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2008年175期 集成运放参数测试仪校准装置的开发(今日电子)

集成运放参数测试仪校准装置的开发

The Development of Calibration Device of Integrated Operational Amplifier Parameters

Test Instrument

中国电子技术标准化研究所(北京100007)刘冲、于利红、陈连启摘要:本文详细研究了集成运放参数测试仪器采用的“闭环测试原理”和目前存在的集成运放参数测试仪的校准方案,研制出集成运放参数测试仪校准装置,实现了集成运放参数测试仪的自动化校准。使用Keil C开发下位机程序配合实现自动化校准,使用Visual C++ 6.0 开发校准软件实现对集成运放参数测试仪的校准及数据处理。本文最大的成果在于解决了采用“闭环测试原理”的集成运放参数测试仪的校准问题,并编制了“集成运算放大器参数测试仪检定规程”。本文通过对测量校准方法的深入研究,建立了校准手段,为今后解决集成运放参数MAP校准方法奠定了技术基础,满足了新形势下测量仪器计量校准的需要。

Abstract: This paper does carefully research on Close-Circle Test Principle of Integrated Operational Amplifier Parameters Testing Instruments and the existing integrated operations calibration methods. Operational Amplifier Parameters Testing Instrument Calibration Device is developed to fulfill automatic calibrating of Integrated Operational Amplifier Testing Instruments. Keil C was used to develop MCU programs to cooperate with automatic calibrating and Visual C++ 6.0 to develop automatic calibration software to fulfill calibrating and test data processing of Integrated Operational Amplifier Test Instruments. Calibration of Integrated Operational Amplifier Test Instruments that used Closed-Circle as test principle was solved in this paper; also Verification Regulation of Integrated Operational Amplifier Parameters Testing Instrument was compiled. This paper has established a calibration method through researching measurement calibration means, laid a technical foundation for the future method of calibration parameters of MAP, and meet the new situation's needs to calibrate test instruments.

关键字:自动化校准; 校准装置; 检定规程。

Key Words: automatic calibration; calibration device; verification regulation

1 设计背景

集成运算放大器(以下简称集成运放)以其小尺寸、轻重量、低功耗、高可靠性等优点广泛应用于众多军用和民用电子系统,并且它是构成智能武器装备电子系统不可缺少的关键器件之一。近年来,随着微电子技术的飞速发展,集成运放无论在技术性能上还是在可靠性上都日趋完善,并在我国军用系统中被大量使用,其质量的好坏,关系到工程乃至国家的安危。

随着集成运算放大器参数测试仪(以下简称运放测试仪)在国防军工和民用领域的广泛应用,其质量问题显得尤为重要。因此,如何规范和提高运放测试仪的测试精度,保证军用运放器件的准确性是目前应该解决的关键问题。传统的运放测试仪校准方案已不能满足国防军工的要求,运放测试仪的校准问题面临严峻的挑战。

目前国内外运放测试仪(或者模拟器件测试系统)主要存在以下几种校准方案:校准板法、标准样片法和标准参数模拟法。各校准方案校准项目、优缺点和相关情况比较表格如表1.1所示。

2008年175期  集成运放参数测试仪校准装置的开发(今日电子)