颅面结构模板分析法的研究与应用

颅面结构模板分析法的研究与应用

杨梓;吕婴

【期刊名称】《北京口腔医学》

【年(卷),期】2008(016)003

【摘要】X线头影测量技术是研究颅面部生长发育和牙颌畸形机理的重要手段,传统的测量分析方法多限于测量局部的角度和线距值,而颅面结构模板分析法因其形象、直观、整体、快速的反映颅面部各部分结构的比例关系,广泛应用于临床,本文就颅面结构模板分析法的研究与应用进行综述.

【总页数】2页(177-178)

【关键词】颅面部生长发育;结构模板;X线头影测量技术;牙颌畸形;比例关系【作者】杨梓;吕婴

【作者单位】100050,首都医科大学附属北京口腔医院正畸科;100050,首都医科大学附属北京口腔医院正畸科

【正文语种】中文

【中图分类】R78

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