文档库

最新最全的文档下载
当前位置:文档库 > JTAG技术

JTAG技术

20针JTAG接口定义引脚说明
什么是jtag接口
JTAG(Joint Test Action Group ,联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议,主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试, JTAG 技术是一种嵌入式调试技术,它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP ( Test Access Port ,测试访问口),通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议,如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线: TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ,分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起,形成一个 JTAG 链,能实现对各个器件分别测试。 JTAG 接口还常用于实现 ISP ( In-System Programmable 在系统编程)功能,如对 FLASH器件进行编程等。
通过 JTAG 接口,可对芯片内部的所有部件进行访问,因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前 JTAG 接口的连接有两种标准,即 14 针接口和 20 针接口,其定义分别如下所示。

14 针JTAG 接口定义:
14 针 JTAG 接口定义引 脚 名 称 描 述
1 、 13               VCC 接电源
2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14    GND 接地
3  nTRST             测试系统复位信号
5  TDI              测试数据串行输入
7  TMS              测试模式选择
9  TCK              测试时钟
11 TDO              测试数据串行输出
12 NC               未连接


20 针 JTAG 接口定义引 脚 名 称 描 述

1 VTref             目标板参考电压,接电源
2 VCC               接电源
3 nTRST              测试系统复位信号
4、6、8、10、12、14、16、18、20  GND 接地
5 TDI               测试数据串行输入
7 TMS               测试模式选择
9 TCK               测试时钟
11 RTCK              测试时钟返回信号
13 TDO               测试数据串行输出
15 nRESET             目标系统复位信号
17 、 19 NC            未连接

下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口:
在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下,可通过JTAG 接口调试S3C4510B,在系统上电前,首先应检测JTAG 接口的 TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO 信号是否已与 S3C4510B 的对应引脚相连,其次应检测 S3C4510B 的 nEWAIT 引脚( Pin71 )是否已上拉, Ext

免费下载Word文档免费下载: JTAG技术

(共3页)