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EBSD的工作原理、结构及操作

EBSD的工作原理、结构及操作
EBSD的工作原理、结构及操作

1.电子背散射衍射分析技术(EBSD/EBSP)简介

20世纪90年代以来,装配在SEM上的电子背散射花样(Electron Back-scatt ering Patterns,简称EBSP)晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展,并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。该技术也被称为电子背散射衍射(Electron Backscattered Diffraction,简称EBSD)或取向成像显微技术(O rientation Imaging Microscopy,简称OIM) 等。EBSD的主要特点是在保留扫描电子显微镜的常规特点的同时进行空间分辨率亚微米级的衍射(给出结晶学的数据)。EBSD改变了以往织构分析的方法,并形成了全新的科学领域,称为“显微织构”—将显微组织和晶体学分析相结合。与“显微织构”密切联系的是应用EBS D进行相分析、获得界面(晶界)参数和检测塑性应变。目前,EBSD技术已经能够实现全自动采集微区取向信息,样品制备较简单,数据采集速度快(能达到约36万点/小时甚至更快),分辨率高(空间分辨率和角分辨率能分别达到0.1m和0.5m),为快速高效的定量统计研究材料的微观组织结构和织构奠定了基础,因此已成为材料研究中一种有效的分析手段。

目前EBSD技术的应用领域集中于多种多晶体材料—工业生产的金属和合金、陶瓷、半导体、超导体、矿石—以研究各种现象,如热机械处理过程、塑性变形过程、与取向关系有关的性能(成型性、磁性等)、界面性能(腐蚀、裂纹、热裂等)、相鉴定等。

2.EBSD系统的组成与工作原理

图1 EBSD系统的构成及工作原理

系统设备的基本要求是一台扫描电子显微镜和一套EBSD系统。EBSD采集的硬件部分通常包括一台灵敏的CCD摄像仪和一套用来花样平均化和扣除背底的图象处理系统。图1是EBSD系统的构成及工作原理。

在扫描电子显微镜中得到一张电子背散射衍射花样的基本操作是简单的。相对于入射电子束,样品被高角度倾斜,以便背散射(即衍射)的信号EBSP被充分强化到能被荧光屏接收(在显微镜样品室内),荧光屏与一个CCD相机相连,E BSP能直接或经放大储存图象后在荧光屏上观察到。只需很少的输入操作,软件程序可对花样进行标定以获得晶体学信息。目前最快的EBSD系统每一秒钟可进行近100个点的测量。

现代EBSD系统和能谱EDX探头可同时安装在SEM上,这样,在快速得到样品取向信息的同时,可以进行成分分析。

3. EBSD的应用

扫描电子显微镜中电子背散射衍射技术已广泛地成为金属学家、陶瓷学家和地质学家分析显微结构及织构的强有力的工具。EBSD系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM、极图和反极图,还可计算取向(差)分布函数,这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息,如:织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及孪晶界性质分析;应变和再结晶的分析;相签定及相比计算等,EBSD对很多材料都有多方面的应用也就是源于EBSP所包含的这些信息。

3.1织构及取向差分析

EBSD不仅能测量各取向在样品中所占的比例,还能知道这些取向在显微组织中的分布,这是织构分析的全新方法。既然EBSD可以进行微织构,那么就可以进行织构梯度的分析,在进行多个区域的微织构分析后宏观织构也就获得了。EBSD可应用于取向关系测量的范例有:推断第二相和基体间的取向关系、穿晶裂纹的结晶学分析、单晶体的完整性、微电子内连使用期间的可靠性、断口面的结晶学、高温超导体沿结晶方向的氧扩散、形变研究、薄膜材料晶粒生长方向测量。

EBSD测量的是样品中每一点的取向,那么不同点或不同区域的取向差异也就可以获得,从而可以研究晶界或相界等界面。

3.2 晶粒尺寸及形状的分析

传统的晶粒尺寸测量依赖于显微组织图象中晶界的观察。自从EBSD出现以来,并非所有晶界都能被常规浸蚀方法显现这一事实已变得很清楚,特别是那些被称为“特殊”的晶界,如孪晶和小角晶界。因为其复杂性,严重孪晶显微组织的晶粒尺寸测量就变得十分困难。由于晶粒主要被定义为均匀结晶学取向的单元,EBSD是作为晶粒尺寸测量的理想工具。最简单的方法是进行横穿试样的线扫描,同时观察花样的变化。

3.3 晶界、亚晶及孪晶性质的分析

在得到EBSD整个扫描区域相邻两点之间的取向差信息后,可进行研究的界面有晶界、亚晶、相界、孪晶界、特殊界面(重合位置点阵CSL等)。

3.4 相鉴定及相比计算

就目前来说,相鉴定是指根据固体的晶体结构来对其物理上的区别进行分类。EBSD发展成为进行相鉴定的工具,其应用还不如取向关系测量那样广泛,但是应用于这方面的技术潜力很大,特别是与化学分析相结合。已经用EBSD鉴定了某些矿物和一些复杂相。EBSD最有用的就是区分化学成分相似的相,如,在扫描电子显微镜中很难在能谱成分分析的基础上区别某元素的氧化物或碳化物或氮化物,但是,这些相的晶体学关系经常能毫无疑问地区分开。M7C3和M 3C相(M大多是铬)已被从二者共存的合金中鉴别出来,因为它们分别属于六方晶系和四方晶系,这样它们的电子背散射衍射花样(EBSP)就完全不同。类似地,已用EBSD区分了赤铁矿、磁铁矿和方铁矿。最后一个例子,也许是用E BSD进行相鉴定的最简单的应用之一,就是直接区别铁的体心立方和面心立方,这在实践中也经常用到,而且用元素的化学分析方法是无法办到的,如钢中的铁素体和奥氏体。而且在相鉴定和取向成像图绘制的基础上,很容易地进行多相材料中相百分含量的计算。

3.5 应变测量

存在于材料中的应变影响其抗拉强度或韧性等性能,进而影响零件的使用性能。衍射花样中菊池线的模糊证明晶格内存在塑性应变。因此从花样质量可直观地定性评估晶格内存在的塑性应变。

用EBSD进行应变测量的一些例子如下:

1)在部分再结晶的显微组织中辨别有无应变晶粒;

2)陨石中的固溶诱导应变;

3)测定锗离子束注入硅中产生的损伤。

4. EBSD与其他衍射技术的比较

对材料晶体结构及晶粒取向的传统研究方法主要有两个方面:一是利用X

光衍射或中子衍射测定宏观材料中的晶体结构及宏观取向的统计分析;二是利用透射电镜中的电子衍射及高分辨成象技术对微区晶体结构及取向进行研究。前者虽然可以获得材料晶体结构及取向的宏观统计信息,但不能将晶体结构及取向信息与微观组织形貌相对应,也无从知道多相材料和多晶材料中不同相及不同晶粒取向在宏观材料中的分布状况。EBSD恰恰是进行微织构分析、微取向和晶粒取向分布测量,可以将晶体结构及取向信息与微观组织形貌相对应。而透射电镜的研究方法由于受到样品制备及方法本身时的限制往往只能获得材料非常局部的晶体结构及晶体取向信息,无法与材料制备加工工艺及性能相直接联系。

X射线衍射或中子衍射不能进行点衍射分析。除了EBSD外,还有其他的点分析技术,主要有SEM中的电子通道花样(SAC)和透射电子显微镜(TEM)

中的微衍射(MD),一般认为EBSD已经取代SAC,而TEM中的微衍射(MD)需要严格的样品制备,且不可能进行自动快速测量。

定位的相鉴定早已成为TEM的工作,但其样品制备经常是不方便的,甚至是不可能的,因此EBSD成为极有吸引力的选择。

因此,EBSD是X射线衍射和透射电子显微镜进行取向和相分析的补充,而且它还有其独特的地方(微区、快速等)。

5. 总结

归纳起来,EBSD技术具有以下四个方面的特点:(1)对晶体结构分析的精度已使EBSD技术成为一种继X光衍射和电子衍射后的一种微区物相鉴定新方法;(2)晶体取向分析功能使EBSD技术已逐渐成为一种标准的微区织构分析技术新方法;(3)EBSD方法所具有的高速(每秒钟可测定100个点)分析的特点及在样品上自动线、面分布采集数据点的特点已使该技术在晶体结构及取向分析上既具有透射电镜方法的微区分析的特点又具有X光衍射(或中子衍射)对大面积样品区域进行统计分析的特点。(4)EBSD样品制备也是相对简单。

因此,装有EBSD系统和能谱仪的扫描电子显微镜就可以将显微形貌、显微成分和显微取向三者集于一体,这大大方便了材料科学工作者的研究工作。

光刻原理

光 刻 工 艺 一、目的: 按照平面晶体管和集成电路的设计要求,在SiO 2或金属蒸发层上面刻蚀出与掩模板完全相对应的几何图形,以实现选择性扩散和金属膜布线的目的。 二、原理: 光刻是一种复印图象与化学腐蚀相结合的综合性技术,它先采用照像复印的方法,将光刻掩模板上的图形精确地复制在涂有光致抗蚀剂的SiO 2层或金属蒸发层上,在适当波长光的照射下,光致抗证剂发生变化,从而提高了强度,不溶于某些有机溶剂中,未受光照射的部分光致抗蚀剂不发生变化,很容易被某些有机溶剂溶解。然后利用光致抗蚀剂的保护作用,对SiO 2层或金属蒸发层进行选择性化学腐蚀,从而在SiO 2层或金属层上得到与光刻掩模板相对应的图形。 (一)光刻原理图 (一)光刻胶的特性: 1.性能,光致抗蚀剂是一种对光敏感的高分子化合物。当它受适当波长的光照射后就能吸收一定波长的光能量,使其发生交联、聚合或分解等光化学反应。由原来的线状结构变成三维的网状结构,从而提高了抗蚀能力,不再溶于有机溶剂,也不再受一般腐蚀剂的腐蚀. 2.组成:以KPR 光刻胶为例: 感光剂--聚乙烯醇肉桂酸酯。 溶 剂--环己酮。 增感剂--5·硝基苊, 3.配制过程: 将一定重量的感光剂溶解于环己酮里搅拌均匀,然后加入一定量的硝基苊,再继续揖拌均匀,静置于暗室中待用。 感光剂聚乙烯醇肉桂酸酯的感光波长为3800?以内,加入5·硝基苊后感光波长范围发生了变化从2600—4700 ?。 (二)光刻设备及工具: 在SiO 2层上涂复光刻胶膜 将掩模板覆盖 在光刻胶膜上 在紫外灯下曝光 显影后经过腐蚀得到光刻窗口

1.曝光机--光刻专用设备。 2.操作箱甩胶盘--涂复光刻胶。 3.烘箱――烤硅片。 4.超级恒温水浴锅--腐蚀SiO2片恒温用。 5.检查显为镜――检查SiO2片质量。 6.镊子――夹持SiO2片。 7.定时钟――定时。 8.培养皿及铝盒――装Si片用。 9.温度计――测量温度。 图(二)受光照时感光树脂分子结构的变化 三、光刻步骤及操作原理 1.涂胶:利用旋转法在SiO2片和金属蒸发层上,涂上一层粘附性好、厚度适当、均匀的光刻胶。 将清洁的SiO2片或金属蒸发片整齐的排列在甩胶盘的边缘上,然后用滴管滴上数滴光刻胶于片子上,利用转动时产生的离心力,将片子上多余的胶液甩掉,在光刻胶表面粘附能力和离心力的共同作用下形成厚度均匀的胶膜。 涂胶时间约为1分钟。 要求:厚度适当(观看胶膜条纹估计厚薄),胶膜层均匀,粘附良好,表面无颗粒无划痕。 图(三)光刻工艺流程示意图

投影光刻机对准系统功能原理

投影光刻机对准系统功能原理 投影光刻机对准系统功能原理 1 对准系统简介 对准系统的主要功能就是将工件台上硅片的标记与掩膜版上的标记对准,其标记的对准精度能达到±0.4μm(正态分布曲线的3σ值)。因为一片硅片在一个工艺流程中的曝光次数可能达到30次,而对准精度直接影响硅片的套刻精度,所以硅片的对准精度非常的关键。 由于对准系统对硅片标记的搜索扫描有一定的范围,它在X方向和Y方向都只能扫描 ±44μm,所以硅片被传送到工件台上进行对准之前,需要在预对准工件台上先后完成两次对准,即机械预对准和光学预对准,以便满足精细对准的捕捉范围。注意:本文所提到的对准都是所谓的精细对准。 PAS2500/10投影光刻机对准系统主要由三个单位部分构成:照明(对准光源)部分,双折射单元和对准单元。这三个单元与掩膜版、硅片、以及投影透镜的相对位置如图1所示,在图中可以看出,对准系统中用了两个完全相同的光路,这是为了满足对准功能的需要。 1.1 对准系统的光学结构和功能 由于对准系统中的两条完全相同,所以在下面的介绍中只详细地阐述了其中的一条光路。在对准系统中,照明部分的主要部件就是激光发射器,它产生波长为633nm的线性极化光,避免在硅片对准的过程中使硅片被曝光(硅片曝光用的光为紫外光)。然后对准激光将通过一系列的棱镜和透镜进入双折射单元,该激光将从双折射单元底部射出,通过曝光的投影透镜照到硅片的标记上;而经过硅片表面的反射后由原路返回,第二次经过双折射单元,由双折射单元的顶部射出,再经过聚焦后对准到掩膜版的标记上。 在对准单元内,硅片的标记图象和掩膜版标记的图象同时通过一个调制器后,将被聚焦到一个Q-CELL光电检测器上。此调制器是用来交替传送两个极化方向的硅片标记图象,Q-CELL 光电检测器将对硅片的标记的每个极化方向图象分别产生一个电信号,由此产生的电信号的振幅取决于该极化方向硅片标记的图象与掩膜版标记图象在Q-CELL的显示比例。 硅片上的对准标记如图2所示,标记分为四个象限,每个象限有8μm或8.8μm的对准条,其中有两个象限的对准条用来对准X向,另外两个象限用来对准Y向。而Q-CELL光电检测器的每一个单元对应标记的一个象限,当在Q-CELL检测器的每一个单元中,两个极化方向的标记图象的能量都相等的时候,就表明硅片与掩膜版的标记完全对准了。从图1中可以看到对准光束在经过对准单元的时候被分成了两束,一束激光将通过调制器到达Q-CELL 光电检测器,而另一束激光则以视频的形式反馈到操作台。通过操作台上的视频监视器可以直观的看到标记的移动和对准不同标记时位置的相对变化。虽然是两个不同极化方向的硅片标记与掩膜版标记同时对准,但是由于它们是同步的,彼此之间几乎看不到有何不同,所以只有一个极化图象被显示。 1.2 对准系统的电路部分 对准系统的电路部分主要的功能是: 1、产生一个信号去驱动光学调制器。 2、处理Q-CELL光电检测器产生的信号。 光学调制器的驱动:该调制器信号要求频率为50Hz的正弦信号,其振幅要求能满足对最大的Q-CELL检测信号起调制作用。 Q-CELL检测信号的处理:在对准的时候,工件台将首先沿X轴向缓慢地带动E-CHUCK上的硅片移动,进行X轴向对准,当硅片标记上X向光栅与对应的掩膜版上X向光栅对准时,

除氧器原理

一、除氧器是什么? ——除去水中溶解氧的密闭容器。 注解:水——指锅炉给水,即进入锅炉的水; 溶解氧——以分子形式存在于水中的氧气,即氧分子O2; 密闭容器——压力容器,一般为低压。 二、为什么要对锅炉给水进行除氧? ——锅炉水中的溶解氧,和炉体金属铁组成腐蚀电池,铁是阳极,失去电子成为亚铁离子,氧为阴极进行还原,溶解氧的这种阴极去极化的作用,造成对锅炉铁的腐蚀,此外氧还会把溶于水的氢氧化铁沉淀,使亚铁离子浓度降低,从而使腐蚀加剧。当水中含有溶解氧时,造成对炉体的腐蚀,随着含氧浓度的增加,腐蚀

如图,进入锅炉的给水经过加热成为高温高压水蒸汽,高温高压水蒸汽推动汽轮机作功,从而带动发电机发电;作功后的蒸汽(称为乏汽)进入凝汽器被凝结成水(凝结水);凝结水经过低压加热器加热后进入除氧器;经过除氧后的凝结水进入高压加热器,进一步提高水温,然后进入锅炉,从而完成一个工质循环。这里工质当然是水及水蒸汽。 四、除氧器为什么通常都很大? ——当某种原因上述循环中断而锅炉停机时,为了使锅炉有足够的时间冷却,需要继续向锅炉进水,这部分水从何而来呢?只能是存储在某个容器中,高低压加热器作为换热设备不具备存储功能,所以这个储水功能有除氧器承担,这就是为什么除氧器通常都很大的原因之一。 五、 如图,进水含氧量50ppb,出水含氧量5ppb,问其余45ppb哪儿去了? 显然它只能被排出容器外。将溶解氧排出容器外的装置称为排汽装置。由此可见,排汽装置是否正确合理,是决定出水含氧量是否合格的主要因素之一。简单地说,本来需要除去45ppb的溶解氧,因排汽装置不合理,只排出了30ppb,于是剩下的20ppb重新溶入水中,出水含氧量必然超标。

(完整word版)三相分离器结构及工作原理

一、三相分离器结构及工作原理 1.三相分离器的工艺流程 所有来油经游离水三项分离器分离再添加破乳剂进入换热器加热升温至70~75℃然后进入高效三相分离器进行分离,分离器压力控制在0.15~0.20Mpa,油液面控制在80~100cm、水液面控制在100~120cm,除油器进出口压差控制在0.2Mpa,处理合格后的原油含水率控制在2%左右经稳定塔闪蒸稳定后进入原油储罐,待含水小于0.8%后外输至管道。 2.三相分离器工作原理 各采油队来液由分离器进液管进入进液舱,容积增大,流速降低,缓冲降压,气体随压力的降低自然逸出上浮,在进液舱油、气、水靠比重差进行初步分离。分离后的水从底部通道进入沉降室。经过分离的液体经过波纹板时,由于接触面积增加,不锈钢波纹板又具有亲水憎油的特性,再进行油、气、水的分离。随后进入沉降室,靠油水比重差进行分离;通过加热使液体温度增加,增加油水分子碰撞机会,加大了油水比重差;小油滴和小水滴碰撞机会多聚结为大油滴和大水滴,加速油水分离速度;油上浮、水下沉实现油、水进一步分离;油、气和水通过出口管线排出。 2.1重力沉降分离 分离器正常工作时,液面要求控制在1/2~2/3之间。在分离器的下部分是油水分离区。经过一定的沉降时间,利用油和水的比重差实现分离。 2.2 离心分离 油井生产出来的油气混合物在井口剩余压力的作用下,从油气分离器进液管喷到碟形板上使液体和气体,在离心力的作用下气体向上,而液体(混合)比重大向下沉降在斜板上,向下流动时,还有一部分气体向气出口方向流去,当气体流到削泡器处,需改变气体的流动方向,气体比重小,在气体中还有一部分大于100微米的液珠与消泡器碰撞掉下沉降到液面上,同时液面上的油泡碰撞在削泡器,使气体向上流动,完成了离心的初步气液分离 2.3碰撞分离 当离心分离出来的气体进入分离器上面除雾器,气体被迫绕流,由于油雾的密度大,在气体流速加快时,雾状液体惯性力增大,不能完全的随气流改变方向,而除雾器网状厚度300mm截面孔隙只有0.3mm小孔道,雾滴随气流提高速度,获得惯性能量,气体在除雾器中不断的改变方向,反复改变速度,就连续造成雾滴与结构表面碰撞并吸附在除雾器网上。吸附在除雾器网上油雾逐渐累起来,由大变小,沿结构垂直面流下,从而完成了碰撞分离。

光刻机和光掩膜版

十三章 光刻II 光刻机和光掩膜版 前几章讲述了光刻胶材料的性质和工艺技术。在这一章里,我们介绍如何将图形转移到硅片表面上,包括以下内容:a)将图形投影到硅片表面的装置(即光刻对准仪或光刻翻版机),由此使得所需图形区域的光刻胶曝光。 b)将图形转移到涂有光刻胶的硅片上的工具(即光掩模版和中间掩模版)。在介绍光刻机或掩模版之前,把用以设计和描述操作光刻机的光学原理简要地说明一下。它们是讲明光掩模板和中间掩模版的基础。 在讨论光学原理之前,有必要介绍一下微光刻硬件的关键。那就是把图形投影到硅表面的机器和掩模版的最重要的特征:a)分辨率、b)图形套准精度、c)尺寸控制、d)产出率。 通常,分辨律是指一个光学系统精确区分目标的能力。特别的,我们所说的微图形加工的最小分辨率是指最小线宽尺寸或机器能充分打印出的区域。然而,和光刻机的分辨率一样,最小尺寸也依赖于光刻胶和刻蚀的技术。关于分辨率的问题将在微光刻光学一章中更彻底的讲解,但要重点强调的是高分辨率通常是光刻机最重要的特性。 图形套准精度是衡量被印刷的图形能“匹配”前面印刷图形的一种尺度。由于微光刻应用的特征尺寸非常小,且各层都需正确匹配,所以需要配合紧密。

微光刻尺寸控制的要求是以高准度和高精度在完整硅片表面产生器件特征尺寸。为此,首先要在图形转移工具〔光刻掩模版〕上正确地再造出特征图形,然后再准确地在硅片表面印刷出〔翻印或刻蚀〕。 加工产率是重要但 不是最重要加工特征。例 如,如果一个器件只能在 低生产率但高分辨率的 光刻机制版,这样也许仍 然是经济的。不过,在大 部分生产应用中,加工和 机器的产率是很重要的, 也许是选择机器的重要因素之一。 1.微光刻光学 在大规模集成电路的制造中。光刻系统的分辨率是相当重要的,因为它是微器件尺寸的主要限制。在现代化投影光刻机中光学配件的质量是相当高的,所以图形的特征尺寸因衍射的影响而受限制,而不会是因为镜头的原因(它们被叫做衍射限制系统)。因为分辨率是由衍射限度而决定的,那就必须弄明白围绕衍射限度光学的几个概念,包括一致性、衍射、数值孔径、调频和许多重要调节转换性能。下几节的目的就是要简要和基本地介绍这些内容。参考资料1·2讲得更详细。 衍射·一致性·数值孔径和分辨率 图(1):一束空间连续光线经过直的边缘时的光强 a)依据几何光学b)散射

气液分离器的原理

气液分离器采用的分离结构很多,其分离方法也有: 1、重力沉降; 2、折流分离; 3、离心力分离; 4、丝网分离; 5、超滤分离; 6、填料分离等。 但综合起来分离原理只有两种: 一、利用组分质量(重量)不同对混合物进行分离(如分离方法 1、2、3、6)。气体与液体的密度不同,相同体积下气体的质量比液体的质量小。 二、利用分散系粒子大小不同对混合物进行分离(如分离方法4、5)。液体的分子聚集状态与气体的分子聚集状态不同,气体分子距离较远,而液体分子距离要近得多,所以气体粒子比液体粒子小些。 一、重力沉降 1、重力沉降的原理简述 由于气体与液体的密度不同,液体在与气体一起流动时,液体会受到重力的作用,产生一个向下的速度,而气体仍然朝着原来的方向流动,也就是说液体与气体在重力场中有分离的倾向,向下的液体附着在壁面上汇集在一起通过排放管排出。 2、重力沉降的优缺点 优点: 1)设计简单。 2)设备制作简单。

3)阻力小。 缺点: 1)分离效率最低。 2)设备体积庞大。 3)占用空间多。 3、改进 重力沉降的改进方法: 1)设置内件,加入其它的分离方法。 2)扩大体积,也就是降低流速,以延长气液混合物在分离器内停留的时间。 1)设计简单。 2)设备制作简单。 3)阻力小。 缺点: 1)分离效率最低。 2)设备体积庞大。 3)占用空间多。 3、改进 重力沉降的改进方法: 1)设置内件,加入其它的分离方法。 2)扩大体积,也就是降低流速,以延长气液混合物在分离器内停留的时间。

优点:4、由于气液混合物总是处在重力场中,所以重力沉降也广泛存在。由于重力沉降固有的缺陷,使科研人员不得不开发更高效的气液分离器,于是折流分离与离心分离就出现了。 二、折流分离 1、折流分离的原理简述 由于气体与液体的密度不同,液体与气体混合一起流动时,如果遇到阻挡,气体会折流而走,而液体由于惯性,继续有一个向前的速度,向前的液体附着在阻挡壁面上由于重力的作用向下汇集到一起,通过排放管排出。 2、折流分离的优缺点 优点: 1)分离效率比重力沉降高。 2)体积比重力沉降减小很多,所以折流分离结构可以用在(高)压力容器内。 3)工作稳定。 缺点: 1)分离负荷范围窄,超过气液混合物规定流速后,分离效率急剧下降。 2)阻力比重力沉降大。 3、改进 从折流分离的原理来说,气液混合物流速越快,其惯性越大,也就是说气液分离的倾向越大,应该是分离效率越高,而实际情况却恰恰相反,为什么呢? 究其原因: 1)在气液比一定的情况下,气液混合物流速越大,说明单位时间内分离负荷越重,混合物在分离器内停留的时间越短。 2)气体在折流的同时也推动着已经着壁的液体向着气体流动的方向流动,如果液体流到收集壁的边缘时还没有脱离气体的这种推动力,那么已经着壁的液体将被气体重新带走。在气液比一定的情况下,气液混合物流速越大,气体这种继续推动液体的力将越大,液体将会在更短的时间内

热力喷雾式除氧器的工作原理

热力喷雾式除氧器的工作原理 发布日期:2011-10-09 来源:网络浏览次数:105 热力喷雾式除氧器是一类能够从水中除去氧气的设备。除氧器种类繁多,较重要的大致可分为以气体溶解定律为基础的热力除氧器、真空除氧器、解析除氧器,类似离子交换器的氧化还原树脂除氧器,利用氧与铁发生化学反应的铁屑除氧器等,后二者往往被纳入除氧剂法,但从其除氧作用的方式和必须要有的设备等特征来看,归入除氧器法则更为合适。本文为您详细介绍了热力喷雾式除氧器的工作原理。 热力喷雾式除氧器的工作原理 概述: 锅炉给水有严格的要求,首先需要经软化水工艺或除盐水处理,使锅炉受热面内部不结水垢。但是,水中仍含有氧气和其他气体,氧气是一种主要的去极化剂,能造成锅炉设备及热力系统金属面产生腐蚀,这种腐蚀经常是局部性溃疡腐蚀,严重时造成金属壁穿孔,不仅大大降低了锅炉设备的寿命,而且影响锅炉及热力系统的安全性。 给水的除氧是电厂锅炉或工业锅炉防止腐蚀的主要方法。为了确保锅炉安全经济运行,国家颁布的《低压锅炉水质标准》(GB1576-85)中规定,凡是额定蒸发量大于2T/H 的锅炉均要除氧。锐志环保公司设计生产的热力喷雾式除氧器作为驱除锅炉用水中所含的溶解氧的环保设备,能很好地保护锅炉免受氧的腐蚀。 为了防止锅炉系统的氧腐蚀,国内外研制开发的重点在从给水中除去溶解氧,除氧器法是使软化水通过除氧器后再供给锅炉的方法,软化法可有效地防止硬度成分结垢,能否防止氧腐蚀和腐蚀产物结垢,关键要看除氧器的性能 除氧器是一类能够从水中除去氧气的设备。除氧器种类繁多,较重要的大致可分为以气体溶解定律为基础的热力除氧器、真空除氧器、解析除氧器,类似离子交换器的氧化

Nikon光刻机对准系统功能原理

Nikon光刻机对准系统功能原理 投影光刻机对准系统功能原理 1 对准系统简介 对准系统的主要功能就是将工件台上硅片的标记与掩膜版上的标记对准,其标记的对准精度能达到±0.4μm (正态分布曲线的3σ值)。因为一片硅片在一个工艺流程中的曝光次数可能达到30次,而对准精度直接影响硅片的套刻精度,所以硅片的对准精度非常的关键。 由于对准系统对硅片标记的搜索扫描有一定的范围,它在X方向和Y方向都只能扫描±44μm,所以硅片被传送到工件台上进行对准之前,需要在预对准工件台上先后完成两次对准,即机械预对准和光学预对准,以便满足精细对准的捕捉范围。注意:本文所提到的对准都是所谓的精细对准。 PAS2500/10投影光刻机对准系统主要由三个单位部分构成:照明(对准光源)部分,双折射单元和对准单元。这三个单元与掩膜版、硅片、以及投影透镜的相对位置如图1所示,在图中可以看出,对准系统中用了两个完全相同的光路,这是为了满足对准功能的需要。 1.1 对准系统的光学结构和功能 由于对准系统中的两条完全相同,所以在下面的介绍中只详细地阐述了其中的一条光路。在对准系统中,照明部分的主要部件就是激光发射器,它产生波长为633nm的线性极化光,避免在硅片对准的过程中使硅片被曝光(硅片曝光用的光为紫外光)。然后对准激光将通过一系列的棱镜和透镜进入双折射单元,该激光将从双折射单元底部射出,通过曝光的投影透镜照到硅片的标记上;而经过硅片表面的反射后由原路返回,第二次经过双折射单元,由双折射单元的顶部射出,再经过聚焦后对准到掩膜版的标记上。 在对准单元内,硅片的标记图象和掩膜版标记的图象同时通过一个调制器后,将被聚焦到一个Q-CELL光电检测器上。此调制器是用来交替传送两个极化方向的硅片标记图象,Q-CELL光电检测器将对硅片的标记的每个极化方向图象分别产生一个电信号,由此产生的电信号的振幅取决于该极化方向硅片标记的图象与掩膜版标记图象在Q-CELL的显示比例。 硅片上的对准标记如图2所示,标记分为四个象限,每个象限有8μm或8.8μm的对准条,其中有两个象限的对准条用来对准X向,另外两个象限用来对准Y向。而Q-CELL光电检测器的每一个单元对应标记的一个象限,当在Q-CELL检测器的每一个单元中,两个极化方向的标记图象的能量都相等的时候,就表明硅片与掩膜版的标记完全对准了。从图1中可以看到对准光束在经过对准单元的时候被分成了两束,一束激光将通过调制器到达Q-CELL光电检测器,而另一束激光则以视频的形式反馈到操作台。通过操作台上的视频监视器可以直观的看到标记的移动和对准不同标记时位置的相对变化。虽然是两个不同极化方向的硅片标记与掩膜版标记同时对准,但是由于它们是同步的,彼此之间几乎看不到有何不同,所以只有一个极化图象被显示。 1.2 对准系统的电路部分 对准系统的电路部分主要的功能是: 1、产生一个信号去驱动光学调制器。 2、处理Q-CELL光电检测器产生的信号。 光学调制器的驱动:该调制器信号要求频率为50Hz的正弦信号,其振幅要求能满足对最大的Q-CELL检测信号起调制作用。 Q-CELL检测信号的处理:在对准的时候,工件台将首先沿X轴向缓慢地带动E-CHUCK上的硅片移动,进行X轴向对准,当硅片标记上X向光栅与对应的掩膜版上X向光栅对准时,将产生一个对准电信号,该信号以中断信号的形式输入计算机,X向对准的两个象限光栅都将产生其各自的中断信号。当产生中断信号的同时,计算机将记录下此时工件台的位置。在X向对准的时候,一个标记中两个象限的光栅同时参与,在每个象限中光栅条纹之间的间距是一个恒定的常数,但是这两个象限的光栅条纹间距并不相同,如图2所示。在对准扫描的过程中,每一个象限中的每一条光栅条纹都将会产生各自的一个中断信号,由于两个象限的光栅条纹间距不同,所以在扫描的时候只能有一个点将同时产生两个中断信号,而这个点就是在X

内置式除氧器的工作原理

內置式除氧器的工作原理 凝結水從盤式恒速噴嘴噴入除氧器汽空間,進行初步除氧,然後落入水空間流向出水口;加熱蒸汽排管沿除氧器筒體軸向均布,加熱蒸汽通過排管從水下送入除氧器,加熱蒸汽與水混合加熱,同時對水流進行擾動,並將水中的溶解氧及其它不凝結氣體從水中帶出水面,達到對凝結水進行深度除氧的目的;水在除氧器中的流程越長,則對水進行深度除氧的效果越好。 蒸汽從水下送入,未凝結的加熱蒸汽(此時為飽和蒸汽)攜帶不凝結氣體逸出水面流向噴嘴的排氣區域(噴嘴周圍排氣區域為未飽和水噴霧區),在排氣區域未凝結的加熱蒸汽凝結為水、不凝結氣體則從排氣口排出。 不凝結氣體在流向排氣口的流程中,除氧器筒體直徑越大,在水容積一定的情況下,則汽空間不凝結氣體分壓力越小,這樣就能有效控制不凝結氣體在液面的擴散,避免二次溶氧的發生,因此,除氧器筒體採用大直徑為佳。我公司供貨的300MW及以上的內置式除氧器通常採用φ3800的直徑。 內置式除氧器突出特點 設備整機價格低於常規有頭除氧器(300MW及以上機組);節省土建費用:除氧間高度降低3-4米; 排汽損失低:每台機組每年可節省運行費用幾十萬元;負荷變化範圍在10%-110%之間時,均能保證出水含氧量小於5ppb; 單容器結構,系統設計簡單優化,避免應力裂紋,抗震性能優越;重量較輕,低振動;

Stork公司原裝噴嘴,無轉動部件,免維護,性能高度可靠;直徑及介面設計靈活,便於運輸和安裝佈置; 特點 ?高可靠性和實用性 ?講含氧量降低至任意期望的水準。保證在10%-110%的負荷變化範圍內,含氧量遠低於5ppb ?由於水的噴射裝置同時作為一個內置的混合式排汽冷凝器,使得出口蒸汽排放非常低 ?易於控制,可滑壓運行 ?低噪音 ?無游離的CO2(水中的CO2溶入量取決於水的PH值) ?在起動時,除氧器加壓即可獲得除氧水 ?(加熱)蒸汽或汽/水混合物均可作為除氧/加熱介質?水加熱除氧;無需外置的排汽擴容器 ?可直接與自然和強制迴圈鍋爐的蒸發盤管相連接 ?優異的應付緊急情況(如汽輪機突然停機)的能力(除氧器的汽空間起著平衡管線的作用) ?除氧器出力在10-6000t/h,可滿足特殊出力要求 ?噴嘴的調節比至少可達10:1

油气计量分离器原理

第一节 计量站 一、计量分离器 二、量油、测气操作

图5-3 储集管量油示意图 2)测气方法主要有:节流式流量计测气和垫圈流量计测气两种: A)节流式流量计测气(图5-4):V1*A1=V2*A2 气计量公式: 在不精确考虑Fx,Fy,Fz时, 图5-4 测气流程示意图(1-出气管线;2-挡板;3、4-上下流管;5-上流阀;6-下流阀;7-平衡阀;8、9-防空阀;10-U型玻璃管) B)垫圈流量计测气 垫圈流量计由测气短节和“U”形管组成(图5-5),它的下流通大气,下流压力为大气压,上流测出的压差H即为上下流压差。 气量计算公式:

图5-5 垫圈测气原理图 油气分离器的结构工作原理 一、油气分离器的类型和工作要求 1、分离器的类型 1)重力分离型:常用的为卧式和立式重力分离器; 2) 碰撞聚结型:丝网聚结、波纹板聚结分离器; 3) 旋流分离型:反向流、轴向流旋流分离器、紧凑型气液分离器; 4) 旋转膨胀型: 2、对分离器工作质量的要求 1)气液界面大、滞留时间长;油气混合物接近相平衡状态。 2)具有良好的机械分离效果,气中少带液,液中少带气。 二、计量分离器 1、结构:如图所示

1)水包:分离器隔板下面的容积内装有水,其侧下部焊有小水包,小水包中间焊有小隔板,小水包中的水与分离器隔板以下的大水包及玻璃管相连通。 2)分离筒:储存油气混合物并使其分离的密闭圆筒。 3)量油玻璃管:通过闸门及管线,其上端与分离器顶部相通下部与小水包连通,玻璃管与分离筒构成一个连通器供量油用。 4)加水漏斗与闸门:给分离器的水包加水用。 5)出气管:进入分离器的油气混合物进行计量时天然气的外出通道。 6)安全阀:保护分离器,防止压力过高破坏分离器。 7)分离伞:在分离筒的上部,由两层伞状盖子组成。使上升的气体改变流动方向,使其中携带的小液滴粘附在上面,起到二次分离的作用。 8)进油管:油气混合物的进口 9)散油帽:油气混合物进入分离器后喷洒在散油帽上使油气分开,还可稳定液面。 10)分离器隔板:在分离器下部油水界面处焊的金属圆板直径与分离筒内径相同,但边缘有缺口,使其上下连通,其面上为油下面为水,中间与出油管线连通。

光刻机的技术原理和发展趋势

光刻机的技术原理和发展趋势 王平0930******* 摘要: 本文首先简要介绍了光刻技术的基本原理。现代科技瞬息万变,传统的光刻技术已经无法满足集成电路生产的要求。本文又介绍了提高光刻机性能的关键技术和下一代光刻技术的研究进展情况。 关键字:光刻;原理;提高性能;浸没式光刻;下一代光刻 引言: 光刻工艺直接决定了大规模集成电路的特征尺寸,是大规模集成电路制造的关键工艺。作为光刻工艺中最重要设备之一,光刻机一次次革命性的突破,使大模集成电路制造技术飞速向前发展。因此,了解光刻技术的基本原理,了解提高光刻机性能的关键技术以及了解下一代光刻技术的发展情况是十分重要的。本文就以上几点进行了简要的介绍。 光刻技术的基本原理: 光刻工艺通过曝光的方法将掩模上的图形转移到涂覆于硅片表面的光刻胶上,然后通过显影、刻蚀等工艺将图形转移到硅片上。 1、涂胶 要制备光刻图形,首先就得在芯片表面制备一层均匀的光刻胶。截止至2000年5月23日,已经申请的涂胶方面的美国专利就达118项。在涂胶之前,对芯片表面进行清洗和干燥是必不可少的。目前涂胶的主要方法有:甩胶、喷胶和气相沉积,但应用最广泛的还是甩胶。甩胶是利用芯片的高速旋转,将多余的胶甩出去,而在芯片上留下一层均匀的胶层,通常这种方法可以获得优于+2%的均匀性(边缘除外)。胶层的厚度由下式决定: 式中:F T为胶层厚度,ω为角速度,η为平衡时的粘度,ρ为胶的密度,t为时间。由该式可见,胶层厚度和转速、时间、胶的特性都有关系,此外旋转时产生的气流也会有一定的影响。甩胶的主要缺陷有:气泡、彗星(胶层上存在的一些颗粒)、条纹、边缘效应等,其中边缘效应对于小片和不规则片尤为明显。

除氧器除氧的原理

除氧器除氧的原理(热力除氧) 两个必要条件: 1、亨利定律:当液体表面的某种气体与溶解于液体中该气体处于进/正 比:b=KPb/Po ( mg/L ) 当液面上不凝结气体的分压力一直维持零值,小于水中该溶解气体的平衡压力Pb时,该气体就会在不平衡压力差△P的作用下,自水中离析出来。即要及时将液面上的气体排出,使液面上不凝结气体的分压力近似为零。 2、道尔顿定律:混合气体的全压力等于各组成气体的分压力之和,除氧塔空间的总压力P等于水中所溶解各种气体在水面上不凝结气体的分压力Pi与水面上蒸汽分压力Ps之和,即:P=∑Pi ﹢Ps 在除氧器中,将水加热至工作压力下的饱和温度,水逐渐蒸发,水表面的蒸汽压力逐渐增大,近似等于总压力,其它气体的分压力近于或等于零,就可能让水中的各种气体完全析出。 热力除喷雾式氧器 原理:热力除氧的原理是根据气体溶解定律(道尔顿和亨利定律)来除掉水中的溶解氧及CO2等其它气体。 需要除氧的含氧水经过除氧头中的喷嘴雾化成细滴,雾状的水滴在经过填料层落至除氧水贮水箱内。蒸气由下而上流动以加热水滴,被除去的氧气和部分蒸气由顶部排气管排出。与淋水盘式除氧器相比,喷雾式除氧器具有体积小、重量轻、结构简单、维护方便、除氧效果好和对进水温度要求低等优点,因此应用较为广泛。 按照工作压力可将热力除氧器分为低压热力除氧器(工作蒸汽压力为0.02Mpa,水温104℃)和高压热力除氧器(工作蒸汽压力大于0.32Mpa,水温大于145℃)。 内置式除氧器及安全节能分析 2007-6-28 16:42:00 朱志忠供稿收藏 1概要 目前国内电站大多使用传统式除氧器对给水进行除氧,各种教材、资料基本上都是介 绍传统式除氧器的原理及其使用和维护。随着传统式除氧器一些弊端的出现,研究人员 开发了一种新型的内置式除氧器,并在电站中实际应用。尽管还存在一些问题,但这种 除氧器结构新颖、加热速度快、除氧效果好,只要善于使用和维护,仍不失为一种优良 的除氧器。 2内置式除氧器原理 2.1传统除氧器存在的问题

旋风分离器工作原理

旋风分离器的作用 旋风分离器设备的主要功能是尽可能除去输送介质气体中携带的固体颗粒杂质和液滴,达到气固液分离,以保证管道及设备的正常运行。 工作原理 净化天然气通过设备入口进入设备内旋风分离区,当含杂质气体沿轴向进入旋风分离管后,气流受导向叶片的导流作用而产生强烈旋转,气流沿筒体呈螺旋形向下进入旋风筒体,密度大的液滴和尘粒在离心力作用下被甩向器壁,并在重力作用下,沿筒壁下落流出旋风管排尘口至设备底部储液区,从设备底部的出液口流出。旋转的气流在筒体内收缩向中心流动,向上形成二次涡流经导气管流至净化天然气室,再经设备顶部出口流出。 性能指标 分离精度旋风分离器的分离效果:在设计压力和气量条件下,均可除去≥10μm的固体颗粒。在工况点,分离效率为99%,在工况点±15%范围内,分离效率为97%。压力降正常工作条件下,单台旋风分离器在工况点压降不大于0.05MPa。设计使用寿命旋风分离器的设计使用寿命不少于20年。 结构设计 旋风分离器采用立式圆筒结构,内部沿轴向分为集液区、旋风分离区、净化室区等。内装旋风子构件,按圆周方向均匀排布亦通过上下管板固定;设备采用裙座支撑,封头采用耐高压椭圆型封头。设备管口提供配对的法兰、螺栓、垫片等。通常,气体入口设计分三种形式:a) 上部进气b) 中部进气c) 下部进气对于湿气来说,我们常采用下部进气方案,因为下部进气可以利用设备下部空间,对直径大于300μm或500μm 的液滴进行预分离以减轻旋风部分的负荷。而对于干气常采用中部进气或上部进气。上部进气配气均匀,但设备直径和设备高度都将增大,投资较高;而中部进气可以降低设备高度和降低造价。 应用范围及特点

制冷系统中油分离器结构及工作原理

制冷系统中油分离器结构及工作原理 一、油分离器与集油器 (一)油分离器的作用 在蒸汽压缩式制冷系统中,经压缩后的氨蒸汽(或氟利昂蒸汽),是处于高压高温的过热状态。由于它排出时的流速快、温度高。汽缸壁上的部份润滑油,由于受高温的作用难免成油蒸汽及油滴微粒与制冷剂蒸汽一同排出。且排汽温度越高、流速越快,则排出的润滑油越多。对于氨制冷系统来说,由于氨与油不相互溶,所以当润滑油随制冷剂一起进入冷凝器和蒸发器时会在传热壁面上凝成一层油膜,使热阻增大,从而会使冷凝器和蒸发器的传热效果降低,降低制冷效果。据有关资料介绍在蒸发表面上附有0.1mm油膜时,将使蒸发温度降低2.5℃,多耗电11~12%。所以必须在压缩机与冷凝器之间设置油分离器,以便将混合在制冷剂蒸汽中的润滑油分离出来。总结起来,油分离器的主要作用有: 1.确保润滑油返回到压缩机储油槽中,防止压缩机由于润滑油的缺乏而引起故障,延长压缩机适用寿命。 2.流动速度减小和流动方向变化的互相作用引起润滑油的聚集,这样在高温下分离出来的润滑油被集中收集,并自动返回到曲轴箱中,提高效率。 3.防止压缩机产生液击。 4.更好的发挥冷凝器和蒸发器的效率。 5.减小系统高压端的震动和噪音。 6.同时这些特点还可以会使得系统的电费用降低。 (二)油分离器的工作原理 大家都知道,汽流所能带动的液体微粒的尺寸是与汽流的速度有关。若把汽流垂直向上运动产生的升力与微粒的重量相平衡时的汽流速度称为平衡速度,并用符号ω表示。则显然当汽流速度等于平衡速度时,则微粒在汽流中保持不动;如果汽流速度大于平衡速度时则将微粒带走;而当汽流速度小于平衡速度,微粒就会跌落下来,从而使油滴微粒制冷剂汽流中分离出来。 油分离器的基本工作原理主要就是利用润滑油和制冷剂蒸气的密度不同;以及通道截面突然扩大,气流速度骤降(油分离器的筒径比高压排气管的管径大3~15倍,使进入油分离器后蒸气的流速从原先的10~25m/s下降至0.8~1m/s);同时改变流向,使密度较大的润滑油分离出来沉积在油分离器的底部。或利用离心力将油滴甩出去,或采用氨液洗涤,或用水进行冷却降低汽体温度,使油蒸汽凝结成油滴,或设置过滤层等措施来增强油的分离效果。 (三)油分离器的形式和结构目前常见的油分离器有以下几种:洗涤式、离心式、过滤式、及填料式等四种结构型式,下面分述它们的结构及工作原理。 1、洗涤式油分离器 洗涤式油分离器适用于氨系统,它的主体是钢板卷焊而成的圆筒,两端焊有钢板压制的筒盖和筒底。进汽管由筒盖中心处伸入至筒下部的氨液之内。进气管的下端焊有底板,管端

除氧器工作原理

除氧器的工作原理 一、概述 除氧器的主要作用是除去给水中的氧气,保证给水的品质。水中溶解了氧气,就会使与水接触的金属腐蚀;在热交换器中若有气体聚集就会妨碍传热过程的进行,降低设备的传热效果。因此水中溶解有任何气体都是不利的,尤其是氧气,它将直接威胁设备的安全运行。 除氧器本身又是给水回热系统中的一个混合式加热器,同时高压加热器的疏水、化学补水及全厂各处水质合格的疏水、排气等均可通入除氧器汇总并加以利用,减少发电厂的汽水损失。当水和某种气体混合物接触时,就会有一部分气体融解到水中去。气体的溶解度就是表示气体溶解于水中的数量,以毫克/升计值,它和气体的种类以及它在水面的分压力、和水的温度有关。在一定的压力下,水的温度越高,气体的溶解度就越小;反之,气体的溶解度就越大。同时气体在水面的分压力越高,其溶解度就越大,反之,其溶解度也越低。天然水中常含有大量溶解的氧气,可达10毫克/升。汽轮机的凝结水可能融有大量氧气,因为空气能通过处于真空状态下的设备不严密部分渗入进去.此外,补充水中也含有氧气及二氧化碳等其他气体。液面上气体混合物的全压力中,包括有液体蒸汽的分压力.将水加热时,液面附近水蒸气的分压力就会增加,相应的液面附近其他气体的分压力就会降低.当水加热到沸点时,蒸汽的分压力就会接近液面上的全压力,此时液面S J E E A G Q I

上其他气体的分压力几乎接近于零,于是这些气体将完全自水中清除出去。要达到这一点,不仅要将水加热到沸点,还要使液面上没有这些气体存在,即将逸出的气体随时排走。除氧器的工作原理即利用蒸汽对水进行加热,使水达到一定压力下的饱和温度,即沸点。这时除氧器的空间充满着水蒸汽,而氧气的分压力逐渐降低为零,溶解于水的氧气将全部逸出,以保证给水含氧量合格。在高参数的电厂,一般采用0.59兆帕的除氧器.这样可以减少价格昂贵而运行不十分可靠的高压加热器的数目,至少可以减少一台。高参数的锅炉给水温度一般为230~250摄氏度。采用高压除氧器,在机组高压加热器故障停用时,进入锅炉的给水温度仍可以维持在150~160摄氏度,这样对锅炉的运行影响就可以小一点。此外,提高锅炉除氧器的压力,可以避免凝结水进入除氧器时产生沸腾现象,后者会使水泵进口产生汽蚀,这对水泵是不允许的。 二、结构介绍 N125-135/550/550型机组采用的除氧器为0.59兆帕、225吨/时的喷雾式除氧器,其结构如图所示。它有两根凝结水进水管3,每根进水管上有21只喷嘴每只喷嘴在进水压降0.098兆帕时,喷水量为6吨/时;另设两根补水管14,每根补水管有10只喷嘴,每只喷嘴在进水压降为0.098兆帕时,喷水量为2吨/时。喷嘴喷出的雾状水滴均向上部空间,与二次蒸汽混合加热,然后被加热的滴落至下部蒸汽喷盘7中。蒸汽也分两路进入除氧器。一路从下部蒸汽管道入口4进入蒸汽喷盘,与头部落下来的水接触,使水受到第二次加热,然后从盘中溢出,流入水S J E E A G Q I

锅炉结构及工作原理

锅炉结构及工作原理锅炉结构及工作原理锅:是指锅炉的水汽系统,由汽包、下降管、联箱、水冷壁、过热器和省煤器等设备组成。(1)锅的任务是使水吸热,最后变化成一定参数的过热蒸汽。其过程是:给水由给水泵打入省煤器以后逐渐吸热,温度升高到汽包工作压力的沸点,成为饱和水;饱和水在蒸发设备(炉)中继续吸热,在温度不变的情况下蒸发成饱和蒸汽;饱和蒸汽从汽包引入过热器以后逐渐过热到规定温度,成为合格的过热蒸汽,然后到汽轮机做功。汽包:汽包俗称锅筒。蒸汽锅炉的汽包内装的是热水和蒸汽。汽包具有一定的水容积,与下降管,水冷壁相连接,组成自然水循环系统,同时,汽包又接受省煤器的给水,向过热器输送饱和蒸汽;汽包是加热,蒸发、过热三个过程的分解点。 下降管:作用是把汽包中的水连续不断地送入下联箱,供给水冷壁,使受热面有足够的循环水量,以保证可靠的运行。为了保证水循环的可靠性,下降管自汽包引出后都布置在炉外。 联箱:又称集箱。一般是直径较大,两端封闭的圆管,用来连接管子。起汇集、混合和分配汽水保证各受热面可靠地供水或汇集各受热面的水或汽水混合物的作用。(位于炉排两侧的下联箱,又称防焦联箱)水冷壁下联箱通常都装有定期排污装置。 水冷壁:水冷壁布置在燃烧室内四周或部分布置在燃烧室中间。它由许多上升管组成,以接受辐射传热为主受热面。作用:依靠炉膛的高温火焰和烟气对水冷壁的辐射传热,使水(未饱和水或饱和水)加热蒸发成饱和蒸汽,由于炉墙内表面被水冷壁管遮盖,所以炉墙温度大为降低,使炉墙不致被烧坏。

而且又能防止结渣和熔渣对炉墙的侵蚀;筒化了炉墙的结构,减轻炉墙重量。水冷壁的形式:1.光管式2.膜式 过热器:是蒸汽锅炉的辅助受热面,它的作用是在压力不变的情况下,从汽包中引出饱和蒸汽,再经过加热,使饱和蒸汽成为一定温度的过热蒸汽。 省煤器:布置在锅炉尾部烟道内,利用烟气的余热加热锅炉给水的设备,其作用就是提高给水温度,降低排烟温度,减少排烟热损失,提高锅炉的热效率。 减温装置:保证汽温在规定的范围内。汽温调节:1、蒸汽侧调节(采用减温器)2、烟气侧调节(采用摆动式喷燃器)炉炉就是锅炉的燃烧系统,由炉膛、烟道、喷燃器及空气预热器等组成。工作原理:送风机将空气送入空气预热器中吸收烟气的热量并送进热风道,然后分成两股:一股送给制粉系统作为一次风携带煤粉送入喷煤器,另一股作为二次风直接送往喷煤器。煤粉与一、二次风经喷燃器喷入炉膛集箱燃烧放热,并将热量以辐射方式传给炉膛四周的水冷壁等辐射受热面,燃烧产生的高温烟气则沿烟道流经过热器,省煤器和空气预热器等设备,将热量主要以对流方式传给它们,在传热过程中,烟气温度不断降低,最后由吸风机送入烟囱排入大气。 炉膛:炉膛是由一个炉墙包围起来的,供燃料燃烧好传热的主体空间,其四周布满水冷壁。炉膛底部是排灰渣口,固态排渣炉的炉底是由前后水冷壁管弯曲而形成的倾斜的冷灰斗,液态排渣炉的炉底是水平的熔渣池。炉膛上部是悬挂有屏式过热器,炉膛后上方烟气流出炉膛的通道叫炉膛出口。 空气预热器:是利用锅炉排烟的热量来加热空气的热交换设备。它是装在锅炉尾部的垂直烟道中。

nikon光刻机

光刻机就是一台大照相机,带光刻胶的wafer就是底片,reticle上的图形就是风景,光源(汞灯或者激光)就是太阳光,当快门打开,光投射到reticle上,经过镜头的投射,就在wafer上成像了。和照相机不一样,每个风景只要拍一次就好了,reticle上的图形要拍很多次,要把整个wafer布满才算曝光结束。 从我熟悉的nikon光刻机说起:NIKON曾经是半导体行业的光刻之王,全世界80%的stepper都是nikon的,但是光刻机并不是日本人最先发明的,最早的大概是美国的GCA了,NIKON顶多算是GCA儿子。日本人是比较精明,他们买了一台GCA,把它拆开来仔细研究,在GCA的基础上进行了改进,再加上自己的优势->镜头(NIKON本来是军工企业,给小日本做潜艇望远镜的),推出了G4 (G4是我所知道的最老的型号的NIKON stepper了,不知道有没有G1-G3,如果有,我相信保有量也不是特别大,应该不是特别成熟)。紧接着G6, G7和G8的推出,把NIKON推入到巅峰时刻。那个时候全世界只知道NIKON,ASML和Canon 那时候根本不是对手。可以说在stepper上,NIKON是最大的赢家。随着技术的推进,stepper 已经跟不上时代的发展,大家开始往scanner上发展了,随着ASML推出创新的TWINSCAN,靠着产能的优势,一举打败了nikon,夺走了光刻机老大的地位,而且从那以后,NIKON一直没能翻身,市场被一点点蚕食,再也没有往日的辉煌了。 聊了一点历史,有些也是道听途说,不过大部分应该是真的,如果哪位兄弟了解得更详细,可以分享出来,让大家长长见识。CANON没接触过,据说12寸的STEPPER比较有市场,HYNIX用的就是CANON+ASML。 NIKON光刻机的主要组成部分:其实大部分光刻机组成都是一样的,一般分为:照明系(光源+产生均匀光的光路),STAGE(包括RETICLE STAGE和WAFER STAGE),镜头(这个是光刻机的核心),搬送系(wafer handler+ reticle handler),alignment (WGA, LSA, FIA)。另外半导体的工作温度是23度,要保证wafer在恒温和无particle的环境,一个chamber是必须的。 下面就是说一说各个组成部分怎么来进行工作的,可能有些地方说的不对,毕竟有一段时间没有去搞过它了,希望各位谅解。 照明系:顾名思义,用来照明的系统,光刻机的原理就是用光来投射到reticle上产生衍射,然后镜头收集到光汇聚到wafer上,形成图形,所以光是产生图形的必要条件。具体请翻阅一些工艺的相关资料,在这就不多说了。要有光首先要有光源,一般stepper都是用汞灯做光源,最早有1kw,2kw到最后发展到了5kw,越来越恐怖。后来为了提高分辨率,采用了新的光源:laser,分为Krf(248nm)和Arf(193nm),laser也是不断在增加功率,现在最高的可以达到60kw级别了(相当恐怖的激光能量)。为什么要发展大功率的汞灯和激光呢?这是产能的需求,在相同的曝光量下,光源的功率越高,曝光需要的时间越少,这样单位时间里面产能越高。 汞灯发出的光向各个方向扩散,我们需要把光汇聚起来,打到大光强的目的,这时候一个椭圆镜是必须的了。我们知道椭圆有两个焦点,我们把光源放到一个焦点上,那么光就会聚到另外一个焦点上,那就是快门的位置。同时这个椭圆镜还有另外一个功能,吸收不需要的光线。这种镜子上有一层涂层,一般500nm以上的红外光不被反射,而是被吸收。这些光会被产生热量,所以装汞灯的地方一定需要一个散热的东西,功率小一点的就用风扇吹,功率大的话就水冷了。 反射出来的光也不是全部需要的,我们只需要365nm(I-line)或者436nm(G-line)的波长,别的波长的光也是要淘汰的,这时候filter就上场了,它的作用就是过滤掉不要的东西,只让需要的波长的光通过。 激光作为光源就不需要上面的这些东西了,因为从激光器里面出来的光已经是很纯的

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