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5IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法

试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法

作者:柯璇, 肖运红, 张绪宽

作者单位:江汉大学物理与信息工程学院,湖北,武汉,430056

刊名:

高等函授学报(自然科学版)

英文刊名:JOURNAL OF HIGHER CORRESPONDENCE EDUCATION(NATURAL SCIENCES)年,卷(期):2003,16(4)

参考文献(2条)

1.王珩ASIC的可测性设计 1996(05)

2.沉吉顺常用集成电路的简易测试方法 1996

本文链接:https://www.wendangku.net/doc/9c18624065.html,/Periodical_gdhsxb-zrkxb200304015.aspx

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