System JTAG：发展中的JTAG

System JTAG：发展中的JTAG

R;G;Bennetts;DFT

【期刊名称】《电子产品世界》

【年(卷),期】2006(000)12X

【摘要】电子行业中，已经能够很好地应用IEEE11409．1边界扫描（JTAG）测试单块电路板卡。它还被较早采用的公司扩展到了多电路板（系统）测试（见图1），但是现在有明显的迹象表明，其他更多主流的公司正在开始对在系统全寿命期内最大限度提高边界扫描技术的使用充满兴趣。

【总页数】2页(P.99-100)

【关键词】JTAG;边界扫描技术;电子行业;电路板;在系统;寿命期;测试

【作者】R;G;Bennetts;DFT

【作者单位】无

【正文语种】英文

【中图分类】TN407

【相关文献】

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