01-1 X-射线物理基础
一、选择题
1. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()
A. Kα
B. Kβ
C. Kγ
D. Lα
2. 研究纯Fe时,阳极靶材应选( )
A. Cu
B. Fe
C. Ni
D. Co
3. 哪种靶的临界激发电压最低( )
A. Cu
B. Mo
C. Cr
D. Fe
4. 哪种靶的K系特征X射线波长最短( )
A. Cu
B. Mo
C. Cr
D. Fe
5. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()
A. 短波限λ0
B. 激发限λk
C. 吸收限
D. 特征X射线
6.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()
A. 自由电子
B. 二次荧光
C. 俄歇电子
D. 反冲电子
7. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()
A. Cu
B. Fe
C. Ni
D. Mo
二、填空题
1. X射线的本质是,其波长为。
2. X射线管主要由、、和构成。
3. 经过厚度为t的物质后,X射线的强度为。
4. Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次、和。
5. 特征X 射线强度与 、 及 有关
6. 莫塞来定律反映了材料产生的 与其 的关系。
7. X 射线通过物质时,部分X 射线将改变它们前进的方向,即发生散射现象。X 射线的散射包括两种 和 。
三、综合题
1、产生X 射线需具备什么条件?
2、计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
3、已知钼的k αλ=0.71?,铁的k αλ=1.93?及钴的k αλ=1.79?,试求光子的频率和能量。已知钼的k αλ=0.619?,试计算钼的K 激发电压。已知钴的K 激发电压V K =7.71Kv ,试求其λK 。
4、为什么特征X 射线的产生存在一个临界激发电压?X 射线管的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系?为什么?
5、实验中选择X 射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe 为主要成 分的样品,试选择合适的X 射线管和合适的滤波片?
6、如果Co 的K α、K β辐射的强度比为5:1,当通过涂有15mg /cm 2的Fe 2O 3滤波片后,强度比是多少?已知Fe 2O 3的ρ=5.24g /cm 3,铁对CoK β的μm =371cm 2/g ,氧对CoK β的μm =15cm 2/g 。
7、已知Ni 对Cu 靶K α和K β特征辐射的线吸收系数分别407cm -1和2448cm -1,为使Cu 靶的K β线透射系数是K α线的1/6,求Ni 滤波片的厚度
8、为使CuK α线的强度衰减1/2,需要多厚的Ni 滤波片?(Ni 的密度为8.90g/cm 3)。CuK α1和CuK α2的强度比在入射时为2:1,利用算得的Ni 滤波片之后其比值会
有什么变化?
9、讨论下列各组概念中二者之间的关系:
1)同一物质的吸收谱和发射谱;
2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
3)X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。
4)连续X射线谱与特征X射线谱
5)短波限、吸收限
6)光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义
7) X射线吸收规律、线吸收系数
01-2 X-射线衍射基础
一、选择题
1、有一倒易矢量为*
b
*c
2,与它对应的正空间晶面是()。
g2
a
*
+
=
*
+
A. (210);
B. (220);
C. (221);
D. (110);。
2、有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生()衍射线。
A、三条; B .四条; C. 五条; D. 六条。
3、面心立方晶体(111)晶面族的多重性因素是()。
A.4;B.8;C.6;D.12
二填空题
1、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的;倒易矢量的长度等于对应。
2、影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有 , , , 。
3、结构振幅用 表示,结构因素用 表示,结构因素=0时没有衍射我们称 或 。对于有序固溶体,原本消光的地方会出现 。
4、体心立方晶系的低指数衍射晶面为 、 和 。
三、综合题
1、下面是某立方晶系物质的几个晶面间距,试将它们从大到小按次序重新排列。
(12-3)(100)(200)(-311)(121)(111)(-210)(220)(030)(2-
21)(110)
2、衍射线在空间的方位取决于什么?而衍射线的强度又取决于什么?
3、试述布拉格公式2dHKLsinθ=λ中各参数的含义,以及该公式有哪些应用?
4、α-Fe 属立方晶系,点阵参数a=0.2866nm 。如用CrK αX 射线(λ=0.2291nm )照射,试求(110)、(200)及(211)可发生衍射的掠射角。
5、立方晶体2/1222)/(l k h a d ++=,已知晶胞参数a =0.405 nm ,射线波长λ=0.154 nm ,试计算其(200)晶面衍射θ2角 [假定arcsin(0.38)≈22.36度,保留小数点后两位]
6、NaCl 的立方晶胞参数a=5.62 ?,求d 200,d 220。以Cu Kα (波长=1.54?)射线照射NaCl 表面,当2θ =31.7o和2θ =45.5o 时记录到反射线,这两个角度之间未记录到反射线 (选择反射),解释这种现象发生的原因。
7、试总结简单立方点阵、体心立方点阵和面心立方点阵的衍射线系统消光规律 01-3 X 射线衍射方法
一、填空题
1、衍射仪的核心是测角仪圆,它由、和共同组成。
2、可以用作X射线探测器的有、和等。
3、影响衍射仪实验结果的参数有、和等。
4、测角仪在工作时,为了使样品与计数管始终在同一个____ _______上,二者的转速必须保持____________。
5、影响衍射仪精度的因素包括、和
6、衍射仪的主要实验参数包括、和
二、选择题
1、X射线衍射方法中最常用的方法是()。
A. 劳厄法;B.粉末多晶法;C.周转晶体法。
2、测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是()。
A. 保持同步1﹕1 ;
B. 2﹕1 ;
C. 1﹕2 ;
D. 1﹕0 。
3、衍射仪法中的试样形状是()。
A. 丝状粉末多晶;
B. 块状粉末多晶;
C. 块状单晶;
D. 任意形状。
4、X射线衍射仪的测量参数不包括( )
A. 管电压,
B. 管电流,
C. 扫描速度,
D.暴光时间
5、测角仪半径增大则衍射的( )
A. 分辨率增大,
B. 强度降低,
C. 峰位移,
D. A与B
三、综合题
1. X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么?
2. 测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与入
射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈何种几何关系?
3、X射线粉末衍射仪有几种计数测量方法?衍射仪在工作的过程中,其聚焦圆半径如何变化?
01-4 X射线衍射分析的应用
一、填空题
1、X射线物相分析方法分:分析和分析两种。
2、X射线衍射定量分析的方法有、、、
、。
3、PDF卡片的二种常用的数值索引是____ _____索引和____ _____索引,前者是按衍射线的_________顺序排列的,后者是按衍射线的_________顺序排列的。
4、精确测量点阵常数的方法包括、和。
二、选择题
1、定量物相分析要求采用的扫描方式( )
A. 连续扫描
B. 快速扫描
C. 阶梯扫描
D. A与B
2、定性物相分析的主要依据是( )
A . 衍射峰位 B. 积分强度 C. 衍射峰宽 D. 以上都是
3、X射线物相定性分析时,若已知材料的物相可以查()进行核对。
A. Hanawalt索引;
B. Fenk索引;
C. Davey字母索引;
D. A或B。
4、在点阵参数精测中,应尽可能选择( )衍射线。
A. 高强度
B. 相邻
C. 高角度
D. 低角度
三、综合题
1、A-TiO2(锐铁矿)与R-TiO2(金红石:)混合物衍射花样中两相最强线强度
/I R-TO2=1.5。试用参比强度法计算两相各自的质量分数。(已知比I A
-TiO2
K R=3.4,K A=4.3)
2、α-Fe为立方系晶体,点阵常数a=0.2866nm,如用CrλKα=0.22909nm进行摄照,求(110)和(200)面的衍射布拉格角。
3、给出物相定性分析与定量分析的原理及一般步骤。
4、物相定量分析的原理是什么?试述用K值法进行物相定量分析的过程。
5、物相定性分析的原理是什么?对食盐进行化学分析和物相定性,所得的信息有何不同?
6、比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法的优缺点?
7、对于晶粒直径分别为100,75,50,25nm的粉末衍射图形,请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度B(设θ=450,λ=0.15nm)。对于晶粒直径为25nm 的粉末,试计算θ=100、450、800时的B值。