晶体管在线测试仪
电子技术基础课程设计任务书
2012－2013学年第一学期第17周－18周
注：1、此表一组一表二份，课程设计小组组长一份；任课教师授课时自带一份备查。
2、课程设计结束后与“课程设计小结”、“学生成绩单”一并交院教务存档。
摘要
晶体管（transistor）是一种固体半导体器件，可以用于检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制和许多功能。同时晶体管作为一种可变开关，基于输入的电压，控制流出的电流，因此晶体管可做为电流的开关，和一般机械开关（如Relay、switch）不同处在于晶体管是利用电讯号来控制，而且开关速度可以非常之快，在实验室中的切换速度可达100GHz以上。
晶体管被认为是现代历史中最伟大的发明之一，在重要性方面可以与印刷术，汽车和电话等发明相提并论。晶体管实际上是所有现代电器的关键活动（active）元件。晶体管在当今社会的重要性，主要是因为晶体管可以使用高度自动化的过程，进行大规模生产的能力，因而可以不可思议地达到极低的单位成本。
晶体管的参数是用来表征管子性能优劣和适应范围的指标，是选管的依据。为了使管子安全可靠的工作，必须知道它的参数。本文主要论述以555振荡器为核心的晶体管参数测试电路。目前只能判断PNP及NPN晶体管的类别及判断它们的好坏，是一个非常简单的测试系统。
关键字：晶体管，555
目录
1．课程名称 (1)
2．课题小组成员 (1)
3．课题设计任务 (1)
3.1方案一 (1)
3.1.1设计实验电路图 (2)
3.2方案二 (2)
3.2.1设计电路图 (3)
3.3方案选择 (3)
4.方案的制作 (3)
4.1器件选取 (3)
4.2测试电路图 (4)
4.3 PCB版电路图 (4)
4.4实物图及工作情况 (5)
5．555内部结构特点及引脚 (7)
5.1 555内部结构 (7)
5.2 555的特点 (7)
5.3 555的引脚 (8)
5.4参数功能特性 (8)
6.参考文献 (9)
7.心得体会 (10)
1．课程名称
晶体管在线测试仪
2．课题小组成员
3．课题设计任务
运用555石英晶体振荡器和运算放大器电路，制作一个简单测试仪，要求能判断晶体管的类别以及其好坏。
3.1方案一
测试仪主要由对称方波发生器、反向器、测试电路等部分组成。
对称方波发生器由555时基电路和阻容元件构成，第三脚输出的方波频率f=0.722/R3*C1≈4.6Hz。
反向器由555时基电路构成，它接成施密特触发器，U1的2、6两脚输入电平直接取自U2的第3脚。当输入低电平时，U1置位。第3脚输出高电平。当输入高电平时，U1复位，第3脚输出低电平。所以U1 输出与U2 输出始终保持反向。即U1与U2共同为仪器的测试部分提供极性定时改变的交变电源。
测试电路由三极管Q1、Q2、电位器 R5、R6等组成的双向辅助电源与 LED1、LED2 极性相反的并联发光二极管构成的显示电路两部分构成。
接上电源，仪器工作指示灯 LED3 长亮，且LED1和LED2交替闪烁发光。若用鳄鱼夹将一只完好的NPN三极管按电路所示连接相应c、b、e 插孔。由于被测管集电极c和发射极e之间存在饱和压降。负半周时LED1、LED2均不发光，正半周时通过R1提供基极偏流使被测管导通。LED2被旁路不发光而 LED1 发光。当待测的是PNP三极管时，情况正好相反，LED1被旁路不发光而 LED2 发光。从而可判断晶体管是PNP型还是NPN型。
如果被测管是坏管，则有3种情况：①集电极与发射极间短路，此时 c-e 间无压降发光管LED1、LED2 被旁路均不发光。②集电极与发射极间开路。这时相当于电路未接入待测管LED1、LED2交替发光。③基极与集电极或基极与发射极存在短路或开路，它们都会使LED1、LED2交替发光。
3.1.1设计实验电路图
设计的实验电路图如图3.1所示。
图3.1 实验电路图
3.2方案二
晶体管测试仪电路测试仪由555和R1、R2、C1组成的无稳态多谐振荡器及待测晶体管组成的驱动级构成。可测NPN三极管的好坏并估计其β值。振荡器的振荡频率 f=1.44/(R1+2R2)C1。图示参数的振荡频率约为 850Hz。若插上管子后无声响，说明是坏管。若声音小，说明β低；声音大说明β高。
3.2.1设计电路图
设计电路图如图3.2所示。
图3.2 设计电路图
3.3方案选择
由于第二种方案只能通过有无响声来判断PNP管的好坏，而不能判断NPN管。与题目的要求有出入。然而，第一种方案既能判断晶体管的类型，还能判断其管子是否好坏，故选择第一种方案。
4.方案的制作
4.1器件选取
LED1、LED2和LED3分别采用红色、绿色、和黄色3种不同颜色的发光二极管。Q1、Q2选用 WS 型有机实心微调电位器。R1~R4可选用色环电阻（470Ω、330kΩ、100Ω、330Ω）。C1选用普通电容470uf，C2选用电解电容100uf。c、b、e插孔可用市售三极管插用Φ0.3mm 左右的漆包线刮去漆皮后绕成弹簧状，然后将其垂直焊在印制电路板上，同时分别引出3根导线并接上3种不同颜色的鳄鱼夹，以便在线测试。
4.2测试电路图
晶体管在线测试仪测试电路图如图4.1所示。
图4.1测试电路图4.3 PCB版电路图
晶体管在线测试仪CPB版电路图如图4.2所示。
图4.2 PCB版电路图
4.4实物图及工作情况
电路没通电的实物图如图4.3所示。
图4.3 电路实物图
电路测试PNP晶体管，在正半周期时，电路黄灯，绿灯亮。在负半周期时，电路黄灯亮，绿灯灭。如图4.4所示。
图4.4 电路测试PNP晶体管
电路测试NPN晶体管，在正半周期时，电路黄灯亮，红灯亮。在负半周期，电路黄灯亮，红灯灭。如图4.5所示。
图4.5 电路测试NPN晶体管
5．555内部结构特点及引脚
5.1 555内部结构
5.2 555的特点
1.只需简单的电阻器、电容器，即可完成特定的振荡延时作用。其延时范围极广，可由几微秒至几小时之久。
2.它的操作电源电压范围极大，可与TTL，CMOS等逻辑电路配合，也就是它的输出准位及输入触发准位，均能与这些逻辑系列的高、低态组合。
3.其输出端的供给电流大，可直接推动多种自动控制的负载。
4.它的计时精确度高、温度稳定度佳，且价格便宜。
5.静态电流最大值VCC=5V,RL =∞=6mA VCC=15V, RL=∞=15mA
5.3 555的引脚
Pin1(接地)-地线(或共同接地)通常被连接到电路共同接地。
Pin2(触发点) -这个脚位是触发NE555使其启动它的时间周期。触发信号上缘电压须大于2/3VCC，下缘须低于1/3VCC。
Pin3(输出)-当时间周期开始555的输出输出脚位，移至比电源电压少1.7伏的高电位，周期的结束输出回到O伏左右的低电位。高电位时的最大输出电流大约200mA。
Pin4(重置)-一个低逻辑电位送至这个脚位时会重置定时器和使输出回到一个低电位。它通常被接到正电源或忽略不用。
Pin5(控制) -这个接脚准许由外部电压改变触发和闸限电压。当计时器经营在稳定或振荡的运作方式下,这输入能用来改变或调整输出频率。
Pin6(重置锁定)-重置锁定并使输出呈低态。当这个接脚的电压从1/3 VCC 电压以下移至2/3 VCC以上时启动这个动作。
Pin7(放电) -这个接脚和主要的输出接脚有相同的电流输出能力，当输出为ON时为LOW，对地为低阻抗，当输出为OFF时为HIGH，对地为高阻抗。
Pin8(V +) -这是555个计时器IC的正电源电压端。供应电压的范围是+4.5伏特(最小值)至+16伏特(最大值)。
5.4参数功能特性
?供应电压4.5-18V
?供应电流3-6 mA
?输出电流225mA (max)
?上升/下降时间100 ns
6.参考文献
1、《电子技术课程设计指导》彭介华主编，北京：高等教育出版社 1997
2、《国产集成电路应用500例》周仲主编，北京：电子工业出版社 1992；
3、《555时基电路原理、设计与应用》陈有卿、叶桂娟主编，北京：电子工业出版社2007；
4、《常用电子元件简明手册》于洪珍主编；
7.心得体会
根据老师布置的课程设计题目和要求，我们小组在规定的时间内完成了我们本次电子技术课程设计的作品——晶体管在线测试仪。
本次我们小组能够顺利的完成任务，主要归功于我和我的同组人之间紧密合
作。正因为如此，各项工作的分配得以顺利的进行。当然在通过本次课程设计，
我们都得到了不少的锻炼。此次课程设计虽然最终圆满完成任务，但中间也遇到
过不少麻烦，，最终在同学和老师的帮助下都的得到了完美的解决!此次实物图的
焊接过程中对我这个烙铁没用几个小时的人来还是蛮有挑战的，虽然以前焊接过
一些东西，但是由于不是经常训练难免生疏，最悲剧的是把烙铁的电源线差点烤
断了，这也是对我的一个警告做事的认真仔细，马虎不得！最终将整个板子焊接
完成之后，期待已久的时刻到了，可惜通上电并没有想象的那样，所有的灯都不
亮，这时候我们首先检查的就是我们的电源部分是不是出现问题，毕竟黄灯就是
一个供电指示灯！最后发现由于自身的设备简陋所以在供电的电池盒出问题了！
在整个调试过程中，通过万用表的不断检测一些端点之间的导通情况来判断故障
究竟在何处！最终使这个晶体管在线测试仪达到预期的工作效果！
整个过程不得不感谢同组人的鼎力相助，正所谓不怕神一样的对手就怕猪一样的队友，何况现在拥有神一样的队友何惧猪一样的对手呢？还的感谢我们指导老师熊老师的悉心指导！
晶体管测试仪使用说明
晶体管测试仪使用说明 输入电压：直流6.8V-12V 工作电流30mA左右，输入7.5V直流电压时实测 ●晶体管测试仪控制 测试仪由一个旋转编码器开关控制，旋转编码器开关一共可以有4种操作，短按、长按、左旋、右旋。 在关机状态下短按一次，就能打开电源，开始测试。 在一次测试完成后，如果没有检测到器件。长按开关或者左右旋转开关可以进入功能菜单，进入功能菜单后，左旋或者右旋开关可以在菜单项上下选择，要进入某一个功能项，则短按一次开关。当需要从某个功能里退出时，则长按开关。 ●测试器件 测试仪一共有3个测试点，TP1、TP2、TP3。这三个测试点在测试座里的分布如下：
在测试座的右边是贴片元件的测试位置，上面分别有数字1,2,3,各代表TP1、TP2、TP3 测试只有2个引脚的元件时，引脚不分测试顺序，2个引脚任意选择2个测试点，3个脚的器件引脚分别放到三个测试点中，不分顺序。经过测试后，测试仪自动识别出元件的引脚名称、所在的测试点，并显示在屏幕上。 测试只有2个脚的元件时，如果使用的是TP1和TP3两个测试点，则测试完成后自动进入连续测试模式，这样可以连续的同步测量TP1和TP3上的元件，不用再按开关。如果使用的是“TP1和TP2”或者“TP2和TP3”测试，则只测试一次。要再一次测试则按一次开关。 测试电容器前，先给电容器放电，再插入测试座测量，否则有可能损坏测试仪的单片机。 ●校准 测试仪校准是用于消除自身元器件的误差，使得最后的测试结果更加精确。校准分为快速校准和全功能校准。 快速校准的操作方法：用导线将三个测试点TP1、TP2、TP3短接，然后按下测试按钮，同时注意观察屏幕。屏幕颜色会变成黑底白字，在出现提示信息”Selftest mode..? ”后，按一下测试按钮，就进入到快速校准过程；如果在出现提示信息“Selftest mode..?”后，2秒钟内没有按键，则进行一次正常的测试过程，最后显示出短接TP1、TP2、TP3三个测试点导线的电阻值。进入快速校准过程后，屏幕上会出现一些数据，不用管他。等待直到屏幕上出现闪烁的字符串“isolate Probes!”后，去掉短接TP1、TP2、TP3的导线。直到屏幕出现字符串“Test End”后，快速校准完成。首次校准时，使用全功能校准方式。 全功能校准需要从功能菜单里进入，还需要另外准备一个220nf的电容器。全功能校准执行更加全面的校准过程，会花费更长的时间。进入功能菜单后，旋转测试按钮来到菜单项“Selftest”,然后按下测试按钮就进入全功能校准过程，屏幕上首先冒出闪烁的字符串“short Probes!”, 这时和快速校准一样，用导线把三个测试点短接，等待校准过程进行，在屏幕冒出闪烁的字符串“isolate Probes!”时，去掉短接在三个测试点的导线，继续等待校准过程进行，在屏幕冒出字符串“1-||-3 > 100nf”时，把准备好的220nf电容器安装在测试点TP1和TP3上。等待直到屏幕提示“Test End”,全功能校准过程完成。 ●功能菜单 Switch off 关机。 Transistor 晶体管测试，也即是开机后的默认功能。 Frequency 测量频率。长按测试按钮可以退出频率测量功能。频率测量范围从1Hz到1MHz以上，当被测频率低于25KHz时，显示周期。 f-Generator 方波发生器，有多档方波频率可选，左旋或右旋测试按钮切换不同的方波频率，长按测试按钮退出方波发生器。 10-bit PWM 脉冲信号发生器，左旋或右旋测试按钮调节脉冲的占空比，从1% - 99%。长按测试按钮退出脉冲信号发生器。 C+ESR@TP1:3 电容在线测量功能，可以从TP1和TP3引出两根导线，对2uF-50mF 电容器在线测量其电容值和ESR，注意测试前被测电容需完全放电，如果是在线测量，电容所在的电路需完全断电后才能进行。 1- - 3 电阻连续测量方式，不断测试安装在TP1和TP3上的电阻值，电感值。被测电阻小于2100欧姆时才会测量其电感，电感测量范围从0.01mH-20H .长按测试按钮退出。
晶体管测试仪简介
开始/测试按键 SMD 器件测试座电容放电电阻外接表笔座 DC 电源接口 LCD 显示屏 开始/测试按键小元件放置区插件元件测试座 一. 产品概述 本仪表是一款针对于电子爱好者、开发者、电子维修及生产工厂研发的小仪器。可测直插式器件,也可测试贴片器件，可测各种二极管、三极管、可控硅、MOS管；能判断器件类型、引脚的极性、输出HFE、阀电压，场效应管的结电容，可测电容和电阻等。 二. 注意事项 ● 在测试电容前,请务必先进行放电,否则有可能损坏仪表。 ● 使用适配器供电时，请使用DC 9V -12V(含9V,12V)电压范围的适配器。● 本仪表不会对电池进行充电，当电池电量低于6V 时,请更换电池。 三. 技术指标 电阻：0Ω-50MΩ 分辨率： 0.01Ω电容：25pF-100mF 分辨率：1pF 电感：0.01mH-20H 分辨率：0.01mH 测量电容ESR 的分辨率: 0.01Ω 四. 使用方法 a. 按“开机/测试”可以实现开机和一次测试的功能，多次测量可重复按此键；测完后20秒无操作自动关机。 b. 本仪表提供贴片、插件和外置表笔三种测量方式，每种方式的1，2，3脚都是相同的对应关系。 c. 放置器件无需区分管脚顺序，测量完成后屏幕会显每个管脚对应的器件功能。 d. 仪表背面印有电解电容对应的ESR 典型值参照表，该表仅供参考，请以各生产厂家公布的数据为准。 五. 校准 短接1，2，3 测试点，按“开机/测试”按键，屏幕提示是否进入校准，在2秒内此按“开机/测试”按键确认，进入校准。之后屏幕提示断开1， 2，3 测试点，断开后继续，直到提示校准结束。 POWER/TEST SMD Devices Socket Capacitor Discharge Resistor Probe Socket DC IN LCD Screen POWER/TEST Small Devices Container Plug-in Devices Socket 1. Product Description This Meter is a small tool design for Engineer, Electronic Maintenance and Factory. It’s very easy to test plug-in and SMD devices, also can test di?erent kinds of Diodes, Triodes, Thyristors, MOSFET; able to analysis the device type, the polarity of the pin, the output HFE, the valve voltage, the junction capacitance of the FET. 2. Cautions ● Before testing the capacitor, be sure to discharge it, otherwise it may damage the internal circuit.● If using DC supply , please choose DC 9V -12V adapter(including 9V and 12V).● When the battery power is under 6V, please replace a new one . 3. Measuring parameters Resistor : 0Ω-50MΩ Resolution : 0.01ΩCapacitor: 25pF-100mF Resolution : 1pF Inductor: 0.01mH-20H Resolution : 0.01mH Capacitor ESR measuring resolution : 0.01Ω 4. Instructions a. Push "POWER/TEST" to power on and start a test, multiple measurements can be repeated by this key; auto power o? 20 seconds after measurement. b. Provide three kinds of socket, each socket pin1, pin2 and pin3 are connected. c. There 's a table "Typical ESR value of Electrolytic Capacitor" at the back, it’s for guide only, these are typical value for standard grade Electrolytic capacitor at room temperature. 5. Calibration Short the test pin 1,2,3 together, and push "POWER/TEST" button, then the screen prompts to enter Calibration, push the button again whin 2 seconds to con?rm. Few seconds latter the screen prompts to release pin 1,2,3, release them and wait for calibration ?nish. 晶体管测试仪
自制晶体管耐压测试仪
自制晶体管耐压测试仪 本测试仪，可用于测试晶体二极管、三极管、可控硅等元件的反向耐压值或稳压管的稳压值等。 一、工作原理：电路原理如图所示。时基电路NE555、R1、R2和C2等组成了振荡频率约16MHZ的自激振荡器，其输出信号通过三极管Q1放大后驱动升压变压器T，在T的次级感应输出脉动电压。此电压经D1整流、C5滤波，在a点取得左右的测试用只留高压电源。Q2、R7（或R8）、R3和R4等组成测试保护电路，当被测试管反向击穿电流大于一定值（大功率管，小功率管70uA）时，三极管Q2饱和导通，NE555因④脚为低电位而停振，a点电压降低，被测管的反向击穿电流下降，然后NE555再次起振，a点电压上升，这种负反馈的作用结果使XA、XB两点间的电压稳定在被测管的稳压值上。测试时，将被测管按极性接于XA、XB之间，测小功率管时，转换开关S在“1”端，测大功率管时，S 在“2”端，按动按键SB，由外接的电压表PV直接读出被测管的耐压值。二极管D2用于抵消Q2基极电位，使电压表读数更接近于被测管的耐压值。 二、元件选择：升压变压器T用35cm（14英寸）黑白电视级分体式输出变压器改制。将其低压绕组全部拆除，再用线径为的漆包线在原骨架上绕30匝作为初级绕组L1，次级绕组L2和整流管D1用高压包及硅柱代替。三极管Q1选β＞50Icm＞2A的中大功率管（如3DD15，DD03等）。电阻除R4、R5、R6选1W电阻外，其他均选1/8W的碳膜电阻。C5应选耐压在2KV以上的的瓷介电容。为降低成本，电压表PV可用内阻大于2KΩ/V。直流电压档最大量程大于2KV的万用表代替。其他元件如图1所示。 三、调试及注意事项：电路装好后，先不加装C5，接上电源，然后用万用表检测a点电压，按动SB按钮使电路加电工作。在正常情况下，在a点可监测到左右的直流电压。若无高压输出，可检查振荡电路及其相关器件；若电压略低或略高，可以更换不同阻值的R4，使输出电压为左右，若电压偏离太多，可通过换用不同β值得Q1来解决。由实验可知，Q1的β值越大，则输出电压越高，反之则越低。当电压基本正常后，加装C5，再测a点电压约为即为正常，然后将万用表串入XA、XB之间，直接测量通过R6的电流。当S拨在1端时约为70uA,S拨在2端时，约为为正常。否则，可通过改变R7或R8的阻值来解决。到此调试工作即告结束，本仪器即可投入使用。 四、注意事项：1.由于本测试仪线路中存在高压，因此在线路布局上要防止高压打火，在使用中要防遭电击；2.测试前把万用表量程拨到大于被测元件耐压值档，若被测元件耐压值不楚时，需先用较大量程档测量；3.由于电路工作时电流较大（200～500mA），故电源GB最好选用镍镉电池或5号干电池。
晶体管测试仪
XJ4810型半导体管特性图示仪的使用方法晶体管测试仪的使用方法 晶体管特性图示仪的使用 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示： 1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。 3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。 4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A 四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。
AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示：接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦：与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出，放大器增益扩大10倍，电流/度各挡IC标值×0.1，同时指示灯14亮. 16. Y轴增益：校正Y轴增益。 17. X轴增益：校正X轴增益。 18.显示开关：分转换、接地、校准三挡，其作用是： ⑴转换：使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换，便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地：放大器输入接地，表示输入为零的基准点。 ⑶校准：按下校准键，光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度，以达到10度校正目的。 19. X轴移位：调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换，共17挡。 21. “级/簇”调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
晶体管在线测试仪原理
6.15 晶体管在线测试仪 在维修家用电路时经常 会对晶体三极管的好坏进行判别，特别是焊在电路板上的三极管，如果不焊开引脚，则判别好坏比较困难，如果用本节介绍的小仪器便可使该问题迎刃而解。 1、电路原理 晶体管在线测试仪电路如图所示，测试仪主要由对称方波发生器、反向器、测试电路等部分组成。 对称方波发生器由555时基电路A2和阻容元件R3、C1构成，A2第三脚输出的方波频率f=0.722/R3*C1≈4.6Hz。反向器由555时基电路A1构成，它接成施密特触发器，A1的2、6两脚输入电平直接取自A2的第3脚，当输入低电平时，A1置位，第3脚输出高电平；当输入高电平时，A1复位，第3脚输出低电平，所以A1输出与A2输出始终保持反向。A1与A2共同为仪器的测试部分提供极性定时改变的交变电源。 测试电路由三极管VT1、VT2、电位器RP1、RP2等组成的双向辅助电源与LED1、LED2极性相反的并联发光二极管构成的显示电路两部分构成。 合上电源开关S，仪器工作指示灯LED3长亮发光、LED1、LED2则交替发光。若用鳄鱼夹将一只完好的NPN三极管按电路所示连接相应c、b、e插孔，由于被测管集电极c和发射极e之间存在饱和压降，负半周时，LED1、LED2均不发光，正半周时，通过R1提供基极偏流使被测管导通，LED2被旁路不发光而LED1发光；当待测的是PNP三极管时，情况正好相反，LED1被旁路不发光而LED2发光，从而可判断晶体管是PNP型还是NPN型。 如果被测管是坏管则有3种情况：①集电极与发射极间短路：此时c-e间无压降，发光管LED1、LED2被旁路，且是双向旁路均不发光；②集电极与发射极间开路：这时相当于电路未接入待测管，LED1、LED2都发光；③基极与集电极（或基极与发射极）存在短路或开路：它们都会使LED1、LED2、发光。 2、元器件选择 LED1、LED2和LED3最好分别采用红色、绿色、和黄色3种不同颜色的发光二极管。 RP1、RP2选用WS型有机实心微调电位器。R1~R4可选用RTX-1/8W型碳膜电阻器。C1选用CT4型独石电容器，C2选用CD11-16V型铝电解电容器。 S为1×1小型拨动式电源开关。G选用4F22型6V层叠式电池或4节7号电池串联供给。
多功能晶体管测试仪毕设论文
摘要 晶体管的出现在电子器件的历史上具有划时代的意义，在当今社会的重要性更是不容忽略，它实际上是所有现代电器的关键活动元件。因而研究测量其参数的测试仪器的具有重大的意义。 在分析传统XJ4810 型晶体管特性图示仪的电路结构和功能实现的基础上，结合模拟和数字电子技术的特点，确立了整个系统构成。本系统以凌阳16位单片机SPCE061A 为核心，其内部集成了两路10位DA和7通道的AD，用一路DA输出作为压控电压源的输入端，压控电压源的输出端作为集电极电压的控制端；另一路DA则作为压控恒流源的输入端，压控恒流源的输出端则作为基极的电流控制端。用其中的两路AD分别采样基极和集电极电压，采样结果送CPU处理后再送液晶显示器显示。系统采用的液晶显示器是LCM12664ZK点阵图形液晶模块，显示效果好。系统软件采用C语言在凌阳单片机集成开发环境μ’nSP? IDE 2.0.0上编程，利用模块化的程序设计方法编写系统各模块程序，使整个系统性能稳定，易于扩展。 本系统的压控恒流源和压控电压源都是采用运放构成，电路简单，精度能满足设计要求。经测定恒流源的输出范围为±100uA，误差为±0.5uA；电压源的输出范围±10V, 误差为±0.02V。 本测试系统目前能够完成三极管管型和极性判别、输入、输出特性曲线、放大倍数等参数以及二极管一些参数的测定。它具有功能稳定，精确度较高，易于功能扩展等特点。 关键词：SPCE061A；LCM12864ZK；晶体管参数；压控恒流源；压控电压源
Abstract The appearance of transistor has an epochal impact on the history of electronic element, and its significance could not ignore as the active component of all most of electronic devices. So, taking a research on the transistor tester for measuring its parameter has great importance. Based on the analysis of general configuration and working principle the tradition instrument XJ4810, combined with the analog and digital electronic technology, we ascertain the system’s structure. This system bases on SPCE061A, which contains two DAC and seven ADC, one DAC is used as the input of VCVS(V oltage Controlled V oltage Source), which output is used to control the voltage of collector. The other DAC is used as the input of VCCS(V oltage Controlled Current Source), which output is used to control the current of base. The two of seven ADC are used to sample the voltage of collector and base respectively, and the result is send to the display after processing of processor. This system used LCM12864ZK as the display, which has nice display effect. This system software is developed on Integrated Development Environment μ’nSP? 2.0.0 using C langue, and we utilize the modularization method of program design to make the system stable function and to be pronged to other function. This system’s VCCS and VCVS are both compose of amplifier. The circuit is simple, and the precision can meet the demands of design. The result of experiments proves that the range of output current of VCCS is from -100uA to +100uA, the error is ±2.0uA and the range of output voltage of VCVS is from -10V to +10V, and the error is ±0.05V. The system can measure the type and polarity, the input characteristic curve, the output characteristic curve, and amplification of transistor parameter and diodes. It has the stable function and high accuracy. It is easy to be expanded its function. Key words：SPCE061A;LCM12864ZK;Transistor Parameter ;VCCS;VCVS
自制晶体管耐压测试仪
自制晶体管耐压测试仪 Prepared on 22 November 2020
自制晶体管耐压测试仪 本测试仪，可用于测试晶体二极管、三极管、可控硅等元件的反向耐压值或稳压管的稳压值等。 一、工作原理：电路原理如图所示。时基电路NE555、R1、R2和C2等组成了振荡频率约16MHZ的自激振荡器，其输出信号通过三极管Q1放大后驱动升压变压器T，在T的次级感应输出脉动电压。此电压经D1整流、C5滤波，在a点取得左右的测试用只留高压电源。Q2、R7（或R8）、R3和R4等组成测试保护电路，当被测试管反向击穿电流大于一定值（大功率管，小功率管70uA）时，三极管Q2饱和导通，NE555因④脚为低电位而停振，a点电压降低，被测管的反向击穿电流下降，然后NE555再次起振，a点电压上升，这种负反馈的作用结果使XA、XB两点间的电压稳定在被测管的稳压值上。测试时，将被测管按极性接于XA、XB之间，测小功率管时，转换开关S在“1”端，测大功率管时，S在“2”端，按动按键SB，由外接的电压表PV直接读出被测管的耐压值。二极管D2用于抵消Q2基极电位，使电压表读数更接近于被测管的耐压值。 二、元件选择：升压变压器T用35cm（14英寸）黑白电视级分体式输出变压器改制。将其低压绕组全部拆除，再用线径为的漆包线在原骨架上绕30匝作为初级绕组L1，次级绕组L2和整流管D1用高压包及硅柱代替。三极管Q1选β＞50Icm＞2A的中大功率管（如3DD15，DD03等）。电阻除R4、 R5、R6选1W电阻外，其他均选1/8W的碳膜电阻。C5应选耐压在2KV以上的的瓷介电容。为降低成本，电压表PV可用内阻大于2KΩ/V。直流电压档最大量程大于2KV的万用表代替。其他元件如图1所示。 三、调试及注意事项：电路装好后，先不加装C5，接上电源，然后用万用表检测a点电压，按动SB 按钮使电路加电工作。在正常情况下，在a点可监测到左右的直流电压。若无高压输出，可检查振荡电路及其相关器件；若电压略低或略高，可以更换不同阻值的R4，使输出电压为左右，若电压偏离太多，可通过换用不同β值得Q1来解决。由实验可知，Q1的β值越大，则输出电压越高，反之则越低。当电压基本正常后，加装C5，再测a点电压约为即为正常，然后将万用表串入XA、XB之间，直接测量通过R6的电流。当S拨在1端时约为70uA,S拨在2端时，约为为正常。否则，可通过改变R7或R8的阻值来解决。到此调试工作即告结束，本仪器即可投入使用。
多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料
多功能晶体管测试仪使用说明V2.011 20150301 1、功能介绍 1.1、晶体管测试仪可以完全自动识别及测量三极管、场效应管、IGBT、二极管、双二极管、电阻、双电阻、电容、 电感等，可测电容ESR(非在线测量)等功能。 1.2、简易信号发生器(方波)：最高4MHz, 频率可调非连续输出，如4M、2M、1M、.... 100K ... 1KHz等。单键调整 输出稍麻烦一点，但可满足一般性使用。 输出信号电压：4.5V 串680欧电阻。本功能状态下不自动关机，也不能手动关机， 1.3、A频率计：0-3.8Mhz，输入信号电压 2.5-5V.，分辨率1Hz。可定制为7.6MHz 高分辨率模式，0.1hz-130Khz 分辨率0.001hz, 100hz以下1-10秒，在测频状态下单击，屏幕上显示“Hi”，切换为高分辨率模式，超过130Khz自动切回正常模式。已校准过 B高精度频率计，16Hz-100Mhz.，输入信号电压2.5-5V，分辨率16Hz。 高分辨率模式，2hz-2.1Mhz 分辨率0.02hz, 1.6K以下1-10秒，在100M状态下单击，切换为高分辨率模式，屏幕上显示“Hi”，超过2.1M自动切回正常模式。已校准过 C高精度频率计，1024Hz-2.4Ghz.，输入信号电压30mV，分辨率1024Hz。可用于对讲机发射频率测试。 高分辨率模式，102hz-137Mhz 分辨率1hz, 100K以下1-10秒，在2.4G状态下单击，切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”，超过137M自动切回正常模式。由于易受干扰500K 以下不能很好测量。 非完全测试,2.4G没条件测试，500MHz测试ok。已校准过, 2.4G 灵敏度高，有时不接输入信号也会有输出，易受到干扰。信号输入线宜用屏蔽线。 可自己DIY加个双掷开关切换 2.4G和100M 两档输入信号，并且双击切换档位，显示2.4G 或100M ABC为三选一功能 1.4、可在线ESR: 测量时接入 1 3 口， 0.01-20欧，分辨率为0.01欧姆，且同时测量容量;精度不高但用来判 断电容的好坏是没问题的。 1.5、稳压二极管测量及附带电压表(由于有滤波电容，需有一定的延时)：最高50V。可选功能。 1.6、高精度电感电容测量：电容（非电解）1pF-1uF，最小分辨率0.01pF，精度1%;电感1uH-100mH，最小分辨率 0.001uH, 精度1%; 用LC谐振法测量会有零位飘移问题，目前已较为稳定，测量前先双击校零，尽快测量即可。 和晶体管功能下电感电容测量互为补充。 可自己DIY，在C16上并联一个0.1uf高品质电容，如CBB 63V(250V) 0.1uf，加一开关控制即可，电感量程能到100H。引线短些好，可以一试。此为降频测量。此状态下单击切为高分辨率模式，显示“Hi”，分辨率0.001H。 可选功能。 以上功能可菜单或快捷键选择，可设定开机功能。 LCD12864中文图形显示。 使用IC锁紧座，方便元件直插; 贴片座最大能支持TO-252封装的元件。 单键操作，按键灵活，单击、双击、多击、长按等。第一次使用功能切换可能会感到有些麻烦，多用几次习惯了就
自制GM328晶体管测试仪用户手册
自制GM328晶体管测试仪用户手册 电源： 晶体管测试仪可由6.8V –12V 直流供电。这可以通过一个9V 的层叠电池来实现。两个3.7V 锂离子电池串联。或AC 适配器。通电时，直流9V 电流约为30mA 。 控制： 晶体管测试仪由“带开关的旋转脉冲编码器”控制，或由“RPEWS”短接，该元件有四种工作方式，短时间按下旋钮，按住，左右旋转旋钮。 当晶体管测试仪通电时。短时间按下RPEWS 将打开晶体管测试仪，并开始测试。晶体管测试仪将在测试结束时等待用户输入。 在测试结束时，在自动关闭之前。长时间按下RPEWS 或左右旋转，将进入功能菜单。在“功能”菜单中，左栏中的“>”用于索引所选菜单项。要进入特定功能，只需单击RPEWS 。在特定功能内，按住旋钮将退出并返回功能菜单。 测试： 晶体管测试仪有三个测试点（TP1、TP2、TP3），在测试插座内，三个测试点的配置如下。 在测试插座的右侧是SMT 测试板，也有编号来识别每个脚位。 当测试两个引线组件（电阻、电容、电感）时，两个引线可以选择任意两个测试点。如果选择了TP1和TP3，测试完成后，测试将进入“系列测试模式”。否则，通过短时间按下RPEWS 重新开始测试。 注意：在将电容器连接到测试仪之前，在打开之前，务必对电容器放电！否则，检测仪可能损坏。 在MCU 的端口上只有一点保护。
如果您尝试测试安装在电路中的组件，则需要格外小心。无论哪种情况，设备都应断开电源，您应该确定，设备中没有剩余电压。 自检和校准： 通过将三个测试点连接在一起并推动RPEWS，可以准备自检，测试仪LCD的颜色将变为白色字体和黑色背景。提示字符串“Selftest mode….”“，要开始自检，必须在2秒内再次按下RPEWS，否则测试仪将继续进行正常测量。现在开始自检，检测仪将提示您下一步。等待一段时间，直到提示字符串“isolate Probes（隔离探针）！“此时拆下三个测试点的连接。检测仪将等待，直到测试到断开。然后测试人员继续自检过程。如果这是第一次使用自检（晶体管测试仪是自己从头组装的）。测试仪将很快提示字符串“1-||-3 > 100nf”，在最后一个校准任务中，需要一个容量在100nF和20μF之间的电容器，连接到1号和3号脚。在显示此文本之前，应连接电容器。使用该电容器，模拟比较器的偏移电压将得到补偿，以便更好地测量电容值。 特别提示：使用 通常，测试仪在每次启动时都会显示蓄电池电压。如果电压低于极限值，后面会显示警告。电池电压低。如果您使用可充电的9V电池，应尽快更换电池或充电。测得的电源电压将显示在第二行，持续1秒，“VCC=X.XXV”。它不能反复出现。电容器应在测量前放电，否则按下启动按钮可能损坏测试仪。如果您尝试在组装状态下测量部件，设备应与电源断开。此外，应确保设备中没有残留电压。每个电子设备内部都有电容器！ 如果你想测量小电阻值，您应该记住插头和电缆的电阻。插头的质量和状况很重要，也是测量电缆电阻的重要依据。电容器ESR测量同样有效。对于连接不良的电缆，ESR值为0.02Ω可增至0.61Ω。 你不应该期望测量结果有很好的准确性，尤其是ESR测量和电感测量结果不太准确。 有问题的组件： 你应该记住解释测量结果，晶体管测试仪的电路是为小信号半导体设计的。在正常测量条件下，测量电流只能达到约6 mA。功率半导体通过对结容量值的识别和测量，往往会因剩余电流而产生故障。测试仪通常不能为功率晶闸管或可控硅提供足够的点火电流或保持电流。因此晶闸管可以被检测为NPN晶体管或二极管。此外，还可能检测到未知的晶闸管或三联体。另一个问题是用集成电阻识别半导体。因此，由于内置42Ω电阻并联，无法检测到BU508D晶体管的基极-发射极二极管。因此晶体管的功能也不能测试。功率达林顿晶体管也存在检测问题。我们可以发现内部基极-发射极电阻，这使得很难用较小的测量电流识别元件。 PNP和NPN晶体管的测量： 对于正常测量，晶体管的三个针脚可以任何顺序连接到晶体管测试仪的测量输入端。按下RPEWS后，测试仪在第1行显示类型（NPN或PNP），集电极-发射极路径的可能集成保护二极管和插脚顺序。二极管符号以正确的极性显示。第2行显示了电流放大系数（hfe=…）和基极-发射极阈值电压。你应该知道，测试仪可以用两个不同的电路测量放大系数，即共发射极和共集电极电路（发射极跟随器）。液晶屏上只显示较高的结果。 对于锗晶体管，通常测量集电极截止电流Iceo（基极电流较小）或集电极剩余电流Iceo（基极保持在发射极水平）。 JFET和D-MOS晶体管的测量： 由于JFET型晶体管的结构是对称的，其源极和漏极是不可区别的。通常，该晶体管的一个参数是栅极与源极处于同一水平的晶体管的电流。这个电流经常高于这个电流，用680Ω电阻晶体管测试仪的测量电路可以达到。因此，680Ω电阻与电源相连。因此，栅极随电流的增大而产生负偏压。测试仪报告该电路的源电流以及栅极的偏压。所以不同的模型是不同的。用同样的方法测量d-mos晶体管（耗尽型）。对于增强型MOS晶体管（p-e-mos或n-e-mos），在栅极容量值很小的情况下，测量栅极阈值电压（vth）更困难。你可以得到一个更好的电压值，如果你将一个电容器与栅极/源并联，其值为nF。对于p-e-mos，栅
Tek370A晶体管测试仪使用手册
Tek370A晶体管测试仪使用入门 1.仪器简介 2.测量npn三极管8050 3.测量pnp三极管2N4403 4.测量nmos管2N50 5.测量pmos管irf9630 6.测量达林顿晶体管TIP127 1.仪器简介 370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。 下图为此仪器操作面板： （1）：调整显示的x轴和y轴坐标间隔，在三极管输出特性中为调整Vce和Ic； （2）：调整扫描最大功率及最大电压，测试时需要设置合适的范围，否则可能烧坏器件； （3）：调整扫描的步距，在三极管输出特性中关于不同的Ib进行扫描，可设置包括电源种类（电源或电流）、扫描步数、工作点偏移、极性（n型、p型）、细分等； （4）调整图像位置及为图像做标记； （5）设置触发方式（单次触发、连续触发），在测试大功率器件时需要使用单次触发，否则可能导致芯片过热。 注意：1）测试中需要将左边output打开； 2）测试时测试芯片盖子应盖牢； 3）管脚位置不应放错； 4）大功率测试时需将上图（5）调整为single模式；将STEP GENERATOR下的PULSE
调整为short进行调试，在这种条件下仅扫描设定的点数，否则连续扫描两次可能将器件烧坏。 5）测量pnp或pmos时需要将COLLECTORY SUPPLY下POLARITY调整为。 6)上图（4）右侧position设置中，选择为DISPLAY可以调整图像绝对位置，为观看方便，可将n型（npn、nmos）调整为偏置1格，测量P型（pnp、pmos）图像方向相反，需将图像绝对位置添加负偏置，具体数值根据需要调整，另外上下键一起按可以将纵坐标方向偏置调为0，左右键一起按可以将横坐标方向偏置调为0。 POSION设置中选择为CURSOR，可以调整图像中光斑（亮点）的位置，标记点具体数值可以在图中读出。按POSITION栏下左、右键可以调整光斑位置，光斑位置的调整与仪器扫描次序一致，即连续按右键、光斑会一直向右移动至设定的最大功率点后依次返回，之后再移至更高的基极电流（栅极电压）曲线，按左键则效果相反。 7）上图（3）的OFFSET栏可以调整基极电流（栅极电压）静态偏置点，在测量MOS 时需要将阈值电压以下数值跳过，可以用到此功能，另外将AID与OPPOSE一起按下可以将偏置点置0。 操作面板设置 1）STEP GENETOR窗口： a)源包括电流模式与电压模式，此处测试三极管，采用电流模式，若测试 mosfet，则使用电压模式； b)NUMBER OF STEPS，根据需要做合适设置，最大不超过10，此处设置为4； c)POLARITY（极性），npn或nmos需要设置为+，pnp或pmos需要设置为-； d)OFFSET与STEP MULTI，静态偏置点的设计及细分，如果需要在某一电流或 电压附近扫描，会用到此设置； e)可以从面板中读出，扫描间隔为20uA，静态偏置为0。 2）COLLECTOR SUPPLY窗口 限制最大功率、最小电压及极性，此处电压限制为16V，功率限制为10W。 3）DISPLAY窗口 a)在测试三极管时，此项用来设置显示窗口中集电极电流及电压每格数值； b)在测试结果图形中可以看出，x轴方向，每格代表2V，y轴方向，每格代 表5mA。
AT-201晶体管测试仪操作说明书
AT-201晶体管测试仪操作说明书 一、主要用途： 本测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。 二、操作说明： 1. 测试面板上说明如下图 ①：TEST 测试按键； ②：LED 测试指示灯； ③④⑤：测试槽分别1、2、3对应显示屏上显示123脚； ⑥：OUT TESTER测试输入接口以颜色黄、绿、红三色对应123脚； ⑦：LED充电指示灯 ⑧：USB标准mini USB充电接口 ⑨：LCD测试结果显示屏 ⑩：POWER SW 内置电源总开关 2．使用时先将POWER SW开关置于“ON”状态。 3. 将被待测试器件放入测试槽后，启动测试键“TEST”键后显示屏上会显示出对应的数据等待10S后自动关机。 4. 要测试大的器件，可以用外接线与“OUT”孔连接，测试线另一头与器件的引脚连接，并按“TEST”键测试。 5. 测试贴片晶体器件时，就要用到贴片匹配器与本机的测试槽连接并按“TEST”键 6. 使用完后（不使用时）应把“POWER SW”开关置于“OFF”状态，不使用时防止内部电池耗电。本机有自动关机功能, 自动关机时的工作电流只有20nA，可以突 7. 如本机使用电量不足，LCD屏幕上会显示“Battery Low！”，这时就要用迷你USB线进行充电，充电时将“POWER”开关置于“OFF”状态，USB接口上方的指示灯会亮，表示充电中…一般充电5-8小时就可以使用。用USB充电器或电脑的USB接口都能进行充电。 8. 注意事项 （1）、测量电容时，必须将电容的电放干净方可接到测试仪上测量，带电的电容容易将测试仪的芯片击毁。不能将带电的器件进行测试，防止内部芯片被击坏。
JY-3晶体管测试仪技术说明书
JY-3 晶体管测试仪 技 术 说 明 书 杭州精源电子仪器有限公司
JY-3晶体管测试仪 技术说明书 1.系统简介 本测试仪具有对半导体器件常温测试，高温热测(不需要外加烘箱)，热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能，并可任意选用及组合使用。晶体管热敏参数的快速筛选技术，是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法，使晶体管的结温迅速接近或达到最高允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数V BE、I CEO（或I CBO）和h FE ,及其在加功率前后的变化量、变化率△V BE、I CEOH和△h FE％，并以此为失效判据参量，淘汰超标的晶体管，达到剔除早期失效器件，改善产品批的质量和可靠性的目的，同时，所施加的超稳态额定功率模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力。该快速筛选方法不仅能替代直流满功率老炼，快速剔除有潜在缺陷的器件，而且更加科学合理，并已列为行业标准SJ／T10415—93及国军标GJB128A—97。 本测试仪不但能按规定进行晶体管热敏参数的快筛，而且可作常规直流参数测试仪器使用，具有足够的测试量程和精度，只要调用被测器件的型号，就能进入快速连续检测。当被测器件由于穿通、二次击穿和热击穿的瞬间，具有自动保护能力。2.主要功能 2.1可取代直流满功率老炼，每只器件整个老炼筛选过程（含测试）只需5秒左右。 2.2 能测试筛选PNP、NPN大、中、小功率三极管。中文菜单式界面，操作简便。2.3能一次性自动测试、筛选V BE、V BC、h FE1、h FE2、I CEO、I CBO、I EBO、V（BR）CEO、V 、V（BR）EBO、V CES、V BES的常温、高温值及常温与高温值变化量或变化率。 （BRCBO 并能任意选测全部或部分参数；若只选测常温参数，每只器件只需1秒多。h FE1、 h FE2可以自动分10档。 2.4 可任意设定器件型号、测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式任意修 改、调用。 2.5 测试结果在大屏幕液晶显示器（122×92mm）上显示，并标识累计测试总量；超标器件自动声光报警，并在液晶屏上显示告警信息。 2.6 每项参数的测试结果通过统计可获得最大值、最小值、平均值。 2.7器件型号、测试时间、测试条件、失效判据、检测结果及器件编号，可通过打印机打印输出，或通过电脑串行口保存在电脑中。超标器件自动标识。 2.8测试时只需选择器件型号即可进入连续检测，测试口有否被测器件自动识别。 3.主要技术指标：（误差±5%）