金属原位分析仪

金属原位分析仪

概述

金属原位分析仪（in-situ metal analyzer）是一种用于分析金属材料的仪器，适用于现场、在线和非破坏性检测。常见于金属冶炼、质量控制等领域。该仪器可以测定金属材料中成分，如元素含量、合金成分、分布特点等，以及材料的宏观和微观性质。

原理

金属原位分析仪基于光谱原理，采用ICP-OES (Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectroscopy)或XRF (X-Ray Fluorescence)技术进行分析。

ICP-OES通过将样品原子转变为激发态，并使其在高温化学反应器中电离释放

出电子，并根据激发态原子轨道上电子跃迁的原理，通过光谱仪测定原子的波长和强度。

XRF则是利用样品受激发射的X射线特征能量，确定样品中元素的成分，仪器一般分为X射线荧光分析（XRF），X射线荧光光谱分析（XPS）和X对射线荧光

发射光谱分析（XRF-AAS）三种亚型。

应用领域

金属原位分析仪具有广泛的应用领域，主要包括以下几个方面：

1.金属冶炼、铸造和制造业的过程控制和质量检测。

2.材料科学和工程的研究和开发，如非晶态、合金、超硬材料等。

3.环境和食品行业的质量监测，如污染物检测、土壤中重金属含量检测、

食品中有害物质检测等。

4.矿产、地质和勘探领域的分析和检测，如岩矿分析、土壤和沉积物中

痕量元素检测等。

优势

与传统的化学分析方法相比，金属原位分析仪具有诸多优势：

1.非破坏性检测，可以在不破坏样品的情况下进行分析。

2.快速和准确，可以实现几秒钟到几分钟内的成分分析，提高了生产效

率和工作效率。

3.便携和灵活，可以进行现场、在线和移动检测，随时随地进行分析。

4.全自动化和高度集成化，提高了分析精度和可靠性，降低了人为操作

误差的可能性。

市场现状

金属原位分析仪在国内市场上受到了越来越多的关注和应用。目前，国内的原

位分析仪市场主要由海外品牌占据，如美国的Thermo Fisher Scientific、德国的Bruker等。随着国内制造业的发展和环保要求的提升，国内本土的原位分析仪厂

商逐渐崛起，市场份额不断增长。

前景展望

随着工业和环保标准的不断提高，金属原位分析仪将逐渐成为金属材料分析和

检测的主流技术。未来，金属原位分析仪将越来越注重可视化、智能化和高度集成化，为用户提供更便捷、准确、全面的分析解决方案。同时，由于该技术能够实现金属材料的多元化分析和检测，因此在材料科学、工程领域的应用将会越来越广泛，为科学研究和技术创新提供更多可能。

二维红外光谱

二维红外光谱 二维红外光谱技术是一种非破坏性分析技术，可以用来识别和定量分析各种物质的化学成分。它是一种原位或近红外光谱分析技术，在短的时间内可以获得精确的二维红外光谱数据。这种技术对于各种化学分析及其他工业应用都有重要的意义。 二维红外光谱分析是一种非破坏性分析技术，可以用来识别和分析各种物质的化学成分。它使用红外光谱仪来分析物质的组成，可以快速有效地获取准确的结果。整个分析过程中，红外光谱仪通过检测样品中不同波长的光谱，获得相应的结果。通过二维红外光谱，可以准确获得样品的物理结构以及它的化学性质。 二维红外光谱的优点很多，它是一种非破坏性分析技术，不会破坏原始样品，这种技术的精确度很高，可以检测出分子的构型信息以及判断物质的固液态和各种复合物的组成。同时，由于技术的自动化操作，可以节省大量时间，它可以在短时间内实现高效率的分析。 此外，二维红外光谱可以用于化学分析，细胞分析，蛋白质分析，及各种材料分析，比如汽油，润滑油，燃料油等有机物分析等。同时，也可以用来检测食品中的元素组成，比如糖，蛋白质，脂肪，矿物质等。它还可以用于环境污染的检测，比如检测空气中的有毒气体成分，以及土壤中的重金属等有毒物质。 二维红外光谱是一种重要的分析技术，它可以应用在许多不同的领域，具有广泛的应用前景。如今，它已经在工业，医学，农业

等各个领域发挥着重要的作用，可以快速，准确，安全地分析物质的组成结构以及它的性质特征。随着红外技术的不断发展，未来二维红外光谱肯定会发挥更大的作用，以适应日渐增长的工业和应用需求。 总而言之，二维红外光谱技术作为一种重要的分析技术，一直以来在各种应用领域都发挥着重要作用。它具有强大的分析能力，可以快速，准确，安全地检测样品的组成物质和它们的性质。也许未来在更多的领域，二维红外光谱将会发挥更大的作用，为解决更多的工程应用问题作出贡献。

南京理工大学分析测试中心仪器设备展示

南京理工大学分析测试中心仪器设备展示 X射线光电子能谱仪(XPS)简介 1.仪器名称：全自动聚焦扫描微区光电子能仪(XPS) 2.产品型号：PHI QuanteraⅡ 3.品牌：日美纳米表面分析仪器公司 4.产地：日本 5.主要技术指标 系统到达真空<5×10-10 torr； Ag样品XPS光电子能量分辨率Ag 3d 5/2 峰半高宽FWHM < 0.50 eV ； PET 样品XPS光电子能量分辨率C 1s的O=C-O峰半高宽FWHM < 0.85 eV ； 最小X射线斑束<9.0μm 在x方向；<9.0μm 在y方向； XPS灵敏度> 15kcps <10.0 μm 能量分辨率<0.60 eV 离子枪最大电流>5.0 μA @ 5 kV ； 6.仪器使用范围 电子能谱仪可以对固体样品的表面元素组成进行定性和定量分析，还可以对样品表面原子的化学态及分子结构进行分析研究。利用氩离子深度剖析技术和角分辨XPS技术，可以获得样品表面不同深度的组成变化情况。利用小束斑X射线，可以对样品表面进行微区分析和元素及化学态成像分析。利用原位处理反应池，可在不同温度及压力下对样品进行不同气氛的处理，以获得实际使用气氛对样品表面组成及状态变化的动态影响信息。 适用于高分子材料、催化、电化学、半导体、金属、合金以及生物医学材料等。

管理员：白华萍 X射线衍射仪（XRD） 一仪器型号：D8 ADVANCE 二制造厂商：德国布鲁克公司 三主要技术指标： 测量精度：角度重现性±0.0001°； 测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续改变； 最小步长0.0001°； 角度范围（2θ）：-110～168°； 最大扫描速度或最高定位速度：1500°/分； 温度范围：室温～900℃； 环境压力：1mbar-10bar； 最大输出：18KW； 稳定性：±0.01%； 管电压：20～60kV(1kV/1step)； 管电流：10～300mA 四功能及应用范围： 仪器功能：X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数。 应用范围：对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析，大部分晶体物质的定量、半定量分析；晶体物质晶粒大小的计算；晶体物质结晶度的计算等。 使用范围：金属材料：半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料；无机材料：陶瓷

常用材料分析方法简写

WORD格式 A AAS原子吸收光谱法 AES原子发射光谱法 AFS原子荧光光谱法 ASV阳极溶出伏安法 ATR衰减全反射法 AUES俄歇电子能谱法 C CEP毛细管电泳法 CGC毛细管气相色谱法 CIMS化学电离质谱法 CIP毛细管等速电泳法 CLC毛细管液相色谱法 CSFC毛细管超临界流体色谱法 CSFE毛细管超临界流体萃取法 CSV阴极溶出伏安法 CZEP毛细管区带电泳法 D DDTA导数差热分析法 DIA注入量焓测定法 DPASV差示脉冲阳极溶出伏安法 DPCSV差示脉冲阴极溶出伏安法 DPP差示脉冲极谱法 DPSV差示脉冲溶出伏安法 DPVA差示脉冲伏安法 DSC差示扫描量热法 DTA差热分析法 DTG差热重量分析法 E EAAS电热或石墨炉原子吸收光谱法 ETA酶免疫测定法 EIMS电子碰撞质谱法 ELISA酶标记免疫吸附测定法 EMAP电子显微放射自显影法 EMIT酶发大免疫测定法 EPMA电子探针X射线微量分析法 ESCA化学分析用电子能谱学法 ESP萃取分光光度法 F FAAS火焰原子吸收光谱法 FABMS快速原子轰击质谱法 FAES火焰原子发射光谱法 FDMS场解析质谱法 FIA流动注射分析法

WORD格式 FIMS场电离质谱法 FNAA快中心活化分析法 FT-IR傅里叶变换红外光谱法 FT-NMR傅里叶变换核磁共振谱法 FT-MS傅里叶变换质谱法 GC气相色谱法 GC-IR气相色谱-红外光谱法 GC-MS气相色谱-质谱法 GD-AAS辉光放电原子吸收光谱法 GD-AES辉光放电原子发射光谱法 GD-MS辉光放电质谱法 GFC凝胶过滤色谱法 GLC气相色谱法 GLC-MS气相色谱-质谱法 H HAAS氢化物发生原子吸收光谱法 HAES氢化物发生原子发射光谱法 HPLC高效液相色谱法 HPTLC高效薄层色谱法 I IBSCA离子束光谱化学分析法 IC离子色谱法 ICP电感耦合等离子体 ICP-AAS电感耦合等离子体原子吸收光谱法 ICP-AES电感耦合等离子体原子发射光谱法 ICP-MS电感耦合等离子体质谱法 IDA同位素稀释分析法 IDMS同位素稀释质谱法 IEC离子交换色谱法 INAA仪器中子活化分析法 IPC离子对色谱法 IR红外光谱法 ISE离子选择电极法 ISFET离子选择场效应晶体管 L LAMMA激光微探针质谱分析法 LC液相色谱法 LC-MS液相色谱-质谱法 M MECC胶束动电毛细管色谱法 MEKC胶束动电色谱法 MIP-AAS微波感应等离子体原子吸收光谱法 MIP-AES微波感应等离子体原子发射光谱法 MS质谱法

测土壤PH值和EC值的土壤原位EC计操作步骤及使用方法

测土壤PH值和EC值的土壤原位EC计操作步骤及使用方法 一、传统测量PH值和EC值的方法和步骤： 从事专业的花木种植与养护，需要定期栽培基质的pH值和EC值，并做好统计汇总工作，然后根据数据的变化情况，采取相应的措施，以确保花木健康、正常的生长发育。那么传统的PH值和EC值如何测量呢？需要哪些材料呢？ 测土壤PH值和EC值之前先要准备以下材料：pH计、EC计、托盘天平、量筒、玻棒、滤纸、蒸馏水、干净的玻璃烧杯。 测土壤pH值的步骤及方法： 1、取样：从3个不同的基质采样点各取1份土样，每份土样50至100克。 2、称量：用天平称量每份土样，为便于计算加水量，以3份土样同为50克或100克为宜。土样称量好后，分别倒入3个烧杯中。 3、加水：以2比1的水土比例，用量筒量取蒸馏水，分别倒入已装好基质样本的烧杯中。 4、搅拌及静置：用玻棒按顺时针的方向搅拌1分钟，然后静置30分钟。 5、测值：用pH计测量已静置30分钟的样本，记录所得数据。 测土壤EC值的步骤及方法： 1、按照上述测定pH值的方法操作1——3步。 2、振荡及过滤：用手拿烧杯轻轻振荡5分钟，然后用滤纸过滤。 3、测值：用EC计测定滤出液，记录所得的数据。 传统的PH值和EC值如何测量非常的繁琐而且可能有时候准确度还是有误差的，现在有了托普云农土壤原位EC计/土壤盐分记录仪/土壤盐分测量仪主要用于农业生产过程中各种土壤，水培养基质的盐分含量测量。该土壤盐分记录仪可

直接插入土壤速测并自动记录，大屏幕中文液晶显示数据，可将数据导入计算机，非常的方便。 土壤原位EC计是一种专门用于测定土壤含盐量的设备，在农业生产中有着广泛的应用。不同的农作物对土壤的盐碱要求是不一样，为了更好的促进农业生产和土壤调整工作，在种植农作物的时候正确科学的调整土壤酸碱度可以更稳定的保证作物丰产丰收。 二、土壤原位EC计/土壤盐分记录仪/土壤盐分测量仪使用方法： 由于过去不规范的化肥和农药的滥用，导致我国的耕地或多或少都存在土壤盐分超标的现象，因此要开展绿色无公害种植，高产农田种植，那么首先要做的就是使用土壤原位EC计来测量土壤盐分，进而指导科学改良措施的制定和开展，培育出优良的土壤环境，这样才能够真正实现农业的高质高产目标。大家都知道，植物只有在合适的环境里才会生长得好。这里说的条件可能是大气环境条件、土壤条件等，就土壤环境而言，土壤中过多的盐分会阻碍植物正常生长发育，进而致使其品质变劣、产量降低。因此在农业生产中，使用土壤盐分计测量土壤盐分已经成为高品质栽培中的一项重要内容，土壤原位EC计专业测定土壤盐分的，也叫土壤盐分测量仪。土壤原位EC计的使用方法很简单，如下： 1.使用测试之前，首先用研磨布清洁土壤原位EC计的金属探头表面，以防影响其测量的精度。如若金属探头表面有油脂类物质，必需先用99％纯度的酒精棉球来清洁后，再用研磨布清洁擦清一遍。 2.按下按钮OFF/ON开关，打开电源。 3.测定EC值时，将土壤原位EC计的金属探头垂直顺时针插入湿润的土壤或其他的被测介质中至少4-5CM深度，并将土壤或其他的被测介质与探头金属表面完全均匀接触，响应时间大约10-20秒，仪器所显示的数字，即为实际测量值。土壤的密度都会直接影响测量精度，故必须在不同的位置进行多次测量，以求平均值。

光谱仪操作流程和注意事项

DF直读光谱仪操作规程 一开机和关机： 开机: ①总开关→检测→光源 ②打开电脑→进入桌面的“东仪”程序→点“仪器”里面的”检测真空电路” ③电脑屏幕左下方显示“高压已加”之后，再打开高压按钮（如：“高压未加”要等显示“高压已加”再开高压按钮，同时将“仪器”里的“实时检测真空电路”前面的“√”去掉）。 关机：高压→光源→检测→总开关 注意事项： （1）如果知道要停电先将仪器关掉，关掉仪器后再开机需要先稳定4-6小时，再使用，必须重新描迹。如果长时间关闭须要在使用的前一天开机。仪器需要恒定温度30度，注意后面温控仪的数值，保持在29-31之间最好。如果温度过高或过低必须通知我们公司，必须严格按照操作规程中的开关机顺序进行操作； （2）在仪器激发过程中会产生火花放电，不能用手接触样品或没有终止测量时强行抬起手柄取下样品；二氩气 ①（1）仪器分析用量0.3～0.4Mpa，纯度要求是99.999%以上（2）好坏判断：预热后能激发 起点了则好，如果打白点或激发不起来则更换氩气。 注意事项：一般需要准备2-3瓶氩气，防止不纯或没有氩气时更换。 三工作原理和试样制备 原子发射光谱分析所采用的原理是用电弧（或火花）的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征谱线，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并打印出各元素的百分含量。 ⑴试样的制备：取样要有代表性，没有气孔、裂纹、砂眼和夹渣。 ⑵样品的磨制：要平整、有纹理、磨完不能用手摸，不能沾上水或油。（要求样品平整，防止激发时漏气。用手摸，沾水或油，都可能导致样品激发不好或不激发）

中科院仪器设备介绍

1.激光粒度仪 通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。 2. 透射电子显微镜 Transmission Electron Microscopy（TEM） 型号：H-7650 厂商：日本日立公司 功能：通过透射电子束聚焦成像，观察0.2 μm以下，光学显微镜下无法看清的超微结构。 技术指标：检测限：0.2 nm；分辨率0.2nm；加速电压40kV ~ 120kV ；连续放大模式放大倍率200~x600,000，低倍模式放大倍率x50 ~ x1,000；图像旋转倍率范围：x1,000 ~ x40,000；旋转角度：±90o (15o每步) 仪器配置：透射电镜主机（H-7650），EDAX生物透射电镜能谱仪（GENESIS XM2 SYSTEM FOR BIO-TEM），配有能谱分析样品杆，能谱接口分析组件等。 应用：在材料科学、生物学上超微结构观察、元素能谱分析。

3. 凝胶净化浓缩联用仪

4.高效液相三重四级杆线性离子阱质谱仪 型号:API 3200Q TRAP 厂商:美国ABI 功能:小分子的定性和定量分析。 检测限:ppb ~ ppm 技术指标:m/z范围：5-1,700 amu（四极杆模式），50-1,700 amu（线性阱模式）；全扫描MS/MS：高于传统三重四极50-100倍；分辨率：最高0.25 u (FWHM)；扫描速度：最高2400 amu/秒（四极杆模式），最高4000 amu/sec（线性阱模式）；质量稳定度：0.1 amu/12小时。 仪器配置:高效液相色谱仪；TurbolonSpray (ESI)、Heated Nebulizer (APCI)两种离子源； 应用:环境和食品中毒性分析、小分子药物代谢分析、药物、天然产物提取物等的结构表征。 5. 稳定同位素质谱仪

钢中夹杂物分析方法探讨

钢中夹杂物主要以非金属化合态存在，如氧化物、硫化物、氮化物等，造成钢的组织不均匀。夹杂物的几何形状、化学成分、物理性能等不仅影响钢的冷热加工性能和理化性能，而且影响钢的力学性能和疲劳性能。随着产品对夹杂物的分析提出更高的要求，需要建立适合生产现场的快速检测钢中夹杂的分析方法，以便降低钢中的夹杂含量，因此，对各种夹杂分析方法进行调研，并从单一和综合两方面进行分析。 单一方法 (1)金相显微镜观测法(MMO)。金相显微镜观测法是一种传统的方法，用光学显微镜检测二维钢样薄片，并且用肉眼定量。通过观察夹杂物的形状、光学特征或用化学法辅助，可以测定夹杂物类型，直接观测夹杂物的尺寸与分布情况，判断夹杂物的生成。 (2)图像扫描法(IA)。采用高速计算机显微镜扫描图像，根据灰度的断续分辨明暗区，比肉眼观测的MMO法大有改进，容易测定较大面积和较多数量的夹杂物，自动化程度高，可获得体积分数、粒度分布直方图、定量等信息，但有时易将非金属夹杂物引起的划痕、麻点和凹坑分析错，且易受尘埃干扰，细小夹杂可能从磨面脱落。 (3)硫印法。通过对富硫区进行腐蚀，区分宏观夹杂和裂纹。 (4)电解(蚀)法。该方法精确度高但费时，以钢样作为电解池的阳极，电解槽为阴极，通电后钢的基体呈离子状态进入溶液溶解，非金属夹杂物不被电解呈固相保留。较大的钢样(2～3kg)被电解，然后对电解泥淘洗、磁选、氢气还原分离铁，最后称量分级；较小的钢样(50～120g)被电解或稀酸溶解，将残渣经碳化物处理、过滤、灼烧，得到氧化物总量。马钢钢研所和北京科技大学成人教育学院运用大样电解法对钢样进行测定，并得到夹杂物不同粒度分布的百分含量。 (5)电子束熔炼法(EB)。在真空条件下，用电子束熔化钢样，夹杂物上浮到钢水表面。通常电子束熔炼查找的是上浮夹杂物特定区域。电子束熔炼的升级法(EB-EV)用来评估夹杂物尺寸分布，根据测定区域的上浮夹杂物尺寸，推断所有夹杂物的上浮结果，从而计算夹杂物尺寸分布指数。 (6)水冷坩埚熔炼法(CC)。在电子束熔炼的条件下，先将熔融钢样表面的夹杂物浓缩，冷却后，样品被分解，夹杂物被分离出来。 (7)扫描电子显微镜法(SEM)。将电子束用电磁透镜聚焦照射于试样表面，同时用电子束扫描，在显像管上显示出试样发出的信号，可清晰地观测到各种夹杂物的主体像，了解其分布和形态，用电子探针分析仪(EPMA)测定其组成及含量，特别是鉴定夹杂物局部组成最有效，可分析的元素范围4Be～92U，对0.1μm以上的区域进行定性分析，对2μm以上的区域进行定量分析。 (8)单火花光谱分析法(SSA)即原位分析仪。对被分析对象原始状态的化学和结构进行分析。通过对无预燃、连续扫描激发的火花放电所产生的光谱信号进行高速的数据采集和解析，测定样品表面不同位置的原始状态下的化学成分分布、缺陷判别和夹杂状态分析，可获得夹杂物数量、组成、分布和粒度等多方面的信息；一次扫描即可得到元素成分、偏析、

分析测试中心电子探针(EPMA)简介

分析测试中心电子探针（EPMA）简介 一、仪器概述 电子探针利用聚焦得非常细(微米-纳米级)的高能电子束轰击样品，激发出各种被测物质的有用信息（如特征X射线、二次电子、背散射电子等），通过分析这些有用信息达到对样品微区成分分析和形貌观察的目的。 电子探针与扫描电镜的结构大致相似，不同的是电子探针有一套完整的X射线波长和能量探测装置（波谱仪WDS和能谱仪EDS），用来探测电子束轰击样品所激发的特征X射线。由于特征X射线的能量或波长随着原子序数的不同而不同，只要探测入射电子在样品中激发出的特征X射线波长或能量，就可获得样品中所含的元素种类和含量，以此对样品微区成分进行定量分析是电子探针最大的特点。 分析测试中心已安装的电子探针是日本岛津公司生产的EPMA-1600型最新产品，它不仅具有较高的X射线检出角，同时由于使用全聚焦的X射线分光晶体，能兼顾X 射线检测的高灵敏度和高分辨率，并配有高稳定的电子光学系统、真空系统及高精度机械系统以及EDAX公司生产的Genesis能谱仪，是目前华南地区最先进的微区成分定性定量分析和形貌观察用大型精密科研仪器之一。 二、仪器用途 适用于材料(合金、陶瓷、半导体材料等)、矿物、冶金、机械、微电子等领域的微区化学组成定性和定量分析、微区化学组成线分析、微区化学组成面分析以及各类固体产品的微区形貌观察与成分分布图像等，是对试样表面形貌观察、微区组织结构和元素定性定量分析的最有效、原位（in-situ）表征手段。 三、仪器的性能与特点 1、具有较高的X-射线检出角(52.5︒)，有利于提高仪器空间分辨率和凸凹样品分析观察的可靠性；分光晶体采用Johanson型全聚焦分光晶体，同一道波谱仪兼顾高分辨率和高灵敏度。 2、分析精度：好于1%(主要元素，含量>5%)和5%(次要元素，含量～1%)；谱仪检测极限：大于10ppm。 3、分析元素范围：4Be-92U；加速电压：0.2-30kV(可调步长≤0.5kV)；二次电子像分辨率：6nm；放大倍数：50-300000⨯，连续可调（有效图像观察倍数≤50000⨯）。 4、电子束流稳定性：好于1.5⨯10-3/h；电子束流：10-12–10-5A，连续可调，绝对准确值好于10%。 5、样品台最小移动间距为0.02微米，重复精度好于±1μm，机械系统精密度高。

文物断代鉴定检测仪-EDX3600L

EDX3600L古玩古董鉴定断代检测仪器的详细信息 供应天瑞EDX3600L古玩古董鉴定断代检测仪器 一、文物简介 文物因其特殊的属性而具有较高的观赏价值和经济价值，正因为这样，大量的假货、赝品充斥市场也就在所难免了，为了辩识文物的真伪，文物鉴定工作越来越受到社会各界的广泛关注。文物鉴定在中国大百科全书中被定义为：运用科学方法分析、辩识文物年代、真伪、质地、用途和价值的工作。这里所说的科学方法包括通常所说的传统鉴定方法和现代仪器分析方法，传统的鉴定方法是指凭借自古以来人们在对文物进行长期的研究、鉴识中积累的经验，基于器型学、金石学以及考古地层学的理论，以分类、比较、辩识的方法对器物进行直观的综合考察，此方法对鉴定人员的阅历、经验有较高的要求。其鉴定的真实性、

可靠性和权威性已然受到越来越多的赝品和高仿复制品的挑战，现在，越来越多的人开始将眼光投向了更为客观的仪器分析方法。 二、文物鉴定 断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面，其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本与各地制陶原料的化学组成可以确定古陶瓷的产地，并可在一定程度上帮助判断古陶瓷的烧造年代；而通过检测保留在古陶瓷内部的记录其年代信息的各种载体，则可以较准确的进行断代。 能量色散X荧光能谱(EDXRF) 是以X射线照射到样品表面，利用能谱仪测定各种元素的特征X射线光 子的能量和强度，以此来进行定性和定量分析。这种方法样品处理很简单，分析速度快，测量元素范围广，配合适当的标准参考物可得到较好的准确度，对样品表面基本无损伤，如果在仪器定制时加装真空大样品室，就可以进行大器物的无损测试了。综合这些优点，可以认为它是目前进行古陶瓷无损鉴定比较好的一种方法。 陶瓷器的鉴定曾经一度受到不可采样的限制，仅对一些大型器物底部取样作些热释光的年代分析工作，一些造假者甚至利用射线源对新烧的仿制品进行辐照处理，以期对热释光的检测造成假象，干扰测试结果的结论。自打八十年代以来，大样品室的X射线荧光能谱仪问世，瓷器的釉表面成分原位无损检测既成事实，为瓷器的真伪判别引入了一种全新的方法。最近一两年，由于河南汝窑遗址的发现，文物市场上一时间汝窑瓷器泛滥，各种形制、颜色的汝窑器着实让人眼花缭乱。在使用X射线荧光能谱仪对其瓷釉表面成分进行无损分析的过程中粗略统计了一下，民间收藏的待测品九成以上都是假货，其中大多数瓷釉成分中含有现代瓷釉制造的添加剂，而这些组分是宋代瓷釉中不可能出现的成分，用能谱仪检测此类器物可谓是轻而易举、手到擒来。我们知道绝大多数瓷釉的基本组分是由十种元素即：钠、镁、铝、硅、磷、钾、钙、钛、锰、铁的氧化物构成，不同时代、窑口烧造的瓷釉其组成成分的配比是有区别的，正因如此，我们可对大量经科学考古发掘的有确定年代和出土地点依据的参考瓷片釉层成分做出成分配比的数值分布范围，将受鉴定样品的成分配比与相应时代的参考片成分进行比对，据此判断被检样品在成分构成上的可靠性，实践证明，当前文物市场中周转的陶瓷器文物，有半数以上成分配比与古瓷片有较大差距，另有相当一部分含有古代瓷器瓷釉中所没有的组成成分，如氧化锌、氧化钡、氧化锆等现代瓷釉添加剂，对于这类赝品瓷器，通过成分检测可以非常容易的认定其属性。如仿汝瓷釉含氧化锆、氧化锌。 三、解决方案 我公司生产的EDX3600L系列的仪器是一款专门针对于古文物检测而量身定做的无损测量的能量色散X 荧光分析仪器，其技术参数如下： 产品名称：Skyray X荧光光谱仪 型号：EDX3600L 测量元素范围：从钠（Na）至铀（U） 元素含量分析范围：1ppm—99.99% 分析精度：0.05% 同时分析元素：几十种元素同时分析 测量镀层：镀层厚度测量最薄至0.01微米 测量对象状态：粉末、固体、液体 测量时间：60s—200s

原位电化学拉曼测试条件

原位电化学拉曼测试条件 一、引言 原位电化学拉曼测试是一种结合电化学和拉曼光谱技术的分析方法，能够实时监测电化学反应体系中的化学变化。在过去的几十年里，原位电化学拉曼测试得到了广泛的应用，为研究电化学反应机理、表面吸附物种和电化学界面提供了有力的手段。本文将主要介绍原位电化学拉曼测试的条件和方法。 二、电化学拉曼测试的基本原理 原位电化学拉曼测试的基本原理是利用拉曼光谱技术对电化学反应体系进行实时监测。拉曼光谱是一种非常灵敏的分析技术，可以通过测量样品中散射光的频率和强度来获取样品的结构和化学成分信息。而电化学拉曼测试则是在电化学反应体系中进行拉曼光谱测量，通过监测电极表面的化学变化来揭示电化学反应的机理。 三、原位电化学拉曼测试条件 1. 电化学反应体系 原位电化学拉曼测试可以应用于各种电化学反应体系，包括金属电极、半导体电极和电解质溶液等。在选择电化学反应体系时，需要考虑反应的稳定性、催化剂的选择以及电极材料的特性等因素。 2. 拉曼光谱仪 原位电化学拉曼测试需要使用高分辨率的拉曼光谱仪，以获取准确

的拉曼光谱数据。典型的拉曼光谱仪包括激光光源、光学系统和探测器等组成。其中，激光光源需要具有稳定的输出功率和适当的波长，以满足不同样品的测量需求。 3. 电化学细胞 电化学细胞是进行原位电化学拉曼测试的关键设备之一。电化学细胞需要具备良好的密封性能和可调节的工作电位范围，以适应不同电化学反应体系的要求。常见的电化学细胞包括三电极系统和双电极系统，其中三电极系统由工作电极、参比电极和对电极组成，双电极系统只有工作电极和参比电极。 4. 电化学工作站 原位电化学拉曼测试需要在电化学工作站中进行。电化学工作站通常由电化学细胞、电位控制器和数据采集系统组成。电位控制器用于控制电极的工作电位，而数据采集系统用于记录拉曼光谱的强度和频率信息。 四、原位电化学拉曼测试方法 原位电化学拉曼测试方法包括实时测量和时间分辨测量两种。实时测量是指在电化学反应过程中连续记录拉曼光谱，以实时监测反应的动态变化。时间分辨测量是指在特定的时间点记录拉曼光谱，以研究反应的中间态和反应机理。 在实施原位电化学拉曼测试时，首先需要将电化学细胞装配好，并

电化学原位红外光谱仪

电化学原位红外光谱仪 电化学原位红外光谱仪是一种结合电化学技术和红外光谱技术的分析仪器。其主要功能是通过红外光谱的方式，在电化学反应过程中实时监测产生的中间体和反应产物，为研究电化学反应机制提供帮助。 仪器构成 电化学原位红外光谱仪是由光谱仪和电化学反应池两部分组成。光谱仪主要由光源、样品池、光路系统、检测器和数据处理系统组成。光源通常采用红外光源，如氘灯或钨丝灯。样品池为托盘或兼容样品附件，通常由加热器和温控器组成。光路系统负责将光线传输到样品池，并收集反射光或透射光，并将光信号输送到检测器。检测器通常采用远红外光谱区间的探测器，如光电二极管、半导体探测器或液氮冷却的半导体探测器。数据处理系统则用于处理检测器接收到的信号，包括峰位、峰强度和峰面积等。 电化学反应池则由电极、电位控制器和样品组成。为了避免干扰，电化学反应池通常使用无水溶液，并提供温控装置以保持稳定性。电极可以选择任何电极，例如玻璃碳电极、金电极、银/银氯化物电极等。电位控制器可以在

任何预设电位下控制电极电位，以控制电化学反应发生的速率和程度。 工作原理 当样品在电极间经历电化学反应时，产生的中间体和反应产物将会产生特征的红外光谱图。电化学原位红外光谱仪则通过样品池将光线传输到产生中间体和反应产物的样品上，并收集反射光或透射光，从而获得实时红外光谱图。这些光谱图可用于识别中间体、鉴定反应产物，并研究化学反应机制。 应用领域 电化学原位红外光谱仪在化学及材料领域非常有应用价值。具体应用领域如下： 1.催化剂反应研究：电化学原位红外光谱仪可以用于研究催化剂的反应机制，进一步深入了解催化剂催化反应的原理及特性； 2.电化学腐蚀研究：电化学原位红外光谱仪可以研究金属在腐蚀过程中的化学反应，从而得出腐蚀机理和相关参数； 3.电化学电池研究：电化学原位红外光谱仪可以研究电池内各个部分的化学反应机理，从而了解电池的工作原理和电性能特征；

原位电子显微镜技术的研究现状

原位电子显微镜技术的研究现状原位电子显微镜技术是一种非常重要的微观分析工具，在纳米 材料研究、纳米器件制造、生物医学等领域都有重要应用。本文 将从以下几个方面来分析原位电子显微镜技术的研究现状：技术 原理、应用领域、研究进展以及未来发展方向。 一、技术原理 原位电子显微镜技术是指利用电子束对样品进行成像和分析的 一种显微技术，其中“原位”表示实时观察材料性质的能力。原位 电子显微镜本质是一种高分辨率电子显微镜，常用的是透射电子 显微镜（TEM）或扫描电子显微镜（SEM）。 原位电子显微镜技术的信号来源包括电子束散射、透过和反射。这些信号不仅提供样品表面的信息，还可以提供材料内部结构的 信息。原位电子显微镜可以通过载气（如氢气、氧气、碳气等）、能量（如电子注入、加热、激光等）等手段，实时观察样品内部 的形貌变化、晶体结构的演化、催化反应动力学、电子运输行为 等过程。

二、应用领域 原位电子显微镜在材料科学、纳米技术、化学、生物医学等领域都有重要应用。以下是一些实际应用场景： 1. 纳米材料研究 原位电子显微镜可以帮助研究纳米材料的形貌和结构，例如金属纳米颗粒的成长过程、碳纳米管的形貌和结构变化、核-壳型纳米颗粒的析出和生长机制等。 2. 纳米器件制造 原位电子显微镜可以用于研究纳米器件制造中的微观结构和性能，例如扫描探针显微镜（SPM）、纳米压印、纳米光学制造、热电材料、锂离子电池等。 3. 生物医学

原位电子显微镜可以用于研究生物材料（如蛋白质、DNA、细 胞膜等）的结构和功能，揭示各种生物过程中的分子机制和变化 过程。 三、研究进展 随着原位电子显微镜技术的发展，人们对它的应用和研究范围 也在不断扩大。以下是原位电子显微镜技术研究的一些重要进展： 1. 实时观察催化反应机理 原位电子显微镜可以实时观察催化反应的机理和表面变化，研 究催化剂的功能和工作原理，例如氢气化反应、金属表面催化反 应等。 2. 实时观察沉积和腐蚀 原位电子显微镜可以实时观察沉积和腐蚀等化学反应，研究附 著部件、化学反应和电子输运的微观结构变化、腐蚀机理及疲劳 和断裂性质等。

动态原位电镜观察金属纳米材料变形行为分析

动态原位电镜观察金属纳米材料变形 行为分析 近年来，随着纳米科学和纳米技术的迅猛发展，金属纳米材料在材料科学与工程领域中扮演着越来越重要的角色。而对金属纳米材料的变形行为进行实时的观察和分析则成为研究人员关注的焦点。在这一领域，动态原位电镜技术的应用已经成为一种重要的研究方法。 动态原位电镜技术在进行金属纳米材料变形行为的观察和分析时，具有其独特的优势。首先，它能够提供高分辨率的图像，并且能够在实时的情况下记录金属纳米材料的变形过程。其次，动态原位电镜技术能够对纳米材料进行原位加载，并且能够获取更加真实和可靠的变形行为数据。此外，动态原位电镜观察还能够记录金属纳米材料在不同条件下的变形行为，从而为研究人员提供更全面的分析能力。 在动态原位电镜技术的应用中，金属纳米材料的变形行为可以通过多种方式来观察和分析。一种常见的方式是利用传统的透射电子显微镜（TEM）或扫描电子显微镜（SEM）进行实时观察。这种方法通常需要对样品进行加载和变形，并通过

电镜观测纳米材料的变形过程。通过对图像的分析和比较，可以更加精确地获得金属纳米材料的变形行为数据。 另一种常见的方法是利用原位载荷机械测试系统结合电子 显微镜进行观察。这种方法能够实现对金属纳米材料的原位加载和变形，并且能够同时进行高分辨率的图像采集。通过将样品放置在载荷机械测试系统中，可以对纳米材料进行实时观测，并且可以获取到变形行为相关的力学性能数据。 动态原位电镜观察金属纳米材料变形行为的研究不仅可以 对金属纳米材料的力学性能进行深入理解，还有助于揭示金属纳米材料的变形机制和微观结构的演变规律。通过观察金属纳米材料的变形行为，可以了解纳米材料在变形过程中的位错生成和移动的动力学行为，以及晶粒界面、孪晶界面等界面结构的变化情况。 然而，动态原位电镜技术在研究金属纳米材料变形行为时 仍然存在一些挑战和限制。首先，由于电子束的辐射损伤和加热效应等原因，金属纳米材料可能会经历结构的变化和失真，从而影响到观察结果的准确性。其次，纳米材料的尺寸和形貌复杂性也给动态原位电镜观察带来了困难。此外，不同金属纳米材料的变形行为也可能存在差异，因此需要根据具体的研究对象进行相应的实验设计和数据分析。

浅谈ICP-MS在地质金属元素测试中的应用

浅谈 ICP-MS在地质金属元素测试中的 应用 摘要：随着我国工业经济的飞速发展，对地质的构造及金属含量的掌握及 其重要，各种金属元素的分布状态，对后续的采矿、选矿作业都有非常重要的指 导意义。电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）和传统分析技术相比较，其具有灵 敏度高、检出限低、操作简单、干扰少、精度高等优点，广泛运用于半导体、地质、环境和生物制药等行业。 关键词：ICP-MS；地质；金属元素；测定 质谱分析是先将物质离子化，按离子的质荷比分离，然后测量各种离子谱峰 的强度而实现分析目的的一种分析方法。质谱分析法，已经在众多领域得到广泛 的应用。电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)技术是目前公认的最强有力的元素分析 技术，它的主要特点有灵敏度高，背景低；元素的质谱相对简单，干扰较少，几 乎周期表上的所有元素都可以进行测定；样品引入和更换方便，便于与其他进样 技术联用。 1地质金属元素测定整体分析 1.1 ICP-MS技术介绍 目前由于激光对不同矿物的选择性剥蚀，利用ICP-MS对于地质样品直接分 析仅适用于隐晶质火山岩、火山玻璃或者细粒的泥质岩石。如何获得主、微量元 素含量分布均匀的样品是影响利用ICP-MS分析全岩样品的关键。相对于SN-ICP-MS分析，利用ICP-MS分析全岩样品具有低背景、低氧化物干扰、样品制备简单、高效率等优点。根据样品制备方式，利用ICP-MS进行全岩样品整体分析主要有 岩石薄片直接分析、粉末压片法、熔融玻璃法等3种方法。直接的粉末压片避免 了对样品的稀释作用，但要求样品粉末粒度要足够细。如果样品粉末粒度不够细、

压片不够牢固，激光剥蚀过程中的粉末爆发会引起分析信号不稳定和激光对不同矿物的选择性剥蚀，导致分析结果的精密度和准确度较差。 1.2地质检测金属元素方法 由于人造包裹体和天然包裹体内部的压力不同，包裹体被打开后，挥发性物质释放的速率不同，简单外标校正无法解决剥蚀量差异引起的误差。先后对利用ICP-MS分析单个流体/熔体包裹体的影响因素、校正方法、准确度和检出限等进行了系统综述。首先对利用ICP-MS分析单个流体包裹体中的元素组成进行了可行性分析研究。提出了利用石盐中合成的流体包裹体作外标分析单个流体包裹体的校正策略。采用将标准溶液密封在玻璃毛细管中作为人造流体包裹体的方法，可简单外标校正对石盐和石英中的单个流体包裹体进行了分析。因此，采用以人造包裹体作外标，利用cryo-SEM-EDS测定的Cl含量作内标来分析单个流体包裹体组成。 2 ICP-MS技术在地质金属元素测定研究中的应用 当前，地质金属元素测定对样品分析技术提出越来越高的要求：测定的元素越来越多，测定下限越来越低。在ICP-MS发展的初期，由于四极杆质量分析器测定同位素比值的精度很难控制，故仅在某些要求较宽的领域中应用，如地质和环境研究中Pb来源的鉴别等。ICP—MS所具有的优点使其非常适合于地球科学中痕量、超痕量元素分析以及某些同位素比值的快速分析。最近几年来，随着四极杆ICP-MS仪器的改进及其他质量分析器的ICP-MS的出现，比如多接收器磁扇形等离子体质谱仪(MC—ICP_MS)等，同位素分析精密度大大改善，和传统使用的热电离源质谱(TIMS)等技术相比，具有了真正的竞争力。 2.1激光烧蚀电感耦合等离子体质谱技术 激光剥蚀与MC一ICP—MS联机开展高精度固体微区同位素分析已在地球化学领域获得了可喜的应用成果。可以对ICP—MS技术在地质金属元素测定中的应用进行详细的回顾，包括稀土稀散等痕量、超痕量元素分析，铂族元素分析，同位素比值分析等内容。当然LA—ICP—MS也有缺点，主要的问题是：分析结果的偏差较大，依赖于固体样的均匀性、性质和表面状态，以及基体匹配的标准难以

金属材料中夹杂物粒径原位统计分布分析方法

（19）中华人民共和国国家知识产权局 （12）发明专利申请 （10）申请公布号 CN1609591A （43）申请公布日 2005.04.27 （21）申请号CN200410090616.9 （22）申请日2004.11.10 （71）申请人钢铁研究总院 地址100081 北京市海淀区学院南路76号 （72）发明人王海舟;张秀鑫;贾云海;陈吉文;赵雷;李美玲 （74）专利代理机构北京中安信知识产权代理事务所 代理人金向荣 （51）Int.CI G01N15/02; G01N21/25; G01N35/00; 权利要求说明书说明书幅图 （54）发明名称 金属材料中夹杂物粒径原位统计分布分析方法 （57）摘要 本发明属于借助测定材料的物理性质来分 析材料的领域，主要涉及金属材料中各类夹杂物 的粒径计算。本发明金属材料中夹杂物粒径原位 统计分布分析方法包括如下步骤：常规分析手 段，对被测样品进行金相检测、化学相态分析、 电镜+能谱分析，得到该样品中各类夹杂物粒径分

布的相关数据；原位统计分布分析，采用金属原 位分析仪对被测样品进行连续激发扫描，得到与 样品原始位置一一对应的单次火花光谱强度数 据；系统解析所得单次火花光谱强度数据并确定 信号阈值；建立数学分析模式，对采用常规分析 手段和原位统计分布分析得到的数据进行相互对 照分析，最终得到被测样品中各类夹杂物粒径分 布信息，并输出上述结果。 法律状态 法律状态公告日法律状态信息法律状态 2005-04-27公开公开 2005-06-29实质审查的生效实质审查的生效 2007-07-11发明专利申请公布后的驳回发明专利申请公布后的驳回

直读光谱仪

直读光谱仪 百科名片 直读光谱仪，适合于户外名种应用，不管是用于压力容器内部分析、管道原位分析还是工场分析都没有任何问题。因为它是密封在一个温度稳定的恒温机箱里，设备的般运和操作只要一个人就能完成。该光谱仪设计达到最高的分析精度，新的双光谱室能应用最理想的谱线，36个测量信道使这台仪器能分析Fe、Ni、Cu、A1、Ti等多种基体。该光谱仪装备了超高灵敏度的光电倍增管，在全量程范围内使检测器的动态范围能鉴别出成分的最微小的差别。曲面的第二个窄缝能清楚地分离出相邻的谱线，这一点对包括高含量的合金成分分析在内进行高精度分析特别。目录品种分类光谱仪色散组件的选择和光学参数的确定直读光谱仪的正规名字叫原子发射光谱仪编辑本段品种分类 根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型 光谱仪.经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器.经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器.调制光谱仪是非空间分光的,它采用圆孔进光.根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:棱镜光谱仪,衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪. 光学多道分析仪OMA(OpticalMulti-channelAnalyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器,它集信息采集,处理,存储诸功能于一体.由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及

之后的一系列繁琐处理,测量工作,使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大 改善了工作条件,提高了工作效率;使用OMA分析光谱,测盆准确迅速, 方便,且灵敏度高,响应时间快,光谱分辨率高,测量结果可立即从显示屏上 读出或由打印机,绘图仪输出.目前,它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量,分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号,瞬变信号的检测. 编辑本段 光谱仪色散组件的选择和光学参数的确定 光谱分析仪色散组件的选择 在成像光谱仪设计中,选择色散组件是关键问题,应全面的权衡棱镜和 光棚色散组件的优缺点[140-al) 直读光谱分析仪是“汉化”了的光谱分析仪，操作更加简便明了。 编辑本段 直读光谱仪的正规名字叫原子发射光谱仪管他叫直读的原因是相对于 摄谱仪和早期的发射光谱仪而言，由于在70年代以前还没有计算机采用，所有的光电转换出来的电流信号都用数码管读数，然后在对数转换纸上绘 出曲线并求出含量值，计算机技术在光谱仪应用后，所有的数据处理全部 由计算机完成，可以直接换算出含量，所以比较形象的管它叫直接可以读 出结果，简称就叫直读了，在国外没有这个概念。 直读光谱仪和ICP都属于发射光谱分析仪器,区别在于他们的激发方 式不同,ICP中文名字是电感耦合等离子体,是通过线圈磁场达到高温使样 品的状态呈等离子态然后进行测量的,而普通的直读光谱仪一般采用电火