多晶X射线衍射分析
X射线多晶衍射实验报告
X 射线多晶衍射实验报告 摘要： 本实验主要利用X 射线粉末干涉仪分别测定四种样品A 、B 、C 、D 的衍射图谱，对样品进行了物相分析。通过X 射线粉末衍射分析得到样品A 为的组分为2TiO 晶体；样品B 为ZnO 晶体，且样品B 的晶粒大小为：244.680 A ±0.33600 A ；样品C 为2TiO 和ZnO 的混合物，且2TiO 与ZnO 的质量比例为1：1；样品D 同样是2TiO 和ZnO 的混合物，质量比例为50:11. 关键词： X 射线粉末衍射；物相分析；衍射图谱 引言： X 射线是一种波长很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。1912年德国物理学家劳厄提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X 射线的空间衍射光栅,即当一束 X 射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。 获得多晶衍射图的方法有两种：德拜照相法和衍射仪法。20世纪50年代初X 射线粉末衍射仪开始代替德拜照相法记录粉末衍射数据，而德拜照相法逐渐被淘汰，因为x 射线粉末衍射仪法在材料物相的定性、定量测量方面有明显的有优势。 本实验主要通过对X 射线粉末衍射仪的了解与运用，从而进一步熟悉定性物相分析和PDF 数据库的使用方法，了解定性物相分析、精确测定晶格常数以及晶粒大小测量等实验方法。 实验原理： 1、X 射线发生器 X 射线发生器主要是由X 射线管、高压发生器、管压管流稳定电路和各种保护电路组成。实验中的X 射线管主要是利用真空管。在高真空的玻璃管里，被加热的阴极所发射的热电子，经阴极和阳极间的高电压加速后，高速撞击到阳极上，阳极为产生X 射线的靶源。电子与靶物质发生碰撞而迅速减速，发生多次碰撞，逐次丧失能量，直至完全耗尽为止。在碰撞过程中会产生具有确定最短波长的X 射线连续谱，辐射出特定波长的光子，即标识X 射线。
X射线多晶衍射法物相分析
X 射线多晶衍射法物相分析 1 目的要求 (1) 掌握X 射线多晶衍射法的实验原理和技术。 (2) 学会根据X 射线衍射图，使用X 射线粉末衍射索引和卡片进行物相分析。 2 基本原理 若以 代表晶体的一族晶面的指标， 是这族晶面中相邻两平面的间距，入射X 射线与这族晶面的夹角 满足下面布拉格方程时，就可产生衍射。 式中n 为整数，表示相邻两晶面的光程差为n 个波，所以n 又叫衍射级数，式中 常 用 表示， 称为衍射指标，它和晶面指标是整数位关系。 当单色X 射线照到多晶样品上时，由于多晶样品中含有许许多多小晶粒，它们取向随机地聚集在一起，同样一族晶面和X 射线夹角为θ的方向有无数个，产生无数个衍射，形成以 入射线为中心， 为顶角的衍射圆锥，它将对应于X 射线衍射图谱的一个衍射峰。多晶样品中有许多晶面族，当它们符合衍射条件时，相应地会形成许多以入射线为中心轴张角不同的衍射线。不同的晶面其晶面间距不同，可见晶面间距决定了衍射峰的位置，而晶面间距d 是晶胞参数的函数，所以衍射峰的位置是由晶胞参数所决定的。至于衍射峰的强度I 与结构因子｜F ｜2成正比，而｜F ｜2是晶胞内原子的种类、数量、坐标的函数，因此，衍射强度是由晶胞的结构所决定的。由于每一种晶体都有它特定的结构，不可能有两种不同的晶体物质具有完全相同的晶胞参数和晶胞结构，也就不会有两种不同的物质具有完全相同的衍射图，晶体衍射图就象人的指纹一样各不相同，即每种晶体都有它自己的“d/n ～I ”数据，可以据此来鉴别晶体物质的物相。若一物质含有多种物相，这几种物相给出各自的衍射图，彼此独立，互不相干，即由几种物相组成的固体样品的衍射图，是各个物相的衍射图，按各物相的比例，简单叠加在一起构成的。这样就十分有利于对多相体系进行全面的物相分析了。 国际粉末衍射标准联合会(JCPDS)已收集了几万种晶体的衍射标准数据，并编制了一套X 射线粉末衍射卡片(PDF ，其内容和检索方法见附2)。实际工作中只要测得试样的多晶衍射数据，再去查对粉末衍射卡片，即可鉴定试样，进行物相分析。 3 仪器 试剂 X 射线衍射仪 玛瑙研钵 分样筛 粉末样品板 选择若干合适晶体的未知物样品 4 实验步骤 (1)预习：有条件的情况下，利用附1介绍的X 射线多晶衍射法物相分析的模拟软件，预习X 射线多晶衍射法进行物相分析的基本过程。 (2)制样：用玛瑙研钵将样品研细后，通过325目筛，将筛下物放在样品板的槽内，略高于槽面，用不锈钢片适当压紧样品，且表面光滑平整，必要时可滴一层酒精溶液(或溶有少量苯乙烯的甲苯溶液)，然后将样品板轻轻地插在测角仪中心的样品架上。 (3)测试： ①首先打开冷却水阀门和总电源及计算机稳压电源。 ②打开X 射线发生器总电源，将稳压、稳流调节至最小值，关好防护罩门，调整好水量，)(l k h '''l k h d ' ''l n k n h n ' ''θλθn d l n k n h n l k h ='''''' sin 2l n k n h n '''hkl hkl θ4
17 X射线多晶衍射法物相分析
实验十七 X 射线多晶衍射法物相分析 1 目的要求 (1) 掌握X 射线多晶衍射法的实验原理和技术。 (2) 学会根据X 射线衍射图，使用X 射线粉末衍射索引和卡片进行物相分析。 2 基本原理 若以 代表晶体的一族晶面的指标， 是这族晶面中相邻两平面的间距，入射X 射线与这族晶面的夹角 满足下面布拉格方程时，就可产生衍射。 式中n 为整数，表示相邻两晶面的光程差为n 个波，所以n 又叫衍射级数，式中 常 用 表示， 称为衍射指标，它和晶面指标是整数位关系。 当单色X 射线照到多晶样品上时，由于多晶样品中含有许许多多小晶粒，它们取向随机地聚集在一起，同样一族晶面和X 射线夹角为θ的方向有无数个，产生无数个衍射，形成以 入射线为中心， 为顶角的衍射圆锥，它将对应于X 射线衍射图谱的一个衍射峰。多晶样品中有许多晶面族，当它们符合衍射条件时，相应地会形成许多以入射线为中心轴张角不同的衍射线。不同的晶面其晶面间距不同，可见晶面间距决定了衍射峰的位置，而晶面间距d 是晶胞参数的函数，所以衍射峰的位置是由晶胞参数所决定的。至于衍射峰的强度I 与结构因子｜F ｜2成正比，而｜F ｜2是晶胞内原子的种类、数量、坐标的函数，因此，衍射强度是由晶胞的结构所决定的。由于每一种晶体都有它特定的结构，不可能有两种不同的晶体物质具有完全相同的晶胞参数和晶胞结构，也就不会有两种不同的物质具有完全相同的衍射图，晶体衍射图就象人的指纹一样各不相同，即每种晶体都有它自己的“d/n ～I ”数据，可以据此来鉴别晶体物质的物相。若一物质含有多种物相，这几种物相给出各自的衍射图，彼此独立，互不相干，即由几种物相组成的固体样品的衍射图，是各个物相的衍射图，按各物相的比例，简单叠加在一起构成的。这样就十分有利于对多相体系进行全面的物相分析了。 国际粉末衍射标准联合会(JCPDS)已收集了几万种晶体的衍射标准数据，并编制了一套X 射线粉末衍射卡片(PDF ，其内容和检索方法见附2)。实际工作中只要测得试样的多晶衍射数据，再去查对粉末衍射卡片，即可鉴定试样，进行物相分析。 3 仪器 试剂 X 射线衍射仪 玛瑙研钵 分样筛 粉末样品板 选择若干合适晶体的未知物样品 4 实验步骤 (1)预习：有条件的情况下，利用附1介绍的X 射线多晶衍射法物相分析的模拟软件，预习X 射线多晶衍射法进行物相分析的基本过程。 (2)制样：用玛瑙研钵将样品研细后，通过325目筛，将筛下物放在样品板的槽内，略高于槽面，用不锈钢片适当压紧样品，且表面光滑平整，必要时可滴一层酒精溶液(或溶有少量苯乙烯的甲苯溶液)，然后将样品板轻轻地插在测角仪中心的样品架上。 (3)测试： ①首先打开冷却水阀门和总电源及计算机稳压电源。 ②打开X 射线发生器总电源，将稳压、稳流调节至最小值，关好防护罩门，调整好水量，)(l k h '''l k h d ' ''l n k n h n ' ''θλθn d l n k n h n l k h ='''''' sin 2l n k n h n '''hkl hkl θ4
现代分析测试技术_02X射线多晶衍射方法及应用综合练习
第二章X射线多晶衍射方法及应用 （红色的为选做，有下划线的为重点名词或术语或概念） 1．名词、术语、概念：选靶，滤波，衍射花样的指数化，连续扫描法，步进扫描法，X射线物相分析，X射线物相定性分析，X射线物相定量分析。 2．X射线衍射方法分为多晶体衍射方法和单晶体衍射方法；多晶体衍射方法主要有（）和（）；单晶体衍射方法主要有（）、（）和（）等。 3．根据底片圆孔位置和开口所在位置不同，德拜法底片的安装方法有3种，即（）、（）和（）。 4．德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于（）、（）、（）、（）等，校正的方法主要是采用（）安装底片。 5．入射X射线的波长λ越长则可能产生的衍射线条越多。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 6．靶不同，同一干涉指数（HKL）晶面的衍射线出现的位置（2θ）不同。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 7．德拜法的样品是平板状的，而衍射仪法的样品是圆柱形的。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 8．德拜照相法衍射花样上，掠射角（θ）越大，则分辨率（φ）越高，故背反射衍射线条比前反射线条分辨率高。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 9．在物相定量分析方面，德拜法的结果比衍射仪法准确。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 10．多晶衍射仪法测得的衍射图上衍射峰的位置十分精确，没有误差。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 11．如果采用Mo靶（λKα=0.07093nm），那么晶面间距小于0.035nm的晶面也可能产生衍射线。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 12．在X射线物相定性分析过程中，主要是以d值为依据，而相对强度仅作为参考依据。 这种说法（）。 A．正确；B．不正确 13．X射线衍射法测定晶体的点阵常数是通过衍射线的位置（2θ）的测定而获得的，点阵常数测定时应尽量选用低角度衍射线。这种说法（）。 A．正确；B．不正确 14．入射X射线的波长（λ）越长则可能产生的衍射线条（）。 A．越少；B．越多 15．靶不同，同一指数（HKL）干涉面的衍射线出现的位置2θ（）。 A．相同；B．不相同；C．说不清楚 16．实际应用中最常用的X射线衍射方法是（）。 A．劳厄法；B．粉末衍射仪法；C．周转晶体法；D．德拜照相法 17．德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。 A．正装法；B．反装法；C．偏装法；D．A+B 18．已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（）。 A．Co；B．Ni；C．Fe 19．粉末衍射仪法中的试样形状是（）。
X射线多晶衍射法物相分析.
X 射线多晶衍射法物相分析 1 (1) 掌握 X (2) 学会根据X 射线衍射图，使用X 射线粉末衍射索引和卡片进行物相分析。 2 若以 代表晶体的一族晶面的指标， 是这族晶面中相邻两平面的间距，入射X 射线与这族晶面的夹角 满足下面布拉格方程时，就可产生衍射。 式中n 为整数，表示相邻两晶面的光程差为n 个波，所以n 又叫衍射级数，式中 常 用 表示， 当单色X 射线照到多晶样品上时，由于多晶样品中含有许许多多小晶粒，它们取向随机地聚集在一起，同样一族晶面和X 射线夹角为θ的方向有无数个，产生无数个衍射，形成以 入射线为中心， 为顶角的衍射圆锥，它将对应于X 射线衍射图谱的一个衍射峰。多晶样品 中有许多晶面族，当它们符合衍射条件时，相应地会形成许多以入射线为中心轴张角不同的衍射线。不同的晶面其晶面间距不同，可见晶面间距决定了衍射峰的位置，而晶面间距d 是晶胞参数的函数，所以衍射峰的位置是由晶胞参数所决定的。至于衍射峰的强度I 与结构因子｜F ｜2成正比，而｜F ｜2是晶胞内原子的种类、数量、坐标的函数，因此，衍射强度是由晶胞的结构所决定的。由于每一种晶体都有它特定的结构，不可能有两种不同的晶体物质具有完全相同的晶胞参数和晶胞结构，也就不会有两种不同的物质具有完全相同的衍射图，晶体衍射图就象人的指纹一样各不相同，即每种晶体都有它自己的“d/n ～I ”数据，可以据此来鉴别晶体物质的物相。若一物质含有多种物相，这几种物相给出各自的衍射图，彼此独立，互不相干，即由几种物相组成的固体样品的衍射图，是各个物相的衍射图， 按各物相的比例， 国际粉末衍射标准联合会(JCPDS)已收集了几万种晶体的衍射标准数据，并编制了一套X 射线粉末衍射卡片(PDF ，其内容和检索方法见附2)。 实际工作中只要测得试样的多晶衍射数 3 仪器 X 射线衍射仪 分样筛 选择若干合适晶体的未知物样品 4 (1)预习：有条件的情况下，利用附1介绍的X 射线多晶衍射法物相分析的模拟软件，预习 X (2)制样：用玛瑙研钵将样品研细后，通过325目筛，将筛下物放在样品板的槽内，略高于槽面，用不锈钢片适当压紧样品，且表面光滑平整，必要时可滴一层酒精溶液(或溶有少量苯乙烯的甲苯溶液) (3) ②打开X 射线发生器总电源，将稳压、稳流调节至最小值，关好防护罩门，调整好水量， )(l k h '''l k h d ' ''l n k n h n ' ''θλθn d l n k n h n l k h ='''''' sin 2l n k n h n '''hkl hkl θ4
X射线双晶衍射
X射线双晶衍射方法的基本原理及应用 摘要：简要介绍x射线双晶衍射技术原理。简要讲述了双晶衍射技术的应用范围及应用多晶衍射仪所能做的工作。 关键词：双晶衍射，回摆曲线，倒易空间图，反射率曲线。 一、基本原理 固体物质大体上分为两类：晶体和非晶体，两者的基本区别就在于它们的内部结构是否具有规律性，X射线衍射是研究空间周期性的仪器。 原子对X射线有散射作用。在某些特定方向上，散射线的相同加强，这种现象即称为衍射[1]1. 在图1中，存在两排周期性分布的原子，组成了两个晶面。射线1和射线2分别入射到相邻的晶面上，并向各个方向散射。散射线束中唯有1和2在AD面以后的光程也相等。因此，射线1A1、和2B2、的光程差为 CBD=CB+BD=2AB*sinθ=2dsinθ
若该两射线同相位，则光程差CBD必定等于波长的整数倍，即 Nλ=2dsinθ 该式即为布拉格衍射方程，式中n为几何数，数值上等于相邻晶面的光程差（波长）；d为晶体的衍射面间距，亦即晶格常量；θ为布拉格角，即入射线与衍射面的夹角。 由于每种晶体的晶格常量各不相同，由此我们可以用来检测不同晶体，目前应用广泛的粉末衍射仪就是基于此理论工作的。普通X射线管发出的X射线，其波长是连续的，也叫白色X射线。如图2所示。 在粉末衍射仪中，使用滤波片滤掉其它波长，只留下Kα（Kα包括Kα1和Kα2，它们的波长非常接近，通常只差0.01à）。应用适当仪器对衍射线进行检测，这就是粉末衍射仪的简单工作过程[2] 目前粉末衍射仪在分析检测晶体方面得到了广泛的应用，在化学、冶金、材料等研究领域应用于晶体结构测定。 但是，粉末衍射仪在分析近完整晶体时，遇到了问题。在通常的进完整晶体中。缺陷、畸变等体现在X射线谱中只有几十弧秒，半导体材料进行外延生长要求晶格失配要达到10-4或更小。为了提高器件的性能或增强超晶格材料的非线性光学性质，通常采用应力超晶格或应变量子阱结构，需要在材料生长中就引入可定量控制的微小应力或应压力对此类微应变的测量的要求，推动了X射线双晶衍射技术的迅速发展。早期这类仪器主要用来测定X射线波长、谱线宽度、晶体的反射系数等；后来，由于进完整晶体在半导体、激光等新兴科学技术
X射线多晶衍射实验报告
X射线多晶衍射实验报告 摘要： 本实验主要利用X射线粉末干涉仪分别测定四种样品A、B、C、D的衍射图谱，对样 品进行了物相分析。通过X射线粉末衍射分析得到样品A B B的晶粒大小为：C 1：1；样品D 例为50:11. 关键词： X射线粉末衍射；物相分析；衍射图谱 引言： X射线是一种波长很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。1912年德国物理学家劳厄提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。 获得多晶衍射图的方法有两种：德拜照相法和衍射仪法。20世纪50年代初X射线粉末衍射仪开始代替德拜照相法记录粉末衍射数据，而德拜照相法逐渐被淘汰，因为x射线粉末衍射仪法在材料物相的定性、定量测量方面有明显的有优势。 本实验主要通过对X射线粉末衍射仪的了解与运用，从而进一步熟悉定性物相分析和PDF数据库的使用方法，了解定性物相分析、精确测定晶格常数以及晶粒大小测量等实验方法。 实验原理： 1、X射线发生器 X射线发生器主要是由X射线管、高压发生器、管压管流稳定电路和各种保护电路组成。实验中的X射线管主要是利用真空管。在高真空的玻璃管里，被加热的阴极所发射的热电子，经阴极和阳极间的高电压加速后，高速撞击到阳极上，阳极为产生X射线的靶源。电子与靶物质发生碰撞而迅速减速，发生多次碰撞，逐次丧失能量，直至完全耗尽为止。在碰撞过程中会产生具有确定最短波长的X射线连续谱，辐射出特定波长的光子，即标识X
X射线多晶衍射实验报告
实验一X射线多晶衍射 一、实验目的 1、了解X射线衍射仪的构造与操作原理 2、了解X射线衍射仪分析的过程与步骤 3、掌握使用X射线衍射仪进行物相分析的基本原理和实验方法 4、掌握使用X射线衍射仪进行物相分析的衍射数据的处理方法 二、实验原理 1、传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。 图1-1是目前常用的热电子密封式X射线管的示意图。阴极由钨丝绕成螺线形，工作时通电至白热状态。由于阴阳极间有几十千伏的电压，故热电子以高速撞击阳极靶面。为防止灯丝氧化并保证电子流稳定，管内抽成1.33x10-9~1.33x10-11的高真空。为使电子束集中，在灯丝外设有聚焦罩。阳极靶由熔点高、导热性好的铜制成，靶面上被一层纯金属。常用的金属材料有Cr，Fe, Co, Ni, Cu, M O, W等。当高速电子撞击阳极靶面时，便有部分动能转化为X 射线，但其中约有99%将转变为热。为了保护阳极靶面，管子工作时需强制冷却。为了使用流水冷却．也为了操作者的安全，应使X射线管的阳极接地，而阴极则由高压电缆加上负高压。x射线管有相当厚的金属管套，使X射线只能从窗口射出。窗口由吸收系数较低的Be片制成。结构分析用X射线管通常有四个对称的窗口，靶面上被电子袭击的范围称为焦点，它是发射X射线的源泉。用螺线形灯丝时，焦点的形状为长方形（面积常为1m m×10mm），此称为实际焦点。窗口位置的设计，使得射出的X射线与靶面成60角（图1-2），从长方形的短边上的窗口所看到的焦点为1mm2正方形，称点焦点，在长边方向看则得到线焦点。一般的照相多采用点焦点，而线焦点则多用在衍射仪上。 图1-2 在与靶面成60角的方向上接收X射线束的示意图 自动化衍射仪是近年才面世的新产品，它采用微计算机进行程序的自动控
多晶X射线衍射实验报告
多晶X射线衍射实验报告 姓名： 学号： 院系：物理学系
多晶X射线衍射实验报告 姓名： 学号： 院系：物理学系 一、实验目的 1、了解衍射仪的正确使用方法。 2、掌握立方系晶体晶格常数的求法。 二、实验设备 X射线衍射仪，它主要包括X射线发生器、测角台、探测记录系统三部分。现代衍射仪还配有功能各异的计算机操作系统及数据处理系统。 三、实验原理 （一）粉末衍射花样（线条）产生的原理 粉末法是用单色X射线（特征辐射）照射多晶粉末试样以获得衍射线的衍射方法。根据记录衍射线的方法的不同，粉末法又可分为粉末照相法（用照相底片记录）和粉末衍射仪法（用计数器记录）。 ①用厄瓦尔德作图法解释粉末衍射花样的形成。 在多晶样品中的所有小晶体，它们的倒易点阵都是一样的，只是由于这些小晶体的取向是无规的，各个小晶体的倒易点阵的取向也是无规的。 我们取某一个倒易点hkl来考察，它的 倒易矢量长度 1 hkl hkl g d 。由于取向的无规 性，整个样品所有小晶体的这个倒易点是均匀分布在以晶体为中心，以 hkl g为半径的球面上；并且，由于样品中小晶体数目大，倒易点在球面上的密度是很高的。其它指数的倒易点则处在其它半径的球面上，但所有球面都是同心的。也就是说，无规取向多晶体中倒易点是分布在一系列同心球面上的，球的半径分别等于相应的倒易矢长度，这就是多晶体的倒易点阵模型。 通过倒易球心（即倒易点阵原点）画出以入射线波长倒数为半径，以入射线上一点为中心的反射球，这反射球将与倒易点球面相交，交线是一系列垂直于入射线的圆。右图中的ABDE是其中的一个相交圆。显然，在
圆上的倒易点都是满足布拉格条件的，都会发生衍射。一个倒易点就产生一支 衍射线束，方向是从反射球心C 指向交线圆上的倒易点，因而这些衍射线束构 成以入射线束为轴的圆锥面，锥的张角为224θθ?=（当45θ>时，圆锥的张 角为24πθ-）。这个倒易点球上不在交线圆上的倒易点都不发生衍射。其它指 数的倒易点构成其它半径的倒易点球，这些球与反射球相交成另一些圆，衍射 线束构成另一些张角的圆锥面。这些圆锥面称为衍射锥。当这些在圆锥面上的 衍射线束投射到与入射线束垂直的平板底片上时，就形成同心的一系列圆环， 投射到圆柱形底片上时，就形成下图所示的衍射花样。粉末相上的环或线称为 衍射环或线，也称为德拜环或德拜线。圆柱形底片上的粉末相也叫德拜相。 ②用晶面反射的概念解释粉末衍射花样的形成 多晶或粉末试样中包含的晶粒很多，并且是无规分布的，这就使任一晶面 (hkl)可以在空间任何取向上出现。这相当于（hkl ）面在空间自由转动，不断 改变与入射线所成的角度，当这角度符合布拉格 定律的要求时，(hkl)面就会发生反射。 右上图实线表示(hkl)面与入射线成θ时， 反射出一束衍射线。右下图用虚线表示了另一个 取向不同的(hkl)面。这个晶面尽管在空间的取 向不同，但也与入射线成θ角，显然也能产生反 射。 可以产生反射的(hkl)面当然不限于图中所 示的两种情况。如果以入射线为轴进行旋转，则 图中的(hkl)面会构成一个半顶角为θ的锥面， 在这锥面上的(hkl)面都符合布拉格定律，都能 产生反射。这些反射线构成一个半顶角为2θ的 锥面，称为衍射锥。衍射锥与垂直于入射线的底 片相交，就会在底片上得到一个圆环，这就是德 拜环。但在德拜法中，底片上记录的只是一些近似于圆弧的曲线，称为德拜线。 指数不同的晶面，其反射线的θ角也不同。于是，多晶试样可以得到一组 不同半顶角2θ的衍射锥。相应地，德拜照片上出现一系列德拜线。 （二）衍射仪的原理 X 射线衍射仪是由X 射线发生器、测角台、探测记录系统组成的。现代衍射仪还 配有功能各异的计算机操作系统及数据处理系 统。 a ．X 射线发生器 它是由X 射线管和一个高压发生器组成的。 X 射线管是一支热阴极二级电子管。在高压发生 器输出的高压作用下，带有聚焦罩的热阴极发射 的电子被加速到具有数十KeV 的能量。电子束 打到阳极靶面上，激发出X 射线。靶面被电子打 击处称为焦斑。