AD转换实验报告.docx
8292924809
基于单片机的AD转换电路
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引言
A/D转换是指将模拟信号转换为数字信号，这在信号处理、信号传输等领域具有重要的意义。常用的A/D转换电路有专用A/D集成电路、单片机ADC模块，前者精度高、电路复杂，后者成本低、设计简单。基于单片机的A/D转换电路在实际电路中获得了广泛的应用。
一般的A/D转换过程是通过采样、保持、量化和编码4个步骤完成的，这些步骤往往是合并进行的。当A/D转换结束时，ADC输出一个转换结束信号数据。CPU可由多种方法读取转换结果：a查询方式；b中断方式；c DMA方式。
通道8为A/D转换器，ADC0809是带有8为A/D转换器、8路多路开关以及微处理机兼容的控制逻辑的CMOS组件。它是逐次逼近式A/D转换器，可以和单片机直接接口。ADC0809由一个8路模拟开关、一个地址锁存与译码器、一个A/D转换器和一个三态输出锁存器组成。多路开关可选通8个模拟通道，允许8路模拟量分时输出，共用A/D转换器进行转换。三台输出锁存器用于锁存A/D转换完的数字量，当OE端为高电平时，才可以从三态输出锁存器取走转换完的数据。
一个实际系统中需用传感器把各种物理参数测量出来，并转换为电信号，在经过A/D转换器，传送给计算机；微型计算机加工后，通过D/A转换器去控制各种参数量。
一、实验方案的选择与分析
1.1复位电路方案
单片机在开机时都需要复位，以便中央处理器CPU以及其他功能部件都处于一个确定的初始状态，并从这个状态开始工作。51的RST引脚是复位信号的输入端。复位电平是高电平有效持续时间要有24个时钟周期以上。本系统中单片机时钟频率为6MHz则复位脉冲至少应为4us。
方案一：上电复位电路
上电瞬间，RST端的的电位与Vcc相同，随着电容的逐步充电，充电电流减小，RST电位逐渐下降。上电复位所需的最短时间是振荡器建立时间加上二个机器周期，在这段时间里，振荡建立时间不超过10ms。如图2所示；
方案二：外部复位电路
按下开关时，电源通过电阻对外接电容进行充电，使RES端为高电平，复位按钮松开后，电容通过下拉电阻放电，逐渐使RET端恢复低电平。如图3所示；
方案三：上电外部复位电路
典型的上电外部复位电路是既具有上电复位又具有外部复位电路，上电瞬间，C与Rx构成充电电路，RST引脚出现正脉冲，只要RST 保持足够的高电平，就能使单片机复位。如图4所示；
方案分析与选择：在以上3种复位电路中，上电复位电路结构简单、所用元器件较少、成本较低，在小型电路中比较常用，并且能自动复位，操作简单，很符合本电路的要求；而外部复位电路和上电外部复位电路，虽然能完成本机要求，但所用原件较多，电路较为复杂，不符合人性化要求，且需手动处理。因此，在本次试验中选择上电复位电路。
1.2振荡源方案
在MCS-51内部有一个用于构成振荡器的高增益反相放大器。引脚XTAL1(19)、XTAL2(18)分别是此放大器的输入端和输出端方案一：内部方式
与作为反馈元件的片外晶体或陶瓷谐振器一起组成一个自激振荡器。
方案二：外部方式
外部振荡器信号的接法与芯片类型有关。CMOS工艺的MCU其XTAL1端接外部时钟信号，XTAL2端可悬空。HMOS工艺的MCU则XTAL2端接外部时钟信号，XTAL1端须接地。
方案分析与选择：无论是内部振荡还是外部振荡都能满足本电路对振荡源的要求，内部振荡和外部振荡相比较而言，内部振荡的完成更容易和操作，并且用简单的器件就可以实现振荡要求，可以使电路外部更人性化。所以本次试验选择内部振荡方式。
1.3显示与键盘方案
对系统发出命令和输出显示测量结果，主要是由键盘和7段3位共阳极数码管组成。
（1）译码方法
用单片机驱动7段3位共阳极数码管有很多方法，按显示方式分，有静态显示和动态（扫描）显示，按译码方式可分硬件译码和软件译码之分。
方案一：硬件译码
硬件译码就是显示的段码完全由硬件完成，CPU只要送出标准的BCD码即可，硬件接线有一定标准。
方案二：软件译码
软件译码是用软件来完成硬件的功能，接线灵活，显示段码完全由软件来处理，是目前常用的显示驱动方式。
方案的分析与选择：译码方式比较简单，软件与硬件的方式差别不大，但现在的主流方式是软件译码，而且软件译码接线比较灵活，处理简单，因此本电路选择的是软件译码。
（2）显示方式
在该单片机系统中，使用7段共阳极数码管构成3位数字显示器，段选线控制显示的数字，位选线控制显示位的亮或暗。
方案一：静态显示
静态显示，显示驱动电路具有输出锁存功能，单片机将所要显示的数据送出后就不用再管，直到下一次显示数据需要更新时再传送一次数据。
方案二：动态显示
动态显示需要CPU时刻对显示器件进行数据刷新，显示数据会有闪烁感，占用的CPU时间多。
方案的分析与选择：这两种显示方式各有利弊；静态显示虽然数据稳定，占用很少的CPU时间，但每个显示单元都需要单独的显示驱动电路，使用的硬件较多；动态显示虽然有闪烁感，占用的CPU时间多，但使用的硬件少，能节省线路板空间。所以，本次实验采用的是动态显示。
二、系统的硬件设计
2.1 ADC0809内部功能及引脚介绍
ADC0809八位逐次逼近式A／D转换器是一种单片CMOS器件，包括8位模拟转换器、8通道转换开关和与微处理器兼容的控制逻辑。8路转换开关能直接连通8个单端模拟信号中的任何一个。其内部结构如图8所示。
ADC0809没有内部时钟，必须由外部提供，其范围为10～1280kHz。典型时钟频率为640kHz。
引脚排列及各引脚的功能，引脚排列如图9所示
各引脚的功能如下：
IN0～IN7：8个通道的模拟量输入端。可输入0～5V待转换的模拟电压。
D0～D7：8位转换结果输出端。三态输出，D7是最高位，D0是最低位。
A、B、C：通道选择端。当CBA=000时，IN0输入；当CBA=111时，IN7输入。
ALE：地址锁存信号输入端。该信号在上升沿处把A、B、C的状态锁存到内部的多路开关的地址锁存器中，从而选通8路模拟信号中的某一路。
START：启动转换信号输入端。从START端输入一个正脉冲，其下降沿启动ADC0809开始转换。脉冲宽度应不小于100～200ns。
EOC：转换结束信号输出端。启动A/D转换时它自动变为低电平。OE：输出允许端。
CLK：时钟输入端。ADC0809的典型时钟频率为640kHz，转换时间约为100μs。
REF(-)、REF(+)：参考电压输入端。ADC0809的参考电压为＋5V。VCC、GND：供电电源端。ADC0809使用＋5V单一电源供电。
当ALE为高电平时，通道地址输入到地址锁存器中，下降沿将地址锁存，并译码。在START上升沿时，所有的内部寄存器清零，在下降沿时，开始进行A/D转换，此期间START应保持低电平。在START 下降沿后10us左右，转换结束信号变为低电平，EOC为低电平时，表示正在转换，为高电平时，表示转换结束。OE为低电平时，D0～D7为高阻状态，OE为高电平时，允许转换结果输出。
2.2 键盘和显示电路
（1）键盘
本实验键盘采用4X4矩阵键盘组成。如下图所示：
（2）显示
显示部分为4个共阳极的七段数码管，4个七段共阳极数码管的a～dp字段的引脚分别由4个OC门同相驱动器驱动。4个共阳极7段数码管如下图所示：
三、系统软件的设计及流程图
3.1 A/D转换
本实验采用的是查询方式进行转换，查询方式的流程图如下图所示：
3.2 标度变换
该单片机系统中，被测量经过A/D转换，均统一为0～255二进制码，因此要把A/D转换的数码X变换成被测量的实际数值。
四、电路图及仿真效果图
本次实验的电路图如下图所示：
仿真效果图如下所示：
结论：单片机具有体积小，功耗低，功能强，通用性好，性价比高易组装成机电仪一体化的各种智能控制设备和仪器，仪表。面向在线应用，能针对各类控制任务的简繁灵活配置，因而能获得最佳的费效比。易于实现规划设计，避免不必要的二次开发过程，减少系统的研发费用，产品升级周期短。易于多机使用主从分布式的集散控制，提高控制系统的效率。抗干扰能力强，适应温度范围广，能在各种恶劣环境下可靠地工作。指令精简，实用，系统设计灵活易于推广运用。
五、心得与体会
自拟。。。。。。。。
附录1：参考资料。
（1）模拟电子技术基础高等教育出版社
（2）电子测量技术电子工业出版社
（3）单片微型计算机应用与开发航空航天大学出版社
（4）MCS-51单片机实用子程序设计哈尔滨工业大学出版社
附录2：实验源程序。
#include
#include
#define uint unsigned int
#define uchar unsigned char
sbit ST=P2^4;
sbit OE=P2^5;
sbit EOC=P2^6;
sbit w_select1=P2^0;
sbit w_select2=P2^1;
sbit w_select3=P2^2;
sbit w_select4=P2^3;
uchar num_1=0,num_2=0,num_3=0;
//uchar code table[10] = {0x03, 0x9f, 0x25, 0x0d, 0x99, 0x49, 0x41, 0x1f, 0x01, 0x09};
uchar code table[10] = {0xC0, 0xf9, 0xa4, 0xb0, 0x99, 0x92, 0x82, 0xf8, 0x80, 0x90};
//uchar code table[10] = {0x3f, 0x06, 0x5b, 0x4f, 0x66, 0x6d, 0x7d, 0x07, 0x7f, 0x6f};
/********************************************************** ****
* 名称 : Delay_1ms()
* 功能 : 延时子程序，延时时间为 1ms * x
* 输入 : x (延时一毫秒的个数)
* 输出 : 无
*********************************************************** ****/
void Delay_1ms(uint x)
{
uint h,k;
//uchar k;
for(h = x; h >0; h--) for(k = 20; k>0; k--);
}
void DA_change(uchar k)
{float D_value;
D_value=5*k/255;
num_1=D_value/1;//取个位值
num_2=(D_value-num_1)*10/1;//取小数点后第一位值
num_3=((D_value-num_1)*10-num_2)*10/1;//取小数点后第二位值
}
/********************************************************** ****
* 名称： Display(uchar k)
* 功能：将参数分成十位、个位分别显示
* 输入： k (键盘数值)
* 输出： P0口输出七段码，P2口输出位选码
*********************************************************** ****/
void Display()
{
P0 = table[num_1]&0x7f; //需显示小数点
w_select3=1; Delay_1ms(1); //显示5ms个位
w_select3=0; //消隐
P0 = table[num_2];
w_select2=1; Delay_1ms(1); //显示5ms小数点后第一位w_select2=0; //消隐
P0 = table[num_3];
w_select1=1; Delay_1ms(1); //显示5ms小数点后第二位}
/********************************************************** ****
* 名称 : Main()
* 功能 : 主函数
*********************************************************** ****/
void main(void)
{
uchar Key_Value = 16; //两次读出的键值
uchar getdata;
while(1)
{
P2=P2&0xf0;
P0=0xff;
P3=0xff;
ST=0;//产生启动转换的正脉冲信号
ST=1;
ST=0;
数电实验报告册
湖北理工学院电气与电子信息工程学院 实验报告 课程名称：电子技术实验（数电部分） 专业名称： 班级： 学号： 姓名： 1
湖北理工学院电气与电子信息工程学院实验报告规范实验报告是检验学生对实验的掌握程度，以及评价学生实验课成绩的重要依据，同时也是实验教学的重要文件，撰写实验报告必须在科学实验的基础上进行。真实的记载实验过程，有利于不断积累研究资料、总结研究实验结果，可以提高学生的观察能力、实践能力、创新能力以及分析问题和解决问题的综合能力，培养学生理论联系实际的学风和实事求是的科学态度。 为加强实验教学中学生实验报告的管理，特指定湖北理工学院电气与电子信息工程学院实验报告规范。 一、每门实验课程中的每一个实验项目均须提交一份实验报告。 二、实验报告内容一般应包含以下几项内容： 1、实验项目名称：用最简练的语言反映实验内容，要求与实验课程安排表中一致； 2、实验目的和要求：明确实验的内容和具体任务； 3、实验内容和原理：简要说明本实验项目所涉及原理、公式及其应用条件； 4、操作方法与实验步骤：写出实验操作的总体思路、操作规范和操作主要注意事项，准确无误地记录原始数据； 5、实验结果与分析：明确地写出最后结果，并对实验得出的结果进行具体、定量的结果分析，说明其可靠性； 6、问题与建议（或实验小结）：提出需要解决问题，提出改进办法与建议，避免抽象地罗列、笼统地讨论。（或对本次实验项目进行总结阐述。） 三、实验报告总体上要求字迹工整，文字简练，数据齐全，图标规范，计算正确，分析充分、具体、定量。 四、指导教师及时批改实验报告，并将批改后的报告返还学生学习改进。 五、实验室每学期收回学生的实验报告，并按照学校规章保存相应时间。 2
北京邮电大学数电实验一实验报告
北京邮电大学数字电路与逻辑 设计实验 学院： 班级： 作者： 学号：
实验一 Quartus II原理图输入法设计 一、实验目的： (1)熟悉Quartus II原理图输入法进行电路设计和仿真 (2)掌握Quartus II 图形模块单元的生成与调 (3)熟悉实验板的使用 二、实验所用器材： (1)计算机 (2)直流稳压电源 (3)数字系统与逻辑设计实验开发板 三、实验任务要求 (1)用逻辑门设计实现一个半加器，仿真验证其功能，并生成新的半加器图形模 块单元。 (2)用(1)中生成的半加器模块和逻辑门设计实现一个全加器，仿真验证其功能， 并下载到实验板测试，要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 (3)用3线-8线译码器（74LS138）和逻辑门设计实现函数 ,仿真验证其功能，并下载到实验板测试。要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 四、设计思路和过程 （1）半加器的设计 半加器电路是指对两个输入数据位进行加法，输出一个结果位和进位，不产生进位输入的加法器电路。是实现两个一位二进制数的加法运算电路。数据输入AI被加数、BI加数,数据输出SO和数(半加和)、进位C0。 在数字电路设计中，最基本的方法是不管半加器是一个什么样的电路，按组合数字电路的分析方法和步骤进行。 1．列出真值表 半加器的真值表见下表。表中两个输入是加数A0和B0，输出有一个是和S0，另一个是进位C0。
2 该电路有两个输出端，属于多输出组合数字电路，电路的逻辑表达式如下函数的逻辑表达式为：SO=AI⊕BI CO=AB 所以，可以用一个两输入异或门和一个两输入与门实现。
数电实验报告
选课时间段: 序号(座位号): 杭州电子科技大学 实验报告 课程名称: 数字原理与系统设计实验 实验名称: 组合电路时序分析与自动化设计 指导教师: 学生姓名 学生学号 学生班级 所学专业 实验日期
实验一、设计8位串行进位加法器电路设计： 一位全加器： 八位串行进位加法器：
仿真波形：
实验二、设计5人表决电路 代码： module BJDL45(A,B,C,D,E,YES,NO); input A,B,C,D,E; output YES,NO; reg YES,NO; always@ (A,B,C,D,E,YES,NO) case ({A,B,C,D,E}) 5'B00000:{YES,NO}<=2'B01; 5'B00001:{YES,NO}<=2'B01; 5'B00010:{YES,NO}<=2'B01; 5'B00011:{YES,NO}<=2'B01; 5'B00100:{YES,NO}<=2'B01; 5'B00101:{YES,NO}<=2'B01; 5'B00110:{YES,NO}<=2'B01; 5'B00111:{YES,NO}<=2'B10; 5'B01000:{YES,NO}<=2'B01; 5'B01001:{YES,NO}<=2'B01; 5'B01010:{YES,NO}<=2'B01; 5'B01011:{YES,NO}<=2'B10; 5'B01100:{YES,NO}<=2'B01; 5'B01101:{YES,NO}<=2'B10; 5'B01110:{YES,NO}<=2'B10; 5'B01111:{YES,NO}<=2'B10; 5'B10000:{YES,NO}<=2'B01; 5'B10001:{YES,NO}<=2'B01; 5'B10010:{YES,NO}<=2'B01; 5'B10011:{YES,NO}<=2'B10; 5'B10100:{YES,NO}<=2'B01; 5'B10101:{YES,NO}<=2'B10; 5'B10110:{YES,NO}<=2'B10; 5'B10111:{YES,NO}<=2'B10; 5'B11000:{YES,NO}<=2'B01; 5'B11001:{YES,NO}<=2'B10; 5'B11010:{YES,NO}<=2'B10; 5'B11011:{YES,NO}<=2'B10; 5'B11100:{YES,NO}<=2'B10; 5'B11101:{YES,NO}<=2'B10; 5'B11110:{YES,NO}<=2'B10; 5'B11111:{YES,NO}<=2'B10; default: {YES,NO}<=2'B10; endcase
数电实验报告一
姓名：谭国榕班级：12电子卓越学号：201241301132 实验一逻辑门电路的研究 一、任务 1．熟悉实验室环境及实验仪器、设备的使用方法。 2．掌握识别常用数字集成电路的型号、管脚排列等能力。 3．熟悉74 LS系列、CMOS 4000B系列芯片的典型参数、输入输出特性。 4．掌握常规数字集成电路的测试方法。 二、实验设备及芯片 双踪示波器（DF4321C）1台 信号发生器（DF1641B1）1台 数字万用表（UT58B）一台 数电实验箱1个（自制） 芯片2个：74LS04 CD4069 。 三、实验内容 1.查阅芯片的PDF文件资料，分清管脚名与逻辑功能的对应关系及对应的真值表。74LS04：
CD4069： 2．静态测试 验证6非门74LS04、4069逻辑功能是否正常，并用数字万用表测量空载输出的逻辑电平值（含高、低电平）。 结论：由表格可以看出，CD4069输出的高电平比74LS04高，输出的低电平比74LS04低，所以CD4069的噪声容限相对于74LS04来说较大，故其抗干扰能力强。 3．动态测试 测逻辑门的传输延迟时间：将74LS04、4069中的6个非门分别串接起来，将函数发生器的输出调为方波，对称，幅度：0－5V，单极性，加至第一个门的输入端，并用示波器的通道1观察；用示波器的通道2观察最后一个非门的输出信号，对比输入输出波形以及信号延迟时间。
调节方波信号：
74LS04输出延迟特性： CD4069输出延迟特性：
输出延迟时间的实验数据表： 结论：74LS04的输出延迟比CD4069的输出延迟要短，说明前者的工作速度比后者快。 4．观察电压传输特性 用函数发生器的输出单极性的三角波，幅度控制在5伏，用示波器的X-Y 方式测量TTL 、 CMOS 逻辑门的传输特性，记录波形并对TTL 、CMOS 两种类型电路的高电平输出电压、低电平输出电压以及噪声容限等作相应比较。 (1) 调节函数发生器的输出：单极性三角波，对称，幅度：5V ，频率：500Hz ，从函数发生 器的下部50Ω输出端输出信号； 如图： (2) 扫描方式改为X-Y ，CH1、CH2 接地，调光标使其处于左下角附近； (3) CH1 用 2.0V/DIV （DC ），接函数发生器输出（即非门的输入）；CH2 用 0.2V/DIV （DC ），接非门输出。 (4) 记录示波器波形（如图）。
数电实验报告1
实验一门电路逻辑功能及测试 一、实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能。 2、熟悉数字电路学习机及示波器使用方法。 二、实验仪器及材料 1、双踪示波器 2、器件 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片 74LS04 六反相器1片 三、预习要求 1、复习门电路工作原理相应逻辑表达示。 2、熟悉所有集成电路的引线位置及各引线用途。 3、了解双踪示波器使用方法。 四、实验内容 实验前按学习机使用说明先检查学习机是否正常，然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及地线不能接错。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电。试验中改动接线须先断开电源，接好线后在通电实验。 1、测试门电路逻辑功能。 （1）选用双输入与非门74LS20一只，插入面包板，按图 连接电路，输入端接S1~S4(电平开关输入插口)，输 出端接电平显示发光二极管（D1~D8任意一个）。 （2）将电平开关按表1.1置位，分别测出电压及逻辑状态。（表1.1） 输入输出 1 2 3 4 Y 电压(V) H H H H 0 0.11 L H H H 1 4.23 L L H H 1 4.23 L L L H 1 4.23 L L L L 1 4.23
2、异或门逻辑功能测试 （1）选二输入四异或门电路74LS86，按图接线，输入端1﹑2﹑4﹑5接电平开关，输出端A ﹑B ﹑Y 接电平显示发光二极管。 （2）将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。 表 1.2 3、逻辑电路的逻辑关系 （1）选用四二输入与非门74LS00一只，插入面包板，实验电路自拟。将输入输出逻辑关系分别填入表1.3﹑表1.4。 输入 输出 A B Y Y 电压（V ） L L L L 0 0 0 0.16 H L L L 1 0 1 4.18 H H L L 0 0 0 0.17 H H H L 0 1 1 4.18 H H H H 0 0 0 0.17 L H L H 1 1 0.17 输入 输出 A B Y L L 0 L H 1 H L 1 H H 输入 输出 A B Y Z L L 0 0 L H 1 0 H L 1 0 H H 1
数字电路实验报告
数字电路实验报告 姓名：张珂 班级：10级8班 学号：2010302540224
实验一：组合逻辑电路分析一．实验用集成电路引脚图 1．74LS00集成电路 2．74LS20集成电路 二、实验内容 1、组合逻辑电路分析 逻辑原理图如下：
U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N X1 2.5 V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V GND 图1.1组合逻辑电路分析 电路图说明：ABCD 按逻辑开关“1”表示高电平，“0”表示低电平； 逻辑指示灯：灯亮表示“1”，灯不亮表示“0”。 真值表如下： A B C D Y 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 表1.1 组合逻辑电路分析真值表 实验分析： 由实验逻辑电路图可知：输出X1=AB CD =AB+CD ，同样，由真值表也能推出此方程，说明此逻辑电路具有与或功能。 2、密码锁问题： 密码锁的开锁条件是：拨对密码，钥匙插入锁眼将电源接通，当两个条件同时满足时，开锁信号为“1”，将锁打开；否则，报警信号为“1”，则接通警铃。
试分析下图中密码锁的密码ABCD 是什么？ 密码锁逻辑原理图如下： U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N U4D 74LS00N U5D 74LS00N U6A 74LS00N U7A 74LS00N U8A 74LS20D GND VCC 5V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V X1 2.5 V X2 2.5 V 图 2 密码锁电路分析 实验真值表记录如下： 实验真值表 A B C D X1 X2 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 1 表1.2 密码锁电路分析真值表 实验分析： 由真值表（表1.2）可知：当ABCD 为1001时，灯X1亮，灯X2灭；其他情况下，灯X1灭，灯X2亮。由此可见，该密码锁的密码ABCD 为1001.因而，可以得到：X1=ABCD ，X2=1X 。
数字电子技术实验报告汇总
《数字电子技术》实验报告 实验序号：01 实验项目名称：门电路逻辑功能及测试 学号姓名专业、班级 实验地点物联网实验室指导教师时间2016.9.19 一、实验目的 1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。 2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。 3、学会检测基本门电路的方法。 二、实验仪器及材料 1、仪器设备：双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件： 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片 三、预习要求 1. 预习门电路相应的逻辑表达式。 2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。 四、实验内容及步骤 实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常，然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座，按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中
1.与非门电路逻辑功能的测试 （1）选用双四输入与非门74LS20一片，插入数字电路实验箱中对应的IC座，按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插口，输出端接电平显 图 1.1 示发光二极管D1~D4任意一个。 （2）将逻辑开关按表1.1的状态，分别测输出电压及逻辑状态。 表1.1 输入输出 1(k1) 2(k2) 4(k3) 5(k4) Y 电压值（v） H H H H 0 0 L H H H 1 1 L L H H 1 1 L L L H 1 1 L L L L 1 1 2. 异或门逻辑功能的测试
图 1.2 （1）选二输入四异或门电路74LS86，按图1.2接线，输入端1、2、4、5接逻辑开关(K1~K4)，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。 （2）将逻辑开关按表1.2的状态，将结果填入表中。 表1.2 输入输出 1(K1) 2(K2) 4(K35(K4) A B Y 电压（V） L H H H H L L L H H H H L L L H H L L L L L H H 1 1 1 1 1 1 1 1
数电实验实验报告
数字电路实验报告
实验一 组合逻辑电路分析 一．试验用集成电路引脚图 74LS00集成电路 74LS20集成电路 四2输入与非门 双4输入与非门 二．实验内容 1.实验一 2.实验二 密码锁的开锁条件是：拨对密码，钥匙插入锁眼将电源接通，当两个条件同时满足时，开锁信号为“1”，将锁打开。否则，报警信号为“1”，则接通警铃。试分析密码锁的密码 X1 2.5 V A B C D 示灯：灯亮表示“1”，灯灭表示“0” ABCD 按逻辑开关，“1”表示高电平，“0”表示低电平
ABCD是什么？
ABCD 接逻辑电平开关。 最简表达式为：X1=AB’C’D 密码为： 1001 A B C D X1 X2 A B C D X1 X2 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 三.实验体会： 1.分析组合逻辑电路时，可以通过逻辑表达式，电路图和真值表之间的相互转换来到达实验所要求的目的。 2.这次试验比较简单，熟悉了一些简单的组合逻辑电路和芯片 ，和使用仿真软件来设计和构造逻辑电路来求解。 实验二 组合逻辑实验（一） 半加器和全加器 一．实验目的 1. 熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤 二．预习内容 1. 复习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。 2. 复习二进制数的运算。 3. 用“与非门”设计半加器的逻辑图。 4. 完成用“异或门”、“与或非”门、“与 非”门设计全加器的逻辑图。 5. 完成用“异或”门设计的3变量判奇 电路的原理图。 三．元 件参考 U1A 74LS00D U1B 74LS00D U1C 74LS00D U1D 74LS00D U2A 74LS00D U2B 74LS00D U2C 74LS00D U3A 74LS20D X1 2.5 V X2 2.5 V VCC 5V A Ｂ Ｃ D
数电仿真实验报告
数字电子技术仿真 实验报告 班级： 姓名： 学号：
实验一组合逻辑电路设计与分析 一、实验目的 1．掌握组合逻辑电路的特点； 2．利用逻辑转换仪对组合逻辑电路进行分析与设计。 二、实验原理 组合逻辑电路是一种重要的、也是基本的数字逻辑电路，其特点是：任意时刻电路的输出仅取决于同一时刻输入信号的取值组合。 对于给定的逻辑电路图，我们可以先由此推导出逻辑表达式，化简后，由所得最简表达式列出真值表，在此基础上分析确定电路的功能，这也即是逻辑电路的分析过程。 对于组合逻辑电路的设计，一般遵循下面原则，由所给题目抽象出便于分析设计的问题，通过这些问题，分析推导出真值表，由此归纳出其逻辑表达式，再对其化简变换，最终得到所需逻辑图，完成了组合逻辑电路的设计过程。 逻辑转换仪是在Multisim软件中常用的数字逻辑电路设计和分析的仪器，使用方便、简洁。 三、实验电路及步骤 1．利用逻辑转换仪对已知逻辑电路进行分析。 （1）按图1-1连接电路。 图1-1 待分析的逻辑电路 （2）通过逻辑转换仪，得到下图1-2所示结果。 由图可看到，所得表达式为：输出为Y， D'+ABCD CD'+ABC' AB' + D C' BCD'+AB' A' + D BC' A'+ CD B' D'+A' C' B' A' Y
图1-5 经分析得到的真值表和表达式 （3）分析电路。观察真值表，我们发现：当输入变量A、B、C、D中1的个数为奇数时，输出为0；当其为偶数时，输出为1。因此，我们说，这是一个四输入的奇偶校验电路。 2．根据要求，利用逻辑转换仪进行逻辑电路的设计。 问题提出：有一火灾报警系统，设有烟感、温感和紫外线三种类型不同的火灾推测器。为了防止误报警，只有当其中有两种或两种以上的探测器发出火灾探测信号时，报警系统才会产生报警控制信号，试设计报警控制信号的电路。 具体步骤如下： （1）分析问题：探测器发出的火灾探测信号有两种情况，一是有火灾报警（可用“1”表示），一是没有火灾报警（可用“0”来表示），当有两种或两种以上报警器发出报警时，我们定义此时确有警报情况（用“1”表示），其余以“0”表示。由此，借助于逻辑转换仪面板，我们绘出如图1-3所示真值表。 图1-3 经分析得到的真值表
数电实验报告
班级：姓名: 学号： 实验报告（一）TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试1．测试TTL集成与非门74LS20的逻辑功能，测试结果记录如下表： 输入输出 An Bn Cn Dn Yn 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 2. 74LS20主要参数的测试 I CCL （mA） I CCH （mA） I il (mA) I OL （mA） N O= iL OL I I 3. 电压传输特性测试 V i(V) 0 0.4 0.7 0.9 1.0 1.1 1.2 1.3 1.4 2.0 3.0 4.0 … V O(V) 4.画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。
实验报告（二）CMOS 电路 1．用所给的集成电路（CD4007）实现F=ABC ,将实验结果填入真值表中，并测出高、低电平（真值表自拟，测试步骤自拟）。 2. 用所给的集成电路实现F=C B A ++（真值表自拟，测试步骤自拟）。 3. 用所给的集成电路，构成图2-2反相器。 （a ）测最大灌电流I OL (V OL =0.1V ,接通图2-2中的虚线框①)。 （b ）测最大拉电流I OH (V OH =4.9V,断开虚线框①，接通虚线框②。 4. 构成如图2-3所示的反相器，测最大灌电流I OL 。
实验报告（三）组合逻辑电路实验分析与设计(1) 写出由与非门组成的半加器电路的逻辑表达式 (2) 根据表达式列出真值表，并画出卡诺图判断能否简化 A B Z1 Z2 Z3 S C 0 0 0 1 1 0 1 1 实验： 1.测试由与非门组成的半加器电路的逻辑功能 A B S C 0 0 0 1 1 0 1 1 2.测试用异或门74LS86和与非门74LS00组成的半加器的逻辑功能 A B S C 0 0 0 1 1 0 1 1
数电实验实验报告
[键入文档标题] 实验一组合逻辑电路分析 一．试验用集成电路引脚图 74LS00集成电路74LS20集成电路 四2输入与非门双4输入与非门 二．实验内容 1.实验一 2.实验二 密码锁的开锁条件是：拨对密码，钥匙插入锁眼将电源接通，当两个条件同时满足时，开锁信号为“1”，将锁打开。否则，报警信号为“1”，则接通警铃。试分析密码锁的密码ABCD是什么？ ABCD接逻辑电平开关。 最简表达式为：X1=AB’C’D 密码为：1001
A B C D X1 X2 A B C D X1 X2 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 三.实验体会： 1.分析组合逻辑电路时，可以通过逻辑表达式，电路图和真值表之间的相互转换来到达实验所要求的目的。 2.这次试验比较简单，熟悉了一些简单的组合逻辑电路和芯片，和使用仿真软件来设计和构造逻辑电路来求解。 实验二组合逻辑实验（一）半加器和全加器 一．实验目的 1.熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤 二．预习内容 1.复习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。 2.复习二进制数的运算。 3.用“与非门”设计半加器的逻辑图。 4.完成用“异或门”、“与或非”门、“与非”门设计全加器的逻辑图。 5.完成用“异或”门设计的3变量判奇电路的原理图。 三．元件参考 依次为74LS283、 74LS00、74LS51、 74LS136 其中74LS51：Y= （AB+CD）’， 74LS136： Y=A⊕B（OC门）四．实验内容 1.用与非门组成半加器，用或非门、与或非门、与非门组成全加器（电路自拟） 半加器 被加数A i0 1 0 1 0 1 0 1 加数B i0 0 1 1 0 0 1 1 前级进位C i-10 0 0 0 1 1 1 1 和S i0 1 1 0 1 0 0 1
数电实验报告(一)
数字电路实验设计报告
实验名称：组合逻辑研究（一）——QuartusⅡ软件的使用 实验目的： 1.学会使用QuartusⅡ软件，运用该软件设计电路原理图。 2.学会用语言设计电路原理图，并会对设计图进行功能和时序 仿真。 3.学会从QuartusⅡ软件中下载原理图到FPGA,测试电路功能。实验仪器： 1.计算机1台 2.数字电路实验板1块 实验内容： 1.利用软件，用原理图输入的方法实现三变量多数表决器电 路，进行功能和时序仿真，记录仿真波形。 2.利用QuartusⅡ软件，用VHDL文本输入的方法实现一位全加 器电路，进行功能和时序仿真，并下载入FPGA，在试验箱上 测试其电路功能。 设计过程及仿真结果： 1.三变量多数表决器原理图
功能仿真波形 时序仿真波形 2.一位全加器的VHDL语言描述 entity add1 is port( A,B,C: in bit; D,S: out bit ); end add1; architecture one of add1 is begin S<=A XOR B XOR C; D<=((A XOR B) AND C) OR (A AND B); end one;
一位全加器功能真值表 验证其功能 功能仿真波形 时序仿真波形
实验结果分析： （1）由仿真结果可以看出，三变量多数表决器电路原理图及一位全加器的VHDL语言描述正确。 （2）由仿真结果可知，功能仿真时对信号的输入没有延迟，而时序仿真时，当多个输入信号在同一时刻处同时发生变化时，此时电路存在竞争，会有冒险，故从仿真图上可以看到毛刺。
数电实验报告(含实验内容)
数电实验报告(含实验内容) 班级：专业：姓名：学号：实验一用与非门构成逻辑电路 一、实验目的 1、熟练掌握逻辑电路的连接并学会逻辑电路的分析方法 2、熟练掌握逻辑门电路间的功能变换和测试电路的逻辑功能 二、实验设备及器材 KHD-2 实验台 集成 4 输入2 与非门74LS20 集成 2 输入4 与非门74LS00 或CC4011 三、实验原理 本实验用的逻辑图如图 2-1 所示 图1-1 图1-1 四、实验内容及步骤 1、用与非门实现图1-1电路，测试其逻辑功能，将结果填入表1-1中，并说明该电路的逻辑功能。 2、用与非门实现图1-1电路，测试其逻辑功能，将结果填入表1-2中，并说明该电路的逻辑功能。 3、用与非门实现以下逻辑函数式，测试其逻辑功能，
将结果填入表1-3中。 Y(A,B,C)=A’B+B’C+AC 班级：专业：姓名：学号：五、实验预习要求 1、进一步熟悉 74LS00、74LS20 和CC4011 的管脚引线 2、分析图 1-1 (a)、的逻辑功能，写出逻辑函数表达式，并作出真值表。 六、实验报告 1、将实验数据整理后填入相关的表格中 2、分别说明各逻辑电路图所实现的逻辑功能 A B C Z A B C Y 表1-1 表1-2 A B C Y 表1-3 班级：专业：姓名：学号：实验二组合逻辑电路的设计与测试 一、实验目的 1、掌握组合逻辑电路的设计与测试方法 2、进一步熟悉常用集成门电路的逻辑功能及使用 二、实验设备及器材 KHD-2 实验台 4 输入2 与非门74LS20 2 输入4 与非门74LS00 或CC4011
三、实验原理 使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路的设计方式。设计组合电路的一般步骤如图2-1 所示。 图 2-1 组合逻辑电路设计流程图 根据设计任务的要求建立输入、输出变量，并列出真值表。然后用逻辑代数或卡诺图化简法求出简化的逻辑表达式。并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。根据简化后的逻辑表达，画出逻辑图，用标准器件构成逻辑电路。最后，用实验来验证设计的正确性。 四、实验内容及步骤 1、用与非门设计一个数码转换电路，将一个三位二进制码转换成3 位格雷码。即当输入信号为三位二进制代码时其输出为相应的3 位格雷码。要求： 1）分析逻辑功能，作出真值表，写出逻辑表达式。 班级：专业：姓名：学号： 2）简化逻辑表达式，画出逻辑图 3）按逻辑图连接逻辑电路并测试其逻辑功能。 2、用与非门设计一个一位的数值比较器，即比较两个1 位的二进制数A、B 的大小，假定当A>B 时，1 号灯亮，AB 时，1 号灯亮，A数电实验报告
《数字电子技术》 实验报告 姓名：*** 班级：****888 学号：2014*******8 指导老师：**** 编制时间：2016.06.10 北京联合大学
实验一基本集成逻辑门电路功能分析 一、实验目的 1．理解TTL和CMOS普通门电路的参数含义。 2．掌握TTL和CMOS普通门电路的使用方法。 3．掌握分析普通门电路逻辑功能的一般方法。 4．理解TTL和CMOS普通门电路参数的一般分析方法。 二、实验元器件 双四输入与非门 74LS00×1片 六反相器 74LS04×1片 电阻 300Ω×1只 三、实验内容 （一）TTL双四输入与非门74LS00功能分析 （1）逻辑功能分析 参考图1.1连接电路。一只74LS00芯片中含有四个相同的2输入与非门，可以随意选用，此处选用的是第一个门电路。检查电路无误时方可通电。 图1.1 与非门逻辑功能测试电路
变换单刀双掷开关J1和J2的状态，用直流电压表测试电路的输出电压，将测试结果记入表1.1中。 表1.1 （2）电压传输特性分析 依照图1.3编辑电路。在0～5V间逐步调整输入的直流电压，将随之变化的输出电压记入表1.2中。 U1A 图1.3 分析与非门电压传输特性仿真电路 表1.2
实验二组合逻辑电路分析与设计 一、实验目的 1．掌握SSI组合电路的基本设计方法。 2．掌握SSI组合电路的基本分析方法。 3．了解排除组合电路故障的一般方法。 二、实验元器件 四异或门 74LS86×1片 双四输入与非门 74LS00×1片 六反相器 74LS04×1片 电阻 300Ω×4只 发光二极管 4只 三、实验内容 （一）分析“三个开关控制一盏灯”电路 根据图2.1所示的引脚接线图连接实验电路。74LS86中有四个异
数电实验报告(2013年开始新)
河 北 科 技 大 学 实 验 报 告 级 专业 班 学号 年 月 日 姓 名 同组人 指导教师 张敏 实验名称 实验二 基本门电路逻辑功能的测试 成 绩 实验类型 验证型 批阅教师 一、实验目的 （1）掌握常用门电路的逻辑功能，熟悉其外形及引脚排列图。 （2）熟悉三态门的逻辑功能及用途。 （3）掌握TTL 、CMOS 电路逻辑功能的测试方法。 二、实验仪器与元器件 （1）直流稳压电源 1台 （2）集成电路 74LS00 四2输入与非门 1片 74LS86 四2输入异或门 1片 74S64 4-2-3-2输入与或非门 1片 74LS125 四总线缓冲门（TS ） 1片 CD4011 四2输入与非门 1片 三、实验内容及步骤 1．常用集成门电路逻辑功能的测试 在数字实验板上找到双列直插式集成芯片74LS00和74LS86。按图进行连线。测试各电路的逻辑功能，并将输出结果记入表中。 门电路测试结果 2．测试与或非门74S64的逻辑功能 在实验板上找到芯片74S64，实现Y AB CD ＝＋的逻辑功能。 Y Y &
3．用与非门组成其他逻辑门电路 （1）用与非门组成与门电路 按图接线，按表测试电路的逻辑功能。根据测得的真值表，写出输出Ｙ的逻辑表达式。 真值表 逻辑表达式： （2）用与非门组成异或门电路 按图接线，将测量结果记入表中，并写出输出Y 的逻辑表达式。 真值表 逻辑表达式： 真值表 4．三态门测试 （1）三态门逻辑功能测试 三态门选用 74LS125将测试结果记入表中。 （2）按图接线。将测试结果记录表中。 真值表
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数电实验报告汇总
实验2 组合逻辑电路（半加器全加器及逻辑运算） 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制数的运算规律。 二、实验仪器及材料 1.Dais或XK实验仪一台 2.万用表一台 3.器件：74LS00 三输入端四与非门3片 74LS86 三输入端四与或门1片 74LS55 四输入端双与或门1片 三、预习要求 1.预习组合逻辑电路的分析方法。 2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3.学习二进制数的运算。 四、实验内容 1.组合逻辑电路功能测试。 图2－1 ⑴用2片74LS00组成图2－1所示逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 ⑵图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管显示。 ⑶按表2－1要求，改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。 ⑷将运算结果与实验比较。
输入输出 A B C Y1 Y2 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 (5)实验过程及实验图： 1）连线图： 2）实验图：
(6)实验总结： 用两片74ls00芯片可实现如图电路功能 2.测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2－2。 图2－2 ⑴在实验仪上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S，Y、Z接电平显示。 ⑵按表2－2要求改变A、B状态，填表。 输入端A 0 1 0 1 B 0 0 1 1 输出端Y 0 1 1 0 Z 0 0 0 1 （3）实验过程及实验图：1）管脚图：
数字电子技术实验报告1
实验名称门电路逻辑功能及其应用 1、实验目的 1.熟悉数字电子技术实验箱。 2.掌握常用的逻辑门电路的逻辑功能和测试方法 3.掌握集电极开路门的逻辑功能及使用特点。 2、实验原理 1.基本逻辑功能 (1)与门的功能 特点:全1出1;只要有一-个为0，输出为0。 (2)或门的功能 特点:全0出0;只要有一-个为1，输出为1。 (3)与非门门的功能 特点:全1出0; 只要有一-个为0，输出为1。 (4)异或门门]的功能 特点:相异为1;相同为0。 2.集电极开路门(0C门) 线与的功能 集电极开路门(简称0C门)，它工作时必须外接负载电阻RL。若把两个0C门输出端连接在一-起，通过公共电阻RL接到电源，就可实现“线与”的功能。 3、实验步骤 1、测试门电路的逻辑功能 (1)将四2输入与非门74LS00 一只插入数字电子实验箱，按图2.1.1接线，输入端接S1、S2 (逻辑电平开关输出插口)，输出端接直流电压表或电平显示发光二极管。 (2)将电平开关按表要求输入电平，分别测输出电压及逻辑状态，验证输出与输入变量是否符合“与非”关系。
2.测试门电路传输特性 (1)按图2.1.4接线。 (2)调Rp，用电压表测量当U分别为0.3、0.6、1、1.3、1.4、1.5、2、3V时对应的U值，填入表中，并画出传输特性曲线。
3.利用与非门控制 用与非门按图接线，S接任一电平开关，用示波器观察S对 输出脉冲的控制作用。用坐标纸画出观测图输入与输出的对 应波形。 4.0C门的“线与”功能测试 按图接线，A、B、C、D分别接至逻辑开关S1、S2、S3、S4的插孔中，按照逻辑图，有L=ABCD。把A、B、C、D的16种组合列出真值表，再用实验测定L，并填表。
直流电桥实验报告汇总.
清 华 大 学 实 验 报 告 系别：机械工程系 班号：72班 姓名：车德梦 （同组姓名： ） 作实验日期 2008年 11月 5日 教师评定： 实验3.3 直流电桥测电阻 一、实验目的 （1）了解单电桥测电阻的原理，初步掌握直流单电桥的使用方法； （2）单电桥测量铜丝的电阻温度系数，学习用作图法和直线拟合法处理数据； （3）了解双电桥测量低电阻的原理，初步掌握双电桥的使用方法。 （4）数字温度计的组装方法及其原理。 二、实验原理 1. 惠斯通电桥测电阻 惠斯通电桥（单电桥）是最常用的直流电桥，如图是它的电路原理图。 图中1R 、2R 和R 是已知阻值的标准电阻，它们和被测电阻x R 连成一个四边形，每一条边称作电桥的一个臂。对角A 和C 之间接电源E ；对角B 和D 之间接有检流计G ，它像桥一样。若调节R 使检流计中电流为零，桥两端的B 点和D 点点位相等，电桥达到平衡，这时可得 x R I R I 21=， 1122I R I R = 两式相除可得 R R R R x 1 2 = 只要检流计足够灵敏，等式就能相当好地成立，被测电阻值x R 可以仅从三个标准电阻
的值来求得，而与电源电压无关。这一过程相当于把x R 和标准电阻相比较，因而测量的准确度较高。 单电桥的实际线路如图所示： 将2R 和1R 做成比值为C 的比率臂，则被测电阻为 CR R x = 其中12R R C =，共分7个档，0.001～1000，R 为测量臂，由4个十进位的电阻盘组 成。图中电阻单位为Ω。 2. 铜丝电阻温度系数 任何物体的电阻都与温度有关，多数金属的电阻随文的升高而增大，有如下关系式： )1(0t R R R t α+= 式中t R 、0R 分别是t 、0℃时金属丝的电阻值；R α是电阻温度系数，单位是（℃-1 ）。严格 地说，R α一般与温度有关，但对本实验所用的纯铜丝材料来说，在-50℃～100℃的范围内R α的变化很小，可当作常数，即t R 与t 呈线性关系。于是 t R R R t R 00 -= α 利用金属电阻随温度变化的性质，可制成电阻温度计来测温。例如铂电阻温度及不仅准确度高、稳定性好，而且从-263℃～1100℃都能使用。铜电阻温度计在-50℃～100℃范围内因其线性好，应用也较广泛。 3. 双电桥测低电阻 用下图所示的单电桥测电阻时，被测臂上引线1l 、2l 和接触点1X 、2X 等处都有一定
数字电路实验二实验报告
实验二门电路逻辑变换 一.实验目地 1 学会门电路逻辑变换地基本方法. 2 掌握虚拟实验逻辑转换器地使用方法. 二.实验设备 安装有Multsim10软件地个人电脑. 三.实验原理 图2 1是门电路逻辑变换实验原理图.3个与非门和1个与门按图中地连接，表达为同或门地逻辑功能. 图2—1 四.实验步骤 1 打开电脑Multsim10操作平台.从元件库中取出与非门3个、与门1个，以及双刀开关两个、电阻器、电源等，连接组成图 2 -2地实验电路.版权文档，请勿用做商业用途版权文档，请勿用做商业用途 2 打开工作开关，电路工作正常后，依次拨动开关J1与J2，观察探针地变化.开关J1与J2转接电源端为H_接地端为L；探针发亮为H_
熄灭为L，将观察结果填入表2- 1.版权文档，请勿用做商业用途版权文档，请勿用做商业用途 表2-1 J1 J2 探针 L L H L H L H L L H H H 图2—2 1）J1接电源，J2接地
2）J1接地，J2接电源 3）J1接地，J2接地
4）J1接电源，J2接电源 3将表2- 1变换为如下表2-2地真值表.开关J1为A，J2为B，H为“1”，L为“0”；探针x1为F版权文档，请勿用做商业用途版权文档，请勿用做商业用途 发亮为“1”，熄灭为“0”. 表2-2 A B F
0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 1 4 按上述图2-2写出逻辑表达式为B F，根据真值表及 A =B + ? A? 逻辑表达式判断，它是一个同或门电路.版权文档，请勿用做商业用途版权文档，请勿用做商业用途 5 逻辑转换器地使用 重新设置Multisim仿真工作界面，运用逻辑转换器，转换出逻辑表达式为B F+ =地门电路逻辑图，然后配置开关、探针等，并将电B A A 路仿真运转验证，列出实验验证结果(例如上述表2-1).应注意，在逻辑转换器中，逻辑表达式有不同，要用“’”表示求反，例如用A’来表示A地求反即A，其它类似.版权文档，请勿用做商业用途版权文档，请勿用做商业用途1）点击simulate-----instruments------logic converter，打开逻辑转换仪.版权文档，请勿用做商业用途版权文档，请勿用做商业用途 2）设计出逻辑函数表达式为：B =，如图1所示. F+ A B A 3）点击右边第五个图标，把逻辑表达式转换为与，或非门电路，如图2所示. 4）点击右边第六个图标，把逻辑表达式转换为与非门电路，如图3所示.
继电保护实验报告(完整版)
报告编号：YT-FS-8685-31 继电保护实验报告(完整 版) After Completing The T ask According To The Original Plan, A Report Will Be Formed T o Reflect The Basic Situation Encountered, Reveal The Existing Problems And Put Forward Future Ideas. 互惠互利共同繁荣 Mutual Benefit And Common Prosperity
继电保护实验报告(完整版) 备注：该报告书文本主要按照原定计划完成任务后形成报告，并反映遇到的基本情况、实际取得的成功和过程中取得的经验教训、揭露存在的问题以及提出今后设想。文档可根据实际情况进行修改和使用。 电流方向继电器特性实验 一、实验目的 1、了解继电器的結构及工作原理。 2、掌握继电器的调试方法。 二、构造原理及用途 继电器由电磁铁、线圈、Z型舌片、弹簧、动触点、静触点、整定把手、刻度盘、轴承、限制螺杆等组成。 继电器动作的原理：当继电器线圈中的电流增加到一定值时，该电流产生的电磁力矩能够克服弹簧反作用力矩和摩擦力矩，使Z型舌片沿顺时针方向转动，动静接点接通，继电器动作。当线圈的电流中断或减小到一定值时，弹簧的反作用力矩使继电器返回。利用连接片可将继电器的线圈串联或并联，再加上改变
调整把手的位置可使其动作值的调整范围变更四倍。 继电器的内部接线图如下：图一为动合触点，图二为动断触点，图三为一动合一动断触点。 电流继电器用于发电机、变压器、线路及电动机等的过负荷和短路保护装置。 三、实验内容 1. 外部检查 2. 内部及机械部分的检查 3. 绝缘检查 4. 刻度值检查 5. 接点工作可靠性检查 四、实验仪器 1、微机保护综合测试仪 2、功率方向继电器 3、DL-31 型电流继电器 4、电脑、导线若干。 五、实验步骤 1、外部检查 检查