单片机测试向量生成技术研究

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单片机测试向量生成技术研究

作者：胡勇， 李轩冕， 贺志容

作者单位：武汉数字工程研究所,武汉,430074

刊名：

计算机与数字工程

英文刊名：COMPUTER AND DIGITAL ENGINEERING

年，卷(期)：2010，38(9)

被引用次数：0次

参考文献(6条)

1.陈忠平,曹巧媛,等.单片机原理及接口[M].北京:清华大学出版社,2007

2.赵雪莲,杨新涛,李坤.一种CPU测试程序的开发方法与实现[J].国外电子测量技术,2006(2):37～41

3.薛宏,王怀荣.16位单片机测试技术研究[J].电子与封装,2008(3):28～34

4.S.M.THatte,J.A.Abraham.Test Generation for Microprocessors[J].IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS,19850,C-29(6)

5.K.K.Saluja,Li Shen,S.Y.H.Su.A Simplifed Algorithm for Testing Microprocessors[J].IEEE

International Test Conference,1983

6.D.Bhattacharya,J.P.Hayues.Designing for High-Level Test Generation[J].IEEE Treory on Computer-Aided Design,1990,9(7)

相似文献(10条)

1.会议论文曲芳.陈冬.林敏基于SAPPHIRE测试系统的VCD测试向量转换2008

本文基于SAPPHIRE集成电路测试系统,介绍了自行开发的从VCD测试向量到STIL测试向量的转换软件及流程.该软件及流程很好的实现了从设计到测试间的链接.经实践证明,转换效率和准确性很高,具有良好的推广应用价值.

2.学位论文王剑DDR存储器的测试方法研究及实现2004

本文从存储器技术的发展和分类开始，对存储器的性能、指标、故障模式和基本测试方法等做了系统阐述，针对DDR测试的不同层次，分别提出了基于板级的DDR测试方案、基于专用存储器测试系统的DDR测试方法和基于ETS770逻辑测试系统的DDR测试方案。

基于板级的DDR测试方案，主要面向的是设计使用，对DDR接口驱动、控制信号、高速工作等部分进行试验和测试，测试的是器件的实际使用性能。而基于专用存储器测试系统的DDR测试方法，主要面向的是产品生产和用户验收，对器件的功能和交直流参数进行测试，测试比较全面。基于ETS770逻辑测试系统的DDR测试方案则是面向用户的验收和可靠性测试。目前国内用户要开展对DDR SDRAM的验收和可靠性测试的研究受到很大的限制，为解决这个问题，本文在无专用的存储器测试图形发生器的支持下，利用程序方法进行了测试向量的自动生成，在对生成的测试向量进行自动转换和少量手工修改后

，实现了对DDR SDRAM几种存储器图形的测试。

利用DDR SDRAM存储器的特性、把测试向量自动生成和存储器测试图形融于一体，在逻辑验证系统上予以实现是本文的创新之处。

3.学位论文曾志敏基于数字逻辑ATE的非接触射频卡芯片测试系统的研究与开发2005

本论文为解决非接触卡芯片的射频测试问题，在传统数字逻辑ATE(AutoTestEquipment)的基础上，设计开发了一个射频测试接口硬件模块，实现了逻辑ATE的数字信号与射频信号的转换；并充分利用ATE本身所具有的强大逻辑测试向量生成能力及软件编程环境，结合射频测试接口模块，完成了射频测试中所需要解决的信号编码与解码，信号调制与解调等一系列问题，构成一个适用于非接触卡射频通信测试的完整测试系统。

作为非接触卡测试系统开发的探索，论文中实现了以IS014443TYPEA非接触智能卡为测试应用对象的实验性测试系统的硬件搭建，开发了射频测试向量生成，返回信号的解调处理等软件工具，建立了完整的非接触卡芯片测试开发流程，实现了样片的实际测试应用。该测试系统的RF测试接口的设计灵活，可灵活应用于13．56MHz载波频率的非接触卡芯片的射频信号的发送和接收，信号的编码和解码由软件方法在逻辑ATE中实现，因此适用于采用不同编码方式的芯片类型的测试。

该测试系统的开发实现，解决了数字逻辑ATE无法进行非接触卡类产品射频通信测试的难题，避免了通过购买专用射频测试仪进行非接触卡类产品测试而所需的昂贵成本，从而为接触卡类产品测试提供了一个低成本解决方案。

4.期刊论文楼冬明.陈波数字集成电路测试系统的研制-电子技术应用2001,27(4)

介绍了基于向量测试法的测试系统的原理、结构组成以及各功能模块的工作过程。本系统是有关技术人员在总结多年的实际测试经验并参考国外同类测试系统的基础上开发成功的,生产成本较低、性能可靠,是一种适合于国内半导体行业的实际生产情况的测试系统。

5.学位论文马维元数字电路测试向量自动生成技术2006

数字电路测试向量自动生成一直是电子测试领域关注的焦点，是开发电路板／模块测试程序的难点，也是困扰我军如何高效合理利用现有自动测试设备和开发测试程序组合软件构成具有实用性的故障诊断系统的关键点。

测试向量生成最关键的技术是测试向量实用化算法的实现，通过对G—F二值算法的分析和研究，设计了一种新的方法和策略，采用正向敏化模式按有限回溯策略推导，凡在回溯次数内未能判明目标故障不可测的测试生成过程所产生的测试码都进行故障模拟。这种有限回溯策略加速测试生成，对提高系统效率起到了决定性的作用。在GF算法确立正反向驱动经过各类功能块和反馈线的时帧变化的基础上，把推导组合电路目标故障测试码的方法按迭代组合模型推广到同步时序电路，且用反向追踪中的时帧迭代实现迭代组合模型中的空间迭代。

通过对同步时序电路的分析和研究，结合数字电路的特点，建立其电路模型和故障模型，生成了电路的器件库，并可对电路进行故障模拟，生成故障字典，生成的故障字典供测试系统使用。数字电路测试向量自动生成的实现主要以提高数字电路测试向量自动生成算法的通用性和效率为主，力争解决电路板的故障测试向量生成问题。

6.会议论文胡勇.吴丹.沈森祖.石坚基于V93000测试系统的存储器测试方法研究和实现2008

存储器芯片是一种应用广泛的数字集成电路,必须经过许多必要的测试以保证其功能正确.对于其入厂检测来说,测试向量不仅要自行开发,而且需要

达到一定的覆盖率才能检测出存储器的绝大部分功能性错误,这对测试方法、测试设备提出了较高的要求.本文分析了V93000测试系统上存储器测试向量开发的工作原理,讨论了存储器的测试方法,并基于V93000测试系统实现了存储器的测试.

7.学位论文倪军数字电路板边界扫描故障诊断与无误判抗混淆优化算法研究2007

本文提出了电路板边界扫描故障测试诊断系统的设计与实现方法，包括理论研究、系统硬件构成、算法实现、故障诊断流程设计、验证及测试平台的建立等。详细研究了无误判抗混淆优化算法，并且将此算法应用到电路板故障诊断中，在保证无征兆误判且紧缩的测试矩阵前提下，可以最大限度的解决了桥接故障与呆滞故障的征兆混淆问题。

本文首先总结电路板故障诊断技术的发展现状，介绍了边界扫描技术研究动态；然后从硬件结构到软件系统，详细地介绍了边界扫描技术原理以及边界扫描标准，为研究电路板故障诊断理论，提供了方法上的支撑。并分析和总结归纳了电路板中常见故障模型，在此基础上，结合边界扫描测试技术在电路板故障诊断中的理论，包括测试模型的建立，测试算法，测试步骤以及诊断方法。讨论了边界扫描测试中的测试优化问题。通过对电路板故障诊断中的征兆误判与征兆混淆的详细分析，运用无误判抗混淆诊断优化算法的基本思想到电路板的故障诊断中，无误判抗混淆算法生成的测试矩阵能够确保无征兆误判和无征兆混淆，同时该算法还能将大的测试矩阵压缩成小规模的测试矩阵。在其生成的测试矩阵中各并行测试向量互不相同，但都具有相同的权值，权值可以由故障诊断系统的设计者预先设定，当这些并行测试向量从计算机中依次加载到被测电路板后，可以获取相应的响应向量，供诊断系统进行测试响应分析，从而检测出呆滞故障和桥接故障。实验表明，无误判抗混淆算法生成的测试矩阵具有较高的故障覆盖率。

本文最后设计了一个以计算机为平台，通过并行下载电缆ByteBlaster实现PC机并口与电路板TAP接口的连接，依靠软件实现数据通信和故障诊断的测试系统，包括被测电路板的设计与实现、支持边界扫描结构芯片的装配、接口电路的设计、扫描链完备性诊断流程设计、电路板故障诊断测试向量集的生成以及诊断策略的设计。并利用该测试系统对无误判抗混淆优化算法进行了验证，结果表明：本文设计的测试系统可以最大限度的解决了桥接故障与呆滞故障混淆问题，且生成的测试矩阵规模较小，紧凑性高，极大的提高了故障检测率。

8.学位论文刘平数字视频接口芯片的测试2003

该文在分析数字视频接口工作原理的基础上,提取了衡量数字视频接口芯片性能的关键指标(信号上升时间、时钟抖动、数据偏移等),并根据这些参数的特点,拟出了相应的测试方案,设计了实施该测试方案的硬件平台和软件结构.在测量高速串行数据流的动态特性时引入了眼图测量法,并构造了标准眼图模型.通过将实测的信号眼图与标准眼图模型进行比较,对数据流的动态特性进行评估. 数字视频接口芯片的工作频率高(在SXGA显示模式下,串行数据流的传输速率高达1.08Gb/s),因此,在测试过程中如何消除由于测试样片和测试系统的互连所带来的传输线延迟和寄生参数的影响成为测试中的难点

.将测试向量发生器嵌入到测试样片内部的内建自测试方法较好地解决了这一问题.该文给出了具有内建自测试功能的数字视频接口芯片的设计方案;采用Verilog硬件描述语言设计了相应的测试向量发生器,并通过FPGA对该设计进行了验证. 最后,对数字视频接口样片进行了测试,给出了测试数据和误差修正方法.测试结果表明,该文提出的测试方法原理清晰,易于实施,对测试设备的要求不高,适用于数字视频接口芯片的研发阶段.

9.期刊论文王美娟.吴宁.WANG Mei-juan.WU Ning基于边界扫描的板级测试向量自动生成-计算机工程

2009,35(12)

针对现有测试向量存在的不足,提出一种可施加到电路板扫描链上的测试向量自动生成方法,该方法利用被测电路的网络表文件和边界扫描描述语言文件,获取器件互连关系、边界扫描信息及扫描链路结构,结合测试算法生成板级测试向量,根据扫描链数目及连接关系将其扩展并生成可施加到扫描链上的链路级测试向量.实验结果表明,该方法能检测被测电路中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障,为测试系统提供了实用高效的测试向量.

10.学位论文赵雪莲微控制器测试向量生成方法的研究和实现2006

本文首先介绍了集成电路的发展及集成电路自动测试技术的发展概况和重要性。集成电路测试伴随集成电路的发展而发展，并贯穿集成电路的研发、设计、生产和应用等各个阶段。由于我国集成电路产业起步较晚，与国外有着较大的差距，导致我国集成电路测试产业发展起步也较晚，70年代国内才开始了集成电路自动测试仪的研制工作，80年代后期国产集成电路自动测试仪的水平得到很大提高，但研发更高级的集成电路自动测试仪和研究相关测试理论都是亟待解决的问题。数字集成电路测试内容包括逻辑功能测试、直流参数测试和交流参数测试。本文介绍了逻辑电路测试的测试原理和硬件架构；对直流参数测试的两种方式(加压测流和加流测压)进行了剖析。在国内，集成电路的入库筛选测试日益被重视、在军工单位已经形成了一套比较严格的测试筛选标准，但这种用户级的测试仍然受到了很多限制，特别是在测试微处理器、微控制器等大规模集成电路的时候，由于该类器件内部结构复杂，和逻辑门级原理图的不公开性，如何高效的开发测试程序和生成测试向量成为一大难题。通过研究和论证，构造功能级的故障模型，测试指令是最有效的方法之一，即编写汇编测试程序，使被测微处理器、微控制器运行设定的测试程序，观察数据端口的输出状态，达到测试的目的。但是要将汇编测试程序转变成测试向量是一件非常困难的事情。针对这种情况，本论文采用学习法，高效的实现了自动生成测试向量，极大的提高了开发微处理器、微控制器测试向量及测试程序的工作效率。但学习法的实施对自动测试系统本身的硬件结构和功能，以及具体器件的辅助电路有很高的要求。所以本文对学习法的实现原理和硬件结构设计做了系统的说明：包括原理结构、定时电路设计、驱动/比较电路设计，编写测试向量及图形文件反编译等，并以N80C196KB为例，实际运用学习法分模块完成了指令系统、定时器、A/D转换器等项目的测试。

学习法的成功运用，一是大大方便和提高了整机系统研制单位或科研机构开发微处理器、微控制器类大规模集成电路测试程序的效率；二是从硬件架构设计和测试理论上为国内同行在研发更高性能集成电路自动测试仪提供一个建议和参考。

本文链接：https://www.wendangku.net/doc/8a15709151.html,/Periodical_jsjyszgc201009027.aspx

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下载时间：2010年11月20日