SDH时钟指标、时钟功能的测试方法

信号完整性研发测试攻略2.0

信号完整性测试指导书 ——Ver 2.0 编写：黄如俭（sam Huang） 钱媛（Tracy Qian） 宋明全（Ivan Song） 康钦山（Scott Kang）

目录 1. CLK Test (3) 1.1 Differential Signal Test (3) 1.2 Single Signal Test (5) 2. LPC Test (7) 2.1 EC Side Test (7) 2.2 Control Sidse Test (8) 3. USB Test (11) 3.1 High Speed Test (11) 3.2 Low Speed Test (12) 3.3 Full Speed Test (12) 3.4 Drop/Droop Test (12) 4. VGA Test (14) 4.1 R、G、B Signal Test (14) 4.2 RGB Channel to Channel Skew Test (14) 4.3 VSYNC and HSYNC Test (15) 4.4 DDC_DA TA and DDC_CKL Test (15) 5. LVDS Test (17) 5.1 Differential data signals swing Test (17) 5.2 Checking Skew at receiver Test (18) 5.3 Checking the offset voltage Test (19) 5.4 Differential Input Voltage Test (20) 5.5 Common Mode Voltage Test (20) 5.6 Slew Rate Test (21) 5.7 Data to Clock Timing Test (23) 6. FSB Test (26) 7. Serial Data（SA TA/ESA TA, PCIE, DMI,FDI）Test (29) 8. HD Audio Test (30) 8.1 Measurement at The Controller (30) 8.2Measurement at The Codec (31) 9. DDR2 Test (34) 9.1 Clock (34) 9.2 Write (35) 9.3 Read (37) 10.Ethernet Test (39) 11.SMbus Signal Test (40) 12. HDMI Test (42) 13. DisplayPort Test (43)

高精度时钟芯片的测试方法介绍

高精度时钟芯片的测试方法介绍 中国电子科技集团公司第五十八研究所武新郑解维坤 摘要： 高精度时钟芯片是一种能够提供精确计时的芯片，相对于普通的时钟芯片，它的晶体和温度补偿集成在芯片中，为提高计时精度提供了保障，它同时还具备日历闹钟功能、可编程方波输出功能等。本文以DS3231芯片为例，以J750Ex测试机和相关仪表为测试环境，重点介绍以I2C总线协议为基础的内部寄存器功能和芯片各模块功能的测试。通过测试机测试保存在寄存器中秒、分、时、星期、日期、月、年和闹钟设置等信息，以及电源控制功能，通过测试机对示波器和频率计的程控实现对老化修正和输出频率的测试，同时还会重点介绍该芯片时钟精度的测试方法和测试环境。 关键词： 高精度时钟芯片；DS3231芯片；J750Ex测试机；I2C总线协议 Introduction of testing method of the extremely accurate RTC Wu Xin-zheng (China Electronic Technology Group Corporation, No.58 Research Institute , Jiangsu Wuxi 214035, China) Abstract: The extremely accurate real time clock is a piece of chip which can maintain accurate timekeeping, compared with the ordinary RTC chip, its integrated temperature compensated crystal oscillator and crystal are located in the center of the chip, which provides an assurance for promoting the exacticy, it also has two programmable time-of-day alarms and a programmable square-wave output. This paper takes DS3231 for instance, the environment with J750Ex and related instruments, introduces inner register with I2C and the testing method of every module. The ATE tests seconds, minutes, hours, day, date, month, and year information, the function of power. By means of OSC and frequency meter, it can test the output wave and register for aging trim, at the same time, also introduced the testing method and environment of accuracy. Key words:

实验一小信号调谐(单调谐)放大器实验指导

实验一高频小信号单调谐放大器实验 一、实验目的 1.掌握小信号单调谐放大器的基本工作原理； 2.熟悉放大器静态工作点的测量方法； 3.掌握谐振放大器电压增益、通频带、选择性的定义、测试及计算； 4.了解高频单调谐小信号放大器幅频特性曲线的测试方法。 二、实验原理 小信号单谐振放大器是通信接收机的前端电路，主要用于高频小信号的线性放大。其实验原理电路如图1-1所示。该电路由晶体管BG、选频回路（LC并联谐振回路）二部分组成。它不仅对高频小信号进行放大，而且还有一定的选频作用。 1．单调谐回路谐振放大器原理 单调谐回路谐振放大器原理电路如图1-1所示。图中，R B1、R B2、R E用以保证晶体管工作于放大区域，从而放大器工作于甲类。C E是R E的旁路电容，C B、C C 是输入、输出耦合电容，L、C是谐振回路，R C是集电极（交流）电阻，它决定了回路Q值、带宽。为了减轻负载对回路Q值的影响，输出端采用了部分接入方式。 2．单调谐回路谐振放大器实验电路 单调谐回路谐振放大器实验电路如图1-2所示。其基本部分与图1-1相同。图中，C3用来调谐，K1、K2、K3用以改变集电极电阻，以观察集电极负载变化对谐振回路（包括电压增益、带宽、Q值）的影响。K4、K5、K6用以改变射极偏置电阻，以观察放大器静态工作点变化对谐振回路（包括电压增益、带宽、Q值）的影响。

图1-2 单调谐回路谐振放大器实验电路 高频小信号调谐放大器的主要性能指标有谐振频率f 0，谐振电压放大倍数A u0，放大器的通频带BW 0.7及选择性（通常用矩形系数K 0.1来表示）等。 放大器各项性能指标及测量方法如下： 1.谐振频率 放大器的调谐回路谐振时所对应的频率f 0称为放大器的谐振频率，对于图1所示电路（也是以下各项指标所对应电路），f 0的表达式为 ∑=LC f π21 式中，L 为调谐回路电感线圈的电感量； ∑C 为调谐回路的总电容，∑C 的表达式为 21oe C C n C ∑=+ 式中， C oe 为晶体管的输出电容； n 1（注：此图中n 1=1）为初级线圈抽头系数；n 2为次级线圈抽头系数。 谐振频率f 0的测量方法是： 用扫频仪作为测量仪器，测出电路的幅频特性曲线，微调C3，使电压谐振曲线的峰值出现在规定的谐振频率点f 0。 2.电压放大倍数 放大器的谐振回路谐振时，所对应的电压放大倍数A u0称为调谐放大器的电压放大倍数。A u0的表达式为

高速信号的扩频时钟的测试分析

胡为东系列文章之二 高速信号的SSC扩频时钟测试分析 美国力科公司胡为东摘要：由于FCC、IEC等规定电子产品的EMI辐射不能超出一定的标准。因此电路设计者需要从多个角度来思考如何降低系统的EMI辐射，如进行合理的PCB布线、滤波、屏蔽等。由于信号的辐射主要是由于信号的能量过于集中在其载波频率位置，导致信号的能量在某一频点位置处的产生过大的辐射发射。因此为了进一步有效的降低EMI辐射，芯片厂家在设计芯片时也给容易产生EMI的信号增加了SSC（Spread Spectrum Clocking）即扩频时钟的功能，采用SSC的功能可以有效的降低信号所产生的EMI。当前PCIE、SATA、SAS、USB3.0等几乎所有的高速芯片都支持SSC的功能。本文就将SSC的基本概念、SSC的测试测量方法做一介绍。 关键词：力科SSC 扩频时钟EMI 眼图 一、SSC（扩频时钟）的概念 如下图1所示为一信号在是否具有SSC前后的频谱对比。图中蓝色曲线为没有SSC时候的频谱，浅色的为具有SSC时的频谱。从图中可见，未加SSC时，信号的能量非常集中，且幅度很大；而加了SSC后，信号能量被分散到一个频带范围以内，信号能量的整体幅度也有明显降低，这样信号的EMI辐射发射就将会得到非常有效的抑制。这就是通过使用SSC 扩频时钟的方法抑制EMI辐射的基本原理。 使用SSC的方法能在多大程度上抑制EMI辐射和调制后信号能量在多宽频率范围内变化有关，频率变化范围越大，EMI抑制量越大。但这两者需要一个权衡，因为频率变化范围太大会使系统的时序设计带来困难。在Intel的Pentium4处理器中建议此频率变化范围要小于时钟频率的0.8%，如对于100MHZ的时钟，如果按照+/-8%来调制的话，频率的变化范围就是99.2MHZ-100.8MHZ。而对于100MHZ参考时钟的系统工作到100.8MHZ，可能会 图1 SSC扩频时钟的图示 导致处理器超出额定工作频率，带来其它系统工作问题。因此在实际系统工作中一般都采用

高频实验：小信号调谐放大器实验报告要点

实验一 小信号调谐放大器实验报告 一 实验目的 1．进一步掌握高频小信号调谐放大器的工作原理和基本电路结构。 2．掌握高频小信号调谐放大器的调试方法。 3．掌握高频小信号调谐放大器各项技术参数（电压放大倍数，通频带，矩形系数）的测试。 二、实验使用仪器 1．小信号调谐放大器实验板 2．200MH 泰克双踪示波器 3. FLUKE 万用表 4. 模拟扫频仪（安泰信） 5. 高频信号源 三、实验基本原理与电路 1、 小信号调谐放大器的基本原理 所谓“小信号”，通常指输入信号电压一般在微伏 毫伏数量级附近，放大这种信号的放大器工作在线性范围内。所谓“调谐”，主要是指放大器的集电极负载为调谐回路（如LC 调谐回路）。这种放大器对谐振频率0f 及附近频率的信号具有最强的放大作用，而对其它远离0f 的频率信号，放大作用很差，如图1-1所示。 图1.1 高频小信号调谐放大器的频率选择特性曲线 小信号调谐放大器技术参数如下： 1 0.707

1.增益:表示高频小信号调谐放大器放大微弱信号的能力 2.通频带和选择性：通常规定放大器的电压增益下降到最大值的0.707倍时，所对应的频率范围为高频放大器的通频带，用B0.7表示。衡量放大器的频率选择性，通常引入参数——矩形系数K0.1。 2.实验电路 原理图分析： In1是高频信号输入端，当信号从In1输入时，需要将跳线TP1的上部连接起来。In2是从天线接收空间中的高频信号输入，电感L1和电容C1,C2组成选频网络，此时，需要将跳线TP1的下部连接起来。电容C3是隔直电容，滑动变阻器RW2和电阻R2,R3是晶体管基极的直流偏置电阻，用来决定晶体管基极的直流电压，电阻R1是射极直流负反馈电阻，决定了晶体管射极的直流电流Ie。晶体管需要设置一个合适的直流工作点，才能保证小信号谐振放大器正常工作，有一定的电压增益。 通常，适当的增加晶体管射极的直流电流Ie可以提高晶体管的交流放大倍数 ，增大小信号谐振放大器的放大倍数。但Ie过大，输出波形容易失真。一般控制Ie在1-4mA之间。 电容C3是射极旁路电路，集电极回路由电容和电感组成，是一个并联的LC 谐振回路，起到选频的作用，其中有一个可变电容可以改变回路总的电容值。电

时钟信号质量测试用例5.6

1.目的 测量手机各时钟信号是否符合设计规范，以确保手机各项性能稳定可靠。 2.适用范围 适用于新开发手机产品在试产阶段的评测。 3.测试准备和说明： 3.1程控电源、数字示波器、频率计、原理图及PCB丝印图、原配耳机、SIM卡、TF卡、 烙铁、细导线若干、蓝牙耳机； 3.2测试结果如有必要需附测试波形图。 4.测试过程： 4.1 实时钟32.768KHz时钟测试(测试用例编号: 5. 6.1) 4.1.1测试条件： 被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。 4.1.2 测试步骤： 1）从原理图上找到32.768KHz晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT 端，频率计(10M档位)读数即为晶体频率； 2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒； 3）通道耦合选取直流模式，档位设定为100mV，时间标度设置为10.0us； 4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等； 5）按测试说明要求，在摄像状态选取一个半周期的完整波形，按运行/停止键抓取波形，测量读取数据并按Save键保存波形。 4.1.3 预期结果： 测试项目参考值 电压峰值690-750mV 毛刺0 频偏±20ppm 抖动幅度0 占空比50% 4.2 主时钟26MHz时钟测试(测试用例编号: 5. 6.2) 4.2.1测试条件： 被测机开壳，被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。 4.2.2 测试步骤： 1）从原理图上找到26M晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT端，频 率计(120M档位)读数为即晶体频率； 2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒； 3）通道耦合选取直流模式，档位设定为500mV，时间标度设置为400ns；

信号完整性测试规范和工作流程V091

信号完整性测试规范和工作流程(Ver0.9x) 历史记录： 1．2003-4-22：初稿、起草。 2．2003-5-23： 一．主要目的： 信号完整性测试的思想是信号源输出，经过传输线到达信号末端（负载），信号本身的相对变化情况。主要目的是验证PCB设计是否保证了信号在传输过程中能否保证其完整性，以信号的相对测试为主旨，信号本身8的绝对测试为辅。信号比较的内容主要是信号的本征特性参数。同时也部分验证电路原理设计的合理性。也检验产品的性能符合国家有关标准的要求，比如3C、EMC、ESD等。从定性参数的角度保证PCB设计达到了电路设计的要求，同时也保证产品的可靠性、一致性。 信号完整性测试一般是在线测试，因此很多测试参数在不同的工作模式下会有较大的差别。一般情况下需要测试静态工作模式，但一些参数需要测试满负荷工作模式。另外测试点的选择，特别是接地点的位置会对测试结果有很大的影响。 二．基本要求： 要求测试准确、可靠、完善。并要求有完整的测试报告。这里的要求是一般通用性的要求，针对具体的产品、产品的不同阶段，可以提出不同的参数要求和具体的测试内容。由于测试是在PCB板上（或称“在线”）的测试，因此一些测试条件和测试参数的定义条件可能会出现不一致的情况，因此规定：测试的基本状态在没有任何说明的情况下，认为是静态工作模式或额定正常工作模式。如果在测试方法中有规定或说明的，以测试说明的条件为准。在类型和参数中列出了比较详细全面的参数，但在测试中可能没有要求，因此，具体产品如果需要测试请加以特别说明。一般规定：主要参数是必须测试的项目参数。 + 三．类型和参数： 3.1电源部分： 3.1.1电源类型分为LDO电源、DC/DC电源。 3.1.2主要参数有：幅度、纹波、噪声。 3.1.3状态分为：额定负载、空载、轻载、重载、超载。 3.1.4保护能力：输出电流保护、输出电压保护、输入电压保护、热保护。 3.1.5其它参数：输入电压适应性、静态电流、关机电流（漏电流）。 3.2时钟信号： 3.2.1时钟源分类：晶体时钟（正弦波时钟）、晶振时钟（方波时钟、钟振时钟）。 3.2.2时钟类型：系统时钟（源时钟）、（数据）同步时钟。 3.2.3主要参数：频率、占空比、过冲、上升沿、下降沿。 3.2.4其它参数：相位抖动、频率漂移、波形畸变。 3.3总线类信号： 3.3.1分类：数据类总线、地址类总线、混合类总线。 3.3.2主要参数：幅度、过冲。 3.3.3其它参数：抖动、上升沿、下降沿。 3.4端口信号： 3.4.1分类：数据信号、基带（调制）信号、二次调制信号、 3.4.2主要参数：幅度、过冲、上升沿、下降沿。 3.4.3其它参数：抖动、频谱、功率（谱）密度。 3.4.4使用到的几种埠：串口、网口、USB口、IF、RF。 3.5其它信号、器件、电路： 3.5.1主要的几个：复位信号、JTAG、无线、功耗、温度、音频振荡器。 3.5.2参数：

实验一高频小信号调谐放大器实验报告

高频小信号调谐放大器 一、实验目的 1.进一步掌握高频小信号调谐放大器的工作原理和基本电路结构。 2.掌握高频小信号调谐放大器的调试方法。 3.掌握高频小信号调谐放大器各项技术参数（电压放大倍数，通频带，矩形系数）的测试方法。 4.熟练掌握multisim软件的使用方法，并能够通过仿真而了解到电路的一些特性以及各电路原件的作用 二、实验仿真 利用实验室计算机或者自己计算机上安装的Multisim9（10）软件，参照实验电路图，进行仿真 仿真电路图如下：

六、数据处理 () f MHz 7 8 9 9.7 9.8 9.9 10 10.1 10. 2 10. 3 () i u mV15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 () o u mV19 28 55 120 128 138 143 150 140 130 (/) u o i A u u 1.2 7 1.8 7 3.6 7 8.0 8.5 3 9.2 9.5 3 10.0 9.3 3 8.6 7 () f MHz10. 4 10. 5 10. 6 10. 7 11 12 13 14 15 16 () i u mV15 15 15 15 15 15 15 15 15 15 () o u mV120 100 90 80 64 39 28 24 20 18 (/) u o i A u u8.0 0 6.6 7 6.0 5.3 3 4.2 7 2.6 1.8 7 1.6 1.3 3 1.2

7 8910111213141516 25 50 75 100 125 150 uo(mV) f(MHz) 二、实验仿真 利用实验室计算机或者自己计算机上安装的Multisim9（10）软件，参照实验电路图，进行仿真 仿真电路图如下： 使得晶体满足： 1.发射极正偏:b e V V >，且0.6be V V >

手机常用信号的测试方法

手机常用信号的测试方法 ●目的 1．掌握手机常用供电电压的测试方法。 2．掌握手机常用波形的测试方法。 3．掌握手机常用频率的测试方法。 ●要求 1．实习前认真阅读实习指导 2．实习中测试信号电压、波形和频率时要启动相应的电路。 3．实习后写出实习报告。 手机常见供电电压的测试 维修不开机、不入网、无发射、不识卡、不显示等故障，需要经常测量相关电路的供电电压是否正常，以确定故障部位，这些供电电压，有些为稳定的直流电压，有些则为脉冲电压，一般来说，直流电压即可用万用表测量，也可用示波器测量，当然，用万用表测量是最为方便和简单的，只要所测电压与电路图上的标称电压相当，即可判断此部分电路供电正常；而脉冲电压一般需用示波器测量，用万用表测量，则与电路图中的标称值会有较大的出入。脉冲电压大都是受控的(有些直流电压也可能是受控的)，也就是说，这个脉冲电压只有在 启动相关电路时才输出，否则，用示波器也测不到。 下面分以下几种情况分析供电电压信号的测试方法。 一、外接电源供电电压 1．指导 维修手机时，经常需要用外接电源采代替手机电池，以方便维修工作，这个外接电源在和手机连接前，应调到和手机电池电压一致，过低会不开机，过高则有可能烧坏手机。 外接电源和手机连接后，要供到手机的电源IC或电源稳压块。外接稳压电源输出的是一个直流电压，且不受控；测量十分简单，只需在电源IC或稳压块的相关引脚上，用万用表即可方便地测到。如果所测的电压与外接电源供电电压相等，可视为正常，否则，应检查供电支路是否有断路或短路现象。 2．操作 以摩托罗拉T2688手机为例，装上电池，不开机，测试直通电池正极的电压，共12处： (1)功放U201的左上角(8脚)、右上角(6脚)。 (2)功控ICU202的4脚。 (3)电源ICU27的1、10脚。 (4)充电二极管D14的负极。 (5)射频供电ICIC301的7脚。 (6)U47的6脚。 (7)U35的4脚。 (8)振子驱动管集电极。 (9)电池退耦电容下端。 (10)发光二极管驱动管BQ2集电极。 (11)开机键外圈。 (12)U26的2脚。二、开机信号电压 1．指导 手机的开机方式有两种，一种是高电平开机，也就是当开关键被按下时，开机触发端

实验一小信号调谐(单双调谐)放大器实验

实验一高频小信号调谐放大器实验 一、实验目的 1.掌握小信号调谐放大器的基本工作原理； 2.掌握谐振放大器电压增益、通频带、选择性的定义、测试及计算； 3.了解高频小信号放大器动态范围的测试方法； 二、实验原理 1-1a1-1b （一）单调谐放大器 小信号谐振放大器是通信机接收端的前端电路，主要用于高频小信号或微弱信号的线性放大。其实验单元电路如图1-1（a）所示。该电路由晶体管Q1、选频回路T1二部分组成。它不仅对高频小信号进行放大，而且还有一定的选频作用。本实验中输入信号的频率f S＝12MHz。基极偏置电阻W3、R22、R4和射极电阻R5决定晶体管的静态工作点。可变电阻W3改变基极偏置电阻将改变晶体管的静态工作点，从而可以改变放大器的增益。 表征高频小信号调谐放大器的主要性能指标有谐振频率f0，谐振电压放大倍数A v0，放大器的通频带BW及选择性（通常用矩形系数K r0.1来表示）等。 放大器各项性能指标及测量方法如下： 1.谐振频率 放大器的调谐回路谐振时所对应的频率f0称为放大器的谐振频率，对

于图1-1（a ）所示电路（也是以下各项指标所对应电路），f 0的表达式为 ∑ = LC f π210 式中，L 为调谐回路电感线圈的电感量； ∑C 为调谐回路的总电容，∑C 的表达式为 ie oe C P C P C C 2221++=∑ 式中，C oe 为晶体管的输出电容；C ie 为晶体管的输入电容；P 1为初级线圈抽头系数；P 2为次级线圈抽头系数。 谐振频率f 0的测量方法是： 用扫频仪作为测量仪器，测出电路的幅频特性曲线，调变压器T 的磁芯，使电压谐振曲线的峰值出现在规定的谐振频率点f 0。 2.电压放大倍数 放大器的谐振回路谐振时，所对应的电压放大倍数A V0称为调谐放大器的电压放大倍数。A V0的表达式为 G g p g p y p p g y p p v v A ie oe fe fe i V ++-=-=- =∑2 22 1212100 式中，∑g 为谐振回路谐振时的总电导。要注意的是y fe 本身也是一个复数，所以谐振时输出电压V 0与输入电压V i 相位差不是180o而是为180o+Φfe 。 A V0的测量方法是：在谐振回路已处于谐振状态时，用高频电压表测量图1-1（a ）中输出信号V 0及输入信号V i 的大小，则电压放大倍数A V0由下式计算： A V0=V 0/V i 或A V0=20 lg (V 0/V i ) d B 3.通频带 由于谐振回路的选频作用，当工作频率偏离谐振频率时，放大器的电压放大倍数下降，习惯上称电压放大倍数A V 下降到谐振电压放大倍数A V0的0.707倍时所对应的频率偏移称为放大器的通频带BW ，其表达式为

示波器测量小信号方法

如何用示波器测量小信号 饶志华肖静刘滨 东华理工大学 用数字示波器测量小信号时，由于信号幅度较小，极容易受噪声干扰。经总结，用数字示波器测小信号可以按照如下步骤进行： 1、将信号好输入示波器（这里以p-p value=5mv，f=1KHz的余弦信号为例） 2、按”auto set”按钮获取波形，见图1 图1按”auto set”获取波形 3、按触发菜单按钮”trig menu”，在显示屏幕上弹出触发菜单，见按菜单旁边对应的按钮， 选取图示的触发方式，见图2 图2按触发菜单按钮选取合适触发方式

4、调节相应的幅度旋钮”scale”,将波形的幅度展宽（图中信号是从第一路输出），见图3。 图3调节幅度旋钮将波形的幅度展宽 5、调节相应的频率旋钮”scale”,将波形在时域上展开，仅在屏幕上仅显示1-3个周期（待补 图） 6、如果这时后的波形看不到余弦信号的样子，则可能是示波器抓取波形失败，则重复以上 步骤。 7、这时候示波器上显示的波形由于受噪声影响，重影非常明显，这时可以按捕获按 钮”acquire”，选取“取平均次数，即用多次采样的次来作为测量值，故可以中和掉噪声，这时候可以看到细小清晰的波形。（待补图） --------------- 注：实际信号发生器输出的波形噪声没有那么严重，大部分噪声是来自周围环境的噪声和信号发生器和示波器的接入方式，当采取同轴电缆将信号发生器和示波器直接连接起来的时候，不用求平均值的方式也可以得到较好的信号，这也从一方面说明了当用放大器放大小信号时，示波器上的输出信号不像输入信号般有非常大的噪声。

按下测量按钮，则可以得到测量波形的各项参数值。（待补图）

信号完整性分析与测试

信号完整性分析与测试 信号完整性问题涉及的知识面比较广，我通过这个短期的学习，对信号完整性有了一个初步的认识，本文只是简单介绍和总结了几种常见现象，并对一些常用的测试手段做了相应总结。本文还有很多不足，欢迎各位帮助补充，谢谢！ 梁全贵 2011年9月16日

目录 第1章什么是信号完整性------------------------------------------------------------------------------ 3第2章轨道塌陷 ----------------------------------------------------------------------------------------- 5第3章信号上升时间与带宽 --------------------------------------------------------------------------- 6第4章地弹----------------------------------------------------------------------------------------------- 8第5章阻抗与特性阻抗--------------------------------------------------------------------------------- 9 5.1 阻抗 ------------------------------------------------------------------------------------------ 9 5.2 特性阻抗------------------------------------------------------------------------------------- 9第6章反射----------------------------------------------------------------------------------------------11 6.1 反射的定义 ---------------------------------------------------------------------------------11 6.2 反射的测试方法--------------------------------------------------------------------------- 12 6.3 TDR曲线映射着传输线的各点 --------------------------------------------------------- 12 6.4 TDR探头选择 ----------------------------------------------------------------------------- 13 第7章振铃--------------------------------------------------------------------------------------------- 14 第8章串扰--------------------------------------------------------------------------------------------- 16 8.1 串扰的定义 -------------------------------------------------------------------------------- 16 8.2 观测串扰 ----------------------------------------------------------------------------------- 16 第9章信号质量 --------------------------------------------------------------------------------------- 18 9.1 常见的信号质量问题 --------------------------------------------------------------------- 18 第10章信号完整性测试 ----------------------------------------------------------------------------- 21 10.1 波形测试---------------------------------------------------------------------------------- 21 10.2 眼图测试---------------------------------------------------------------------------------- 21 10.3 抖动测试---------------------------------------------------------------------------------- 23 10.3.1 抖动的定义 ------------------------------------------------------------------------ 23 10.3.2 抖动的成因 ------------------------------------------------------------------------ 23 10.3.3 抖动测试 --------------------------------------------------------------------------- 23 10.3.4 典型的抖动测试工具： ---------------------------------------------------------- 24 10.4 TDR测试 --------------------------------------------------------------------------------- 24 10.5 频谱测试---------------------------------------------------------------------------------- 25 10.6 频域阻抗测试 ---------------------------------------------------------------------------- 25 10.7 误码测试---------------------------------------------------------------------------------- 25 10.8 示波器选择与使用要求： -------------------------------------------------------------- 26 10.9 探头选择与使用要求-------------------------------------------------------------------- 26 10.10 测试点的选择--------------------------------------------------------------------------- 27 10.11 数据、地址信号质量测试 ------------------------------------------------------------- 27 10.11.1 简述 ------------------------------------------------------------------------------- 27 10.11.2 测试方法-------------------------------------------------------------------------- 27

高频小信号选频放大器的测试与分析

高频小信号选频放大器的测试与分析

Q值）的影响。 图1-2 单调谐回路谐振放大器 【实验内容】 1．用万用表测量晶体管各点（对地）电压VB、VE、VC，并计算放大器静态工作点。 2．采用点测法测量单调谐放大器的幅频特性。 3．用示波器观察静态工作点、集电极负载对单调谐放大器幅频特性的影响。 4．用示波器观察放大器输入、输出波形。 3、学会连接电路的方法。 4、按《实验报告》的要求做好记录。 【实验步骤】 1. 在实验箱上插上实验板1。接通实验箱上电源开关，此时电源指示灯点亮。 2. 把实验板1左上方单元（单调谐放大器单元）的电源开关（K7）拨到ON位置，就接通了+12V电源（相应指示灯亮），即可开始实验。 3．单调谐回路谐振放大器静态工作点测量 ①取射极电阻R4=1kΩ（接通K4，断开K5、K6），集电极电阻R3=10kΩ（接通K1，断开K2、K3），用万用表测量各点（对地）电压VB、VE、VC，并填入表1.1内。 表1.1 射极偏置电阻 实测(V) 计算(V,mA) 晶体管工作于放大 区? 理由V B V E V C V BE V CE I C是否 R4=1kΩ 3.41 2.76 11.80 0.65 9.04 2.76 是V BE在0.6-0.7V间R4=510Ω 3.37 2.71 11.79 0.66 9.08 5.31 是V BE在0.6-0.7V间R4=2kΩ 3.45 2.81 11.80 0.64 8.99 1.41 是V BE在0.6-0.7V间 ②当R 4分别取510Ω（接通K 5 ，断开K 4 、K 6 ）和2kΩ（接通K 6 ，断开K 4 、K 5 ）时，重复上述过程，将 结果填入表1.1，并进行比较和分析。

信号完整性基础之九—— 时钟抖动测量和分析

信号完整性分析基础系列之九 ——时钟的抖动测量与分析 张昌骏 美国力科公司深圳代表处 摘要：本文简要介绍了时钟的抖动定义、各种抖动的应用范围、抖动的分解和基于示波器的测量与分析方法。 关键词：时钟，抖动测量，抖动分析，相位噪声，实时示波器 时钟是广泛用于计算机、通讯、消费电子产品的元器件，包括晶体振荡器和锁相环，主要用于系统收发数据的同步和锁存。如果时钟信号到达接收端时抖动较大，可能出现：并行总线中数据信号的建立和保持时间余量不够、串行信号接收端误码率高、系统不稳定等现象，因此时钟抖动的测量与分析非常重要。 时钟抖动的分类与定义 时钟抖动通常分为时间间隔误差（Time Interval Error，简称TIE），周期抖动（Period Jitter）和相邻周期抖动（cycle to cycle jitter）三种抖动。 TIE又称为phase jitter，是信号在电平转换时，其边沿与理想时间位置的偏移量。理想时间位置可以从待测试时钟中恢复，或来自于其他参考时钟。Period Jitter是多个周期内对时钟周期的变化进行统计与测量的结果。Cycle to cycle jitter是时钟相邻周期的周期差值进行统计与测量的结果。 对于每一种时钟抖动进行统计和测量，可以得到其抖动的峰峰值和RMS值（有效值），峰峰值是所有样本中的抖动的最大值减去最小值，而RMS值是所有样本统计后的标准偏差。如下图1为某100M时钟的TIE、Period Jitter、Cycle to Cycle jitter的峰峰值和RMS值的计算方法。 图1：三种时钟抖动的计算方法

时钟抖动的应用范围 在三种时钟抖动中，在不同的应用范围需要重点测量与分析某类时钟抖动。TIE 抖动是最常用的抖动指标，在很多芯片的数据手册上通常都规定了时钟TIE 抖动的要求。对于串行收发器的参考时钟，通常测量其TIE 抖动。如下图2所示，在2.5Gbps 的串行收发器芯片的发送端，参考时钟为100MHz，锁相环25倍频到2.5GHz 后，为Serializer （并行转串行电路）提供时钟。当参考时钟抖动减小时，TX 输出的串行数据的抖动随之减小，因此，需要测量该参考时钟的TIE 抖动。另外，用于射频电路的时钟通常也需测量其TIE 抖动（相位抖动）。 在并行总线系统中，通常重点如在共同时钟总线（common clock bus）中（如图3所示），完整的数据传输需要两个时钟脉冲，第一个脉冲用于把数据锁存到发送芯片 的IO Buffer，第二个脉冲将数据 锁存到接收芯片中，在一个时钟周期内让数据从发送端传送到接收端，当发送端到接收端传输延迟 （flight time）过大时，数据的 建立时间不够，传输延迟过小时， 数据的保持时间不够；同理，当这一个时钟的周期值偏大时，保持时间不够；周期值偏小时，建立时间不够。可见，时钟周期的变化直接 影响建立保持时间，需要测量 period jitter 和cycle to cycle jitter。关于共同时钟总线的时序分析的详细讲解，请参考Stephen H. Hall、Garrett W. Hall 和James A. McCall 写的信号完整性分析书籍：《High-Speed Digital System Design》。 另外一种常见的并行电路－源同步总线（Source Synchronous bus），通常也重点测量period jitter 和cycle to cycle jitter。比如DDR2就属于源同步总线，在Intel DDR2 667/800 JEDEC Specification Addendum 规范中定义了时钟的抖动测试包括周期抖动和相邻周期抖动，分别如表格1中tJIT(per)和tJIT(cc)，此外，还需要测量N-Cycle jitter，即N 个周期的相邻周期抖动，比如表格1中tERR(2per)是连续2个周期的周期值与下2个周期的周期值的时间差，tERR(3per)是3个周期组合的相邻周期抖动，依此类推。 Driving Receiving 关注period jitter 和cycle to cycle jitter。比

如何提高示波器测量小信号精度

如何提高示波器测量小信号精度 摘要：工程师在使用示波器时经常会遇到需要测量毫伏级的信号，测量精度问题绝对是工程师们关注的重点，那么如何尽可能的提高测量小信号的精度呢。我们今天就讨论用示波器测量小信号的相关注意事项，抛砖引玉，欢迎大家提出更好的方法。 数字示波器工作原理如图所示，模拟信号通过输入通道进入示波器即会通过一个放大器，我们称之为垂直增益放大器。该放大器是处于ADC之前，对模拟信号进行放大（若信号过大，则通过衰减器进行衰减）。经过放大或衰减的信号再通过ADC才转化成数字信号，然后通过处理最终显示在示波器屏幕上面。 图一数字示波器基本结构 1.1 垂直灵敏度 众所周知，进行波形测量时需要调整垂直旋钮，使波形尽量占满示波器整个显示栅格。这样做的目的是使测量当中的量化噪声尽量小。因此，在进行小信号测量时，比如毫伏级的信号，我们需要将垂直灵敏度设置到最小才能尽可能的降低量化误差的影响。由于各个示波器厂家的垂直增益放大器各不相同，因此体现出来的放大性能也不一样，垂直灵敏度所能达到的最小值也不一样。 1.2 触发 我们还需要对信号进行测量肯定需要一个稳定的触发，尤其是对于小信号。因为在信噪比小的时候噪声或干扰较大，往往不能形成稳定的触发，这就需要一个稳定的能抗噪声干扰的触发系统。值得注意的是我们ZDS2024使用的是数字触发器使用全数字处理技术，不存在物理通路，不受外在因素（器件特性、环境温度等）影响，因此触发抖动非常小，波形显示稳定性高。并且触发灵敏度调节方便，可适应于各种场合，非常有用。我们对比了几家同行的示波器，可以通过触发点的抖动情况看出

图二某其他品牌3000系列示波器的触发点稳定情况 图三某其他品牌4000系列示波器的触发点稳定情况 图四ZDS2022示波器的触发点稳定情况

研究地铁通信系统向AFC提供时钟信号的测试方案

研究地铁通信系统向AFC提供时钟信号的测试方案 发表时间：2019-01-18T09:23:20.590Z 来源：《基层建设》2018年第35期作者：袁海燕虎科张平 [导读] 摘要：伴随着地铁交通运输事业的发展，其中地铁通信系统以及自动售检票系统等，都和网络、通信以及自动化技术等得到了紧密的融合。 成都地铁运营有限公司四川成都 610000 摘要：伴随着地铁交通运输事业的发展，其中地铁通信系统以及自动售检票系统等，都和网络、通信以及自动化技术等得到了紧密的融合。基于此，本文针对地铁通信系统的时钟系统构成以及地铁通信系统功能进行分析，并且分别分析了时钟子系统与信号系统测试、时钟子系统与AFC系统测试等具体的地铁通信系统向AFC提供时钟信号的测试方案，为了解地铁通信系统提供了有效的参考。 关键词：地铁通信系统；AFC；时钟信号 引言：自动售检票系统被简称为AFC，是一种利用了计算机技术、通信技术以及自动控制技术来进行地铁交通的售检票、收计费以及管理等工作的自动化系统，该系统的使用过程当中必须要保证能够得到地铁通信系统的支持，才能够有效促进高质量使用。在实际的开发与研制过程当中，必须要保证AFC系统、安防系统、信号系统以及乘客资讯系统等能够得到有效结合，通过科学的测试来保证标准时间信号的有效传递。 1.地铁通信系统时钟系统构成 当前的地铁通信系统当中，时钟系统设备具有十分重要的地位，对于整体地铁运行的时间、调配以及站点的工作安排都具有重要的指导作用。 1.1控制中心设备 在地铁通信系统的时钟系统当中，控制中心的设备包含有GPS接收机，一级母钟以及始终输出接口列阵等，控制中心设备主要的功能在于调控整个站点的相关时间信号。在控制中心里一级母钟一般设在通信设备室，这是保障母钟运行稳定和安全的场所，其中主要备用方式为高稳晶振工作中模块，能够保证具有自动以及手动调整时间的能力。在停车场以及车站部分，时钟系统则主要是由二级母钟构成的，能够将控制中心的一级母钟信号进行有效接受，保证相关的值班室、票务室以及控制变电所等运行稳定。 1.2网管系统 网管系统设备主要包含有网管计算机、打印机，网管系统使用的目的是有效针对时钟系统进行管理，并且针对一级、二级母钟和子钟具体运行的状态进行监控，一旦发现问题及时进行上报和解决。在网管系统当中，如果在停车场或是车站等部位发生了设备的故障，就会及时通过警报信号向控制中心进行传递，以便于开展快速解决。 2.地铁通信中时钟系统功能 2.1一级母钟功能 一级母钟作为整体时钟系统当中最为重要的一环，能够有效保证在控制区域内部开展合理的信号处理与传递。一级母钟设置位于控制中心内部，主备信号处理单元能够受到严格的保护以及监控，保证能够配备有双机系统模式，促进主备机之间的互检，同时还能够有效输出数字信号，在行业相关标准的规范之下开展使用。 2.2二级母钟功能 二级母钟的功能主要是保证系统的使用可靠性，一般来说二级母钟主要位于各个车站的通信设备室内，能够针对更加细化的区域开展管理，保证利用自身的双机热备份功能，提供正常的工作需要。同时，在主机工作时，如果遇到了一些常见的故障，能够及时将工作的负担从主机转移到备用机上，避免由于主机的设备问题导致出现时间信号传递的披露，从而提升了整体系统的稳定性。 2.3子钟功能 不同与母钟系统，子钟主要的功能在于利用自身的功能采用芯线等方式，和一级母钟或者是本站点的二级母钟进行直接的联系，以此能够有效保证同步获取准确的时间信号，同时，子钟在工作的过程当中，一旦接受到了标准的时间信号，就能够及时进行工作质量的反馈，有助于控制中心调配人员了解到各个子钟的使用情况，及时发现问题，降低损失。 3.地铁通信系统向AFC提供时钟信号的测试具体方案 在地铁的时钟系统当中，从控制中心到各个停车场、车站，其中都是依靠通信系统来实现交流以及沟通的。为了能够有效保证地铁通信系统向AFC系统以及各个终端提供相对应的信号，必须要保证能够开展科学合理的测试，从而确保测试方案的有效性，保证测试结果的真实性以及科学性。 3.1时钟子系统与信号系统测试 在时钟的子系统以及信号系统测试方案规划与实行过程当中，首先将测试的内容划分为了以下六个方向。测试的第一项内容为确认时时钟子系统运行的状况，在测试环境当中，需要信号承包商能够针对信号系统工作状况以及各个硬件设备的连接状况开展检查，一旦发现纰漏及时上报并处理。在检车过程当中，要确保子系统能够接收到母钟的传递信号。 第二项内容为了解信号系统以及时钟子系统的连接状况，在这一测试内容当中，需要保证检查时钟子系统接受与传递信号的质量，如果接受或是传递的信号内容和实际传输出现了偏差，就必须要及时进行校验，保证整体运行质量[1]。 第三项内容为通过改变母钟向各个终端输出的时间信号，来有效核对启动的具体时间。第四项内容为利用信号系统进行测试，判断母钟标准时间信号是否能够在五秒钟之内进行同步，来判断信号系统的工作效率，如果不能够在规定的时限内得到有效的启动，则证明在传输过程当中信号受到了阻碍。第五项内容主要是通过修改信号系统当中任意一个工作站的时间，并且通过检查终端时间的反馈，来检查操作的正确性以及有效性。第六项测试的主要内容，是对地铁的通信工作站，或者是服务器的始终进行检查，判断其是否可以在五秒钟内实现自身时间与主时钟的快速同步。在检查过程当中，需要注意的一点在与，必须要保证时间掌握在5s以内，如果超出了5s，则证明该项测试并没有达到预期当中的效果，会引起日后使用过程当中的问题。 3.2时钟子系统与AFC系统测试 除了开展时钟系统当中，子系统以及信号系统的测试，还需要能够利用时钟子系统以及AFC系统的测试来判断地铁通信系统的具体使用情况以及工作质量。时钟的子系统以及AFC的系统之间存在着紧密的联系，如果二者不能够及时开展信号的传输以及操作的执行，就会