信赖性测试报告.doc

Reliability Test Report

信赖性测试报告

Test No. /测试编号: ____________________________

Model/机型型号: _______________________________

Department/部门：______________________________

Date/ 日期: _________________________

Tester / Date Inspector/Date Approved/Date

Contents

一、常规测试External short-circuit (3)

二、老化Aging (4)

三、震动Vibration (5)

四、跌落Drop (6)

五、温度循环Temperature cycling (7)

六、擦拭试验Wipe (8)

七、折合试验Equivalent (9)

八、静电击穿ESD (10)

九、盐雾实物Salt Spray (11)

十、热冲击Heating (12)

十一、而寸压试验withstand voltage (13)

十二、百格测试Hundreds (14)

十三、热拔插Hot Plug (15)

1.Sampling plan/抽样方案：鉴定检验的样品由批量生产的产品中随机抽取或单独样机。

2.Criterion rule /^lj定规则：当所有检验项目均满足标准时则判为鉴定检验合格。

（一）、Conclusion/测试结果

Item测试项目Sample No.测试样品编号Result判定结果Remarks 备注常规测试External short-

circuit

老化Aging

震动Vibration

跌落Drop

温度循环Temperature

cycling

擦拭试验Wipe

折合试验Equivalent

静电击穿ESD

盐雾实物Salt Spray

热冲击Heating

耐压试验withstand voltage

热拔插Hot Plug

Conclusion结论：综合各测试项目结果，判定此型号样机测试不合格。

（二）、experimerrt condition/试验条件

序号测试项目设备/工具参数条件备注

1

2

3

4

5

6

（三）、Fail-sample/不合格图样

跌落Drop不良样品

（四）、improvement suggestions/改善建议

高速数字信号的信号完整性分析

科研训练 设计题目：高速数字信号的信号完整性分析专业班级：科技0701 姓名：张忠凯 班内序号：18 指导教师：梁猛 地点：三号实验楼236 时间：2010.9.14~2010.11. 16 电子科学与技术教研室

摘要： 在高速数字系统设计中，信号完整性（SI）问题非常重要的问题，如高时钟频率和快速边沿设计。本文提出了影响信号完整性的因素,并提出了解决电路板中信号完整性问题的方法。 关键词：高速数字电路；信号完整性；信号反射；串扰 引言： 随着电子行业的发展，高速设计在整个电子设计领域所占的比例越来越大，100 MHz 以上的系统已随处可见，采用CS(线焊芯片级BGA)、FG(线焊脚距密集化BGA)、FF(倒装芯片小间距BGA)、BF(倒装芯片BGA)、BG(标准BGA)等各种BGA封装的器件大量涌现，这些体积小、引脚数已达数百甚至上千的封装形式已越来越多地应用到各类高速、超高速电子系统中。 从IC芯片的封装来看，芯片体积越来越小、引脚数越来越多；这就带来了一个问题，即电子设计的体积减小导致电路的布局布线密度变大，同时信号的上升沿触发速度还在提高，从而使得如何处理高速信号问题成为限制设计水平的关键因素。随着电子系统中逻辑复杂度和时钟频率的迅速提高，信号边沿不断变陡，印刷电路板的线迹互连和板层特性对系统电气性能的影响也越发重要。对于低频设计，线迹互连和板层的影响可以不考虑，但当频率超过50 MHz时，互连关系必须考虑，而在评定系统性能时还必须考虑印刷电路板板材的电参数。因此，高速系统的设计必须面对互连延迟引起的时序问题以及串扰、传输线效应等信号完整性问题。 1．信号完整性的概念： 信号完整性是指信号未受到损伤的一种状态，良好的信号完整性是指在需要时信号仍然能以正确的时序和电压电平值做出响应。差的信号完整性不是由某一单一因素导致的，而是板级设计中多种因素共同引起的。 2．信号完整性问题的分析： 高速不是就频率的高低来说的，而是由信号的边沿速度决定的，一般认为上升时间小于4倍信号传输延迟时可视为高速信号。信号完整性问题的起因是由于不断缩小的上升和下降时间。假如信号的上升沿和下降沿变化比较缓慢，则电路结构和元器件所造成的影响不大，可以忽略。 当信号的上升沿和下降沿变化加快时，整个电路则会转化为传输线问题，即电路的延迟、反射等问题；当电路中有大的电流涌动时会引起地弹,如大量芯片的输出同时开启时,将有一个较大的瞬态电流在芯片与板的电源平面流过,芯片封装与电源平面的电感和电阻会引发电源噪声,这样会在真正的地平面( 0 V)上产生电压的波动和变化,犹如从地面弹回电路的信号一样；通常表现为在一根信号线上有信号通过时,在上与之

DELL 信赖性测试标准(译文)

4.0 Finish Appearance Requirements 最终表面要求 4.1 Color (ASTM D1729) 颜色(ASTM D1729) Color specifications will be defined by the Industrial Design team (or its approved agent). Color tolerances will be specified in the Dell Color document (example in addendum). Finish color shall be determined from the piece part drawing or other applicable documents, and conform to the following spec: Dell Corporate Cosmetic Specification, P/N 6724U, “SPEC,DELL,COSMETIC,CORP-STD”. 颜色规格将由工业设计团队(或其认可的代理机构)定义。色彩公差将在戴尔色彩文件(如附录)中指定。最终颜色应由零件图纸或其他适用的文件确定，并符合以下规格:戴尔公司外观标准，P /N 6724U，“戴尔外观企业标准”。 Applicator shall measure L*, a* and b* at the locations specified on the piece-part drawing or other applicable document as stipulated in the Dell Corporate Cosmetic Specification, 6724U. If the location is not specified, the locations shall be approved by Dell Mechanical Engineer. 检验员应按零件图或戴尔公司外观标准6724U中规定的其他适用指定位置的文件，测量L *、a *和b *。如果文件未指定，则应由戴尔机械工程师批准。 4.2 Gloss (ASTM D523) 光泽度(ASTM D523) Gloss specifications will be defined by the Industrial Design team (or its approved agent). Gloss tolerance will be specified in the Dell Color document (example in addendum). Finish gloss shall be determined from the piece part drawing or other applicable documents, and conform to the following spec: Dell Corporate Cosmetic Specification, P/N 6724U, “SPEC,DELL,COSMETIC,CORP-STD”. 光泽度规格由工业设计团队(或其认可的代理机构)定义。戴尔的颜色文件中(如附录)中指定了光泽度公差。最终光泽度应由零件图纸或其他适用文件确定，并符合以下规格:戴尔公司外观标准，P /N 6724U，“戴尔外观企业标准”。 Applicator shall measure the gloss at the locations specified on the piece-part drawing or other applicable document. If the location is not specified, the locations shall be approved by Dell Mechanical Engineer. 检验员应测量在零件图或其他适用文件上注明的光泽度。如果位置未指定，则位置应由戴尔机械工程师批准。 4.3 Texture or Roughness, (R a, R z, R pc) 纹理或粗糙度（Ra,Rz,Rpc） Texture or roughness will be defined by the Industrial Design Team (or its approved agent). Applicator shall measure the texture or roughness at the locations specified on the piece-part drawing. If the location is not specified, the locations shall be approved by Dell Mechanical Engineer. R a, R z, & R pc must all be reported. 纹理或粗糙度由工业设计团队(或其认可的代理机构)定义。检验员应测量在零件图上指定位置的纹理或粗糙度。如果位置未指定，则应由戴尔机械工程师批准。Ra,Rz，和Rpc都必须报告。 4.4 Oxide, (ASTM B244), or Dry Film Thickness 氧化物(ASTM B244)，或干膜厚度

信号完整性分析基础系列之一——眼图测量

信号完整性分析基础系列之一 ——关于眼图测量（上） 汪进进美国力科公司深圳代表处 内容提要：本文将从作者习惯的无厘头漫话风格起篇，从四个方面介绍了眼图测量的相关知识：一、串行数据的背景知识; 二、眼图的基本概念; 三、眼图测量方法; 四、力科示波器在眼图测量方面的特点和优势。全分为上、下两篇。上篇包括一、二部分。下篇包括三、四部分。 您知道吗？眼图的历史可以追溯到大约47年前。在力科于2002年发明基 于连续比特位的方法来测量眼图之前，1962年-2002的40年间，眼图的测量是基 于采样示波器的传统方法。 您相信吗？在长期的培训和技术支持工作中，我们发现很少有工程师能完整地准确地理解眼图的测量原理。很多工程师们往往满足于各种标准权威机构提供的测量向导，Step by Step，满足于用“万能”的Sigtest软件测量出来的眼图给出的Pass or Fail结论。这种对于Sigtest的迷恋甚至使有些工程师忘记了眼图是 可以作为一项重要的调试工具的。 在我2004年来力科面试前，我也从来没有听说过眼图。那天面试时，老板反复强调力科在眼图测量方面的优势，但我不知所云。之后我Google“眼图”， 看到网络上有限的几篇文章，但仍不知所云。刚刚我再次Google“眼图”，仍然 没有找到哪怕一篇文章讲透了眼图测量。 网络上搜到的关于眼图的文字，出现频率最多的如下，表达得似乎非常地专业，但却在拒绝我们的阅读兴趣。 “在实际数字互连系统中，完全消除码间串扰是十分困难的，而码间串扰 对误码率的影响目前尚无法找到数学上便于处理的统计规律，还不能进行准确计算。为了衡量基带传输系统的性能优劣，在实验室中，通常用示波器观察接收信号波形的方法来分析码间串扰和噪声对系统性能的影响，这就是眼图分析法。 如果将输入波形输入示波器的Y轴，并且当示波器的水平扫描周期和码元 定时同步时，适当调整相位，使波形的中心对准取样时刻，在示波器上显示的图形很象人的眼睛，因此被称为眼图（Eye Map）。 二进制信号传输时的眼图只有一只“眼睛”，当传输三元码时，会显示两 只“眼睛”。眼图是由各段码元波形叠加而成的，眼图中央的垂直线表示最佳抽样时刻，位于两峰值中间的水平线是判决门限电平。 在无码间串扰和噪声的理想情况下，波形无失真，每个码元将重叠在一起，最终在示波器上看到的是迹线又细又清晰的“眼睛”，“眼”开启得最大。当有码

网站测试报告模版

1、网站测试报告 未登录状态测试测试结果 第一步：点击专家俱乐部导航，进入俱乐部首页正常 专家列表正常 人气排行正常 专家俱乐部标题——专家主页正常，应当将人气最高 的放在第一个列表中。 主页——专家主页正常，建议增加到其他 专家主页的链接。 会员数排行正常 专家俱乐部标题——专家主页正常 主页——专家主页正常，进入到各分项目 后，应当有3分类的链 接，如从“专家个股咨 询”到“VIP专用论坛” 链接。其他链接也应当 全部加上。 专家分类列表正常 蓝筹为主/稳健型——专家俱乐部标题——专家主页正常 热门股为主/攻击型——专家俱乐部标题——专家主页正常 复合型投资——专家俱乐部标题——专家主页正常 专家搜索搜索一次后，无法重置投资风格——搜索——专家俱乐部标题——专家主页正常 专家类型——搜索——专家俱乐部标题——专家主页正常 专家名——搜索——专家俱乐部标题——专家主页正常 会员数——搜索——专家俱乐部标题——专家主页正常 专家评级正常专家名称——专家主页人气排名从16名后全 部一样了！错误！ 主页——专家主页正常 专家俱乐部视频正常专家公开视频链接位置到了“专家俱 乐部”首页，错误 ——视频播出时间提示提示会员注册 ——专家俱乐部视频直播窗口提示会员注册专家俱乐部节目回放提示会员注册

视频标题——类型VIP 会员永久专属—— 视频窗口 提示会员注册 类型VIP 会员专属——视频窗口 提示会员注册 准会员专属——视频窗口 提示会员注册 免费公开——视频窗口 提示会员注册 视频标题——窗口未打开——点击 ——播放器下载 无法下载，可关闭 专家报告 正常 专家报告标题——类型付费可看——报告内容——发表回复 显示免费的，需要注册。公开的可以任意阅读，但没有“回复”的 窗口！ 类型2元点播——报告内容——发表回复 会员可看——报告内容——发表回复 完全公开——报告内容——发表回复 专家咨询 正常 专家咨询标题——咨询内容（发起人点击）——评论回复 正常 ——非发起人点击无法查看 正常 手机短信服务 正常 短信快讯标题——短信内容 正常 专家名称——专家主页 正常 查看——短信内容（非该专家vip 会员弹出申请页面） 正常 我的专家（网页上方） 非会员，无此项 —— 专家主页 专家主页 正常 vip 专用论坛——点击帖子标题——正常浏览/发言（vip 会员） 正常 提示成为该专家vip 会员（非vip 会员） 正常 论坛——点击帖子标题——正常浏览/发言 准会员才可点击 公告——点击帖子标题——正常浏览 正常 已登陆普通用户状态测试 第一步：登录 正常 ——登录成功转向前页面 正常，点击退出，显示 不出来 ——积分显示情况 正常，但是点击进入后什么也显示不出来 ——充值按钮——充值金额——确认充值窗口——网银支付页面 正常 第二步：点击专家俱乐部导航，进入俱乐部首页 正常 专家列表 正常 人气排行 正常 专家俱乐部标题——专家主页 正常 主页——专家主页 正常

信号完整性分析基础系列之一__关于眼图测量(全)

信号完整性分析基础系列之一_——关于眼图测量(全) 您知道吗？眼图的历史可以追溯到大约47年前。在力科于2002年发明基于连续比特位的方法来测量眼图之前，1962年-2002的40年间，眼图的测量是基于采样示波器的传统方法。 您相信吗？在长期的培训和技术支持工作中，我们发现很少有工程师能完整地准确地理解眼图的测量原理。很多工程师们往往满足于各种标准权威机构提供的测量向导，Step by Step，满足于用“万能”的Sigtest软件测量出来的眼图给出的Pass or Fail结论。这种对于Sigtest 的迷恋甚至使有些工程师忘记了眼图是可以作为一项重要的调试工具的。 在我2004年来力科面试前，我也从来没有听说过眼图。那天面试时，老板反复强调力科在眼图测量方面的优势，但我不知所云。之后我Google“眼图”，看到网络上有限的几篇文章，但仍不知所云。刚刚我再次Google“眼图”，仍然没有找到哪怕一篇文章讲透了眼图测量。 网络上搜到的关于眼图的文字，出现频率最多的如下，表达得似乎非常地专业，但却在拒绝我们的阅读兴趣。 “在实际数字互连系统中，完全消除码间串扰是十分困难的，而码间串扰对误码率的影响目前尚无法找到数学上便于处理的统计规律，还不能进行准确计算。为了衡量基带传输系统的性能优劣，在实验室中，通常用示波器观察接收信号波形的方法来分析码间串扰和噪声对系统性能的影响，这就是眼图分析法。 如果将输入波形输入示波器的Y轴，并且当示波器的水平扫描周期和码元定时同步时，适当调整相位，使波形的中心对准取样时刻，在示波器上显示的图形很象人的眼睛，因此被称为眼图（Eye Map）。 二进制信号传输时的眼图只有一只“眼睛”，当传输三元码时，会显示两只“眼睛”。眼图是由各段码元波形叠加而成的，眼图中央的垂直线表示最佳抽样时刻，位于两峰值中间的水平线是判决门限电平。 在无码间串扰和噪声的理想情况下，波形无失真，每个码元将重叠在一起，最终在示波器上看到的是迹线又细又清晰的“眼睛”，“眼”开启得最大。当有码间串扰时，波形失真，码元不完全重合，眼图的迹线就会不清晰，引起“眼”部分闭合。若再加上噪声的影响，则使眼图的线条变得模糊，“眼”开启得小了，因此，“眼”张开的大小表示了失真的程度，反映了码间串扰的强弱。由此可知，眼图能直观地表明码间串扰和噪声的影响，可评价一个基带传输系统性能的优劣。另外也可以用此图形对接收滤波器的特性加以调整，以减小码间串扰和改善系统的传输性能。通常眼图可以用下图所示的图形来描述，由此图可以看出：（1）眼图张开的宽度决定了接收波形可以不受串扰影响而抽样再生的时间间隔。显然，最佳抽样时刻应选在眼睛张开最大的时刻。 （2）眼图斜边的斜率，表示系统对定时抖动（或误差）的灵敏度，斜率越大，系统对定时抖动越敏感。

信号完整性分析与测试

信号完整性分析与测试 信号完整性问题涉及的知识面比较广，我通过这个短期的学习，对信号完整性有了一个初步的认识，本文只是简单介绍和总结了几种常见现象，并对一些常用的测试手段做了相应总结。本文还有很多不足，欢迎各位帮助补充，谢谢！ 梁全贵 2011年9月16日

目录 第1章什么是信号完整性------------------------------------------------------------------------------ 3第2章轨道塌陷 ----------------------------------------------------------------------------------------- 5第3章信号上升时间与带宽 --------------------------------------------------------------------------- 6第4章地弹----------------------------------------------------------------------------------------------- 8第5章阻抗与特性阻抗--------------------------------------------------------------------------------- 9 5.1 阻抗 ------------------------------------------------------------------------------------------ 9 5.2 特性阻抗------------------------------------------------------------------------------------- 9第6章反射----------------------------------------------------------------------------------------------11 6.1 反射的定义 ---------------------------------------------------------------------------------11 6.2 反射的测试方法--------------------------------------------------------------------------- 12 6.3 TDR曲线映射着传输线的各点 --------------------------------------------------------- 12 6.4 TDR探头选择 ----------------------------------------------------------------------------- 13 第7章振铃--------------------------------------------------------------------------------------------- 14 第8章串扰--------------------------------------------------------------------------------------------- 16 8.1 串扰的定义 -------------------------------------------------------------------------------- 16 8.2 观测串扰 ----------------------------------------------------------------------------------- 16 第9章信号质量 --------------------------------------------------------------------------------------- 18 9.1 常见的信号质量问题 --------------------------------------------------------------------- 18 第10章信号完整性测试 ----------------------------------------------------------------------------- 21 10.1 波形测试---------------------------------------------------------------------------------- 21 10.2 眼图测试---------------------------------------------------------------------------------- 21 10.3 抖动测试---------------------------------------------------------------------------------- 23 10.3.1 抖动的定义 ------------------------------------------------------------------------ 23 10.3.2 抖动的成因 ------------------------------------------------------------------------ 23 10.3.3 抖动测试 --------------------------------------------------------------------------- 23 10.3.4 典型的抖动测试工具： ---------------------------------------------------------- 24 10.4 TDR测试 --------------------------------------------------------------------------------- 24 10.5 频谱测试---------------------------------------------------------------------------------- 25 10.6 频域阻抗测试 ---------------------------------------------------------------------------- 25 10.7 误码测试---------------------------------------------------------------------------------- 25 10.8 示波器选择与使用要求： -------------------------------------------------------------- 26 10.9 探头选择与使用要求-------------------------------------------------------------------- 26 10.10 测试点的选择--------------------------------------------------------------------------- 27 10.11 数据、地址信号质量测试 ------------------------------------------------------------- 27 10.11.1 简述 ------------------------------------------------------------------------------- 27 10.11.2 测试方法-------------------------------------------------------------------------- 27

Altium Designer中进行信号完整性分析报告

在高速数字系统中，由于脉冲上升/下降时间通常在10到几百p秒，当受到诸如连、传输时延和电源噪声等因素的影响，从而造成脉冲信号失真的现象； 在自然界中，存在着各种各样频率的微波和电磁干扰源，可能由于很小的差异导致高速系统设计的失败；在电子产品向高密和高速电路设计方向发展的今天，解决一系列信号完整性的问题，成为当前每一个电子设计者所必须面对的问题。业界通常会采用在PCB制板前期，通过信号完整性分析工具尽可能将设计风险降到最低，从而也大大促进了EDA设计工具的发展…… 信号完整性（Signal Integrity，简称SI）问题是指高速数字电路中，脉冲形状畸变而引发的信号失真问题，通常由传输线阻抗不匹配产生的问题。而影响阻抗匹配的因素包括信号源的架构、输出阻抗(output impedance)、走线的特性阻抗、负载端的特性、走线的拓朴(topology)架构等。 解决的方式可以采用端接(termination)与调整走线拓朴的策略。 信号完整性问题通常不是由某个单一因素导致的，而是板级设计中多种因素共同作用的结果。 信号完整性问题主要表现形式包括信号反射、信号振铃、地弹、串扰等； 1，Altium Designer信号完整性分析（机理、模型、功能） 在Altium Designer设计环境下，您既可以在原理图又可以在PCB编辑器实现信号完整性分析，并且能以波形的方式在图形界面下给出反射和串扰的分析结果。 Altium Designer的信号完整性分析采用IC器件的IBIS模型，通过对版图信号线路的阻抗计算，得到信号响应和失真等仿真数据来检查设计信号的可靠性。Altium Designer的信号完整性分析工具可以支持包括差分对信号在的高速电路信号完整性分析功能。 Altium Designer仿真参数通过一个简单直观的对话框进行配置，通过使用集成的波形观察仪，实现图形显示仿真结果，而且波形观察仪可以同时显示多个仿真数据图像。并且可以直接在标绘的波形上进行测量，输出结果数据还可供进一步分析之用。 Altium Designer提供的集成器件库包含了大量的的器件IBIS模型，用户可以对器件添加器件的IBIS模型，也可以从外部导入与器件相关联的IBIS模型，选择从器件厂商那里得到的IBIS 模型。 Altium Designer的SI功能包含了布线前（即原理图设计阶段）及布线后（PCB版图设计阶段）两部分SI分析功能；采用成熟的传输线计算方法，以及I/O缓冲宏模型进行仿真。基于快速反射和串扰模型，信号完整性分析器使用完全可靠的算法，从而能够产生出准确的仿真结果。布线前的阻抗特征计算和信号反射的信号完整性分析，用户可以在原理图环境下运行SI仿真功能，对电路潜在的信号完整性问题进行分析，如阻抗不匹配等因素。 更全面的信号完整性分析是在布线后PCB版图上完成的，它不仅能对传输线阻抗、信号反射和信号间串扰等多种设计中存在的信号完整性问题以图形的方式进行分析，而且还能利用规则检查发现信号完整性问题，同时，Altium Designer还提供一些有效的终端选项，来帮助您选择最好的解决方案。 2，分析设置需求 在PCB编辑环境下进行信号完整性分析。 ?为了得到精确的结果，在运行信号完整性分析之前需要完成以下步骤： ?1、电路中需要至少一块集成电路，因为集成电路的管脚可以作为激励源输出到被分析的网络上。 像电阻、电容、电感等被动元件，如果没有源的驱动，是无法给出仿真结果的。 ?2、针对每个元件的信号完整性模型必须正确。 ?3、在规则中必须设定电源网络和地网络，具体操作见本文。 ?4、设定激励源。

电子产品可靠性测试报告.docx

XXXX股份有限公司检测中心 检测报告 报告编号：2019-5-25 样品名称电子产品可靠性测试样品编号2019-5-25 委托单位XXXX 实业有限公司型号/规格RC661-Z2委托单位 XXXXXX检测类别委托试验地址 样品来源 收样日期2019年4月15日 委托方送样 方式 2019 年4月15日～ 样品数量120检测日期 2019年5月15日 1.高低温工作试验10.外箱跌落试验18.标签酒精测试 2.高温高湿工作试验11.外箱振动试验19.盐雾测试 3.外箱温湿度交变储存试验 12.稳定性测试20.外箱抗压测试 4.外箱高温高湿储存试验13.铅笔硬度测试21.ESD 测试 检测项目 5.冷热冲击试验14.底噪测试22.电源通断测试 6.裸机跌落试验15.防水测试23.裸机振动试验 7.裸机微跌试验16.大头针缝隙安全测试 https://www.wendangku.net/doc/d64829327.html,B 线摇摆测试 8.彩盒包装跌落试验17.标签橡皮测试25.125℃高温存放 9.快递盒包装跌落试验 样品说明委托方提供120 个样品用于本次试验，其中： 裸机 40台， PCBA 20 块，带包装 3 箱（ 60台）。

参考标准： 检测依据 YD/T 1539-2006《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》 检测结论样品按照要求完成了测试，测试结果见报告正文 备注--- 编制：审核：批准： 批准人职务： 年月日年月日年月日 第1页共 9页

XXXX股份有限公司检测中心 检测报告 报告编号：2019-5-25 试验情况综述 序号项目 1高低温1 标准要求 温度45℃ 试验情况 工作 试验 2高温 高湿 工作 试验3外箱 温湿度 交变 储存 试验 持续时间 6 小时 2温度45℃～ -10 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-10 ℃ 持续时间 6 小时 4温度-10 ℃～ 45℃ 升温时间 1 小时 每循环时间15小时 循环次数4 样品状态在线测试 温度40℃ 相对湿度90﹪ 持续时间96h 样品状态在线测试 1温度70℃ 湿度40﹪ 持续时间12 小时 2温度70℃～ -20 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-20 ℃ 4持续时间12 小时 温度-20 ℃～ 湿度40 ﹪ 升温时间 1 小时 每循环时间27 小时 循环次数4 样品状态包装、不

系统安全测试报告模版V

国信嘉宁数据技术有限公司 XXX系统 安全测试报告 创建人：xxx 创建时间：xxxx年xx月xx日 确认时间： 当前版本：V1.0

文档变更记录 *修订类型分为：A－ADDED，M－MODIFIED，D－DELETED。

目录 1.简介 (4) 1.1.编写目的 (4) 1.2.项目背景 (4) 1.3.系统简介 (4) 1.4.术语定义和缩写词 (4) 1.5.参考资料 (4) 2.测试概要 (5) 2.1.测试范围 (5) 2.2.测试方法和测试工具 (5) 2.3.测试环境与配置 (8) 3.测试组织 (8) 3.1.测试人员 (8) 3.2.测试时间细分及投入人力 (8) 4.测试结果及缺陷分析 (9) 4.1.测试执行情况统计分析 (9) 4.2.遗留缺陷列表 (9) 5.测试结论 (9) 6.测试建议 (10)

1.简介 1.1.编写目的 描述编写本测试报告需要说明的内容。 如：本报告为XX项目的安全测试报告，目的在考察系统安全性、测试结论以及测试建议。 1.2.项目背景 对项目背景进行简要说明，可从需求文档或测试方案中获取。 1.3.系统简介 对所测试项目进行简要的介绍，如果有设计说明书可以参考设计说明书，最好添加上架构图和拓扑图。 1.4.术语定义和缩写词 列出设计本系统/项目的专用术语和缩写语约定。对于技术相关的名词和与多义词一定要注明清楚，以便阅读时不会产生歧义。 如： 漏洞扫描： SQL注入： 1.5.参考资料 请列出编写测试报告时所参考的资料、文档。 需求、设计、测试案例、手册以及其他项目文档都是范围内可参考的资料。 测试使用的国家标准、行业指标、公司规范和质量手册等等。

信号完整性分析：关于眼图测量

关于眼图测量 作者：汪进进美国力科公司深圳代表处 信号完整性分析基础系列之一——关于眼图测量(上) 眼图的历史可以追溯到大约47年前。在力科于2002年发明基于连续比特位的方法来测量眼图之前，1962年-2002的40年间，眼图的测量是基于采样示波器的传统方法。 您相信吗？在长期的培训和技术支持工作中，我们发现很少有工程师能完整地准确地理解眼图的测量原理。很多工程师们往往满足于各种标准权威机构提供的测量向导，Step by Step，满足于用"万能"的Sigtest软件测量出来的眼图给出的Pass or Fail 结论。这种对于Sigtest的迷恋甚至使有些工程师忘记了眼图是可以作为一项重要的调试工具的。 在我2004年来力科面试前，我也从来没有听说过眼图。那天面试时，老板反复强调力科在眼图测量方面的优势，但我不知所云。之后我Google"眼图"，看到网络上有限的几篇文章，但仍不知所云。刚刚我再次Google"眼图"，仍然没有找到哪怕一篇文章讲透了眼图测量。 网络上搜到的关于眼图的文字，出现频率最多的如下，表达得似乎非常地专业，但却在拒绝我们的阅读兴趣。 "在实际数字互连系统中，完全消除码间串扰是十分困难的，而码间串扰对误码率的影响目前尚无法找到数学上便于处理的统计规律，还不能进行准确计算。为了衡量基带传输系统的性能优劣，在实验室中，通常用示波器观察接收信号波形的方法来分析码间串扰和噪声对系统性能的影响，这就是眼图分析法。 如果将输入波形输入示波器的Y轴，并且当示波器的水平扫描周期和码元定时同步时，适当调整相位，使波形的中心对准取样时刻，在示波器上显示的图形很象人的眼睛，因此被称为眼图（Eye Map）。 二进制信号传输时的眼图只有一只"眼睛"，当传输三元码时，会显示两只"眼睛"。眼图是由各段码元波形叠加而成的，眼图中央的垂直线表示最佳抽样时刻，位于两峰值中间的水平线是判决门限电平。 在无码间串扰和噪声的理想情况下，波形无失真，每个码元将重叠在一起，最终在示波器上看到的是迹线又细又清晰的"眼睛"，"眼"开启得最大。当有码间串扰时，波形失真，码元不完全重合，眼图的迹线就会不清晰，引起"眼"部分闭合。若再加上噪声的影响，则使眼图的线条变得模糊，"眼"开启得小了，因此，"眼"张开的大小表示了失真的程度，反映了码间串扰的强弱。由此可知，眼图能直观地表明码间串扰和噪声的影响，

如何建立信号完整性实验室

高速数字和信号完整性测试建议书 暨如何建立信号完整性实验室 一建立信号完整性实验室的必要性 众所周知，当今世界数字技术飞速发展，无论是一位从事通信系统，计算机系统，雷达和卫星通信系统，或是高速半导体集成电路设计，高速光电收发模块，高速信号处理，高速互连器件（诸如高速接插件，高速数字传输电缆）等领域的研发及测试工程师都会面临着一个共同的挑战——Signal Integrity（SI）——信号完整性。 多年前我们所提到的数字产品，其时钟或数据频率大多在几十兆之内，信号的上升时间大多在几个纳秒，甚至几十纳秒以上。那时的数字化产品设计工程师进行的就是“数字设计”――只要掌握布尔代数等数字方面的诸多知识，保证逻辑正确，就能设计出其所期望的性能的产品。而现在的数字技术已经发展到几千兆，甚至几十千兆的传输速率，信号的上升时间大多在一纳秒以内，诸如串扰，阻抗匹配，EMI（电磁兼容），抖动等射频微波领域才会遇到的问题，如今变成了高速数字设计必须解决的关键性问题。这就要求我们的工程师不但要具备数字方面的设计知识，同时也要具备射频微波方面的设计知识；不但要掌握时域及逻辑域的测量分析技术，还要掌握频域的测量分析技术。 信号完整性到底是什么？ 信号完整性这个概念，是针对高速数字信号提出来的，信号的实际波形会与理想波形存在着差别，SI 解决的就是信号传输过程中的信号质量问题。到底什么样的信号会涉及SI 问题，要从信号的速率以及信号的上升时间两个角度来考虑。拿PCB来说，当一段PCB 上的连线所造成的信号传输延时远远小于信号的上升时间时，可按简单的电路理论去设计；当一段PCB 上的连线所造成的信号传输延时与信号的上升时间类似时（有说是几倍于上升时间），则必须按传输线的理论去设计，此时的这段连线即是传输线。举个具体实例，如图1 所示： 图1 高速信号的传输 假设由驱动器发出的信号是高质量的时钟信号，如图 2 中理想方波波形所示。但是，在接收机端看到的却是质量变差的信号，如图2中变形的波形所示。什么原因造成的？假设接收电路也是好的，那么问题就出在信号的传输路径上。

最新产品可靠性试验报告模板

产品可靠性试验报告一、试验样品描述 二、试验阶段 三、试验结论

四、试验项目

High Temperature Storage Test（高温贮存）实验标准：

试验条件图 Test Condition 仪器/设备高温烤箱、万用表、测试工装 合格判据试验后样品外观、机械性能、电气性能、等各项性能正常 序列号（S/N）外观结构 备注说明 注意：测试不通过或条件通过时需要备注说明现象或原因、所有工作状态机器需要连接信号线、功能测试涵盖遥控距离和按键功能 Low Temperature Storage Test（低温贮存） 实验标准： 产品可靠性试验报告 测试产品状态■小批□中批□量产 开始时间/Start 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name Time Low Temperature Storage Test (低温贮存) 机型名称Name 料号/P/N（材料类填写供应商）试验样品/数量试验负责人 实验测试结果■通过□不通过□条件通过 试验目的验证产品低温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性

试验条件Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱，降温速率为1℃/min，使试验箱温度达到-30℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时，后进行产品检查. 试验条件图 Test Condition 仪器/设备恒温恒湿箱、万用表、测试工装 合格判据试验后样品外观、机械性能、电气性能等各项性能正常 序列号（S/N）外观结构 备注说明 注意：测试不通过或条件通过时需要备注说明现象或原因、所有工作状态机器需要连接信号线、功能测试涵盖遥控距离和按键功能 Constant Humid-Heat Test (恒温恒湿存储) 实验标准： 产品可靠性试验报告 测试产品状态■小批□中批□量产 开始时间/Start Time 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name Constant Humid-Heat Test (恒温恒湿存储) 机型名称Name 料号/P/N（材料类填写供应商）试验样品/数量试验负责人

测试报告模版

中兴云终端系统测试报告 测试形式：使用测试 测试设备：ZX CLOUND iBox CT321 测试人员： 测试日期：12月1日至12月12日

目录 第一章测试概要 (1) 1.1 测试目的 (1) 1.2 用户群 (1) 1.3 测试环境 (1) 第二章存在问题 (2) 2.1 开机速度慢问题 (2) 2.2 软件兼容性问题 (2) 2.3 网络不稳定问题 (2) 第三章结论 (3) 3.1 易用性 (3) 3.2 功能性 (3) 3.3 安全性 (3) 3.4 兼容性 (3) 3.5 经济性 (3) 3.6 总结 (3)

第一章测试概要 1.1 测试目的 本次对中兴云终端的测试是为了发现在实际使用过程中可能存在的软件和硬件方面的问题，并通过系统在测试中的表现评估系统是否能达到目标客户的使用需求。并在测试过程中对存在的问题进行分析，与设备提供商沟通，寻求解决方案，进一步提高系统的可用性和功能性。 1.2 用户群 本系统的用户群主要包括公安、交通、城管、税务、质检、海关、工商、消防、药监、环保、文化等政府执法部门，以及金融、能源、交通物流、保险、汽车航空、电力、大型制造、传媒、集团企业、外企等信息化发展较好，存在对系统内计算机进行统一管理统一升级的需求的政企客户。 1.3 测试环境

第二章存在问题 2.1 开机速度慢问题 云终端系统开机过程为云终端设备开机和鉴权，以及虚拟机的开机。其中虚拟机开机时间较传统PC开机时间长，整个开机时间平均需要两分钟以上，影响使用体验。 解决方式：经与中兴方面联系人沟通后得知本次的虚拟机配置专为测试使用，故虚拟机使用的是30GB SATA硬盘，空间较小，I/O速度较慢，导致虚拟机开机速度达不到期待。在商业使用中会开放更大的硬盘空间，并在服务器端配备I/O速度更快的SSD硬盘，开机时长明显的缩短。 2.2 软件兼容性问题 为配合好视通视频会议系统的使用，此次测试在虚拟机上安装了摄像头，先后使用过罗技、大华、奥尼三种品牌的摄像头，安装驱动后测试可用。但是在不关闭云终端电源的情况下，重启虚拟机后摄像头驱动需要重新加载，否则无法正常使用。 解决方式：此问题已经与中兴方面联系人沟通，对方表示这是软件兼容性方面的问题，会在后续改进中对系统进行修正，完善该方面的纰漏。对方另外指出，对某些由使用者自行开发的软件或硬件驱动程序，可能会出现兼容性方面的问题，在使用中需避免发生此类情况。 2.3 网络不稳定问题 在虚拟机使用过程中，网络状况指示器显示网络状况时好时坏，网络连接状况不稳定，偶尔还有因为网络延迟过大导致虚拟机画面跳出到云终端资源池界面的情况。 解决方式：为了尽可能的减少测试环境对测试结果的影响，更换网络接入方式并多次测试后，网络连接状况差的问题仍没有解决。与中兴方面联系人沟通得知，此问题是因为中兴将测试服务器设置在公网上，并且未设置专用VPN，故导致网络波动，在实际的商业使用过程中，服务器一般是建立在私有的机房中，网络环境较为良好，所以不会出现严重的网络波动问题。

信号完整性分析实验报告_西电李玉山,路建民老师

实验一反弹图像的仿真 一、实验原理 1.信号振铃 如果信号传输过程中感受到阻抗的变化，就会发生信号的反射。这个信号可能是驱动端发出的信号，也可能是远端反射回来的反射信号。根据反射系数的公式，当信号感受到阻抗变小，就会发生负反射，反射的负电压会使信号产生下冲。信号在驱动端和远端负载之间多次反射，其结果就是信号振铃。大多数驱动源的输出阻抗都很低，如果输出阻抗小于PCB走线的特性阻抗，那么在没有源端端接的情况下，必然产生信号振铃。 信号振铃的过程可以用反弹图来直观的解释。假设驱动端的输出阻抗是10欧姆，PCB走线的传输延时为1ns，且特性阻抗为50欧姆（可以通过改变PCB走线宽度，PCB走线和内层参考平面间介质厚度来调整），为了分析方便，假设远端开路，即远端阻抗无穷大。驱动端传输1V电压信号。反弹图见图一所示。 图一利用反弹图分析分析多次反射和远端接收器的时变电压 第1次反射：信号从驱动源内部发出，经过10欧姆输出阻抗和50欧姆PCB特性阻抗的分压，实际加到PCB走线上的信号电压为1*50/(10+50)=0.84V。传输到线末端，由于线末端开路，阻抗无穷大，反射系数为1，即信号全部反射，反射信号也是0.84V。此时线末端测量电压是0.84+0.84=1.68V。 第2次反射：0.84V反射电压回到源端，阻抗由50欧姆变为10欧姆，反射系数为-0.67，发生负反射，源端反射电压为084×（-0.67）=-0.56V，该电压到达线末端，再次发生反射，反射电压-0.56V。此时线末端测量电压为2×0.84+2×（-0.56）

=0.56V。 第3次反射：从线末端反射回的-0.56V电压到达源端，再次发生负反射，反射电压为0.38V。该电压到达线末端再次发生正反射，反射电压0.38V。此时线末端测量电压为0.56+0.38+0.38=1.32V。 同样会发生第四次反射，第五次反射……如此循环，反射电压在源端和远端之间来回反弹，而引起线末端电压不稳定。观察线末端电压：1.68V，0.56V，1.32V……，可见线末端电压会有上下波动，这就是信号振铃，如图二所示。 图二传输线远端的电压波形 2.信号振铃的消除 振铃是由源端和远端的阻抗突变，两端之间不断往复的多次反射引起的，所以如果能至少在一段消除反射，就可以减小振铃噪声。控制传输线一端或两端的阻抗从而减小反射的方法称为传输线的端接。典型的方法是在重要位置上放置一个或多个电阻，例如端接匹配负载电阻的方法，可以有效去除信号振铃，能使信号的结果波形非常平滑从而避免的信号完整性问题的出现。 二、实验目的 本实验的目的是针对课本8.5节和8.10节讲述的信号振铃现象如何产生以及如何防止振铃现象作实验验证，同时加深对信号振铃现象如何产生以及预防的理解，以期对信号振铃有一个更加直观深刻的认识。同时更进一步的熟悉仿真环境的使用。 三、实验设置 点击File > New LineSim Schematic>Cell-Based 1. 信号发送端和接收端选择 在输入输出上点击右键，再点击Select IC Model：