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一种数模混合芯片的可测性设计和实现

一种数模混合芯片的可测性设计和实现

张瑾;秦盼;余向阳;

【期刊名称】《集成电路通讯》

【年(卷),期】2016(034)004

【摘要】一种数模混合芯片通过在芯片设计过程中,增加了可测性设计,使得芯片建立故障的敏感化通路,观测到芯片对于激励的响应,从而判断电路是否存在故障。根据芯片各个模块的特性,采用不同的可测性方法对其进行具体设计,数字部分采用SCAN的测试方式进行可测性设计,内部的存储器采用MBIST的测试方法、并通过流片后使用测试台对芯片进行测试,对可测性设计进行了验证。

【总页数】6页(P.22-27)

【关键词】SoC;可测性设计;测试向量

【作者】张瑾;秦盼;余向阳;

【作者单位】中国兵器工业第214研究所,苏州215163;

【正文语种】英文

【中图分类】TN407

【相关文献】

1.一种数模混合32 bit SoC功能验证平台的设计 [J], 虞致国; 魏敬和

2.一种数模混合SoC设计协同仿真的验证方法 [J], 金肖科; 凌明; 茆邦琴

3.一种数模混合IC的版图设计 [J], 吕江平

4.一种专用MCU芯片可测性设计的实现 [J], 孙艺; 汪东旭

5.一种数模混合式多功能块的初步研究 [J], 钱启森