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膜厚测量

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。

覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。

采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

测量原理与仪器

一．磁吸力测量原理及测厚仪

永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。

这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。

二．磁感应测量原理

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆

层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。

磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。

本公司生产的TM1200F涂层测厚仪属此类产品。

三．电涡流测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍

（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

本公司生产的TM1200NF涂层测厚仪属此类产品。

影响测量精度的原因

1. 基体金属的导磁率和电导率对测量有影响；可直接用未涂(镀)的被测零件或去除涂(镀)层的被测零件作为基板进行校准，可消除影响;

2. 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响；可直接用小于临界厚度的被测零件作为基板进行校准，可消除影响;

3. 测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的；可直接在被测位子进行校准，可减少影响;

4. 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大; 可直接在被测位子进行校准，可减少影响;

5. 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;

6. 测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。

光学膜厚测量仪

Filmetrics光学膜厚测量仪产品名称: Filmetrics光学膜厚测量仪产品型号: F20、F30、F40、F50、F70、F10-RT、PARTS 产品展商: 岱美有限公司简单介绍美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。 Filmetrics光学膜厚测量仪的详细介绍其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovolt aics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如: 半导体工业: 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业: 间距(cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。光电镀膜应用: 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择: F20 : 这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。 F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。

湿膜厚度测试仪

OUPU 湿膜厚度测试仪使用说明书

基本概述湿膜测厚仪又叫湿膜测厚规、湿膜测试仪、湿膜检测仪、湿膜厚度测量仪、湿膜测厚仪厂家、湿膜测厚仪价格、梳式湿膜测厚仪、湿油漆测厚仪、湿涂层如何检测、湿膜卡、湿膜片、湿膜厚度卡具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

欧谱梳式湿膜厚度规是测量色漆、清漆等各种涂料湿膜涂刷厚度的测量工具，数值以微米(m m)表示。湿膜厚度规适用于平整的基板上，测量精度高。本厚度量程为10～100m m、20～200m m、250～700m m、50～750m m、50～950m m、25～2000m m、25～3000m m七种规格供选择，以适应不同行业的需要。使用方法：各种涂料施工后，立即将湿膜厚度规稳定垂直的放在平整的湿膜涂层表面，将湿膜厚度规从湿膜中移出，即可测得湿膜涂层的厚度。湿膜厚度应是在被湿膜浸润的那个最短的齿及邻近那个没有被浸到的齿之间。以同样方式在不同的位置再测取两次，以得到一定范围内的代表性结果。使用完毕后，将湿膜厚度规洗净、揩干。

电镀层膜厚测试仪

OU3500 电镀层膜厚测试仪使用说明书

基本概述电镀层膜厚测试仪又叫膜厚仪、膜厚测试仪、镀铬层测试仪、锌层膜厚测试仪、镀锌层膜厚仪、电镀铬层测厚仪，镀铬测厚仪，铬层厚度测试仪，数字式铬层测厚仪、电镀镀层测厚仪、热镀锌锌层测厚仪、镀锌层测厚仪、镀锌厚度检测仪、电镀涂层测厚仪、镀涂层测厚仪价格、两用型涂层测厚仪、镀层涂层测厚仪、涂层厚度测厚仪、便携式涂层测厚仪、数字式涂层测厚仪、两用涂层测厚仪、油漆涂层测厚仪、铁基/非铁基涂层测厚仪、电子涂层测厚仪、非磁性涂层测厚仪、涂层镀层测厚仪、高精度涂层测厚仪、表面涂层测厚仪、漆膜厚度测量仪是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。

附表一：功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头（F1/N1)：0 1250μm 测量精度±（3%H+1）μm（零点校准）±（1%H+1）μm（二点校准）统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计500个测量值零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√ 标准配置主机、F1探头、基体、校准片、说明书、包装箱主机、N1探头、基体、校准片、说明书、包装箱 F1(N1)探头、基体、校准片、说明书、包装箱选配件F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、通讯软件

漆膜测厚仪

OU3500 漆膜测厚仪使用说明书

基本概述漆膜测厚仪又叫干漆膜测厚仪、干油漆漆膜测厚仪、漆膜测厚仪价格、油漆漆膜涂层测厚仪、漆膜厚度测厚仪、漆膜厚度检测仪、干漆膜测厚仪价格、漆膜涂层测厚仪、油漆漆膜涂层测厚仪、玻璃鳞片防腐层测厚仪、玻璃鳞片涂层测厚仪、玻璃片涂层测厚仪、防腐磷片测厚仪、电镀镀层测厚仪、热镀锌锌层测厚仪、镀锌层测厚仪、镀锌厚度检测仪、电镀涂层测厚仪、镀涂层测厚仪价格、两用型涂层测厚仪、镀层涂层测厚仪、涂层厚度测厚仪、便携式涂层测厚仪、数字式涂层测厚仪、两用涂层测厚仪、油漆涂层测厚仪、铁基/非铁基涂层测厚仪、电子涂层测厚仪、非磁性涂层测厚仪、涂层镀层测厚仪、高精度涂层测厚仪、表面涂层测厚仪、漆膜厚度测量仪是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。

几种测厚仪的测量方法及原理

在有关国家和国际标准中，对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，统称为覆层（coating）。在加工工业、表面工程质量检测中，对覆层的厚度检测是检验产品优等质量标准的重要环节和必备手段。风速仪覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。随着科学技术的进步，对覆层厚度的测量的技术也随之进步。特别是近年来引入微机技术后，采用先进的磁性法和涡流法的测厚仪进行覆层厚度的检测。此类测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率有了大幅度的提高，测量分辨率已达0.1微米，精度可达到1%。下面分别介绍磁性法和涡流法的测厚仪的原理。一．磁吸力测厚仪的测量原理永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。二．磁感应测厚仪的测量原理采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。

新型非接触式在线涂层测厚技术与传统膜厚仪对比研究

新型非接触式在线涂层测厚技术与传统膜厚仪对比研究精准把控喷涂工艺的每个环节，对于稳定工艺质量十分重要。例如建筑型材生产厂家需要持续有效控制铝型材表面涂层厚度手段，避免造成产品色差，遮盖力不够，漆膜柔韧性差导致冲击实验不通过，桔皮或严重肌状皱纹等质量缺陷。喷涂厂家需要借助可靠的测厚方法检测产品表面涂层厚度，同时对工艺流程进行统计及溯源，才能有效及时发现生产过程哪个环节出现问题（如喷枪堵塞、没有调整好喷粉设备参数），并在出现生产缺陷前找出形成的原因及解决方法，降低因膜厚不良导致的返工，提升生产速度和品质，这正是保证铝型材表面粉末喷涂质量的关键。市面上多种测厚技术一、接触式涡电流原理膜厚仪采用接触式电磁感应或涡流法膜厚仪操作简易，价格便宜，但也存在不少局限性。例如需等待膜层干燥后再测试，无法在喷涂/涂布后马上得知干膜厚度；无法测试曲面、弯角、小零件等复杂形状；不能在生产线上在线测试；受底材的种类限制，很多材料不适用。二、破坏式测厚仪测量非金属底材涂层厚度——采用DIN EN ISO 2808标准提及到的楔形切割法；DIN 50950标准提及到的横切法。但此类方法需要破坏漆膜，损伤工件。测量数值受人为操作影响较大。三、非接触无损涂层厚度的测试方法 1）瑞士Coatmaster 实时在线非接触无损热测法 Coatmaster非接触式测厚系统利用涂层与底材之间的热性能差异来实现非接触无损测量涂层厚度，首先用计算机控制闪光灯对未固化的漆膜进行短暂脉冲加热。高速红外传感器记录下涂层表面随时间变化的温度，表面温度根据涂层厚度和热性能以特征动态进行衰减。利用专门开发的算法评估表面的动态温度分布情况，最后可以定量确定涂层厚度。测量原理图解见右图，安全、简单、快速且精确测量多层涂料厚度，实现在喷涂工艺中进行非接触式无损测量。对人体无害。 2）β辐射的反向散射

XRF仪器的比较表

XRF 仪器的比较表各品牌纳优天瑞华唯产品型号NaU-NDA200 EDX1800B UX-220 产品类型台式台式台式测试元素的范围Na-U K~U Na-U 检测下线2ppm 资料显示可达1ppm，实际为2ppm左右 5ppm 重现性非常好一般塑料类物品可以，但金属稳定性就差，特别是对于焊锡类含铅测试时间100-400秒200-400秒200-400秒仪器操作的难易简单清晰易操作简单简单制冷方式电子式+三维风扇制冷系统电子式电子式电子制冷只是将热量散到检测器的表面，但整体检测器表面会非常的热，因此检测器会因为导热不充分而使得测试结果变得不稳定，所以电子式的仪器一直没有办法让仪器的重现性变得稳定，电子式的仪器也就会会出现测试结果时大时小的问题.我公司采用的三维风扇制冷系统方法，主要用在光管和检测器,能使仪器内部元器件达到制冷和恒温状态，同时保证仪器不受潮湿空气的影响，所以仪器的稳定性和重现性会最好。测试结果稳定且精准稳定对添加特殊元素的材质测试不准确检测的方法基本参数法，经验系数法，理论 α系数法经验系数法基本参数法探测器电制冷Si-PIN探测器 : 美国Amptek 公司生产，分辨率为：149±5ev OEM代加工，分辨率为：165±5ev Si-PIN探测器

产品型号NaU-NDA200 EDX1800B UX-220 高压原装美国spellman公司生产OEM代加工国内组装X光管型号侧窗Mo靶铍窗口Mo靶玻璃窗口Mo靶玻璃窗口第三方检测报告 CMA，CESI，CNAS，ilac-mra四家国家实验室联合认证检测报告无无X光管寿命设计大于30000小时设计大于15000小时设计大于15000小时电脑配置宏基其它品牌其它品牌报表功能Excel/Word/PDF依据客户要求可以单独设计报告格式固定Word格式Excel/Word格式摄像功能130万相素高清晰CCD摄像功能有，但不清晰。30万相素内建，较清晰仪器的膜厚测试金属镀层和膜厚测试有膜厚测试功能有，但根据客户反映基本没用售后服务的响应省内24小时响应，36小时到达。省外 24响应，72小时到达。响应速度慢并且保修期收费情况时常发生响应速度慢售后服务的标准完善的售后服务流程且完全为客户考虑，可写进合同。利润最大化完善仪器的售后服务两年免费保修，保修期外只收取零件费用三年有偿保修包括人工二年保修仪器操作的方便性可以做到全鼠标操作，大部分功能已经内设好,一般2小时培训就能顺利操作操作多，需要了解很多的设定,培训周期长操作多，需要了解很多的设定, 培训周期长

台阶仪测试薄膜厚度实验

东南大学材料科学与工程实验报告学生姓名班级学号实验日期2014.9.5 批改教师课程名称电子信息材料专业方向大型实验批改日期实验名称台阶仪测试薄膜厚度实验报告成绩一、实验目的：掌握测试薄膜厚度原理和方法，了解台阶仪操作技术。二、实验原理： LVDT是线性差动变压器的缩写，为机电转换器的一种。利用细探针扫描样品表面，当检测到一个高度差别则探针做上下起伏之变化，此变化在仪器内部的螺旋管先圈内造成磁通量的变化，再有内部电子电路转换成电压讯号，进而求出膜厚。LVDT线性位置感应器，可测量的位移量小到几万分之一英寸至几英寸。 LVDT的工作原理是由振荡器产生一高频的参考电磁场，并内建一支可动的铁磁主轴以及两组感应线圈，当主轴移动造成强度改变由感应线圈感应出两电压值，相比较后即可推算出移动量。三、实验步骤：（1）开机准备（2）放置样品（3）参数设置（4）扫描结果分析（5）数据保存四、实验内容： Si基底上沉积金属Cr薄膜的厚度的测量五、实验结果与分析：样品：硅片上镀铬薄膜；实验参数：长度1000μm；持续时间40s；针压力3mg；表面轮廓是Hills and Valleys.

由实验曲线及数据，可得薄膜厚度约为（868.8-617.0）=251.8μm。六、思考题： 1、对于用台阶仪对非完美薄膜的厚度测量，Step Hight的M和R Cursor点的选择？两个点分别选在图线中的拐点处，这样倾斜的曲线会水平，比较容易得到薄膜的厚度 2、怎么样才能得到一个比较shape的台阶？在制备时在衬底上覆盖一个形状规则比如长方形的陪片，且覆盖片要尽量薄，边缘应整齐，这样产生的台阶才会陡峭，方便测量

膜厚测试仪操作指导书

膜厚测试仪操作指导书更多免费资料下载请进：https://www.wendangku.net/doc/fc8096363.html,好好学习社区

膜厚测试仪操作指导书一．目的：规范作业人员操作此仪器的正确性，确保测试的准确性及作好仪器的保养。二．范围：各种电镀产品金属镀层的厚度。三．作业内容： 3.1.开机顺序：开启电脑→开启X-RAY电源开头（POWER）→开X-RAY V3专业测试软件。输入密码T后，按OK，此后待电压升至47.1KV后会自动进入软件。 3.2.关机顺序：退出X-RAY V3专业测试软件，点击主窗口的关闭键，等电压降至OK V，软件界面会随即关闭→关测试仪→关电脑。 3.3.每天开机后，先预热半小时。 3.4.预热时间满足后，点选出System Adjust窗口，用定位片放在镜头下，按下START. 每天需做此动作，且在一定的时间段后软件会自动弹出System Adjust窗口，这时，必须重复定位的动作，在测试产品之前，必先保证测试的准确性，这就需要先测量膜厚标准块，测试数据在允许误差范围内（Sn 5% Ni5% Au5%）方可进行产品的测量。 3.5.测量产品，确定产品的底材及镀层元素，选择对应的测量程序。时间10～30/S 为宜，金层应选择上限时间。所测产品的面要尽可能的平整，以免出现较大误差。 3.6.保存测试报告，在设定报告界面上，输入产品的信息，而后选择导出BMP图，也可直接打印。四.注意事项： 4.1.放置产品和聚焦时勿触碰到镜头，且在移动测量台面当仪器报警时，说明所移动方向的位移已到极限，此时应立即朝反方向移动。 4.2.发现有问题及需建测量程序时，应立即通知道厂商过来解决。

膜厚仪什么牌子好

OU3500 膜厚仪什么牌子好使用说明书

基本概述涂层测厚仪又叫电镀涂层测厚仪、涂层厚度测试仪、便携式涂层测厚仪、高精度涂层测厚仪、涂层检测仪、涂层厚度测试仪、涂层测厚仪价格、涂层测厚仪厂家、磷化膜检测仪、磷化膜测试仪、磁阻法磷化膜测厚仪、磁阻法镀层测厚仪、磁性磷化膜测厚仪、磁阻法测厚仪、磁式测厚仪、磁感应测厚仪、磁性覆层测厚仪、磁性镀层测厚仪、磁性涂层测厚仪价格、油漆镀层测厚仪、油漆覆层测厚仪、油漆涂层测厚仪厂家、油漆涂层测厚仪价格、油漆涂层测试仪、油漆涂层检测仪、电泳镀层测厚仪、电泳漆覆层测厚仪、电泳漆漆膜测厚仪、电泳漆厚度测试仪、涂镀层测量仪、电镀层测试仪、防腐层检测仪、涂镀层测试仪、涂镀层测量仪、油漆测厚仪价格、油漆层测厚仪、油漆膜厚仪、钢结构油漆层测厚仪、钢板油漆测厚仪、钢管油漆测厚仪、油漆防腐层测厚仪、油罐防腐层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

附表一：功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头（F1/N1)：0猇1250μm 测量精度±（3%H+1）μm（零点校准）±（1%H+1）μm（二点校准）统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计500个测量值零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√ 标准配置主机、F1探头、基体、校准片、说明书、包装箱主机、N1探头、基体、校准片、说明书、包装箱 F1(N1)探头、基体、校准片、说明书、包装箱选配件F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、通讯软件

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率 □实验背景介绍椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法，其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。椭圆偏振测量的应用范围很广，如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等，也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。结合计算机后，具有可手动改变入射角度、实时测量、快速数据获取等优点。 □实验原理在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后，光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常，设介质层为n1、n2、n3，φ1为入射角，那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉，如图(1-1) 图(1-1) 这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差，其中δ=2πdn2cosφ2/λ ，用r1p、r1s 表示光线的p分量、s分量在界面1、2间的反射系数，用r2p 、r2s表示光线的p分、s分量在界面2、3间的反射系数。由多光束干涉的复振幅计算可知：其中Eip和Eis 分别代表入射光波电矢量的p分量和s分量，Erp和Ers分别代表反射光波电矢量的p分量和s分量。现将上述Eip、Eis 、Erp、Ers四个量写成一个量G，即：我们定义G为反射系数比，它应为一个复数，可用tgψ和Δ表示它的模和幅角。上述公式的过程量转换可由菲涅耳公式和折射公式给出： G是变量n1、n2、n3、d、λ、φ1的函数(φ2 、φ3可用φ1表示) ，即ψ=tg-1f，Δ=arg| f |，称ψ和Δ为椭偏参数，上述复数方程表示两个等式方程： [tgψe iΔ]的实数部分= 的实数部分 [tgψe iΔ]的虚数部分= 的虚数部分若能从实验测出ψ和Δ的话，原则上可以解出n2和d (n1、n3、λ、φ1已知)，根据公式(4)~(9)，推导出ψ和Δ与r1p、r1s、r2p、r2s、和δ的关系：由上式经计算机运算，可制作数表或计算程序。这就是椭偏仪测量薄膜的基本原理。若d是已知，n2为复数的话，也可求出n2的实部和虚部。那么，在实验中是如何测定ψ和Δ的呢？现用复数形式表示入射光和反射光：

湿膜厚度测试方法

OU3410 湿膜厚度测试方法使用说明书

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