营业额增至2.850亿美元，专家预测今后的几年随着消费的增长，对集成电路的需求必然强劲。因此，世界集成电路产业正在处于高速发展的阶段。 集成电路产业是衡量一个国家综合实力的重要重要指标。而这个庞大的产业主要由集成电路的设计、芯片、封装和测试构成。在这个集成电路生产的整个过程中，集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如：集成电路设计原型的验证测试、晶圆片测试、封装成品测试，只有通过了全部测试合格的集成电路才可能作为合格产品出厂，测试是保证产品质量的重要环节。 集成电路测试是伴随着集成电路的发展而发展的，它为集成电路的进步做出了巨大贡献。我国的集成电路自动测试系统起步较晚，虽有一定的发展，但与国外的同类产品相比技术水平上还有很大的差距，特别是在一些关键技术上难以实现突破。国内使用的高端大型自动测试系统，几乎是被国外产品垄断。市场上各种型号国产集成电路测试，中小规模占到80%。大规模集成电路测试系统由于稳定性、实用性、价格等因素导致没有实用化。大规模/超大规模集成电路测试系统主要依靠进口满足国内的科研、生产与应用测试，我国急需自主创新的大规模集成电路测试技术，因此，本文对集成电路测试技术进行了总结和分析。 二、集成电路测试重要性 随着集成电路应用领域扩大，大量用于各种整机系统中。在系统中集成电路往往作为关键器件使用，其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。 如何检测故障剔除次品是芯片生产厂商不得不面对的一个问题，良好的测试流程，可以使不良品在投放市场之前就已经被淘汰，这对于提高产品质量，建立生产销售的良性循环，树立企业的良好形象都是至关重要的。次品的损失成本可以在合格产品的售价里得到相应的补偿，所以应寻求的是质量和经济的相互制衡，以最小的成本满足用户的需要。 作为一种电子产品，所有的芯片不可避免的出现各类故障，可能包括：1.固定型故障；2.跳变故障；3.时延故障；4.开路短路故障；5桥接故障，等等。测试的作用是检验芯片是否存在问题，测试工程师进行失效分析，提出修改建议，从工程角度来讲，测试包括了验证测试和生产测试两个主要的阶段。

数字集成电路测试仪YBD868

数字集成电路测试仪(YBD-868)} YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器,测试脚数最大为双列直插式40脚，可测范围复盖了大多数的数字集成电路，测试准确可靠，操作简便，基本功能如下: ———* 器件好坏测试—————* 器件型号判别 ———* 器件动态老化————- * 器件代换查询 三．技术指标 1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统,被测器件安装采用锁紧插座。 2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只led显示仪器工作状态。 8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米 9. 整机重量：2.0kg 四. 测试范围 ybd868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列: 1. ttl54系列 2. ttl55系列 3. ttl74系列 4. ttl75系列 5. cmos14系列 6. cmos40系列 7. cmos45系列

8. 光耦合器系列 9. led显示器系列 10. 常用ram系列 11. 常用单片机系列 12. 微机外围电路系列 五. 功能综述 1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号,并将器件放于对应的工作插座上，可判别出该仪器件的好坏。 2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，只需输入该器件的引脚数目，并将被测器件放于对应的工作插座上仪器即可立即判别出该器件的型号。 3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询“键就可知道是否有逻辑功能与之完全相同的其它器件。 4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的型号，并将被测器件放于对应的插座上，按下“动态老化“键,仪器就可对该器件进行动态老化和连续测试。

简易频率特性测试仪论文

2013年全国大学生电子设计竞赛 简易频率特性测试仪（E题） 【本科组】 2013年9月6日

摘要 本实验以DDS芯片AD9854为信号发生器，以单片机STM32F103RBT6为核心控制芯片。系统由5个模块组成：正弦扫频信号模块，待测阻容双T网络模块，整形滤波模块，A/D转换模块及显示模块。先以单片机送给AD9854控制字产生1MHZ —40MHZ的扫频信号，经过阻容双T网络检测电路，两路路信号通过AD9283对有效值进行采集后进入单片机进行幅值转换，最终由TFTLCD显示输出。 ABSTRACT In this experiment, the DDS chip AD9854 as the signal generator, MCU STM32F103RBT6 as the core control chip, and with FPGA as auxiliary, and on the peripheral circuit to realize the detection of amplitude frequency and phase frequency. The system comprises 6 modules: signal sine sweep signal module, the measured resistance capacitance of double T module, filter module, A/D conversion module and display module. The first single-chip microcomputer to AD9854 control word generate sweep signal of 10MHZ - 40MHZ, the resistance and capacitance of double T detection circuit, two road signals are collected on the effective value through the AD9283 into the microcontroller to amplitude conversion, the LCD display output, finally to complete the amplitude frequency and phase frequency of simple test.

(完整版)电子测量仪器的分类及应用

电子测量仪器的分类及应用 电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。 1.多用电表 模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 2.示波器 示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。 3.信号发生器 信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 4.晶体管特性图示仪 晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。 5.兆欧表 兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。 6.红外测试仪 红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 7.集成电路测试仪 该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。

电子测量仪器校准的原理分类

电子测量仪器校准的原理分类 1.多用电表 模拟式电压表、模拟多用表（即指针式万用表VOM）、数字电压表、数字多用表（即数字万用表DMM）都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 2.示波器 示波器是一种测量电压波形的电子仪器，它可以把被测电压信号随时间变化的规律，用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌，而且可以通过它显示的波形，测量电压和电流，进行频率和相位的比较，以及描绘特性曲线等。 3.信号发生器 信号发生器（包括函数发生器）为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如：产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 4.晶体管特性图示仪 晶体管特性图示仪是一种专用示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如：晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。 5.兆欧表 兆欧表（俗称摇表）是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表，通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电，故称摇表。由于它的刻度是以兆欧（MΩ）为单位，故称兆欧表。 6.红外测试仪 红外测试仪是一种非接触式测温仪器，它包括光学系统、电子线路，在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种，主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 7.集成电路测试仪 该类仪器可对TTL、PMOS、CMOS数字集成电路功能和参数测试，还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。 8.LCR参数测试仪 电感、电容、电阻参数测量仪，不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。 9.频谱分析仪 频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率，测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如：逻辑电路的控制信号、基带信号，射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。

集成电路芯片测试仪(A题)——【全国大学生电子设计大赛】

集成电路芯片测试仪（A题） 一、任务 设计制作一个集成电路芯片测试仪，能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。 二、要求 1.基本要求 （1）通过键盘输入型号，可以对74系列的 00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性； （2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号； （3）显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式。 2.发挥部分 将上述三项基本要求扩展到74系列时序电路：74/109/160/245等。 （1）通过键盘输入型号，可以对74系列的74/109/160/245等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性； （2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号； （3）显示上述芯片的逻辑符号和状态转换图； （4）其它特色与创新。 1

三、评分标准 四、说明 要求用单片机或DSP模块做成一个相对独立的整体，不能用PC机实现。 2

LED显示棒（B题） 一、任务 设计制作一个依靠摇动能显示字符、图形的LED显示棒。 二、要求 1.基本要求 （1）设计一个基于LED的显示棒，LED灯必须线状排列，至少使用16只。 （2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“A”字符。 （3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“电”字。 （4）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出国际奥委会五环图形。 （5）用按键实现显示切换，用电池供电。 2.发挥部分 （1）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出英文单词“Welcome”。 （2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出汉字词组“美亚”。 （3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出北京奥运会会徽图形。 （4）其它特色与创新。 三、评分标准 3

数字电容测量仪-课程设计

电气与自动化工程学院课程设计评分表 课程设计题目： 班级：学号：姓名： 指导老师： 年月日

课程设计答辩记录 学院专业班级答辩人课程设计题目 说明：主要记录答辩时所提的问题及答辩人对所提问题的回答

常熟理工学院电气与自动化工程学院 课程设计说明书 课程名称：电子技术课程设计 设计题目：电容测量仪_____________ 班级：ZB62161 姓名：吴彬 学号：ZB6216123 指导老师：施健 设计时间：2017-1-11

目录 一．设计目的 (1) 二．设计思路 (1) 三．设计框图 (1) （1）设计过程 (1) （2）多谐振荡器的设计 (2) （3）单稳态触发器电路的设计 (2) （4）计数电路的设计 (3) 四．整体电路设计 (4) 五．系统调试 (5) 六．仿真结果 (5) 七．设计心得 (6) 八．参考文献 (7)

数字电容测量仪的设计 一．设计目的 （1）了解常用数字集成电路的使用。 （2）了解电容测量仪的工作原理。 （3）掌握利用数字式集成电路设计电容测量仪的原理和Multisim调试的方法。 二．设计思路 本设计中用555振荡器产生一定周期的矩形脉冲作为计数器的CP脉冲也就是标准频率。同时把待测电容C转换成宽度为tw的矩形脉冲，转换的原理是单稳态触发器的输出脉宽tw与电容C成正比。把此脉冲作为闸门时间和标准频率脉冲相“与”，得到计数脉冲，该计数脉冲送计数—译码显示系统就可以得到电容量的数据。外部旋钮控制量程的选择。用计数器控制电路控制总量程。 三．设计框图 图1 数字电容测量仪原理图 四．设计过程 （1）多谐振荡器电路的设计 振荡器是数字电容测量仪的核心，振荡器的稳定性以及其所产生的基准频率的稳定性决定了数字电容测量仪的精确度。在要求不高的情况下可以选用555构成的多谐振荡器如果图2所示。 555组成多谐振荡器的工作原理如下：