文档库 最新最全的文档下载
当前位置:文档库 › STM32F1XX内置ADC性能比较测试

STM32F1XX内置ADC性能比较测试

STM32F1XX内置ADC性能比较测试
STM32F1XX内置ADC性能比较测试

STM32F1XX内置ADC性能比较测试

测试条件:

1、芯片:STM32F103RBT6 1M采样率,使用通道9,使用DMA通道1。

2、测试电压,使用电阻分压,短时电压比较稳定。

3、低速指ADC时钟为2Mhz.高速时钟指ADC时钟为12MHZ。

4、过采样是指对取得的ADC值进行空间域的累加平均。

5、累加是指对取得值进行时间域的累加平均。

6、1cycle1、55cycle指采样速率,实际值1cycle15、55cycle5.请参考固件手册。

7、双击下面的测试图,有EXCEL表格与之对应,其中有详细的测量数据。

8、以上测试,只限本次本环境本芯片进行的精略测试,不具备权威性,不对ST官方负责,

只是为广大工程师提供一个量化的概念,有助于选型。

9、

集成电路测试

第一章 集成电路的测试 1.集成电路测试的定义 集成电路测试是对集成电路或模块进行检测,通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较,以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程,是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 .2.集成电路测试的基本原理 输入Y 被测电路DUT(Device Under Test)可作为一个已知功能的实体,测试依据原始输入x 和网络功能集F(x),确定原始输出回应y,并分析y是否表达了电路网络的实际输出。因此,测试的基本任务是生成测试输入,而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器件,并分析其输出的正确性。测试过程中,测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测器件的原始输入管脚,第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应,最后经过分析处理得到测试结果。 3.集成电路故障与测试 集成电路的不正常状态有缺陷(defect)、故障(fault)和失效(failure)等。由于设计考虑不周全或制造过程中的一些物理、化学因素,使集成电路不符合技术条件而不能正常工作,称为集成电路存在缺陷。集成电路的缺陷导致它的功能发生变化,称为故障。故障可能使集成电路失效,也可能不失效,集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能,称为集成电路失效。故障和缺陷等效,但两者有一定区别,缺陷会引发故障,故障是表象,相对稳定,并且易于测试;缺陷相对隐蔽和微观,缺陷的查找与定位较难。 4.集成电路测试的过程 1.测试设备 测试仪:通常被叫做自动测试设备,是用来向被测试器件施加输入,并观察输出。测试是要考虑DUT的技术指标和规范,包括:器件最高时钟频率、定时精度要求、输入\输出引脚的数目等。要考虑的因素:费用、可靠性、服务能力、软件编程难易程度等。 1.测试界面 测试界面主要根据DUT的封装形式、最高时钟频率、ATE的资源配置和界面板卡形等合理地选择测试插座和设计制作测试负载板。

各种测试的网址

气质测试 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/test/temper.htm 一个著名的心理测试 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1091846/ 自卑感与抑郁症测试 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/xlcs/zy05.htm 强迫症与自主性测试 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/xlcs/zy06.htm 疑病症与自罪感 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/xlcs/zy07.htm 哈佛大学的心理学课题 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1136151/ 心理年龄自测 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/xlcs/zy32.htm 心理健康测试 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1252250/ HAMD抑郁症专业量表 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1221272/ 抑郁测试(通俗易懂版) https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1983675/ 疲劳自测 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1370835/ 你留给人的第一印象如何 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1115645/ 分辨真爱和迷恋. https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1356999/

辨别你的天生情人,找到最适合你的恋爱方案 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1525914/ 专业心理学量表测试:你的性别角色类型(心理性别) https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1503960/ 测试一下你是偏男性女性还是中性? https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1157883/ 你是哪類思考型人? https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1672153/ SCL90症状自测 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1680774/ >>人格倾向测试 九型人格测试题 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1183043/ 艾森克人格问卷 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1288104/ 费尔人格测试 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1367273/ 凯尔西16人格测试,非常专业。 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1493774/ 香港作词人黄伟文推荐的性格测验 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1488575/ 辨別自己的性格類型 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1795955/ >>职业倾向 MBTI职业倾向测验-问卷及分析 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1197094/(PDF阅读格式) https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1439295/(网页测试版) 职业性格测量 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,/group/topic/1299821/

芯片测试规范

测试规范 1.适用范围 1.1本规范为导入DDR芯片的测试方法和标准,,以验证和确认新物料是否适合批量生 产;. 2.目的 使开发部门导入新的关键器件过程中有章可循,有据可依。 3.可靠性测试 :如果替代料是FLASH的话,我们一般需要做10个循环的拷贝校验(我们测试工具APK设置:500M/拷贝次数/重启10次) :如果替代料是DDR的话,我们也需要验证DDR的运行稳定性,那么也需要做循环拷贝校验(测试工具APK设置:500M/拷贝次数/重启5次) PS:1.拷贝次数=(FLASH可用容量*1024M/500M)-1 验证只需要验证运行稳定性,所以一般做3-5个循环就OK了,FLASH要求比较严格,一般需要做10个循环以上; 3.考虑到FLASH压力测试超过20次以上可能会对MLC造成影 响,故对于验证次数太多的机器出货前需要更换。 7.常温老化:PND我们一般跑模拟导航持续运行12H,安卓我们一般运行MP4-1080P持续老化12H,老化后需要评估休眠唤醒是否正常; 8.高低温老化:环境(60度,-10度) 基于高低温下DDR运行稳定性或存在一定的影响,DDR替代需要进行高低温老化,我们PND一般运行模拟导航、安卓因为运行模导不太方便,就运行MP4各持续老化12H。 从多年的经验来看,FLASH对于温度要求没有这么敏感。 9.自动重启测试:一般做50次/PCS,需要每次启动系统都能正常启动;-- 一般是前面恢复出厂设置有问题,异常的机器排查才会用到;

10.复位、通断电测试:这个测试属于系统破坏性测试,测试非正常操作是否 存在掉程序的现象,一般做20次/PCS,要求系统能够正常启动。 1.焊接效果,如果是内部焊接的话,需要采用X-RAY评估,LGA封装的话就 需要SMT制程工艺规避空洞率; 2.功能测试; 3.休眠电流、休眠唤醒测试:DDR必测项目,反复休眠唤醒最好3-5次/PCS,休眠电流大小自行定义;FLASH测不测影响不大; 4.容量检查,容量标准你们根据客户需求自行定义,当然是越大越好;--大 货时这一点最好提供工具给到阿杜随线筛选; 5.恢复出厂设置:我们一般做50次/PCS,运行正常的话界面会显示50次测 试完成,如果出现中途不进主界面、死机等异常现象就需要分析问题根源; 压力测试:这部分需要分开来说明 4.测试环境 温度:25±2℃ 湿度:60%~70%; 大气压强:86kPa ~106kPa。 5.测试工具 可调电源(最好能显示对应输出电流) 可调电子负载 示波器

计算机信息管理专业的入口测试

鼎捷软件股份有限公司Digiwin Software Co. ltd. 华中总部:中国武汉市武昌区中南路9号中商广场21楼邮编:4300071 电话Tel:(027) 87265305 传真Fax:(027) 87265308 https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html, 计算机信息管理专业入口测试卷 1.解释名词(10分) (1)CRM (2) SCM (3) MIS (4) ERP CRM:客户关系管理 SCM:供应链关系管理 MIS:管理信息系统 ERP:企业资源计划 2.若您负责ERP项目的导入,请简述您对此项目将采取的实施过程为何? (15分) 答:(1)方案的制定:首先要对系统做详细的调研,确定实施目标,界定实施范围和实施顺序,写出系统调研报告。 (2)项目的组织和协调:要了解和熟悉本项目实施小组每个成员的特点,根据其特长,安排到合理的工作岗位,充分发挥小组每个成员的积极性,保证项目的顺利进行。 (3)进度管理等方面的内容:在实施的过程中不断检查流程,针对具体流程发生的意外状况,及时的提出解决方案,保证每个流程顺利进行。 3.对于ERP项目培训辅导的过程中,遭以下问题,您会如何处理? (15分) (1)对同一件事,不同部门持不同意见时 答:认真的听取每个人的意见,先赞同他们的思想,然后找到他们意见的相同点,尽量促使他们的意见与公司统一保证一致。 (2)对系统的导入,有排斥或不配合的的人员时 答:①听取双方的意见,对彼此现有一定的认识,找出他们意见的出发点;

https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html, ②结合市场外部和公司内部的实际情况,和他们共同分析,尽量的磨合, 用自己的思维引导他们与公司的战略发展目标保持一致; ③最终将确定的意见提交给公司经理审核,然后下达执行。 4.您认为如何成为一个称职的ERP套装应用软件导入的顾问师? (10分) 答:(1)要充分整理和挖掘客户的需求; (2)进行相应的业务分析和设计。 5、SQL测试:(25分) 0) [档案架构] Table代码:COPTA Table代码:COPTB Table名称:报价单单头档 Table名称:报价单单身档 PRIMARY Key :TA001+TA002 PRIMARY Key:TB001+TB002+TB003 --------------------------------- ------------------------------------ TA001 报价单别 <--对应之Key--> TB001 报价单别 TA002 报价单号 <--对应之Key--> TB002 报价单号 TA003 报价日期 TB003 序号 TA004 客户代号 TB004 品号 TA005 业务人员 TB005 品名 1) 问题我想找出单别为‘A001’之报价单单头文件资料,请问我 SQL 要如何下 ? 答案select * from COPTA where TA001='A001' 2) 问题我想新增一笔报价单单头文件资料,请问我 SQL 要如何写? 资料内容如下: 报价单别=’A001’ 报价单号=’890101000001’ 报价日期=’20000101’ 客户代号=’B001’ 业务人员=’007’ 答案insert into COPTA(TA001,TA002,TA003,TA004,TA005)

VoLTE检验测试终端使用指导

VOLTE测试终端使用指导 一、终端的初始设置 目前商用测试以高通MSM8974芯片的终端为主,常用的包括Sony Z2、HTC M8t、Samsung S5等。 以上测试终端已实现VoLTE的支持,相关IMS域配置已烧录,无需手工配置,对测试者/用户而言,由于IMS及PS处理已隐去,呼叫操作与CS呼 叫无异。 测试前,需完成终端、PC、软件之间的配置及对接,此处以HTC M8t 为例,简述步骤如下: 1. 终端端口的开启 HTC默认端口关闭,需在“应用程序→HTC SSD Test Tool→Control Diag Port/ Control Modem中选择enable开启”,终端每次重启后都必须进行开启 操作:

2. 终端驱动安装 终端通过USB连接PC后,设备管理器将检测到多个未知端口,右键选择更新驱动,并选择驱动存放路径即可,需注意每个未知端口都要完成更新。 1、终端连接PC后,设备管理器显示未知端口: 2、驱动安装后,Diag Port及Modem已识别:

3. 关停终端的LOG采集 终端与CDS、鼎利、QXDM等软件对接时,需关停终端内部的Log采集,否则软件无法抓取终端信令,可在“应用程序→HTC SSD Test Tool→QXDM Logger”中关停(终端每次重启后都必须进行如下操作): 点击Disable DQ: 去掉图中红圈内的小勾:

4. 网络类型选择 根据测试需要,可以在“应用程序→HTC SSD Test Tool→Network Type Switch”中选择锁定LTE、2G/3G/4G自动等方式,一般VoLTE基本语音测 试选择锁定LTE,而eSRVCC、CSFB等选择2G/3G/4G自动。

测试终端步骤

测试终端步骤 概述 在各地现场,存在着很多未测试的集中器在接入到主站环境的时候,遇到了很多问题,如终端对F161二类数据将费率个数设置为默认值,但是主站无法解析;如招测一类数据组合的时候,终端直接上送否认报文;或是终端对于多功能项多测量点组合招测不支持等情况,结合到测试的实际情况,测试终端步骤如下: 第一章:在网页中挂集中器 第一点:测试集中器 新接要测试的终端,在网关机上上线,之后,若可以查到终端的上线信息,则可以接入测试。否则,需要等到终端在网关机上上线才可以测试。 通过VNC登陆到某个前置机或是其他带有guimock配置的机器,首先检查guimock配置是否正确。登陆徐旭亮界面,在准备测试的时候,对于一个终端来说,最为关注的是

r_tmnl_run这张表,在r_tmnl_run表中对终端进行配置,然后将r_tmnl_run这张表单表下装。在界面中查询到终端是否下装到缓存中,输入终端对应的资产号(资产号从下面第二步r_tmnl_run中取得)。查询到有此终端地址的记录表示终端可以准备测试了。 下面介绍知道了某个具体的终端地址,可以将该终端添加到左边树中,之后在网页上对终端测试。如测试某个终端的地址为‘07550001’ 第一步查询得到将终端下挂的地市的代码 select * from o_org o where https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,_name like'景德镇%'----36402 得到景德镇的区域代码为“36402” 第二步配置r_tmnl_run表 因为知道要测试的终端地址(可以通过手工的方法调试查看终端参数) 此时,需要修改r_tmnl_run表中的参数。 select * from r_tmnl_run run where run.terminal_addr='07550001' 如果未做修改,在查询该表的时候,这行记录为空。 此时,需要使用下面的SQL语句 select * from r_tmnl_run run for update 可以选择到某一行,直接复制到要更新的一行中,打开编辑的

测试过程检查表实用.doc

1. 测试请求管理过程检查表 检查点是否达标评审者填写 评审者意见 Y N NA 1是否在请求测试服务时 提交了《测试服务申请 单》? 2对于项目类测试服务, 是否在需求评审阶段就 提交了《测试服务申请 单》? 3对于项目类任务的测试 请求,是否同时提交了 《开发计划书》? 4《测试服务申请单》是 否经过审核并填写了审 核意见? 5对于项目类任务的测试请 求,是否使用《测试工作 量估算表》进行了测试工 作量估算? 2.测试计划流程检查表 检查点是否达标评审者填写 评审者意见 Y N NA 1测试组长有没有获取相关的 测试依据,如开发计划书、 技术方案,项目计划等文 档? 2测试组长有没有根据测试 依据确定系统中可测试的 范围和不做测试的范围?

检查点是否达标评审者意见 Y N NA 3测试组长有没有定义针对 可测内容的测试方法,测试 技术、用到的测试工具,发 现与组织级测试策略不一 致的地方,并采取了相应的 应对策略? 4测试组长是否定义了测试 的进入 /退出 /中断 / 继续标 准? 5测试组长是否列出了测试 产品列表? 6测试组长是否定义了测试 活动的 WBS(工作分解) ? 7测试组长是否定义了测试 活动不同阶段的里程碑? 8测试组长是否列出了测试 阶段和测试活动生命周期? 9测试组长是否确立了估算的 假设条件,并对估算结果 进行记录? 10测试组长在编写测试计划之 前,是否有测试进度表,是 否已经识别了与测试相关的 项目风险 ? 11测试计划中是否定义出了 测试活动中相关的干系人? 12测试计划中是否包含了测 试风险、沟通、跟踪与监控 等内容? 13在测试计划完成后,同行 ( peer)是否从充分性和 符合测试标准的角度对此计 划进行评审和检查? 14测试组长是否和测试活动 干系人一起定期对测试计 划进行复审,找出偏离内 容?

系统测试全过程

我一直感觉系统测试总像马拉松总是测试不完,什么时候上线,什么时候算终点。虽然提交客户了,可是对于质量仍然心里没底,对于测试的效果没有评价的依据。后来经过高人指点,终于领悟到至关重要的精髓:明确测试目标! 如果要将系统进行全面测试,那么就要有一套完整的测试阶段,每个阶段都以测试目标为标准,科学、有序地进行测试,那么测试效率也就会自然而然跟着提高。 测试阶段分为:测试前准备、需求分析、测试计划、测试设计、测试执行、测试结果。 1.测试前准备阶段 主要是相关业务的学习。业务知识是测试的根本依据,只有业务过关了,以后才能有效的进行测试工作。 了解业务步骤: a、了解业务名词; b、对现有系统的学习:功能点、业务场景等; c、分析现有系统数据库,了解数据的走向。 2.需求分析阶段 需求是项目开发的基础,也是测试的依据。所以需求分析一定要做。但是很多公司是没有详细的需求文档的,那如何进行需求分析呢? 此时分析数据库就是一个非常好的方法: a、每张表的索引和约束条件; b、数据的来源、走向; c、数据的存储、变化; d、数据间的关联; e、表与表间的关系; 这些分析都可以为了解业务场景和之后的测试用例设计打好基础。 3.测试计划阶段 我们总是觉得被测试进度紧逼、计划失控、测试不完全等等状态,其实解决这些情况的最好方法就是:制定测试目标。

在计划初期先明确测试目标,制定不同层次目标的执行标准,指导后期设计不同级别的测试用例,跟踪不同级别的缺陷修改。在测试时间较紧情况下,至少可以先把保证所有功能正常操作的最低目标版本先提交给客户,不会再有手忙脚乱,心里没底的状况。 测试目标分为: 最低目标 基本目标 较高目标 最高目标等级别 可以使用表格形式来规范目标准侧,例如: 测试目标准则表 目标 测试范围 需求覆盖率 最低目标:正常的输入+正常的处理过程,有一个正确的输出 (明确的功能点全部列出来) 1.功能: 正常功能 异常功能 单功能 业务场景 非功能:16种测试类型 2.输入覆盖率: 有效无效 处理过程:基本流 备选流

测试软件及测试终端差异性研究分析

测试软件及测试终端差异性研究分析 1.概述在当前LTE日常优化中,电信使用的测试工具以CDS、ATU、鼎立为主,设备厂家以各自公司开发的测试工具为主,不同测试工具输出的指标也各不相同。本案例是通过对华为PROBE、电信CDS、电信ATU三种常用测试设备,以DT和CQT手段评估相同终端不同软件的差异性和不同终端相同软件的差异性;以便为日常优化和评测树立标准化尺度和度量衡。 2.测试原理和方法CDS软件ABM抽样测试:基于UDP业务的测试,下载测试和上传测试采用抽样带宽方式,在每1S内,仅在联系的100ms时间内进行UDP传输。测试过程中如果脱离LTE网络,抽样测试停机采样,终端回到休眠状态。上传/下载分别在统一终端分时隙进行测试;当拨号连接异常终端后,间隔10S后重新发起连接。1)如果是认为原因导致拨号中断,拨号异常中断前的采样点和时间纳入统计;2)测试过程中如果因网络问题超过30S应用层无任何数据传输,需断开网络连接,该数据传输过程的最后30S不纳入LTE速率统计; Probe软件测试:Probe软件采用FTP软件进行上传/下载测试。上传/下载分别进行测试;ATU软件PBM测试:PBM抽样测试:基于UDP业务的测试,下载测试和上传测试采用抽样带宽方式,在每1S内,仅在联系的100ms时间内进行UDP传输。测试过程中如果脱离LTE网络,抽样测试停机采样,终端回到休眠状态。上传/下载分别在统一终端分时隙进行测试;当拨号连接异常终端后,间隔15S后重新发起连接。1)如果是认为原因导致拨号中断,拨号异常中断前的采样点和时间纳入统计;2)测试过程中如果因网络问题超过30S应用层无任何数据传输,需断开网络连接,该数据传输过程的最后30S不纳入LTE 速率统计; 测试设备: 3.测试软件及测试终端纵横对比3.1.不同测试软件测试结果分析 3.1.1.CQT测试Probe和CDS差异性(-X表示次数) 测试方法:利用同一台电脑分别用CDS和Probe软件测试3次进行指标对比;

IC芯片的检测方法大全

芯片的检测方法 一、查板方法: 1.观察法:有无烧糊、烧断、起泡、板面断线、插口锈蚀。 2.表测法:+5V、GND电阻是否是太小(在50欧姆以下)。 3.通电检查:对明确已坏板,可略调高电压0.5-1V,开机后用手搓板上的IC,让有问题的芯片发热,从而感知出来。 4.逻辑笔检查:对重点怀疑的IC输入、输出、控制极各端检查信号有无、强弱。 5.辨别各大工作区:大部分板都有区域上的明确分工,如:控制区(CPU)、时钟区(晶振)(分频)、背景画面区、动作区(人物、飞机)、声音产生合成区等。这对电脑板的深入维修十分重要。 二、排错方法: 1.将怀疑的芯片,根据手册的指示,首先检查输入、输出端是否有信号(波型),如有入 无出,再查IC的控制信号(时钟)等的有无,如有则此IC坏的可能性极大,无控制信号,追查到它的前一极,直到找到损坏的IC为止。 2.找到的暂时不要从极上取下可选用同一型号。或程序内容相同的IC背在上面,开机观察是否好转,以确认该IC是否损坏。 3.用切线、借跳线法寻找短路线:发现有的信线和地线、+5V或其它多个IC不应相连的 脚短路,可切断该线再测量,判断是IC问题还是板面走线问题,或从其它IC上借用信号焊接到波型不对的IC上看现象画面是否变好,判断该IC的好坏。 4.对照法:找一块相同内容的好电脑板对照测量相应IC的引脚波型和其数来确认的IC是 否损坏。

5.用微机万用编程器(ALL-03/07)(EXPRO-80/100等)中的ICTEST软件测试IC。 三、电脑芯片拆卸方法: 1.剪脚法:不伤板,不能再生利用。 2.拖锡法:在IC脚两边上焊满锡,利用高温烙铁来回拖动,同时起出IC(易伤板,但可保全测试IC)。 3.烧烤法:在酒精灯、煤气灶、电炉上烧烤,等板上锡溶化后起出IC(不易掌握)。 4.锡锅法:在电炉上作专用锡锅,待锡溶化后,将板上要卸的IC浸入锡锅内,即可起出IC又不伤板,但设备不易制作。 5.电热风枪:用专用电热风枪卸片,吹要卸的IC引脚部分,即可将化锡后的IC起出(注意吹板时要晃动风枪否则也会将电脑板吹起泡,但风枪成本高,一般约2000元左右)作为专业硬件维修,板卡维修是非常重要的项目之一。拿过来一块有故障的主板,如何判断具体哪个元器件出问题呢? 引起主板故障的主要原因 1.人为故障: 带电插拨I/O卡,以及在装板卡及插头时用力不当造成对接口、芯片等的损害 2.环境不良: 静电常造成主板上芯片(特别是CMOS芯片)被击穿。另外,主板遇到电源损坏或电网电压瞬间产生的尖峰脉冲时,往往会损坏系统板供电插头附近的芯片。如果主板上布满了灰尘,也会造成信号短路等。 3.器件质量问题:

终端测试项目定义及测试目的(精)

终端测试项目定义及测试目的 4.1 发射机特性测试指标 发射机特性测试项目覆盖UE发射功率(最大输出功率、频率稳定度、输出功率动态范围、射频发射、发射互调特性、发送调制等6个方面。 其中输出功率动态范围包括:开环功率控制、闭环功率控制、最小输出功率、输出功率的失同步处理、发射关功率、发射开/关时间模板等6个小项。 射频发射包括:信道带宽、频谱发射模板、邻道泄漏抑制比、杂散发射等4个小项,其中信道带宽属于带内发射,其它属于带外发射。 发送调制包括:误差矢量幅度、峰值码域误差。 (1UE最大发射功率(单码道 定义:UE最大发射功率是指UE在无线接入模式下,最少在码片速率(1+α倍频带内能发射的最大功率。测量时长是不包括保护时段的发射时隙。 测试目的:验证UE的最大发射功率误差不超过容限值。UE最大发射功率过大会干扰其他信道或其他系统,而UE最大发射功率过小会缩小小区的覆盖范围。 (2频率稳定度 定义:频率稳定度是指一个UE射频发射的已调载波频率与BS射频发射的已调载波频率之间的差值。 测试目的:验证UE的发射机载波调制的精确度。该项目测试考察UE接收机从接收到的信号中获取正确频率信息的能力,获取的频率信息会被UE发射机使用。 (3上行开环功率控制

定义:上行开环功率控制是设置UE的UpPCH的发射电平到特定的值。UE 开环功率定义为在一个时隙或者发射机开机时间内的根升余弦滚降滤波器测量的平均功率。 测试目的:验证UE开环功率控制的容限是否超过指标要求。该项目测试强调UE接收机在接收动态范围内正确测量接收功率的能力。 (4上行闭环功率控制 定义:上行闭环功率控制是指UE发射机根据在下行链路接收到的一个或多个功率控制命令(TPC而对UE发射机输出功率作出调整。 测试目的:验证UE闭环功率控制步长符合指标要求,考察UE是否能够正确地获得TPC命令。 (5最小输出功率 定义:最小输出功率是指功率控制设置为输出功率最小值时的UE的发射功率值。该功率为不包括保护时段的一个时隙内的平均功率。 测试目的:验证UE最小输出功率是否小于-49 dBm,避免超过指标要求的最小输出功率会增加对其他信道的干扰和减小系统容量。 (6输出功率的失步处理 定义:UE靠监视DPCH的质量来探测物理层中信号是否丢失。 测试目的:验证UE检测DPCH信道的质量并根据检测结果控制其发射机的开或关的能力。 (7发射关功率 定义:发射关功率是指当UE发射机关闭时,在根升余弦滚降滤波器的一个码片上测得的平均功率。

中国电信移动终端测试实施细则

中国电信移动终端测试实施细则(暂行) 第一条终端测试申请 (一)原则上要求送测终端应完成国家强制入网检测,通过后提出测试申请。 (二)终端厂商登录中国电信终端测评管理系统,填写测试申请表(附件一),提交测试申请材料。申请材料包括: 1.终端技术参数说明表(附件二) 2.终端自测报告(附件三) 3.XX公司XX终端UI方案确认模板(附件七) 4.电子版压缩包:驱动、配套软件、UAProfile文件、用户使用手册 5.国家强制入网测试报告(终端厂商必须在中国电信广州研究院编制测试报告前提交) 6.双待机测试报告(仅针对双待机,终端厂商必须在中国电信广州研究院编制测试报告前提交) (三)中国电信广州研究院(下文简称广州院)为每个厂商分配一个终端测评管理系统登录帐号。 (四)终端测试申请通过审批后,纳入广州研究院的终端测试待测队列等候测试。 (五)此次提交的测试申请的各厂商终端型号列表参见附录一。厂商应打印测试申请资料,由测试人员带到广州提交。需要打印的测试申请资料包括:

1.测试申请表(加盖公章) 2.终端技术参数说明表(加盖公章) 3.终端自测报告(加盖公章) 第二条测试内容和实施方式: (一)终端测试由广州院负责组织和实施,分为三部分:实验室测试、现网测试、委托第三方测试。 (二)实验室测试在广州院终端测试实验室实施,测试内容主要包括:功耗、机卡兼容性、UI、基本业务基本能力、互通和并发、数据卡等。(UI测试,如果无法提供样机的,以测试申请中的《》作为测试依据) (三)终端现网测试在天津、广州、哈尔滨、海口、、北京等5个城市实施,测试主要内容包括系统捕获、切换测试、开关机注册、业务重定向、鉴权、紧急呼叫、GPS定位、基本业务(语音电话、SMS、WAP、等)、MEID(pESN方式)等。 (四)委托第三方测试的内容: 1.BREW RR认证测试(高通公司):2008年9月1日开 始接受送测,送测地址、联系方式等参见附件六送测 终端要求 2.gpsOne测试(高通公司):待定 3.双待机测试(泰尔实验室):2008年9月1日开始 接受送测,送测地址、联系方式等参见附件六送测终 端要求

IC芯片的检测方法大全定稿版

I C芯片的检测方法大全 HUA system office room 【HUA16H-TTMS2A-HUAS8Q8-HUAH1688】

芯片的检测方法 一、查板方法: 1.观察法:有无烧糊、烧断、起泡、板面断线、插口锈蚀。 2.表测法:+5V、GND电阻是否是太小(在50欧姆以下)。 3.通电检查:对明确已坏板,可略调高电压0.5-1V,开机后用手搓板上的IC,让有问题的芯片发热,从而感知出来。 4.逻辑笔检查:对重点怀疑的IC输入、输出、控制极各端检查信号有无、强弱。 5.辨别各大工作区:大部分板都有区域上的明确分工,如:控制区(CPU)、时钟区(晶振)(分频)、背景画面区、动作区(人物、飞机)、声音产生合成区等。这对电脑板的深入维修十分重要。 二、排错方法: 1.将怀疑的芯片,根据手册的指示,首先检查输入、输出端是否有信号(波型),如有入 无出,再查IC的控制信号(时钟)等的有无,如有则此IC坏的可能性极大,无控制信号,追查到它的前一极,直到找到损坏的IC为止。 2.找到的暂时不要从极上取下可选用同一型号。或程序内容相同的IC背在上面,开机观察是否好转,以确认该IC是否损坏。 3.用切线、借跳线法寻找短路线:发现有的信线和地线、+5V或其它多个IC不应相连的 脚短路,可切断该线再测量,判断是IC问题还是板面走线问题,或从其它IC上借用信号焊接到波型不对的IC上看现象画面是否变好,判断该IC的好坏。 4.对照法:找一块相同内容的好电脑板对照测量相应IC的引脚波型和其数来确认的IC是 否损坏。

5.用微机万用编程器(ALL-03/07)(EXPRO-80/100等)中的ICTEST软件测试IC。 三、电脑芯片拆卸方法: 1.剪脚法:不伤板,不能再生利用。 2.拖锡法:在IC脚两边上焊满锡,利用高温烙铁来回拖动,同时起出IC(易伤板,但可保全测试IC)。 3.烧烤法:在酒精灯、煤气灶、电炉上烧烤,等板上锡溶化后起出IC(不易掌握)。 4.锡锅法:在电炉上作专用锡锅,待锡溶化后,将板上要卸的IC浸入锡锅内,即可起出IC又不伤板,但设备不易制作。 5.电热风枪:用专用电热风枪卸片,吹要卸的IC引脚部分,即可将化锡后的IC起出(注意吹板时要晃动风枪否则也会将电脑板吹起泡,但风枪成本高,一般约2000元左右)作为专业硬件维修,板卡维修是非常重要的项目之一。拿过来一块有故障的主板,如何判断具体哪个元器件出问题呢? 引起主板故障的主要原因 1.人为故障: 带电插拨I/O卡,以及在装板卡及插头时用力不当造成对接口、芯片等的损害 2.环境不良: 静电常造成主板上芯片(特别是CMOS芯片)被击穿。另外,主板遇到电源损坏或电网电压瞬间产生的尖峰脉冲时,往往会损坏系统板供电插头附近的芯片。如果主板上布满了灰尘,也会造成信号短路等。 3.器件质量问题:

如何对IC芯片进行检测

如何对IC芯片进行检测 1、不在路检测 这种方法是在IC未焊入电路时进行的,一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值,并和完好的IC进行必较。 2、在路检测 这是一种通过万用表检测IC各引脚在路(IC在电路中)直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。这种方法克服了代换试验法需要有可代换IC的局限性和拆卸IC的麻烦,是检测IC最常用和实用的方法。 3、直流工作电压测量 这是一种在通电情况下,用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量;检测IC各引脚对地直流电压值,并与正常值相较,进而压缩故障范围,出损坏的元件。测量时要注意以下八点: (1)万用表要有足够大的内阻,少要大于被测电路电阻的10倍以上,以免造成较大的测量误差。 (2)通常把各电位器旋到中间位置,如果是电视机,信号源要采用标准彩条信号发生器。 3)表笔或探头要采取防滑措施。因任何瞬间短路都容易损坏IC。可采取如下方法防止表笔滑动:取一段自行车用气门芯套在表笔尖上,并长出表笔尖约0.5mm左右,这既能使表笔尖良好地与被测试点接触,又能有效防止打滑,即使碰上邻近点也不会短路。 (4)当测得某一引脚电压与正常值不符时,应根据该引脚电压对IC正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析,能判断IC的好坏。 (5)IC引脚电压会受外围元器件影响。当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时,或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器,则电位器滑动臂所处的位置不同,都会使引脚电压发生变化。 (6)若IC各引脚电压正常,则一般认为IC正常;若IC部分引脚电压异常,则应从偏离正常值最大处入手,检查外围元件有无故障,若无故障,则IC很可能损坏。 (7)对于动态接收装置,如电视机,在有无信号时,IC各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大,该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化,就可确定IC损坏。

智能终端测试总结(手持)

智能终端测试总结 智能终端(手持)要做的测试有:功能测试、兼容性测试、安全性测试、安装卸载测试、UI测试、易用性测试等。 1.功能测试:对功能点一一进行测试,确保每个点都能正确实现,对 流程进行测试,确保流程无误。 2.兼容性测试:对不同型号的机器进行测试。 3.安全性测试:对程序和数据库进行安全性测试,以确保符合系统安 全指标。 4.安装卸载测试:程序能否正确和卸载安装。 5.UI测试:程序的设计是否够美观、界面图片、按钮是否合适。 6.易用性测试:所开发的功能,是否让用户容易接受,是否符合大众 的操作习惯。 7.性能测试:程序的性能是否满足用户需求,如程序响应速度以及多 用户进行操作时,程序的功能及响应速度是否符合要求。 (一)功能测试 a)打印 ●对于具有打印功能的终端,测试点打印按钮是否有反应,且打印出 来的信息是否与当前页面信息一致。 ●测试打印的过程中,中止打印,系统是否正常返回上次的界面。 ●测试打印时中止打印,能否再次正常打印。 * 其他需根据客户具体的需求进行功能和流程测试 (二)兼容性测试 ●在不同机型上进行测试。 (三)安全性测试 a)登录 ●对于需要插卡才能进行操作的,测试不插卡时,系统是否有提示。

●测试在插卡非正常(没插好)的情况下,系统是否有提示。 ●测试插入非指定性卡(如要求插入医疗卡,插入的是银行卡),系统是否有提示。 ●测试正常插入卡片,输入错误的密码,系统是否有提示。 ●测试正常插入卡片,输入正确的密码,是否可以正常进入系统。 ●测试用户的登录密码是否是不可见的。 ●对于对数据库安全性有较高要求的,测试密码信息是否加密显示。 ●测试程序是否满足各种通信协议或相应行业的安全标准。 (四)安装卸载测试 对于需要安装程序,才能运行系统,需要做安装卸载测试。 ●测试在安装的过程中,中断安装,然后重新安装,能否安装成功。 ●测试正确安装后,能否成功启动程序,各模块界面是否可以正常使用。 ●测试正确安装后,不卸载程序,将程序重新进行安装,程序能否安装成功且能正常使用。 ●将成功安装的程序进行卸载,在卸载过程中,取消卸载,测试未卸载成功的程序能否再正常使用。 (五)UI测试 ●查看界面的风格、样式、颜色是否美观,按钮的位置是否合适。 ●查看各界面中的按钮风格是否统一、布局是否一致。 ●测试界面中的各个按钮,操作是否方便(把相似的控件放在一起,方便用户操作)。 ●测试界面上的功能按钮是否有重复。 ●测试页面标题、按钮、各字段是否有错别字。 ●测试页面中各字段、按钮上下是否统一、对齐。 (六)易用性测试

主板各芯片检测方法

一、主板芯片组: 芯片组(Chipset)是主板的核心组成部分,联系CPU和其他周边设备的运作。主板上最重要的芯组就是南桥和北桥。 1、北桥芯片:(North Bridge)是主板芯片组中起主导作用的最重要的组成部分,也称为主桥(Host Bridge)。一般来说,芯片组的名称就是以北桥芯片的名称来命名的,例如英特尔875P芯片组的北桥芯片是82875P、最新的则是支持双核心处理器的945/955/975系列的82945P、82945G、82945GZ、82945GT、82945PL、82955X、82975X等七款北桥芯片等等。 北桥作用:北桥芯片负责与CPU的联系并控制内存(仅限于Intel的cpu,AMD系列cpu 在K8系列以后就在cpu中集成了内存控制器,因此AMD平台的北桥芯片不控制内存)、AGP 数据在北桥内部传输,提供对CPU的类型和主频、系统的前端总线频率、内存的类型(SDRAM,DDR SDRAM以及RDRAM等等)和最大容量、AGP插槽、ECC纠错等支持,整合型芯片组的北桥芯片还集成了显示核心。 北桥识别及特点:北桥芯片就是主板上离CPU最近的芯片,这主要是考虑到北桥芯片与处理器之间的通信最密切,为了提高通信性能而缩短传输距离。因为北桥芯片的数据处理量非常大,发热量也越来越大,所以现在的北桥芯片都覆盖着散热片用来加强北桥芯片的散热,有些主板的北桥芯片还会配合风扇进行散热。因为北桥芯片的主要功能是控制内存,而内存标准与处理器一样变化比较频繁,所以不同芯片组中北桥芯片是肯定不同的,当然这并不是说所采用的内存技术就完全不一样,而是不同的芯片组北桥芯片间肯定在一些地方有差别。 2、南桥芯片:南桥芯片(South Bridge)是主板芯片组的重要组成部分,一般位于主板上离CPU插槽较远的下方,PCI插槽的附近,这种布局是考虑到它所连接的I/O总线较多,离处理器远一点有利于布线。相对于北桥芯片来说,其数据处理量并不算大,所以南桥芯片一般都没有覆盖散热片。南桥芯片不与处理器直接相连,而是通过一定的方式(不同厂商各种芯片组有所不同,例如英特尔的英特尔Hub Architecture以及SIS的Multi-Threaded“妙渠”)与北桥芯片相连。 南桥作用:南桥芯片负责I/O总线之间的通信,如PCI总线、USB、LAN、ATA、SATA、音频控制器、键盘控制器、实时时钟控制器、高级电源管理等,这些技术一般相对来说比较稳定,所以不同芯片组中可能南桥芯片是一样的,不同的只是北桥芯片。所以现在主板芯片组中北桥芯片的数量要远远多于南桥芯片。例如早期英特尔不同架构的芯片组Socket 7的430TX和Slot 1的440LX其南桥芯片都采用82317AB,而近两年的芯片组845E/845G/845GE/845PE等配置都采用ICH4南桥芯片,但也能搭配ICH2南桥芯片。更有甚者,有些主板厂家生产的少数产品采用的南北桥是不同芯片组公司的产品,例如以前升技的KG7-RAID主板,北桥采用了AMD 760,南桥则是VIA 686B。南桥芯片的发展方向主要是集成更多的功能,例如网卡、RAID、IEEE 1394、甚至WI-FI无线网络等等。二、主板上其它芯片识别 1、电源管理芯片 电源管理芯片又称电源IC,又叫脉宽调制芯片(PWM),主板用的叫:可编程脉宽调制

LTE芯片和终端测试综述

LTE芯片和终端测试综述 1 引言 随着TD-LTE试验网在世博会和亚运会的精彩亮相,以及2011年中国移动投入巨资进行的6+1城市试验网建设,业界对中国移动TD-LTE的前景充满期待。测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链中重要的环节,位于产业链的上游,对于产品研发和产业化起着非常关键的作用。并且由于LTE和之前的系统在空中接口上存在很大的不同,所以对于测试就提出了新的挑战和要求。目前,对TD-LTE测试仪表的需求已经涵盖了整个产业链的各个阶段。 2 R&S的LTE测试解决方案 罗德与施瓦茨公司(R&S)作为欧洲最大的测试测量仪表供应商,具有强大的研发和生产实力。基于其在2G和3G测试领域的领先地位,R&S对于LTE从早期的研发阶段就开始跟踪研究,积累了丰富的经验。为了推动TD-LTE产业的发展,R&S公司为客户提供从LTE(包括TD-LTE和FDD LTE)仿真、设计、研发、生产、测试等一系列的测试测量解决方案,可以满足客户各个阶段的需求(见图1)。 图1 R&S的LTE测试解决方案 3 LTE芯片和终端研发 (1)LTE信号产生和分析 R&S的信号源如SMU,AMU以及SMBV系列加上选件后就可以按照规范实时地产生LTE上/下行射频或基带信号,用于元器件性能测试以及终端的接收机测试;R&S的FSx 系列频谱和信号分析仪能分析LTE上/下行射频或基带信号,用于元器件性能测试以及终端的发射机测试。 由于被测设备可能采用特殊的数字基带信号格式,R&S提供EX-IQ-BOX来针对不同数字基带信号格式进行适配。 (2)LTE终端协议和IOT测试 LTE协议栈的测试用来验证一些信令功能,例如呼叫建立和释放、呼叫重配置、状态处理和移动性等。和2G,3G系统的互操作性(IOT)测试是对LTE的另外一个需求。为了保证终端的协议栈和应用可以处理高数据率的数据,需要测试验证终端吞吐量的要求。在

测试管理工具终端自动化测试工具

TestCenter 测试管理工具终端自动化测试工具本资料由织雀教育从网上整理,仅供学习交流,请务做商业用途 TestCenter是一款功能强大的测试管理工具,它可以帮助您:实现测试用例的过程管理,对测试需求过程、测试用例设计过程、业务组件设计实现过程等整个测试过程进行管理。实现测试用例的标准化即每个测试人员都能够理解并使用标准化后的测试用例,降低了测试用例对个人的依赖;提供测试用例复用,用例和脚本能够被复用,以保护测试人员的资产;提供可伸缩的测试执行框架,提供自动测试支持;提供测试数据管理,帮助用户同意管理测试数据,降低测试数据和测试脚本之间的耦合度。 测试需求管理 支持测试需求树,树的每个节点是一个具体的需求,也可以定义子节点作为子需求。每个需求节点都可以对应到一个或者多个测试用例。 测试用例管理 测试用例允许建立测试主题,通过测试主题来过滤测试用例的范围,实现有效的测试。 测试业务组件管理 支持测试用例与业务组件之间的关系管理,通过测试业务组件和数据“搭建”测试用例,实现了测试用例的高度可配置和可维护性。 测试计划管理 支持测试计划管理、测试计划多次执行(执行历史查看);测试需求范围定义、测试集定义。 测试执行 支持测试自动执行(通过调用测试工具);支持在测试出错的情况下执行错误处理脚本,保证出错后的测试用例脚本能够继续被执行。 测试结果日志察看 具有截取屏幕的日志查看功能。 测试结果分析 支持多种统计图标,比如需求覆盖率图、测试用例完成的比例分析图、业务组件覆盖比例图等。

缺陷管理 支持从测试错误到曲线的自动添加与手工添加;支持自定义错误状态、自定义工作流的缺陷管理过程。 用户必读: 1.TestCenter测试管理工具运行需要license文件,不然会无法正常使用! 2.请认真填写《TestCenter试用申请表》内容,保证信息的真实性和准确性。 3.填写好表单后,请以邮件附件的形式,发送到sales@https://www.wendangku.net/doc/8614204767.html,邮箱。 4.为了提高您试用申请的处理时间,邮件主题请注明“TestCenter试用license申请”字样。 5.当您提交试用申请后,我们会尽快进行审核,在三个工作日之内与您取得联系。 6.审核通过后,我们会将license文件以邮件的形式发送到您的邮箱,并建立CRM客户跟踪管理体系,为您提供最优质的技术支持和跟踪服务工作。 7.试用时间:用户可免费体验试用本软件一个月,如需继续试用或者有其他事宜,请您即时联系我们。 产品简介: TestCenter是测试管理工具,它基于B/S体系结构,管理测试需求、测试主题、测试案例、测试集、业务组件,并且提供多任务的测试执行(包括手工执行和自动执行),最终生成测试报表。 TestCenter可以和本公司的测试工具AutoRunner集成,也可以和其他测试工具集成,提供强大的自动化功能测试。 目标用户是所有需要提高软件开发质量的软件公司、软件外部企业,以及提供测试服务的部门。 TAR 终端自动化测试工具 Terminal AutoRunner是泽众软件公司开发的,具有自主知识产权的、面向终端系统的回归测试工具。适用于VT100、VT220等标准应用系统,支持命令行模式和窗口模式(使用Cursors编写的应用程序),支持自动录制脚本、所见即所得的资源和脚本编辑,稳定的自动同步功能。是目前国内最好的银行业务测试工具。

相关文档