试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法
作者:柯璇, 肖运红, 张绪宽
作者单位:江汉大学物理与信息工程学院,湖北,武汉,430056
刊名:
高等函授学报(自然科学版)
英文刊名:JOURNAL OF HIGHER CORRESPONDENCE EDUCATION(NATURAL SCIENCES)年,卷(期):2003,16(4)
参考文献(2条)
1.王珩ASIC的可测性设计 1996(05)
2.沉吉顺常用集成电路的简易测试方法 1996
本文链接:https://www.wendangku.net/doc/9c18624065.html,/Periodical_gdhsxb-zrkxb200304015.aspx