ASD光谱仪使用

相对反射率测量（reflection）

1、开机，打开R3软件，确认是否联网

2、打开“Control”菜单的“spectrum save”选项，设置参数

3、打开Control菜单的Adjust Configuration选项，设置参数

4、将光谱仪（安装或者未安装镜头）对准白板

5、点击OPT图标优化光谱仪的积分时间

6、点击WR图标，仪器会自动重新采集暗电流，几秒钟之后界面上显示一条反射率数值为

1.00的平直线

7、按空格键存储当前的光谱曲线（白板）。按下空格键后能够听到提示音

8、把光谱仪光纤瞄准目标地物，此时界面上显示的就是相对反射率光谱线

9、按空格键存储当前的光谱曲线（目标地物）。按下空格键后能够听到提示音

辐亮度测量（radiance）

1、开机，打开R3软件，确认是否联网

2、打开“Control”菜单的“spectrum save”选项，设置参数

3、打开Control菜单的Adjust Configuration选项，设置参数

4、将光谱仪（安装或者未安装镜头）对准白板

5、点击OPT图标优化光谱仪的积分时间

6、点击DC，消除暗电流

7、点击RAD图标，选择Radiance

8、按空格键即存储测量得到的辐射度光谱（白板）

9、将镜头移到测量目标上

10、按空格键即存储测量得到的辐射度光谱（地物）

DN值测量（raw DN）

1、开机，打开R3软件，确认是否联网

2、打开“Control”菜单的“spectrum save”选项，设置参数

3、打开Control菜单的Adjust Configuration选项，设置参数

4、将光谱仪（安装或者未安装镜头）对准白板

5、点击OPT图标优化光谱仪的积分时间

6、点击DC消除暗电流

7、按空格键即存储测量得到的辐射度光谱（白板）

8、将镜头移到测量目标上

9、按空格键即存储测量得到的辐射度光谱（地物）

注意事项

1、保存数据时界面是否提示出现饱和。如果出现饱和则存储数据前必须重新优化后再测量

2、在每次更换目标，采集光谱数据之前都要重新优化，或者15分钟优化一次

荧光光谱分析仪工作原理

X 荧光光谱分析仪工作原理 用x 射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长得荧光x 射线，需要把混合得x 射线 按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能虽:）得X 射线得强度，以进行左性与定疑 分析，为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。由于X 光具有一泄波长，同时又有一立能量, 因此，X 射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型与能量色散型。下图就是这两类仪器 得原理图. 用X 射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长得荧光X 射线，需要把混合得X 射 线按波长（或能疑）分开，分别测量不同波长（或能量）得X 射线得强度，以进行定性与左疑 分析，为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。由于X 光具有一左波长，同时又有一左能量， 因此，X 射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型与能量色散型。下图就是这两类仪器 得原理图。 （a ）波长色散谱仪 （b ）能虽色散谱仪 波长色散型和能量色散型谱仪原理图 现将两种类型X 射线光谱仪得主要部件及工作原理叙述如下: X 射线管 酥高分析器 分光晶体 计算机 再陋电源

丝电源 灯丝 电了悚 X则线 BeiV 輪窗型X射线管结构示意图 两种类型得X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源?上图就是X射线管得结构示意图。灯丝与靶极密封在抽成貞?空得金属罩内，灯丝与靶极之间加高压（一般为4OKV）, 灯丝发射得电子经高压电场加速撞击在靶极上，产生X射线。X射线管产生得一次X射线, 作为激发X射线荧光得辐射源.只有当一次X射线得波长稍短于受激元素吸收限Imi n时，才能有效得激发出X射线荧光?笥？SPAN Ian g =EN-U S >lmin得一次X射线其能量不足以使受激元素激发。 X射线管得靶材与管工作电压决立了能有效激发受激元素得那部分一次X射线得强度。管 工作电压升高，短波长一次X射线比例增加，故产生得荧光X射线得强度也增强。但并不就是说管工作电压越髙越好，因为入射X射线得荧光激发效率与苴波长有关，越靠近被测元素吸收限波长，激发效率越髙。A X射线管产生得X射线透过彼窗入射到样品上, 激发岀样品元素得特征X射线，正常工作时，X射线管所消耗功率得0、2%左右转变为X 射线辐射，其余均变为热能使X射线管升温，因此必须不断得通冷却水冷却靶电极。 2、分光系统 第?准讥器 平面晶体反射X线示意图 分光系统得主要部件就是晶体分光器，它得作用就是通过晶体衍射现彖把不同波长得X射线分开.根据布拉格衍射左律2d S in 0 =n X ,当波长为X得X射线以0角射到晶体，如果晶面间距为d,则在出射角为0得方向，可以观测到波长为X =2dsi n 0得一级衍射及波长为X/2, X /3 ------ ―等髙级衍射。改变（）角，可以观测到另外波长得X

HORIBAFL-3000FM4荧光光谱仪操作说明解读

设备名称荧光光谱仪 设备型号HORIBA FL-3000/FM4-3000 设备操作规范: 一、开机前准备: 1、实验室温度应保持在15℃~30℃之间,空气湿度应低于75%。 2、确认样品室内无样品后,关上样品室盖。 二、开机 3、打开设备电源开关(氙灯自动点亮,预热20min; 4、打开计算机,双击桌面上的荧光光谱软件,进入工作站,等待光谱仪自检。 三、装样: 5、将样品处理为粉末状,装入样品槽,为防止样品脱落,可加盖载玻片;将样品槽装入样品室,盖好样品室盖子。 四、测试发射光谱: 6、点击菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Emission”。 7、设置单色器(M:设置激发光波长(如460nm、发射波长扫描范围(如470nm-700nm和狭缝宽度(一般可设置1-5nm,荧光强度强,狭缝宽度要调小。 8、设置检测器(Detector:Formulars选择公式S1。 9、点击右下角“RUN”开始测量; 五、测试激发光谱:

10、点击菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Excitation”。 11、设置单色器(M:设置监测波长(如625nm、发射波长扫描范围(如380nm-500nm和狭缝宽度(一般可设置1-5nm,荧光强度强,狭缝宽度要调小。 12、设置检测器(Detector:Formulars选择公式S1/R1。 13、点击右下角“RUN”开始测量。 六、测试量子产率: 14、线缆连接积分球:将积分球有指示箭头的一端连接激发口,另一端连接发射。 15、装样:将样品处理为粉末状,装入标准白板样品槽,并加盖石英片;将样品槽装入积分球样品台,先推上层样品台,卡好后,推入下层样品台。 16、点击软件菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Emission”。 17、设置单色器(M:设置激发光波长(如460nm、扫描范围(如380nm-700nm和狭缝宽度(一般设置1nm。 18、设置检测器(Detector:选中暗电流选项和Correction S1选项,Formulars选择公式S1c,积分时间设置为1s(时间设置越大,扫描越慢。 19、点击右下角“RUN”开始扫描。 20、测试空白样品。测试方法如16-19,样品台内放置标准白板。 21、计算量子产率:点击“QY”按钮,在出现的对话框中设置如下参数:○1找校正谱(在D盘下“校正谱图”,选择固体校正谱;○2导入将要计算的样品谱图;○3导入空白样品谱图;○4输入需计算的激发与发射光谱起始与终止波长。 22、点击确定开始计算。

光谱仪使用步骤

一 机器启动 光谱仪启动时注意事项： （1）光谱仪两次开机之间至少应相隔20min ，以防频繁启动烧毁内部元器件 （2）光谱仪背面有5个开关，开机时按照编号1~5依次按下，两开关按下之间应相隔20s 左右。关机时，按照编号5~1依次按下。 图 光谱仪开关 （3）打开氩气阀，使气压保持在0.2~0.4MPa 之间 （4）维持瓶内气压在2~3MPa 以上，若气压低于该值，则应更换新的氩气 二 登陆 1、开机 开机用户名：arlservice 密码：369852147 2、进入OXSAS 系统 账号：（1）!SERVICE! 密码：ENGINEER （2）！MANAGER ！ 密码：无 （3）！USER ！ 密码：无 通常使用“MANAGER ”权限即可 3、检查仪器状态 快捷键F7进入仪器状态检查界面： Electronic HUPS Mains Vacuum Water 权限：由高到低

VACUUM：真空度 SPTEMP：真空室温度 MAINS：电源电压 NEG-LKV：-1000V电源 POS.5V：+5V电源 POS.12V：+12V电源 NEG.12V：-12V电源 POS.24V：+24V电源 NEG.100V：-100V电压 三数据备份及数据恢复 数据备份及恢复分为软件内部操作、软件外部操作。 1、数据备份 （1）软件内部备份：操作页面中选择“脱机模式”，待页面变灰后点击“备份数据”按钮，输入相应的文件名（例如：20101019OXSAS_DB.BAK）以防止将先前数据覆盖，然后点击备份即可。 （2）软件外部备份：退出OXSAS操作系统，进入其相应的数据备份及恢复程序“OXSAS Full Backup Restore”，然后选择“备份数据库”按钮下的“备份”选项即可（系统自动选择路径并生成相应文件名）。 2、数据恢复 （1）软件内部恢复：操作页面中选择“脱机模式”，待页面变灰后点击“恢复数据库”按钮，选择之前备份的数据库，恢复即可。 （2）软件外部恢复：退出OXSAS操作系统，进入其相应的数据备份及恢复程序 “OXSAS Full Backup Restore”，然后点击“恢复数据库”按钮，选择相应数据库，点击“RESTORE”即可。

稳态瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书

稳态/瞬态荧光光谱仪（FLS 920）操作说明书 中级仪器实验室 一、仪器介绍 1.FLS 920稳态/瞬态荧光光谱仪具有两种功能 稳态测量：激发光谱(荧/磷光强度~激发波长)、发射光谱(荧/磷光强度~发射波长)、同步扫描谱(固定波长差、固定能量差、可变角)。 瞬态测量：荧光(磷光)寿命(100ps—10s)。 适合各类液体和固体样品的测试。 2.主要应用 高分子和天然高分子自然荧光的研究 溶液中大分子分子运动的研究 固体高分子取向的研究 高聚物光降解和光稳定的研究 光敏化过程的研究 3.主要性能指标 光谱仪探测范围：(光电倍增管， 190－870nm；Ge探测器，800－1700nm) 荧光寿命测量范围：100ps－10s 信噪比：6000：1(水峰Raman) 可以配用制冷系统，为样品提供变温环境 液氮系统(77K－320K) 使用Glan棱镜，控制激发光路、发射光路的偏振状态 使用450W氙灯和纳秒、微秒脉冲闪光灯做激发光源 F900系统软件：控制硬件，包括变温系统，数据采集、分析

4. 仪器主要部分结构图

5.仪器光路图 二、仪器测试原理(SPC) 时间相关单光子计数原理是FLS920测量荧光寿命的工作基础。 时间相关单光子计数法(time－correlated single photon counting)简称“单光子计数(SPC)法”，其基本原理是，脉冲光源激发样品后，样品发出荧光光子信号，每次脉冲后只记录某特定波长单个光子出现的时间t，经过多次计数，测得荧光光子出现的几率分布P(t)，此P(t)曲线就相当于激发停止后荧光强度随时间衰减的I(t)曲线。这好比一束光(许多光子)通过一个小孔形成的衍射图与单个光子一个一个地通过小孔长时间的累计可得完全相同的衍射图的原理是一样的。

Bruker Q4 TASMAN全谱直读光谱仪使用手册

德国BRUKER公司 Q4TASMAN直读光谱仪用户使用手册

仪器正面视图 仪器日常分析的所有操作均可通过仪器正面的操作按钮实现，由于仪器的简洁以及人性化设计，使得Q8的操作变得异常简单 火花台 火花台是用于样品检测过程中放置样快的地方，Q8的火花台包括： ●气动样品夹，针对不同形状样品，上方固定针可垂直放置或倾斜放置； ●火花台板及火花开口以及下电极。 操作按钮 在Q4仪器正面面板上有三个操作按钮： ?O形图案按钮用于停止某次测量过程，该按钮只在样快前处理不当或在火花台上位置放 置不当的情况下使用，按下该按钮后，屏幕上将不出现分析数据。 ?I形图案按钮用于开始某次测量，该功能也可通过键盘上的F2功能键实现 ?下边旋钮为维护旋钮，当对仪器进行维护时，须将旋钮旋至关闭状态（向左），在该状 态下，仪器将切断高压及火花激发源，只有在所有部件都归位的情况下，才可将维护旋钮打开。 火花台盒

火花台盒位于火花台的下方，通过把手可将火花台盒拉开。这时，可相应的把电极和火花台板松开。若要将其重新关上，只需用力往上推，直到听见清脆的锁紧声为止。 注意：在打开火花台盒之前，请将仪器背面的维修旋钮旋至关闭状态。 仪器背面视图 仪器背面面板包括了主电源开关，维修旋钮，氩气输入输出端等，虽然在日常工作中较少接触仪器背面面板，但为维修方便，请将仪器背面通道让出。 旋钮 在仪器背面面板上，有两个旋钮，分别是电源开关和维修旋钮。在进行仪器维护工作时，请将维修旋钮置于关闭状态，这样将断开高电压及火花激发源。只有在所有部件都归位的情况下，才可将维护旋钮打开。 只有在主电源开关和维护旋钮都开启的状态下，才可进行样快的分析工作。 电源插座 仪器背面的电源插座为计算机、显示器、打印机及其它设备提供电源输出，所借设备的功率不得高于300W。该电源接口不可用于真空净化器、打磨机、车床等高功率设备。 注意：即使仪器开关关闭，接口仍带有230V的电压。 仪器准备 检查氩气输出及压力 对于仪器的日常使用必须确保具有充足的氩气供应，氩气的输出压力应设定为3 bar 假如氩气通过氩气瓶供应的话，钢瓶压力应高于10bar，假如低于这个数值，请及时更换氩气瓶 废气瓶 废气瓶应装3/4左右的水

荧光光谱仪操作规范

XXX有限公司 荧光光谱仪操作规范文件编号 :WI-ZL-389 版本/版次: A/2 页次：1/1 1.目的 为保证使用者正确的操作，以达成仪器之正确使用维护。提高仪器的使用寿命，特制定此规范。 参考资料：《Ux220 WorkStation V6.0使用说明书》 2．使用环境： 温度：15℃-25℃ 湿度：30-80%RH 3．仪器说明： 荧光光谱仪由测试仪主机，电脑及测试软件，测试结果输出的打印机组成。 4. 荧光光谱仪的操作方法： 4.1打开仪器电源：测试主机电源、电脑电源； 4.2开启操作程序Ux220 v6.4； 4.3开机预热：打开“设置X光管”窗口，勾选“打开高压电源”及“慢速升管压管流”，确定即可； 4.4用银校正片进行校正，校正不成功重新校正； 4.5输入样品信息、选择合适基材； 4.6将样品放入样品室，确认样品信息、测量次数无误后点击开始测量； 4.7测量完成输出报告并把报告存档。 5．注意事项： 5.1本仪器只允许经过专业培训并有上岗证的人员操作。 5.2本仪器只能检测均匀且颜色单一的物质，如导线，必须把铜丝与绝缘外皮分别进行检测；必须确保样 品厚度在2-3mm以上，若厚度不足可堆叠数个样品至适当厚度；若粒状样品其粒径大于5mm可直接进行测量，若粒径小于5mm则将样品放置样品杯中，尽量不要留下空隙且样品厚度要有2-3mm。 5.3银片校正时银片金属面朝下。 5.4关机时先降管流管压，再关程序，最后关电源； 5.5“Running”指示灯亮时，禁止打开仪器样品室的盖，以免X射线辐射对人体造成危害。 5.6测试大件样品样品室盖无法关闭时，仪器附件人员必须远离仪器三米以外，待延时灯闪烁10秒后 仪器开始测试，待延时灯（也叫做测量指示灯）熄灭后，人员方可靠近。

AQ6370D光谱仪使用说明

AQ6370D光谱仪使用说明 1、目的 验证光接口性能是否满足相关标准要求 2、适用范围 AQ6370D光谱仪 3、职责 资产管理部和操作人员共同负责 4、组网图或测试环境配置 5、测试内容： 5.1 开机校准 1、打开电源，FC-FC接口的光纤将AQ6370D的光输入连接器与光输出连接器连接起来。 2、用内部参考光源执行对准调节 ①按SYSTEM OPTICAL ALIGNMENT ②按EXECUTE软键，自动执行对准调节。几分钟后，对准调节结束，仪器返回之前的画面。

3、用内置参考光源进行波长校准 ①按SYSTEM WL CALIBRATION 软键。 ②按BUILT-IN SOURCE 软键。 ③按EXECUTE 软键，执行波长校准。校准结束后，返回之前的画面。 5.2 测试条件设置 1、校准完成后，自动扫描，自动调整分辨率，得到波长和功率的大致范围。 ①按SWEEP AUTO 软键执行自动测量。 1 2 3

自动扫描结束后的显示 ②设置扫描范围，按SPAN键。 ③设置参考功率和刻度，按LEVEL键，参考功率设为-3dBm，其他为默认值。

④按SETUP键，设置分辨率为最高精度0.02nm。 ⑤设置灵敏度，模式为MID，其他条件均为默认值。

⑥设置完成开始测试，执行REPEA T重复扫描或者SINGLE单次扫5~10次后，按STOP键，分析并记录数据。 5.3 分析 光猫上电后，用脚本长发光后直接接到测试拓扑中。 1、DFB-LD、FP-LD光源分析 ①按ANAL YSIS，显示与测量波形分析相关的软键菜单 ②按ANAL YSIS 1软键，显示分析功能的选择菜单。 以GPON样机为例，光源类型选择DFB-LD，执行分析，结果显示在数据区域内。 分析： SMSR边模抑制比 PEAK WL峰值波长 20dB WIDTH带宽 CTR WL中心波长 注：功率以实际功率计测试为准

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 11-SampleDef-样品定义

SAMPLEDEF 目录 1 启动 1.1 为什么使用SAMPLEDEF 1.1.1 LOADER 和DEF 文件 1.1.2 使用几个DEF文件 1.1.3 在SPECTRA plus数据里样品定义表的互动1.2 启动SAMPLEDEF 2 使用SAMPLEDEF 2.1 列的管理 2.1.1 创建新列 2.1.2 在列表里工作 2.1.3 设置列的选项 2.2 定义列的类型 2.3 选择数据类型 2.3.1 指定列内容的数据类型 2.3.2 设置为数字数据类型的选项 2.3.3 设置为字符数据类型的选项 2.3.4 设置为组合数据类型的选项 2.3.5 设置为字符串数据类型的选项 3 教材：使用SAMPLEDEF 设置标准样品定义表步骤一启动SAMPLEDEF 步骤二创建位置列 步骤三创建样品列 步骤四创建方法列 步骤五创建SSD-文件列 步骤六创建样品颜色 步骤七创建样品尺寸列 步骤八创建Sample-ID-样品编号列 步骤九创建制样方法列 步骤十创建类型列 步骤十一保存和测试样品定义表 步骤十二从LOADER运行样品定义表 索引

1 启动 1.1 为什么使用SAMPLEDEF 1.1.1 LOADER 和DEF 文件 我们可以通过LOADER程序把样品交付到测量程序。为此，需建立样品与进样器位置、测量程序、样品编号之间的联系，以便日后查询数据。还可以增加其他参数（如样品的稀释比、流水号等等）。在SPECTRA plus，这些样品信息都在SampledDef里定义。 输入界面，即：样品定义表里的各个列，是在扩展名为DEF的文件里定义的。这些DEF文件可以在SAMPLEDEF创建。 1.1.2 使用几个DEF文件 如何建立样品与仪器的联系有很多不同的方法，最简便的方法是接近实验室的实际工作，下面举例说明： 1 样品从不同的工厂送来，并且需要区别，测量方法可以在已建立的方法里选，等等； 2 不同班次的工人用相同的分析方法测量同样的样品，只需要让仪器知道需要测量的样品 在进样器的位置。 当然，很多实验室需要进行上述两样的工作，甚至更多。这就是为什么实验室需要多个样品定义表。 特定的样品定义表（DEF 文件）可以保存选项，从而避免输入错误。如：样品类型强制规定为液体，就可以避免在真空光路测量液体样品。 标准的样品定义表是随SPECTRA plus交付的，（Routine.def 在\Libraries\MeasMethods\）。这个表是通用的表，可以在SAMPLEDEF里进行个性化设定。

AQ6370D光谱仪使用说明

. . AQ6370D光谱仪使用说明 1、目的 验证光接口性能是否满足相关标准要求 2、适用范围 AQ6370D光谱仪 3、职责 资产管理部和操作人员共同负责 4、组网图或测试环境配置 5、测试内容： 5.1 开机校准 1、打开电源，FC-FC接口的光纤将AQ6370D的光输入连接器与光输出连接器连接起来。 2、用内部参考光源执行对准调节 ①按SYSTEM OPTICAL ALIGNMENT ②按EXECUTE软键，自动执行对准调节。几分钟后，对准调节结束，仪器返回之前的画面。

3、用内置参考光源进行波长校准 ①按SYSTEM WL CALIBRATION 软键。 ②按BUILT-IN SOURCE 软键。 ③按EXECUTE 软键，执行波长校准。校准结束后，返回之前的画面。 5.2 测试条件设置 1、校准完成后，自动扫描，自动调整分辨率，得到波长和功率的大致范围。 ①按SWEEP AUTO 软键执行自动测量。 1 2 3

自动扫描结束后的显示 ②设置扫描范围，按SPAN键。 ③设置参考功率和刻度，按LEVEL键，参考功率设为-3dBm，其他为默认值。

④按SETUP键，设置分辨率为最高精度0.02nm。 ⑤设置灵敏度，模式为MID，其他条件均为默认值。

⑥设置完成开始测试，执行REPEAT重复扫描或者SINGLE单次扫5~10次后，按STOP键，分析并记录数据。 5.3 分析 光猫上电后，用脚本长发光后直接接到测试拓扑中。 1、DFB-LD、FP-LD光源分析 ①按ANALYSIS，显示与测量波形分析相关的软键菜单 ②按ANALYSIS 1软键，显示分析功能的选择菜单。 以GPON样机为例，光源类型选择DFB-LD，执行分析，结果显示在数据区域内。 分析： SMSR边模抑制比 PEAK WL峰值波长 20dB WIDTH带宽 CTR WL中心波长 注：功率以实际功率计测试为准

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 3-Getting Started-总体介绍

目录 1 安装SPECTRA plus 2 使用 SPECTRA plus第一步2.1 连接 2.2 无标样测量 2.2.1 预装的测量方法 2.2.2 特殊测量方法 2.2.3 分析结果的重新评估 2.3 绘制校准曲线 2.4 特殊应用 3 登录 3.1 登录的目的 3.2 操作人员管理 3.3 登录和退出 3.4 在不同的Windows 用户中登录

1 安装SPECTRA plus 安装必须在管理员界面里进行。 安装程序需以管理员权限进入，以安装某些动态资料库（DLL 文件），特别是这关系到数据库的管理，和某些注册钥匙，如在.DEFAULT 文件夹。 如果没有进入管理员界面，请询问网络管理员取得此资格。 安装时，请参考”Installation notes”（它是与SPECTRA plus分开的另一文件），和安装光盘里的READMEFIRST.TXT 文件、INSTALLATION.PDF 文件。 安装术语 ? Recalibration data diskette 重校正数据软盘： 是随光谱仪一起交付的软盘，包括与用户光谱仪相对应的特定文件：硬件配置文件和谱线库。在首次安装时必须安装，但不要用于升级：因为在使用了一段时间后，谱线库里会加进用户自己定义的谱线，硬件配置文件也可能进行了修改，如果重新安装时再使用重校正数据软盘里的数据，仪器就回到了出厂时的状态，用户加进去的内容会被删除，。 ? Master diskette 母盘： 是随初始SPECTRA plus软件包一起交付的软盘，内有信用证。在第一次安装时信用证被转移到硬盘。如果您想卸载软件，如，将软件安装至另一台电脑或其他目录，不要忘了把信用证转移回母盘，然后再转安装至其他地方。如果只是软件升级，没有改变目录，建议把信用证留在硬盘以避免误操作。 信用证的管理，见L_WIZARD程序。 快捷键图标程序手册?章 无L_WIZARD.EXE 11 只是在安装或卸载SPECTRA plus软件时才需要转移信用证，在通常情况下不要安装或卸载SPECTRA plus软件，也就不要用L_WIZARD去转移信用证。

(完整word版)ARL3460光谱仪操作说明书

ARL 3460型直读光谱仪操作说明书一．使用前注意事项 1.室内温度控制在22-27摄氏度，门窗一般不开，环境保持稳定且恒 温，保持室内处于无尘环境； 2.室内湿度控制在20%-80%以内，湿度太大时会影响试验结果； 3.总电源开关有断电保护功能，应对自动跳闸，有保护仪器的功能； 4.开机之前，先检查光谱仪各个开关是处于“开”或“关”什么状 态。如果是开，先依次关机，然后打开总电源开关，再开机； 5.打开稳压器黑色开关后，首先检查输出电压是否为220±5V，其次 检查指针是否稳定； 6.开机必须严格按规定顺序开机，每个开关等待间隔15s左右启动下 一个开关，关机按照开机的反顺序依次关机； 7.电脑的开关机只受稳压器电源开关控制，与仪器5个开关无关； 8.仪器完全冷却，需要一个稳定的过程，所以须在使用前8h开机， 经常使用仪器，则仪器和空调24h开机； 9.更换氩气瓶时，先用无水乙醇将氩气瓶出口擦拭干净，再打开点氩 气将酒精挥发掉后，更换氩气； 10.氩气瓶压强不得低于2Mpa，接近2Mpa时则须更换氩气，不使用 仪器时，将气压表调到0.1Mpa或净化机打到暂停，节约氩气； 11.更换氩气时，不能让空气进到净化机内； 12.打开氩气总开关，将氩气气压调到0.25Mpa-0.3Mpa； 13.制备后的样品，不能沾到水或油，以免影响测试结果，且严重时 会引起火灾； 14.开机后，点击F7查看仪器状态，有没有报警信息；

15.样品需现用现制，以防影响测试结果； 16.当仪器正面黄色罗盘不小心被转动，必须做完标准化，再进行定 量分析； 17.当标准试样用到一半时，应及时向我公司反映并请求订购。二．样品的制备 1.样品制备要求 样品最小体积必须盖住激发台圆口，不能漏出氩气；最大体积必须能在激发台内放的开。样品形状没有要求，不过一般为圆柱形居 多。 试样尺寸要求： 直径D：?20mm≤D≤?60mm；高度H：30mm≤H≤70mm。 2.样品制备过程 取圆柱形铝棒样块，在锯床上锯成正方体，然后用无水乙醇清洗锯割好的样品、车床上的三爪卡盘、刀片等，去除油和杂质， 防止干扰试验结果。在车床上将方形样品车成圆柱状，最后车端面，手不能触碰车好的样品端面，将车好的样品保存到干燥器皿中，以 备试验时使用。 三．光谱仪的组成，用途及分析原理 1.光谱仪组成 氩气净化机一台，稳压器一台，光谱仪一台，电脑一台，主机一 台，打印机一台。

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线

应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线目录 应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线 简介 建立校准曲线 了解校准曲线工具箱 开始作校准曲线 Si KA1 HS-Min的校准曲线 如何检查计算的浓度是否被接受 P KA1-HS-Min 的校准曲线 S KA1 HR-Min的校准曲线 V KA1-HS-Min的校准曲线 Cr KA1-HS-Min的校准曲线 Mn KA1-HR-Min的校准曲线 V KA1 HS-Min的校准曲线 Ni KA1-HS-Min的校准曲线 Cu-KA1-HS-Min的校准曲线 漂移校正/重校正 低合金未知样品的测量 使用Results Monitor功能 监视分析结果 查询结果 转移结果 再评估测量数据 结论

简介 本教学课程包括下列内容，以便使你熟悉制作校准曲线的过程： l建立校准曲线 l组织材料 l输入标准浓度到数据库 l定义测量方法 l了解校准曲线工具 l校准已测量的低合金样品 l用低合金曲线测量未知样品 l使用结果管理器 按照这一部分的介绍，你可以一步一步地制作你的第一条校准曲线。使用一套BCS低合金标样，SPECTRA plus谱线库中预定义的谱线及扫描测量模式，你的任务是绘制低合金样品的校准曲线。由于所有的样品已经在德国Bruker AXS 公司测量过，不需要在你的仪器上进行实际的测量。为了得到所显示的相同结果，必须仔细地按照所有步骤进行。

建立校准曲线 从SPECTRA plus程序或桌面打开Quantification Editor (FQuant) 程序。 图 1 桌面上的Spectra Plus程序文件夹

移动式X射线荧光光谱仪使用说明

移动式X射线荧光光谱仪使用说明 型号规格：EPX-50 生产厂家：美国Innov-X System公司 购置日期：2010年3月 性能指标：本仪器为低能量色散X射线荧光光谱仪，由X光源（X射线光管，Ta(W)阳极，50KV，10W能量）、滤光片（5个滤光片，3光束连续自动测试）、检测器(电制冷的高分辨率Si-Pin检测器，在5.95KeV Mn Kα<190 eV FWHM, 温度范围：-10℃至50℃)组成。适合大规模样品的筛查分析、现场应急污染初步检测和实验室固体样品的定性半定量分析（含量大于0.01%的重元素可以进行定量分析）。 应用范围：可一次分析土壤、沉积物、矿物、淤泥、固体废弃物等固体粉末及金属、合金样品中15P-92U的25个元素，具体为Cr, Pb, As, Hg, Se, Ag, Cd, Ba，Tl, Cu, Zn, Ni, Sb，V, Mn, Fe, Co, Sn, Rb, Zr, Sr, Mo，P, S, Cl, K, Ca。（Na，Mg，Al，Si等轻元素不能检测）。分析速度快，30~120秒内即可完成样品中以上元素的测试。 -1 操作方法： 1、将仪器自带的变压器一端接到220V 电源上，一端接到仪器上，将220伏电 压转换为18伏后打开仪器。 2、输入用户名称和密码进入操作界面。 3、用仪器自带的316合金将仪器标准化，使仪器处于最佳工作状态。 4、样品测试：将固体粉末样品装入不含氯的透明塑料袋内，打开盖子并将样品 袋轻轻放在测试窗上面，关闭样品仓盖，点击Mode选择测量模式(Soil 3 Beam,Mining,Analytical,Soil)，点击start 开始测量。多个样品依次进行测试，数据自动按照标准样式保存，结果显示在电脑屏幕上。 5、数据导出：用格式化的U 盘将测量数据导出，结果还可以报告形式打印出来。

EI操作手册稳态瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书

Edinburgh Instrument FLS920 User Manual

目录 一、开机步骤 (2) 二、实验操作 (4) 1、实验前准备 (4) 2、稳态实验 (6) A、发射光谱实验 (6) B、激发光谱实验 (9) C、同步谱 (10) D、Map (11) E、偏振光谱 (12) 3、低温实验 (17) A、液氮冷却系统(Oxford) (17) B、ARS冷却系统 (19) 4、样品衰减操作 (22) A、纳秒、皮秒级衰减 (22) 纳秒灯为光源 (22) 激光器为光源 (27) B、微妙、毫秒级衰减 (29) 三、数据处理 (32) 1、数据一般处理 (32) 2、稳态光谱 (33) 3、瞬态光谱 (33) 四、附录 (36) 1、氢灯清洗方法 (36)

一、开机步骤 1、打开总电源（开之前保证所有仪器开关关闭） 2、开启PH1 3、开启PMT制冷电源CO1 4、开启光谱仪控制电源CD920（控制盒）或样品室下方的控制板电源 此为控制盒 此为控制板 5、根据需要的光源开启氙灯或是其它灯源电源 此为氙灯电源 此为氢灯电源

6、开启电脑，同时将谱仪样品室上方盖子移开。待进入操作系统后进入F900软件。

二、实验操作 1、实验前准备 在做实验前有几点需要注意： A 、 对于红敏PMT （R928），其制冷必须达到一定温度，一般为室温-40℃左右。待C O 1 显示在-17℃左右的时候，在软件的S i g n a l R a t e 窗口里观察E m 1的C P S 读数显示。 若其读数维持在50C P S 以下，则表明读数正常，P M T 制冷达到工作状态，可以用该探测器进行实验。 Fig.2.1 B 、 对于近红PMT （5509），其必须准备以液氮杜瓦罐（约15升左右），将制冷部件的 管子插入罐中，开启制冷电源 Fig.2.2 制冷电源 杜瓦罐 通气管道

光谱仪的使用方法解析

光度计使用方法 发布者：南京群发分析仪器有限公司发布时间：2008年6月17日 Audo look6.0下载光度计使用方法 使用方法：开机步骤 1 开光谱仪电源 2 开计算机电源 3 在文件管理器中用鼠标指按UV WinLab图标，此时出现UV WinLab的应用窗口，仪器已准备好，可选用适 当方法进行分析操作。 2 方法：在分析中必须对分光光度计设定一些必要的参数，这些参数的组合就形成一个“方法”。Lambda系列UV WinLab软件预设四类常用方法。 1）扫描（SCAN）,用以进行光谱扫描。 2）时间驱动（TIME DRIVER）,用以观察一定时间内某种特定波长处纵坐标值的变化，如酶动力学。 3）波长编程（WP）用以在多个波长下测定样品在一定时间内的纵坐标值变化，并可以计算这些纵坐标值的差或比值。 4）浓度（CONC）用以建立标准曲线并测定浓度。 2.1 进入所需方法，在方法窗口中选择所需方法的文件名。 2.2 方法的设定 2.2.1 扫描、波长编程及时间驱动 各项方法可根据显示的参数表，逐项按需要选用或填入，并可参考提示。 2.2.2 浓度 浓度方法窗口下方标签较多，说明做浓度测定时需要参数较多。用鼠标指按每一标签，可翻出下页，其上有一些需要测定的参数。必须逐页设定。 3 工具条 3.1 SETUP 当所需的各项参数都已在参数中设好后，必须用鼠标指按SETUP，才能将仪器调整到所设状态。

3.2 AUTOZERO 用鼠标指按此键，分光光度计即进行调零（在光谱扫描中则进行基线校正）。 3.3 START 用鼠标指按此键，光度计即开始运行所设定的方法。 4 方法运行 4.1 扫描，时间驱动，波长编程 方法选好后，先放入参比溶液，按AUTOZERO键，进行自自动校零或背景校正结束后再放入样品，按START，分光光度计即开始进行，同时屏幕上出现图形窗口，将结果显示出来。 4.2 浓度 4.2.1制订标准曲线 1 方法选好后，确认各项数据正确，特别是REFS页中第一行要选中右上角的“edit mode”。再放入参比溶液，按AUTOZERO键自动校零或背景校正。 2 按setup,待该图标消失后，再按“start”,按提示依次放入标准色列的各管溶液，每次都按提示进行操作。 3 标准色列测定完毕后，屏幕上出现calibgraphwindow,显示拟合的标准线，并标出各项标准管的位置，屏幕下方还有一条Concentration mode的对话框，可以用来修改拟合的曲线类型（按 change calbration）,或修改标准溶液的任何一管（replace）,或取消某一管（delete）,或增加标准溶液管数（add）。如过已经满意，则按analyse sample键，进入样品测定窗口。 4 标准曲线有关的各项数据，均在calibresultwindow中，可用鼠标将其调出观察。其中包括每个标准溶液的具体数据，标准曲线的回程方程式，相关系数，残差。 4.2.2样品浓度测定 4.2.2.1刚制定好的标准曲线接着进行样品浓度测定时 1 只需在concentration mode对话框按analyse sample键，进入样品测定窗口。 2 按设定的样品顺序放入各样品管，每次按提示进行操作。 3 屏幕上出现结果窗口，结果数据将依次显示在样品表中的相应位置。 4.2.2.2利用原有的标准曲线接着进行样品浓度测定时 4.2.2.2.1 调出所测定样品的浓度方法文件，首先调出refs页，将原设edit mode选项取消，改设左上角的using exiting calibration。重新将方法存盘，则今后再调用时即不需再作修改。

荧光分光光度计的简单使用说明

荧光分光光度计 Fluorescence Spectrometer 国别厂家：日本岛津公司 仪器型号：RF-5301PC 基本原理： 主要技术指标： 灯源：150 W Xe灯 单色器：闪耀式全息光栅，F2.5刻线1300条/mm 波长范围：220 900 nm. 波长精度：±1.5 nm, 分辨率：1.0 nm 狭缝宽:1.5, 3, 5, 10, 15, 20 nm 灵敏度: S/N比150以上（带宽5 nm、水拉曼峰时） 测定方式：荧光光谱测定、定量测定、时间过程测定 软件功能：10通道显示,数据RSC转换, 谱图自动找峰,不同谱图加减乘除, 谱图倒数、导数、常用对数转换等。 主要功能: 固体和液体的激发光谱、发射光谱和同步荧光光谱；荧光物质的定量分析。

使用方法： 1.将荧光光度计的右侧Xe灯开关置于“ON”的位置, 再打开电源开关和电脑电源。 2.双击电脑上的RF-5301PC图标, 静等仪器自检完成,出现喀嚓声后, 显示RF-5301P窗 口。 3.预热：开机预热20分钟后才能进行测定工作。 4.新建文件夹：在Data文件夹里新建本次所做实验的子文件夹 5.启动RF-5301PC后在Acquire Mode中选择欲分析的项目。 6.设定参数：根据测量方式在Configure的Parameter里设定合适的参数。 7.置入样品：将已经装入样品的四面擦净后的石英荧光比色皿放入样品室内试样槽后, 将 盖子盖好。 8.扫描：参数设定完毕后, 点击窗口右下角的“Start”图标,开始扫描, 扫图结束后输入文 件名将文件储存。 9.保存：在“File”中的“Save Channel”对曲线进行保存。 10.转换文件：在“File”的“Data Translation”里单击要转换的“ASCⅡ”格式或者“DIF” 格式。 11.关机：测试完毕后，关闭电脑。之后要先关闭氙灯(Xe灯开关置于“Off”位置), 散热 20分钟后, 再关闭电源开关。 注意事项： 1.开机时，请确保先开氙灯电源，再开主机电源。每次开机后请先确认一下排热风扇工 作正常，以确保仪器正常工作，发现风扇有故障，应停机检查。 2.使用石英样品池时，应手持其棱角处，不能接触光面，用毕后，将其清洗干净。 3.当操作者错误操作或其它干扰引起微机错误时，可重新启动计算机，但无须关断氙灯电 源。 4.光学器件和仪器运行环境需保护清洁。切勿将比色皿放在仪器上。清洁仪器外表时，请 勿使用乙醇乙醚等有机溶剂，请勿在工作中清洁，不使用时请加防尘罩。 5.为延长氙灯的使用寿命, 实验完毕后要先关闭Xe灯, 不关电源主机电源(光度计的右 侧)，等其散热完毕后再关闭电源。

X射线荧光光谱仪操作步骤

1.开机顺序 1.1 打开空压机电源，检查二次压力为5.0bar。 1.2 打开水冷机电源，并调节水流压力至4 bar（4公斤）。 1.3 打开P10气体钢瓶主阀，设定二次压力为0.7-0.8bar。 1.4 如果配置了冲氦系统，打开He气钢瓶，设定二次压力为0.8bar。 1.5 打开主电源开关（配电柜空气开关），使主机处于待机状态。 1.6 按下“POWER ON”开关，使主机处于“开机” 状态。 1.7 开计算机，运行分析软件，用户名及密码为“SUPERQ”。 1.8 打开光谱仪状态图，检查仪器真空度（小于100Pa?），P10气体流量（1L/Min左右）。 1.9 转动HT钥匙，打开高压，仪器自动设定高压为20kv/10mA，同时启动循环水。 A检查水流量，内循环水（3－5L/Min）,外水（1－4L/Min）。 B等待仪器内部温度稳定(30度)后可正常分析。 2. 停机 2.1 逐步降低高压到20kv/10mA(或运行Sleep程序) 。 2.2 等待3分钟后，转动钥匙关闭HT高压。 2.3 关闭SuperQ,使分析软件与主机脱机。 2.4 按下“Standby”开关，仪器处于待机状态。 2.5 如晚上及周末不使用仪器，建议设定高压为20kv/10mA低功率状态, 不要关机。 3. X-Ray Tube 老化 如主机停机超过24小时，需对X-Ray Tube 进行老化处理。

3.1 手动老化 开机后运行TCM2403按以下顺序进行： 20kv/10mA→30kv/10mA→40kv/10mA→40kv/20mA→50kv/30mA→60kv/40mA→60kv/50mA 如停机时间大于24小时小于100小时，每步停留时间为1分钟。如仃机时间大于 100 小时，每步停留时间为5分钟。 3.2 自动老化(Breeding) A.开机后运行TCM2403，如停机时间大于24小时小于100小时，选择“Fast”老化，如停机时间大于100小时，选择“Normal”老化。 B.启动XRF system setup,运行System菜单下的Tube breeding, 如停机时间大于24小时小于100小时，选择“Fast”老化，如停机时间大于100小时，选择“Normal”老化。 C.在光谱仪状态图，以手动方式进行老化。 4. P10气体瓶更换 为了防止气瓶内的杂质进入分析仪, 建议在瓶压为10个气压时即更换新气。4.1 逐步把高压降至20kv/10mA，等待3分钟后，关闭高压。 4.2 设定分光室介质为空气状态。 4.3 关闭钢瓶主阀门，取下减压阀。 4.4 更换新的P10气体瓶。 4.5 快速打开气瓶主阀并迅速关闭以冲洗接口。 4.6 安装减压阀，打开主阀门，检查二次压力为0.7-0.8bar。(通常为0.75bar) 4.7打开主机电源 4.8在谱仪状态图中点Start Detector Gas按钮启动P10气,

ARL3460光谱仪操作说明书

ARL 3460型直读光谱仪操作说明书使用前注意事项 1.室内温度控制在22-27摄氏度，门窗一般不开，环境保持稳定且恒温，保持室 内处于无尘环境； 2.室内湿度控制在20%-80%以内，湿度太大时会影响试验结果； 3?总电源开关有断电保护功能，应对自动跳闸，有保护仪器的功能； 4.开机之前，先检查光谱仪各个开关是处于“开”或“关”什么状态。如果是 开，先依次关机，然后打开总电源开关，再开机； 5.打开稳压器黑色开关后，首先检查输出电压是否为220± 5V,其次 检查指针是否稳定； 6.开机必须严格按规定顺序开机，每个开关等待间隔15s左右启动下一个开关， 关机按照开机的反顺序依次关机； 7.电脑的开关机只受稳压器电源开关控制，与仪器5个开关无关； 8.仪器完全冷却，需要一个稳定的过程，所以须在使用前8h开机， 经常使用仪器，则仪器和空调24h开机； 9.更换氩气瓶时，先用无水乙醇将氩气瓶出口擦拭干净，再打开点氩气将酒精挥 发掉后，更换氩气； 10.氩气瓶压强不得低于2Mpa接近2Mpa时则须更换氩气，不使用仪器时，将气 压表调到O.IMpa或净化机打到暂停，节约氩气； 11.更换氩气时，不能让空气进到净化机内； 12.打开氩气总开关，将氩气气压调到0.25Mpa-0.3Mpa； 13.制备后的样品，不能沾到水或油，以免影响测试结果，且严重时会引起火 灾； 14.开机后，点击F7查看仪器状态，有没有报警信息；

15.样品需现用现制，以防影响测试结果； 16.当仪器正面黄色罗盘不小心被转动，必须做完标准化，再进行定 量分析； 17.当标准试样用到一半时，应及时向我公司反映并请求订购。 二. 样品的制备 1.样品制备要求 样品最小体积必须盖住激发台圆口，不能漏出氩气；最大体积必须能在激发台内放的开。样品形状没有要求，不过一般为圆柱形居多。 试样尺寸要求： 直径D：?20mmD

Nexus-870傅立叶变换红外光谱仪使用说明解析

附录三 Nexus-870傅立叶变换红外光谱仪使用说明 附图2 Nexus - 870傅立叶变换红外光谱仪外形图 一、仪器构造 1．光源 傅立叶变换红外光谱仪中所用的光源通常是一种惰性固体，用电加热使之发射高强度连续红外辐射，如空冷陶瓷光源。随着科技的发展，一种黑体空腔光源被研制出来。它的输出能量远远高于空冷陶瓷光源，可达到60％以上。Nicolet公司生产的Nexus–870傅立叶变换红外光谱仪用硅碳棒作为红外光源。 2．迈克尔逊干涉仪 其作用是将光源发出的红外辐射转变成干涉光，特点是输出能量大、分辨率高、波数精度高（它采用激光干涉条纹准确测定光差，故使其测定的波数更为精确）、且扫描平稳、重线性好。 3．检测器 其作用是将光信号转变为电信号，特点是扫描速度快（一般在1s内可完成全谱扫描）、灵敏度高。 4．计算机

特点是各种数据处理快，且具有色散型红外光谱仪所不具备的多种功能。 5．样品池 通常用能透过红外光的透光材料如KBr或NaCl制作样品池的窗片。 二、傅立叶变换红外光谱仪的工作原理 FTIR是基于光相干性原理而设计的干涉型红外光谱仪。它不同于依据光的折射和衍射而设计的色散型红外光谱仪。与棱镜和光栅的红外光谱仪比较，称为第三代红外光谱仪。但由于干涉仪不能得到人们业已习惯并熟知的光源的光谱图，而是光源的干涉图。为此可根据数学上的傅立叶变换函数的特性，利用电子计算机将其光源的干涉图转换成光源的光谱图。亦即是将以光程差为函数的干涉图变换成以波长为函数的光谱图，故将这种干涉型红外光谱仪称为傅立叶变换红外光谱仪。确切地说，即光源发出的红外辐射经干涉仪转变成干涉光，通过试样后得到含试样信息的干涉图，由电子计算机采集，并经过快速傅立叶变换，得到吸收强度或透光度随频率或波数变化的红外光谱图。其工作原理如下图所示： 附图3 FTIR工作原理 三、Nexus–870傅立叶变换红外光谱仪使用方法 1．制样 （1）空白溴化钾压片：将少许溴化钾置于玛瑙研钵中研磨至粉状，然后装入压片机模具中，压成均匀透明的薄片，压力为8～10 kg/cm2。