材料分析方法知识总结
材料分析方法
第一部分
一、X射线产生的基本条件。
1.产生自由电子；
2.使自由电子做定向高速运动；
3.在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
二、连续X射线产生的实质。
答：假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25X10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv的光子序列，这样就形成了连续X射线。三、特征X射线产生的物理机制。
答：原子系统中的电子遵从泡利不相容原理不连续的分布在K/L/M/N 等，不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低能态转化，即向低能级上的空位跃迁，在跃迁时会有一能量产生，这一能量以光子的形式辐射出来，即为特征X射线。
四、短波限、吸收限。
1.短波限：X射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。
2.吸收限：把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。
五、X射线相干散射和非相干散射现象。
1.相干散射：当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，电子振
动时向四周发射电磁波的散射过程。
2.非相干散射：当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。
六、光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义。
1.光电子：光电效应中由光子激发所产生的电子/或入射光量子与物质原子中电子相撞时被激发的电子。
2.荧光X射线：由X射线激发所产生的特征X射线。
3.俄歇电子：原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。
七、X射线吸收规律和线吸收系数。
1.X射线吸收规律：强度为1的特征X射线在均匀物质内部通过时，强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例，即-dI/I=udx.
2.线吸收系数：即为上式中的u，指在X射线传播方向上，单位长度上的X射线强弱衰减程度。
八、晶面及晶面间距。
1.晶面：在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面，使所有节点都位于这组平面上，各平面的节点分布情况完全相同，这样的节点平面成为晶面。
2.晶面间距：两个相邻的平行晶面的垂直距离。
九、反射级数与干涉指数。
1.布拉格方程：2dsinθ=nλ,表示面间距为d的（hkl）晶面上产生了
n级衍射，n就是反射级数；
2.干涉指数：当把布拉格方程写成：2d/nsinθ=λ时，这是面间距为d/n的实际上存在或不存在的假想晶面的一级反射，若把这个晶面叫做干涉面，其间的指数就叫做干涉指数。
十、衍射矢量与倒易矢量。
1.衍射矢量：当束X射线被晶面P反射时，假定N为晶面P的法线方向，入射线方向用单位矢量So表示，则S-So为衍射矢量。
2.倒易矢量：从倒易点阵原点向任一倒易阵点所连接的矢量叫倒易矢量，表示为r*=Ha*+Kb*+Lc*.
十一、结构因子的定义。
答：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数，即晶体结构对衍射强度的影响因子。
十二、原子散射因子随衍射角的变化规律。
答：随sinθ/λ值减小，f增大，sinθ=0时，f=Z.
第二部分论述题。
一、推导劳埃方程和布拉格方程：
1.劳埃方程：假定1.满足干涉条件
2.X-ray单色且平行
如图：以α0为入射角，α为衍射角，相邻原子波程差为：a（cosα-cosα0），产生相长干涉的条件是波程差为波长的整数倍，即：a（cos α-cosα0）=hλ。式中：h为整数，λ为波长。一般地说，晶体中原子是在三维空间上排列的，所以为了产生衍射，必须同时满足：a（cosα-cosα0）=hλ
b（cosβ-cosβ0）=kλ
c（cosγ-cosγ0）=lλ; 此三式为劳埃方程。
2.推导布拉格方程：假定1.X-ray单色且平行2.晶体无限放大且平整，即无缺陷
如图：光程差为2dsinθ，要出现衍射条纹，则有：2dsinθ=nλ（n=1,2,3...）为布拉格方程
二、以体心立方（001）衍射为例，利用心阵点存在规律推导体心和面心晶体的衍射消光规律。
三、证明厄瓦尔德球图解法等价于布拉格方程。
证：根据倒易矢量的定义O*G=g，于是我们得到k’-k=g ,与布拉格定律完全等价。
由O向O*G作垂线，垂足为D，因为g平行于（hkl）晶面的法向Nhkl ，
所以OD就是正空间中（hkl）晶面的方位，若它与入射束方向的夹角为θ，则有
O*G=2OO*sinθ
即g=2ksinθ，由于g=1/d k=1/λ,
故有2dsinθ=λ。
同时由图可知，k’与k的夹角（即衍射束与透射束的夹角）等于2θ，这与布拉格定律的结果也是一致的。
四、阐明消光现象的物理本质，并利用结构因子推导出体心和面心晶体的衍射消光规律。
解:参考P36-P42 由系统消光的定义<把因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射射消失的现象>知，消光的物理本质是原子的种类及其在晶胞中的位置。
由F hkl=0 <=>消光可推出如下消光衍射规律
①体心晶体存在2个原子，坐标分别为(0,0,0), (1/2, 1/2, 1/2)
则F hkl=f+ fe *πi(h+k+l)要消光，则有h+k+l=2n+1 (=0,1,2...)
②面心晶体存在4个原子，坐标分别为(0.0,0), (1/2, 1/2,0) (1/2,0, 1/2), (O, 1/2, 1/2)
则F hkl=f+ fe *πi(h+k) +fe *πi(h+l) +fe *πi(k+l) .要消光则必使F hkl=0,故消光规律为: h,k, l不能同时为奇或h,k,I不能同时为偶.
五、如何利用X射线衍射方法研究晶体的有序无序转变(举例说明)
解:本题是利用X射线衍射时，衍射线的出现与消失来研究晶体的有序无序转变。对下TiAI,高温时为无序的体心立方晶体，低温时为有序的体心立方晶体。
无序时: Ti或AI古据A或B点的几率各为50%，f hkl=0.5f.+0.5fv; 注: A 为顶点，B为体心点
有序时: Ti 100%占据A位,Al100%占据B位,则F hkl=fNi土fAl
则: Fhkl=fNi-fAl≠0, 由本该消光的地方，重新出现行射条纹，可判断无序向有序的转变，反之亦然。
六，如何使用角因子中洛仑兹因子研究晶体的尺寸
解:利用布拉格公式2dsinθ=λ和晶面间距d与晶格常数之间的关系(如:立方晶系d=a/(h2+k2+l2)?)可以建立衍射束方向与晶胞尺寸的关系式。对于立系为sin2θ=λ(h2+k2+l2)/4a2,测写了衍射束的方向，便可推知晶胞尺寸。洛仑兹因子便是一个只与衍射束方向(即布拉格角θ)有关的式子:
1/(4sin2θcosθ) 以布拉格角θ为中介，通过洛仑兹因子便函要以研究晶体尺寸。
七、侧述多晶体X射线衍射强度影响冈素及其应用
解：参考P42-P50 影响X射线衔射强度的因素有如下5项: ①结构因子②角因子包括极化因子和洛仑兹因子③多重性因子④吸收因子⑤温度因子，
应用:利用各影响因子对衍射强度的影响，可判断出晶胞内原子的种类，原子个数，原子位置。
结构因子:①消光规律的判断: ②金属间化合物的有序度的判断，
角因子:利用谢乐公式研究晶粒尺寸大小:
多重性因子:等同晶面对衍射强度的影响
吸收规律:试样形状和衍射方向的不同，行射线在试样中穿行的路径便不同，引起吸收效果的不一样。
温度因子:研究晶体的热运动，测定热膨胀系数等。
八、以立方晶系为例，分折利用XRD测量点阵常数时为何采用高角度线条而不采用各个线条测量结果的平均值:
答:对于立方晶系2dsinθ=λ，d=a/√（h2+k2+l2）→a=λ÷2sinθ×√（h2+k2+l2）
θ的误差主要来源于Δθ：Δ(sinθ)
2dsinθ= λ，dsinθ=λ/2 ,Δdsinθ+dcosθ×Δθ=0
Δa/a=Δd/d=-cosθ×Δθ,当θ=90°时Δa/a=0
故θ尽可能高，而对于外推法取θ=90°
九、给出物相定性分析与定量分析的原理及一般步骤。
答:定性分析:
原理:目前所知结晶物质，之所以表现出种类的差别，是由于不同的物质个具有自己特定的原子种类原子排列方式和点降常数，进而呈现出特定的衍射花样;多相物质的衍射花样互不干扰、相互独立。只是机械的叠加:衍射花样可以表明物相中元素的化学结合态。这样只要把晶体全部进行衍射或照相再将衍射花样存档，试验时，只要把试样的衍射花样和标准衍射花样相对比，从中选出相同者就可以确定了。
步骤:先求出晶面间距d和相对强度I/I1后有以下三个程序:
(1)根据待测相得衍射数据，得出三强面的品血向距值d1、d2、d3.
(2)根据d1值，在数值索引中检索适当d组，找出与d1、d2、d3值复合较好的一些卡片。
(3)把待测相的三强线的d值和I/I1值与这些卡片上各物质的三强线d 值和I//I1值相比较，淘汰不相符的卡片，最后获得与试验数据一一吻合的卡片，卡片上所示物质即为待测相。
(4)若待测试样为复相混合物时，需反复测试
定量分析:原理87页
十、讨论内应力对X- Ray衍射线条的影响规律，并说明如何测定平面宏观候余应力
宏观应力:使衍射峰左右移动
微观应力:使衍射峰变宽
超微观应力:使衔射峰的强度变弱
平面宏观残余应力的测定:
φ:样晶表面法线与所测晶面法线的夹角课木98页图6.3
第二部分
1、分析电磁透镜对波的聚焦原理，说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。
解：聚焦原理:通电线圈产生一件轴对称不均匀分布的磁场，磁力线围绕导线呈环状。磁力线上任一点的磁感应强度B可以分解成平行于透镜主轴的分量Bz和垂直于透镜主轴的分量Br.速度为v的平行电
子束进入透镜磁场时在A点处受到Br分量的作用，由右手法则，电子所受的切向力Ft的方向如下图(b); Ft 使电子获得一个切向速度Vt. Vt与Bz分量叉乘，形成了另一个向透镜主轴靠近的径向力Fr.使电子向主轴偏转。当电子穿过线圈到达B点位置时，Br的方问改变了180°，Ft随之反间，但是只是减小而不改变方向。因此，穿过线圈的电子任然趋向于主轴方向靠近。结果电子作圆推螺旋曲线近轴运动，当一束平行于主轴的入射电子束通过透射电镜时将会聚焦在轴线上一点，这就是电磁透镜电子波的聚焦对原理,(教材135页的图9.1a,b 图)
电磁透镜包括螺旋线圈，磁轭和极靴，使有效磁场能集中到沿轴几毫米的范围内，显著提高了其聚焦能力。
2、电磁透镜的像差是怎样产生的，如何来消除或减小像差?
解:电磁透镜的像差可以分为两类:几何像差和色差、几何像差是因为投射磁场几何形状上的缺陷造成的，色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。几何像差主要指球差和像散。球差是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律造成的，像散是由透境磁场的非旋转对称引起的。
消除或减小的方法:
球差:减小孔径半角或缩小焦距均可减小球差，尤其小孔径半角可使球差明显减小。
像散:引入一个强度和方向都可以调节的矫正磁场即逍像散器予以补偿。
色差:采用稳定加速电压的方法有效地减小色差。
3、说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么?如何提高电磁透镜的分辨率?
解:光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。
电磁透镜的分辨率由衍射效应和球面像差来决定，球差是限制电磁透镜分辨本领的主要因素。
若只考虑衍射效应，在照明光源和介质一定的条件下，孔径角a越大，透镜的分辨本领越高。若同时考虑衍射和球差对分辨率的影响，关键在确定电磁透镜的鼓佳孔径半角，使衍射效应斑和球差散焦斑的尺寸大小相等。
4、电子波有何特征?与可见光有何异同?
解:电子波的波长较短，轴对称非均匀磁场能使电子波聚焦。其波长取决于电子运动的速度和质量。电子波的波长要比可见光小5个数量级。
5、电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜的景深长、焦长长，是什么囚素影响的结果?
答:电磁透镜景深与分辨本领Δr0、孔径半角α之间关系:
Df =2Δr0/tgα≈2Δr0/α。表明孔径半角越小，景深越大。透镜焦长Dl与分辨本领Δr0，像点所张孔径半角β的关系:
Dl=2Δr0M/tanβ≈2Δr0M/β，β=α/M,所以Dl=2Δr0M2/α,
M为透镜放大倍数，当电磁透镜放大倍数和分辨本领一定时，透镜焦长随孔径半角减小而增大。
6、透射电镜主要由几大系统构成?各系统之向关系如何?
解:透射电镜由电子光学系统、电源与控制系统及真空系统三部分组成，电子光学系统通常称镜筒，是透射电子显微镜的核心，它的光路原理与透射光学显微镜十分相似。它分为三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统。
7照明系统的作用是什么?它应满足什么要求?
解：照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中。倾斜调节装置组成，其作用是提供一束高亮度、照明孔径角小，平行度好，束流稳定的照明源。为满足明场像和暗场像需要，照明束可在2*~3*范围内倾斜。
8、成像系统的主要构成及其特点是什么?
解:成像系统组要是由物镜、中间镜和投射镜组成，物镜是用来形成第一幅高分辨率电子显微镜图像或电子衍射花样。
1). 物镜是采用强激磁、短焦距的透镜(f=1~3mm), 它的放大倍数较高，一般为100~300倍。
2).中间镜是一个弱激磁的长焦距变倍透镜，可在0~20倍范围调节。当放大倍数大于1时，用来进一步放大物像:当放大倍数小于1时用来缩小物镜像。
3).投影镜的作用是把中间镜放大(或缩小)的像(或电子衍射花样进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短焦距的强激磁透镜，投影镜的激磁电流是周定的，因为成像电子束进入投影镜时孔径角很小，因此它的景深和焦长都非常大:
9、外别说明成像操作和衍射操作时各级透镜(像平面和物平面)之间的相对位置关系，井画出光路图。
解:如果把中问镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这是成像操作。如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这是电子衍射操作。图在课本P144
10、透射电镜中有哪些主要光阑，在什么位置?其作用如何?
解:在透射电镜中主要有三种光阑:聚光镜光阑、物镜光阑、选区光阑。聚光镜光阑装在第二聚光镜的下方，其作用是限制照明孔径角。
物镜光阑安放在物镜的后焦面上，其作用是使物镜孔径角减小，能减小像差，得到质量较高的显微图像:在后焦面上套取衍射束的斑点或暗场像。
选区光阑放在物镜的像平面位置，其作用是对样品进行微小区域分析.即选区衍射。
11、如何测定透射电镜的分辨率与放大倍数。电镜的哪些主要参数控制着分辨率与放大倍数?
解;点分辨率的测定:
将铂、铂-铱或铂-钯等金属或合金，用真空蒸发的方法可以得到粒度为0.5-1nm、间距为0.2-1nm的粒子，将其均匀地分布在火棉胶(或碳)支持膜上，在高放大倍数下拍摄这些粒子的像。为了保证测定的可靠性，至少在同样条件下拍摄两张底片，然后经光学放大5倍左右，从照片上找出粒子间最小间距，除以总放大倍数，印为相应电子显微镜
的点分琪率。
晶格分辨率的测定:
利用外延生长方法制得的定向单晶薄膜作为标样，拍摄其晶格像。根据仪器分辨率高低，选择晶面间距不同的样品行标样。
放大倍数的测定:
用衍射光栅复型作为标样，在一定条件下.拍摄标样的放大像。然后从底片上测量光栅条纹像的平均间距，与实际光栅条纹间距之比即为仪器相应条件下的放大倍数。
影响参数:样品的平面高度、加速电压、透镜电流
12、分析电子衍射与x射线衍射有何异同?
解:相同点:
1.都是以满足布拉格方程作为产生衍射的必要条件。
2).两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上大致相似。
不同点:
1.电子波的波长比x射线短的多。
2).在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会，使衍射条件变宽:
3).因为电子波的波长短，采用爱瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角θ较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。
4.原子对电子的散射能力远高于它对x射线的散射能力，故电子衍射
束的强度较大，摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟。
13、用爱瓦尔德图解法证明布拉格定律
解:在倒易空间中,画出衍射晶体的倒易点阵,以倒易原点0*为端点做入射波的波矢量k(00*)，该矢量平行于入射束的方向，长度等于波长的倒数，即K=1/入
以O为中心，1/入为半径做一个球(爱瓦尔德球),根据倒易矢量的定义0*G=g,于是K’-k=g.由O向O*G作垂线垂足为D,因为g平行于(hkl)晶面的法向Nhkl,所以OD就是正空间中(hkl)晶面的方向，若它与入射束方向夹角为θ,则
O*D=OO*sinθ即g/2=ksinθ；g=1/d ，k=1/入所以2dsinθ=入
图为P163上的
14、何为零层倒易面和晶带定理?说明同一晶带中各晶面及其倒易矢量与晶带轴之间的关系。
解:由于晶体的倒易点阵是三维点阵,如果电子束沿晶带轴[uvw]的反向入射时，通过原点O的倒易平面只有一个，我们把这个二维平面叫做零层倒易面。
因为零层倒易面上的倒易面上的各倒易矢量都和晶带轴r=[uvw]垂直故有g.r=0即hu+kv+lw=0这就是晶带定理. 如图12.5
15、说明多晶、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
解:多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环；
单晶衍射花样是由排列得十分整齐的许多斑点所组成的；
非晶态物质的衍射花祥只有一个漫散中心斑点；
单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，且处于二维网格的格点上。因此表达花样对称性的基本单元为平行四边形。单晶电子衍射花样就是(uvw)’0零层倒易截面的放大像。
多晶试样可以看成是由许多取向任意的小单晶组成的。故可设想让一个小单晶的倒易点阵绕原点旋转，同一反射面hkl 的各等价倒易点(即(hkl) 平面族中各平面)将分布在以1/dhkl 为半径的球面上，而不同的反射面，其等价倒易点将分布在半径不同的同心球面上，这些球面与反射球面相截，得到一系列同心圆环，自反射球心向各圆环连线，投影到屏上，就是多晶电子衍射图。
非品的衍射花样为一个圆斑。
17. 什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别?
答:由于样品中不同位向的衍射条件不同而造成的衬度差别叫衍射衬度。
它与质厚衬度的区别:
(1)、质厚衬度是建立在原子对电子散射的理论基础上的，而衍射衬度则是利用电子通过不同位相晶粒是的衍射成像原理而获得的村度，利用了布拉格衍射角。
(2) 质厚衬度利用样品薄膜厚度的差别和平均原子序数的差别来获得衬度，而衍射衬度则是利用不同晶粒的晶体学位相不同来获得衬度。
(3)质厚衬度应用于非晶体复型样品成像中，而衍射衬度则应用于晶
体薄膜样品成像中.
18、画图说明衍射成像的原理并说明什么是明场像，暗场像与中心暗场像
答: 190页图13.3
明场像:让透射束透过物镜光阑而把衍射束挡掉的图像.
暗场像:移动物镜光阑的位置，使其光阑孔套住hkl斑点把透射束当掉得到的图像。
中心暗场像:当晶粒的hkl衍射束正好通过光阑孔而投射束被当掉所得到的图像，
19. 电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?
答:电子束入射固体样品表面会激发出背散射电子，二次电子，吸收电子，透射电子，特征X射线，俄歇电子六种。(1)背散射电子是固体样品中的原子核反弹回来的部分入射电子，它来自样品表层几百纳米的深度范围。由于它的产额能随样品原子序数增大而增大，所以不仅能用做形貌分析，而且可以用来显示原子序数的衬度，定性地用做成分分析。(2)二次电子是在入射电子束作用下被轰击出来离开样品表面的核外电子。它来自表层5-~10nm的深度范围内，它对样品表面形貌十分敏感，能用来非常有效的显示样品的表面形貌。(3)吸收电子是非散射电子经多次弹性散射之后被祥品吸收的部分，它能产生原子序数村度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。(4)透射电子是入射电子穿过薄样品的部分，它的信号由微区的厚度，成分和
晶体结构来决定。可以利用特征能量损失电子配合电子能量分析器进行微区成分分析，(5)特征x射线由样品原子内层电子被入射电子激发或电离而成，可以用来判定微区存在的元素，(6)俄歇电子是由内层电子能级跃迁所释放的能量将空位层的外层电子发射出去而产生的。平均自由程很小，只有1nm 左右，可以用做表面层成分分析。
20.扫描电镜的分辨率受哪些因素影响，用不同的信号成像时，其分辨率有何不同?
答:电子束束斑大小，检测信号的类型，检测部位的原子序数是影响扫描电镜分辨率的三大因素，用不同信号成像，其分辨率相差较大，列表说明:
21.所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率?
答:二次电子。
22.扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同?
答:两者完全不同。透射电镜用电磁透镜放大成像，而扫描电镜则是以类似电视机摄影显像的方式，利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出的各种物理信号来调制而成。
23. 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与
不同之处?
答:相同处:均利用电了信号的强弱来形成形貌衬度；
不同处: 1.背散射电子是在一个较大的作用体积内被入射电子激发出来的，成像单元较大，因而分辨率较二次电子像低；
2.背散射电子能量较高，以直线逸出，因而样品背部的电子无法被检测到，成一片阴影，衬度较大，无法分析细节；利用二次电子作形貌分析时，可以利用在检测器收集光栅上加上正电压来吸收较低能量的二次电子，使样品背部及凹坑等处逸出的电子以弧线状运动轨迹被吸收，因而使图像层次增加，细节清晰。
24.二次电子像景深很大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因何在?
用二次电子信号作形貌分析时，在检测器收集栅上加以一定大小的正电压( 一般为250-500V).来吸引能量较低的二次电子，使它们以弧线路线进入闪烁体，这样在样品表面某些背向检测器或凹坑等部位上逸出的二次电子也对成像有所贡献，图像景深增加，细节清楚。
25.电子探针仪与扫描电镜有何异同?电子探针仪如何与扫描电镜和透射电镜配合进行组织结构与微区化学成分的同位分析?
相同点:
1两者镜筒和样品室无本质区别。
2都是利用电子束轰击固体样本产生的信号进行分析。
不同点:
1电子探针检测的是特征X射线，扫描电镜可以检测多种信号，一般
利用二次电子信号进行形貌分析。
2电子探针得到的是元素分布的图像，用于成分分析；扫描电镜得到的是表面形貌的图像。
电子探针用来成分分析，
透射电镜成像操作用来组织形貌分析，衍射操作用来晶体结构分析，扫描电镜用来表面形貌分析。
26.波谱仪和能谱仪各有什么缺点?
能谱仪:
1:能谱仪分辨率比波谱仪低，能谱仪给出的波峰比较宽，容易重叠。在一般情况下，Si (Li)检测器的能量分辨率约为160eV,而波谱仪的能景分辨率可达5-10eV,
2:能谱仪中因Si (Li)检测器的铍窗口限制了超轻元素x射线的测量，因此它只能分析原子系数大于11的元素，而波谱仪可测定原子序数4-92之间所有的元素。
3:能谱仪的Si (Li)探头必须保持在低温状态，因此必须时时用液氮冷却。
波谱仪:
1:波谱仪由于通过分光体衍射，探测X射线效率低，因而灵敏度低。2:波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长:
3:波谱仪结构复杂。
4:波谱仪对样品表面要求较高
27.直进式波谱仪和回转式波谱仪名有什么优特点?
答:直进式波谱仪优点是x射线照射分光晶体的方向是固定的，即出射角φ保持不变，这样可以使x 射线穿出样品表面过程中所走的路线相同，也就是吸收条件相同；回转式波谱仪结构比直进式波谱仪简单，但出射方向改变很大，在表面不平度较大的情况下，由于X射线在样品内行进路线不同，往往会因吸收条件变化而造成分析上的误差。
28.要分祈钢中碳化物成分和基体中碳含示，应该选用哪种电子探针仪?为什么?
分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪。分析钢中碳化物的成分属于定性分析，用能谱仪灵敏度高且几分钟就可得到结果；分析基体中碳含量属于定量分析，波谱仪的能量分辨率达5~10eV,而能谱仪能量分辨率约为160eV，故用波谱仪分析较好。
29.举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。
定点分析，如需分析ZrO2 (Y2O3)陶瓷析出相与基体含量成分高低.用定点分析几分钟便可得到结果。
线分析，如需分析BaF2晶界上元素的分布情况，只需进行线扫描分析即可方便知道其分布。
面分析，如需分析Bi元素在ZnO-Bi2O3陶瓷烧结表面的面分布，只需将谱仪固定在接受其元素特征x 射线信号的位置上，即可得到其面分布图像.
材料分析方法课后答案(更新至第十章)
材料分析方法课后练习题参考答案 2015-1-4 BY：二专业の学渣 材料科学与工程学院
3.讨论下列各组概念的关系 答案之一 (1）同一物质的吸收谱和发射谱； 答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射 (2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。如Ni 的吸收限为0.14869 nm。也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。 (3）X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。 答：Z靶≤Z样品+1 或Z靶>>Z样品 X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱，或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时，总希望试样对X射线应尽可能少被吸收，获得高的衍射强度和低的背底。 答案之二 1）同一物质的吸收谱和发射谱； 答：当构成物质的分子或原子受到激发而发光，产生的光谱称为发射光谱，发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱，吸收光谱则决定于物质的化学结构，与分子中的双键有关。 2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答：可以选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片，放在X射线源和试样之间。这时滤光片对Kβ射线强烈吸收，而对Kα吸收却少。 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？ 答：eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34 e为电子电荷，等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释：相干散射、非相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
材料测试分析方法(究极版)
绪论 3分析测试技术的发展的三个阶段？ 阶段一：分析化学学科的建立；主要以化学分析为主的阶段。 阶段二：分析仪器开始快速发展的阶段 阶段三：分析测试技术在快速、高灵敏、实时、连续、智能、信息化等方面迅速发展的阶段4现代材料分析的内容及四大类材料分析方法？ 表面和内部组织形貌。包括材料的外观形貌（如纳米线、断口、裂纹等）、晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态、含量与分布、界面（表面、相界、晶界）、位向关系（新相与母相、孪生相）、晶体缺陷（点缺陷、位错、层错）、夹杂物、内应力。 晶体的相结构。各种相的结构，即晶体结构类型和晶体常数，和相组成。 化学成分和价键（电子）结构。包括宏观和微区化学成份（不同相的成份、基体与析出相的成份）、同种元素的不同价键类型和化学环境。 有机物的分子结构和官能团。 形貌分析、物相分析、成分与价键分析与分子结构分析四大类方法 四大分析：1图像分析：光学显微分析（透射光反射光），电子（扫描，透射），隧道扫描，原子力2物象：x射线衍射，电子衍射，中子衍射3化学4分子结构：红外，拉曼，荧光，核磁 获取物质的组成含量结构形态形貌及变化过程的技术 材料结构与性能的表征包括材料性能，微观性能，成分的测试与表征 6.现代材料测试技术的共同之处在哪里？ 除了个别的测试手段（扫描探针显微镜）外，各种测试技术都是利用入射的电磁波或物质波（如X射线、高能电子束、可见光、红外线）与材料试样相互作用后产生的各种各样的物理信号（射线、高能电子束、可见光、红外线），探测这些出射的信号并进行分析处理，就课获得材料的显微结构、外观形貌、相组成、成分等信息。 9.试总结衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施 衍射花样要素：衍射线的峰位、线形、强度 答:(I)花材的选用影晌背底; (2)滤波片的作用影响到背底;(3)样品的制备对背底的影响 措施：（1）选靶靶材产生的特征x射线（常用Kα射线）尽可能小的激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样背底，使图像清晰。（2）滤波，k系特征辐射包括Ka和kβ射线，因两者波长不同，将使样品的产生两套方位不同得衍射花样;选择浪滋片材料，使λkβ靶<λk滤<λkα，Ka射线因因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。(3)样品，样品晶粒为50μm左右，长时间研究，制样时尽量轻压，可减少背底。 11.X射线的性质; x射线是一种电磁波，波长范围:0.01~1000à X射线的波长与晶体中的原子问距同数量级，所以晶体可以用作衍射光栅。用来研究晶体结构，常用波长为0.5~2.5à 不同波长的x射线具有不同的用途。硬x射线:波长较短的硬x封线能量较高，穿透性较强，适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。软x射线:波长较长的软x射线的能量较低，穿透性弱，可用干分析非金属的分析。用于金属探伤的x射线波长为0.05~0.1à当x射线与物质(原子、电子作用时，显示其粒子性，具有能量E＝h 。产生光电效应和康普顿效应等 当x射线与x射线相互作用时，主要表现出波动性。 x射线的探测:荧光屏（ZnS），照相底片，探测器
(完整word版)公务员资料分析总结,推荐文档
资料分析 精算基础是理解知悉每一个问题的信息和问法。 列式子是直接舍入的抄（第一次就抄整数） 做题标记法： 提干注意1.2017年城镇消费品零售比农村消费品零售多多少倍？ 2017年全国平均每位网民月均使用移动互联网接入流量约为多少M（注意1024M=1G、平均、月均记得直接在试卷写上12） 一、陷阱 1.（时间）：给2014年，求2013年；求增长率跨度两年；给1-7月，求7月；给年均，求月均 2.（单位）：民航区别万吨和亿吨；人口增长单位区别百分号和千分号----结合现实生活 3.（概念）：六大行业中，全国中的东、中、西 4.选项：问下面哪一年增长率最快? 先看选项（在对应的题目年份标注：用打勾、画圆圈...） 5. 按照2015年水产品产量从多到少，以下排序正确的是？ 注意：产量后的单位的不同；从大到小还是从小到大，做题时标上升降图标；还有主题词的变化；注意时间段*（题目给出1-12个月，还有12月的，问1-11个月的）
陷阱：主题词、单位、时间，范围：“累计”问其中一个时间段、特殊表述 2012年末，中国全年出生人口1635万人，2012年末，0-14岁（不含15周岁）人口为22287人。问：2012年，中国1-14岁（不含15周岁）的人口数量为多少？（） 利润（和我们数量关系不一样） 6.营业利润率= 营业收入 7.增长率：可正可负，且负的小于正的 8.变化幅度：直接比较增长率的绝对值。例如a增长率为-10%，为8%，则a的变化幅度大于b 9.增长（了）n倍=是原来的n+1倍、增长到n倍=原来的n倍。例子：2014年单位与居民物品物流额超过2012年的1.8倍（即为间隔增长率为80%） 10、比例：比重：占、比重、贡献率、利润率、产销率 资料分析：利润率=利润÷收入 成数：几成=十分之几 翻番：翻n番=2的n次方 11.选项首位不同截取两位，首位不同截取三位。（结合具体选项） 12.增长率
最给力的资料分析技巧总结
以下是各个数的倒数，约等于的，最好牢记1.10到1.30以内的，把除法变为乘法就好算多了 0.9X 分之一 = 1 + （1- 0.9X） X可以取0 到9 的数 1.11=0.9 1.12=0.89 1.13=0.885 1.14=0.877 1.15=0.87 1.16=0.862 1.17=0.855 1.18=0.847 1.19=0.84 1.20=0.83 1.21=0.826 1.22=0.82 1.23=0.813 1.24=0.806 1.25=0.8 1.26=0.794 1.27=0.787 1.28=0.78 1.29=0.775 1.30=0.77 1.35=0.74 1.40=0.714 1.45=0.69 以上是重点，必须背下来， 资料分析四大速算技巧 1.差分法”是在比较两个分数大小时，用“直除法”或者“化同法”等其他速算方式难以解决时可以采取的一种速算方式。 适用形式： 两个分数作比较时，若其中一个分数的分子与分母都比另外一个分数的分子与分母分别仅仅大一点，这时候使用“直除法”、“化同法”经常很难比较出大小关系，而使用“差分法”却可以很好地解决这样的问题。 基础定义： 在满足“适用形式”的两个分数中，我们定义分子与分母都比较大的分数叫“大分数”，分子与分母都比较小的分数叫“小分数”，而这两个分数的分子、分母分别做差得到的新的分数我们定义为“差分数”。例如：324/53.1与313/51.7比较大小，其中324/53.1就是“大分数”，313/51.7就是“小分数”，而324-313/53.1-51.7=11/1.4就是“差分数”。 “差分法”使用基本准则—— “差分数”代替“大分数”与“小分数”作比较： 1、若差分数比小分数大，则大分数比小分数大； 2、若差分数比小分数小，则大分数比小分数小； 3、若差分数与小分数相等，则大分数与小分数相等。 比如上文中就是“11/1.4代替324/53.1与313/51.7作比较”，因为11/1.4＞313/51.7
(完整版)材料分析方法期末考试总结
材料分析方法 1．x射线是一种波长很短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。 2．相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。 3．不相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力不大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。 4．吸收限：物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，但随着波长的的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。 5．荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X 射线，二次X射线）。 6．俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子放出，而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。 7．光电子：当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。8．滤波片的作用：滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。 9．布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 10．晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，称为反射面或干涉面。 11．掠射角是入射角（或反射角）与晶面的夹角，可表征衍射的方向。 12．衍射极限条件：在晶体中，干涉面的划取是无极限的，但并非所有的干涉面均能参与衍射，因存在关系dsinθ=λ/2,或d>=λ/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。 13．劳埃法：采用连续X射线照射不动的单晶体，因为X射线的波长连续可变，故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。 14．周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。 15．粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。 16．吸收因数：由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为了修正这一影响，则在强度公式中乘以吸收因数。 17．温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱。为修正实验温度给衍射强度带来的影响，需要在积分强度公式中乘以温度因数。
16种常用的数据分析方法汇总
一、描述统计 描述性统计是指运用制表和分类，图形以及计筠概括性数据来描述数据的集中趋势、离散趋势、偏度、峰度。 1、缺失值填充：常用方法：剔除法、均值法、最小邻居法、比率回归法、决策树法。 2、正态性检验：很多统计方法都要求数值服从或近似服从正态分布，所以之前需要进行正态性检验。常用方法：非参数检验的K-量检验、P-P图、Q-Q图、W检验、动差法。 二、假设检验 1、参数检验 参数检验是在已知总体分布的条件下（一股要求总体服从正态分布）对一些主要的参数(如均值、百分数、方差、相关系数等）进行的检验。 1）U验使用条件：当样本含量n较大时，样本值符合正态分布 2）T检验使用条件：当样本含量n较小时，样本值符合正态分布 A 单样本t检验：推断该样本来自的总体均数μ与已知的某一总体均数μ0 (常为理论值或标准值)有无差别； B 配对样本t检验：当总体均数未知时，且两个样本可以配对，同对中的两者在可能会影响处理效果的各种条件方面扱为相似；
C 两独立样本t检验：无法找到在各方面极为相似的两样本作配对比较时使用。 2、非参数检验 非参数检验则不考虑总体分布是否已知，常常也不是针对总体参数，而是针对总体的某些一股性假设（如总体分布的位罝是否相同，总体分布是否正态）进行检验。适用情况：顺序类型的数据资料，这类数据的分布形态一般是未知的。 A 虽然是连续数据，但总体分布形态未知或者非正态； B 体分布虽然正态，数据也是连续类型，但样本容量极小，如10以下； 主要方法包括：卡方检验、秩和检验、二项检验、游程检验、K-量检验等。 三、信度分析 检査测量的可信度，例如调查问卷的真实性。 分类： 1、外在信度：不同时间测量时量表的一致性程度，常用方法重测信度 2、内在信度；每个量表是否测量到单一的概念，同时组成两表的内在体项一致性如何，常用方法分半信度。 四、列联表分析 用于分析离散变量或定型变量之间是否存在相关。
资料分析公式汇总
资料分析公式汇总
速算技巧 一、估算法 精度要求不高的情况下，进行粗略估值的速算方式。选项相差较大，或者在被比较的数字相差必须比较大，差距的大小将直接决定对“估算”时对精度的要求。 二、直除法 在比较或者计算较复杂的分数时，通过“直接相除”的方式得到商的首位（首一位、首两位、首三位），从而得出正确答案的速算方式。 常用形式： 1.比较型：比较分数大小时，若其量级相当，首位最大∕小数为最大∕小数 2.计算型：计算分数大小时，选项首位不同，通过计算首位便可得出答案。 难易梯度：1.基础直除法：①可通过直接观察判断首位的情形； ②需要通过手动计算判断首位的情形。 2.多位直除法：通过计算分数的“首两位”或“首三位”判断答案情形。 三、插值法 1.“比较型”插值法 如果A与B的比较，若可以找到一个数C，使得A﹥C，而B﹤C，既可以判定A﹥B；若可以找到一个数C，使得A﹤C，而B﹥C，既可以判定A﹤B； 2.“计算型”插值法 若A﹤C﹤B，则如果f﹥C，则可以得到f=B;如果f﹤C，则可以得到f=A； 若A﹥C﹥B，则如果f﹥C，则可以得到f=A;如果f﹤C，则可以得到f=B。
四、放缩法 当计算精度要求不高时，可以将中间结果进行大胆的“放”（扩大）或者“缩”（缩小），从而迅速得到精度足够的结果。 常用形式： 1. A﹥B,C﹥D,则有A+C﹥B+D；A-D﹥B-C； 2. A﹥B﹥0，C﹥D﹥0，则有A×C﹥B×D；A÷D﹥B÷C 五、割补法 在计算一组数据的平均值或总和值时，首先选取一个中间值，根据中间值将这组数据“割”（减去）或“补”（追上），进而求取平均值或总和值。 常用形式: 1.根据该组数据，粗略估算一个中间值； 2.将该组值分别减去中间值得到一组数值；
材料分析方法部分课后习题答案(供参考)
第一章X 射线物理学基础 2、若X 射线管的额定功率为1.5KW，在管电压为35KV 时，容许的最大电流是多少？ 答：1.5KW/35KV=0.043A。 4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。 答：因X 光管是Cu 靶，故选择Ni 为滤片材料。查表得：μ m α＝49.03cm2／g，μ mβ＝290cm2／g，有公式，，，故：，解得:t=8.35um t 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？ 答：eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34 e为电子电荷，等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释：相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。 ⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K 电子，当外层电子来填充K 空位时，将向外辐射K 系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。或二次荧光。 ⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K 电子从无穷远移至K 层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K 系的吸收限。 ⑸原子钟一个K层电子被光量子击出后，L层中一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量使L层中另一个电子获得能量越出吸收体，这样一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应。 第二章X 射线衍射方向 2、下面是某立方晶第物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（123），（100），（200），（311），（121），（111），（210），（220），（130），（030），（221），（110）。 答：立方晶系中三个边长度相等设为a，则晶面间距为d=a/ 则它们的面间距从大小到按次序是：（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（121）、（220）、（221）、（030）、（130）、
《材料分析测试方法A》作业
材料物理专业2013级《材料分析测试方法A 》作业 第一章 电磁辐射与材料结构 一、教材习题 1-1 计算下列电磁辐射的有关参数： （1）波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长（μm ）； （2）5m 波长射频辐射的频率（MHz ）； （3）588.995nm 钠线相应的光子能量（eV ）。 1-3 某原子的一个光谱项为45F J ，试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 1-5 下列原子核中，哪些核没有自旋角动量？ 12C 6、19F 9、31P 15、16O 8、1H 1、14N 7。 1-8 分别在简单立方晶胞和面心立方晶胞中标明（001）、（002）和（003）面，并据此回答： 干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布？为什么？ 1-9 已知某点阵∣a ∣=3?，∣b ∣=2?，γ = 60?，c ∥a ×b ，试用图解法求r *110与r *210。 1-10 下列哪些晶面属于]111[晶带？ )331(),011(),101(),211(),231(),132(),111(。 二、补充习题 1、试求加速电压为1、10、100kV 时，电子的波长各是多少？考虑相对论修正后又各是多 少？ 第二章 电磁辐射与材料的相互作用 一、教材习题 2-2 下列各光子能量（eV ）各在何种电磁波谱域内？各与何种跃迁所需能量相适应？ 1.2×106~1.2×102、6.2~1.7、0.5~0.02、2×10-2~4×10-7。 2-3 下列哪种跃迁不能产生? 31S 0—31P 1、31S 0—31D 2、33P 2—33D 3、43S 1—43P 1。 2-5 分子能级跃迁有哪些类型？紫外、可见光谱与红外光谱相比，各有何特点？ 2-6 以Mg K α（λ=9.89?）辐射为激发源，由谱仪（功函数4eV ）测得某元素（固体样品） X 射线光电子动能为981.5eV ，求此元素的电子结合能。 2-7 用能级示意图比较X 射线光电子、特征X 射线与俄歇电子的概念。 二、补充习题 1、俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同？为什么？ 2、简述X 射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 第三章 粒子（束）与材料的相互作用 一、教材习题 3-1 电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子 激发产生的？
资料分析公式总结
资料分析公式总结 1 现期值=基期值*（1+增长率）基期值=现期值/1+增长率 2 增长量： ?增长量=现期值-基期值=（现期值/1+增长率）x增长率 ?考点识别：增长（增加）+具体数值？（多少）+单位（元、吨…） ?常用方法：特殊分数化简法 1/2=50% 1/3=33.3% 1/4=25% 1/5=20% 1/6=16.7% 1/7=14.3% 1/8=12.5% 1/9=11.1% 1/10=10% 1/11=9.1% 1/12=8.3% 1/13=7.7% 1/14=7.1% 1/15=6.7% 2/7=28.6% 3/8=37.5% 2/9=22.2% 2/11=18.2% ?增长量=现期值/1+增长率x增长率=(现期值/1+1/n)x1/n=现期值/n+1 （注意：增长率为正数时，n取正数，增长率为负数时，n取负数） ?特殊题型：增长量比大小 口诀：大大则大，一大一小看倍数 1)大大则大：现期值大，增长率达，则增长量一定大； 2)一大一小看倍数（乘积），分别计算两者现期值之间的倍数关系与增长率之间的倍数关 系，锁定倍数关系明显大的那一组（如现期值是5倍关系，增长率是3倍关系，就看现期值），其中数值大的（在刚才那个例子中就是现期值）增长量大。 （注意：口诀适用于增长率小于50%的题目） 3 增长率=现期值/基期值-1 4 年均增长量=现期值-基期值/增长次数（年份差） 5 年均增长率=现期值/基期值开根号下年份差次方 -1 （年均增长率约等于 (a/b-1）/n) 6 隔年增长量=现期值-基期值 7 隔年增长率=现期增长率+基期增长率+现期增长率x基期增长率 比重：A（部分）占B（整体）的比重 比重=部分/整体x100% 基期比重=现期比重x（1+整体增长率/1+部分增长率） 比重变化=现期比重x（部分增长率-整体增长率）/部分增长率
材料分析方法 考前复习总结(一)
一X射线基础 1 X射线：是一种波长很短的电磁波(0.05-0.25nm,可见光390-760nm)。X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。 产生条件：产生自由电子；使电子做定向高速运动；在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 产生方式：利用类似热阴极二极管装置，用一定材料制作的板状阳极（靶）和阴极（灯丝）密封在一个玻璃-金属管壳内，阴极通电加热，在两极间加直流高压U，则阴极产生的热电子将在高压电场作用下飞向阳极，在碰撞的瞬间产生X射线。 连续X射线：强度随波长连续变化的谱线，波长从一最小值（短波限）向长波伸展，并在一波长处有强度最大值。受管电压U、管电流I和阳极靶材原子序数Z的作用。U提高，强度提高，短波限和强度最大值对应的波长减小；I提高，强度提高；Z越高，强度越大。根据量子力学，在管电压作用下电子动能为eU，若电子碰撞时把全部能量给予一个光子，则使其获得最大能量，，此光量子的波长即为短波限。。绝大多数到达阳极靶面的电子经多次碰撞消耗能量，每次碰撞产生一个光量子，并以均大于短波限的波长辐射，产生连续谱。 特征X射线：管电压增高到一定值时，在连续谱的某些特定的波长位置会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，其波长只取决于阳极靶材元素的原子序数，可作为阳极靶材的标志或特征。莫塞莱定律：（Z越大，特征谱波长越短）。经典原子模型，电子分布在一系列量子化壳层上，内层电子被激出后原子将处于激发状态，必然自发向稳态过渡，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。特征谱强度随U和I的提高而增大。 2 X-ray与物质的相互作用 1）散射：相干散射：当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，光子方向改变但能量无损失，产生波长不变的散射线，可发生干涉，是x射线衍射的基础。（汤姆逊散射） 非相干散射：当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞，电子被撞离原子带走一部分光子的能量成为反冲电子，损失了能量的光子被撞偏一个角度。散布于各方向的散射波波长不等，不能发生干涉。（康-吴效应） 2）真吸收（光电效应、俄歇效应和热效应消耗）：入射x射线能量足够大时，可将内层电子击出，产生光电效应。被击出的电子为光电子；外层电子向内层跃迁，辐射出波长严格一定的特征x射线，因属于光致发光的荧光现象，成为荧光X射线。 原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。（荧光效应用于表层重元素>20的成分分析；俄歇效应用于表层轻元素的成分分析） 3）衰减X射线吸收规律：强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时，强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例，即-dI/I=μdx 。 线吸收系数：即为上式中的μ，指在X射线传播方向上，单位长度上的X射线强弱衰减程度。 质量吸收系数：X射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，拜托密度影响。 吸收限：当吸收物质一定时，波长越长越容易被吸收，但吸收系数并不随波长减小单调下降，会有几个跳跃台阶（对应荧光辐射吸收）。 ①根据样品化学成分选择靶材：要求尽可能少激发荧光辐射，入射线波长略长于样品的吸收线或短很多。Z靶≤Z样+1或Z靶>>Z样 ②滤片选择：滤去K系谱线中的Kβ线，使其吸收线位于K系谱线直接，尽可能靠近Kα线。Z靶<40，Z滤=Z靶-1；Z靶＞40，Z滤=Z靶-2 1分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？ 答：根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定状态下，每个壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。最内层能量最低，向外能量依次增加。根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，所以K?的能量大于Ka的能量，Ka能量大于La的能量。因此在不考虑能量损失的情况下：CuKa能激发CuKa荧光辐射；（能量相同）CuK?能激发CuKa荧光辐射；（K?>Ka）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Ka>la）2为什么出现吸收限？K吸收限只有一个而L吸收限有三个？当激发K系荧光Ⅹ射线时，能否伴生L系？当L系激发时能否伴生K系？ 一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果。并且吸收是造成强度衰减的主要原因。物质对X射线的吸收，是指X射线通过物质对光子的能量变成了其他形成的能量。原子系统中的电子遵从泡利不相容原理不连续地分布在K,L,M,N等不同能级的壳层上，当外来的高速粒子（电子或光子）的动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出原子系统之外，从而使原子处于激发态。这时所需的能量即为吸收限，它只与壳层能量有关。即吸收限只与靶的原子序数有关，与管电压无关。 因为L层有三个亚层，每个亚层的能量不同，所以有三个吸收限，而K只是一层，所以只有一个吸收限。 激发K系光电效应时，入射光子的能量要等于或大于将K电子从K层移到无穷远时所做的功Wk。从X射线被物质吸收的角度称入K 为吸收限。当激发K系荧光X射线时，能伴生L系，因为L系跃迁到K系自身产生空位，可使外层电子迁入，而L系激发时不能伴生K系。3计算当管电压为50 kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。 电子静止质量：m0=9.1×10-31kg 光速：c=2.998×108m/s电子电量：e=1.602×10-19C 普朗克常数：h=6.626×10-34J.s 电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为 E=eU=1.602×10-19C×50kv=8.01×10-18kJ 由于E=1/2m0v02 所以电子与靶碰撞时的速度为v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s 所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压λ0（?）＝12400/v(伏) ＝0.248? 辐射出来的光子的最大动能为 E0＝h?0＝hc/λ0＝1.99×10-15J
高三历史的答题技巧分析_行测资料分析答题技巧
高三历史的答题技巧分析_行测资料分析答题技巧 高三历史的答题技巧分析_行测资料分析答题技巧 历史的答题是有一定的规律的，学生掌握答题的规律可以帮助学生更好的答题，减少不必要的失分，下面大范文网将为大家带来高考历史的答题技巧，希望能够帮助到大家。 高考历史的答题技巧 一、选择题：审清两个要素 无论是一般类型的单个选择题，还是专题式选择题，都要审清2个要素，即：条件限制和题目的主题内容。 1、审清条件限制：条件限制一般有时间限制、地点(或国别)限制、领域(包括政治、经济、军事、外交、思想文化等)限制、人物限制(如唐太宗)等。就时间限制而言，通常有四种情况，一是有明确的时间限定，如20世纪四、五十年代，1861年等等;二是有上限，无下限，如秦代以来中央集权制的发展;三是有下限，无上限，如明朝中期以前我国对外关系的突出特征;四是上下限皆不明确，如资产阶级革命时期、辛亥革命时期等。解答时间限制的题目时首先必须根据历史知识，准确判断时间的上下限制(也就是我平时所说的时间定位)。近年来文综试卷中出现的专题式选择题，除了总序中对时间有限定以外，每一道小题中均有指定的概念，所以做这一类选择题，既要把握总序中的时间限制，又要弄清楚每个小题的时间要求。 2、审清答题主题。答题主题就是指试题所提供的各种材料(材料的形式是多样的，比如图表、漫画、民谣、历史俗语、小说等)，也就是命题人要求你所答的主题和主流价值取向。审清了这一要求，选择的方向就确定了。专题式选择题，每小题都有不同的答题主题，考查的主题内容可以是历史事物的原因、内容、目的、特点、性质、结果、影响等，选择的时候注意回答的方向，比如本题要求你回答某一措施的目的，你却选择了客观作用的相关选项。
材料分析方法复习总结
Ｘ射线：波长很短的电磁 X射线的本质是什么？ 答：X射线是一种电磁波，有明显的波粒二象性。 特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。 连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。 荧光Ｘ射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线 x射线的定义性质连续X射线和特征X射线的产生 X射线是一种波长很短的电磁波 X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。对动物有机体能产生巨大的生理上的影响，能杀伤生物细胞。 连续X射线根据经典物理学的理论，一个带负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电磁波，或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。 特征X射线处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。因物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。 4 简述材料研究X射线试验方法在材料研究中的主要应用 精确测定晶体的点阵常数物相分析宏观应力测定测定单晶体位相测定多晶的织够问题． X 射线衍射分析，在无机非金属材料研究中有哪些应用？（8分） 答：1. 物相分析：定性、定量2. 结构分析：a、b、c、α、β、γ、d 3. 单晶分析：对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工 4. 测定相图、固溶度 5. 测定晶粒大小、应力、应变等情况 X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式？写出数学表达式，并说明d、θ、λ的意义。（5分） 答：. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。（1分）其数学表达式：2dsin θ=λ（1分）其中d是晶体的晶面间距。（1分）θ是布拉格角，即入射线与晶面间的交角。（1分）λ是入射X 射线的波长。（1分） 在X射线衍射图中，确定衍射峰位的方法有哪几种？各适用于什么情况？（7分） 答：（1）.峰顶法：适用于线形尖锐的情况。（1分） （2）.切线法：适用于线形顶部平坦，两侧直线性较好的情况。（1分） （3）.半高宽中点法：适用于线形顶部平坦，两侧直线性不好的情况。（1分） （4）.7/8高度法：适用于有重叠峰存在，但峰顶能明显分开的情况。（1分） （5）.中点连线法：（1分） （6）.抛物线拟合法：适用于衍射峰线形漫散及双峰难分离的情况。（1分） （7）.重心法：干扰小，重复性好，但此法计算量大，宜配合计算机使用。（1分） 什么叫干涉面？当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl） 晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？ 答：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波 长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ， 相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。
材料分析方法试题及答案10
材料现代分析方法试题10（参考答案） 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．“一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可 能产生衍射线”，此种说法是否正确？ 答：不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线，只要符合光的干涉三个条件（光程差是波长的整数倍），不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射，其光程差为零，是特殊情况。 2．什么叫干涉面？当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是多少？相邻两个（HKL）晶面的波程差是多少？ 答：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。 3．谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么? 该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题? 答：B为半高宽或峰的积分宽度，λ为入射X射线波长，t为粒径大小，θ 为表示选用X射线位置 ①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽，t表示晶粒的大小。可见当晶粒变小时，衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm 时，它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒<10-5cm ，即100纳米以下晶粒的粒径。因此，它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽然精度不很高，但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。 ②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末，但实际上理想的晶体是不存在的，即使是较大的晶体，它经常也具有镶嵌结构在，即是由一些大小约在10-4cm，取向稍有差别的镶嵌晶块组成。它们也会导到X射线衍射峰的宽化。 4．试述极图与反极图的区别？ 答：极图是多晶体中某{hkl}晶面族的倒易矢量（或晶面法线）在空间分布的极射赤面投影图。它取一宏观坐标面为投影面，对板织构可取轧面，对丝织构取与丝轴平行或垂直的平面。图7-13是轧制纯铝{111}极图，投影面为轧面。在极
资料分析公式总结
资料分析公式总结 1.阅读，读时间、读材料、读名词，读数据; 2.根据题目寻找目标数据; 3.找考点，带入对应公式; 4.根据列式使用合适计算方法，找出选项。 方法步骤都对啊，为什么速度上不去呢?主要原因有四个方面： 1.读题慢，关键名词半天找不到; 2.列式慢，关键时刻公式记忆一团麻; 3.找数据慢，众里寻他千百度，蓦然回首，数据还是不见了; 4.计算慢，加减乘除已惘然。 关于读题慢和列式慢，公式虽然掌握，但是对于公式和材料的衔接不娴熟，拿到题目反应不过来考点和对应列式。建议多拿题目练习考点的精确瞄准度，公式用口诀的形式熟练记忆。使用公式口诀一定要非常娴熟，例如看见增速、增幅、增长百分之几等各种增长率的形式都要能反应出"增长量除以基期值"或"现期除以基期减一"，见到求增长量，想到现期和增长率相结合的公式及计算方法，都要达到类似看到《新白娘子传奇》想到赵雅芝的熟悉程度。 关于找数据慢，有可能是本身没有形成阅读习惯，阅读速度偏慢，阅读时先锁定题目要找的关键词，用题目的1-2个关键词去材料中寻找，用跳跃式方法阅读材料。 关于计算慢原因，估算方法掌握不熟练或计算能力偏弱。想要每种估算方法运用熟练，先用不同估算方法做100道相同题目，把估算
方法操作反复使用并熟练使用，首数法、特征数字法、有效数字法和错位加减法等。 当然，有时候资料分析题目出得比较难、比较偏，这个不是一个同学的问题，所有人面对的题目都一样，所以不用特别在意。关于出题人的陷阱，也不要太担心，平时多做做有坑的题目，经验积累多了就不怕了，考场上依然能反应。资料分析公式总结 (一)增长相关公式 1.增长率计算：现期值/基期值-1，对应方法：首数法，分子不变，分母取前三位有效数字，根据选项选结果。 2.增长量计算：现期值×增长率/(1+增长率)，对应方法：特征数字法：百分数转变成分数，进行约分计算;错位加减法：通过加减数字把分式中分子和分母凑相等而进行约分计算。 3.基期值计算：现期值/(1+增长率)，对应方法：首数法，特征数字法 4.年均增长量：(末期值-初期值)/年份差 5.年均增长率： ，n=年份差，对于方法：二项式展开：百分数的平方到多次方部分近似为0，从而进行约分计算，估算公式有：年均增长量/初期值;(末期值/初期値-1)/年份差;各年增长率的平均值，均找以上结果的较小的数值为结果。
现代材料分析方法习题测验汇总及答案
材料分析测试方法复习题 简答题： 1. X 射线产生的基本条件 答：①产生自由电子； ②使电子做定向高速运动； ③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 2. 连续X 射线产生实质 答：假设管电流为10mA ，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv （i ）的光子序列，这样就形成了连续X 射线。 3. 特征X 射线产生的物理机制 答：原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K 、L 、M 、N 等 不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低能态转化，即向低能级上的空位跃迁，在跃迁时会有一能量产生，这一能量以光子的形式辐射出来，即特征X 射线。 4. 短波限、吸收限 答：短波限：X 射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。 吸收限：把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。 5. X 射线相干散射与非相干散射现象 答： 相干散射：当X 射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。 非相干散射：当X 射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。 6. 光电子、荧光X 射线以及俄歇电子的含义 答：光电子：光电效应中由光子激发所产生的电子（或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子）。 荧光X 射线：由X 射线激发所产生的特征X 射线。 俄歇电子：原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。 8. 晶面及晶面间距 答:晶面：在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面，使所有的节点均位于这组平面上，各平面的节点分布情况完全相同，这样的节点平面成为晶面。 晶面间距：两个相邻的平行晶面的垂直距离。 9. 反射级数与干涉指数 答：布拉格方程 表示面间距为d ’的（hkl ）晶面上产生了n 级衍射，n 就是反射级数 干涉指数：当把布拉格方程写成： 时，这是面间距为1/n 的实际上存在或不存在的假想晶面的一级反射，若把这个晶面叫作干涉面，其间的指数就叫作干涉指数 10.衍射矢量与倒易矢量 答：衍射矢量：当束X 射线被晶面P 反射时，假定N 为晶面P 的法线方向，入射线方向用单位矢量S0λθ=Sin n d '2λ θn Sin d ='2：
资料分析个人总结
资料分析个人总结 李委明老师说资料分析只是一种技术。最近再次复习了一遍李老师的《资料分析模块宝典》，略有心得，现总结如下。 资料分析题一般都出现在行测考试的最后一个部分，我上几次考试当中都遇到了时间不够的问题，从而导致没有时间去完成资料分析题而导致失分。资料分析不难，应该把它提前到数学题之前，而且要注意资料题的核心思想，也就是简单入手和答案选项。 做资料题，分题型来看，有图表题，图形题，文字题和文字、图表、图形混合题。对于图表题，看资料只需注意到时间、单位和题目的核心词语即可，很特殊的应该圈示出来，以便答题时注意；对于图形题，同样应该注意时间，单位和题目的核心词语，还要注意在饼图中可能所有的项加起来不到或超过100%，不要把整个饼图当作100%来看待；对于文字题，分为单独语段和多语段资料题，单独语段，以每句话作为一个单位意思，圈出关键词即可，对于多语段，一般是总分和分分结构，只需圈示关键词，就可去看题目做题了。 还要掌握一些基础知识。 一、量和速的区分。量是指的绝对值，速是指的相对值。增速、增长率和增幅指 的是一个概念。 二、“比”的意思。在题目的提问中，若问**1比**2增长多少或者减少多少，**2 都是分母，也就是说“比”的后面的那个项作分母，前面的项作分子。 三、同比和环比。同比是指与上一年的同期相比，环比是指与相邻的上一期相比。 四、百分数和百分点。N个百分点就是n%。 五、众数、中位数和平均数。众数是指在一组数据中出现次数最多的数；中位数 是指一组数据从小到大排列居于中间位置的数或者居于中间位置的两个数的 平均数；平均数是指算术平均数。众数反映的是出现数据的集中点；中位数 用于数据质量较差时，不受极端值的影响，易于计算，能较好的表现数据信 息；平均数常用于数据质量较好时，它受全体数据的影响，受极端值的影响 较大。当中位数大于平均数时，会有较小的数据出现，反之，会有较大的数 据出现。 六、三大产业。第一产业：农林牧副渔。第二产业：工业和建筑业。其他为第三 产业。 七、翻番。翻n番即为原来的2的n次倍。 八、GNP和GDP。GNP：是指一个国家或地区所有国民在一定时期内生产的最终 产品和服务价值的总和，包括本国国民在外国创造的价值；GDP是指一个国 家或地区所有常住单位在一定时期内生产的最终产品和服务价值的总和，包 括外国公司在国内创造的价值。 九、顺差和逆差。顺差是指出口大于进口，逆差是指出口小于进口。 十、基尼系数和恩格尔系数。基尼系数是衡量一个国家收入差距的常用指标。在 0~1之间，0.4为警戒线，值越低越贫富差距越小。恩格尔系数是指食品支出 总额（生活必需品，非奢侈品）占家庭或个人消费支出的百分比，40~50%为 小康，值越低越富裕。 十一、CPI和PPI.CPI是指消费品物价指数。PPI是指企业原材料价格指数，是生产指数。 几个核心要点 一是要注意时间和单位的表述，还要注意题目中的特殊表述，包括组合表述题和全对全不对题。做题时可以适当标注，利用直尺或者量角器定性分析，或者用常识来直接判断。最主要的还是下面总结的实用速算技巧。