注解及初始定义(此注解及定义适用于全文):
一.标识类注解
“○”标识为单选项,对于并行的项目只能选取其中之一进行;
“□”标识为复选项,可选取其中之一或多个或不选取。
二.所有数据分层次排列。当主项未选择时,其附带的低层次数据全部无效。
五.“”表示包含的不同项目为同一目的项,只需要抽取同一个颜色及亮度。
及亮度抽取,并能对多组颜色及亮度进行组合,即每组间是叠加或相减,均可进行设定。
七.所有算法符合设定逻辑时为OK,不符合设定算法逻辑的为NG,当NG后报相应的不良信息。如纵向偏移≤___% ,“___%”是设定的百分比参数,参数后面空白处显示指实际测试值及判定结果;如果测试值小于设定值则OK,否则NG,具体如下:
纵向偏移≤30 %(设定值) 20%(测试值) OK(结果)
纵向偏移≤30 %(设定值) 40%(测试值) NG(结果)
八.所有元件类的缺件窗、极性窗、OCR/OCV窗、锡球窗、短路窗(不含IC类元件自动生成的短路窗)均是一样的算法。
1.对于非IC类
1)自动检索窗的方向表示零件的贴装角度:
自动检索窗的方向箭头朝右(090度,
180度,方向箭头朝下(270度(如第十项的第1
小项说明中所示元件贴装方向为180度);
2)焊盘窗的方向箭头均朝焊盘外部(如第十项说明的第1小项中所示);
3)短路窗判定短路与否的条件是:抽出的颜色对象是否垂直(以箭头方向为水平方向)贯穿短路窗来判定。
2.对于IC类
1)元件本体窗的方向表示零件的贴装角度:
元件窗的方向箭头朝右(0度,方向箭头朝上(90度,
180度,方向箭头朝下(270度;
2)自动检索窗、引脚窗的方向一致(并且自动产生的短路窗方向也与其是一致的,此窗将在IC 算法中详述),均朝外,如第十项说明的第4小项中的图示;
3)短路窗判定短路与否的条件是:抽出的颜色对象是否纵向(箭头方向为横向)贯穿短路窗来判定。
4)缺件窗、OCR/OCV窗方向跟随元件的贴装方向,不需方向箭头;锡球窗、极性窗、元件类任意追加窗及焊点类任意追加窗不需要方向标示。
十.元件相关定义
1. 常规CHIP件
1)常规CHIP件的标准模板(库文件)所包含的窗口如下图所示:
自动检索窗:1个
元件窗:1个
焊盘窗:2个
缺件窗:3个
短路窗:2个
2)对于下面所列常规CHIP件的检测窗口,能够更改窗口参数。窗口参数是指窗口大小、位置、抽取颜色及检测标准。自动检索窗及元件窗分别只能为1个,而对于其它窗口均能任意追加及删除:
自动检索窗:此窗的作用是定义一个元件、焊盘等的检索范围,并对检索条件进行设定。
元件窗:此窗的作用是定义元件的尺寸,无其它参数;对于非IC类,除特殊CHIP类元件本体窗不随焊盘进行校正外,所有元件本体窗跟随焊盘进行校正;对于IC类本体窗不随任何窗口进行校正。焊盘窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗作用是对元件的焊点进行检测,如少锡、开焊等,此窗口为2个且大小必须一样,当所有焊盘窗全部OK时,结果OK;任何一个焊盘窗NG时,则结果NG,报相对应的NG信息---焊盘窗内分缺件、电极破损、少锡、开焊、焊盘露铜及红胶溢出等检测项。
缺件窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随焊盘进行校正,作用是对元件是否漏贴进行判定;当有多个缺件窗时,所有缺件窗OK时,结果OK;如果任何一个缺件窗NG时,则结果NG,报缺件错误。
短路窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随焊盘进行较正,作用是对两元件间是否有短路进行判定;当有多个短路窗时,所有短路窗OK时,结果OK;如果任何一个短路窗NG时,则结果NG,报短路错误。
极性窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随元件进行校正;其作用是对元件的极性标识区域进行检测,用以判定元件是否贴反180度。
锡球窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随焊盘进行校正;作用是对指定区域是否存在锡球进行判定;当有多个锡球窗时,所有锡球窗OK时,结果OK;如果任何一个锡球窗NG时,则结果NG,报锡球错误。
OCR/OCV窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随元件进行校正;作用是对元件是否有贴错进行判定;当有多个OCR/OCV窗时,所有OCR/OCV窗全部OK时,结果OK;如果任何一个OCR/OCV 窗NG时,则结果NG,报错件错误。另外,如果一个OCR/OCV窗口中录入几种文字模板时,任何一个文字模板满足匹配条件时,此OCR/OCV窗结果OK;全部录入的文字模板均不满足匹配条件时,此OCR/OCV窗结果NG,报错件错误。
任意窗:选中此元件任意一个窗时可追加此窗;此窗能选择跟随焊盘、引脚或元件进行校正;且此
窗口可选择报错信息类别,如选少锡时此窗NG 时报少锡。
3)常规CHIP 件:“纵向”指两焊盘连接线方向,“横向”指两焊盘连接线的垂直方向, 如下左图所示:
2. 特殊CHIP 件
特殊CHIP 件与常规CHIP 件定义唯一不同的地方在于所有窗口均跟随元件进行校正,不进行焊盘定位,其它定义与上面所描述的与常规CHIP 件一样。
3. 引脚片式元件(分为N 极管及排阻/阻容;N 极管代表有N 个引脚),钽电容作为二极管处理。1)引脚片式元件的标准模板(库文件)所包含的窗口如下图所示: A .N 极管(以2极管/钽电容及3极管为例进行说明) 二极管/钽电容
三极管
(2个)个
B .排阻/排容
2)对于下面所列引脚片式元件的检测窗口,能够更改窗口参数。窗口参数是指窗口大小、位置、抽取颜色及检测标准。自动检索窗及元件窗分别只能为1个,而对于其它窗口均能任意追加及删除:
注:此项中以下对各窗口的说明,除蓝色字体的部分描述与CHIP 件不一样外,其余部分均一样
自动检索窗:此窗的作用是定义一个元件、焊盘等的检索范围,并对检索条件进行设定。 本体窗:此窗的作用是定义元件的尺寸,无其它参数。
焊盘窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗作用是对元件的焊点进行检测,如少锡、开焊等,此窗口存在多个时大小必须一样,当所有焊盘窗全部OK 时,结果OK ;任何一个焊盘窗NG 时,则结果NG ,报相对应的NG 信息---焊盘窗内分缺件、电极破损、少锡、开焊、焊盘露铜及红胶溢出等检测项。
缺件窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随焊盘进行校正,作用是对元件是否漏贴进行判定;当有多个缺件窗时,所有缺件窗OK 时,结果OK ;如果任何一个缺件窗NG 时,则结果NG ,报缺件错误。
短路窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随焊盘进行较正,作用是对两焊盘间是否有短路进行判定;当有多个短路窗时,所有短路窗OK 时,结果OK ;如果任何一个短路窗NG 时,则结果NG ,报短路错误。
极性窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随元件进行校正;其作用是对元件的极性标识区域进行检测,用以判定元件是否贴反180度。
锡球窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随焊盘进行校正;作用是对指定区域是否存在锡球进行判定;当有多个锡球窗时,所有锡球窗OK 时,结果OK ;如果任何一个锡球窗NG 时,则结果NG ,报锡球错误。
OCR/OCV 窗:选中此元件任意窗时可追加此窗;此窗跟随元件进行校正;作用是对元件是否有贴错进行判定;当有多个OCR/OCV 窗时,所有OCR/OCV 窗全部OK 时,结果OK ;如果任何一个OCR/OCV 窗 NG 时,则结果NG ,报错件错误。如果一个OCR/OCV
窗口中录入几种文字模板时,任何一个文字
多个)
模板满足匹配条件时,此OCR/OCV结果OK;全部录入的文字模板均不满足匹配条件时,此OCR/OCV 窗结果NG。
任意窗:选中此元件任意一个窗时可追加此窗;此窗能选择跟随焊盘或元件进行校正;且此窗口可选择报错信息类别,如选少锡时此窗NG时报少锡。
3)引脚片式元件“纵向”指垂直于焊盘最多的元件边的方向,“横向”指平行于焊盘最多的元件边的方向,如下图所示:
(以二极管/钽电容、三极管及排阻/排容为例)
4. IC类元件
1)IC类元件的标准模板(库文件)所包含的窗口如下图所示:
2)对于下面所列IC 类的检测窗口,能够更改窗口参数。窗口参数是指窗口大小、位置、抽取颜色及检测标准。元件窗只能为1个,而对于其它窗口要求能任意追加及删除:
能任意追加、删除及更改(包括窗口大小、位置、检测参数及色抽取)以下检测窗(另本体窗只能为1个,但要能任意更改其大小、位置):
注:此项中以下对各窗口的说明,除蓝色字体的部分描述与CHIP 件不一样外,其余部分均一样
IC 范围窗:此窗的作用是指定一个范围,IC 类元件所有窗均必需在此窗的范围内。
自动检索窗:此窗的作用是定义一个元件、焊盘等的检索范围,并对检索条件进行设定;每个自动检索窗中包含1个引脚窗,引脚窗起确定引脚尺寸的作用;此窗口内可生成短路窗(自动生成)、引脚弯曲窗。
缺件窗:点中此元件的任何窗口可增加此检测窗,作用是对元件是否漏贴进行判定;当有多个缺件窗时,所有缺件窗OK 时,结果OK ;如果任何一个缺件窗NG 时,则结果NG ,报缺件错误,增加此窗口时必须选其跟随哪一个引脚且此引脚号必须为此IC 的任一自动检索窗的起始脚号。
极性窗:点中此元件的任何窗口可增加此检测窗;其作用是对元件的极性标识区域进行检测,用以判定元件是否贴反180度,增加此窗口时必须选其跟随哪一个引脚且此引脚号必须为此IC 的任一自动检索窗的起始脚号。
锡球窗:点中此元件的任何窗口可增加此检测窗;作用是对指定区域是否存在锡球进行判定;当有多个锡球窗时,所有锡球窗OK 时,结果OK ;如果任何一个锡球窗NG 时,则结果NG ,报锡球错误,增加此窗口时必须选其跟随哪一个引脚且此引脚号必须为此IC 的任一自动检索窗的起始脚号。 OCR/OCV 窗:点中此元件的任何窗口可增加此检测窗;作用是对元件是否有贴错进行判定;当有多个OCR/OCV 窗时,所有OCR/OCV 窗全部OK 时,结果OK ;如果任何一个OCR/OCV 窗 NG 时,则结果NG ,报错件错误。如果一个OCR/OCV 窗口中录入几种文字模板时,任何一个文字模板满足匹配条件时,此OCR/OCV 结果OK ;全部录入的文字模板均不满足匹配条件时,此OCR/OCV 窗结果NG ,增加此窗口时必须选其跟随哪一个引脚且此引脚号必须为此IC 的任一自动检索窗的起始脚号。 任意窗:选中此元件任意一个窗时可追加此窗;增加此窗口时必须选哪一个引脚且此引脚号必须为此IC 的任一自动检索窗的起始脚号进行校正;且此窗口可选择报错信息类别,如选少锡时此窗NG 时报少锡。
3)IC 类元件横、纵向说明,其中“纵向”指此自动检索窗内的引脚窗方向,横向则指垂直于此自动检索窗内引脚窗的方向,如下图所示:
纵向
横向
十一.名称定义:
1. CHIP 类名称定义如下图中所标示
1)焊盘/本体的去除区域是指上图中用绿色底色所标示的整个区域,即从元件外端到焊盘内端的这段焊盘的区域。
2)进行检索后,将检索到的元件定义为元件;将检索到的焊盘定义为焊盘。
2.引脚片式元件名称定义如下图中所标示,以三极管为例:
1) 焊盘/引脚的去除区域是指上图中用绿色底色所标示的整个区域,即从引脚外端到焊盘内端的这段焊盘的区域。
2) 进行检索后,将检索到的元件定义为元件;将检索到的焊盘定义为焊盘.
横向
纵向
3.IC类元件名称定义如下图中标示
1)进行引脚检索后,将检索到的引脚内端定义为引脚内端;将检索到的引脚外端定义为引脚外端;
检索后相对应的引脚内段、引脚内段外端、引脚外段、引脚外段内端分别定义为引脚内段、引脚内段外端、引脚外段、引脚外段内端;将检索到的引脚外端与检索到的引脚内端的长度定义为引脚长度;
2)进行焊盘检索后,将检索到的焊盘定义为焊盘;检索到的焊盘外端定义为焊盘外端;
3)进行引脚内端或元件边缘检索后,将检索到的引脚内端或元件边缘定义为引脚内端或元件边缘。
十二.检测终止定义:
1.非IC类:非IC类如果自动检索窗内的焊盘检索项、元件检索项,其中任何一项NG时,则此元件检测终止,报相应的错误信息;
2.IC类:IC类如果自动检索窗内的引脚纵向位置检索项、引脚横向位置检索项、焊盘检索项,其中任何一项NG时,则此IC对应的自动检索窗内的所有检测(含自动生成的焊盘及短路等的检测)终止,并报相应的错误信息。
十三.颜色抽取定义:
1.当选中一个颜色及亮度对对象进行颜色抽取时,此组被抽取的颜色部分用绿色显示。
2.当采用几组颜色抽取时,这几组颜色可进行叠加或相减的方式进行颜色组合抽取;当存在几组颜色组合后可点“全部显示”功能,此时用红色显示组合后的被抽取的颜色部分。
一. Mark点及坏板标记算法
1. Mark点
1) Mark点算法基础说明
A.常见Mark点的几种形状
Mark点的尺寸一般直径在3-350像素(20μ分辨率时)。
材质:铜箔、镀锡、镀金及镀镍
B.Mark点作用
PCB板被传送到设备时,对由于PCB板变形等原因造成的窗口和元件位置发生的偏移进行校正C.XY校正
只设定一个Mark点,可对整板或单板进行X、Y座标的校正
D.θ校正
当设定两个Mark点时,可对整板进行X、Y座标,θ角度(含缩放比)的校正
E.对于整板最多可加2个Mark点,每一个拼板可加一个Mark点进行个板的X、Y较正。
具体实现方法:
1.XY校正:适合拼板上的每个单板,可对此单板上的所有窗口进行X、Y的校正。将检索到
的Mark点位置与程序制作时定义的Mark点坐标进行对比,计算出偏移量△X/△Y,将此偏
移量作为校正量对所有检测窗口进行校正。
2.θ校正:需找2个Mark点即在对角上各设定一个校正标识,适合整板,可对整板上的所
有窗口进行X、Y,θ(含缩放比)的校正。
相关数据:
自动检索窗作用:在其限定的范围内检索本体
元件窗作用:定义Mark点的尺寸
2)具体检测原理要求及格式
Mark点
形状比较
面积≥___ %
说明:
1.抽取Mark点颜色(一般为红色)及亮度,抽取时注意尽量不要让抽取到Mark点以外的对象。
2.计算抽出的Mark点颜色面积占该元件窗面积的百分比,满足面积设定条件的将作为最终的Mark点;否则结果NG,报Mark点检索失败。
4.将检索到的Mark点元件窗与原设定的元件窗间偏移量作为校正量,对所有窗口进行校正。
元件窗作用只是定义Mark点的尺寸,要求与真实的Mark点大小基本一致;此窗口内无其它参数。
2.坏板标记检查算法
1)坏板标记检查算法基础说明
多连板中的其中一块或多块单板已做坏板处理时,预先用不检查标记对其识别。在检查模式下,坏
板进行正常检测,但检测到存在杯板标记的单板时,对此单板所有报错信息进行屏蔽,不显示出来。
2)
具体检查原理要求及格式
坏板标记
面积≤___ % 说明:
1.
抽取坏板标记的颜色及亮度。
2.计算校正后的元件窗中抽出的坏板标记的颜色的面积,如果小于设定值则OK;如果大于设定值则NG。NG后将此
处视为存在坏板标记,作为坏板进行处理:此单拼板所有元件的结果不输出;OK时表示不存在坏板标记,按常规
PCB单板进行检测和处理。
以下是对标记点的检测逻辑:
二. 检查逻辑(一)
常规CHIP 类元件检查算法
1)检查算法基础说明
检测窗示意图:
2)检查原理介绍
的功能是对焊盘及元件的位置进行校正和定位,主要是对应由于PCB 的局 部变形而引起的偏差,通过对焊盘找正后自动对偏差进行校正。
A
B
C
D
E
F
下面对CHIP 类(片式阻容类/MELF/片式钽电容)的算法进行说明,CHIP 类元件的检测按照下面的顺序进行
具体算法按下面的顺序进行 电极设定 □ 电极
电极纵长
___% 电极横长 ___%
说明:
是对电极的纵长、横长设定,按横、纵长设定,在两端各产生一个电极区域,无颜色抽取等其它需求。
□ 焊盘检索 总体相似度≥___ %
说明:
1.抽取焊盘的颜色及亮度,注意抽取焊盘颜色时尺量不要将焊盘以外的颜色抽取。
2.如果计算出的百分比大于总体相似度设定值,则将此处作为最终检索到的焊盘位置,焊盘窗自动移至此位置,且所有检测窗也跟随焊盘窗进行等量移动;否则焊盘检索NG ,报焊盘检索失败错误。
□ 元件检索
○电极检索
总体相似度≥___ % ○本体检索
总体相似度≥___ %
横向
纵向
1.抽取元件电极/本体的颜色及亮度。
2.如果计算出的百分比大于总体相似度设定值,则将此处作为最终检索到的电极/本体位置(能进行转角检索),元件窗将向检索到的本体位置移动,然后将极性窗、OCR/OCV窗及相对应的任意追加窗也随之再次移动。
□纵向偏移≤___ %
说明(纵向偏移用于检测元件向电极两边(纵向)偏移过大):
1.通过抽出的焊盘和元件位置进行判定,不用抽颜色。
2. 把焊盘窗口的纵向长度作为100%,分别计算两端焊盘的内侧和元件两端离开的距离,作为纵向偏移量,将其中较大的一个偏移量占焊盘纵向长的百分比作为实测值,如果此实测值小于设定值时,结果OK;如果实测值大于设定值时,结果为NG,报纵向偏移错误。
□横向偏移≤___ %
说明:
1.通过抽出的焊盘和元件位置进行判定,不用抽颜色。
2.把元件窗的横向长度作为100%,本体从焊盘侧端离开的距离作为横向偏移量,将偏移量占元件窗的横向长度的比值作为实测值。如果实测值小于设定值时,结果OK;如果实测值大于设定值,则结果为NG,报横向偏移错误。
缺件
检测区域
元件
面积≥___ %
PCB板
□只检测4角区域
横向宽度___ %
纵向宽度___ %
面积≤___ %
窗的
横、纵向
缺件窗
NG
OK
100%
100%
0%
0%
横向
纵
向
1.抽取元件的颜色及亮度(根据此元件的颜色进行抽取。如电阻颜色为暗红色,则抽取时选红基色,然后将亮度选取较暗的部分,如选0-50),但注意不要将PCB 的颜色抽出。
2.将缺件检查窗口的检测区域面积作为100%;在检测区域内,如果计算出的抽出的颜色的面积百分比大于设定值时,结果OK ;如果小于设定值,则NG ;报缺件错误。 B 说明:
1.抽取PCB 的颜色(电路板的绿或蓝色)及亮度;
2.不选只检测4角区域时,将整个缺件窗作为检测区域;在检测区域内,如果计算出的面积百分比小于设定值时,结果OK ;如果大于设定值,则NG ,报缺件错误;
3.如果选中只检测4角区域时,以缺件窗的纵长、横长各为100%,自动将缺件窗的四角按所设定的百分比生成4个检测区域;4个检测区域分别进行检测(4个区域面积各作为100%),不再对整个缺件窗区域进行检测;在各角检测区域内,如果4角检测区域内的面积百分比实测值均小于设定值时,结果OK ;如果任何1角检测区域内的面积百分比实测值大于设定值时,则结果NG ,报缺件错误;
短路
□ 贯穿宽度≤___像素
设计要求:
1.抽取焊锡的红、绿、蓝色及亮度,如果抽出的焊锡贯穿短路窗,并且未选择贯穿宽度判定项,则报短路错误;如选择了贯穿宽度判定项,则进入宽度判定;如果抽出的焊锡未贯穿,则结果OK ,忽略下步。
2.当选取宽度判定项后,则需对贯穿的对象再进行宽度检测。如果贯穿对象宽度大于设定值,则最终判NG ,报短路错误。
极性
检测区域 面积≥___%
说明:
1.抽取极性的颜色及亮度。
2.在极性窗内,如果计算出的面积百分比大于设定值时,结果OK ;如果小于设定值,则NG ,报反向错误。
短路(焊锡)
□缺件(焊锡形状)
A说明:
1.对于此项可通过去除区域来进行检测区域的设定,比如上图中所示为去除焊盘四周20%的区域。
2.抽取红色及亮度。
3.对于面积及重心偏移,两者同时NG时,焊锡中央项NG。
4.对于面积,在检测区域内如果计算出的面积百分比小于设定值时,此单项结果OK,大于设定值时NG;重心的算法是:1)将选选中区域的重心作为0,选中区域的左右边端各作为100%;2)计算抽取的对象的重心与选中区域的重心偏差,如大于设定值时,则此单项结果OK,如小于时,则此单项结果NG。
B说明:
1.将整个焊盘作为检测区域;
2.抽取蓝色及亮度;
3.将焊盘的重心作为0,焊盘的纵向左右边端各作为100%;将检出的对象的重心与焊盘窗的重心进行偏移计算,如偏移值小于设定值则此单项NG。
对于A、B两者同时NG时NG,其中任一个OK,则此大项OK。
□电极破损
面积≥___%
说明:
1.抽取电极的红色及亮度。
3.把检测区域的面积作为100%(两端电极均作为100%)。在检测区域内,如果两端计算出的面积百分比均大于设定值时,结果OK,如果任何一端小于设定值则NG,报电极破损错误。
纵向
横
向
□ 少锡
检测区域___像素 每行合格像素比例≥
合格行数≥___像素
□ 侧面焊锡
区域纵长
___%
□ 区域横长___ 合格行数≥___像素A 说明:
1.少锡是对焊锡的有无或者过少的检查。
2.抽取焊锡的蓝、绿色及亮度。
3.从检索到的元件的电极外端开始设定检测区域。
4.从元件的电极外端开始向外,在检测区如果测得的连续合格行数大于设定值时,结果OK ;如果小于设定值时NG 。 B 说明:
1.为附加侧端少锡判定(针对宽焊盘元件,正常焊盘一般不用),从元件边缘开始逐行检查,与A 项同时NG 时,报少锡错误 。
2.抽取焊锡的蓝、绿色及亮度。
3.区域纵长指占电极纵长的百分比率(以电极纵长为100%,如上图所示);区域横长指从电极侧端到焊盘外侧端的像素(如区域横长设5个像素时,表示从电极左侧端开始5个像素的区域作为区域横长,如果设定的横长大于电极侧端到焊盘外侧端的距离,则以电极侧端到焊盘外侧端的距离为最终区域横长;如此项不选时则以电极侧端到焊盘外侧端的距离为最终区域横长);将区域横长与区域纵长所包含的区域作为侧面焊锡的检测区域,电极左右两侧均会产生一个区域,两个检测区域分别进行检测。
4.以上图为例,检测时定义的侧面焊锡检测区域由内而外,如果测得的连续合格行数大于设定值时,则结果OK ;如果小于设定值时NG 。两个检测区同时NG 时侧面焊锡NG 。
□ 开焊
□ 1.全体焊盘 □ 去除区域面积≤___%
横向 纵向
说明:
1.将设定的区域作为检测区域。 2.抽取红、绿色及亮度。
3.在检测区内,如果计算出的面积百分比小于设定值时,结果OK ,大于设定值时NG 。
□
说明:
1.把焊盘的横/纵长各作为100%,去除比率是指去除焊盘横、纵两端边缘比率;将去除后的焊盘中央部作为检测区域。
2.抽取红色及亮度。
3.在检测区域内,如果计算出的面积百分比小于设定值时,结果OK ,大于设定值时NG 。
□ 3.检测区域面积≥___%
说明:
1.以焊盘纵长为100%,以设定的百分比作为检测区域的纵长;从焊盘外端开始往内,以设定的纵长所包含的焊盘区域作为检测区域,如上图所示; 2.抽取红色及亮度;
3.在检测区域内,如果计算出的面积百分比大于设定值时,结果OK ,小于设定值时NG 。
率是指去除横、纵两端边缘比率,如左图所 示为去除20%。去除后的焊盘中央部作为检测区域。
把焊盘窗口的纵长作为100%,以百分比设定外端去除区域。在焊盘内从元件的外端开始至去除后的焊盘外端,作为检测区域。 此项可针对较小焊盘(01005元件),且颜色抽取须根据具体焊盘情况而定。在设定的检测区域内,抽取明亮的蓝、绿色。如果被抽出设定值以上的面积,则作为NG。
备注:小焊盘OK 时焊盘中央为暗蓝色,开焊时为亮蓝色或亮红&亮绿色。对于非01005元件则抽取按“说明”中的取取方式。
横向
纵向
□ 4.
检测区域面积≥___%
对焊锡量过多,焊锡量过少、二次反射等情况的算法。 抽取焊锡颜色:红
说明:
1.将焊盘的纵、横长各作为100%,在焊盘外端的两角以纵、横向百分比设定检测区域,将此两角区域作为检测区域。
2.抽取红及亮度。
3.在两角检测区域内,两角检测区域,如果任何一角计算出的面积百分比大于设定值时,结果OK ;如果,两角同时NG 时,则NG 。
□ 5.区域横长___%
区域纵长___% 面积≥___%
此项针对圆形焊盘 抽取焊锡颜色:红/緑
说明(此算法针对圆形焊盘,正常焊盘一般不采用此算法):
1.以焊盘的纵、横长各作为100%。以区域横长所设定的百分比作为检测区域的横向、纵向长度,此检测区域位于焊盘横向中间部位。 2.抽取红及亮度。
3.在检测区域内,如果计算出的面积百分比大于设定值时,结果OK ,小于设定值时NG 。
□ 6 .焊盘边侧
区域纵长___%
□ 除外横长不合格行数≤
横向
纵向
横向
纵向
横向
纵向